JP6128953B2 - 増幅装置および増幅装置の制御方法 - Google Patents

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Description

この発明は、増幅装置および増幅装置の制御方法に関する。
近年、高出力のレーダ装置および通信機器などに用いられる増幅器において、小型化、低消費電力化、および長寿命化などの観点から、マグネトロンおよびクライストロンなどの電子管から、化合物半導体への置き換えが進んでいる。化合物半導体としては、従来、高出力特性、低雑音特性、および高利得特性を有する、GaAs(ヒ化ガリウム)を用いたFET(Field-Effect Transistor:電界効果トランジスタ)またはHFET(Hetrostructure Field-Effect Transistor:ヘテロ構造電界効果トランジスタ)が用いられてきた。近年では、GaAsを用いたデバイスと比べて、高出力動作、高周波動作、および高温動作が期待できる新たな材料として、GaN(窒化ガリウム)が注目されている。
GaNを用いた増幅器においては、高周波信号を入力する前にゲート電極に負電位を印加し、ドレイン電極に正電位を印加して待機状態とする。待機状態においては、一定のドレイン電流(Idq)が流れる。待機状態となった増幅器の入力端子から高周波信号を入力すると、ゲート電極に印加される電圧が変化する。この電圧の変化により、ゲート・ソース間の電圧が変化し、ソース・ドレイン間の電流を制御することで増幅機能を実現することができる。
増幅器に高周波信号を入力した後に、高周波信号の信号レベルが小さくなった場合または高周波信号の入力が停止された場合に、ドレイン電流が低下するIdqドリフトと呼ばれる現象が起こる。この現象は、高周波信号の信号レベルが小さくなった場合または高周波信号の入力が停止された場合に、バッファ層トラップに電子が捕獲された状態となり、二次元電子層が空乏化するために、発生する。捕獲された電子は時間が経過するとトラップから放出され、ドレイン電流は元の水準に戻る。上記現象が生じて増幅器がドリフト状態となっている間は、ドレイン電流が低下しているため、増幅器の利得も低下する。時間が経過するとドレイン電流は再び上昇するが、十分に回復するまでには、数秒から数十分を要する場合がある。また増幅動作のオンとオフを繰り返す場合、または、入力信号が変化する場合において、安定した増幅器の利得を得ることができない。
特許文献1に開示される利得・歪み特性安定化回路は、高周波信号が供給されていない期間の内、所定の時間、信号増幅用トランジスタのゲート端子に印加される負電位のゲートバイアス電圧を浅くすることで、ハイパワーアンプをドリフト状態から回復させている。
国際公開第2012/111451号
特許文献1に開示される利得・歪み特性安定化回路において所定の時間が長いほど、確実にハイパワーアンプをドリフト状態から回復させることができる。しかし、ドレインバイアス電圧を印加している状態でゲートバイアス電圧を高くするため、所定の時間が長くなるにつれて、待機電流が増加し、消費電力が増加する。
本発明は上述の事情に鑑みてなされたものであり、増幅器をドリフト状態からより速く回復させることを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の増幅装置は、増幅器、ゲートバイアス回路、ドレインバイアス回路、検出回路、および制御部を備える。増幅器は入力信号を増幅して出力する。ゲートバイアス回路は、増幅器のゲート電極に、ゲートバイアス電圧として、負電位である第1の電位、および、接地電位以上の電位である第2の電位、のいずれかを選択して印加する。ドレインバイアス回路は、増幅器のドレイン電極にドレインバイアス電圧を印加する状態と印加しない状態とを切り替える。検出回路は、入力信号の信号レベルの低下を検出する。制御部は、検出回路で入力信号の信号レベルの低下を検出した場合には、ドレインバイアス回路によってドレイン電極にドレインバイアス電圧を印加しない状態に切り替えた後に、ゲートバイアス回路が第2の電位を印加し、ドレインバイアス回路がドレインバイアス電圧を印加しない状態を予め定められた時間継続した後に、ゲートバイアス回路に第1の電位を印加させ、ドレインバイアス回路によってドレイン電極にドレインバイアス電圧を印加する状態に切り替える増幅器は、ゲートバイアス電圧が負電位制御のトランジスタである。
