JP6144640B2 - 光記録装置 - Google Patents
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Description
(実施の形態にかかる光記録装置)
図1は、実施の形態にかかる光記録装置の一例を示す図である。実施の形態にかかる光記録装置100は、光源101と、コリメートレンズ102と、偏光可変素子103と、PBSプリズム104と、ビームエキスパンダ106と、位相マスク107と、リレーレンズ108と、PBSプリズム109と、空間光変調器110と、リレーレンズ111と、空間フィルタ112と、対物レンズ113と、ミラー114と、ミラー115と、ガルバノミラー116と、スキャナレンズ117と、光情報記録媒体118と、1/4波長板119と、ガルバノミラー120と、撮像素子121と、制御部122と、記憶部123と、を備える。
図2は、強誘電性液晶を用いた偏光可変素子の一例を示す図である。図1に示した偏光可変素子103には、たとえば図2に示す液晶セル200を用いることができる。液晶セル200は、強誘電性液晶層210と、ガラス基板221,222と、共通電極230と、信号電極240と、シール材250と、配向膜261,262と、を備える強誘電性液晶セル(液晶モジュール)である。
図3は、強誘電性液晶を用いた液晶セルの液晶分子状態の一例を示す図である。図3に示す液晶分子状態301,302は、図2に示した液晶セル200の強誘電性液晶層210に電圧が印加された場合における液晶分子の2つの安定状態である。
図4Aは、駆動電圧の波形の一例を示す図である。図4Aにおいて、横軸は時間を示し、縦軸は駆動電圧を示す。図4Aに示す駆動電圧波形411は、制御部122から偏光可変素子103へ供給される駆動電圧の波形である。駆動電圧波形411は、たとえば期間401〜404の4期間の駆動波形とすることができる。期間401〜404における電圧をそれぞれ電圧V1〜V4とする。
図4Bは、駆動電圧の波形に対応する透過率の変化の一例を示す図である。図4Bにおいて、横軸は図4Aと同じ時間を示し、縦軸は空間光変調器110への信号光のシャッタ部105における透過率を示す。図4Bに示す透過率特性421は、図4Aに示した駆動電圧波形411に対応する、空間光変調器110への信号光のシャッタ部105における透過率特性である。
図5は、制御部の構成の一例を示す図である。図1に示した制御部122は、たとえば、図5に示すように、制御回路501と、波形生成回路502と、駆動回路503と、画像解析回路504と、を備える。
図6は、波形生成回路の一例を示す図である。図5に示した波形生成回路502は、たとえば、図6に示すように、基準電源610と、D/A回路621,622と、タイミング生成回路630と、反転回路641,642と、切替回路650と、を備える。基準電源610は、所定の基準電圧VRをD/A回路621,622へ出力する。
図7は、駆動電圧の波形パターンの候補の一例を示す図である。制御部122は、偏光可変素子103へ供給する駆動電圧の波形パターンの候補として、たとえばテーブル700を記憶している。テーブル700は、波形パターンの候補P1,P2,…,Pnを含む。また、候補P1,P2,…,Pnのそれぞれは、電圧V1,V2の組み合わせと対応付けられている。なお、テーブル700は、記憶部123などの制御部122の外部のメモリに記憶されていてもよい。
図8は、記録時の制御部による処理の一例を示すフローチャートである。制御部122は、光情報記録媒体118への情報の記録時に、たとえば図8に示す各ステップを行う。まず、制御部122は、記憶部123に記憶された波形パターン(V1,V2)を読み出す(ステップS801)。
図9は、制御部による波形パターンの選択処理の一例を示すフローチャートである。制御部122は、たとえば光記録装置100の非運用時に、たとえば図9に示す波形パターンの選択処理を行う。光記録装置100の非運用時とは、たとえば光記録装置100(自装置)に対する外部からの記録(書き込み)要求や再生(読み出し)要求がない状態であり、光記録装置100のアイドル時などである。
