JP6174849B2 - 放射線撮像装置及び放射線撮像システム - Google Patents

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Description

本発明は、放射線撮像装置、その製造方法、及び放射線撮像システムに関する。
放射線撮像は、放射線を光に変換するシンチレータ層と、光電変換を行う複数のセンサを有するセンサアレイとを有する装置によって為されうる。特許文献1には、柱状結晶のシンチレータ層において当該結晶の柱直径が不均一であることによる発光効率の不均一な分布を相殺するように賦活剤を添加する技術が開示されている。特許文献1によると、発光効率の分布が一様なシンチレータ層を形成することが可能である。
特開2003−262673号公報
図1を参照しながら、参考例の放射線撮像装置Dについて述べる。放射線撮像装置Dは、図1(a)に例示されるように、光電変換を行う複数のセンサ21が基板10の上にアレイ状に配されたセンサアレイ20と、その上に配されたシンチレータ層30とを備えうる。図1(a)では、シンチレータ層30における各センサ21の直上の領域で生じた光を模式的に矢印で表している。図1(b)は、放射線撮像装置Dに一様な放射線を照射したときの各センサ21の受光光量の分布を示している。横軸xは、センサアレイ20の端部を原点とし、センサアレイ20の中心方向に向かって軸を採っている。縦軸yは、横軸xに対応するセンサ21の受光光量を示している。シンチレータ層30における各センサ21の直上の領域で生じた光の量は一様であるが、端部の各センサ21については入射する光の量が少ない。即ち、シンチレータ層30の発光効率が一様であるのに対し、各センサ21の受光光量は不均一であり、放射線撮像装置Dの放射線に対する感度は不均一であることが見出された。
本発明は、発明者による上記課題の認識を契機として為されたものであり、放射線画像の高品質化に有利な技術を提供することを目的とする。
本発明の一つの側面は放射線撮像装置にかかり、前記放射線撮像装置は、光電変換を行う複数のセンサがアレイ状に配されたセンサアレイ及び前記センサアレイの上に配されたシンチレータ層を含むセンサパネルと、前記センサパネルが出力した前記センサアレイからの信号に基づいて信号処理を行うユニットと、を備え、前記センサアレイは、周辺領域と、その内側に配された中央領域とを有し、前記シンチレータ層は、前記センサパネルの上に成長したシンチレータ層又は直接塗布されたシンチレータ層であり、前記センサアレイに対して一様な発光効率を有するように、前記周辺領域及び前記中央領域にわって配置されており、前記センサパネルは、前記シンチレータ層に放射線が一様に入射した場合に、前記周辺領域に配されたセンサの各々での受光光量が前記中央領域に配されたセンサの各々での受光光量に対して少なくなるように構成されており、前記センサパネルは、前記周辺領域に配されたセンサの各々の信号および前記中央領域に配されたセンサの各々の信号の双方を前記ユニットに入力し、前記ユニットは、前記センサパネルから信号が入力された場合には常に、前記入力された信号のうち、前記中央領域に配されたセンサの各々からの信号のみを用いて前記信号処理を行い、前記周辺領域に配されたセンサの各々からの信号を使用しない、ことを特徴とする。

本発明によれば、高品質な放射線画像を取得することができる。
比較例の放射線撮像装置を説明する図。 第1実施形態の放射線撮像装置の構成例を説明する図。 第1実施形態の放射線撮像装置の製造方法の一部を説明する図。 第1実施形態の放射線撮像装置の製造方法の一部を説明する図。 第2実施形態の放射線撮像装置の構成例を説明する図。 第2実施形態の放射線撮像装置の製造方法の一部を説明する図。 第2実施形態の放射線撮像装置の製造方法の一部を説明する図。 他の実施形態の構成例を説明する図。 放射線撮像システムの構成例を説明する図。
(第1実施形態)
