JP6198534B2

JP6198534B2 - Heating test equipment

Info

Publication number: JP6198534B2
Application number: JP2013185390A
Authority: JP
Inventors: 健司田頭; 創浅沼; 広志宮脇
Original assignee: KOTOHIRA INDUSTRIAL CO., LTD.
Current assignee: KOTOHIRA INDUSTRIAL CO., LTD.
Priority date: 2012-12-21
Filing date: 2013-09-06
Publication date: 2017-09-20
Anticipated expiration: 2033-09-06
Also published as: JP2014139558A

Description

本発明は、加熱試験装置に関し、特に、被試験対象物に温度差を与えて加熱試験を行う加熱試験装置に適用して有効な技術に関する。 The present invention relates to a heating test apparatus, and more particularly to a technique effective when applied to a heating test apparatus that performs a heating test by giving a temperature difference to an object to be tested.

特開２００８−１８２０１１号公報（特許文献１）には、熱電変換システム信頼性評価装置において、熱を効率的に取り込めるように被試験対象物を熱源に圧接して押さえつけることが記載されている（特にその明細書段落［０００３］）。その具体的手段として、高温側に、被試験対象物全体を均一に圧接する均一圧接力負荷機構部を設けることが記載されている（特に特許文献１の明細書段落［００１５］、［００２０］）。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-182011 (Patent Document 1) describes that a thermoelectric conversion system reliability evaluation apparatus presses and presses an object to be tested against a heat source so that heat can be efficiently taken in ( In particular, the description paragraph [0003]). As a specific means, it is described that a uniform pressure contact force load mechanism unit that uniformly presses the entire object to be tested is provided on the high temperature side (particularly, paragraphs [0015] and [0020] of Patent Document 1). ).

特開２００８−１８２０１１号公報JP 2008-182011 A

しかしながら、特許文献１に記載のように、高温側に設けられた均一圧接力負荷機構部は、熱の影響を受けやすく、ばねなどの構成部材が熱変形するなど、取り扱いが難しいものとなる。また、熱変形が起こりにくい部材を用いると、装置価格が高くなってしまう。 However, as described in Patent Document 1, the uniform pressure contact force load mechanism portion provided on the high temperature side is easily affected by heat, and is difficult to handle, for example, a component such as a spring is thermally deformed. In addition, if a member that hardly undergoes thermal deformation is used, the price of the device increases.

本発明の目的は、取り扱いが容易な加熱試験装置を提供することにある。また、本発明の他の目的は、低価格の加熱試験装置を提供することにある。本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。 An object of the present invention is to provide a heating test apparatus that is easy to handle. Another object of the present invention is to provide a low-cost heating test apparatus. The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。 Of the inventions disclosed in the present application, the outline of typical ones will be briefly described as follows.

本発明における加熱試験装置の一解決手段は、被試験対象物に温度差を与えて加熱試験を行う加熱試験装置であって、被試験対象物をクランプして温度差を与える高温側および低温側ユニットと、前記低温側ユニットを支持し、被試験対象物をクランプする第１方向およびこれと直交する第２方向に前記低温側ユニットを移動させる移動テーブル部と、を備え、前記高温側ユニットは、被試験対象物と接する高温側クランプ面を有する高温側プレートを備え、前記低温側ユニットは、被試験対象物と接する低温側クランプ面を有する第１および第２低温側プレートを備え、前記第１低温側プレートと前記第２低温側プレートとが、前記第２方向に隣接して設けられ、前記移動テーブル部の前記第２方向への移動によって、前記第１または第２低温側プレートの低温側クランプ面の少なくともいずれか一方が前記高温側プレートの高温側クランプ面に対向することを特徴とする。 One solution of the heating test apparatus according to the present invention is a heating test apparatus that performs a heating test by giving a temperature difference to an object to be tested, and includes a high temperature side and a low temperature side that clamp the object to be tested and give the temperature difference A unit, and a moving table unit that supports the low temperature side unit and moves the low temperature side unit in a first direction that clamps the object to be tested and a second direction that is orthogonal thereto, the high temperature side unit comprising: A high-temperature side plate having a high-temperature side clamp surface in contact with the object to be tested, and the low-temperature side unit includes first and second low-temperature side plates having a low-temperature side clamp surface in contact with the object to be tested. The first low temperature side plate and the second low temperature side plate are provided adjacent to each other in the second direction, and the first or second plate is moved by the movement of the moving table portion in the second direction. At least one of the low temperature side clamp surface of the hot-side plate, characterized in that opposite the hot side clamping surface of the high temperature side plate.

これによれば、例えば、第１低温側プレートに一つの被試験対象物を載置して、一つの被試験対象物に対して加熱試験を行うこともできるし、第１および第２低温側プレートのそれぞれに一つの被試験対象物を載置して、二つの被試験対象物に対して同時に加熱試験を行うこともできる。このように、一つまたは複数の被試験対象物に対する加熱試験装置の取り扱い（加熱試験）は、被試験対象物の数に合わせて低温側ユニットを支持する移動テーブル部を第２方向に移動することで容易に行うことができる。また、移動テーブル部を含んで構成されるクランプ機構を、高温側ユニットではなく低温側ユニットに設けることで、熱の影響を受けにくくすることができる。 According to this, for example, one object to be tested can be placed on the first low temperature side plate, and a heating test can be performed on one object to be tested. One object to be tested can be placed on each of the plates, and a heating test can be simultaneously performed on the two objects to be tested. Thus, the handling (heating test) of the heating test apparatus for one or a plurality of objects to be tested is performed by moving the moving table portion supporting the low temperature side unit in the second direction according to the number of objects to be tested. It can be done easily. Further, by providing the clamp mechanism including the moving table portion not on the high temperature side unit but on the low temperature side unit, it can be made less susceptible to the influence of heat.

また、前記加熱試験装置として、前記低温側ユニットは、前記第１低温側プレートの低温側クランプ面の反対側の背面に設けられた第１ヒートシンクと、前記第２低温側プレートの低温側クランプ面の反対側の背面に設けられた第２ヒートシンクと、前記第１ヒートシンクに対向して設けられ、該第１ヒートシンクに送風する第１ファンと、前記第２ヒートシンクに対向して設けられ、該第２ヒートシンクに送風する第２ファンと、を備え、前記第１および第２ファンの回転数が、それぞれ独立して制御されることが好ましい。これによれば、第１低温側プレートに載置される被試験対象物と、第２低温側プレートに載置される被試験対象物とが、異なる種類の場合であっても、それぞれで温度を一定に調節することができる。 Moreover, as the heating test apparatus, the low temperature side unit includes a first heat sink provided on a back surface opposite to the low temperature side clamp surface of the first low temperature side plate, and a low temperature side clamp surface of the second low temperature side plate. A second heat sink provided on the back side opposite to the first heat sink, a first fan provided to face the first heat sink, and blown to the first heat sink, and provided to face the second heat sink. Preferably, the second fan that blows air to the heat sink is provided, and the rotational speeds of the first and second fans are controlled independently of each other. According to this, even when the object to be tested placed on the first low temperature side plate and the object to be tested placed on the second low temperature side plate are of different types, the temperature is different in each case. Can be adjusted to a constant value.

また、前記加熱試験装置として、前記低温側ユニットは、前記第１ヒートシンクとエアギャップを介して前記第１ファンの回転中央部に設けられたスポンジ状の第１断熱部材と、前記第２ヒートシンクとエアギャップを介して前記第２ファンの回転中央部に設けられたスポンジ状の第２断熱部材と、を備えることが好ましい。また、前記加熱試験装置として、前記低温側ユニットは、前記第１ヒートシンクと直接接して前記第１ファンの外周部に設けられた第３断熱部材と、前記第２ヒートシンクと直接接して前記第２ファンの外周部に設けられた第４断熱部材と、を備えることが好ましい。これによれば、第１および第２ヒートシンクの熱をそれぞれ第１および第２ファンに伝わりにくくすることができる。 In addition, as the heating test apparatus, the low temperature side unit includes a sponge-like first heat insulating member provided at a rotation center portion of the first fan via the first heat sink and an air gap, the second heat sink, It is preferable to include a sponge-like second heat insulating member provided at a rotation center portion of the second fan via an air gap. Further, as the heating test apparatus, the low temperature side unit is in direct contact with the first heat sink, a third heat insulating member provided on an outer peripheral portion of the first fan, and in direct contact with the second heat sink. It is preferable to provide the 4th heat insulation member provided in the outer peripheral part of the fan. According to this, the heat of the first and second heat sinks can be made difficult to be transmitted to the first and second fans, respectively.

また、前記加熱試験装置として、前記移動テーブル部は、載置板と、該載置板に起立して設けられる複数のコイルばねとを備え、前記複数のコイルばねは、前記第１低温側プレートを該第１低温側プレートの周囲で支持し、前記第２低温側プレートを該第２低温側プレートの周囲で支持していることが好ましい。これによれば、被試験対象物を高温側および低温側ユニットでクランプした際に、コイルばねが撓むことで被試験対象物の片当たりを防止することができる。 In addition, as the heating test apparatus, the moving table unit includes a mounting plate and a plurality of coil springs provided upright on the mounting plate, and the plurality of coil springs includes the first low temperature side plate. Is supported around the first low temperature side plate, and the second low temperature side plate is preferably supported around the second low temperature side plate. According to this, when the object to be tested is clamped by the high temperature side and low temperature side units, the coil spring can be bent to prevent the object of the object to be tested from hitting.

