JP6127321B2 - 軸体処理装置 - Google Patents

Description

この発明は、ネジ、釘などの頭部を有する軸体に対し検査などの処理を行うための装置に関するものである。

図１９に、頭部および小径部を有する軸体を検査するための従来の検査装置を上部から見たときの概要を示す。検査対象である軸体２（ネジなど）が、搬送ガイド４に頭部を支えられて、矢印６の方向に搬送されてくる。この搬送ガイド４の先端部には、軸体２を個別に保持するための凹部８を有する軸体保持円盤１０が設けられている。軸体保持円盤１０は、矢印１２の方向に回転している。

図に示す状態から、軸体保持円盤１０が回転し、搬送ガイド４の搬送中心線１４が凹部８の中心近傍に来ると、ノズル（図示せず）から空気が放出され、搬送ガイド４の先端にある軸体２を、凹部８の方向に移動させる。これにより、軸体２は、１個ずつ軸体保持円盤１０の凹部８に保持される。

軸体保持円盤１０によって保持された軸体２は、検査部１６によって寸法などが検査される。検査の結果が不良であった軸体２は、ノズル１８によって不良品回収通路２０に落とされる。検査の結果が良好であった軸体２は、ノズル２２によって良品回収通路２４に落とされる。このようにして、軸体の良品と不良品を選別することができる。

検査部１６においては、例えば、図２０Ｂに示すように上方向および横方向からカメラ３０、３１によって、軸体２が撮像される。撮像された軸体２の画像は、画像処理回路（図示せず）によって長さ、ネジのピッチなどが計測されて検査される。なお、図２０Ｂは、図１９のβ方向から見た図である。図２０Ａは、図１９のα方向から見た図である。

図２０Ａに示すように、軸体２がスプリングワッシャ付きのネジである場合、傾いた状態にて軸体保持円盤１０に保持されることになる。すなわち、カメラ３１に対して左右に傾いた状態となる。カメラ３１によって撮像された画像において、軸体２が左右に傾いていたとしても、ねじのピッチなどの計測には影響は少ないので問題はない。しかし、図２０Ｂに示すように、カメラ３１に対して前後の方向に軸体２が傾いた場合には、ネジのピッチなどの計測を正確に行うことができない。

このような問題を解決するため、特許文献１には、図２１に示すような構成が示されている。図２１Ａに示すように、板状部材３３によって軸体２（ネジ）を上部に持ち上げ、バネ３７によって付勢された押圧部材３５によって軸体２（ネジ）を押している。これにより、軸体２（ネジ）を直立させるようにしている。

特開２００７−５５７６３

しかしながら、特許文献１の装置では、軸体２の小径部を押圧部材３６によって押圧する必要があるため、軸体保持円盤１０の凹部８から軸体２の側面が突出していなければならない。したがって、搬送ガイド４から凹部８に軸体２を移動させる際に、軸体２が凹部８にしっかりと保持されず脱落する可能性が大きくなってしまう。

この発明は、上記のような問題点を解決して、軸体の傾きを矯正することができるとともに、軸体２を凹部８に確実に保持することのできる装置を提供することを目的とする。

(1)この発明に係る軸体処理装置は、頭部と当該頭部より小径の小径部とを有する軸体の小径部を取り囲み、頭部を支えるための凹部が設けられ、所定方向に移動する軸体保持部と、軸体保持部によって保持され移動される軸体に対する処理を行うため、軸体保持部の移動経路近傍に設けられた処理部と、処理部において、軸体保持部に保持された軸体の傾きを矯正するため、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすように軸体の小径部に当接するよう設けられた下側矯正部材とを備えている。

したがって、軸体の傾きを矯正した状態にて処理を行うことができる。

(2)この発明に係る軸体処理装置は、軸体保持部は回転する円盤を備えて構成され、当該円盤の外周部に前記凹部が設けられており、処理部は、前記円盤の外周側から軸体を撮像するカメラを有し、下部矯正部材は、前記円盤の内周側に設けられていることを特徴としている。

したがって、カメラに対しての前後方向の傾きを矯正した状態で、撮像を行うことができる。に
(3)この発明に係る軸体処理装置は、下部矯正部材は、透光性を有する本体部材を備えて構成されていることを特徴としている。

したがって、下部矯正部材によって照明光が遮られず、好ましい状態にて撮像を行うことができる。

(4)この発明に係る軸体処理装置は、下部矯正部材の中央部を空洞とすること、または下部矯正部材を透光性のある部材によって構成することによって、透光性を実現していることを特徴としている。

