JP6126427B2

JP6126427B2 - Ｒｆｉｄメディアの検査方法及びこれを実施するための検査装置

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Publication number: JP6126427B2
Application number: JP2013069148A
Authority: JP
Inventors: 理恵吉田
Original assignee: Toppan Forms Co Ltd
Current assignee: Toppan Forms Co Ltd
Priority date: 2013-03-28
Filing date: 2013-03-28
Publication date: 2017-05-10
Anticipated expiration: 2033-03-28
Also published as: JP2014191772A

Description

本発明は、物品に密着もしくは近接した形態で使用されることにより共振周波数がずれるＲＦＩＤメディアを、物品に密着もしくは近接していない状態にて検査するＲＦＩＤメディアの検査方法に関する。

近年、情報化社会の進展に伴って、情報をタグやラベルに記録し、該タグやラベルを商品等に添付して商品等の管理が行われている。このようなタグやラベルを用いた商品等の管理においては、非接触状態にて情報の書き込み及び読み取りを行うことが可能なＩＣが搭載された非接触型ＩＣタグや非接触型ＩＣラベルがその優れた利便性から急速な普及が進みつつある。

このような非接触型ＩＣタグや非接触型ＩＣラベルといったＲＦＩＤメディアにおいては、製品として出荷される前に検査手段となるリーダ／ライタによってＲＦＩＤメディアから情報を読み取ることにより、良品／不良品の検査が行われている（例えば、特許文献１，２参照）。また、このようなＲＦＩＤメディアの検査においては、共振周波数が所定周波数になっているかの検査が行われている（例えば、特許文献３参照）。

特許第４５１４３７４号公報特許第４５３２５１４号公報特開２０１２−１３８０４１号公報

ところで、近年では、上述したようなＲＦＩＤメディアにおいては、その利用用途が広がり、様々な物品に取り付けられた製品が市場に出荷されている。このようなＲＦＩＤメディアは物品に取り付けられることによって物品に密着すると共振周波数が低周波側にずれることになるため、ＲＦＩＤメディア単体の共振周波数を意図的に高周波側にずらして製造する必要がある。このように共振周波数を意図的に高周波側にずらしたものについても、上記同様に、製品として出荷される前に良品／不良品の検査を行う必要がある。また、ＲＦＩＤメディアを物品に密着させた場合に限らず、共振周波数が低周波側にずれるほどＲＦＩＤメディアを物品に近接させた場合においても、上記同様に、共振周波数が低周波側にずれることになるため、ＲＦＩＤメディア単体の共振周波数を意図的に高周波側にずらして製造する必要がある。

しかしながら、共振周波数が適正にずらされているかを検査するために周波数特性を測定する装置は高価であり、また、周波数特性を測定するためには時間がかかり、ＲＦＩＤメディアの製造ラインに適用するには不向きであるという問題点がある。

本発明は、上述したような従来の技術が有する問題点に鑑みてなされたものであって、物品に密着もしくは近接した形態で使用されることにより共振周波数が低周波側にずれるＲＦＩＤメディアを、物品に密着もしくは近接していない状態にて簡易な方法で検査することができるＲＦＩＤメディアの検査方法及びそれを実施するための検査装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために本発明は、
物品に密着もしくは近接した形態で使用され、前記物品に密着もしくは近接することにより共振周波数が低周波側にずれるために、前記物品に密着もしくは近接していない状態における共振周波数が所定周波数から高周波側に予めずらされたＲＦＩＤメディアを、前記物品に密着もしくは近接していない状態にて検査するＲＦＩＤメディアの検査方法であって、
前記共振周波数が低周波側にずれた状態を再現し、当該状態において、前記所定周波数にて要求される通信距離にて通信可能であるかを検査する第１の工程と、
前記ＲＦＩＤメディアが前記物品に密着もしくは近接していない状態において、前記共振周波数が高周波側にずらされた場合でも前記所定周波数にて通信可能となるべき距離にて通信可能であるかを検査する第２の工程と、
前記ＲＦＩＤメディアが前記物品に密着もしくは近接していない状態において、前記共振周波数が高周波側にずらされることにより前記所定周波数にて通信不可能となるべき距離にて通信不可能であるかを検査する第３の工程とを有する。

上記のように構成された本発明においては、まず、第１の工程において、ＲＦＩＤメディアが物品に密着もしくは近接することにより共振周波数が低周波側にずれた状態を再現し、その状態において、所定周波数にて要求される通信距離にて通信可能であるかを検査することにより、使用形態となる物品に密着もしくは近接した状態におけるＲＦＩＤメディアの通信性能を検査する。次に、第２の工程において、ＲＦＩＤメディアが物品に密着もしくは近接していない状態において、共振周波数が高周波側にずらされた場合でも所定周波数にて通信可能となるべき距離にて通信可能であるかを検査し、また、第３の工程において、ＲＦＩＤメディアが物品に密着もしくは近接していない状態において、共振周波数が高周波側にずらされることにより所定周波数にて通信不可能となるべき距離にて通信不可能であるかを検査することにより、共振周波数が適正にずらされているかどうかを検査する。