図2乃至4を参照しながら、第1実施形態の放射線撮像装置Iを説明する。図2(a)は、放射線撮像装置Iの上面図を模式的に示し、図2(b)は、カットラインX−X’における断面構造を模式的に示している。放射線撮像装置Iは、センサアレイ20及びシンチレータ層30を含むセンサパネル40と、センサパネル40が出力したセンサアレイ20の信号に基づいて信号処理を行うユニットUとを備える。センサアレイ20は、光電変換を行う複数のセンサ21が基板10の上にアレイ状に配されて構成されうる。シンチレータ層30は、放射線を光に変換する機能を有し、センサアレイ20の上に配されうる。センサアレイ20は周辺領域R及び中央領域Rを有し、中央領域Rは周辺領域Rの内側の領域である。センサパネル40は、センサアレイ20を駆動し、各センサ21の信号を読み出すためのIOインターフェース50を有する。シンチレータ層30は、センサアレイ20の上に一様に形成されうる。ここで、シンチレータ層30がセンサアレイ20の上に一様に形成される、とは、センサアレイ20に対して一様な発光効率を有して形成されることを意図する。そのため、シンチレータ層30の発光効率が一様であるとは、放射線に対するシンチレータ層30の発光量のバラつきが±20%以内であるものとする。シンチレータ層30の上には、アルミニウム等の金属で構成されたシールド層60がシンチレータ層30を覆うように配されうる。
ユニットUは、センサパネル40が出力した信号のうち、中央領域Rの各センサ21からの信号のみを用いて信号処理を行い、放射線画像を生成しうる。この信号処理は、例えば、ユニットUによって、センサアレイ20からの信号の中から、中央領域Rの各センサ21からの信号を選択又は抽出する方式で為されてもよいし、周辺領域Rの各センサ21からの信号を廃棄する方式で為されてもよい。このように、特性が一様な中央領域Rの各センサ21の信号のみを用いることにより、放射線撮像装置Iにより取得される放射線画像の品質が向上しうる。
本実施形態では、周辺領域Rには4列分(又は4行分)のセンサ21が示されているが、周辺領域Rと中央領域Rとの境界は、仕様に応じて適宜変更されてもよいし、固定的に定められてもよい。周辺領域Rの各センサ21からの信号は、ユニットUの信号処理において使用されないため、周辺領域Rの各センサ21はいわゆるダミー用のセンサとして存在しうる。ユニットUは、センサパネル40が周辺領域Rの各センサ21の信号を出力しないように、センサパネル40を制御してもよく、当該制御は、例えば、ユニットUに属するコントローラ(不図示)によって為されうる。
また、シンチレータ層30は、センサアレイ20に対して一様な発光効率を有するように、周辺領域R及び中央領域Rを覆って形成されうる。また、また、シンチレータ層30は、センサアレイ20の上に、周辺領域R及び中央領域Rにわたって厚さが一様に形成されうる。ここで、シンチレータ層30の厚さが一様とは、シンチレータ層30の厚さのばらつきが±10%以内であるものである。このことは、各センサ21の特性を効果的に均一化し、センサアレイ20の端部のセンサ21の特性と、中央領域Rのセンサ21の特性との差分を小さくしうる。即ち、周辺領域Rの幅を小さくし、放射線画像の生成に有効な中央領域Rを大きくすることができる。
図3(a)及び3(b)は、シンチレータ層30の製造方法を説明する図である。例えば、シンチレータ層30の蒸着法による形成を行う前に、図3(a)に例示されるように、センサパネル40の外縁に沿って剥離テープ70を配置しておく。次に、剥離テープ70を含むセンサパネル40の上の全体にわたって、シンチレータ層30が蒸着法により形成される。シンチレータ層30は、周辺領域R及び中央領域Rにわたって、その厚さが一様になるように形成される。この工程は、代表的には、主剤CsIに賦活剤TlIをドープしたものを用いて為されうる。その後、図3(b)に例示されるように、周辺領域Rよりも外側(端部)のシンチレータ層30の厚さが不均一な部分30aを除去する。具体的には、部分30aは剥離テープ70を剥離することによって除去されうる。これにより、シンチレータ層30がセンサアレイ20の上に直接蒸着によって形成されうる。
