JP6151824B2 - 差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス - Google Patents

差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス Download PDF

Info

Publication number
JP6151824B2
JP6151824B2 JP2016097603A JP2016097603A JP6151824B2 JP 6151824 B2 JP6151824 B2 JP 6151824B2 JP 2016097603 A JP2016097603 A JP 2016097603A JP 2016097603 A JP2016097603 A JP 2016097603A JP 6151824 B2 JP6151824 B2 JP 6151824B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
autofocus
image data
interest
contrast
image sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016097603A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016173594A (ja
Inventor
バス フルスケン
バス フルスケン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips NV filed Critical Koninklijke Philips NV
Publication of JP2016173594A publication Critical patent/JP2016173594A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6151824B2 publication Critical patent/JP6151824B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing
    • G02B21/244Devices for focusing using image analysis techniques
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing
    • G02B21/245Devices for focusing using auxiliary sources, detectors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • H04N23/673Focus control based on electronic image sensor signals based on contrast or high frequency components of image signals, e.g. hill climbing method
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/90Arrangement of cameras or camera modules, e.g. multiple cameras in TV studios or sports stadiums

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Focusing (AREA)

Description

本発明は、デジタル病理学の分野及び高速マイクロスキャンの他の分野に関する。特に、本発明は、顕微鏡に関するオートフォーカス撮像システム、オートフォーカス撮像システムを有する顕微鏡、顕微鏡のオートフォーカス撮像に関する方法、コンピュータ可読媒体及びプログラム要素に関する。
デジタル病理学において、特にホールスライドスキャンの場合、解析目的だけでなく教示目的のため、標本が、スライスされて撮像される。全体の組織スライドをスキャンするために、ラインセンサが使用されることができる。これらのスライドスキャナは、連続的な機械スキャンを実行することができる。これにより、縫い目問題が低減され、低輝度の照明を収容するため、いわゆる時間遅延積分(TDI)ラインセンサの使用が可能にされる。これは、例えば、国際公開第01/84209A2号において開示される。
実際のスキャンの前に、最適焦点位置が、スライド上の複数の位置で決定されることができる。これは、「焦点マップ」を生じさせる。図1に示されるように、組織層の軸方向位置がスライドにわたり数マイクロメートル変化することができるとき、この手順は使用されることができる(いかなる疑いをも避けるため、本書において軸方向という語は、図2に示される軸7に沿った方向を指す点を留意されたい。)。
組織層の変動は、顕微鏡対物の焦点深度以上のものとなる場合がある。スキャンの間、対象物の焦点位置は、選択された測定位置における測定された最適焦点設定の間を内挿する軌跡上にセットされる。しかしながら、この手順は、エラーを起こしやすく、かつ時間のかかるものであり、これにより、システムスループットが制限される。
既知のオートフォーカス撮像システムにおいて、(焦点の上下における)焦点エラーの符号を決定することはできない。即ち、焦点誤差信号は、有極性ではない。これは、最適焦点設定に関する永続的な更新を必要とする連続的なオートフォーカスシステムにとっては不利な場合がある。
国際公開第2005/010495A2号は、顕微鏡スライドのデジタル画像を生成するシステム及び方法を表す。この顕微鏡は、光学軸に対して傾斜されるメインカメラ及び焦点カメラを有する。
スキャン顕微鏡の改良されたオートフォーカス機能を持つことが望ましい。
本発明の第1の側面によれば、顕微鏡システムに関するオートフォーカス撮像システムが与えられ、このシステムは、関心対象物のプライマリ画像データ並びに上記関心対象物の斜め断面の第1及び第2のオートフォーカス画像データを取得する画像センサ構成であって、上記画像センサ構成が、上記第1のオートフォーカス画像データを取得し、後に、上記第2のオートフォーカス画像データを取得するよう構成される傾けられた画像センサを含む、画像センサ構成を有する。このシステムは更に、上記第1のオートフォーカス画像データに関する第1のデータと上記第2のオートフォーカス画像データに関する第2のデータとの比較に基づき、上記顕微鏡システムの焦点位置の有極誤差信号を生成する計算ユニットを有する。
