JP6152034B2 - ラベリング方法、ラベリング装置および欠陥検査装置 - Google Patents
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Description
また、個別更新処理において、第1連結ランのラベルを更新したとき、第1連結ランに接続する処理対象ラン以外の第2連結ランが存在するか否かを判定し、第2連結ランが存在するときには、第1連結ランおよび第2連結ランのうちの一方のラベルを他方のラベルに更新するように構成してもよい。このように第1連結ランのみならず、当該第1連結ランを介して処理対象ランに接続する第2連結ランについても、ラベル更新しておくことで、処理対象ランに対する個別更新処理よりも後で実行される第2連結ランに対する個別更新処理に要する時間を短縮することができる。その結果、トータルの処理時間を短縮することができる。
id[2]=2、
id[4]=4、
となっている。これらを対比した結果、ラン接続データid[4]がラン接続データid[2]よりも大きい値であるため、ラン接続データid[4]のラベル番号をラン接続データid[2]のラベル番号に書き換える必要がある。こうして第2スレッドでの書換準備が最先に整うと、並列処理制御部648により第0スレッドおよび第1スレッドの個別更新処理におけるデータ書換が一時的に禁止された状態で、ラン接続データid[4]の書換が実行され、ラン接続データid[4]のラベル番号は「4」から「2」に更新される。また、更新されたランr[4]のラベル番号である値(old_dum)と、変更前のラン接続データid[4]である値(old_id)とはともに「4」であり、同じ値であることから第2スレッド(ステップS3−2)を終了する。
id[1]=1、
id[2]=2、
id[3]=3、
となっている。これらを対比した結果、ラン接続データid[2]、id[3]はいずれもラン接続データid[1]よりも大きい値であるため、ラン接続データid[2]、id[3]のラベル番号をともにラン接続データid[1]のラベル番号に書き換える。また、更新されたランr[2]については、そのラベル番号である値(old_dum)と、変更前のラン接続データid[2]である値(old_id)とはともに「2」である。また、更新されたランr[3]については、そのラベル番号である値(old_dum)と、変更前のラン接続データid[3]である値(old_id)とはともに「3」である。このようにランr[2]、r[3]のいずれについても、値(old_dum)と値(old_id)とは同じ値であることから第1スレッド(ステップS3−1)を終了する。
5…画像取得部
6…画像処理部
21…撮像部
62…差分抽出部(画像抽出部)
63…二値化処理部
64…ラベリング部
641…プロセッサコア
642…GPU
643…個別更新処理部
644…個別探索処理部
645…ラベリング用記憶部
646…演算処理部(制御部)
647…ラン生成部
648…並列処理制御部
649…データ初期設定部
Claims (11)
- 二値画像データをランレングス化して作成された複数のランに対してラベリング処理を施すラベリング方法であって、
各ランに対して互いに異なるラベルを設定する初期ラベル設定工程と、
前記ラン毎に、当該ランを処理対象ランとするとともに当該処理対象ランに接続する第1連結ランが存在するか否かを判定し、前記第1連結ランが存在するときには、前記処理対象ランおよび前記第1連結ランのうちの一方のラベルを他方のラベルに更新する個別更新処理を行う更新工程と、
前記更新工程後に、前記複数のラベルに基づいて前記複数のランのうち互いに接続するランを探索して同一のラベルを付与する探索工程とを備え、
前記更新工程では、前記複数のランを複数組に分割するとともに各組で実行される個別更新処理を更新スレッドとし、排他制御のもと前記複数の更新スレッドのうち一の更新スレッドによるラベルの書換を許可するとともに前記一の更新スレッドにより書き換えられるラベルの他の更新スレッドによる書換を禁止しながら前記複数の更新スレッドを並列して実行することを特徴とするラベリング方法。 - 請求項1に記載のラベリング方法であって、
前記更新工程では、前記一の更新スレッドにより書き換えられるラベル以外のラベルの前記他の更新スレッドによる書換を許可するラベリング方法。 - 請求項1または2に記載のラベリング方法であって、