本発明によれば、ゲートバイアス電圧を接地電位以上の値とし、ドレインバイアス電圧を印加しない状態を予め定められた時間継続させることで、増幅器をドリフト状態からより速く回復させることが可能となる。
本発明の実施の形態1に係る増幅装置の構成例を示すブロック図である。 実施の形態1における各電圧および信号の変化を示すタイムチャートである。 実施の形態1に係る増幅装置の異なる構成例を示すブロック図である。 実施の形態1における各電圧および信号の変化を示すタイムチャートである。 実施の形態1に係る増幅装置が行う制御の動作の一例を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態2に係る増幅装置の構成例を示すブロック図である。 実施の形態2における各電圧および信号の変化を示すタイムチャートである。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお図中、同一または同等の部分には同一の符号を付す。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る増幅装置の構成例を示すブロック図である。増幅装置1は、入力端子2から入力された高周波信号を増幅して出力端子3から出力する。増幅装置1は、信号を増幅する増幅器4、増幅器4のゲート電極にゲートバイアス電圧を印加するゲートバイアス回路5、増幅器4のドレイン電極にドレインバイアス電圧を印加するドレインバイアス回路6、入力信号の信号レベルを検出する検出回路7、および信号1、2、3の制御を行う制御部8を備える。増幅器4は、例えばGaN(窒化ガリウム)を材料とするHFET(Hetrostructure Field-Effect Transistor:ヘテロ構造電界効果トランジスタ)である。制御部8は、例えばコンパレータなどを用いて構成することができる。また制御部8は、CPU(Central Processing Unit)および内部メモリなどから構成されるプロセッサ、およびRAM(Random Access Memory)およびフラッシュメモリなどから構成されるメモリを備え、メモリに記憶されている制御プログラムを実行して信号1、2、3の制御を行ってもよい。
ゲートバイアス回路5は、増幅器4のゲート電極に、ゲートバイアス電圧として、第1の電位、または、第1の電位より高く、接地電位以上の電位である第2の電位、のいずれかを選択して印加する。ゲートバイアス回路5は、信号1によってオンとオフが切り替えられるトランジスタ51、信号3によって抵抗値が制御される可変抵抗52、抵抗53、および演算増幅器(以下、オペアンプという)54を備える。トランジスタ51は、信号1に応じて、接地電位または正電位が印加された電源端子10と可変抵抗52との間を導通状態または非導通状態とする。実施の形態1においては、例えば信号1がオンの場合に電源端子10と可変抵抗52との間が導通状態になり、信号1がオフの場合に電源端子10と可変抵抗52との間が非導通状態となる。可変抵抗52は、例えば直列接続された複数の抵抗を備え、信号3に応じたトランジスタのオンとオフの切り替えにより接続点が切り替わることにより、抵抗値が変化する。本実施の形態1においては、例えば信号3がオンの場合に可変抵抗52の抵抗値は高抵抗状態であり、信号3がオフの場合に可変抵抗52の抵抗値は低抵抗状態である。
抵抗53の一端は、負電位が印加された電源端子9に接続され、他端は可変抵抗52に接続される。可変抵抗52と抵抗53の接続点は、オペアンプ54の非反転入力端子に接続される。オペアンプ54の出力端子と反転入力端子は、接続される。図1の例では、ゲートバイアス回路5は、オペアンプ54を用いたボルテージフォロアであり、オペアンプ54の非反転入力端子に印加された電圧をオペアンプ54を介し、増幅器4のゲート電極にゲートバイアス電圧として供給する。
信号1がオン、すなわち電源端子9、10が導通状態である場合には、電源端子9に印加された負電位V1と電源端子10に印加された接地電位または正電位であるV2を、可変抵抗52および抵抗53により分圧した電位が、オペアンプ54の非反転入力端子に印加される。一方、信号1がオフ、すなわち電源端子9、10が非導通状態である場合には、負電位V1がオペアンプ54の非反転入力端子に印加される。負電位V1は増幅器4の増幅動作を停止するためのピンチオフ電圧として用いられる。可変抵抗52および抵抗53の抵抗値によって、オペアンプ54の非反転入力端子に印加される電圧を、V2からV1の範囲で制御することが可能となる。