また、シンチレータ層30は直接塗布法によっても形成されうる。図4は、シンチレータ層30を直接塗布法によって形成する場合の製造方法を説明する図である。例えば、数μm乃至数十μm程度の径の粒状GOSをバインダー及び溶剤で液状にしたものをスリットコート法や印刷法によってシンチレータ層30を形成した後、加熱して溶剤を揮発させる。ここで、シンチレータ層30の端部と中央部とは揮発速度が異なるため、図4(a)に例示するように、当該端部において厚さが不均一な部分30bが生じうる。そこで、図4(b)に例示するように、剥離テープ70を用いた上述と同様の方法によって、この部分30bを除去すればよい。これにより、シンチレータ層30がセンサアレイ20の上に直接塗布によって形成されうる。シンチレータ層30をセンサアレイ20の上に直接形成する場合には、シンチレータ層30の発光効率を一様に形成することは容易ではないが、上記方法により、好適にシンチレータ層30を配置することができる。
また、シールド層60は、センサアレイ20上の各センサ21との距離が一様になるように配されている。よって、センサアレイ20の端部のセンサ21に生じる寄生容量と、中央領域Rの各センサ21に生じる寄生容量との差分が低減されうる。即ち、センサアレイ20の端部のセンサ21と、中央領域Rの各センサ21との電気特性(応答速度等)の差が低減されるため、周辺領域Rの幅を小さくし、放射線画像の生成に有効な中央領域Rを大きくすることができる。また、周辺領域Rの各センサ21と、中央領域Rの各センサ21とは同一の構造を有するとよい。例えば、各センサ21には、該センサ21に制御信号を供給するための制御線や、その信号を伝搬するための信号線が対応して配されうるが、これらの各配線パターンは、各センサ21において同様のレイアウトで配置され、即ち、並進対象性を有するとよい。これにより、上述と同様にして、周辺領域Rの幅を小さくし、放射線画像の生成に有効な中央領域Rを大きくすることができる。
以上、本実施形態によると、特性が一様な中央領域Rの各センサ21の信号のみを用いることにより、放射線撮像装置Iにより取得される放射線画像の品質が向上しうる。また、センサアレイ20の端部においても中央領域Rと同様の構造を形成することにより、周辺領域Rの幅を小さくし、放射線画像の生成に有効な中央領域Rを大きくすることができ、放射線撮像装置Iにより取得される放射線画像の品質が向上しうる。また、このことは、センサアレイ20とシンチレータ層30との接着性を均一化し、センサパネル40に生じた応力によってシンチレータ層30が局所的に剥離することも防止されうるため、放射線撮像装置Iの信頼性が向上しうる。
(第2実施形態)
図5乃至7を参照しながら、第2実施形態の放射線撮像装置Iを説明する。図5(a)に例示される放射線撮像装置Iは、例えば、マンモグラフィとして用いられうる。図5(a)に記された符号のうち、第1実施形態で用いたものと同じものについては説明を省略する。放射線撮像装置Iは、例えば、圧迫板80によって圧迫した被験者の乳房90に放射線を照射して、放射線画像を生成しうる。図5(b)は、図5(a)に示された領域Kの拡大図である。本実施形態においても、センサアレイ20の端部のセンサ21の特性と、中央領域Rの各センサ21の特性とは異なるため、第1実施形態と同様にして、中央領域Rの各センサ21からの信号のみを用いて信号処理を為しうる。シールド層60は、第1実施形態の形状とは異なり、シンチレータ層30からの光の漏れを防止し、電磁波を遮断するため、基板10の側面まで配されている。しかし、周辺領域Rと中央領域Rとの境界をどのように設定するかは、第1実施形態と同様にして、ユニットUによって、仕様に応じて適宜変更されてもよいし、固定的に定められてもよい。
センサパネル40は、図6に例示されるように、基板10に予めセンサアレイ20が配されない予備領域Rを設けておいて、シンチレータ層30を形成した後に、破線P−P’の位置で切断することによって得られうる。他の方法として、センサパネル40は、大型のセンサパネルを形成して、分割することによっても得られる。具体的には、図7に例示されるように、予め大きいサイズの基板10を用意し、その上に複数のセンサアレイ20を形成する。次に、その上に、シンチレータ層30を形成し、その後、破線Q−Q’の位置で切断してセンサアレイ20ごとに分割する。後者の方法によると、効率的にセンサパネル40を取得することが可能である。以上、本実施形態によっても、第1実施形態と同様にして、放射線撮像装置Iにより取得される放射線画像の品質が向上し、又、放射線撮像装置Iの信頼性が向上しうる。
