JP6138846B2 - Solder composition and method for producing electronic substrate using the same - Google Patents

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Description

本発明は、はんだ組成物およびそれを用いた電子基板に関する。   The present invention relates to a solder composition and an electronic substrate using the same.

近年、電子機器は軽薄短小化に伴い、プリント配線基板の微細化が進み、プリント基板に実装される実装部品の微細化が進んでいる。このような微細部品の微小ピッチでの接合を行うために、はんだ粉末を微粉化(例えば、平均粒子径が20μm以下)することが要求されている。
しかしながら、平均粒子径が小さいはんだ粉末にすると、その比表面積は増大し、その分だけはんだ粉末の表面に生成される酸化物量も多くなる。はんだ粉末の表面に生成された酸化物を溶融させて除去するには、高い還元力のあるフラックス成分を有するはんだ組成物を求められ、例えば、フラックス成分中の活性剤などの検討がされている(例えば、特許文献1)。
2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices have been miniaturized as printed wiring boards have become smaller and smaller, and mounting components mounted on printed boards have been further miniaturized. In order to join such fine parts at a fine pitch, it is required to make the solder powder fine (for example, the average particle diameter is 20 μm or less).
However, when the solder powder has a small average particle diameter, the specific surface area increases, and the amount of oxide generated on the surface of the solder powder increases accordingly. In order to melt and remove the oxide generated on the surface of the solder powder, a solder composition having a flux component having a high reducing power is required. For example, an activator in the flux component has been studied. (For example, patent document 1).

特開2006−110580号公報JP 2006-110580 A

しかしながら、有機酸などの活性剤を増やすと、はんだのぬれ性は向上する傾向にあるものの、はんだ付け部分に腐食が発生しやすくなるという問題がある。また、はんだ粉末の微粉化により、はんだボールおよび加熱によるだれが生じやすくなるという問題もある。このように、はんだ粉末の微粉化に伴って様々な問題があり、これらの全てを充足できるはんだ組成物はなかった。   However, when the number of active agents such as organic acids is increased, the solder wettability tends to be improved, but there is a problem that corrosion tends to occur at the soldered portion. In addition, there is a problem that solder balls and dripping due to heating are likely to occur due to the pulverization of the solder powder. As described above, there are various problems associated with the pulverization of the solder powder, and there has been no solder composition that can satisfy all of these problems.

そこで、本発明は、平均粒子径が小さいはんだ粉末(例えば、平均粒子径が20μm以下)を用いた場合でも、はんだのぬれ性に優れ、はんだ付け部分での腐食、はんだボールおよび加熱によるだれを十分に抑制できるはんだ組成物、並びにそれを用いた電子基板の製造方法を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention provides excellent solder wettability even when using a solder powder having a small average particle size (for example, an average particle size of 20 μm or less), and prevents corrosion at the soldered portion, solder balls, and heating. It is an object of the present invention to provide a solder composition that can be sufficiently suppressed, and a method for producing an electronic substrate using the same.

前記課題を解決すべく、本発明は、以下のようなはんだ組成物および電子基板の製造方法を提供するものである。
本発明のはんだ組成物は、(A)ロジン系樹脂、(B)活性剤、(C)チクソ剤および(D)溶剤を含有するフラックス組成物と、(E)融点が200℃以上250℃以下であるはんだ粉末とを含有し、前記(B)成分が、(B1)融点が180℃以上220℃以下であり、1分子中に3つ以上のカルボキシル基を有し、かつ1つ以上の芳香環を有する芳香族多価カルボン酸を含有することを特徴とするものである。
In order to solve the above problems, the present invention provides the following solder composition and method for producing an electronic substrate.
The solder composition of the present invention comprises (A) a rosin resin, (B) an activator, (C) a thixotropic agent and (D) a flux composition containing a solvent, and (E) a melting point of 200 ° C. or higher and 250 ° C. or lower. containing the solder powder is, the component (B), (B1) melting point of 220 ° C. or less 180 ° C. or higher, have a three or more carboxyl groups in one molecule and one or more aromatic It contains an aromatic polyvalent carboxylic acid having a ring .

本発明のはんだ組成物においては、前記(B1)成分の配合量が、フラックス組成物100質量%に対して、0.01質量%以上15質量%以下であることが好ましい。
本発明のはんだ組成物においては、前記(B1)成分の融点が180℃以上200℃以下であることが好ましい
発明のはんだ組成物においては、前記(B1)成分が、下記一般式(1)で表される化合物であることが好ましい。
In the solder composition of this invention, it is preferable that the compounding quantity of the said (B1) component is 0.01 to 15 mass% with respect to 100 mass% of flux compositions.
In the solder composition of the present invention, the melting point of the component (B1) is preferably 180 ° C. or higher and 200 ° C. or lower .
In the solder composition of the present invention, the component (B1) is preferably a compound represented by the following general formula (1).

Figure 0006138846
Figure 0006138846

前記一般式(1)中、Xは、それぞれ同一であっても異なっていてもよく、それぞれ独立に、水素、ヒドロキシ基、置換もしくは無置換のアルキル基、置換もしくは無置換のアリール基、置換もしくは無置換のアルケニル基、置換もしくは無置換のアルコキシ基、または、置換もしくは無置換のアシル基を示す。また、Xは、互いに結合して環構造を形成してもよい。
本発明のはんだ組成物においては、前記(B)成分が、(B2)融点が100℃以上200℃以下であるジカルボン酸を、さらに含有することが好ましい。
本発明のはんだ組成物においては、前記(E)成分の平均粒子径が、20μm以下であることが好ましい。
本発明の電子基板の製造方法は、前記はんだ組成物を用いて、電子部品を電子基板に実装することを特徴とするものである。
In the general formula (1), X may be the same or different, and each independently represents hydrogen, a hydroxy group, a substituted or unsubstituted alkyl group, a substituted or unsubstituted aryl group, a substituted or An unsubstituted alkenyl group, a substituted or unsubstituted alkoxy group, or a substituted or unsubstituted acyl group is shown. Xs may be bonded to each other to form a ring structure.
In the solder composition of this invention, it is preferable that the said (B) component further contains (B2) dicarboxylic acid whose melting | fusing point is 100 degreeC or more and 200 degrees C or less.
In the solder composition of the present invention, the average particle diameter before SL component (E) is preferably at 20μm or less.
The method for producing an electronic board according to the present invention is characterized in that an electronic component is mounted on an electronic board using the solder composition.