(5)この発明に係る軸体処理装置は、下部矯正部材は、上下方向に複数個設けられていることを特徴としている。

したがって、長さの異なる軸体に対しても、適切に傾きを矯正することができる。

(6)この発明に係る傾き矯正方法は、頭部と当該頭部より小径の小径部とを有する軸体を、前記頭部によって吊り下げて支持しながら所定方向に移動し、前記吊り下げて支持された軸体の小径部に当接するよう設けられた下側矯正部材により、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすようにし、傾きを矯正された軸体に対する処理を行うことを特徴としている。

したがって、軸体の傾きを矯正した状態にて処理を行うことができる。

(7)この発明に係る軸体処理装置は、頭部と当該頭部より小径の小径部とを有する軸体の小径部を取り囲み、頭部を支えるための凹部が設けられ、所定方向に移動する軸体保持部と、軸体保持部によって保持され移動される軸体に対する処理を行うため、軸体保持部の移動経路近傍に設けられた処理部と、処理部において、軸体保持部に保持された軸体の傾きを矯正するため、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすように軸体の頭部に当接するよう設けられた上側矯正部材とを備えている。

したがって、軸体の傾きを矯正した状態にて処理を行うことができる。

(8)この発明に係る軸体処理装置は、軸体保持部は回転する円盤を備えて構成され、当該円盤の外周部に前記凹部が設けられており、処理部は、前記円盤の外周側から軸体を撮像するカメラを有し、上部矯正部材は、前記円盤の内周側に設けられていることを特徴としている。

したがって、カメラに対しての前後方向の傾きを矯正した状態で、撮像を行うことができる。に
(9)この発明に係る軸体処理装置は、上部矯正部材は、前記軸体の頭部に接する円形の回転体を備えていることを特徴としている。

したがって、適切に傾きを矯正することができる。

(10)この発明に係る軸体処理装置は、頭部と当該頭部より小径の小径部とを有する軸体を、前記頭部によって吊り下げて支持しながら所定方向に移動し、前記吊り下げて支持された軸体の頭部に当接するよう設けられた上側矯正部材により、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすようにし、傾きを矯正された軸体に対する処理を行うことを特徴としている。

したがって、軸体の傾きを矯正した状態にて処理を行うことができる。

「軸体搬送部」とは、軸体を搬送して軸体保持部に与える機能を有するものをいい、頭部を保持して搬送するものに限らず本体部や全体を保持して搬送するものも含む概念である。実施形態では、搬送ガイド３４がこれに該当する。

「軸体保持部」とは、軸体を保持して処理部に移動させる機能を有するものをいい、頭部を保持して移動させるものに限らず本体部や全体を保持して移動させるものも含む概念である。実施形態では、軸体保持円盤４２がこれに該当する。

「処理部」とは、軸体保持部に保持されて移動されてきた軸体に対して何らかの処理を行う機能を有するものをいう。また、「処理」とは、軸体に対する塗装などの加工だけでなく、検査なども含む概念である。実施形態では、寸法センサ７６、カメラ７９、８０などがこれに該当する。

「検査部の検査結果」とは、センサなどからの出力を判断した結果だけでなく、センサなどの出力自体も含む概念である。実施形態では、図１５のテーブルにおける良否判断がこれに該当する。

この発明の一実施形態による軸体検査装置の平面図である。 軸体保持円盤４２の凹部４４の詳細を示す図である。 センサ７０の詳細を示す図である。 センサ８２の詳細を示す図である。 撮像部１６近傍を示す図である。 照明部１７の詳細を示す図である。 照明部１７の詳細を示す図である。 下部矯正部材２７と移動する軸体３２の本体部３２ａとの関係を示す図である。 ネジ３２の傾きが矯正される状況を示す図である。 制御部８４の詳細を示す図である。 制御プログラム１０６のフローチャートである。 制御プログラム１０６のフローチャートである。 制御プログラム１０６のフローチャートである。 制御プログラム１０６のフローチャートである。 凹部４４に対して付されたインデックスＩＤを例として示す図である。 処理テーブルを示す図である。 良品回収通路９４の詳細を示す図である。 照明部１７、下部矯正部材２７の移動調整機構を示す図である。 他の実施形態による下部矯正部材２７を示す図である。 従来の軸体検査装置の平面図である。 従来の軸体検査装置におけるネジ３の傾きを示す図である。 従来の軸体検査装置におけるネジ３の傾きを修正するための機構である。