例示的な実施形態によれば、画像センサ構成は、上記関心対象物の上記プライマリ画像データを取得するプライマリ画像センサと、上記関心対象物の斜め断面の上記第1のオートフォーカス画像データを取得し、後に上記第2のオートフォーカス画像データを取得する傾けられたオートフォーカス画像センサとを有する。
言い換えると、オートフォーカス撮像システムは、プライマリ画像センサと、オートフォーカス画像センサの方へ関心対象物から進む放射線をオートフォーカス画像センサ上で焦束させるレンズの光学軸(以下において、「放射線の光学軸」又は「プライマリ画像センサの光学軸」と呼ばれる)に対して垂直に構成されるわけではないが、その光学軸に対して傾けられるオートフォーカス画像センサとを有する。この傾けられたオートフォーカス画像センサは、オートフォーカス画像データのシーケンスを取得する。各オートフォーカス画像データは、別の時間に取得され、及び従って、関心対象物(それは、撮像の間、移動する)の別の位置に関して取得される。
別の実施形態は、プライマリ画像センサ及びオートフォーカス画像センサの機能を1つの物理的なセンサへと実際に組合せることである。この1つのセンサは、上述された光学軸に対して傾けられる。このセンサは、何らかの態様の2D画像センサでなければならない。この場合、ピクセルの全て又はサブセットが、オートフォーカス画像データを生成するために用いられる。一方、別の可能性として、重複するセットが、プライマリ画像データを生成するために用いられる。ピクセルのこれらの2つのセットは、同時にキャプチャされる異なる物理的なピクセル、又はシーケンシャルにキャプチャされる部分的に同じピクセルとすることができる。又は、両方の組合せとすることができる。撮像及びオートフォーカス機能を組み合わせる斯かるセンサがどのように実現及び用いられることができるかに関する詳細に関して、読者は、欧州特許出願第09306350号を参照することができる。これは、本書において参照により含まれる。
その後、第1のオートフォーカス画像データに関する第1のデータ及び第2のオートフォーカス画像データに関する第2のデータの比較が実行される。この第1及び第2のデータは、元々取得された第1及び第2のオートフォーカス画像データ、又はこの画像データの変形、又はこの第1及び第2のオートフォーカス画像データから得られる測定基準とすることができる。
例示的な実施形態によれば、上記比較が、第1のデータにおける第1のコントラスト関数及び第2のデータにおける第2のコントラスト関数の決定を有する。第1及び第2のコントラスト関数は共に、オートフォーカス画像センサにおけるx位置の関数である。その後、第1のコントラスト関数は、第2のコントラスト関数と比較される。
別の例示的な実施形態によれば、計算ユニットは、関心対象物の並進のため第2のコントラスト関数を修正し、及び2つのコントラスト関数(又は、2つのコントラスト関数のフィルタリングされた又は変換されたバージョン)を互いから減算するよう構成される。こうして、S字曲線が生じる。
言い換えると、この実施形態によれば、第1のコントラスト関数と第1のコントラスト関数との比較が、第1のコントラスト関数に関する第1のデータを第2のコントラスト関数に関する第2のデータから減算することを有する。この場合、減算が実行される前に、第1又は第2のコントラスト関数が並進のために修正される。
別の例示的な実施形態によれば、計算ユニットは、有極誤差信号を生成するためS字曲線のゼロ交差を決定する。
S字曲線が、第1及び第2のオートフォーカス画像データより低い周波数の詳細を有するので、S字曲線のゼロ交差の決定は、高い精度で実行されることができ、こうして、高い精度で有極誤差信号を決定することが可能にされる。
別の例示的な実施形態によれば、このオートフォーカス撮像システムは、最適な焦点位置の決定のため、上記焦点位置のフィードバック又はフィードフォワード制御を実行するよう適合される。
本発明の第2の側面によれば、上記及び後述されるオートフォーカス撮像システムを有する顕微鏡が提供される。
本発明の例示的な実施形態によれば、顕微鏡は、デジタル病理学に関するスライドスキャナとして適合される。
本発明の別の側面によれば、顕微鏡システムのオートフォーカス撮像に関する方法が提供される。そこでは、関心対象物のプライマリ画像データが、プライマリ画像センサ構成により取得される。更に、関心対象物の斜め断面の第1のオートフォーカス画像データ、及び、後に、第2のオートフォーカス画像データが、画像センサ構成の傾けられたオートフォーカス画像センサにより取得される。すると、顕微鏡システムの焦点位置の有極誤差信号が、第1のオートフォーカス画像データに関する第1のデータと第2のオートフォーカス画像データに関する第2のデータとの比較に基づき生成される。
本発明の別の側面によれば、コンピュータ可読媒体が提供される。この媒体に、顕微鏡システムのオートフォーカス撮像に関するコンピュータプログラムが格納される。顕微鏡システムのプロセッサにより実行されるとき、このプログラムは、上記及び/又は後述される方法ステップをプロセッサに実行させる。
更に、本発明の別の側面によれば、顕微鏡システムのオートフォーカス撮像に関するプログラムが提供される。顕微鏡システムのプロセッサにより実行されるとき、このプログラムは、上記及び/又は後述される方法ステップをプロセッサに実行させる。
コンピュータ可読媒体は、フロッピー(登録商標)ディスク、ハードディスク、CD、DVD、USB(ユニバーサルシリアルバス)ストレージデバイス、RAM(ランダムアクセスメモリ)、ROM(リードオンリメモリ)及びEPROM(消去可能なプログラマブル・リードオンリメモリ)とすることができる。コンピュータ可読媒体は、プログラムコードをダウンロードすることを可能にする、例えばインターネットといったデータ通信ネットワークとすることもできる。
高速スライドスキャンのための連続的なオートフォーカスに関するシステムが提供され、このシステムが、光学軸に対して傾けられる追加的な画像センサに基づかれることが、本発明の例示的な実施形態の要旨として見られることができる。このオートフォーカス画像センサは、スライドの斜めの断面を撮像する。焦点合わせのため、斜めのオートフォーカス画像センサにより撮られる複数のシーケンシャルな重複する画像の比較が、実行される。組織層の軸方向位置は、この差分測定から生じる有極誤差信号から決定されることができる。
組織スライドアセンブリの断面を示す図である。 組織スライドアセンブリの斜めの断面を示す図である。 オートフォーカス画像センサの深度距離及び傾斜角度の間の関係を示す図である。 オートフォーカスセンサにより生成される2つのシーケンシャルな画像を示す図である。 オートフォーカスセンサにより生成される2つのシーケンシャルな画像を示す図である。 計算ユニットにより生成される対応するコントラスト曲線を示す図である。 計算ユニットにより生成される対応するコントラスト曲線を示す図である。 本発明の例示的な実施形態によるオートフォーカス撮像システムを持つ顕微鏡を示す図である。 本発明の別の例示的な実施形態によるオートフォーカス撮像システムを持つ顕微鏡を示す図である。 本発明の別の例示的な実施形態によるオートフォーカス撮像システムを持つ顕微鏡を示す図である。 本発明の例示的な実施形態による顕微鏡システムを示す図である。 本発明の例示的な実施形態による方法のフローチャートを示す図である。