ドレインバイアス回路6は、増幅器4のドレイン電極にドレインバイアス電圧を印加する状態と印加しない状態を切り替える。ドレインバイアス回路6は、信号2によってオンとオフが切り替えられるトランジスタ61を備える。トランジスタ61は、信号2に応じて、正電位が印加された電源端子11と増幅器4のドレイン電極との間を導通状態または非導通状態とする。実施の形態1においては、例えば信号2がオンの場合に電源端子11と増幅器4のドレイン電極との間が導通状態になり、信号2がオフの場合に電源端子11と増幅器4のドレイン電極との間が非導通状態となる。
高周波信号が入力された後に、入力が停止した場合、または高周波信号の振幅が小さくなった場合には、増幅器4において、バッファ層トラップに電子が捕獲される。検出回路7は、例えば入力信号の振幅が閾値以上である状態から閾値未満に変化した場合に、入力信号の信号レベルが低下したことを検出する。閾値は、増幅器4の特性に応じて任意に定めることができる。検出回路7は、検出結果を制御部8に通知する。制御部8は、検出回路7が、入力信号の信号レベルの低下を検出した場合に、信号2をオンからオフに切り替える。信号2がオンからオフに切り替えられることで、ドレイン電圧が印加されない状態となる。その後、制御部8は、信号3をオンからオフに切り替える。信号3がオンからオフに切り替えられることで、可変抵抗52が低抵抗状態となり、ゲート電圧が増加して接地電位以上の値となる。
ゲート電圧を接地電位以上の値とし、ドレイン電圧が印加されない状態とすることで、増幅器4においてバッファ層トラップに捕獲された電子を放出することが可能となる。そして予め定められた時間が経過した後に、制御部8は、信号3をオフからオンに切り替え、その後に、信号2をオフからオンに切り替える。予め定められた時間は、バッファ層トラップに捕獲された電子を放出するために必要な時間に応じて、任意に定めることができる。上述の動作により、増幅器4をドリフト状態からより速く回復させることが可能となる。
増幅装置1の各部の動作について説明する。図2は、実施の形態1における各電圧および信号の変化を示すタイムチャートである。図2において、横軸が時間であり、縦軸が各電圧および信号電圧の変化を示す。時刻T1までの間は、信号1がオフ、信号2、信号3がオンである。時刻T1までの間は、増幅器4にドレイン電圧V3とゲート電圧V1が印加された状態であり、増幅器4は停止状態である。
時刻T1において、信号1がオンになると、ゲート電圧が負電位である第1の電位Vg1となり、ドレイン電流がIdqとなり、増幅器4は定常状態になる。時刻T2において、高周波信号が入力されると、ドレイン電流はId1まで増加する。その後、時刻T3において高周波信号の入力が停止されると、ドレイン電流はIdqよりも小さいId2まで減少する。時刻T3において、増幅器4のバッファ層トラップに電子が捕獲される。
検出回路7は、時刻T3において入力信号の信号レベルの低下を検出する。制御部8は、検出回路7が入力信号の信号レベルの低下を検出してから一定時間経過後に信号2をオンからオフに切り替える。一定時間は任意に定めることができる。入力信号の信号レベルの低下の検出と同時に信号2がオンからオフに切り替えられるとみなせるように、一定時間を十分に小さい値としてもよい。信号2がオフになると、ドレイン電圧が印加されない状態となる。その後に、制御部8は、信号3をオンからオフに切り替える。信号2をオフにしてから信号3をオフにするまでの時間は、任意に定めることができる。信号3がオフになると、可変抵抗52が低抵抗状態となり、ゲート電圧が接地電位以上の値である第2の電位となる。図2の例では、信号3がオフになると、ゲート電圧は第2の電位Vg2となる。この動作によって、増幅器4のバッファ層トラップに捕獲された電子を放出させることが可能となる。
ゲート電圧が接地電位以上の値であり、ドレイン電圧が印加されない状態を予め定められた時間継続した後に、制御部8は、信号3をオフからオンに切り替える。信号3がオンになると、ゲート電圧は減少し、第1の電位となる。図2の例では、信号3をオンにするとゲート電圧は負電位である第1の電位Vg1となる。その後、制御部8は、信号2をオフからオンに切り替える。信号2がオンになると、ドレイン電圧が印加される状態となる。図2の例では、ドレイン電圧がV3となる。その後ドレイン電流が増加し、定常状態と同じレベルまで回復する。図2の例では、時刻T5において、ドレイン電流がIdqとなる。上述の動作により、増幅器4をドリフト状態から回復させることができる。ゲート電圧を接地電位以上の値とすることで、増幅器4がドリフト状態から回復するまでの時間、図2の例においては時刻T3から時刻T5までの時間、をより短くすることが可能となる。