１．構造
図１に、この発明の一実施形態による軸体検査装置を示す。軸体搬送部である搬送ガイド３４は、左右ガイド部材３４ａ、３４ｂの間にガイド空間３６を有している。ガイド空間３６の幅は、検査対象であるネジ３２の頭部３２ａより狭く、ネジ３２の本体部３２ｂより広く構成されている。また、搬送ガイド３４は、矢印３８の方向に向かって、徐々に低くなるように構成されている。

したがって、ネジ３２は、頭部３２ａをガイド部材３４ａ、３４ｂによって支えられながら、搬送中心線４０に沿って、矢印３８の方向に搬送されることになる。

搬送ガイド３４の先端部近傍には、軸体保持円盤４２が設けられている。軸体保持円盤４２は、モータなどの駆動手段（図示せず）により、矢印４６の方向に回転させられる。軸体保持円盤４２の外周には、所定間隔にて凹部４４が設けられている。図２に示すように、凹部４４の幅Ｗは、ネジ３２の頭部３２ａより狭く、ネジ３２の本体部３２ｂより広く構成されている。したがって、凹部４４によって、ネジ３２の頭部３２ａを支えることが可能となっている。また、凹部４４の深さＤは、ネジ３２の本体部３２ｂの径より大きく形成されている。したがって、凹部４４により、確実にネジ３２を保持することができる。また、搬送ガイド３４から凹部４４にネジ３２を移動させる場合に、確実に凹部４４によってネジ３２を保持することができる。

図１に戻って、搬送ガイド３４の先端部近傍には空気を吹き付けるためのノズル８６が設けられている。ネジ３２が搬送ガイド３４の先端部付近まで来ると、ノズル８６から空気が吹き付けられ、ネジ３２は軸体保持円盤４２の凹部４４に飛ばされる。このようにして、ネジ３２は搬送ガイド３４から軸体保持円盤４２に移動させられる。

図１に戻って、軸体保持円盤４２の外周上には、凹部４４にネジ３２が保持されているかどうかを判断するための光センサ７０、７２、７４が設けられている。光センサ７０の詳細を、図３に示す。発光素子７０ａに対向するように受光素子７０ｂが設けられている。したがって、凹部４４にネジ３２が保持されていれば、発光素子７０ａからの光が遮られ、保持されていなければ、発光素子７０ａからの光は遮られない。これにより、受光素子７０ｂからの出力があれば（受光すれば）ネジ３２が保持されておらず、出力がなければ（受光しなければ）ネジ３２が保持されていると判断することができる。他の光センサ７２、７４も同様の構成である。

図１に戻って、インデックス用の光センサ８２も設けられている。図４に、光センサ８２の詳細を示す。発光素子８２ａと受光素子８２ｂが、軸体保持円盤４２を挟むように設けられている。凹部４４の部分においては受光素子８２ｂが光を受光し、凹部４４の内部分においては受光素子８２ｂが光を受光しない。したがって、受光素子７０ｂからの出力があれば（受光すれば）凹部４４であり、出力がなければ（受光しなければ）凹部４４でないと判断することができる。

これら光センサ７０、７２、７４、８２の出力は、制御部８４に与えられている。

図１に戻って、軸体保持円盤４２の上には、頭部３２ａの長さを計測するための寸法センサ７６が設けられている。同様に、本体部３２ｂの長さを計測するための寸法センサ７８が、軸体保持円盤４２の下に設けられている。

ネジ３２を上部から測定するカメラ７９、側面から測定するカメラ８０が設けられている。これらカメラ７９、８０により、ネジ３２の頭部の詳細な寸法、ねじ山ピッチなどを計測することができる。図５に、撮像部１６の詳細を示す。

撮像部１６には、図６ａ、図６ｂに示すような円柱部材で構成された照明部１７が設けられている。照明部１７の底部にはＬＥＤライト８１が設けられている。ＬＥＤライト８１は、ネジ３２が円柱の中心にきた時点で点灯するように制御される。

撮像部１６の正面には撮像用の開口２１が設けられ、カメラ８０（図５参照）による撮像を可能としている。撮像部１６の左右には、ネジ３２を通過させるための開口２３、２５が設けられている。したがって、軸体保持円盤４２に保持されたネジ３２は、開口２３から撮像部１６内に導かれ、開口２５から撮像部１６の外に出される。