図における説明は、概略的なものである。異なる図において、類似する又は同一の要素は、同一の参照番号を用いて与えられる。以下において、シンボルに関連付けられるプライム記号(')は、画像空間が考慮されることを意味する(例えば、センサ参照)。プライム記号なしのシンボルは、対象物空間が考慮されることを意味する(通常はサンプル参照)。例えば、本書において角度ベータプライム(β')が使用されるとき、画像空間における回転、そして、後でより詳しく述べられるように、物理センサの回転が示されることになる。また、角度ベータ(プライムなしのβ)は、対象物空間における回転を示し、そして、後でより詳しく述べられるように、オートフォーカスセンサにより撮像されるサンプルの斜めの断面の回転を示す。
図1は、通常1mmの厚さの顕微鏡スライド1と、通常0.17mmの厚さのカバースリップ2と、組織層4を固定及び密封する取付け媒体3とを有する組織スライドアセンブリの概略的な断面を示す。組織層は通常、約5μm厚であり、取付け層は、組織層を含み、通常10〜15μm厚である。カバースリップがスライドに付けられる前に、取付け媒体が、流体形式で組織層を持つスライドに適用されることができる。続いて取付け流体が凝固する。こうして、組織層が機械的に固定され、劣化に対する安定性を提供するため、外側の環境から密封される。組織層の軸方向位置は、スライドにわたり数μm内で変化することができる。
スキャンする間、最適な分解能を提供するため、焦点が、継続的に調整されなければならない場合がある。なぜなら、組織層の軸方向位置が変化するからである。
「焦点マップ」法の使用に代わる変形例は、連続的なオートフォーカスシステムの使用である。即ち、最適な焦点位置を継続的に測定し、デジタル画像を取得する実際のスキャンの間、対物レンズの軸方向位置を適合させる追加的なシステムの使用である。オートフォーカスシステムは、得られた画像におけるコントラストを最適化することに基づかれることができる。様々な測定基準が、コントラスト最適化に関して用いられることができる。しかしながら、(焦点の上下の)焦点誤差の符号は、この態様では決定されることができない。即ち、焦点誤差信号は、有極性ではない。これは、最適な焦点設定に関する永久的な更新を必要とする連続的なオートフォーカスシステムにとって不利でありえる。
オートフォーカスシステムは、例えば光学ディスクにおいて、対象物平面にある又はその近くにある参照表面において反射されるラインを用いることができる。しかしながら、この方法が組織スライドに適用されるときの欠点は、(顕微鏡スライド及び組織層の間、並びに組織層及びカバースリップの間の)関連するインタフェースが、低い反射を持つ場合があり、反射信号が、近くの組織層から生じる散乱により歪められ、従って堅牢性を損なう点にある。
良好な代替案は、光学軸に対して傾けられる追加的なセンサの使用である。図2に示されるように、このオートフォーカス画像センサは、対象物の斜め断面の画像を製作する。この断面は、組織層の軸方向位置に基づきいくつかのポイントで、又は対物レンズの焦点面に対して、組織層を切断することができる。こうして、センサ上の組織層の位置が、焦点ぼけ(defocus)の量に関する尺度となる。より詳細には、読者は、欧州特許出願第09306350号を参照することができる。これは、本書において参照により含まれる。
図2から分かるように、傾けられたオートフォーカス画像センサは、組織スライドアセンブリの斜めの断面5の画像を製作する。傾斜は、スキャン方向6(即ち方向x)にある。センサは、Nピクセルを持ち、ピクセル当たりΔxでスキャン方向において、ピクセル当たりΔzで軸方向の方向7において、対象物をサンプリングする。
例えば、オートフォーカス撮像システムは、組織層の可視光撮像を損なわないよう、可視スペクトルの外側の波長を用いて作動する。例えば、オートフォーカスシステムは、可視スペクトルの赤外線側にある波長を用いて作動する。なぜなら、紫外線放射は、組織に損傷を与え、赤外線より複雑で及び/又は高価な光学要素を必要とする場合があるからである。
追加的なオートフォーカス画像は、様々な態様で提供されることができる。1つの可能性は、いわゆる暗視野照射を用いることである。これにより、伝搬方向のセットを有するビームを用いて、サンプルが照射される。
オートフォーカスシステムの深度距離Δztotは、他のパラメータの適切な設定のため、十分に大きくなければならない。オートフォーカス画像センサは、スキャン方向においてNピクセルを持ち、ピクセルサイズはbである。センサは、角度β'を越えて傾けられる。その結果、横方向及び軸方向のサンプリングが、
Figure 0006151824
により与えられる。
対象物(組織スライド)での横方向及び軸方向のサンプリングは、
Figure 0006151824
により与えられる。ここで、Mは、拡大率であり、nは、対象物の屈折率である。ここで、対象物での軸方向のサンプリングは、
Figure 0006151824
に従う。
個のピクセルがあるので、総深度距離は
Figure 0006151824
である。
対象物Δxでの横方向のサンプリングは、焦点ぼけに応じた高周波情報の生成を可能にするため、十分に小さいべきである。最大の焦点ぼけ感度は、カットオフ空間的周波数の半分で見いだされる。従って、Δxは好ましくは、0.5〜1.0μmの範囲にあり、即ち、Δxは、0.75μmの近辺にある。ピクセルサイズb=10μmを持つ、(N=640、N=480ピクセルの)VGAセンサを考慮し、屈折率n=1.5を用いると、深度距離及びセンサ傾斜角度の間の関係は、図3に示されるようになる(曲線303を参照)。
図3において、水平軸301は、0度から35度の間のオートフォーカスセンサ傾斜角を示し、垂直軸302は、0マイクロメートルから50マイクロメートルの間のz距離を示す。
概略的に、深度距離は、傾斜角度当たり1μm増加する。深度距離は好ましくは、約20μmとすることができ、従って、約20度の軽い傾斜角で充分である。その場合、軸方向のサンプリングΔzは、約42nmである。これは、数μmの精度で組織層の軸方向位置を見つけ出すことを可能にするのに十分に小さい。