本発明のはんだ組成物によって、平均粒子径が小さいはんだ粉末を用いた場合でも、はんだのぬれ性に優れ、はんだ付け部分での腐食、はんだボールおよび加熱によるだれを十分に抑制できる理由は必ずしも定かではないが、本発明者らは以下のように推察する。
すなわち、粒子径が小さいはんだ粉末(例えば、はんだ粉末の平均粒子径が20μm以下)を用いた場合に、はんだボールが発生する理由は次の通りであると本発明者らは推察する。つまり、リフロー工程でのプリヒートにおいて、微細なはんだ粉末の表面が酸化して異物となる。これにより、本加熱の際に、はんだ粉末同士の凝集が阻害される。そして、凝集ができなかったはんだ粉末は、フラックス成分とともにランド間に流れだし、これがはんだボールとなるものと本発明者らは推察する。
本発明のフラックス組成物においては、1分子中に3つ以上のカルボキシル基を有し、比較的に活性の強い(B1)成分を含有しており、この(B1)成分によりはんだ粉末の表面の酸化物を除去できる。そして、この(B1)成分は、融点が160℃以上であるため、リフロー工程におけるプリヒートにおいて、チクソ性を付与する成分となり、加熱によるだれを抑制できる。さらに、この(B1)成分は、融点が160℃以上であるため、リフロー工程におけるプリヒートからはんだ溶融までの間にも、チクソ性を付与する成分となり、はんだ粉末の流れだしを抑制できる。また、この(B1)成分は、融点が220℃以下であるため、リフロー工程におけるはんだ溶融時には液体となり、未反応物が残りにくく、はんだ付け部分での腐食も生じにくい。以上のようにして、上記本発明の効果が達成されるものと本発明者らは推察する。
Even when a solder powder having a small average particle diameter is used by the solder composition of the present invention, the reason why it is excellent in solder wettability and can sufficiently suppress corrosion at the soldered portion, solder balls and heating is not necessarily determined. However, the present inventors speculate as follows.
That is, the present inventors speculate that the reason why solder balls are generated when solder powder having a small particle size (for example, the average particle size of solder powder is 20 μm or less) is as follows. That is, in preheating in the reflow process, the surface of the fine solder powder is oxidized and becomes a foreign matter. This inhibits aggregation of the solder powders during the main heating. The present inventors infer that the solder powder that has not been agglomerated flows out between the lands together with the flux component, and this becomes a solder ball.
In the flux composition of the present invention, the (B1) component having three or more carboxyl groups in one molecule and relatively strong activity is contained. The oxide can be removed. And since this (B1) component has melting | fusing point of 160 degreeC or more, it becomes a component which provides thixotropy in the preheating in a reflow process, and can suppress dripping by heating. Furthermore, since this component (B1) has a melting point of 160 ° C. or higher, it becomes a component that imparts thixotropy even during pre-heating to solder melting in the reflow process, and can prevent the solder powder from flowing out. In addition, since the component (B1) has a melting point of 220 ° C. or less, it becomes a liquid when the solder is melted in the reflow process, and unreacted substances hardly remain, and corrosion at the soldered portion hardly occurs. As described above, the present inventors speculate that the effects of the present invention are achieved.

本発明によれば、平均粒子径が小さいはんだ粉末(例えば、平均粒子径が20μm以下)を用いた場合でも、はんだのぬれ性に優れ、はんだ付け部分での腐食、はんだボールおよび加熱によるだれを十分に抑制できるはんだ組成物、並びにそれを用いた電子基板の製造方法を提供できる。 According to the present invention, even when a solder powder having a small average particle diameter (for example, an average particle diameter of 20 μm or less) is used, the solder wettability is excellent, and corrosion at the soldered portion, solder balls and dripping due to heating are prevented. It is possible to provide a solder composition that can be sufficiently suppressed and a method for producing an electronic substrate using the same.

はんだのぬれ性の試験におけるリフロー時の時間と温度との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between time and temperature at the time of reflow in the test of the wettability of a solder. 腐食性の試験方法を説明するために説明図である。It is explanatory drawing in order to demonstrate the test method of corrosivity.

本発明のはんだ組成物は、以下説明するフラックス組成物と、以下説明する(E)はんだ粉末とを含有するものである。   The solder composition of this invention contains the flux composition demonstrated below and the (E) solder powder demonstrated below.

[フラックス組成物]
本発明に用いるフラックス組成物は、はんだ組成物における前記(E)成分以外の成分であり、(A)ロジン系樹脂、(B)活性剤、(C)チクソ剤および(D)溶剤を含有するものである。
[Flux composition]
The flux composition used in the present invention is a component other than the component (E) in the solder composition, and contains (A) a rosin resin, (B) an activator, (C) a thixotropic agent, and (D) a solvent. Is.

前記フラックス組成物の配合量は、はんだ組成物100質量%に対して、5質量%以上35質量%以下であることが好ましく、7質量%以上15質量%以下であることがより好ましく、8質量%以上13質量%以下であることが特に好ましい。フラックス組成物の配合量が5質量%未満の場合(はんだ粉末の配合量が95質量%を超える場合)には、バインダーとしてのフラックス組成物が足りないため、フラックス組成物とはんだ粉末とを混合しにくくなる傾向にあり、他方、フラックス組成物の配合量が35質量%を超える場合(はんだ粉末の配合量が65質量%未満の場合)には、得られるはんだ組成物を用いた場合に、十分なはんだ接合を形成できにくくなる傾向にある。   The blending amount of the flux composition is preferably 5% by mass to 35% by mass, more preferably 7% by mass to 15% by mass, and more preferably 8% by mass with respect to 100% by mass of the solder composition. It is particularly preferable that the content is not less than 13% and not more than 13% by mass. When the blending amount of the flux composition is less than 5% by mass (when the blending amount of the solder powder exceeds 95% by mass), the flux composition as the binder is insufficient, so the flux composition and the solder powder are mixed. On the other hand, when the blending amount of the flux composition exceeds 35% by mass (when the blending amount of the solder powder is less than 65% by mass), when the obtained solder composition is used, It tends to be difficult to form a sufficient solder joint.

[(A)成分]
本発明に用いる(A)ロジン系樹脂としては、ロジン類およびロジン系変性樹脂が挙げられる。ロジン類としては、ガムロジン、ウッドロジン、トール油ロジン、不均化ロジン、重合ロジン、水素添加ロジンおよびこれらの誘導体などが挙げられる。ロジン系変性樹脂としては、ディールス・アルダー反応の反応成分となり得る前記ロジン類の不飽和有機酸変性樹脂((メタ)アクリル酸などの脂肪族の不飽和一塩基酸、フマル酸、マレイン酸等のα,β−不飽和カルボン酸などの脂肪族不飽和二塩基酸、桂皮酸などの芳香族環を有する不飽和カルボン酸等の変性樹脂)およびこれらの変性物などのアビエチン酸、並びに、これらの変性物を主成分とするものなどが挙げられる。これらのロジン系樹脂は1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
[(A) component]
Examples of the (A) rosin resin used in the present invention include rosins and rosin modified resins. Examples of rosins include gum rosin, wood rosin, tall oil rosin, disproportionated rosin, polymerized rosin, hydrogenated rosin, and derivatives thereof. As rosin-based modified resins, unsaturated organic acid-modified resins of the above rosins that can be reactive components of Diels-Alder reactions (aliphatic unsaturated monobasic acids such as (meth) acrylic acid, fumaric acid, maleic acid, etc.) adietic acids such as aliphatic unsaturated dibasic acids such as α, β-unsaturated carboxylic acids, and unsaturated carboxylic acids having an aromatic ring such as cinnamic acid) and abietic acids such as modified products thereof, and these The thing which has a modified substance as a main component is mentioned. These rosin resins may be used alone or in combination of two or more.

前記(A)成分の配合量は、フラックス組成物100質量%に対して、30質量%以上70質量%以下であることが好ましく、35質量%以上60質量%以下であることがより好ましい。(A)成分の配合量が前記下限未満では、はんだ付ランドの銅箔面の酸化を防止してその表面に溶融はんだを濡れやすくする、いわゆるはんだ付性が低下し、はんだボールが生じやすくなる傾向にあり、他方、前記上限を超えると、フラックス残さ量が多くなる傾向にある。   The blending amount of the component (A) is preferably 30% by mass or more and 70% by mass or less, and more preferably 35% by mass or more and 60% by mass or less with respect to 100% by mass of the flux composition. When the blending amount of the component (A) is less than the lower limit, oxidation of the copper foil surface of the soldering land is prevented and the molten solder is easily wetted on the surface, so-called solderability is lowered, and solder balls are easily generated. On the other hand, if the upper limit is exceeded, the amount of residual flux tends to increase.