図3は、実施の形態1に係る増幅装置の異なる構成例を示すブロック図である。ゲートバイアス回路5は、抵抗値が一定である複数の抵抗と、電路を切り替えるスイッチを備え、スイッチを切り替えることにより、第1の電位または第2の電位、のいずれかを選択してもよい。図3に示す増幅装置1が備えるゲートバイアス回路5は、並列に接続された抵抗55、57を備える。制御部8は、信号1、2、4の制御を行う。抵抗55、57にそれぞれ接続されたトランジスタ51、56のオンとオフを信号1、4によって切り替えることで、高抵抗状態と低抵抗状態とを切り替えることができる。
図4は、実施の形態1における各電圧および信号の変化を示すタイムチャートである。図の見方は図2と同様であり、信号1、2の切り替えは図2と同様である。検出回路7は、時刻T3において入力信号の信号レベルの低下を検出する。制御部8は、検出回路7が入力信号の信号レベルの低下を検出してから一定時間経過後に信号2をオンからオフに切り替えた後に、信号4をオフからオンに切り替える。信号2がオフになると、ドレイン電圧が印加されない状態となる。信号4がオンになると、抵抗55、57の合成抵抗が低抵抗状態となり、ゲート電圧が接地電位以上の値である第2の電位となる。図4の例では、信号4がオンになると、ゲート電圧は接地電位より大きい第2の電位Vg2となる。この動作によって、増幅器4のバッファ層トラップに捕獲された電子を放出させることが可能となる。
ゲート電圧が接地電位以上の値であり、ドレイン電圧が印加されない状態を予め定められた時間継続した後に、制御部8は、信号4をオンからオフに切り替える。信号4がオンからオフになると、抵抗55、57の合成抵抗は高抵抗状態となり、ゲート電圧は減少し、第1の電位となる。図4の例では、信号4をオフにするとゲート電圧は負電位である第1の電位Vg1となる。その後、制御部8は、信号2をオフからオンに切り替える。信号2がオンになると、ドレイン電圧が印加される状態となる。図4の例では、ドレイン電圧がV3となる。その後ドレイン電流が増加し、定常状態と同じレベルまで回復する。図4の例では、時刻T5において、ドレイン電流がIdqとなる。上述の動作により、増幅器4をドリフト状態から回復させることができる。ゲート電圧を接地電位以上の値とすることで、増幅器4がドリフト状態から回復するまでの時間、図4の例においては時刻T3から時刻T5までの時間、をより短くすることが可能となる。
図5は、実施の形態1に係る増幅装置が行う制御の動作の一例を示すフローチャートである。図1に示す増幅装置1を用いて説明する。検出回路7は、入力信号のレベルの低下を検出しない場合には(ステップS110;N)、ステップS110の処理を繰り返す。検出回路7が入力信号のレベルの低下を検出した場合には(ステップS110;Y)、制御部8は、信号2をオフにしてドレイン電圧が印加されない状態とし、信号3をオフにしてゲート電圧を接地電位以上の値である第2の電位にする(ステップS120)。予め定められた時間が経過していない場合には(ステップS130;N)、ステップS130の処理を繰り返す。予め定められた時間が経過した場合には(ステップS130;Y)、制御部8は、信号3をオンにしてゲート電圧を第1の電位にし、信号2をオンにしてドレイン電圧が印加される状態にする(ステップS140)。
以上説明したとおり、実施の形態1に係る増幅装置1によれば、ゲートバイアス電圧が接地電位以上の値であり、ドレインバイアス電圧が印加されない状態を予め定められた時間継続させることで、増幅器4をドリフト状態からより速く回復させることが可能となる。
(実施の形態2)