十分な信号対ノイズ比を持つ焦点ぼけ誤差信号に関して、N行のピクセル全てが必要とされるわけではないように見える。原理上は、N=1で充分である。しかしながら、複数の行を用いることは、信号の堅牢性を改良する。センサが、CMOSセンサである場合、ウィンドウ化(制限された数の行だけが読み出される)が、用いられることができる。これは、計算負担及び/又はオートフォーカスの信号の測定の周波数に関するポジティブ効果を持つことができる。更に、ウィンドウの横方向の位置は、組織の平均的な横方向の位置に適合するよう、スキャンごとに適合されることができる。例えば、スキャン領域が組織領域のエッジを含む場合、ラインセンサの1つの側は、他の側が撮像しない組織を撮像する。組織があるフィールドの側にあるウィンドウを選択することにより、良好な誤差信号がまだ得られることができる。代替的に、1つ又は複数のラインセンサが、組み合わされることができる。こうして、オートフォーカスの信号の1つ又は複数の測定が提供される。
焦点ぼけの量を検出するため、オートフォーカスセンサ上の画像におけるシャープネス詳細の量を定量化する画像解析アルゴリズムが用いられることができる。2段階アルゴリズムが、用いられることができる。第1段階のアルゴリズムは、オートフォーカスセンサにより生成される画像に関して所与の時間でのコントラスト量を検出する。続いて、第2段階のアルゴリズムは、顕微鏡下の対象物が並進される間、オートフォーカスセンサにより撮られる2つのシーケンシャルな画像から、第1段階のアルゴリズムの結果を比較する(必ずしも隣接するフレームではなく、フレームは、数フレーム戻ったフレームと比較されることができる)。
第1段階の低レベルアルゴリズムは、センサにおけるx位置の関数として曲線を生み出す。これは、オートフォーカスセンサ上の画像における詳細の量を示す。オートフォーカスセンサがx方向に対して、即ち組織スライドアセンブリの前方表面に対して傾けられるので、オートフォーカスセンサ画像が生成される対象物における深度は、同様にセンサ上のx位置と共に変化する。従って、第1段階のアルゴリズムにより生成されるコントラスト曲線は、サンプルにおけるx位置だけでなくサンプルの深度(z位置)の関数である。これは、図4A〜図4Dにおいて示される。斯かる詳細依存曲線を生成するための多くの方法が、用いられることができる。この場合、本書に示されるものは、ソベルエッジ検出に基づかれる。本発明は、第1段階のアルゴリズムにおいて使用される詳細検出の方法に特定されるものではなく、任意の既知の方法に対して機能するべきである。
図4A及び図4Bは、スキャンの間(即ち、x方向6に沿ったサンプルの並進の間。図2を参照。)、オートフォーカスセンサにより生成されるシーケンシャルな画像を示す。図4A及び図4Bにおける水平軸401は、画像におけるx位置を示し、垂直軸402は、例えばコントラストといった信号値を示す。
曲線403、404は、低レベルアルゴリズムの結果であり、各画像に関して1つの曲線が対応する。曲線404に対応する画像は、曲線403に対応する画像に対して、およそ60ピクセル並進される。曲線403、404は、低レベルアルゴリズムの結果が、オートフォーカスセンサに対する対象物のx位置(高周波数の詳細であり、これは、右画像と比較して左画像において、質的に同じであるが、並進されている)と、オートフォーカスセンサに対する対象物のz位置(低周波数エンベロープであり、多かれ少なかれガウス曲線で、450の周りにピークがある)との両方に依存することを明確に示す。
サンプルの並進に関する修正後、第2段階の高レベルアルゴリズムは、第1段階のアルゴリズムからの2つのシーケンシャルな結果を互いから減算する(今後、焦点曲線と呼ばれる)。これは、図4C及び図4Dに示される。第1段階のアルゴリズムにより生成され、図4Cに示されるように、2つのシーケンシャルな焦点曲線を減算することは、図4Dに示されるいわゆるS字曲線405を与える。S字曲線のゼロ交差406(垂直ラインの位置にある)は、サンプルの焦点内(in-focus)位置である。
明らかに、焦点曲線に存在していた、画像の情報コンテンツの結果であった高周波数の詳細は、S字曲線においてもはや存在しない。S字曲線は、顕微鏡において撮像される対象物の(局所)形態に依存しない安定した信号である。S字曲線は、オートフォーカス画像センサにより生成される各フレームに対して生成されることができ、最近のS字曲線のゼロ交差は、比較された2つのフレームの取得の間の正確に時間Tでの理想的な焦点位置を示す。
言い換えると、この2段階手法は、焦点曲線上に存在する高周波ノイズを明らかに抑制する。こうして、顕微鏡のスキャンアクションの間の高帯域幅の有極焦点誤差の検出が提供されることができる。
オートフォーカスの信号の最大帯域幅は、センサのフレームレートにより決定される。200Hzのフレームレートを提供する既製のセンサが、容易に利用可能である。10mm/sといった典型的な高速スキャン顕微鏡に対して、これは、50マイクロメートル毎の焦点測定を意味する。
組織が焦点合わせされるz位置をリアルタイムに決定することを可能にする実施形態は、FPGAプロセッサ又は専用の画像処理ASICと高速の画像センサとの組合せである。
一旦最適な焦点位置zoptが決定されると、フィードバック又はフィードフォワード焦点戦略が実現されることができる。フィードバックの場合、焦点位置zoptの検出は理想的には、撮像がされるのと正確に同じ位置及び時間で行われる。誤差信号(所望の焦点位置zoptから、撮像対物レンズの実際の焦点位置zobjを引いたもの)に基づき、撮像光学の焦点位置zobjが調整される。焦点位置zoptが得られるサンプルレートは、斯かるフィードバックシステムの最終的な帯域幅を決定することになる。通常は、サンプリングレートより係数で10低い帯域幅が得られることができる。
オートフォーカスセンサ上へ撮像されるスライドの傾けられた断面は、目的の焦点面とラインにおいて交差する。可能であれば、上記実施形態の全てにおいて、このラインは、距離Δx分、ポジティブスキャン方向(「上流」)において(TDI又は非TDI)ラインセンサにより撮像されるラインからオフセットされる。その結果、Δx/vは、ここで、vはスキャン速度であるが、オートフォーカス画像から焦点誤差信号を計算するのに必要な時間より大きい。これは、フィードフォワード・シナリオにおいて有利に用いられる。ここで、焦点位置zoptの検出は理想的には、(時間において)撮像の先に行われる。更に、オートフォーカス画像が対象物の撮像野内で適合するよう、オフセットされたΔxは、十分に小さいべきである。フィードフォワードシステムは、無限に高速とすることができる。しかしながら、最大スキャン速度はある事実により制限される。その事実は、焦点位置の決定は、サンプルの特定の領域に関する焦点位置測定が実行される時間とその同じ領域が撮像される時間との間で経過する時間量内に実行されなければならないというものである。別の限定要素は、撮像光学の焦点位置が調整されることができる速度である。
非制限的な例として、図5は、顕微鏡システムの一部、特に、光経路における撮像分岐を示す。エピモード暗視野照射に関する実施形態が、図6に示される。