以上、2つの実施形態を述べたが、本発明はこれらに限られるものではなく、目的、状態、用途及び機能その他の仕様に応じて、適宜、変更が可能であり、他の実施形態によっても為されうる。例えば、第1実施形態では、4列分(又は4行分)のセンサ21の領域を周辺領域Rに充てたが、図8に例示されるように、4列分(又は4行分)のサイズのセンサ21’を配置してもよい。これによって、周辺領域Rを固定的に設定してもよく、この形態によっても同様の効果が得られる。
上述の放射線撮像装置I及びIは、図9に例示されるように、放射線撮像システム100に適用されうる。放射線撮像システム100は、例えば、放射線撮像装置Iと、イメージプロセッサ等を含む信号処理部110と、ディスプレイ等を含む表示部120と、放射線を発生させるための放射線源130とを備える。放射線源130から発せられた放射線(X線、α線、β線、γ線等の電磁波を含む。)は被験者140を透過し、被験者140の体内の情報を含む放射線が、放射線撮像装置Iにより検出される。放射線撮像装置Iは、検出した放射線の情報から、放射線画像を生成し、例えば、情報処理部(不図示)によって所定の情報処理が為され、画像データが生成される。この画像データは、表示部に表示される。また、各実施形態で述べたユニットUは、信号処理部110に配されてもよいし、前記の情報処理部に配置されてもよい。

Claims (4)

  1. 光電変換を行う複数のセンサがアレイ状に配されたセンサアレイ及び前記センサアレイの上に配されたシンチレータ層を含むセンサパネルと、
    前記センサパネルが出力した前記センサアレイからの信号に基づいて信号処理を行うユニットと、を備え、
    前記センサアレイは、周辺領域と、その内側に配された中央領域とを有し、
    前記シンチレータ層は、前記センサパネルの上に成長したシンチレータ層又は直接塗布されたシンチレータ層であり、前記センサアレイに対して一様な発光効率を有するように、前記周辺領域及び前記中央領域にわって配置されており、
    前記センサパネルは、前記シンチレータ層に放射線が一様に入射した場合に、前記周辺領域に配されたセンサの各々での受光光量が前記中央領域に配されたセンサの各々での受光光量に対して少なくなるように構成されており、
    前記センサパネルは、前記周辺領域に配されたセンサの各々の信号および前記中央領域に配されたセンサの各々の信号の双方を前記ユニットに入力し、
    前記ユニットは、前記センサパネルから信号が入力された場合には常に、前記入力された信号のうち、前記中央領域に配されたセンサの各々からの信号のみを用いて前記信号処理を行い、前記周辺領域に配されたセンサの各々からの信号を使用しない、
    ことを特徴とする放射線撮像装置。
  2. 前記シンチレータ層は、前記センサアレイの上に、前記周辺領域及び前記中央領域にわたって厚さが一様になるように配されている、
    ことを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
  3. 前記周辺領域に配されたセンサの各々と、前記中央領域に配されたセンサの各々とは同一の構造を有する、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線撮像装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の放射線撮像装置と、
    放射線を発生させるための放射線源と、
    を具備することを特徴とする放射線撮像システム。
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