また、前記加熱試験装置として、前記移動テーブル部は、前記第２方向に隣接する前記第１および第２低温側プレートの間であって、前記載置板に一端部が固定され、他端部が前記第１方向へ延在するゲージを備え、前記ゲージは、短手両側に長手方向に沿って目盛りが振られており、それぞれの目盛り上に前記第１および第２低温側プレートの位置を示す針部が設けられることが好ましい。これによれば、クランプ時のコイルばねの撓み量を確認することができ、コイルばねの撓み量とそのばね定数から間接的に被試験対象物への押しつけ荷重（クランプ力）を測定することができる。 Further, as the heating test apparatus, the moving table portion is between the first and second low temperature side plates adjacent in the second direction, and one end portion is fixed to the mounting plate, and the other end portion. Is provided with a gauge extending in the first direction, the gauge being scaled along the longitudinal direction on both sides of the short side, and the position of the first and second low temperature side plates on each scale. It is preferred that a needle portion is provided. According to this, the amount of bending of the coil spring at the time of clamping can be confirmed, and the pressing load (clamping force) on the object to be tested can be indirectly measured from the amount of bending of the coil spring and its spring constant. it can.

また、前記加熱試験装置において、前記高温側ユニットは、複数のヒータと、複数の熱電対とを備え、前記ヒータと前記熱電対とが、交互に前記高温側クランプ面に沿って前記高温側プレートに設けられ、前記高温側クランプ面と対向している前記低温側クランプ面は、一つの前記熱電対と対向し、かつ、該一つの熱電対を挟む二つの前記ヒータと対向することが好ましい。これによれば、被試験対象物に対して正確な温度を均一に加えることができる。 Further, in the heating test apparatus, the high temperature side unit includes a plurality of heaters and a plurality of thermocouples, and the heaters and the thermocouples alternately alternate with the high temperature side plate along the high temperature side clamp surface. It is preferable that the low-temperature side clamp surface that is provided on the opposite side of the high-temperature side clamp surface is opposed to one of the thermocouples and is opposed to the two heaters sandwiching the one thermocouple. According to this, accurate temperature can be uniformly applied with respect to a to-be-tested object.

また、前記加熱試験装置として、前記複数の熱電対で前記高温側プレートの温度をモニターしながら、前記複数のヒータの温度を制御する制御ユニットを備え、前記制御ユニットは、前記高温側および低温側ユニットを内包する本体部から離して設けられることが好ましい。これによれば、高温となる本体部から離れた位置で制御させることができ、実証試験形態の自由度を高めることができる。 The heating test apparatus includes a control unit that controls the temperature of the plurality of heaters while monitoring the temperature of the high temperature side plate with the plurality of thermocouples, and the control unit includes the high temperature side and the low temperature side. It is preferable to be provided apart from the main body part containing the unit. According to this, it can be made to control in the position away from the main-body part used as high temperature, and the freedom degree of a demonstration test form can be raised.

また、前記加熱試験装置として、前記移動テーブル部は、前記第１方向に前記低温側ユニットを移動させる構造がジャッキで構成されることが好ましい。これによれば、高価な電動昇降機などを用いずに、パンタグラフジャッキなど手動によるジャッキを用いて低価格の加熱試験装置を提供することができる。 Further, as the heating test apparatus, it is preferable that the moving table unit is configured by a jack so that the low-temperature side unit is moved in the first direction. According to this, a low-cost heating test apparatus can be provided by using a manual jack such as a pantograph jack without using an expensive electric elevator or the like.

本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。本発明によれば、取り扱いが容易な加熱試験装置や低価格の加熱試験装置を提供することができる。 Among the inventions disclosed in the present application, effects obtained by typical ones will be briefly described as follows. According to the present invention, it is possible to provide a heat test apparatus that is easy to handle and a low-cost heat test apparatus.

本発明の一実施形態における加熱試験装置の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the heating test apparatus in one Embodiment of this invention. 図１に示す加熱試験装置の要部を説明する図である。It is a figure explaining the principal part of the heating test apparatus shown in FIG. 図２に示す低温側ユニットを説明する図である。It is a figure explaining the low temperature side unit shown in FIG. 図３に示すコイルばねを説明する図である。It is a figure explaining the coil spring shown in FIG. 図１に示す風量調節部を説明する図である。It is a figure explaining the air volume adjustment | control part shown in FIG. 図１に示す加熱試験装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the heating test apparatus shown in FIG. 図１に示す加熱試験装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the heating test apparatus shown in FIG.

以下の本発明における実施形態では、必要な場合に複数のセクションなどに分けて説明するが、原則、それらはお互いに無関係ではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細などの関係にある。このため、全図において、同一の機能を有する部材には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。 In the following embodiments of the present invention, the description will be divided into a plurality of sections when necessary. However, in principle, they are not irrelevant to each other, and one of them is related to some or all of the other modifications, details, etc. It is in. For this reason, the same code | symbol is attached | subjected to the member which has the same function in all the figures, and the repeated description is abbreviate | omitted.

また、構成要素の数（個数、数値、量、範囲などを含む）については、特に明示した場合や原理的に明らかに特定の数に限定される場合などを除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良い。また、構成要素などの形状に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうではないと考えられる場合などを除き、実質的にその形状などに近似または類似するものなどを含むものとする。 In addition, the number of components (including the number, numerical value, quantity, range, etc.) is limited to that specific number unless otherwise specified or in principle limited to a specific number in principle. It may be more than a specific number or less. In addition, when referring to the shape of a component, etc., it shall include substantially the same or similar to the shape, etc., unless explicitly stated or in principle otherwise considered otherwise .

本発明の実施形態における加熱試験装置１０について、図１〜図７を参照して説明する。 A heating test apparatus 10 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

図１は、加熱試験装置１０の構成を説明する図である。また、図２は、加熱試験装置１０の要部（低温側ユニット１２周辺）を説明する図である。また、図３は、低温側ユニット１２の要部を説明する図であり、説明を明解にするために、一部を省略して示している。また、図４は、図３に示すコイルばね２５を説明する断面図である。また、図５は、図１に示す風量調節部７０を説明する図である。 FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of the heating test apparatus 10. Moreover, FIG. 2 is a figure explaining the principal part (low temperature side unit 12 periphery) of the heating test apparatus 10. FIG. FIG. 3 is a diagram for explaining a main part of the low temperature side unit 12 and a part of the low temperature side unit 12 is omitted for the sake of clarity. FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating the coil spring 25 shown in FIG. FIG. 5 is a diagram illustrating the air volume adjusting unit 70 shown in FIG.

また、図６および図７は、加熱試験装置１０の加熱試験動作を説明する図であり、図６が二つの被試験対象物Ｗａ、Ｗｂ（本実施形態では、これらは、被試験対象物Ｗと記し、同一のものとして説明する場合がある。）に同時に加熱試験を行う場合、図７が一つの被試験対象物Ｗにのみ加熱試験を行う場合を示している。これら図６および図７では、説明を明解にするために、被試験対象物Ｗにハッチングを付している。 6 and 7 are diagrams for explaining the heating test operation of the heating test apparatus 10. FIG. 6 shows two test objects Wa and Wb (in the present embodiment, these are the test target object W). In the case where the heating test is performed at the same time, FIG. 7 shows the case where the heating test is performed only on one object to be tested W. In these FIG. 6 and FIG. 7, the test object W is hatched for the sake of clarity.

図１に示すように、加熱試験装置１０は、本体部５０を構成する筐体を備えている。また、加熱試験装置１０は、本体部５０の内部に設けられた、高温側ユニット１１および低温側ユニット１２と、クランプ機構を構成する移動テーブル部１３とを備えている。また、加熱試験装置１０は、本体部５０の外部に設けられた制御ユニット３０を備えている。高温側ユニット１１は、本体部５０の内部で固定して設けられている。低温側ユニット１２は、本体部５０の内部で移動テーブル部１３によって移動可能に設けられている。移動テーブル部１３は、低温側ユニット１２を支持しており、被試験対象物Ｗをクランプする第１方向Ａおよびこれと直交する第２方向Ｂに低温側ユニット１２を移動させる。 As shown in FIG. 1, the heating test apparatus 10 includes a housing that constitutes a main body 50. Moreover, the heating test apparatus 10 includes a high temperature side unit 11 and a low temperature side unit 12 provided inside the main body 50, and a moving table unit 13 constituting a clamp mechanism. The heating test apparatus 10 includes a control unit 30 provided outside the main body 50. The high temperature side unit 11 is fixedly provided inside the main body 50. The low temperature side unit 12 is provided so as to be movable by the moving table unit 13 inside the main body unit 50. The moving table unit 13 supports the low temperature side unit 12 and moves the low temperature side unit 12 in a first direction A for clamping the object to be tested W and a second direction B orthogonal thereto.

これらから構成される加熱試験装置１０は、被試験対象物Ｗに高温側と低温側との温度差を与えて加熱試験を行うものであり、高温側ユニット１１および低温側ユニット１２が被試験対象物Ｗをクランプして温度差を与える（図６、図７参照）。被試験対象物Ｗとしては、例えば、温度差で発電を行う熱電素子や熱電モジュールが挙げられる。 The heating test apparatus 10 constituted by these performs a heating test by giving a temperature difference between the high temperature side and the low temperature side to the object to be tested W, and the high temperature side unit 11 and the low temperature side unit 12 are the objects to be tested. The object W is clamped to give a temperature difference (see FIGS. 6 and 7). Examples of the test object W include a thermoelectric element and a thermoelectric module that generate power with a temperature difference.