撮像部１６の奥側には、下側矯正部材２７が設けられている。下側矯正部材２７は、当接面２７ａによってネジ３２の本体部３２ｂに当接し、奥側に傾いたネジ３２を真っ直ぐにする。なお、当接面２７ａは、ネジ３２の進行とともに徐々に傾きを修正するための斜辺２７２と、傾きを矯正した状態を所定間隔の間保つための保持辺２７１を備えている（図７参照）。

図７に、真っ直ぐに保持されたネジ３２の本体部３２ｂの奥側（内側）の面の軌跡１００と、当接面２７ａとの関係を示す。カメラ８０の光軸（撮像方向）１０２と軌跡１００と当接面２７ａが、ほぼ一点で交わるように互いの位置関係が決められている。したがって、ネジ３２は、カメラ８０で撮像する際に傾きが矯正される。つまり、図８Ａに示すようにネジ３２が奥側（内側）に傾いていても、撮像の位置（光軸１０２）に来ると、図８Ｃに示すようにネジ３２の本体部３２ｂに下側矯正部材２７が当接して傾きを矯正する。

なお、この実施形態では、異なる長さのネジ３２の傾きを適切に矯正できるように、下側矯正部材２７が縦方向に複数個設けられている（図６ａ参照）。また、下側矯正部材２７は、図６ａ、図６ｂ、図７に示すように、中央部分に空洞２７５が形成されている。これにより、ＬＥＤライト８１の光を遮らないようになっている。なお、この実施形態では、下側矯正部材２７をステンレス材にて構成しているが、下側矯正部材２７を透明部材にて構成してもよい。

図５に示すように、軸体保持円盤４２の上側には、円形の上側矯正部材１０４が設けられている。上側矯正部材１０４は、ステー１０６に対して、軸１０８を中心として回転可能に取り付けられている。上側矯正部材１０４は、ネジ３２の頭部３２ａに当接して、光軸１０２上において、ネジ３２の傾きを矯正するように構成されている。

たとえば、図８Ｂに示すように、ネジ３２の本体部３２ｂが手前側（外側）に傾いている場合には、図８Ｃに示すように、頭部３２ａに上部矯正部材１０４が当接して傾きを矯正する。

なお、この実施形態では、上側矯正部材１０４として回転可能な円盤状の部材を用いている。したがって、頭部３２ａに接する際に無理な力がかからず、安定したネジ３２の搬送と矯正を実現することができる。

図１に戻って、カメラ７９、８０による撮像時には、下部の光源８１（図６ａ、図６ｂ参照）が発光されるようになっている。

なお、寸法センサ７６、７８、カメラ７９、８０の出力は、制御部８４に与えられている。

また、搬送ガイド３４の先端部近傍には、空気を吹き付けるためのノズル８６が設けられている。このノズル８６は、制御部８４によって制御され、ネジ３２を凹部４４に押しやる力を与える。

また、軸体保持円盤４２上には、不良品のネジ３２を不良品回収通路９２に落とすための不良品脱落ノズル８８、良品のネジ３２を良品回収通路９４に落とすための良品脱落ノズル９０が設けられている。

図９に制御回路の詳細を示す。ＣＰＵ１００には、操作用のタッチパネル１０２、記録装置１０４、ノズル８６、８８、９０、センサ７０、７２、７４、インデックス用センサ８２、寸法センサ７６、７８、カメラ７９、８０、光源８１が接続されている。記録装置１０４には、各部を制御するための制御プログラム１０６が記録されている。

２．検査処理
制御プログラム１０６のフローチャートを図１０〜図１３に示す。なお、以下では、各処理が順次行われるように記載しているが、並列して処理を行うようにしてもよい。ＣＰＵ１００は、インデックス用センサ８２が凹部４４を検出したかどうかを判断する（ステップＳ１）。凹部４４を検出すると、当該凹部にインデックスＩＤを付す（ステップＳ２）。たとえば、図１４に示すように、軸体保持円盤４２に３０個の凹部４４が設けられていた場合、１〜３０までのインデックスＩＤが、各凹部４４に付されることになる。

図１４に示すように、インデックス用センサ８２と、ネジ３２が搬送ガイド３４によって移送される位置、各センサ７０、７２、７４の位置、寸法センサ７６、カメラ７９、８０の位置などとの関係は予め定まっている。したがって、インデックス用センサ８２に位置する凹部４４のインデックスＩＤを特定することにより、他のセンサなどの位置にある凹部４４のインデックスＩＤも特定することができる。