[(B)成分]
本発明に用いる(B)活性剤は、以下説明する(B1)成分を含有する必要がある。
この(B)成分は、融点が160℃以上220℃以下であり、1分子中に3つ以上のカルボキシル基を有する多価カルボン酸である。
この(B)成分の融点が160℃以上220℃以下の範囲内であれば、はんだ付け部分での腐食、はんだボールおよび加熱によるだれを十分に抑制できる。また、同様の観点から、この(B1)成分の融点は、180℃以上200℃以下であることがより好ましく、190℃以上200℃以下であることが特に好ましい。
また、この(B1)成分における1分子中のカルボキシル基の数が3つ以上であれば、はんだのぬれ性を十分に向上できる。また、同様の観点から、1分子中のカルボキシル基の数は、3つ以上6つ以下であることがより好ましく、3つであることが特に好ましい。
この(B1)成分は、脂肪族多価カルボン酸であっても、芳香族多価カルボン酸であってもよいが、活性作用の観点から、1つ以上の芳香環を有する芳香族多価カルボン酸であることが好ましい。さらに、この(B1)成分における芳香環としては、ベンゼン環、ナフタレン環などが挙げられる。これらの中でも、(B1)成分の融点を低くするという観点から、ベンゼン環が好ましい。
このような(B1)成分としては、例えば、下記一般式(1)で表される化合物が挙げられる。
[Component (B)]
The (B) active agent used for this invention needs to contain the (B1) component demonstrated below.
This (B 1 ) component is a polyvalent carboxylic acid having a melting point of 160 ° C. or higher and 220 ° C. or lower and having three or more carboxyl groups in one molecule.
When the melting point of the component (B 1 ) is in the range of 160 ° C. or higher and 220 ° C. or lower, corrosion at the soldered portion, solder balls, and dripping due to heating can be sufficiently suppressed. Further, from the same viewpoint, the melting point of the component (B1) is more preferably 180 ° C. or higher and 200 ° C. or lower, and particularly preferably 190 ° C. or higher and 200 ° C. or lower.
If the number of carboxyl groups in one molecule in the component (B1) is 3 or more, the wettability of the solder can be sufficiently improved. From the same viewpoint, the number of carboxyl groups in one molecule is more preferably 3 or more and 6 or less, and particularly preferably 3.
This component (B1) may be an aliphatic polyvalent carboxylic acid or an aromatic polyvalent carboxylic acid, but from the viewpoint of an active action, an aromatic polyvalent carboxylic acid having one or more aromatic rings. An acid is preferred. Furthermore, examples of the aromatic ring in the component (B1) include a benzene ring and a naphthalene ring. Among these, a benzene ring is preferable from the viewpoint of lowering the melting point of the component (B1).
Examples of such a component (B1) include compounds represented by the following general formula (1).

Figure 0006138846
Figure 0006138846

前記一般式(1)において、Xは、それぞれ同一であっても異なっていてもよい。また、Xは、それぞれ独立に、水素、ヒドロキシ基、置換もしくは無置換のアルキル基(メチル基、エチル基など)、置換もしくは無置換のアリール基(フェニル基など)、置換もしくは無置換のアルケニル基(エテニル基など)、置換もしくは無置換のアルコキシ基(メトキシ基、エトキシ基など)、または、置換もしくは無置換のアシル基(アセチル基など)を示す。Xは、互いに結合して環構造を形成してもよい。
前記(B1)成分としては、具体的には、ヘミメリット酸などが挙げられる。
In the general formula (1), Xs may be the same or different. X is independently hydrogen, hydroxy group, substituted or unsubstituted alkyl group (such as methyl group or ethyl group), substituted or unsubstituted aryl group (such as phenyl group), or substituted or unsubstituted alkenyl group. (Such as an ethenyl group), a substituted or unsubstituted alkoxy group (such as a methoxy group or an ethoxy group), or a substituted or unsubstituted acyl group (such as an acetyl group). X may combine with each other to form a ring structure.
Specific examples of the component (B1) include hemimellitic acid.

前記(B1)成分の配合量としては、フラックス組成物100質量%に対して、0.01質量%以上15質量%以下であることが好ましく、0.1質量%以上8質量%以下であることがより好ましく、0.5質量%以上4質量%以下であることが更により好ましく、0.8質量%以上2質量%以下であることが特に好ましい。(B1)成分の配合量が前記下限未満では、はんだボールやはんだのだれが発生しやすくなる傾向にあり、他方、前記上限を超えると、フラックス組成物の絶縁性が低下する傾向にある。   The blending amount of the component (B1) is preferably 0.01% by mass or more and 15% by mass or less, and 0.1% by mass or more and 8% by mass or less with respect to 100% by mass of the flux composition. Is more preferably 0.5% by mass or more and 4% by mass or less, and particularly preferably 0.8% by mass or more and 2% by mass or less. When the blending amount of the component (B1) is less than the lower limit, solder balls and solder sagging tend to occur. On the other hand, when the upper limit is exceeded, the insulating property of the flux composition tends to decrease.

前記(B)成分は、(B2)融点が100℃以上200℃以下(より好ましくは120℃以上200℃以下、特に好ましくは160℃以上200℃以下)であるジカルボン酸を、さらに含有することが好ましい。このような(B2)成分によれば、フラックス組成物中の活性剤の流動性をより適切な範囲に調整できるために、(B1)成分の作用を相乗的に高めることができる。
この(B2)成分としては、マロン酸、コハク酸、アジピン酸、スベリン酸、セバシン酸などが挙げられる。これらの中でも、活性作用の観点から、コハク酸、アジピン酸が好ましく、コハク酸がより好ましい。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
The component (B) further contains (B2) a dicarboxylic acid having a melting point of from 100 ° C. to 200 ° C. (more preferably from 120 ° C. to 200 ° C., particularly preferably from 160 ° C. to 200 ° C.). preferable. According to such (B2) component, since the fluidity | liquidity of the active agent in a flux composition can be adjusted to a more suitable range, the effect | action of (B1) component can be improved synergistically.
Examples of the component (B2) include malonic acid, succinic acid, adipic acid, suberic acid, and sebacic acid. Among these, succinic acid and adipic acid are preferable from the viewpoint of the active action, and succinic acid is more preferable. These may be used alone or in combination of two or more.

前記(B2)を用いる場合、(B2)成分の配合量としては、フラックス組成物100質量%に対して、0.1質量%以上5質量%以下であることが好ましく、0.2質量%以上3質量%以下であることがより好ましく、0.5質量%以上2質量%以下であることが特に好ましい。(B2)成分の配合量が前記下限未満では、はんだのだれが発生しやすくなる傾向にあり、他方、前記上限を超えると、フラックス組成物の絶縁性が低下する傾向にある。   When using the (B2), the amount of the component (B2) is preferably 0.1% by mass or more and 5% by mass or less, and 0.2% by mass or more with respect to 100% by mass of the flux composition. It is more preferably 3% by mass or less, and particularly preferably 0.5% by mass or more and 2% by mass or less. If the blending amount of the component (B2) is less than the lower limit, solder dripping tends to occur. On the other hand, if the amount exceeds the upper limit, the insulating property of the flux composition tends to decrease.

前記(B)成分においては、前記(B1)成分と、前記(B1)成分および前記(B2)成分以外のその他の有機酸(以下(B3)成分という)を併用してもよい。
(B3)成分としては、モノカルボン酸、前記(B2)成分以外のジカルボン酸などの他に、前記(B1)成分以外の有機酸が挙げられる。
モノカルボン酸としては、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、ブチリック酸、バレリック酸、カプロン酸、エナント酸、カプリン酸、ラウリル酸、ミリスチン酸、ペンタデシル酸、パルミチン酸、マルガリン酸、ステアリン酸、ツベルクロステアリン酸、アラキジン酸、ベヘニン酸、リグノセリン酸、グリコール酸などが挙げられる。
前記(B2)成分以外のジカルボン酸としては、グルタル酸などが挙げられる。
その他の有機酸としては、ダイマー酸、レブリン酸、乳酸、アクリル酸、安息香酸、サリチル酸、アニス酸、クエン酸、ピコリン酸などが挙げられる。
これらの(B3)成分は1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。なお、これらの(B3)成分の中でも、ダイマー酸を用いることが好ましい。ダイマー酸により、はんだ粉末の再酸化を防止できる傾向があるために、(B1)成分の作用を相乗的に高めることができる。
In the component (B), the component (B1) and another organic acid other than the component (B1) and the component (B2) (hereinafter referred to as component (B3)) may be used in combination.
Examples of the component (B3) include organic acids other than the component (B1) in addition to monocarboxylic acids and dicarboxylic acids other than the component (B2).
Monocarboxylic acids include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, enanthic acid, capric acid, lauric acid, myristic acid, pentadecylic acid, palmitic acid, margaric acid, stearic acid, tuberculostearic acid Arachidic acid, behenic acid, lignoceric acid, glycolic acid and the like.
Examples of the dicarboxylic acid other than the component (B2) include glutaric acid.
Examples of other organic acids include dimer acid, levulinic acid, lactic acid, acrylic acid, benzoic acid, salicylic acid, anisic acid, citric acid, and picolinic acid.
These (B3) components may be used individually by 1 type, and 2 or more types may be mixed and used for them. Of these (B3) components, dimer acid is preferably used. Since dimer acid tends to prevent reoxidation of the solder powder, the action of the component (B1) can be synergistically enhanced.