図６、図７に示すように、高温側ユニット１１は、複数のヒータ１５Ａ、１５Ｂ、１５Ｃ、１５Ｄ（本実施形態では、これらは、ヒータ１５と記し、同一のものとして説明する場合がある。）と、複数の熱電対１６Ａ、１６Ｂ、１６Ｃ（本実施形態では、これらは、熱電対１６と記し、同一のものとして説明する場合がある。）とを有している（図１参照）。また、高温側ユニット１１は、被試験対象物Ｗと接する高温側クランプ面１４ａに沿ってヒータ１５と熱電対１６とが交互に設けられた高温側プレート１４を有している。 As shown in FIGS. 6 and 7, the high temperature side unit 11 includes a plurality of heaters 15 A, 15 B, 15 C, and 15 D (in this embodiment, these are referred to as heaters 15 and may be described as the same ones). ) And a plurality of thermocouples 16A, 16B, and 16C (in the present embodiment, these are referred to as thermocouples 16 and may be described as being the same) (see FIG. 1). The high temperature side unit 11 has a high temperature side plate 14 in which heaters 15 and thermocouples 16 are alternately provided along a high temperature side clamp surface 14a in contact with the object to be tested W.

各ヒータ１５は、例えば、カートリッジヒータであり、出力が３００Ｗである。また、各熱電対１６は、高温側プレート１４の短手方向中央の温度を測定するように設けられている。また、高温側プレート１４は、高温側クランプ面１４ａが、例えば１００ｍｍ×１５０ｍｍの平面視長方形状（矩形状）である。また、高温側プレート１４は、例えば、耐熱ニッケルめっき処理が施された純銅から構成される。純銅を用いることで、高温側プレート１４の温度分布を均一なものとし易くなるが、耐熱性を重視した材料を用いてもよい。 Each heater 15 is, for example, a cartridge heater, and the output is 300 W. Each thermocouple 16 is provided so as to measure the temperature at the center in the short direction of the high temperature side plate 14. Moreover, as for the high temperature side plate 14, the high temperature side clamp surface 14a is a rectangular shape (rectangular shape) planar view of 100 mm x 150 mm, for example. Moreover, the high temperature side plate 14 is comprised from the pure copper by which the heat-resistant nickel plating process was performed, for example. By using pure copper, it becomes easy to make the temperature distribution of the high temperature side plate 14 uniform, but a material that places importance on heat resistance may be used.

図２に示すように、低温側ユニット１２は、被試験対象物Ｗと接する低温側クランプ面１９ａが設けられた低温側プレート１７Ａと、被試験対象物Ｗと接する低温側クランプ面１９ｂが設けられた低温側プレート１７Ｂとを有している。本実施形態では、これら低温側プレート１７Ａおよび低温側プレート１７Ｂは、低温側プレート１７と記し、同一のものとして説明する場合がある。また、本実施形態では、低温側クランプ面１９ａおよび低温側クランプ面１９ｂは、低温側クランプ面１９と記し、同一のものとして説明する場合がある。 As shown in FIG. 2, the low temperature side unit 12 is provided with a low temperature side plate 17A provided with a low temperature side clamp surface 19a in contact with the test object W and a low temperature side clamp surface 19b in contact with the test object W. And a low temperature side plate 17B. In the present embodiment, the low temperature side plate 17A and the low temperature side plate 17B are referred to as the low temperature side plate 17 and may be described as being the same. In the present embodiment, the low temperature side clamp surface 19a and the low temperature side clamp surface 19b are referred to as the low temperature side clamp surface 19 and may be described as being the same.

これら低温側プレート１７Ａ、１７Ｂは、第２方向Ｂに隣接して設けられている。低温側プレート１７Ａ、１７Ｂは、例えばアルマイト処理が施されたアルミニウム合金から構成される。また、低温側プレート１７は、低温側クランプ面１９ａ、１９ｂが、例えば８０ｍｍ×８０ｍｍの平面視正方形状（矩形状）である。 These low temperature side plates 17A and 17B are provided adjacent to the second direction B. The low temperature side plates 17A and 17B are made of, for example, an aluminum alloy that has been anodized. Further, the low temperature side plate 17 has low temperature side clamp surfaces 19a, 19b having a square shape (rectangular shape) in a plan view of, for example, 80 mm × 80 mm.

また、低温側ユニット１２は、低温側プレート１７Ａに設けられ、低温側プレート１７Ａ（低温側クランプ面１９ａ）の中央の温度を測定する熱電対２２Ａと、低温側プレート１７Ｂに設けられ、低温側プレート１７Ｂ（低温側クランプ面１９ｂ）の中央の温度を測定する熱電対２２Ｂとを有している。本実施形態では、これら熱電対２２Ａおよび熱電対２２Ｂは、熱電対２２と記し、同一のものとして説明する場合がある。 Further, the low temperature side unit 12 is provided on the low temperature side plate 17A, provided on the low temperature side plate 17B and the thermocouple 22A for measuring the temperature at the center of the low temperature side plate 17A (low temperature side clamp surface 19a). 17B (low temperature side clamp surface 19b) and a thermocouple 22B for measuring the temperature at the center. In the present embodiment, the thermocouple 22A and the thermocouple 22B are referred to as a thermocouple 22 and may be described as being the same.

図３に示すように、低温側ユニット１２は、低温側プレート１７Ａと一体に形成され、低温側クランプ面１９ａと反対側の背面に設けられたヒートシンク（冷却フィン）１８Ａと、低温側プレート１７Ｂと一体に形成され、低温側クランプ面１９ｂと反対側の背面に設けられたヒートシンク（冷却フィン）１８Ｂとを有している。本実施形態では、これらヒートシンク１８Ａおよびヒートシンク１８Ｂは、ヒートシンク１８と記し、同一のものとして説明する場合がある。なお、本実施形態では、低温側プレート１７とヒートシンク１８とが一体に形成されたものとして説明するが、別部品として低温側プレート１７とヒートシンク１８とが組み立てられたものであってもよい。 As shown in FIG. 3, the low temperature side unit 12 is formed integrally with the low temperature side plate 17A, and includes a heat sink (cooling fin) 18A provided on the back surface opposite to the low temperature side clamp surface 19a, and a low temperature side plate 17B. The heat sink (cooling fin) 18B is formed integrally and provided on the back surface opposite to the low temperature side clamp surface 19b. In the present embodiment, the heat sink 18A and the heat sink 18B are referred to as the heat sink 18 and may be described as being the same. In this embodiment, the low temperature side plate 17 and the heat sink 18 are described as being integrally formed. However, the low temperature side plate 17 and the heat sink 18 may be assembled as separate parts.

また、低温側ユニット１２は、低温側プレート１７Ａの下方であって、ヒートシンク１８Ａと対向して設けられ、ヒートシンク１８Ａに送風する冷却ファン２１Ａと、低温側プレート１７Ｂの下方であって、ヒートシンク１８Ｂと対向して設けられ、ヒートシンク１８Ｂに送風する冷却ファン２１Ｂとを有している。本実施形態では、これら冷却ファン２１Ａおよび冷却ファン２１Ｂは、冷却ファン２１と記し、同一のものとして説明する場合がある。冷却ファン２１が回転（駆動）することによって発生したエアが、ヒートシンク１８へ吹き付けられることで、低温側プレート１７が低温となる。 The low temperature side unit 12 is provided below the low temperature side plate 17A and opposite to the heat sink 18A, and is provided with a cooling fan 21A for blowing air to the heat sink 18A, below the low temperature side plate 17B, It has a cooling fan 21B that is provided oppositely and blows air to the heat sink 18B. In the present embodiment, the cooling fan 21A and the cooling fan 21B are referred to as the cooling fan 21 and may be described as being the same. Air generated by the rotation (drive) of the cooling fan 21 is blown to the heat sink 18, so that the low temperature side plate 17 has a low temperature.

また、低温側ユニット１２は、ヒートシンク１８Ａとエアギャップを介して冷却ファン２１Ａの回転中央部に貼付して設けられたスポンジ状の断熱シート（断熱部材）９０Ａと、ヒートシンク１８Ｂとエアギャップを介して冷却ファン２１Ｂの回転中央部に貼付して設けられたスポンジ状の断熱シート（断熱部材）９０Ｂとを有している。本実施形態では、これら断熱シート９０Ａおよび断熱シート９０Ｂは、断熱シート９０と記し、同一のものとして説明する場合がある。 The low temperature side unit 12 has a sponge-like heat insulating sheet (heat insulating member) 90A attached to the rotation center of the cooling fan 21A via the air gap and the heat sink 18A, and the heat sink 18B and the air gap. And a sponge-like heat insulating sheet (heat insulating member) 90B attached to the rotation center of the cooling fan 21B. In this embodiment, these heat insulation sheet 90A and heat insulation sheet 90B are described as the heat insulation sheet 90, and may be demonstrated as the same thing.

また、低温側ユニット１２は、冷却ファン２１Ａの外周部の四隅にヒートシンク１８Ａと対向して設けられた断熱ワッシャー（断熱部材）９１Ａと、冷却ファン２１Ｂの外周部の四隅にヒートシンク１８Ｂと対向して設けられた断熱ワッシャー（断熱部材）９１Ｂとを有している。本実施形態では、これら断熱ワッシャー９１Ａおよび断熱ワッシャー９１Ｂは、断熱ワッシャー９１と記し、同一のものとして説明する場合がある。 Further, the low temperature side unit 12 has heat insulating washers (heat insulating members) 91A provided at the four corners of the outer peripheral portion of the cooling fan 21A so as to face the heat sink 18A, and faces the heat sink 18B at the four corners of the outer peripheral portion of the cooling fan 21B. And a heat insulating washer (heat insulating member) 91B provided. In the present embodiment, the heat insulating washer 91A and the heat insulating washer 91B are referred to as a heat insulating washer 91 and may be described as being the same.