ＣＰＵ１００は、ノズル８６を駆動し、搬送ガイド３４からのネジ３２を凹部４４の方向に押す（ステップＳ３）。なお、フローチャートでは、凹部４４にインデックスＩＤを付与した後に、ノズル８６の駆動を行うように示しているが、実際には、インデックス用センサ８２が凹部４４を検出すると同時に、ノズル８６の駆動が行われる（以下の処理において同様である）。

図１４に示すように、インデックス用センサ８２が凹部４４にインデックスＩＤとして「１」を付与した場合には、インデックスＩＤ「２９」が付与されている凹部４４にネジ３２が収納されることになる。

また、ＣＰＵ１００は、センサ７０の出力を取得してネジ３２の有無を記録する（ステップＳ４）。ここでは、図１４に示すように、インデックスＩＤ「２３」が付与されている凹部４４にネジが収納されているか否かを判断する。本来は、全ての凹部４４にネジ３２が収納されるが、搬送ガイド３４からの搬送が遅れるなどの理由によって、ネジ３２が収納されない凹部４４も存在する。ネジ３２の有無は、図１５に示すようなテーブルとして、記録装置１０４に記録される。

ＣＰＵ１００は、寸法センサ７６、７８の位置に、ネジ３２が存在するかどうかを判断する（ステップＳ５）。これを判断するためには、テーブルを参照して、インデックスＩＤ「２２」にネジ「有」と記録されているか「無」と記録されているかを判断すればよい。ここでは、図１５に示すように、「有」と記録されているので、ステップＳ６を実行する。

ステップＳ６において、ＣＰＵ１００は、寸法センサ７６、７８の出力を取得し、頭部寸法や長さが予め記録している規格範囲内にあるかどうかを判断する。ＣＰＵ１００は、その結果により、当該ネジ３２が良品であるか不良品であるかを決定し、図１５のテーブルに記録する。図１５の例では、良品を示す「良」が記録されている。

なお、ステップＳ５において、寸法センサ７６、７８の位置にネジ３２が存在しない場合、ステップＳ６は実行しない。これにより、無駄な測定処理を行わないようにすることができる。

ＣＰＵ１００は、カメラ７９、８０の位置にネジ３２が存在するかどうかを判断する（ステップＳ７）。存在すれば、寸法センサ７６、７８よる判定が「良」であるか否かを判断する（ステップＳ８）。「良」であれば、ＣＰＵ１００は、光源８１（図６ａ、図６ｂ参照）を点灯させ、カメラ７９、８０からの画像を取り込む（ステップＳ９）。続いて、ＣＰＵ１００は、取得した画像に基づいて、ネジ３２の頭部の形状、ねじ山の形状などが規格内にあるかどうかを判断する。この際、前述のように、ネジ３２のカメラ８０に対しての前後方向への傾きが矯正されて撮像される。判断結果を、図１４のテーブルに記録する（ステップＳ１０）。

ＣＰＵ１００は、寸法センサ７６、７８による判定結果が「良」であったとしても、カメラ７９、８０による判定結果が「否」であれば「否」（不良品）を記録する。

また、ステップＳ７において、ネジ３２が存在しなければステップＳ８〜Ｓ１０は実行しない。さらに、ステップＳ７において、ネジ３２が存在しても、寸法センサ７６、７８の判定結果が「否」であればステップＳ８〜Ｓ１０は実行しない。これにより、無駄な発光や測定処理を行わないようにすることができる。

なお、図１５に示すように、ここでは、カメラ７９、８０の位置にはネジ３２が存在しないので、ステップＳ８〜Ｓ１０は実行されず、ステップＳ１１が処理されることになる。

ＣＰＵ１００は、ステップＳ１１において、不良品脱落ノズル８８（センサ７２）の位置に、ネジ３２が存在するか否かを判断する。存在すれば、当該ネジ３２に異常処理フラグが付されているかどうかを判断する（ステップＳ１２）。なお、平常状態では、異常処理フラグは付されていないので、ステップＳ１３に進む。なお、異常処理フラグについては後述する。