図6は、本発明の実施の形態2に係る増幅装置の構成例を示すブロック図である。ゲートバイアス回路5は、オペアンプ54とオペアンプ54の入力端子に電圧を印加する状態と印加しない状態とを切り替えるスイッチを備え、スイッチを切り替えることにより、第1の電位または第2の電位、のいずれかを選択してもよい。実施の形態2に係る増幅装置1が備えるゲートバイアス回路5は、トランジスタ51と抵抗53に接続された抵抗55を備える。実施の形態2においては、例えば信号1がオンの場合に電源端子10と抵抗55との間が導通状態になり、信号1がオフの場合に電源端子10と抵抗55との間が非導通状態となる。抵抗53、55の接続点はトランジスタ58を介してオペアンプ54の非反転入力端子に接続され、オペアンプ54の出力端子は抵抗59を介して接地されている。トランジスタ58は、信号5に応じて、抵抗53、55の接続点とオペアンプ54の非反転入力端子との間を導通状態または非導通状態とする。実施の形態2においては、例えば信号5がオンの場合に抵抗53、55の接続点とオペアンプ54の非反転入力端子との間が導通状態になり、信号5がオフの場合に抵抗53、55の接続点とオペアンプ54の非反転入力端子との間が非導通状態となる。制御部8は、信号1、2、5の制御を行う。
信号1がオン、すなわち電源端子9、10が導通状態であり、信号5がオン、すなわち抵抗53、55の接続点とオペアンプ54が導通状態である場合には、電源端子9に印加された負電位V1と電源端子10に印加された接地電位または正電位であるV2を、抵抗53、55により分圧した電位が、オペアンプ54の非反転入力端子に印加される。一方、信号1がオフ、すなわち電源端子9、10が非導通状態であり、信号5がオン、すなわち抵抗53、55の接続点とオペアンプ54が導通状態である場合には、負電位V1がオペアンプ54の非反転入力端子に印加される。負電位V1は増幅器4の増幅動作を停止するためのピンチオフ電圧として用いられる。抵抗53、55の抵抗値によって、オペアンプ54の非反転入力端子に印加される電圧を、V2からV1の範囲で制御することが可能となる。また信号5をオフにすることで、オペアンプ54の非反転入力端子の電位をオープン状態とすることができる。
実施の形態1と同様に、高周波信号が入力された後に、入力が停止した場合、または高周波信号の振幅が小さくなった場合には、増幅器4において、バッファ層トラップに電子が捕獲される。検出回路7は、例えば入力信号の振幅が閾値以上である状態から閾値未満に変化した場合に、入力信号の信号レベルが低下したことを検出する。制御部8は、検出回路7が入力信号の信号レベルの低下を検出した場合に、信号2をオンからオフに切り替える。信号2がオンからオフに切り替えられることで、ドレイン電圧が印加されない状態となる。その後、制御部8は、信号5をオンからオフに切り替える。信号5がオンからオフに切り替えられることで、ゲート電圧が接地電位となる。
ゲート電圧を接地電位とし、ドレイン電圧が印加されない状態とすることで、増幅器4においてバッファ層トラップに捕獲された電子を放出することが可能となる。そして予め定められた時間が経過した後に、制御部8は、信号5をオフからオンに切り替え、その後に、信号2をオフからオンに切り替える。予め定められた時間は、バッファ層トラップに捕獲された電子を放出するために必要な時間に応じて、任意に定めることができる。上述の動作により、増幅器4をドリフト状態からより速く回復させることが可能となる。
図7は、実施の形態2における各電圧および信号の変化を示すタイムチャートである。図の見方は図2と同様であり、信号1、2の切り替えは図2と同様であり、信号5の切り替えは図2の信号3と同様である。時刻T3までの動作は実施の形態1と同様であるので、時刻T3以降の増幅装置1の動作について説明する。
検出回路7は、時刻T3において入力信号の信号レベルの低下を検出する。制御部8は、検出回路7が入力信号の信号レベルの低下を検出してから一定時間経過後に信号2をオンからオフに切り替える。信号2がオフになると、ドレイン電圧が印加されない状態となる。その後に、制御部8は、信号5をオンからオフに切り替える。信号5がオフになると、オペアンプ54の非反転入力端子の電位がオープン状態となり、ゲート電圧が接地電位となる。この動作によって、増幅器4のバッファ層トラップに捕獲された電子を放出させることが可能となる。
ゲート電圧が接地電位であり、ドレイン電圧が印加されない状態を予め定められた時間継続した後に、制御部8は、信号5をオフからオンに切り替える。信号5がオンになると、ゲート電圧は減少し、第1の電位となる。図7の例では、信号5をオンにするとゲート電圧は負電位である第1の電位Vg1となる。その後、制御部8は、信号2をオフからオンに切り替える。信号2がオンになると、ドレイン電圧が印加される状態となる。図7の例では、ドレイン電圧がV3となる。その後ドレイン電流が増加し、定常状態と同じレベルまで回復する。図7の例では、時刻T5において、ドレイン電流がIdqとなる。上述の動作により、増幅器4をドリフト状態から回復させることができる。ゲート電圧を接地電位とすることで、増幅器4がドリフト状態から回復するまでの時間、図7の例においては時刻T3から時刻T5までの時間、をより短くすることが可能となる。実施の形態2に係る増幅装置1が行う制御の動作は、図5に示す実施の形態1に係る増幅装置1が行う制御の動作と同じである。