また、低温側ユニット１２は、ヒートシンク１８Ａとは反対側で冷却ファン２１Ａに設けられ、冷却ファン２１Ａを保護するファンガード９２Ａと、ヒートシンク１８Ｂとは反対側で冷却ファン２１Ｂに設けられ、冷却ファン２１Ｂを保護するファンガード９２Ｂを有している。実施形態では、これらファンガード９２Ａおよびファンガード９２Ｂは、ファンガード９２と記し、同一のものとして説明する場合がある。 The low temperature side unit 12 is provided on the cooling fan 21A on the side opposite to the heat sink 18A, and is provided on the cooling fan 21B on the side opposite to the heat sink 18B. Has a fan guard 92B. In the embodiment, the fan guard 92A and the fan guard 92B are referred to as the fan guard 92 and may be described as being the same.

図３に示すように、冷却ファン２１は、その四隅のそれぞれに設けられた貫通孔を通る長ねじ９３を用いて、断熱ワッシャー９１、ファンガード９２と共に、ヒートシンク１８に対して、取り付けられる（共締めされる）。この際、ヒートシンク１８と断熱シート９０とは接触せずに、その間にエアギャップが設けられるようにし、ヒートシンク１８と断熱ワッシャー９１とが接触するようにしている。このようにして、ヒートシンク１８の熱が冷却ファン２１へ伝わりにくくしている。 As shown in FIG. 3, the cooling fan 21 is attached to the heat sink 18 together with the heat insulating washer 91 and the fan guard 92 by using long screws 93 that pass through through holes provided at the four corners of the cooling fan 21. Tightened). At this time, the heat sink 18 and the heat insulating sheet 90 are not in contact with each other, but an air gap is provided therebetween, so that the heat sink 18 and the heat insulating washer 91 are in contact with each other. In this way, the heat of the heat sink 18 is hardly transmitted to the cooling fan 21.

具体的には、まず、断熱ワッシャー９１には、断熱性、耐熱性を有する材料、例えば、ＰＴＦＥ（ポリテトラフルオロエチレン）を用いている。ＰＴＦＥから構成された断熱ワッシャー９１は、２４０℃での使用にも耐えることができる。 Specifically, first, the heat insulating washer 91 is made of a material having heat insulating properties and heat resistance, such as PTFE (polytetrafluoroethylene). The heat insulating washer 91 made of PTFE can withstand use at 240 ° C.

そして、断熱シート９０には、例えば、スポンジ状のシリコーン樹脂を用いている。スポンジ状のシリコーン樹脂（ゴムスポンジ）から構成された断熱シート９０は、２００℃での使用にも耐えることができる。また、断熱シート９０をスポンジ状とすることで、エアギャップと合わせて断熱性を高めることができる。このようにして、特に、冷却ファン２１の回転中央部（モータ部）に熱が伝わりにくい構造が構成されている。 For the heat insulating sheet 90, for example, a sponge-like silicone resin is used. The heat insulating sheet 90 made of a sponge-like silicone resin (rubber sponge) can withstand use at 200 ° C. Moreover, heat insulation can be improved together with an air gap by making the heat insulation sheet 90 into sponge shape. In this way, in particular, a structure in which heat is not easily transmitted to the rotation center portion (motor portion) of the cooling fan 21 is configured.

なお、本実施形態では、耐熱性、機械的性質、装置価格などを考慮して、断熱部材の断熱シート９０や断熱ワッシャー９１に、ＰＥＦＥやシリコーン樹脂を用いたが、その他の樹脂やセラミック系の部材を用いることもできる。 In this embodiment, PEFE or silicone resin is used for the heat insulating sheet 90 or the heat insulating washer 91 of the heat insulating member in consideration of heat resistance, mechanical properties, device price, etc., but other resins or ceramics are used. A member can also be used.

このように、ヒートシンク１８から冷却ファン２１へ熱が伝わりにくい構造であるため、冷却ファン２１の使用温度を下げることができるので、冷却ファン２１の寿命を延ばすことができる。これにより、加熱試験装置１０の信頼性を向上することができる。また、ヒートシンク１８（低温側プレート１７）の温度が、例えば１５０℃が超えるような場合であっても、定格温度の上限が、例えば６０℃〜７０℃程度の冷却ファン２１を用いることもできる。また、低温側プレート１７の温度上限を上げることもできるようになり、作業者による試験条件（評価）の自由度を高めることができ、取り扱いが容易となる。 As described above, since heat is not easily transmitted from the heat sink 18 to the cooling fan 21, the operating temperature of the cooling fan 21 can be lowered, so that the life of the cooling fan 21 can be extended. Thereby, the reliability of the heating test apparatus 10 can be improved. Further, even when the temperature of the heat sink 18 (low temperature side plate 17) exceeds 150 ° C., for example, the cooling fan 21 whose upper limit of the rated temperature is about 60 ° C. to 70 ° C. can be used. In addition, the upper temperature limit of the low temperature side plate 17 can be increased, the degree of freedom of test conditions (evaluation) by the operator can be increased, and handling becomes easy.

図２に示すように、移動テーブル部１３は、被試験対象物Ｗをクランプする第１方向Ａに低温側ユニット１２を移動させるジャッキ構造部と、第２方向Ｂに低温側ユニットを移動させるシフト構造部とを備えている。ジャッキ構造部は、ハンドル１３Ａを有して、このハンドル１３Ａを手動で回すことで昇降するねじ式のジャッキ（パンダグラフジャッキ）であり、低温側ユニット１２を昇降させる。シフト構造部は、ジャッキ構造部が固定される載置板１３Ｂおよびこれを本体部５０の底面（図１参照）に固定する複数のつまみねじ１３Ｃを有しており、つまみねじ１３Ｃを外してジャッキ構造部が搭載されている載置板１３Ｂをずらすことによって、低温側ユニット１２をシフトさせる。このような移動テーブル部１３によれば、高価な電動昇降機などを用いずに、低価格の加熱試験装置１０を提供することができる。 As shown in FIG. 2, the moving table unit 13 includes a jack structure unit that moves the low-temperature side unit 12 in the first direction A for clamping the object to be tested W, and a shift that moves the low-temperature side unit in the second direction B. And a structure part. The jack structure portion has a handle 13A and is a screw type jack (panda graph jack) that moves up and down by manually turning the handle 13A, and moves the low temperature side unit 12 up and down. The shift structure portion has a mounting plate 13B to which the jack structure portion is fixed and a plurality of thumb screws 13C for fixing the mounting plate 13B to the bottom surface of the main body portion 50 (see FIG. 1). The low temperature side unit 12 is shifted by shifting the mounting plate 13B on which the structure portion is mounted. According to such a moving table unit 13, it is possible to provide a low-cost heating test apparatus 10 without using an expensive electric elevator or the like.

また、移動テーブル部１３は、三つの面２３ａ、２３ｂ、２３ｃに曲折された複数の取り付け板２３と、複数の支柱２４と、複数のコイルばね２５と、載置板２７とを有しており、これらが組み立てられた構造で各低温側プレート１７を支持している。 The movable table 13 has a plurality of mounting plates 23 bent on three surfaces 23a, 23b, and 23c, a plurality of support columns 24, a plurality of coil springs 25, and a mounting plate 27. The low temperature side plate 17 is supported by the structure in which these are assembled.

図３および図４に示すように、コイルばね２５は、支柱２４が通されて、取り付け板２３と、載置板２７との間に設けられる。すなわち、コイルばね２５は、載置板２７で起立して設けられるように、一端部が取り付け板２３の面２３ｂの裏面で接し、他端部が載置板２７の載置面２７ａで接している。 As shown in FIGS. 3 and 4, the coil spring 25 is provided between the mounting plate 23 and the mounting plate 27 through the support 24. That is, the coil spring 25 has one end contacting the back surface of the surface 23 b of the mounting plate 23 and the other end contacting the mounting surface 27 a of the mounting plate 27 so that the coil spring 25 is provided upright on the mounting plate 27. Yes.

図２に示すように、加熱試験装置１０の正面側における低温側プレート１７の面と取り付け板２３の面２３ａとが合わさってねじ止めされている。この取り付け板２３の面２３ｂの対向する短手のそれぞれに開口部２３ｅ（図４参照）が形成されており、図４に示すように、開口部２３ｅに支柱２４の一端部が通されている。 As shown in FIG. 2, the surface of the low temperature side plate 17 and the surface 23 a of the mounting plate 23 on the front side of the heating test apparatus 10 are combined and screwed together. An opening 23e (see FIG. 4) is formed in each of the opposing short sides of the surface 23b of the mounting plate 23, and as shown in FIG. 4, one end of the column 24 is passed through the opening 23e. .

支柱２４の一端部は、押さえ金具（フランジ）７２を介して（押さえ金具７２を取り付け板２３の面２３ｂに当接させて）ボルト７３によって取り付け板２３に取り付けられている（ねじ止めされている）。このとき、支柱２４の一端部の端面は、押さえ金具７２に接している。また、支柱２４の他端部は、載置板２７の開口部２７ｂを通るボルト７４によって載置板２７に取り付けられている（ねじ止めされている）。このとき、支柱２４の他端部の端面は、載置面２７ａに接している。支柱２４の一端部が押さえ金具７２と接し、その他端部が載置面２７ａに接するようにするため、取り付け板２３の開口部２３ｅが、載置板２７の開口部２７ｂよりも径が大きいものとなっている。 One end of the support column 24 is attached to the attachment plate 23 by a bolt 73 (screwed) with a press fitting (flange) 72 (the press fitting 72 is brought into contact with the surface 23b of the attachment plate 23). ). At this time, the end surface of one end of the support column 24 is in contact with the presser fitting 72. Further, the other end portion of the support column 24 is attached (screwed) to the mounting plate 27 by a bolt 74 that passes through the opening 27 b of the mounting plate 27. At this time, the end surface of the other end portion of the support column 24 is in contact with the mounting surface 27a. One having an end 23e of the mounting plate 23 having a diameter larger than that of the opening 27b of the mounting plate 27 so that one end of the column 24 is in contact with the presser fitting 72 and the other end is in contact with the mounting surface 27a. It has become.