ステップＳ１３において、ＣＰＵ１００は、当該ネジ３２が不良であるかどうかを判断する。不良（「否」）であれば、ＣＰＵ１００は、不良品脱落ノズル８８を作動し、凹部４４からネジ３２を脱落させる（ステップＳ１４）。脱落した不良品のネジ３２は、不良品回収路９２（図１参照）を介して、不良品回収部（図示せず）に回収される。さらに、ＣＰＵ１００は、センサ７２の出力により、ネジ３２が脱落されたかどうかを判断する（ステップＳ１５）。予定どおり脱落していれば、ステップＳ１６に進む。脱落していない場合には、異常処理を行う。異常処理については、後述する。

ステップＳ１３において、ＣＰＵ１００は、ネジ３２が不良でなければ、ステップＳ１６に進む。

なお、ここでは、図１５に示すように、不良品脱落ノズル８８の位置（インデックスＩＤ「１０」）にあるネジ３２は、不良品であるので、ステップＳ１４、Ｓ１５が実行される。

ステップＳ１６において、ＣＰＵ１００は、良品脱落ノズル９０（センサ７４）の位置に、ネジ３２が存在するかどうかを判断する。存在すれば、ステップＳ１７において、当該ネジ３２に異常処理フラグが付いているかどうかを判断する。ここでは、異常処理フラグが付いていないものとして説明を進める。ステップＳ１８において、ＣＰＵ１００は、良品回収通路９４を良品回収箱２００に向ける（図１６参照）。なお、通常の状態では、進路変更板２０４は実線の位置にあり、良品回収通路９４は良品回収箱２００に向いているので、そのままの状態とする。

ＣＰＵ１００は、良品脱落ノズル９０を作動させ、凹部４４にある良品のネジ３２を、良品回収通路９４に脱落させる。これにより、良品のネジ３２は、良品回収箱２００に回収される。なお、仮に、良品のネジ３２が、良品脱落ノズル９０によっても落ちなかった場合には、図１に示す強制脱落ガイド９６によって良品回収通路９４に落とすことができる。強制脱落ガイド９６は、頭部３２ａに当接し、徐々にネジ３２を軸体保持円盤４２の外周に押しやり、最後には脱落させるものである。

以上の処理が終了すると、ＣＰＵ１００は、ステップＳ１以下を繰り返し実行する。

（異常処理について）
次に、ステップＳ１４において、不良品のネジ３２を凹部４４から脱落させようとしたにもかかわらず、ネジ３２が落ちなかった場合について説明する。これを放置すると、不良品のネジ３２は、良品脱落ノズル９０または強制脱落ガイド９６によって、良品回収通路９４に落とされることになってしまう。これでは、良品の中に不良品が混入してしまうことになる。

そこで、この実施形態では、不良品であると判断したネジ３２が、不良品脱落ノズル８８によって落ちなかった場合（ステップＳ１５）、次のような異常処理を行うようにしている。ＣＰＵ１００は、図１５に示すテーブルの全てのネジ（全てのインデックスＩＤ）に対して、異常処理フラグを記録する（ステップＳ２０）。次に、ＣＰＵ１００は、良品回収通路９４を仕掛品回収箱３０２に向ける（ステップＳ２１）。

図１６に、良品回収通路９４の側断面を示す。良品回収通路９４の底部には、軸３０６を中心として回動可能な進路変更板３０４が設けられている。進路変更板３０４は、通常の状態においては、図の実線に示す位置に保持されている。したがって、良品回収通路９４に落とされたネジ３２は、良品回収箱３００に回収される。

ＣＰＵ１００は、ステップＳ２１において、モータなどの駆動手段（図示せず）を制御して、進路変更板２０４を二点鎖線で示す状態に回動させる。これにより、良品回収通路９４に落とされたネジ３２は、仕掛品回収箱３０２に回収されることになる。

したがって、ステップＳ１４において、脱落されるべきであったにもかかわらず、凹部４４に残ってしまった不良品のネジ３２は、ステップＳ１９において、良品回収通路９４に落とされるが、仕掛品回収箱３０２に回収されることになる。

また、この実施形態では、上記の異常が生じた時点で軸体保持円盤４２に保持されている全てのネジ３２に対して異常フラグを記録している。したがって、以後、ＣＰＵ１００は、これら異常処理フラグが記録されているネジ３２を、良品回収通路９４に落とし、仕掛品回収箱３０２に回収する（ステップＳ１２、Ｓ１７、Ｓ１９）。

