JP6191486B2 - 質量分析装置及び質量分析方法 - Google Patents
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Description
2 質量分析部
3 制御部
4 記憶部
21 イオン化室
22 イオントラップ
23 TOFMS
31 測定処理部
32 イオン検出処理部
33 重畳判定処理部
34 判定処理部
35 同定処理部
41 スペクトル記憶領域
42 データベース領域
231 飛行空間
232 イオン検出器
Claims (2)
- 液体クロマトグラフにより分離された試料成分をイオン化し、得られたイオンを開裂させて質量分析を行うことによりMSn分析(nは3以上の整数)を行うための質量分析装置であって、
イオン化された試料成分の質量分析を行うことにより、質量電荷比及び強度の関係を表すMSスペクトルを測定するMS測定処理部と、
前記MSスペクトルをリテンションタイムに対応付けることにより得られるリテンションタイム、質量電荷比及び強度の三次元情報に基づいて、各リテンションタイム及び各質量電荷比の両方で強度分布がピーク波形となるピークに対応する全てのイオンをMS/MSプリカーサイオンとするイオン検出処理部と、
それぞれMS/MSプリカーサイオンとされた複数のイオンの同位体分布が、各リテンションタイムにおいて重畳しているか否かを判定する重畳判定処理部と、
前記重畳判定処理部による判定結果に基づいて、MS/MSプリカーサイオンとされた各イオンに対してMS3分析を行うか否かを判定する実行判定処理部とを備えたことを特徴とする質量分析装置。 - 液体クロマトグラフにより分離された試料成分をイオン化し、得られたイオンを開裂させて質量分析を行うことによりMSn分析(nは3以上の整数)を行うための質量分析方法であって、
イオン化された試料成分の質量分析を行うことにより、質量電荷比及び強度の関係を表すMSスペクトルを測定するMS測定ステップと、
前記MSスペクトルをリテンションタイムに対応付けることにより得られるリテンションタイム、質量電荷比及び強度の三次元情報に基づいて、各リテンションタイム及び各質量電荷比の両方で強度分布がピーク波形となるピークに対応する全てのイオンをMS/MSプリカーサイオンとするイオン検出ステップと、
それぞれMS/MSプリカーサイオンとされた複数のイオンの同位体分布が、各リテンションタイムにおいて重畳しているか否かを判定する重畳判定ステップと、
前記重畳判定ステップによる判定結果に基づいて、MS/MSプリカーサイオンとされた各イオンに対してMS3分析を行うか否かを判定する実行判定ステップとを備えたことを特徴とする質量分析方法。
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