加熱試験装置１０の背面側における低温側プレート１７の面でも同様である。したがって、低温側プレート１７を有する低温側ユニット１２は、その周囲（低温側プレート１７の４隅）に設けられた複数（４本）のコイルばね２５を介して移動テーブル部１３で支持される。このため、被試験対象物Ｗを高温側ユニット１１および低温側ユニット１２でクランプした際に、コイルばね２５が撓むことで被試験対象物Ｗの片当たりを防止することができる。 The same applies to the surface of the low temperature side plate 17 on the back side of the heating test apparatus 10. Accordingly, the low temperature side unit 12 having the low temperature side plate 17 is supported by the moving table unit 13 via a plurality (four) of coil springs 25 provided around the periphery (four corners of the low temperature side plate 17). For this reason, when the test object W is clamped by the high temperature side unit 11 and the low temperature side unit 12, the coil spring 25 can be bent to prevent the test target object W from hitting one piece.

本実施形態では、支柱２４の長さとコイルばね２５の自然長とを同じに設定した上で、図４に示すように、コイルばね２５で支持（保持）されている低温側プレート１７の重さを、取り付け板２３の板厚（具体的には、面２３ｂ部の板厚）によるコイルばね２５の圧縮荷重と同等に設定してキャンセルさせている。これにより、コイルばね２５の撓み量から押しつけ荷重（クランプ力）をより精度良く測定することができる。 In this embodiment, the length of the support 24 and the natural length of the coil spring 25 are set to be the same, and the weight of the low temperature side plate 17 supported (held) by the coil spring 25 as shown in FIG. Is set equal to the compressive load of the coil spring 25 by the plate thickness of the mounting plate 23 (specifically, the plate thickness of the surface 23b) and canceled. Thereby, the pressing load (clamping force) can be measured with higher accuracy from the amount of deflection of the coil spring 25.

また、本実施形態では、作業者が複数のコイルばね２５を容易に交換することができる。支柱２４に通されているコイルばね２５は、コイルばね２５の一端面で取り付け板２３、押さえ金具７２を介してボルト７３によって取り付けられている（固定されている）。このため、コイルばね２５を支柱２４から取り外す（抜き出す）には、支柱２４からボルト７３を取り外し、押さえ金具７２および取り付け板２３を取り外した後に行えばよい。また、コイルばね２５を支柱２４に取り付けるには、この逆の手順を行えばよい。 In the present embodiment, the operator can easily replace the plurality of coil springs 25. The coil spring 25 passed through the support column 24 is attached (fixed) to the one end surface of the coil spring 25 by a bolt 73 via a mounting plate 23 and a presser fitting 72. For this reason, the coil spring 25 may be removed (extracted) from the support post 24 after the bolt 73 is removed from the support post 24 and the presser fitting 72 and the attachment plate 23 are removed. In order to attach the coil spring 25 to the column 24, the reverse procedure may be performed.

また、複数のコイルばね２５として、自然長および内径が同じで、ばね定数が異なるものを種々準備しておくことで、被試験対象物Ｗに対する試験条件、具体的には、押しつけ荷重（クランプ力）の範囲を試験条件（用途）に合わせて、ばね定数の異なるものを交換することができる。すなわち、種々のコイルばね２５を交換することによって、押しつけ荷重の範囲を容易に変更することができる。 Further, by preparing various coil springs 25 having the same natural length and inner diameter but different spring constants, the test conditions for the object to be tested W, specifically, the pressing load (clamping force) ) Can be changed according to the test conditions (uses). That is, the range of the pressing load can be easily changed by exchanging various coil springs 25.

また、例えば、低温側プレート１７Ａを支持する４本のコイルばね２５と、低温側プレート１７Ｂを支持する４本のコイルばね２５とをばね定数が異なるものを用いることで、低温側プレート１７Ａに載せられる被試験対象物Ｗおよび低温側プレート１７Ｂに載せられる被試験対象物Ｗごとに押しつけ荷重の範囲を異ならせることができる。 Further, for example, the four coil springs 25 that support the low temperature side plate 17A and the four coil springs 25 that support the low temperature side plate 17B are mounted on the low temperature side plate 17A by using different spring constants. The range of the pressing load can be made different for each test object W to be tested and each test object W placed on the low temperature side plate 17B.

そして、本実施形態における加熱試験装置１０は、図２に示すように、第２方向Ｂに隣接する低温側プレート１７Ａ、１７Ｂの間であって、移動テーブル部１３に一端部がねじで固定され、他端部が第１方向Ａへ延在するゲージ２６を備えている。ゲージ２６は、短手両側に長手方向に沿って目盛りが振られており、それぞれの目盛り上に低温側プレート１７Ａ、１７Ｂの位置を示す針部２３ｄが設けられる（図６、図７参照）。この針部２３ｄは、取り付け板２３の面２３ｃに形成された切り欠き面で構成している。このようなゲージ２６を設けることで、クランプ時のコイルばね２５の撓み量を確認することができ、コイルばね２５の撓み量とそのばね定数から間接的に被試験対象物Ｗへの押しつけ荷重（クランプ力）を測定することができる。 As shown in FIG. 2, the heating test apparatus 10 according to the present embodiment is between the low temperature side plates 17 A and 17 B adjacent to the second direction B, and one end is fixed to the moving table unit 13 with screws. The other end portion includes a gauge 26 extending in the first direction A. The gauge 26 is scaled along the longitudinal direction on both sides of the short side, and a needle part 23d indicating the position of the low temperature side plates 17A and 17B is provided on each scale (see FIGS. 6 and 7). The needle portion 23d is constituted by a notch surface formed on the surface 23c of the mounting plate 23. By providing such a gauge 26, the amount of deflection of the coil spring 25 at the time of clamping can be confirmed, and the pressing load (directly applied to the object W to be tested) from the amount of deflection of the coil spring 25 and its spring constant ( Clamping force) can be measured.

図１に示すように、本体部５０は、その正面に取手５２によって開閉可能に設けられた扉５３を備えている。扉５３を開くことにより、被試験対象物Ｗを出し入れすることができる。また、扉５３を閉めて加熱試験を行っている最中には、扉５３に設けられたのぞき窓５４から被試験対象物Ｗを観測することができる。扉５３の開閉は、扉５３を開閉可能に取り付けている二つの蝶番５５の間に設けられた開閉スイッチ５６で検知される。 As shown in FIG. 1, the main body 50 includes a door 53 provided on the front face thereof so as to be opened and closed by a handle 52. By opening the door 53, the test object W can be taken in and out. During the heating test with the door 53 closed, the test object W can be observed from the observation window 54 provided in the door 53. The opening / closing of the door 53 is detected by an opening / closing switch 56 provided between two hinges 55 that are attached to the door 53 so that the door 53 can be opened and closed.

また、本体部５０は、その両側面に高温側ユニット１１の高温側クランプ面１４ａの位置（周囲領域）にエアを吹き付け可能に設けられた強制冷却ファン５７を備えている。例えば、高温側ユニット１１および低温側ユニット１２で被試験対象物Ｗをクランプして加熱試験しているときに、強制冷却ファン５７を駆動させることで、特に高温側ユニット１１や被試験対象物Ｗを強制的に冷却することができる。 Moreover, the main-body part 50 is provided with the forced cooling fan 57 provided in the both sides | surfaces so that air could be sprayed to the position (surrounding area | region) of the high temperature side clamp surface 14a of the high temperature side unit 11. FIG. For example, when the object to be tested W is clamped and heated by the high temperature side unit 11 and the low temperature side unit 12, the forced cooling fan 57 is driven so that the high temperature side unit 11 and the object to be tested W are particularly driven. Can be forcibly cooled.

また、本体部５０は、その底面を支持する複数のアジャスト脚５１を備えている。また、本体部５０は、その上面（天板）に本体部５０を持ち運ぶために設けられた一対の取手６１を備えている。この本体部５０の上面には、複数の固定金具６０によって制御ユニット３０が固定して設けられている。この制御ユニット３０と本体部５０とは、それらの背面で接続ケーブル（図示しない）によって接続されている。 The main body 50 is provided with a plurality of adjustment legs 51 that support the bottom surface thereof. Further, the main body 50 includes a pair of handles 61 provided on the upper surface (top plate) for carrying the main body 50. On the upper surface of the main body 50, the control unit 30 is fixed by a plurality of fixing brackets 60. The control unit 30 and the main body 50 are connected to each other on the back by a connection cable (not shown).

制御ユニット３０は、電源スイッチ３１と、タッチパネル３２と、運転開始ボタン３３と、強制冷却ボタン３４と、風量調節部７０とを備えている。タッチパネル３２では、例えば、高温側設定温度、各部温度や運転状態表示、動作設定、および異常発生時の警報表示などが行える。 The control unit 30 includes a power switch 31, a touch panel 32, an operation start button 33, a forced cooling button 34, and an air volume adjustment unit 70. On the touch panel 32, for example, high temperature side set temperature, temperature of each part and operation state display, operation setting, and alarm display when an abnormality occurs can be performed.

制御ユニット３０は、例えば、高温側設定温度となるように、高温側ユニット１１について、複数の熱電対１６で高温側プレート１１の温度をモニターしながら、複数のヒータ１５の温度をＰＩＤ（Proportional Integral Derivative）制御することとなる。また、制御ユニット３０は、低温側ユニット１２の温度調節について、風量調節部７０によって、冷却ファン２１Ａ、２１Ｂの回転数を制御している。 For example, the control unit 30 monitors the temperature of the high temperature side plate 11 with the plurality of thermocouples 16 for the high temperature side unit 11 so that the temperature of the plurality of heaters 15 is set to PID (Proportional Integral Integral). Derivative) will be controlled. Further, the control unit 30 controls the rotation speed of the cooling fans 21 A and 21 B by the air volume adjusting unit 70 for adjusting the temperature of the low temperature side unit 12.