前記(B3)成分の配合量としては、フラックス組成物100質量%に対して、0.5質量%以上20質量%以下であることが好ましく、1質量%以上15質量%以下であることがより好ましく、5質量%以上15質量%以下であることが特に好ましい。(B3)成分の配合量が前記下限未満では、活性作用が不足する傾向にあり、他方、前記上限を超えると、フラックス組成物の絶縁性が低下する傾向にある。   The blending amount of the component (B3) is preferably 0.5% by mass or more and 20% by mass or less, and more preferably 1% by mass or more and 15% by mass or less with respect to 100% by mass of the flux composition. It is particularly preferably 5% by mass or more and 15% by mass or less. When the blending amount of the component (B3) is less than the lower limit, the active action tends to be insufficient, and when it exceeds the upper limit, the insulating property of the flux composition tends to be lowered.

前記(B)成分においては、前記(B1)成分と、(B4)非解離性のハロゲン化化合物からなる非解離型活性剤とを併用してもよい。この(B4)成分は、前記(B1)成分〜前記(B3)成分の活性作用にほとんど影響を与えずに、(B4)成分としての活性作用を付与できる。   In the component (B), the component (B1) and (B4) a non-dissociative activator comprising a non-dissociable halogenated compound may be used in combination. The component (B4) can impart an active action as the component (B4) without substantially affecting the active action of the components (B1) to (B3).

前記(B4)成分としては、ハロゲン原子が共有結合により結合した非塩系の有機化合物が挙げられる。このハロゲン化化合物としては、塩素化物、臭素化物、ヨウ化物、フッ化物のように塩素、臭素、ヨウ素、フッ素の各単独元素の共有結合による化合物でもよいが、塩素、臭素、ヨウ素およびフッ素の任意の2つまたは全部のそれぞれの共有結合を有する化合物でもよい。これらの化合物は、水性溶媒に対する溶解性を向上させるために、例えばハロゲン化アルコールやハロゲン化カルボキシルのように水酸基やカルボキシル基などの極性基を有することが好ましい。ハロゲン化アルコールとしては、例えば2,3−ジブロモプロパノール、2,3−ジブロモブタンジオール、トランス−2,3−ジブロモ−2−ブテン−1,4−ジオール、1,4−ジブロモ−2−ブタノール、トリブロモネオペンチルアルコールなどの臭素化アルコール、1,3−ジクロロ−2−プロパノール、1,4−ジクロロ−2−ブタノールなどの塩素化アルコール、3−フルオロカテコールなどのフッ素化アルコール、その他これらに類する化合物が挙げられる。ハロゲン化カルボキシルとしては、2−ヨード安息香酸、3−ヨード安息香酸、2−ヨードプロピオン酸、5−ヨードサリチル酸、5−ヨードアントラニル酸などのヨウ化カルボキシル、2−クロロ安息香酸、3−クロロプロピオン酸などの塩化カルボキシル、2,3−ジブロモプロピオン酸、2,3−ジブロモコハク酸、2−ブロモ安息香酸などの臭素化カルボキシル、その他これらに類する化合物が挙げられる。また、これらの化合物としては、トリス(2,3−ジブロモプロピル)イソシアヌレートなども挙げられる。これらの活性剤は1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。   Examples of the component (B4) include non-salt organic compounds in which halogen atoms are bonded by a covalent bond. This halogenated compound may be a compound formed by covalent bonding of single elements of chlorine, bromine, iodine and fluorine, such as chlorinated, brominated, iodide and fluoride, but any of chlorine, bromine, iodine and fluorine may be used. The compound which has each two or all of these covalent bonds may be sufficient. In order to improve the solubility in an aqueous solvent, these compounds preferably have a polar group such as a hydroxyl group or a carboxyl group such as a halogenated alcohol or a halogenated carboxyl. Examples of the halogenated alcohol include 2,3-dibromopropanol, 2,3-dibromobutanediol, trans-2,3-dibromo-2-butene-1,4-diol, 1,4-dibromo-2-butanol, Brominated alcohols such as tribromoneopentyl alcohol, chlorinated alcohols such as 1,3-dichloro-2-propanol and 1,4-dichloro-2-butanol, fluorinated alcohols such as 3-fluorocatechol, and the like Compounds. Examples of the halogenated carboxyl include 2-iodobenzoic acid, 3-iodobenzoic acid, 2-iodopropionic acid, 5-iodosalicylic acid, 5-iodoanthranilic acid, etc., 2-chlorobenzoic acid, 3-chloropropion Examples thereof include carboxyl chloride such as acid, brominated carboxyl such as 2,3-dibromopropionic acid, 2,3-dibromosuccinic acid and 2-bromobenzoic acid, and other similar compounds. Examples of these compounds include tris (2,3-dibromopropyl) isocyanurate. These activators may be used individually by 1 type, and may mix and use 2 or more types.

前記(B4)成分の配合量としては、フラックス組成物100質量%に対して、0.1質量%以上10質量%以下であることが好ましく、0.2質量%以上5質量%以下であることがより好ましく、0.5質量%以上2質量%以下であることが特に好ましい。(B4)成分の配合量が前記下限未満では、はんだ塗れ広がりが低下する傾向にあり、他方、前記上限を超えると、フラックス組成物の絶縁性が低下する傾向にある。   The blending amount of the component (B4) is preferably 0.1% by mass or more and 10% by mass or less, and 0.2% by mass or more and 5% by mass or less with respect to 100% by mass of the flux composition. Is more preferably 0.5% by mass or more and 2% by mass or less. When the blending amount of the component (B4) is less than the lower limit, the solder spread tends to decrease, and when it exceeds the upper limit, the insulating property of the flux composition tends to decrease.

前記(B)成分の合計配合量としては、フラックス組成物100質量%に対して、1質量%以上25質量%以下であることが好ましく、3質量%以上20質量%以下であることがより好ましく、5質量%以上20質量%以下であることが特に好ましい。(B)成分の配合量が前記下限未満では、はんだボールが生じやすくなる傾向にあり、他方、前記上限を超えると、フラックス組成物の絶縁性が低下する傾向にある。   The total amount of the component (B) is preferably 1% by mass or more and 25% by mass or less, and more preferably 3% by mass or more and 20% by mass or less with respect to 100% by mass of the flux composition. It is particularly preferably 5% by mass or more and 20% by mass or less. When the blending amount of the component (B) is less than the lower limit, solder balls tend to be easily formed. On the other hand, when the amount exceeds the upper limit, the insulating property of the flux composition tends to be lowered.

[(C)成分]
本発明に用いる(C)チクソ剤としては、硬化ひまし油、アミド類、カオリン、コロイダルシリカ、有機ベントナイト、ガラスフリットなどが挙げられる。これらのチクソ剤は1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
[Component (C)]
Examples of the (C) thixotropic agent used in the present invention include hardened castor oil, amides, kaolin, colloidal silica, organic bentonite, and glass frit. These thixotropic agents may be used alone or in combination of two or more.