なお、脱落されるべきであったにもかかわらず、凹部４４に残ってしまった不良品のネジ３２だけを、仕掛品回収箱３０２に回収するようにしてもよい。この実施形態では、安全をみて、異常が生じた時点で軸体保持円盤４２に保持されている全てのネジ３２を仕掛品回収箱３０２に回収するようにしている。

異常処理フラグの記録されていないネジ３２（異常が起こった後に、軸体保持円盤４２に保持されたネジ３２）が見いだされると、ＣＰＵ１００は、良品回収通路９４の進路変更板３０４を、図１６の実線で示す位置に戻す（ステップＳ１８）。これにより、以降は、良品回収通路９４に落とされたネジ３２は、良品回収箱３００に回収されることになる。

３．その他の実施形態
(1)上記実施形態では、処理装置として検査装置を例に説明を行った。しかし、ネジなどの軸体を軸体保持円盤４２に保持して、塗装を行うなどの処理を行う装置にも適用することができる。

(2)上記実施形態では、下側矯正部材２７、上側矯正部材１０４の双方を設けている。しかし、いずれか一方だけを設けるようにしてもよい。

(3)上記実施形態では、下側矯正部材２７の当接面２７ａには特別な処理を施していない。しかし、軸体との摩擦による摩耗を防ぐため、対摩耗部材を貼り付けるなどの処理を行ってもよい。上側矯正部材１０４についても同様である。

(4)上記実施形態では、下側矯正部材２７を複数設けているが、一つだけ設けるようにしてもよい。

(5)上記実施形態では、内側（奥側）に下側矯正部材２７、上側矯正部材１０４を設けているが、外側に設けるようにしてもよい。

(6)上記実施形態では、予め定められた寸法（径）の軸体を処理する装置についての説明した。しかし、図１７に示すように、異なる径の軸体に対応可能であるような構造としてもよい。

図１７は、照明部１７の近傍をを側面から見た図である。照明部１７の奥側の凹部を介して、下部矯正部材２７が照明部１７の内部に導入されている。軸体の径（本体部３２ｂの径）が異なると、これに合致した凹部４４を有する軸体保持円盤４２に取り替える。ただし、軸体保持円盤４２の外周径は同じにしている。このため、軸体の中心軸がずれることになる。つまり、軸体の径が大きくなると、軸体の中心軸の回転半径は、小さくなることになる。

したがって、これに合致するように、カメラ７９の光軸や、照明部１７の中心軸１７ａを移動させる必要が生じる。このため、照明部１７の下部には、貫通孔２０２が複数設けられている。また、装置の基体２００には、これら貫通孔２０２のいずれかに合致してピン（図示せず）を差し込むことのできる孔２０４が複数設けられている。ピンをいずれかの貫通孔２０２、孔２０４に差し込むかにより、照明部１７の矢印２１０方向への位置を移動させることができる。予め、貫通孔２０２、孔２０４を、軸体の径に合致する位置に設けておくことで、容易に位置合わせをすることができる。

さらに、下部矯正部材２７の当接面２７１（図７参照）が、軸体の本体部の外周に当接して傾きが矯正される位置に来る必要がある。上記のように、照明部１７の中心軸１７ａと軸体の中心軸を合致させただけでは、軸体の本体部の外周と下部矯正部材２７の当接面２７１との位置関係が不適切となる。そこで、この実施形態では、下部矯正部材２７を保持する保持体２０６の下部に複数の貫通孔２０８を設け、照明部１７の下部に複数の孔２１０を設けている。ピンをいずれかの貫通孔２０８、孔２１０に差し込むかにより、下部矯正部材２７の矢印２１０方向への位置を移動させることができる。これにより、軸体の傾きを矯正することのできる適切な位置に、下部矯正部材２７を移動させることができる。

上記のように、この実施形態では、基体２００に対して照明部１７全体を移動することができ、さらに、これとは独立して照明部１７に対して下部矯正部材２７を移動することができるように構成している。

(7)上記実施形態では、軸体としてネジ３２を例として説明した。しかし、少なくとも頭部を有し、頭部の径よりも小さい径の部分を有する軸体であれば同様に適用することができる。たとえば、釘、ピンなどにも適用することができる。

(8)上記実施形態では、軸体保持部として回転する軸体保持円盤４２を用いている。しかしながら、リニアに移動する軸体保持部（たとえば、直線的な無限軌道）を用いてもよい。