風量調節部７０は、低温側プレート１７Ａ用の冷却ファン２１Ａの回転数調節を行うＰＷＭ（Pulse Width Modulation）信号出力基板と一体となった回転数調節ダイヤル７１（図５参照）を備えている。冷却ファン２１Ａ（低温側プレート１７Ａ）用の回転数調節ダイヤル７１は、制御ユニット３０の右側面に設けられている（図１では陰になって現れていない。）。この回転数調節ダイヤル７１（ＰＷＭ信号出力基板）と冷却ファン２１Ａとは信号線を介して電気的に接続されている。 The air volume adjusting unit 70 includes a rotation speed adjustment dial 71 (see FIG. 5) integrated with a PWM (Pulse Width Modulation) signal output board for adjusting the rotation speed of the cooling fan 21A for the low temperature side plate 17A. The rotation speed adjustment dial 71 for the cooling fan 21A (low temperature side plate 17A) is provided on the right side surface of the control unit 30 (not shown shaded in FIG. 1). The rotation speed adjustment dial 71 (PWM signal output board) and the cooling fan 21A are electrically connected via a signal line.

同様に、風量調節部７０は、低温側プレート１７Ｂ用の冷却ファン２１Ｂの回転数調節を行うＰＷＭ信号出力基板と一体となった回転数調節ダイヤル７１を備えている。冷却ファン２１Ｂ（低温側プレート１７Ｂ）用の回転数調節ダイヤル７１は、制御ユニット３０の左側面に設けられている（図１参照）。この回転数調節ダイヤル７１（ＰＷＭ信号出力基板）と冷却ファン２１Ｂとは信号線を介して電気的に接続されている。 Similarly, the air volume adjustment unit 70 includes a rotation speed adjustment dial 71 integrated with a PWM signal output board for adjusting the rotation speed of the cooling fan 21B for the low temperature side plate 17B. The rotation speed adjustment dial 71 for the cooling fan 21B (low temperature side plate 17B) is provided on the left side surface of the control unit 30 (see FIG. 1). The rotation speed adjustment dial 71 (PWM signal output board) and the cooling fan 21B are electrically connected via a signal line.

風量調節部７０では、回転数調節ダイヤル７１を作業者が手動で回すことによって、冷却ファン２１Ａの回転数調節を行うことができる。例えば、回転数調節ダイヤル７１を時計回りに回すと、冷却ファン２１Ａの回転数が高くなり、風量が強まる。また、回転数調節ダイヤル７１を反時計回りに回すと、冷却ファン２１Ａの回転数が低くなり、風量が弱まる。風量調節部７０は、同様にして、冷却ファン２１Ｂの回転数調節を行うことができる。なお、本実施形態では、風量調節部７０として、制御ユニット３０の右側面に冷却ファン２１Ａ用の回転数調節ダイヤル７１を設け、制御ユニット３０の左側面に冷却ファン２１Ｂ用の回転数調節ダイヤル７１を設けているが、制御ユニット３０の正面に冷却ファン２１Ａ用の回転数調節ダイヤル７１、冷却ファン２１Ｂ用の回転数調節ダイヤル７１をまとめて設けてもよい。 In the air volume adjusting unit 70, the rotation number of the cooling fan 21A can be adjusted by the operator manually turning the rotation number adjustment dial 71. For example, when the rotation speed adjustment dial 71 is turned clockwise, the rotation speed of the cooling fan 21A is increased and the air volume is increased. Further, when the rotation speed adjustment dial 71 is turned counterclockwise, the rotation speed of the cooling fan 21A is lowered and the air volume is weakened. Similarly, the air volume adjusting unit 70 can adjust the rotation speed of the cooling fan 21B. In the present embodiment, as the air volume adjusting unit 70, the rotation speed adjustment dial 71 for the cooling fan 21A is provided on the right side surface of the control unit 30, and the rotation speed adjustment dial 71 for the cooling fan 21B is provided on the left side surface of the control unit 30. However, the rotation speed adjustment dial 71 for the cooling fan 21A and the rotation speed adjustment dial 71 for the cooling fan 21B may be collectively provided on the front of the control unit 30.

このように、冷却ファン２１Ａ、２１Ｂのそれぞれに対して、回転数調節ダイヤル７１、７１を設けることで、冷却ファン２１Ａ、２１Ｂの回転数をそれぞれ独立して制御することができる。これによれば、低温側プレート１７Ａ、１７Ｂにそれぞれ載置される被試験対象物Ｗの種類が異なる場合（例えば、熱電モジュールの熱伝導率が異なる場合）にも、低温側の温度をそれぞれ一定に調節することができる。また、本実施形態によれば、冷却ファン２１Ａ、２１Ｂの風量調節を手動ダイヤル式とすることで、低価格な加熱試験装置を提供することができる。 Thus, by providing the rotation speed adjustment dials 71 and 71 for the cooling fans 21A and 21B, the rotation speeds of the cooling fans 21A and 21B can be independently controlled. According to this, even when the types of test objects W placed on the low temperature side plates 17A and 17B are different (for example, when the thermal conductivity of the thermoelectric module is different), the temperature on the low temperature side is kept constant. Can be adjusted to. Moreover, according to this embodiment, a low-cost heating test apparatus can be provided by adjusting the air volume of the cooling fans 21A and 21B to a manual dial type.

なお、本実施形態では、低温側ユニット１２について、各低温側プレート１７を空冷しているだけであるが、水冷ヒートシンクやペルチェ素子などによって温度調節してもよい。 In the present embodiment, the low temperature side unit 12 is merely air-cooled for each low temperature side plate 12, but the temperature may be adjusted by a water-cooled heat sink or a Peltier element.

ここで、加熱試験装置１０を用いて、一つの被試験対象物Ｗを加熱試験する場合と、二つの種類の異なる（例えば、厚み、熱伝導率が異なる）被試験対象物Ｗａ、Ｗｂを加熱試験する場合について説明する。なお、被試験対象物Ｗの出し入れの際には、本体部５０の扉５３は開いた状態となり、加熱試験の際には、扉５３は閉じた状態となる。 Here, when the heating test apparatus 10 is used to heat test one object to be tested W, two types of objects to be tested Wa and Wb that are different (for example, different in thickness and thermal conductivity) are heated. The case of testing will be described. Note that the door 53 of the main body 50 is opened when the test object W is taken in and out, and the door 53 is closed during the heating test.

図６に示すように、二つの被試験対象物Ｗａ、Ｗｂを加熱試験する場合、まず、移動テーブル部１３の第２方向Ｂへの移動によって、低温側プレート１７Ａ、１７Ｂのクランプ面１９ａ、１９ｂ（図２参照）を高温側プレート１４の高温側クランプ面１４ａに対向させる。具体的には、高温側クランプ面１４ａと対向している低温側プレート１７Ａのクランプ面１９ａは、その中央が一つの熱電対１６Ａと対向し、一つの熱電対１６Ａを挟む二つのヒータ１５Ａ、１５Ｂと対向している。また、高温側クランプ面１４ａと対向している低温側プレート１７Ｂのクランプ面１９ｂは、その中央が一つの熱電対１６Ｃと対向し、また、これを挟む二つのヒータ１５Ｃ、１５Ｄと対向している。このような配置とすることで、被試験対象物Ｗａ、Ｗｂのそれぞれに対して正確な温度を均一に加えることができる。 As shown in FIG. 6, when performing a heating test on the two test objects Wa and Wb, first, the clamp surfaces 19a and 19b of the low temperature side plates 17A and 17B are moved by moving the moving table portion 13 in the second direction B. 2 (see FIG. 2) is opposed to the high temperature side clamp surface 14a of the high temperature side plate 14. Specifically, the clamp surface 19a of the low temperature side plate 17A facing the high temperature side clamp surface 14a is opposed to one thermocouple 16A at the center, and the two heaters 15A and 15B sandwiching one thermocouple 16A. Is facing. Moreover, the clamp surface 19b of the low temperature side plate 17B facing the high temperature side clamp surface 14a is opposed to the two heaters 15C and 15D sandwiching the center of the clamp surface 19b of the low temperature side plate 17B. . By setting it as such an arrangement | positioning, exact temperature can be uniformly applied with respect to each to-be-tested object Wa and Wb.

次いで、低温側プレート１７Ａ、１７Ｂのクランプ面１９ａ、１９ｂのそれぞれに被試験対象物Ｗａ、Ｗｂを載置する。このとき、高温側ユニット１１では、ヒータ１５Ａ、１５Ｂ、１５Ｃ、１５Ｄによって高温側プレート１４が例えば６００℃に調節され、低温側ユニット１２では、冷却ファン２１Ａ、２１Ｂによって低温側プレート１７が例えば１００℃以下に冷却されている。次いで、移動テーブル部１３の第１方向Ａへの移動によって、高温側プレート１４の高温側クランプ面１４ａと、低温側プレート１７Ａ、１７Ｂのクランプ面１９ａ、１９ｂで、二つの被試験対象物Ｗａ、Ｗｂをクランプして、加熱試験を行う。 Next, the test objects Wa and Wb are placed on the clamp surfaces 19a and 19b of the low temperature side plates 17A and 17B, respectively. At this time, in the high temperature side unit 11, the high temperature side plate 14 is adjusted to, for example, 600 ° C. by the heaters 15A, 15B, 15C, and 15D, and in the low temperature side unit 12, the low temperature side plate 17 is adjusted to, for example, 100 ° C. by the cooling fans 21A, 21B. It is cooled below. Next, by moving the moving table portion 13 in the first direction A, the high temperature side clamp surface 14a of the high temperature side plate 14 and the clamp surfaces 19a, 19b of the low temperature side plates 17A, 17B, two test objects Wa, Clamp Wb and perform heating test.