前記(C)成分の配合量は、フラックス組成物100質量%に対して、1質量%以上15質量%以下であることが好ましく、2質量%以上10質量%以下であることがより好ましい。配合量が前記下限未満では、チクソ性が得られず、ダレが生じやすくなる傾向にあり、他方、前記上限を超えると、チクソ性が高すぎて、印刷不良となりやすい傾向にある。   The blending amount of the component (C) is preferably 1% by mass or more and 15% by mass or less, and more preferably 2% by mass or more and 10% by mass or less with respect to 100% by mass of the flux composition. If the blending amount is less than the lower limit, thixotropy cannot be obtained and the sagging tends to occur. On the other hand, if it exceeds the upper limit, the thixotropy tends to be too high and printing tends to be poor.

[(D)成分]
本発明に用いる(D)溶剤としては、公知の溶剤を適宜用いることができる。このような溶剤としては、沸点170℃以上の水溶性溶剤を用いることが好ましい。
このような溶剤としては、例えば、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、ヘキシレングリコール、ヘキシルジグリコール、1,5−ペンタンジオール、メチルカルビトール、ブチルカルビトール、2−エチルヘキシルジグリコール(EHDG)、オクタンジオール、フェニルグリコール、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、テトラエチレングリコールジメチルエーテル(MTEM)が挙げられる。これらの溶剤は1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
[(D) component]
As the solvent (D) used in the present invention, a known solvent can be appropriately used. As such a solvent, a water-soluble solvent having a boiling point of 170 ° C. or higher is preferably used.
Examples of such solvents include diethylene glycol, dipropylene glycol, triethylene glycol, hexylene glycol, hexyl diglycol, 1,5-pentanediol, methyl carbitol, butyl carbitol, and 2-ethylhexyl diglycol (EHDG). , Octanediol, phenyl glycol, diethylene glycol monohexyl ether, tetraethylene glycol dimethyl ether (MTEM). These solvents may be used alone or in combination of two or more.

前記(D)成分の配合量は、フラックス組成物100質量%に対して、20質量%以上60質量%以下であることが好ましく、30質量%以上50質量%以下であることがより好ましい。溶剤の配合量が前記範囲内であれば、得られるはんだ組成物の粘度を適正な範囲に適宜調整できる。   The blending amount of the component (D) is preferably 20% by mass to 60% by mass and more preferably 30% by mass to 50% by mass with respect to 100% by mass of the flux composition. If the blending amount of the solvent is within the above range, the viscosity of the obtained solder composition can be appropriately adjusted to an appropriate range.

[他の成分]
本発明に用いるフラックス組成物には、前記(A)成分、前記(B)成分、前記(C)成分および前記(D)成分の他に、必要に応じて、その他の添加剤、更には、その他の樹脂を加えることができる。その他の添加剤としては、消泡剤、酸化防止剤、改質剤、つや消し剤、発泡剤などが挙げられる。その他の樹脂としては、アクリル系樹脂などが挙げられる。
[Other ingredients]
In addition to the component (A), the component (B), the component (C) and the component (D), the flux composition used in the present invention, if necessary, other additives, Other resins can be added. Examples of other additives include antifoaming agents, antioxidants, modifiers, matting agents, and foaming agents. Examples of other resins include acrylic resins.

[(E)成分]
本発明に用いる(E)はんだ粉末は、鉛フリーはんだ粉末のみからなることが好ましいが、有鉛のはんだ粉末であってもよい。このはんだ粉末におけるはんだ合金としては、スズ(Sn)を主成分とする合金が好ましい。また、この合金の第二元素としては、銀(Ag)、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、ビスマス(Bi)、アンチモン(Sb)などが挙げられる。さらに、この合金には、必要に応じて他の元素(第三元素以降)を添加してもよい。他の元素としては、銅、銀、ビスマス、アンチモン、アルミニウム(Al)、インジウム(In)などが挙げられる。
また、このはんだ粉末は、環境への影響の観点から、鉛フリーはんだ粉末であることが好ましい。ここで、鉛フリーはんだ粉末とは、鉛を添加しないはんだ金属または合金の粉末のことをいう。ただし、鉛フリーはんだ粉末中に、不可避的不純物として鉛が存在することは許容されるが、この場合に、鉛の量は、100質量ppm以下であることが好ましい。
[(E) component]
The solder powder (E) used in the present invention is preferably composed only of lead-free solder powder, but may be lead-containing solder powder. As the solder alloy in the solder powder, an alloy containing tin (Sn) as a main component is preferable. Examples of the second element of the alloy include silver (Ag), copper (Cu), zinc (Zn), bismuth (Bi), and antimony (Sb). Furthermore, you may add another element (after 3rd element) to this alloy as needed. Examples of other elements include copper, silver, bismuth, antimony, aluminum (Al), and indium (In).
Moreover, it is preferable that this solder powder is a lead-free solder powder from a viewpoint of the influence on an environment. Here, the lead-free solder powder refers to a solder metal or alloy powder to which lead is not added. However, it is allowed that lead is present as an inevitable impurity in the lead-free solder powder, but in this case, the amount of lead is preferably 100 mass ppm or less.

鉛フリーのはんだ粉末としては、具体的には、Sn−Ag、Sn−Ag−Cu、Sn−Cu、Sn−Ag−Bi、Sn−Bi、Sn−Ag−Cu−Bi、Sn−Sb、Sn−Zn−Bi、Sn−Zn、Sn−Zn−Al、Sn−Ag−Bi−In、Sn−Ag−Cu−Bi−In−Sb、In−Agなどが挙げられる。これらの中でも、はんだ接合の強度の観点から、Sn−Ag−Cu系のはんだ合金が好ましく用いられている。そして、Sn−Ag−Cu系のはんだの融点は、通常200℃以上250℃以下である。なお、Sn−Ag−Cu系のはんだの中でも、銀含有量が低い系のはんだの融点は、210℃以上250℃以下である。   Specific examples of the lead-free solder powder include Sn-Ag, Sn-Ag-Cu, Sn-Cu, Sn-Ag-Bi, Sn-Bi, Sn-Ag-Cu-Bi, Sn-Sb, Sn. -Zn-Bi, Sn-Zn, Sn-Zn-Al, Sn-Ag-Bi-In, Sn-Ag-Cu-Bi-In-Sb, In-Ag, and the like can be given. Among these, Sn—Ag—Cu-based solder alloys are preferably used from the viewpoint of solder joint strength. The melting point of the Sn—Ag—Cu solder is usually 200 ° C. or higher and 250 ° C. or lower. Note that among the Sn—Ag—Cu solders, the solder having a low silver content has a melting point of 210 ° C. or higher and 250 ° C. or lower.

前記(E)成分の平均粒子径は、通常1μm以上40μm以下であるが、はんだ付けパッドのピッチが狭い電子基板にも対応するという観点から、平均粒子径の上限値は、25μm以下であることが好ましく、20μm以下であることがより好ましく、15μm以下であることが更により好ましく、12μm以下であることが特に好ましい。一方で、平均粒子径の下限値は、特に限定されないが、例えば、2μm以上であってもよく、3μm以上であってもよい。なお、平均粒子径は、動的光散乱式の粒子径測定装置により測定できる。
また、本発明のはんだ組成物によれば、はんだ粉末の平均粒子径が小さい場合でも、はんだのぬれ性に優れ、はんだ付け部分での腐食、はんだボールおよび加熱によるだれを十分に抑制できる。
The average particle diameter of the component (E) is usually 1 μm or more and 40 μm or less. However, from the viewpoint that it can be applied to an electronic substrate having a narrow solder pad pitch, the upper limit value of the average particle diameter is 25 μm or less. Is preferably 20 μm or less, more preferably 15 μm or less, and particularly preferably 12 μm or less. On the other hand, the lower limit value of the average particle diameter is not particularly limited, but may be, for example, 2 μm or more, or 3 μm or more. The average particle size can be measured with a dynamic light scattering type particle size measuring device.
Moreover, according to the solder composition of the present invention, even when the average particle diameter of the solder powder is small, the solder wettability is excellent, and corrosion at the soldered portion, solder balls and dripping due to heating can be sufficiently suppressed.