スライド1及びカバースリップ2(並びに組織層4。図示省略)を通る光が、背部開口21を持つ対物レンズ20によりキャプチャされる。そこでは、非散乱ビームがブロックされる。カラースプリッタ22が、画像センサ構成上の管レンズ23により撮像される白色光をスプリットする。これは、第1、第2及び第3のプライマリ画像センサ24、32、33を有することができる。これらのセンサは、デジタル組織画像を生成するラインセンサの形で適合されることができる。赤外線光は、オートフォーカス画像センサ26上の第2の管レンズ25により撮像される。これは、オートフォーカス画像センサ26に向かって関心対象物から放射線の光学軸31に対して傾けられる。本書の文脈において、「プライマリ画像センサの光学軸に対して傾けられる」という記載は、オートフォーカス画像センサに衝突する関心対象物からの放射線が、オートフォーカス画像センサに垂直に当たらないことを意味する。しかしながら、プライマリ画像センサに向かって関心対象物から飛来する放射線は、プライマリ画像センサに垂直に当たることができる。しかしながら、これは必要とされるものではない。組織により散乱される光線は、開口21を通過することができ、オートフォーカス画像センサ26上で撮像される。
図6は、オートフォーカス撮像システム500を備える顕微鏡システムのエピモード暗視野照射に関する光学レイアウトを示す。このシステムは、レーザダイオード14を持つ。この照射は、撮像分岐と一体化される。2つの×印の付いた格子15は、回折オーダーを生成するレーザダイオード14の後に構成される。例えば、0次の回折オーダーは、S'0、+1次のオーダーは、S'+1、−1次のオーダーは、S'−1である。更になお、フィールドストップ16が、暗視野照射ビームの幅を限定する格子15の近くに構成される。コリメーターレンズ17は、レーザダイオード14からの光をコリメートする。
偏光ビームスプリッタ28が、コリメーターレンズ17を進んだあとのビームをスプリットするために提供される。更に、顕微鏡は、四分の一波長板29を有する。要素28及び29は、対物レンズの方へレーザーから生じるビームを向け、オートフォーカス画像センサの方へ組織から生じる散乱光を構築する世話をする。
図7は、顕微鏡500のマルチスポット照射に関する光学レイアウトを示す。この照射は、撮像分岐と一体化される。レンズ17は、スポット30のアレイを生成するスポット生成器に入射するビームを平行化する。全体のアセンブリを傾けることにより、スポットアレイが傾けられる。その結果、結果として生じる入射するスポットアレイ及びスライドが、同様に傾けられる。スポット生成器29は、低NAビームのアレイを生成する。これは、重要な収差を導入することなしにビームスプリッタ27を進むことができる。
図7の実施形態において、スポットのアレイは、オートフォーカス画像センサにより撮像される斜め断面5を照射するために用いられる。組織上に焦束されるスポットは、時間依存散乱を経験することができる。なぜなら、スポットが焦束される領域の吸収及び屈折率は、スキャンと共に変化するからである。オートフォーカス画像センサ上で撮像されるスポットの時間依存性を検査することにより、組織層の軸方向位置が位置決めされることができる。即ち、焦点の近くで、高分解能情報が可視であり、焦点から離れると、これがぼやける。結果として、組織層が焦点面と一致するとき、比較的小さな時間スケールにおける信号変動が、最大となる場合がある。
図8は、例えばコンピュータといったユーザインタフェース801に接続されるプロセッサ又は処理ユニット800に接続されるオートフォーカス撮像システム500を持つ顕微鏡を有する顕微鏡システム802を示す。
図9は、例示的な実施形態による方法のフローチャートを示す。ステップ901において、関心対象物の901のプライマリ画像データが、プライマリ画像センサ構成により取得される。同時に又は前に、ステップ902において、第1のオートフォーカス画像データが、傾けられたオートフォーカス画像センサにより取得される。後で、関心対象物の並進後、ステップ903において、関心対象物の斜め断面の第2のオートフォーカス画像データが、傾けられたオートフォーカス画像センサにより取得される(このとき、別のプライマリ画像データが、プライマリ画像センサにより取得されることもできる(ステップ904))。すると、ステップ905において、顕微鏡の焦点位置の有極誤差信号が、第1のオートフォーカス画像データと第2のオートフォーカス画像データとの比較に基づき生成される。
説明されたオートフォーカスシステムは、デジタル病理学及び高速マイクロスキャンの他の分野における用途を見い出す。
これまでのすべての実施形態は、2つの別々の画像センサ、即ちプライマリ画像センサ及びオートフォーカス画像センサを参照してきたが、前述したように、追加的な実施形態において、これらの2つのセンサが、2つの分離したセンサと同じ機能を提供する1つの画像センサにより置換されることができる点に留意されたい。この組み合わされたセンサは、いくつかの態様の2D画像センサとして適合されることができ、光学軸に対して傾けられなければならない。欧州特許出願番号第09306350号から理解されるように、組み合わされたセンサのピクセルの全て又はサブセットが、オートフォーカス画像データを生成するために用いられる。一方、別の可能性として重複するセットが、プライマリ画像データを生成するために用いられる。ピクセルのこれらの2つのセットは、同時にキャプチャされる異なる物理ピクセル、シーケンシャルにキャプチャされる部分的に同じピクセル、又はこれらの組み合わせとすることができる。この実施形態の実現の非限定的な例として、2D画像センサを用いることができる。ここで、すべてのピクセルは、オートフォーカス画像データを生成するために用いられ、スキャン方向に垂直なピクセルの単一の行が、仮想ラインセンサを形成するために用いられる。これは、プライマリ画像データを生成するために用いられる。
本発明が図面及び前述の説明において詳細に図示され及び説明されたが、斯かる図示及び説明は、説明的又は例示的であると考えられ、本発明を限定するものではない。本発明は、開示された実施形態に限定されるものではない。図面、開示及び添付の特許請求の範囲の研究から、開示された実施形態に対する他の変形が、請求項に記載された発明を実施する当業者により理解され及び遂行されることができる。請求項において、単語「有する」は他の要素又はステップを除外するものではなく、不定冠詞「a」又は「an」は複数性を除外するものではない。特定の手段が相互に異なる従属項に記載されるという単なる事実は、これらの手段の組み合わせが有利に使用されることができないことを示すものではない。請求項における任意の参照符号は、発明の範囲を限定するものとして解釈されるべきではない。