加熱試験中は、右側の熱電対１６Ａと左側の熱電対１６Ｃで高温側プレート１４の温度をモニターしながら、右側のヒータ１５Ａ、１５Ｂと左側のヒータ１５Ｃ、１５ＤをＰＩＤ制御する。 During the heating test, the right side heaters 15A and 15B and the left side heaters 15C and 15D are PID-controlled while monitoring the temperature of the high temperature side plate 14 with the right side thermocouple 16A and the left side thermocouple 16C.

このように、本実施形態における加熱試験装置１０は、低温側ユニット１２が熱電対２２、コイルばね２５、ゲージ２６の目盛りなどについて左右独立した構造であり、高温側ユニット１１もヒータ１５、熱電対１６について左右独立した温調制御（別系統のＰＩＤ制御）であることから、二つの種類の異なる被試験対象物Ｗａ、Ｗｂでも同時に試験して比較評価することができる。また、加熱試験装置１０は、同時に試験することができるので、処理効率を向上させることができる。なお、加熱試験装置１０は、二つの種類の異なる被試験対象物Ｗａ、Ｗｂではなくとも、同じ種類の二つの被試験対象物Ｗ、Ｗにも適用することができる。 As described above, in the heating test apparatus 10 according to the present embodiment, the low temperature side unit 12 has a left and right independent structure with respect to the scales of the thermocouple 22, the coil spring 25, the gauge 26, and the high temperature side unit 11 also includes the heater 15 and the thermocouple. Since the temperature control is independent on the left and right sides for 16 (different system PID control), two types of different test objects Wa and Wb can be simultaneously tested and compared for evaluation. Moreover, since the heat test apparatus 10 can test simultaneously, processing efficiency can be improved. The heating test apparatus 10 can be applied not only to two types of different test objects Wa and Wb but also to two same types of test objects W and W.

また、図７に示すように、一つの被試験対象物Ｗを加熱試験する場合、まず、移動テーブル部１３の第２方向Ｂへの移動によって、低温側プレート１７Ａのクランプ面１９ａ（図２参照）を高温側プレート１４の高温側クランプ面１４ａに対向させる。具体的には、高温側クランプ面１４ａと対向している低温側プレート１７Ａのクランプ面１９ａは、その中央が一つの熱電対１６Ｂと対向し、また、これを挟む二つのヒータ１５Ｂ、１５Ｃと対向している。このような配置とすることで、被試験対象物Ｗに対して正確な温度を均一に加えることができる。なお、図７では、説明を明解にするために、低温側プレート１７Ｂを省略した場合を示している。 Further, as shown in FIG. 7, when a single test object W is subjected to a heat test, first, the clamp surface 19a of the low temperature side plate 17A (see FIG. 2) is obtained by moving the moving table portion 13 in the second direction B. ) Is opposed to the high temperature side clamp surface 14a of the high temperature side plate 14. Specifically, the clamp surface 19a of the low-temperature side plate 17A facing the high-temperature side clamp surface 14a is opposed to the two heaters 15B and 15C with the center facing one thermocouple 16B. doing. By setting it as such arrangement | positioning, exact temperature can be uniformly applied with respect to the to-be-tested object W. FIG. FIG. 7 shows the case where the low temperature side plate 17B is omitted for the sake of clarity.

次いで、低温側プレート１７Ａのクランプ面１９ａに被試験対象物Ｗを載置する。このとき、高温側ユニット１１では、ヒータ１５の全てによって高温側プレート１４が例えば６００℃に調節され、低温側ユニット１２では、冷却ファン２１によって低温側プレート１７が例えば１００℃以下に冷却されている。次いで、移動テーブル部１３の第１方向Ａへの移動によって、高温側プレート１４の高温側クランプ面１４ａと、低温側プレート１７Ａのクランプ面１９ａで、一つの被試験対象物Ｗをクランプして、加熱試験を行う。 Next, the test object W is placed on the clamp surface 19a of the low temperature side plate 17A. At this time, in the high temperature side unit 11, the high temperature side plate 14 is adjusted to, for example, 600 ° C. by all the heaters 15, and in the low temperature side unit 12, the low temperature side plate 17 is cooled to, for example, 100 ° C. or less by the cooling fan 21. . Next, by moving the moving table portion 13 in the first direction A, the high temperature side clamp surface 14a of the high temperature side plate 14 and the clamp surface 19a of the low temperature side plate 17A are clamped to one test object W, Perform a heating test.

加熱試験中は、中央一つの熱電対１６Ｂで高温側プレート１４の温度をモニターしながら、複数のヒータ１５Ａ、１５Ｂ、１５Ｃ、１５ＤをＰＩＤ制御する。このようにして、加熱試験装置１０は、熱伝導の大きい被試験対象物Ｗについて、できるだけ高温で加熱試験することができる。 During the heating test, the plurality of heaters 15A, 15B, 15C, and 15D are PID-controlled while monitoring the temperature of the high-temperature side plate 14 with one thermocouple 16B at the center. In this way, the heating test apparatus 10 can perform a heating test at as high a temperature as possible on the test object W having a large thermal conductivity.

このような加熱試験装置１０では、移動テーブル部１３の移動によって、低温側プレート１７Ａ、１７Ｂのクランプ面１９ａ、１９ｂの少なくともいずれか一方が高温側プレート１４の高温側クランプ面１４ａに対向する。したがって、一つの低温側プレート１７Ａに一つの被試験対象物Ｗを載置して、加熱試験を行うこともできるし、二つの低温側プレート１７Ａ、１７Ｂのそれぞれに被試験対象物Ｗを載置して、同時に加熱試験を行うこともできる。 In such a heating test apparatus 10, at least one of the clamp surfaces 19 a and 19 b of the low temperature side plates 17 A and 17 B is opposed to the high temperature side clamp surface 14 a of the high temperature side plate 14 by the movement of the moving table unit 13. Therefore, it is possible to perform a heating test by placing one object to be tested W on one low temperature side plate 17A, or place the object to be tested W on each of the two low temperature side plates 17A and 17B. At the same time, a heating test can be performed.

また、一つまたは複数の被試験対象物Ｗに対する加熱試験装置１０の取り扱い（加熱試験）は、被試験対象物Ｗの数に合わせて低温側ユニット１２を支持する移動テーブル部１３を第２方向Ｂに移動することで容易に行うことができる。また、コイルばね２５を含んで構成される移動テーブル部１３を、高温側ユニット１１ではなく低温側ユニット１２に設けることで、熱の影響を受けにくくしている。 In addition, the handling (heating test) of the heating test apparatus 10 with respect to one or a plurality of objects to be tested W is performed in the second direction by moving the moving table unit 13 that supports the low temperature side unit 12 in accordance with the number of objects to be tested W. It can be easily performed by moving to B. Further, by providing the moving table portion 13 including the coil spring 25 not in the high temperature side unit 11 but in the low temperature side unit 12, it is made difficult to be affected by heat.

以上、本発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。 Although the present invention has been specifically described above based on the embodiments, it is needless to say that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

他の実施形態として、支柱のみで低温側プレートを固定して支持することも考えられる。この点、前記実施形態のように、コイルばねで低温側プレートを支持することで、高温側プレートおよび低温側プレートへの被試験対象物の片当たりを防止することができる。 As another embodiment, it is conceivable to fix and support the low-temperature side plate only with the support. In this regard, as in the above-described embodiment, by supporting the low temperature side plate with the coil spring, it is possible to prevent the test object from hitting the high temperature side plate and the low temperature side plate.

他の実施形態として、各低温側プレートにロードセルを用いて被試験対象物への押しつけ荷重（クランプ力）を測定することも考えられる。この点、前記実施形態のように、短手両側に長手方向に沿って目盛りが振られたゲージを用いることで、二つの低温側プレートに共用させることができ、また、高価なロードセルを用いないことで低価格を実現することができる。 As another embodiment, it is also conceivable to measure the pressing load (clamping force) on the object to be tested using a load cell for each low temperature side plate. In this regard, as in the above-described embodiment, by using a gauge having scales along the longitudinal direction on both sides of the short side, it can be shared by two low temperature side plates, and an expensive load cell is not used. This makes it possible to realize a low price.

前記実施形態では、制御ユニットを本体部の上面で固定した場合について説明した。これに限らず、本体部から離して制御ユニットを設けてもよい。これによれば、高温となる本体部から離れた位置で制御させることができ、高温側クランプ面と低温側クランプ面の位置関係（クランプ方向）を上下ではなく、斜めや左右に配置するといったような実証試験形態の自由度を高めることができる。 In the embodiment, the case where the control unit is fixed on the upper surface of the main body has been described. Not limited to this, the control unit may be provided apart from the main body. According to this, it is possible to control at a position away from the main body portion that becomes high temperature, and the positional relationship (clamping direction) between the high temperature side clamp surface and the low temperature side clamp surface is arranged not diagonally, but diagonally or right and left. Can increase the degree of freedom of various demonstration test forms.

他の実施形態として、ジャッキ構造部に油圧式や空気式のジャッキを用いることもできる。この点、前記実施形態のように、ねじ式のジャッキを用いることで、低価格を実現することができ、また、ゲージを確認しながらの微調整が容易となる。 As another embodiment, a hydraulic or pneumatic jack can be used for the jack structure. In this respect, by using a screw-type jack as in the above-described embodiment, low cost can be realized, and fine adjustment while checking the gauge becomes easy.