以上説明したとおり、実施の形態2に係る増幅装置1によれば、ゲートバイアス電圧が接地電位であり、ドレインバイアス電圧が印加されない状態を予め定められた時間継続させることで、増幅器をドリフト状態からより速く回復させることが可能となる。
本発明の実施の形態は上述の実施の形態に限られない。上述の実施の形態における回路構成例は一例である。
1 増幅装置、2 入力端子、3 出力端子、4 増幅器、5 ゲートバイアス回路、6 ドレインバイアス回路、7 検出回路、8 制御部、9、10、11 電源端子、51、56、58、61 トランジスタ、52 可変抵抗、53、55、57、59 抵抗、54 演算増幅器(オペアンプ)。

Claims (5)

  1. 入力信号を増幅して出力する増幅器と、
    前記増幅器のゲート電極に、ゲートバイアス電圧として、負電位である第1の電位、および、接地電位以上の電位である第2の電位、のいずれかを選択して印加するゲートバイアス回路と、
    前記増幅器のドレイン電極にドレインバイアス電圧を印加する状態と印加しない状態とを切り替えるドレインバイアス回路と、
    前記入力信号の信号レベルの低下を検出する検出回路と、
    前記検出回路で前記入力信号の信号レベルの低下を検出した場合には、前記ドレインバイアス回路によって前記ドレイン電極に前記ドレインバイアス電圧を印加しない状態に切り替えた後に、前記ゲートバイアス回路が前記第2の電位を印加し、前記ドレインバイアス回路が前記ドレインバイアス電圧を印加しない状態を予め定められた時間継続した後に、前記ゲートバイアス回路に前記第1の電位を印加させ、前記ドレインバイアス回路によって前記ドレイン電極に前記ドレインバイアス電圧を印加する状態に切り替える制御部と、
    を備え
    前記増幅器は、前記ゲートバイアス電圧が負電位制御のトランジスタである、
    増幅装置。
  2. 前記ゲートバイアス回路は、可変抵抗を備え、前記可変抵抗の抵抗値を切り替えることにより、前記第1の電位または前記第2の電位、のいずれかを選択し、
    前記ドレインバイアス回路は、前記ドレインバイアス電圧を印加する状態と印加しない状態とを切り替えるスイッチを備える、
    請求項1に記載の増幅装置。
  3. 前記ゲートバイアス回路は、抵抗値が一定である複数の抵抗と、電路を切り替えるスイッチを備え、前記スイッチを切り替えることにより、前記第1の電位または前記第2の電位、のいずれかを選択し、
    前記ドレインバイアス回路は、前記ドレインバイアス電圧を印加する状態と印加しない状態とを切り替えるスイッチを備える、
    請求項1に記載の増幅装置。
  4. 前記ゲートバイアス回路は、演算増幅器と前記演算増幅器の入力端子に電圧を印加する状態と印加しない状態とを切り替えるスイッチを備え、前記スイッチを切り替えることにより、前記第1の電位または前記第2の電位、のいずれかを選択し、
    前記ドレインバイアス回路は、前記ドレインバイアス電圧を印加する状態と印加しない状態とを切り替えるスイッチを備える、
    請求項1に記載の増幅装置。
  5. ゲートバイアス電圧が負電位制御のトランジスタを、入力信号を増幅して出力する増幅器として備える増幅装置の制御方法であって、
    前記入力信号の信号レベルの低下を検出する検出ステップと、
    前記検出ステップで前記入力信号の信号レベルの低下を検出した場合には、前記増幅器のドレイン電極にドレインバイアス電圧を印加しない状態にした後に、前記増幅器のゲート電極に印加されるゲートバイアス電圧を接地電位以上の値である電位とし、前記増幅器のドレイン電極に前記ドレインバイアス電圧を印加しない状態を予め定められた時間継続した後に、前記ゲートバイアス電圧を負電位とし、前記ドレインバイアス電圧を印加する制御ステップを備える、
    増幅装置の制御方法。
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