Claims (17)

  1. 顕微鏡システムに関するオートフォーカス撮像システムであって、
    関心対象物のプライマリ画像データ並びに前記関心対象物の斜め断面の第1及び第2のオートフォーカス画像データを取得する、光学軸に対して傾けられる一つの物理的な画像センサと
    前記第1のオートフォーカス画像データに関する第1のデータと前記第2のオートフォーカス画像データに関する第2のデータとの比較に基づき、前記顕微鏡システムの焦点位置の有極誤差信号を生成する計算ユニットとを有し、
    前記第1及び第2のオートフォーカス画像データは、前記関心対象物の異なる位置について取得される、オートフォーカス撮像システム。
  2. 前記第1及び第2のオートフォーカス画像データが、前記関心対象物の並進の前後に取得される、請求項1に記載のオートフォーカス撮像システム。
  3. 前記比較が、
    前記第1のデータにおいて、前記画像センサにおけるx位置の関数として、第1のコントラストを決定し、及び、前記第2のデータにおいて、前記画像センサにおけるx位置の関数として、第2のコントラストを決定することと、
    前記第1のコントラスト関数と前記第2のコントラスト関数とを比較することとを有する、請求項に記載のオートフォーカス撮像システム。
  4. 前記第1のコントラスト関数と前記第2のコントラスト関数とを比較するため、前記計算ユニットが、前記関心対象物の並進について前記第2のコントラスト関数を修正し、前記第1及び第2のコントラスト関数、又はフィルタリング若しくは変形されたバージョンの前記第1及び第2のコントラスト関数を互いから減算するよう構成され、これにより、S字曲線が生じる、請求項に記載のオートフォーカス撮像システム。
  5. 前記有極誤差信号を生成するため、前記計算ユニットが、前記S字曲線のゼロ交差を決定するよう構成される、請求項に記載のオートフォーカス撮像システム。
  6. 最適な焦点位置の決定後、前記焦点位置のフィードバック又はフィードフォワード制御を実行するよう更に構成される、請求項に記載のオートフォーカス撮像システム。
  7. 記画像センサが、前記関心対象物から放射される放射線を前記画像センサ上に焦束させるレンズの光学軸に対して傾けられる、請求項1に記載のオートフォーカス撮像システム。
  8. 前記有極誤差信号が、焦点の上下を示す符号を有する、請求項1に記載のオートフォーカス撮像システム。
  9. 請求項1から8のいずれか一項に記載のオートフォーカス撮像システムを有する顕微鏡システム。
  10. 顕微鏡システムのオートフォーカス撮像に関する方法において、
    光学軸に対して傾けられる一つの物理的な画像センサで、関心対象物のプライマリ画像データを取得するステップと、
    前記画像センサ前記関心対象物の斜め断面の第1のオートフォーカス画像データ第2のオートフォーカス画像データを取得するステップと、
    前記第1のオートフォーカス画像データに関する第1のデータと前記第2のオートフォーカス画像データに関する第2のデータとの比較に基づき、前記顕微鏡システムの焦点位置の有極誤差信号を生成するステップとを有し、
    前記第1及び第2のオートフォーカス画像データは、前記関心対象物の異なる位置について取得される、方法。
  11. 前記第1及び第2のオートフォーカス画像データが、前記関心対象物の並進の前後に取得される、請求項10に記載の方法。
  12. 前記比較が、
    前記第1のデータにおいて、前記オートフォーカス画像センサにおけるx位置の関数として、第1のコントラストを決定し、及び、前記第2のデータにおいて、前記オートフォーカス画像センサにおけるx位置の関数として、第2のコントラストを決定するステップと、
    前記第1のコントラスト関数と前記第2のコントラスト関数とを比較するステップとを有する、請求項10に記載の方法。
  13. 前記第1のコントラスト関数と前記第2のコントラスト関数とを比較するステップが、
    前記第1及び第2のコントラスト関数、又はフィルタリング若しくは変形されたバージョンの前記第1及び第2のコントラスト関数を互いから減算することにより、S字曲線を決定するステップと、
    前記S字曲線のゼロ交差を決定することにより前記有極誤差信号を生成するステップとを有する、請求項12に記載の方法。
  14. 前記有極誤差信号が、焦点の上下を示す符号を有する、請求項10に記載の方法。
  15. 顕微鏡システムのオートフォーカス撮像に関するプログラム要素であって、前記顕微鏡システムのプロセッサにより実行されるとき、前記プロセッサに、
    光学軸に対して傾けられる一つの物理的な画像センサ、関心対象物のプライマリ画像データを取得するステップと、
    前記画像センサ前記関心対象物の斜め断面の第1のオートフォーカス画像データ第2のオートフォーカス画像データを取得するステップと、
    前記第1のオートフォーカス画像データに関する第1のデータと前記第2のオートフォーカス画像データに関する第2のデータとの比較に基づき、前記顕微鏡の焦点位置の有極誤差信号を生成するステップとを実行させ、
    前記第1及び第2のオートフォーカス画像データは、前記関心対象物の異なる位置について取得される、プログラム要素。
  16. 前記第1及び第2のオートフォーカス画像データが、前記関心対象物の並進の前後に取得される、請求項15に記載のプログラム要素。
  17. 前記有極誤差信号が、焦点の上下を示す符号を有する、請求項15に記載のプログラム要素。
JP2016097603A 2010-06-24 2016-05-16 差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス Active JP6151824B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP10305676.8 2010-06-24
EP10305676 2010-06-24