[はんだ組成物の製造方法]
本発明のはんだ組成物は、上記説明したフラックス組成物と上記説明した(E)はんだ粉末とを上記所定の割合で配合し、撹拌混合することで製造できる。
[Method for producing solder composition]
The solder composition of the present invention can be produced by blending the above-described flux composition and the above-described (E) solder powder in the above-mentioned predetermined ratio and stirring and mixing them.

[電子基板]
次に、本発明の電子基板について説明する。本発明の電子基板は、以上説明したはんだ組成物を用いて電子部品を電子基板(プリント配線基板など)に実装したことを特徴とするものである。そのため、本発明の電子基板では、はんだ付け部分での腐食、はんだボールおよび加熱によるだれを十分に抑制できる。
ここで用いる塗布装置としては、スクリーン印刷機、メタルマスク印刷機、ディスペンサー、ジェットディスペンサーなどが挙げられる。
また、前記塗布装置にて塗布したはんだ組成物上に電子部品を配置し、リフロー炉により所定条件にて加熱して、前記電子部品をプリント配線基板に実装するリフロー工程により、電子部品を電子基板に実装できる。
[Electronic substrate]
Next, the electronic substrate of the present invention will be described. The electronic board of the present invention is characterized in that an electronic component is mounted on an electronic board (such as a printed wiring board) using the solder composition described above. Therefore, in the electronic substrate of the present invention, corrosion at the soldering portion, solder balls, and dripping due to heating can be sufficiently suppressed.
Examples of the coating apparatus used here include a screen printer, a metal mask printer, a dispenser, and a jet dispenser.
In addition, the electronic component is placed on the solder composition applied by the coating device, heated under a predetermined condition by a reflow furnace, and the electronic component is mounted on the printed wiring board by a reflow process. Can be implemented.

リフロー工程においては、前記はんだ組成物上に前記電子部品を配置し、リフロー炉により所定条件にて加熱する。このリフロー工程により、電子部品およびプリント配線基板の間に十分なはんだ接合を行うことができる。その結果、前記電子部品を前記プリント配線基板に実装することができる。
リフロー条件は、はんだの融点に応じて適宜設定すればよい。例えば、Sn−Ag−Cu系のはんだ合金を用いる場合には、プリヒートを温度150〜200℃で60〜120秒行い、ピーク温度を230〜270℃に設定すればよい。
In the reflow process, the electronic component is placed on the solder composition and heated in a reflow furnace under predetermined conditions. By this reflow process, sufficient soldering can be performed between the electronic component and the printed wiring board. As a result, the electronic component can be mounted on the printed wiring board.
What is necessary is just to set reflow conditions suitably according to melting | fusing point of solder. For example, when using a Sn—Ag—Cu-based solder alloy, preheating may be performed at a temperature of 150 to 200 ° C. for 60 to 120 seconds, and a peak temperature may be set to 230 to 270 ° C.

また、本発明のはんだ組成物および電子基板は、前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本発明に含まれるものである。
例えば、前記電子基板では、リフロー工程により、プリント配線基板と電子部品とを接着しているが、これに限定されない。例えば、リフロー工程に代えて、レーザー光を用いてはんだ組成物を加熱する工程(レーザー加熱工程)により、プリント配線基板と電子部品とを接着してもよい。この場合、レーザー光源としては、特に限定されず、金属の吸収帯に合わせた波長に応じて適宜採用できる。レーザー光源としては、例えば、固体レーザー(ルビー、ガラス、YAGなど)、半導体レーザー(GaAs、InGaAsPなど)、液体レーザー(色素など)、気体レーザー(He−Ne、Ar、CO、エキシマーなど)が挙げられる。
Further, the solder composition and the electronic substrate of the present invention are not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
For example, in the electronic board, the printed wiring board and the electronic component are bonded by the reflow process, but the invention is not limited to this. For example, instead of the reflow process, the printed wiring board and the electronic component may be bonded by a process of heating the solder composition using laser light (laser heating process). In this case, the laser light source is not particularly limited, and can be appropriately selected according to the wavelength matched to the metal absorption band. As the laser light source, for example, a solid laser (ruby, glass, YAG, etc.), semiconductor laser (GaAs, InGaAsP, etc.), (such as a dye) liquid laser, a gas laser (He-Ne, Ar, CO 2, etc. excimer) is Can be mentioned.

次に、本発明を実施例および比較例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定されるものではない。なお、実施例および比較例にて用いた材料を以下に示す。
((A)成分)
ロジン系樹脂:水添酸変性ロジン、商品名「パインクリスタルKE−604」、荒川化学工業社製
((B1)成分)
活性剤A:ヘミメリット酸(下記構造式(S1)参照)、融点195℃
(他の成分)
活性剤B:トリメリット酸(下記構造式(S2)参照)、融点229〜231℃
活性剤C:トリメシン酸(下記構造式(S3)参照)、融点300℃超
((B2)成分)
活性剤D:コハク酸、融点185〜187℃
((B3)成分)
活性剤E:ピコリン酸
活性剤F:ダイマー酸、商品名「UNIDYME14」、アリゾナケミカル社製
活性剤G:グルタル酸、融点95〜98℃
((B4)成分)
活性剤H:トランス−2,3−ジブロモ−2−ブテン−1,4−ジオール(TDBD)
((C)成分)
チクソ剤:硬化ひまし油、商品名「ヒマ硬」、KFトレーディング社製
((D)成分)
溶剤A:2−エチルヘキシルジグリコール(EHDG)
溶剤B:テトラエチレングリコールジメチルエーテル(MTEM)
((E)成分)
はんだ粉末:粒子径5〜15μm(平均粒子径10μm)、はんだ融点220℃、はんだ組成Sn/Ag3.0/Cu0.5
(他の成分)
酸化防止剤:ヒンダントフェノール系酸化防止剤、商品名「イルガノックス245」、チバ・ジャパン社製
EXAMPLES Next, although an Example and a comparative example demonstrate this invention further in detail, this invention is not limited at all by these examples. In addition, the material used in the Example and the comparative example is shown below.
((A) component)
Rosin resin: hydrogenated acid-modified rosin, trade name “Pine Crystal KE-604”, manufactured by Arakawa Chemical Industries, Ltd. (component (B1))
Activator A: Hemimellitic acid (see structural formula (S1) below), melting point 195 ° C.
(Other ingredients)
Activator B: trimellitic acid (see the following structural formula (S2)), melting point 229-231 ° C.
Activator C: trimesic acid (see structural formula (S3) below), melting point over 300 ° C. (component (B2))
Activator D: Succinic acid, melting point 185-187 ° C
((B3) component)
Activator E: Picolinic acid Activator F: Dimer acid, trade name “UNIDYME14”, Activator G manufactured by Arizona Chemical Co., Glutaric acid, melting point 95-98 ° C.
((B4) component)
Activator H: trans-2,3-dibromo-2-butene-1,4-diol (TDBD)
((C) component)
Thixotropic agent: Hardened castor oil, trade name “Hima-ko”, manufactured by KF Trading (component (D))
Solvent A: 2-ethylhexyl diglycol (EHDG)
Solvent B: Tetraethylene glycol dimethyl ether (MTEM)
((E) component)
Solder powder: particle size 5-15 μm (average particle size 10 μm), solder melting point 220 ° C., solder composition Sn / Ag3.0 / Cu0.5
(Other ingredients)
Antioxidant: Hindant phenolic antioxidant, trade name “Irganox 245”, manufactured by Ciba Japan

Figure 0006138846
Figure 0006138846

[実施例1]
ロジン系樹脂36質量%、チクソ剤6質量%、溶剤A30質量%、溶剤B14.9質量%、活性剤A0.1質量%、活性剤D0.5質量%、活性剤E0.5質量%、活性剤F6質量%、活性剤G3質量%、活性剤H1質量%、および酸化防止剤2質量%を容器に投入し、プラネタリーミキサーを用いて混合してフラックス組成物を得た。
その後、得られたフラックス組成物11質量%およびはんだ粉末89質量%(合計で100質量%)を容器に投入し、プラネタリーミキサーにて混合することではんだ組成物を調製した。
[Example 1]
Rosin resin 36% by mass, thixotropic agent 6% by mass, solvent A 30% by mass, solvent B 14.9% by mass, activator A 0.1% by mass, activator D 0.5% by mass, activator E 0.5% by mass, activity Agent F6 mass%, activator G 3 mass%, activator H 1 mass%, and antioxidant 2 mass% were put into a container and mixed using a planetary mixer to obtain a flux composition.
Thereafter, 11% by mass of the obtained flux composition and 89% by mass (100% by mass in total) of the solder powder were put into a container and mixed with a planetary mixer to prepare a solder composition.