図9に示したステップS905において、制御部122は、たとえば、ステップS904の再生処理によって得られた電気信号の波形を取得する。なお、再生処理によって得られる電気信号は、たとえば時間的に連続した画像情報である。この場合に、制御部122は、たとえば画像全体の平均的な輝度の時間変化を示す波形を取得してもよいし、画像の一部の輝度の時間変化を示す波形を取得してもよい。
図10は、実施の形態にかかる光記録装置の変形例を示す図である。図10において、図1に示した部分と同様の部分については同一の符号を付して説明を省略する。図10に示すように、光記録装置100は、図1に示した構成に加えて温度測定部1001を備えていてもよい。温度測定部1001にはたとえば半導体センサを用いることができる。
101 光源
102 コリメートレンズ
103 偏光可変素子
104,109 PBSプリズム
105 シャッタ部
106 ビームエキスパンダ
107 位相マスク
108,111 リレーレンズ
110 空間光変調器
112 空間フィルタ
113 対物レンズ
114,115 ミラー
116,120 ガルバノミラー
117 スキャナレンズ
118 光情報記録媒体
119 1/4波長板
121 撮像素子
122 制御部
123 記憶部
200 液晶セル
210 強誘電性液晶層
221,222 ガラス基板
230 共通電極
240 信号電極
250 シール材
261,262 配向膜
301,302 液晶分子状態
401〜404 期間
411 駆動電圧波形
421 透過率特性
501 制御回路
502 波形生成回路
503 駆動回路
504 画像解析回路
610 基準電源
621,622 D/A回路
630 タイミング生成回路
641,642 反転回路
650 切替回路
700 テーブル
1001 温度測定部
Claims (8)
- 空間光変調器により変調した信号光を光情報記録媒体に照射することで前記光情報記録媒体に情報を記録し、前記光情報記録媒体に参照光を照射することで得られる再生光を撮像素子によって電気信号に変換する光記録装置であって、
供給される駆動電圧に応じて、前記空間光変調器から前記光情報記録媒体への信号光の照射を制御するシャッタ部と、
前記シャッタ部に供給された前記駆動電圧の波形パターンと、前記撮像素子によって得られた前記電気信号と、に基づいて選択された前記波形パターンを記憶する記憶部と、
前記記憶部によって記憶された前記波形パターンの駆動電圧を前記シャッタ部に供給する制御部と、
を備えることを特徴とする光記録装置。 - 前記制御部は、前記光情報記録媒体への前記情報の記録時に前記信号光を前記光情報記録媒体に照射させ、前記空間光変調器に対する前記情報の書き込み時に前記信号光を前記光情報記録媒体に照射させないように前記駆動電圧を制御することを特徴とする請求項1に記載の光記録装置。
- 前記制御部は、前記シャッタ部に供給する前記駆動電圧の波形パターンを切り替えながら監視した前記電気信号に基づいて選択した前記波形パターンを前記記憶部に記憶させる処理を行うことを特徴とする請求項1または2に記載の光記録装置。
- 前記制御部は、前記情報の記録または再生の外部から自装置への要求がない場合に前記処理を行うことを特徴とする請求項3に記載の光記録装置。
- 前記シャッタ部の温度を測定する測定部を備え、
前記制御部は、前記測定部によって測定された温度の変動を検出した場合に前記処理を行う、
ことを特徴とする請求項3または4に記載の光記録装置。 - 前記制御部は、
前記処理において、前記測定部によって測定された温度と対応付けて前記選択した波形パターンを前記記憶部に記憶させ、
前記変動を検出した場合に、前記測定部によって測定された温度に対応する前記波形パターンが前記記憶部に記憶されている場合は、前記処理を行わず、前記温度に対応する前記波形パターンの駆動電圧を前記シャッタ部に供給する、
ことを特徴とする請求項5に記載の光記録装置。 - 前記シャッタ部は、前記駆動電圧が供給される液晶セルを用いたシャッタ部であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の光記録装置。
- 前記液晶セルは、強誘電性液晶セルであることを特徴とする請求項7に記載の光記録装置。
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