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013516005A Division JP5938401B2 (ja) 2010-06-24 2011-06-17 差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016173594A JP2016173594A (ja) 2016-09-29
JP6151824B2 true JP6151824B2 (ja) 2017-06-21

Family

ID=44511701

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013516005A Active JP5938401B2 (ja) 2010-06-24 2011-06-17 差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス
JP2016097603A Active JP6151824B2 (ja) 2010-06-24 2016-05-16 差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013516005A Active JP5938401B2 (ja) 2010-06-24 2011-06-17 差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス

Country Status (6)

Country Link
US (2) US9578227B2 (ja)
EP (1) EP2585869B1 (ja)
JP (2) JP5938401B2 (ja)
CN (1) CN103038692B (ja)
BR (1) BR112012032713A2 (ja)
WO (1) WO2011161594A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12101538B2 (en) 2021-08-11 2024-09-24 Vieworks Co., Ltd. Image acquisition device and method for adjusting focus position thereof

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011161594A1 (en) 2010-06-24 2011-12-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Autofocus based on differential measurements
ES2953897T3 (es) 2012-05-02 2023-11-16 Leica Biosystems Imaging Inc Enfoque en tiempo real en imagenología de exploración lineal
US20140168402A1 (en) * 2012-12-13 2014-06-19 Vala Sciences, Inc. Continuous-Scanning Image Acquisition in Automated Microscopy Using Reflective Autofocus
EP2990850B1 (en) 2013-04-26 2020-09-16 Hamamatsu Photonics K.K. Image acquisition device and method and system for acquiring focusing information for specimen
CN105143952B (zh) * 2013-04-26 2018-09-28 浜松光子学株式会社 图像取得装置以及图像取得装置的聚焦方法
HUE052489T2 (hu) 2013-04-26 2021-04-28 Hamamatsu Photonics Kk Képfelvevõ berendezés és eljárás és rendszer fókusztérkép elõállítására minta számára
JP6076205B2 (ja) * 2013-06-11 2017-02-08 浜松ホトニクス株式会社 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法
EP3019905B1 (en) * 2013-04-30 2020-06-03 Molecular Devices, LLC Apparatus and method for generating in-focus images using parallel imaging in a microscopy system
US9124823B2 (en) * 2013-05-20 2015-09-01 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor with fast intra-frame focus
US9462179B2 (en) 2013-05-20 2016-10-04 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor with fast intra-frame focus
DE102013216409A1 (de) * 2013-08-19 2015-02-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop
WO2017053891A1 (en) * 2015-09-24 2017-03-30 Leica Biosystems Imaging, Inc. Real-time focusing in line scan imaging
WO2017081542A2 (en) * 2015-11-11 2017-05-18 Scopio Lab Ltd. Computational microscopes and methods for generating an image under different illumination conditions
JP6489649B2 (ja) * 2015-11-16 2019-03-27 株式会社 日立産業制御ソリューションズ モーションブラー補償装置、撮像システム、および、モーションブラー補償方法
EP3420719A1 (en) 2016-02-22 2019-01-02 Koninklijke Philips N.V. Apparatus for generating a synthetic 2d image with an enhanced depth of field of an object
WO2017144482A1 (en) 2016-02-22 2017-08-31 Koninklijke Philips N.V. System for generating a synthetic 2d image with an enhanced depth of field of a biological sample
EP3396430B1 (en) 2017-04-27 2023-08-16 Euroimmun Medizinische Labordiagnostika AG Optical scanning arrangement and method
CN115061271B (zh) * 2017-09-29 2024-02-02 徕卡生物系统成像股份有限公司 实时自动对焦聚焦算法
CN107741731B (zh) * 2017-10-16 2020-02-14 深圳市合信自动化技术有限公司 一种s曲线计算精度引起的误差处理方法
CN107966111A (zh) * 2017-11-21 2018-04-27 北京理工大学 一种用于数字全息重构过程的自动对焦方法
CA3112071A1 (en) 2018-11-02 2020-05-07 Hologic, Inc. Digital imaging system and method
US11592653B2 (en) * 2019-04-05 2023-02-28 Kla Corporation Automated focusing system for tracking specimen surface with a configurable focus offset
US12002665B2 (en) * 2019-07-01 2024-06-04 Applied Materials, Inc. Real-time detection of particulate matter during deposition chamber manufacturing