[実施例2〜5]
表1に示す組成に従い各材料を配合した以外は実施例1と同様にして、はんだ組成物を得た。
[比較例1〜7]
表2に示す組成に従い各材料を配合した以外は実施例1と同様にして、はんだ組成物を得た。
[Examples 2 to 5]
A solder composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that each material was blended according to the composition shown in Table 1.
[Comparative Examples 1 to 7]
A solder composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that each material was blended according to the composition shown in Table 2.

<はんだ組成物の評価>
はんだ組成物の評価(はんだボール、はんだのぬれ性、腐食性、加熱だれ)を以下のような方法で行った。得られた結果を表1および表2に示す。
(1)はんだボール
JIS Z 3284−1994の付属書11に記載の方法に準拠して、はんだボール(ソルダボール)の試験を行う。すなわち、セラミック板(大きさ:50mm×50mm、厚み:0.5mm)を準備し、このセラミック板に、直径6.5mmφの円形のパターン孔を有する厚み0.2mmのメタルマスクを使用し、はんだ組成物を印刷して試験片を得た。試験片を温度260℃に調節されたホットプレートに載せ、はんだ溶融後5秒間保持した。かかる試験片を顕微鏡にて観察し、下記の基準に従って、はんだボールを評価した。
◎:はんだ(粉末)が溶融して、はんだは一つの大きな球となり、周囲にはんだボールがない。
○:はんだ(粉末)が溶融して、はんだは一つの大きな球となり周囲に直径75μm以下のはんだボールが3つ以下である。
×:はんだ(粉末)が溶融して、はんだは一つの大きな球となり周囲に直径75μm以下のはんだボールが4つ以上か、或いは、多数の細かい球が半連続の環状に並んでいる。
××:はんだ(粉末)が溶融していない部分があり、はんだの大きな球の周囲に多数の細かい球が半連続の環状に並んでいる。
(2)はんだのぬれ性
JIS Z 3284−1994の付属書10に記載の方法に準拠して、はんだのぬれ性(ディウェッティング)の試験を行う。すなわち、りん脱酸銅板(大きさ:50mm×50mm、厚み:0.5mm)を準備し、研磨剤で研磨した。このりん脱酸銅板に、直径6.5mmφの円形のパターン孔を有する厚み0.2mmのメタルマスクを使用し、はんだ組成物を印刷して試験片を得た。試験片に対し、図1に示すリフロー条件にて窒素雰囲気下にてリフロー処理を施した。かかる試験片を顕微鏡にて観察し、下記の基準に従って、はんだのぬれ性を評価した。
○:はんだ組成物を塗布した部分はすべて、はんだでぬれた状態である。
△:はんだ組成物を塗布した部分の大半は、はんだでぬれた状態(ディウェッティングも含まれる。)である。
(3)腐食性
JIS Z 3284−1994の付属書4に記載の方法に準拠して、腐食性の試験を行う。すなわち、2枚の銅板(大きさ:50mm×50mm、厚み:0.5mm)を準備し、研磨剤で研磨し、超音波洗浄をした。そして、図2に示すように、銅板の両端5mmの部分でコの字型に曲げたものを第一基板Aとし、両端6mmの部分をコの字型に曲げたものを第二基板Bとした。第二基板Bに、直径6.5mmφの円形のパターン孔を有する厚み0.2mmのメタルマスクを使用し、はんだ組成物Pを印刷した。この第二基板Bに第一基板Aを被せて試験片とする。試験片を温度270℃に調節されたホットプレートに載せ、はんだ溶融後5秒間保持した。かかる試験片を温度40℃、相対湿度90%に設定した恒温恒湿槽内に投入し、96時間放置して、試験後の試験片を得た。試験後の試験片について、第一基板Aおよび第二基板Bでの残さの変色がないか目視で確認を行い、さらに、残さをIPAで洗浄し、銅の変色がないか目視で確認を行い、以下の基準に基づいて、銅箔の変色を評価した。
○:残さおよび銅の変色が無い。
△:残さは無いが、銅面は変色している。
×:残さの変色があり、銅面が変色している。
(4)加熱だれ
JIS Z 3284−1994の付属書8に記載の方法に準拠して、加熱だれの試験を行う。すなわち、銅張積層板(大きさ:80mm×60mm、厚み:1.6mm)を準備し、研磨剤で研磨し、IPAで表面をふいた。そして、この銅張積層板上に、(i)3.0×0.7mmまたは(ii)3.0×1.5mmの2種類のパターンの孔をもち、それを0.1mmステップで配置している2種類のパターン孔をもつ厚み0.2mmのメタルマスクを使用し、はんだ組成物を印刷して試験片を得た。試験片を150℃に設定したオーブン中にて1分間加熱した。かかる試験片を目視にて観察し、2種類のパターンの5列のうち、印刷されたはんだ組成物のすべてが一体にならない最小間隔で、加熱だれを評価した。なお、この最小間隔が小さいほど、加熱だれが良好である。
<Evaluation of solder composition>
Evaluation of the solder composition (solder ball, solder wettability, corrosiveness, heating dripping) was performed by the following method. The obtained results are shown in Tables 1 and 2.
(1) Solder ball The solder ball (solder ball) is tested in accordance with the method described in Appendix 11 of JIS Z 3284-1994. That is, a ceramic plate (size: 50 mm × 50 mm, thickness: 0.5 mm) was prepared, and a 0.2 mm thick metal mask having a circular pattern hole with a diameter of 6.5 mmφ was used for this ceramic plate, and soldering was performed. A test piece was obtained by printing the composition. The test piece was placed on a hot plate adjusted to a temperature of 260 ° C. and held for 5 seconds after the solder was melted. The test piece was observed with a microscope, and the solder balls were evaluated according to the following criteria.
A: Solder (powder) melts, and the solder becomes one large sphere with no solder balls around.
○: The solder (powder) is melted, and the solder becomes one large sphere, and there are three or less solder balls having a diameter of 75 μm or less around.
X: Solder (powder) is melted, and the solder becomes one large sphere, and there are four or more solder balls having a diameter of 75 μm or less, or many fine spheres are arranged in a semi-continuous ring.
XX: There is a portion where the solder (powder) is not melted, and a large number of fine spheres are arranged in a semi-continuous ring around a large solder sphere.
(2) Solder wettability A solder wettability (dewetting) test is performed in accordance with the method described in Appendix 10 of JIS Z 3284-1994. That is, a phosphorous deoxidized copper plate (size: 50 mm × 50 mm, thickness: 0.5 mm) was prepared and polished with an abrasive. A test piece was obtained by printing a solder composition on this phosphorous deoxidized copper plate using a 0.2 mm thick metal mask having a circular pattern hole having a diameter of 6.5 mmφ. The test piece was reflowed in a nitrogen atmosphere under the reflow conditions shown in FIG. The test piece was observed with a microscope, and the wettability of the solder was evaluated according to the following criteria.
○: All the portions to which the solder composition is applied are wet with solder.
(Triangle | delta): Most of the parts which apply | coated the solder composition are the states wet with solder (a dewetting is also included).
(3) Corrosivity Corrosion test is performed according to the method described in Appendix 4 of JIS Z 3284-1994. That is, two copper plates (size: 50 mm × 50 mm, thickness: 0.5 mm) were prepared, polished with an abrasive, and subjected to ultrasonic cleaning. And as shown in FIG. 2, what bent the U-shaped part in the 5 mm part of the copper plate to the U-shape is the 1st board | substrate A, and what bent the 6-mm part of both ends to the U-shape is the 2nd board | substrate B. did. The solder composition P was printed on the second substrate B using a metal mask with a thickness of 0.2 mm having a circular pattern hole with a diameter of 6.5 mmφ. The second substrate B is covered with the first substrate A to form a test piece. The test piece was placed on a hot plate adjusted to a temperature of 270 ° C. and held for 5 seconds after the solder was melted. Such a test piece was put into a constant temperature and humidity chamber set at a temperature of 40 ° C. and a relative humidity of 90%, and left for 96 hours to obtain a test piece after the test. About the test piece after a test, it checks visually whether there is any discoloration of the residue in the 1st board | substrate A and the 2nd board | substrate B, Furthermore, a residue is wash | cleaned with IPA, and it is confirmed visually that there is no discoloration of copper. Based on the following criteria, the discoloration of the copper foil was evaluated.
○: No residue or copper discoloration.
Δ: There is no residue, but the copper surface is discolored.
X: There is discoloration of the residue, and the copper surface is discolored.
(4) Heating Sagging A heating sagging test is performed in accordance with the method described in Appendix 8 of JIS Z 3284-1994. That is, a copper clad laminate (size: 80 mm × 60 mm, thickness: 1.6 mm) was prepared, polished with an abrasive, and the surface was wiped with IPA. And on this copper-clad laminate, there are two types of holes (i) 3.0 x 0.7 mm or (ii) 3.0 x 1.5 mm, which are arranged in 0.1 mm steps. A test piece was obtained by printing a solder composition using a metal mask having a thickness of 0.2 mm having two types of pattern holes. The test piece was heated in an oven set at 150 ° C. for 1 minute. The test piece was visually observed, and the thermal sagging was evaluated at the minimum interval at which all of the printed solder compositions were not integrated in the five rows of the two types of patterns. Note that the smaller the minimum interval, the better the heating droop.