前記実施形態では、低温側ユニットが二つの低温側プレートおよびこれに付属する部品（冷却ファンなど）を備える場合について説明した。これに限らず、低温側ユニットが三つ以上の低温側プレートおよび付属部品を備える場合であってもよい。このような場合、隣接する低温側プレート間のそれぞれにゲージを設けることで、各被試験対象物への押しつけ荷重（クランプ力）を測定することができる。 In the above-described embodiment, the case where the low temperature side unit includes two low temperature side plates and components (such as a cooling fan) attached thereto is described. However, the present invention is not limited to this, and the low temperature side unit may include three or more low temperature side plates and accessory parts. In such a case, the pressing load (clamping force) to each object to be tested can be measured by providing a gauge between the adjacent low temperature side plates.

他の実施形態として、高温側クランプ面に沿って一つの熱電対とこれに隣接する一つのヒータを設けることもできる。この点、前記実施形態のように、高温側クランプ面に沿って一つの熱電対とこれを挟む二つのヒータを設けることで、被試験対象物に対して正確な温度を均一に加えることができる。 As another embodiment, one thermocouple and one heater adjacent to the thermocouple may be provided along the high temperature side clamp surface. In this regard, as in the above-described embodiment, by providing one thermocouple and two heaters sandwiching the thermocouple along the high temperature side clamp surface, an accurate temperature can be uniformly applied to the test object. .

他の実施形態として、低温側ユニットの冷却ファンの風量調節を自動制御式とすることもできる。この点、前記実施形態のように、低温側ユニットの冷却ファンの風量調節を手動ダイヤル式とすることで、低価格な加熱試験装置を提供することができる。 As another embodiment, the air volume adjustment of the cooling fan of the low temperature side unit can be automatically controlled. In this regard, as in the above-described embodiment, by adjusting the air volume of the cooling fan of the low-temperature side unit to a manual dial type, a low-cost heating test apparatus can be provided.

他の実施形態として、断熱シートと断熱ワッシャーとを用いなくとも、ヒートシンク（低温側プレート）を冷却ファンによって冷却することができる。この点、前記実施形態のように、断熱シートと断熱ワッシャーとを用いることで、ヒートシンクと冷却ファンとの間を断熱することができ、冷却ファンを保護することができる。なお、断熱シートのみを用い、または、断熱ワッシャーのみを用いたとしても、ヒートシンクと冷却ファンとの間を断熱することができるが、断熱シートと断熱ワッシャーとを合わせて用いることで、断熱効果をより高めることができる。 As another embodiment, a heat sink (low temperature side plate) can be cooled by a cooling fan without using a heat insulating sheet and a heat insulating washer. In this regard, as in the above-described embodiment, by using the heat insulating sheet and the heat insulating washer, the heat sink and the cooling fan can be insulated and the cooling fan can be protected. Even if only the heat insulating sheet is used or only the heat insulating washer is used, the heat sink and the cooling fan can be insulated, but the heat insulating effect can be obtained by using the heat insulating sheet and the heat insulating washer together. Can be increased.

１０加熱試験装置
１１高温側ユニット
１２低温側ユニット
１３移動テーブル部
１３Ａハンドル
１３Ｂ載置板
１３Ｃつまみねじ
１４高温側プレート
１４ａ高温側クランプ面
１５、１５Ａ、１５Ｂ、１５Ｃ、１５Ｄヒータ
１６、１６Ａ、１６Ｂ、１６Ｃ熱電対
１７、１７Ａ、１７Ｂ低温側プレート
１８、１８Ａ、１８Ｂヒートシンク
１９、１９ａ、１９ｂ低温側クランプ面
１８、１８Ａ、１８Ｂヒートシンク（冷却フィン）
２１、２１Ａ、２１Ａ冷却ファン
２２、２２Ａ、２２Ｂ熱電対
２３取り付け板
２３ａ、２３ｂ、２３ｃ面
２３ｄ開口部
２３ｄ針部
２４支柱
２５コイルばね
２６ゲージ
２７載置板
２７ａ載置面
２７ｂ開口部
３０制御ユニット
３１電源スイッチ
３２タッチパネル
３３運転開始ボタン
３４強制冷却ボタン
５０本体部
５１アジャスト脚
５２取手
５３扉
５４のぞき窓
５５蝶番
５６開閉スイッチ
５７強制冷却ファン
６０固定金具
６１取手
７０風量調節部
７１回転数調節ダイヤル
７２押さえ金具
７３、７４ボルト
９０、９０Ａ、９０Ｂ断熱シート（断熱部材）
９１、９１Ａ、９１Ｂ断熱ワッシャー（断熱部材）
９２、９２Ａ、９２Ｂファンガード
９３長ねじ
Ｗ、Ｗａ、Ｗｂ被試験対象物 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Heating test apparatus 11 High temperature side unit 12 Low temperature side unit 13 Moving table part 13A Handle 13B Mounting plate 13C Thumb screw 14 High temperature side plate 14a High temperature side clamp surface 15, 15A, 15B, 15C, 15D Heater 16, 16A, 16B, 16C Thermocouple 17, 17A, 17B Low temperature side plate 18, 18A, 18B Heat sink 19, 19a, 19b Low temperature side clamp surface 18, 18A, 18B Heat sink (cooling fin)
21, 21A, 21A Cooling fan 22, 22A, 22B Thermocouple 23 Mounting plate 23a, 23b, 23c Surface 23d Opening 23d Needle 24 Strut 25 Coil spring 26 Gauge 27 Mounting plate 27a Mounting surface 27b Opening 30 Control unit 31 Power Switch 32 Touch Panel 33 Operation Start Button 34 Forced Cooling Button 50 Main Body 51 Adjusting Leg 52 Handle 53 Door 54 Peep Window 55 Hinge 56 Open / Close Switch 57 Forced Cooling Fan 60 Fixing Bracket 61 Handle 70 Air Volume Adjusting Unit 71 Speed Adjustment Dial 72 Presser fitting 73, 74 Bolt 90, 90A, 90B Heat insulation sheet (heat insulation member)
91, 91A, 91B Heat insulation washer (heat insulation member)
92, 92A, 92B Fan guard 93 Long screw W, Wa, Wb DUT

Claims

A heating test apparatus for performing a heating test by giving a temperature difference to an object to be tested,
A high-temperature side and a low-temperature side unit that clamps an object to be tested and gives a temperature difference; and
A moving table unit that supports the low temperature side unit and moves the low temperature side unit in a first direction that clamps an object to be tested and a second direction that is orthogonal thereto;
With
The high temperature side unit includes a high temperature side plate having a high temperature side clamp surface in contact with an object to be tested.
The low temperature side unit includes first and second low temperature side plates having a low temperature side clamping surface in contact with an object to be tested, and the first low temperature side plate and the second low temperature side plate are in the second direction. Provided adjacent,
At least one of the low-temperature side clamp surfaces of the first or second low-temperature side plate is opposed to the high-temperature side clamp surface of the high-temperature side plate by the movement of the moving table portion in the second direction. Heating test equipment.

The heating test apparatus according to claim 1, wherein
The low temperature side unit is provided on a back surface of the first low temperature side plate opposite to the low temperature side clamp surface of the first low temperature side plate and on a back surface of the second low temperature side plate opposite to the low temperature side clamp surface. A second heat sink, a first fan that is provided to face the first heat sink and blows air to the first heat sink, and a second fan that is provided to face the second heat sink and blows air to the second heat sink. And comprising
The heating test apparatus, wherein the rotation speeds of the first and second fans are independently controlled.

The heating test apparatus according to claim 2, wherein
The low temperature side unit includes a sponge-like first heat insulating member provided at a rotation center portion of the first fan via the first heat sink and an air gap, and the second heat sink and the second heat via an air gap. And a sponge-like second heat insulating member provided at the rotation center of the fan.

The heating test apparatus according to claim 2 or 3,
The low temperature side unit is provided on the outer peripheral portion of the second fan in direct contact with the second heat sink and the third heat insulating member provided on the outer peripheral portion of the first fan in direct contact with the first heat sink. And a fourth heat insulating member.

In the heating test apparatus according to any one of claims 1 to 4,
The moving table unit includes a mounting plate and a plurality of coil springs provided to stand on the mounting plate.
The plurality of coil springs support the first low temperature side plate around the first low temperature side plate and support the second low temperature side plate around the second low temperature side plate. Heating test equipment.

The heating test apparatus according to claim 5, wherein
The moving table portion is between the first and second low temperature side plates adjacent to each other in the second direction, and has one end fixed to the mounting plate and the other end extending in the first direction. Equipped with a gauge to
The gauge is scaled along the lengthwise direction on both sides of the short side, and a heating test characterized in that a needle portion indicating the position of the first and second low temperature side plates is provided on each scale. apparatus.

In the heating test apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The high temperature side unit includes a plurality of heaters and a plurality of thermocouples, and the heaters and the thermocouples are alternately provided on the high temperature side plate along the high temperature side clamp surface,
The heating test apparatus, wherein the low-temperature side clamp surface facing the high-temperature side clamp surface faces one of the thermocouples and faces the two heaters sandwiching the one thermocouple. .

The heating test apparatus according to claim 7, wherein
A control unit for controlling the temperature of the plurality of heaters while monitoring the temperature of the high temperature side plate with the plurality of thermocouples,
The heating test apparatus according to claim 1, wherein the control unit is provided apart from a main body portion including the high temperature side and low temperature side units.

In the heating test apparatus according to any one of claims 1 to 8,
The moving table unit is a heating test apparatus characterized in that a structure for moving the low temperature side unit in the first direction is constituted by a jack.