前記個別更新処理では、前記処理対象ランおよび前記第1連結ランのうちラベルを更新した方のランを更新ランとし、当該更新ランに対して前記処理対象ランおよび前記第1連結ラン以外の第2連結ランが接続するか否かを判定し、前記第2連結ランが存在するときには、さらに前記更新ランおよび前記第2連結ランのうち一方のラベルを他方のラベルに更新するラベリング方法。 - 請求項1ないし3のいずれか一項に記載のラベリング方法であって、
前記複数のランは前記二値画像データを行毎にランレングス化して得られるものであり、
前記個別更新処理では、前記処理対象ランの下行に接続するランを前記第1連結ランとして判定するラベリング方法。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載のラベリング方法であって、
前記探索工程では、前記ラン毎に、当該ランを処理対象ランとするとともに当該処理対象ランに接続する連結ランを前記複数のラベルに基づいて見つけ出して前記処理対象ランおよび前記連結ランのラベルを同一に書き換える個別探索処理を実行するラベリング方法。 - 請求項5に記載のラベリング方法であって、
前記探索工程では、前記複数のランを複数組に分割するとともに各組で実行される個別探索処理を探索スレッドとし、排他制御のもと前記複数の探索スレッドのうち一の探索スレッドによるラベルの書換を許可するとともに前記一の探索スレッドにより書き換えられるラベルの他の探索スレッドによる書換を禁止しながら前記複数の探索スレッドを並列して実行するラベリング方法。 - 請求項6に記載のラベリング方法であって、
前記探索工程では、前記一の探索スレッドにより書き換えられるラベル以外のラベルの前記他の探索スレッドによる書換を許可するラベリング方法。 - 二値画像データをランレングス化して作成された複数のランに対してラベリング処理を施すラベリング装置であって、
各ランのラベルを記憶する記憶部と、
演算処理を行うプロセッサコアを複数個有するプロセッサ部と、
前記複数のラベルに互いに異なる値を初期設定した後で、前記ラン毎に、当該ランを処理対象ランとするとともに当該処理対象ランに接続する第1連結ランが存在するか否かを判定し、前記第1連結ランが存在するときには、前記処理対象ランおよび前記第1連結ランのうちの一方のラベルを他方のラベルに更新する個別更新処理を行い、さらに前記複数のラベルに基づいて前記複数のランのうち互いに接続するランを探索して同一のラベルを付与する制御部とを備え、
前記複数のランは前記プロセッサコアの個数に応じて複数組に分割され、
各プロセッサコアは分割された一または複数のランについて前記個別更新処理を更新スレッドとして実行し、
前記制御部は、排他制御のもと前記複数の更新スレッドのうち一の更新スレッドによるラベルの書換を許可するとともに前記一の更新スレッドにより書き換えられるラベルの他の更新スレッドによる書換を禁止しながら前記複数の更新スレッドを並列して実行させることで前記ラン毎の個別更新処理を行うことを特徴とするラベリング装置。 - 請求項8に記載のラベリング装置であって、
前記制御部は、前記ラン毎に、当該ランを処理対象ランとするとともに当該処理対象ランに接続する連結ランを前記複数のラベルに基づいて見つけ出して前記処理対象ランおよび前記連結ランのラベルを同一に書き換える個別探索処理を実行するラベリング装置。 - 請求項9に記載のラベリング装置であって、
各プロセッサコアは分割された一または複数のランについて前記個別探索処理を探索スレッドとして実行し、
前記制御部は、排他制御のもと前記複数の探索スレッドのうち一の探索スレッドによるラベルの書換を許可するとともに前記一の探索スレッドにより書き換えられるラベルの他の探索スレッドによる書換を禁止ながら前記複数の探索スレッドを並列して実行させることで前記ラン毎の個別探索処理を行うラベリング装置。 - 検査対象画像を取得する画像取得部と、
前記検査対象画像を検査して欠陥部位が含まれる欠陥画像を抽出する画像抽出部と、
前記欠陥画像を二値化処理して二値画像データを生成する二値化処理部と、
前記二値画像データをランレングス化して複数のランを生成するラン生成部と、
請求項8ないし10のいずれか一項に記載のラベリング装置と同一構成を有し、前記複数のランのうち互いに接続するランに対して同一のラベルを付与するラベリング手段と
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
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