Figure 0006138846
Figure 0006138846

Figure 0006138846
Figure 0006138846

表1および表2に示す結果からも明らかなように、本発明のはんだ組成物(実施例1〜5)は、はんだボール、はんだのぬれ性、腐食性および加熱だれが全て良好であることが確認された。従って、本発明のはんだ組成物は、平均粒子径が小さいはんだ粉末(はんだ組成はスズ−銀−銅系で、はんだの融点は200℃以上250℃以下)を用いた場合でも、はんだのぬれ性に優れ、はんだ付け部分での腐食、はんだボールおよび加熱によるだれを十分に抑制できることが確認された。
これに対し、(B1)成分を含有しないはんだ組成物を用いた場合(比較例1〜7)には、はんだボール、はんだのぬれ性、腐食性および加熱だれのうちのいずれかが不十分となることが分かった。
As is clear from the results shown in Tables 1 and 2, the solder compositions of the present invention (Examples 1 to 5) all have good solder balls, solder wettability, corrosiveness, and heating dripping. confirmed. Therefore, the solder composition of the present invention has solder wettability even when using a solder powder having a small average particle diameter (solder composition is tin-silver-copper system and the melting point of the solder is 200 ° C. or higher and 250 ° C. or lower). It was confirmed that corrosion at the soldering part, solder balls and dripping due to heating can be sufficiently suppressed.
On the other hand, when the solder composition not containing the component (B1) is used (Comparative Examples 1 to 7), any one of the solder ball, the solder wettability, the corrosiveness, and the heating dripping is insufficient. I found out that

本発明のはんだ組成物は、電子機器のプリント配線基板などの電子基板に電子部品を実装するための技術として好適に用いることができる。
The solder composition of the present invention can be suitably used as a technique for mounting an electronic component on an electronic board such as a printed wiring board of an electronic device.

Claims (7)

(A)ロジン系樹脂、(B)活性剤、(C)チクソ剤および(D)溶剤を含有するフラックス組成物と、(E)融点が200℃以上250℃以下であるはんだ粉末とを含有し、
前記(B)成分が、(B1)融点が180℃以上220℃以下であり、1分子中に3つ以上のカルボキシル基を有し、かつ1つ以上の芳香環を有する芳香族多価カルボン酸を含有する
ことを特徴とするはんだ組成物。
(A) A flux composition containing a rosin resin, (B) an activator, (C) a thixotropic agent and (D) a solvent, and (E) a solder powder having a melting point of 200 ° C. or higher and 250 ° C. or lower. ,
The component (B), (B1) or less melting point 220 ° C. 180 ° C. or higher, have a three or more carboxyl groups in a molecule and an aromatic polycarboxylic acid having one or more aromatic rings A solder composition comprising:
請求項1に記載のはんだ組成物において、
前記(B1)成分の配合量が、フラックス組成物100質量%に対して、0.01質量%以上15質量%以下である
ことを特徴とするはんだ組成物。
The solder composition according to claim 1,
A blending amount of the component (B1) is 0.01% by mass or more and 15% by mass or less with respect to 100% by mass of the flux composition.
請求項1または請求項2に記載のはんだ組成物において、
前記(B1)成分の融点が180℃以上200℃以下である
ことを特徴とするはんだ組成物。
In the solder composition according to claim 1 or 2,
The melting point of said (B1) component is 180 degreeC or more and 200 degrees C or less. The solder composition characterized by the above-mentioned.
請求項1〜請求項のいずれか1項に記載のはんだ組成物において、
前記(B1)成分が、下記一般式(1)で表される化合物である
ことを特徴とするはんだ組成物。
Figure 0006138846
(前記一般式(1)中、Xは、それぞれ同一であっても異なっていてもよく、それぞれ独立に、水素、ヒドロキシ基、置換もしくは無置換のアルキル基、置換もしくは無置換のアリール基、置換もしくは無置換のアルケニル基、置換もしくは無置換のアルコキシ基、または、置換もしくは無置換のアシル基を示す。また、Xは、互いに結合して環構造を形成してもよい。)
In the solder composition according to any one of claims 1 to 3 ,
The said (B1) component is a compound represented by following General formula (1). Solder composition characterized by the above-mentioned.
Figure 0006138846
(In the general formula (1), X may be the same or different, and each independently represents hydrogen, a hydroxy group, a substituted or unsubstituted alkyl group, a substituted or unsubstituted aryl group, or a substituted group. Or an unsubstituted alkenyl group, a substituted or unsubstituted alkoxy group, or a substituted or unsubstituted acyl group, and X may be bonded to each other to form a ring structure.)
請求項1〜請求項のいずれか1項に記載のはんだ組成物において、
前記(B)成分が、(B2)融点が100℃以上200℃以下であるジカルボン酸を、さらに含有する
ことを特徴とするはんだ組成物。
In the solder composition according to any one of claims 1 to 4 ,
The component (B) further contains (B2) a dicarboxylic acid having a melting point of 100 ° C. or higher and 200 ° C. or lower.
請求項1〜請求項のいずれか1項に記載のはんだ組成物において
記(E)成分の平均粒子径が、20μm以下である
ことを特徴とするはんだ組成物。
In the solder composition according to any one of claims 1 to 5 ,
The average particle diameter before Symbol (E) component, solder composition, characterized in that at 20μm or less.
請求項1〜請求項のいずれか1項に記載のはんだ組成物を用いて、電子部品を電子基板に実装することを特徴とする電子基板の製造方法An electronic component is mounted on an electronic substrate using the solder composition according to any one of claims 1 to 6 , and a method for manufacturing an electronic substrate.
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