(9)上記実施形態では、良品と不良品を回収箱に回収している。しかし、不良品を脱落させ、良品をそのまま製造工程に移送して使用するようにしてもよい。

(10)上記実施形態では、良品と判断したネジ３２について、ノズル９０により良品回収通路９４に脱落させるようにしている。しかし、ノズル８８を制御して不良品と判定したネジ３２を不良品回収通路９２に脱落させ、それ以外のネジ３２は良品であるとして、強制脱落ガイド９６によって脱落させるようにしてもよい。この場合、ノズル９０を省略しながらも、ＣＰＵ１００により、強制脱落ガイド９６まで搬送して良品回収通路９４に脱落させるかどうかを制御することができる。

(11)上記実施形態では、スプリングワッシャに起因した傾きの矯正について説明したが、その他の要因に基づく傾きについても同様に矯正することができる。

(12)上記実施形態では、頭部が六角形のネジについて説明したが、丸形など他の形状の頭部を有するネジについても適用することができる。

(13)上記実施形態では、中央部を空洞とした下部矯正部材２７を用い、これによりＬＥＤライト８１（光源）からの光を遮らないようにしている。しかし、図１８に示すように、下部矯正部材２７全体を透光性のある部材（アクリル板など）によって構成してもよい。このようにすれば、中央部に空洞を設けなくともよい。

Claims (9)

1. 頭部と当該頭部より小径の小径部とを有する軸体の小径部を取り囲み、頭部を支えるための凹部が設けられ、所定方向に移動する軸体保持部と、
   軸体保持部によって保持され移動される軸体に対する処理を行うため、軸体保持部の移動経路近傍に設けられた処理部と、
   処理部において、軸体保持部に保持された軸体の傾きを矯正するため、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすように軸体の小径部に当接するよう設けられた下側矯正部材と、
   処理部において、軸体保持部に保持された軸体の傾きを矯正するため、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすように軸体の頭部に当接するよう設けられた上側矯正部材とを備え、
   前記軸体保持部は回転する円盤を備えて構成され、当該円盤の外周部に前記凹部が設けられており、
   前記処理部は、前記円盤の外周側から軸体を撮像するカメラを有し、
   前記下部矯正部材は、前記カメラの撮像位置において、当該カメラに対向するように、前記円盤の内周側から前記小径部の側面に接するように設けられていることを特徴とする軸体処理装置。
2. 請求項１の軸体処理装置において、
   前記下部矯正部材は、
   前記軸体の前記円盤の内側に向いた傾きを、前記軸体の移動とともに徐々に修正する斜辺部と、
   前記軸体の傾きを矯正した状態を保つための保持辺部と、
   を備えていることを特徴とする軸体処理装置。
3. 請求項１または２の軸体処理装置において、
   前記下部矯正部材は、透光性を有する本体部材を備えて構成されていることを特徴とする軸体処理装置。
4. 請求項３の軸体処理装置において、
   前記下部矯正部材の中央部を空洞とすること、または前記下部矯正部材を透光性のある部材によって構成することによって、透光性を実現していることを特徴とする軸体処理装置。
5. 請求項１〜４のいずれかの軸体処理装置において、
   前記下部矯正部材は、上下方向に複数個設けられていることを特徴とする軸体処理装置。
6. 請求項５の軸体処理装置において、
   前記上部矯正部材は、前記円盤の内周側に設けられていることを特徴とする軸体処理装置。
7. 請求項６の軸体処理装置において、
   前記上部矯正部材は、前記軸体の頭部に接する円形の回転体を備えていることを特徴とする軸体処理装置。
8. 頭部と当該頭部より小径の小径部とを有する軸体の小径部を取り囲み、頭部を支えるための凹部が外周部に設けられた円盤に保持された軸体をカメラによって撮像して処理を行う際の軸体の傾きを矯正する方法であって、
   頭部と当該頭部より小径の小径部とを有する前記軸体を、前記頭部によって前記円盤の凹部に吊り下げて支持しながら所定方向に回転移動し、
   前記カメラの撮像位置において、当該カメラに対向するように、前記円盤の内周側から前記小径部の側面に接するように設けられた下側矯正部材により、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすようにし、
   傾きを矯正された軸体をカメラによって撮像して処理を行うことを特徴とする傾き矯正方法。
9. 請求項８の傾き矯正方法において、
   前記吊り下げて支持された軸体の頭部に当接するよう設けられた上側矯正部材により、軸体の移動に伴って軸体の傾きをなくすようにしたことを特徴とする傾き矯正方法。