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5560903A (en) * 1978-11-01 1980-05-08 Olympus Optical Co Ltd Focus detector
JPH10502466A (ja) * 1994-07-01 1998-03-03 ジェフレイ エイチ. プライス, スキャニングマイクロスコピー用オートフォーカスシステム
JP3900609B2 (ja) * 1997-08-29 2007-04-04 株式会社ニコン 断面形状測定装置
US6677565B1 (en) * 1998-08-18 2004-01-13 Veeco Tucson Inc. High speed autofocus and tilt for an optical imaging system
US6711283B1 (en) 2000-05-03 2004-03-23 Aperio Technologies, Inc. Fully automatic rapid microscope slide scanner
JP4334784B2 (ja) * 2001-06-11 2009-09-30 日本放送協会 オートフォーカス装置及びそれを用いた撮像装置
US8881723B2 (en) 2002-10-16 2014-11-11 Resmed Limited Breathable gas supply apparatus
US20050089208A1 (en) 2003-07-22 2005-04-28 Rui-Tao Dong System and method for generating digital images of a microscope slide
US7813579B2 (en) * 2004-05-24 2010-10-12 Hamamatsu Photonics K.K. Microscope system
US7232980B2 (en) * 2004-05-24 2007-06-19 Hamamatsu Photonics K.K. Microscope system
US7417213B2 (en) * 2005-06-22 2008-08-26 Tripath Imaging, Inc. Apparatus and method for rapid microscopic image focusing having a movable objective
US7297910B2 (en) * 2005-12-30 2007-11-20 General Electric Company System and method for utilizing an autofocus feature in an automated microscope
WO2007095090A2 (en) * 2006-02-10 2007-08-23 Monogen, Inc. Method and apparatus and computer program product for collecting digital image data from microscope media-based specimens
KR20090018711A (ko) 2006-06-09 2009-02-20 위구-디바이스 아이엔씨. 무한 보정 현미경의 자동 포커싱을 위한 방법 및 장치
US10353190B2 (en) 2009-12-30 2019-07-16 Koninklijke Philips N.V. Sensor for microscopy
WO2011161594A1 (en) 2010-06-24 2011-12-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Autofocus based on differential measurements

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12101538B2 (en) 2021-08-11 2024-09-24 Vieworks Co., Ltd. Image acquisition device and method for adjusting focus position thereof

Also Published As

Publication number Publication date
EP2585869B1 (en) 2018-09-12
WO2011161594A1 (en) 2011-12-29
JP5938401B2 (ja) 2016-06-22
US20170134641A1 (en) 2017-05-11
CN103038692A (zh) 2013-04-10
US9832365B2 (en) 2017-11-28
US9578227B2 (en) 2017-02-21
BR112012032713A2 (pt) 2016-09-13
CN103038692B (zh) 2015-12-16
JP2016173594A (ja) 2016-09-29
US20130093874A1 (en) 2013-04-18
JP2013534647A (ja) 2013-09-05
EP2585869A1 (en) 2013-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6151824B2 (ja) 差分測定に基づき顕微鏡検査をスキャンするためのオートフォーカス
US10365468B2 (en) Autofocus imaging
JP5982405B2 (ja) オートフォーカス装置を有する顕微鏡及び顕微鏡でのオートフォーカス方法
WO2021184169A1 (zh) 一种用于显微镜的实时自动对焦系统
US9116035B2 (en) Method and apparatus for image scanning
CN112415735A (zh) 一种用于显微镜的实时自动对焦系统
JP6140156B2 (ja) イメージ走査のための方法及び装置
JP6798625B2 (ja) 定量位相画像生成方法、定量位相画像生成装置およびプログラム
JP5354254B2 (ja) 形状測定装置及び方法、並びにプログラム
JP6534658B2 (ja) スキャニング顕微鏡、およびスキャニング顕微鏡の点像分布関数(psf)を決定する方法
JP2016212349A (ja) 3次元情報取得装置、及び、3次元情報取得方法
JP2011515710A (ja) 光学式走査装置の放射線スポットの2次元アレイ
EP2390706A1 (en) Autofocus imaging.
JP2008267842A (ja) 生物観察容器並びにこれを用いる生物顕微鏡及び生物観察装置
JP2015190992A (ja) 共焦点顕微鏡装置及び共焦点観察方法
KR102066129B1 (ko) 도트 어레이를 이용하는 3차원 정보 생성 장치 및 방법
JP6969655B2 (ja) 定量位相画像生成装置
JP2020503565A (ja) 光学機器の合焦状態を測定するためのシステムと方法
US20230324661A1 (en) Light-field microscopy image capturing method and light-field microscope
JPH10142489A (ja) 焦点検出方法およびその装置
JP2010286583A (ja) 光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20170214

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170502

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170525

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6151824

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250