このように、まず、ＲＦＩＤメディアが物品に密着もしくは近接することにより共振周波数が低周波側にずれた状態を再現して使用形態におけるＲＦＩＤメディアの通信性能を検査し、その後、ＲＦＩＤメディアが物品に密着もしくは近接していない状態において、通信可能となるべき距離と通信不可能となるべき距離とのそれぞれにてＲＦＩＤメディアが通信可能であるか通信不可能であるかを検査することで共振周波数が適正にずらされているかを検査するという簡易な方法で、物品に密着もしくは近接した形態で使用されるＲＦＩＤメディアの検査を行う。

このようなＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置としては、第１の工程におけるＲＦＩＤメディアに対する密着もしくは近接状態及び誘電率が、第１の工程におけるＲＦＩＤメディアの周波数特性が、ＲＦＩＤメディアがその後に物品に密着もしくは近接して取り付けられた場合の周波数特性となるように調整され、共振周波数が低周波側にずれた状態を再現するための検査部材と、ＲＦＩＤメディアと通信を行うリーダ／ライタと、第１〜第３の工程におけるＲＦＩＤメディアとリーダ／ライタとの通信状態に基づいて、ＲＦＩＤメディアの良品／不良品を判定する制御手段とを有する検査装置が考えられる。

本発明によれば、ＲＦＩＤメディアが物品に密着もしくは近接することにより共振周波数が低周波側にずれた状態を再現して使用形態におけるＲＦＩＤメディアの通信性能を検査し、その後、ＲＦＩＤメディアが物品に密着もしくは近接していない状態において、通信可能となるべき距離と通信不可能となるべき距離とのそれぞれにてＲＦＩＤメディアが通信可能であるか通信不可能であるかを検査することで共振周波数が適正にずらされているかを検査することにより、特殊なテスタ等の解析機器を用いることなく簡易な方法で、物品に密着もしくは近接した形態で使用されるＲＦＩＤメディアの検査を精度良く行うことができる。

本発明の検査方法にて検査されるＲＦＩＤメディアの一例を示す図であり、（ａ）は表面図、（ｂ）は（ａ）に示したＡ−Ａ’断面図である。図１に示したＲＦＩＤタグが物品に密着した場合の共振周波数の変動を示す図である。本発明のＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置の実施の一形態を示す図である。図３に示した検査エリアにおける第１の工程でのＲＦＩＤタグからの情報の読み取り検査を説明するための図である。図３に示した検査エリアにおける第２及び第３の工程でのＲＦＩＤタグからの情報の読み取り検査を説明するための図である。本発明のＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置の第２の実施の形態を示す図である。本発明のＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置の第３の実施の形態及びそれによる検査方法を示す図である。

以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。

まず、本発明の検査方法にて検査されるＲＦＩＤメディアについて説明する。

図１は、本発明の検査方法にて検査されるＲＦＩＤメディアの一例を示す図であり、（ａ）は表面図、（ｂ）は（ａ）に示したＡ−Ａ’断面図である。

本例のＲＦＩＤメディアは図１に示すように、樹脂や紙等からなるベース基材２上に、アンテナ３ａ，３ｂが形成されるとともにＩＣチップ４が搭載されてなるＲＦＩＤタグ１である。アンテナ３ａ，３ｂはそれぞれ、二等辺三角形の形状を有し、頂点が空隙を介して対向するように形成されている。そして、この頂点が給電点となってＩＣチップ４が接続されている。

上記のように構成されたＲＦＩＤタグ１は、外部に設けられたリーダ／ライタに対して通信可能範囲に配置されると、リーダ／ライタからの電波に共振することによってアンテナ３ａ，３ｂに電流が流れ、この電流がＩＣチップ４に供給されることにより、ＩＣチップ４に対して非接触状態にて情報が書き込まれたり、読み取られたりすることになる。そのため、その共振周波数としてリーダ／ライタからの電波の周波数が予め設定されている。

ところで、このようなＲＦＩＤタグ１は、上述したように物品に取り付けられることにより物品に密着した形態で使用される場合がある。

図２は、図１に示したＲＦＩＤタグ１が物品に密着した場合の共振周波数の変動を示す図であり、物品に密着していない状態における周波数特性を図中実線で示し、物品に密着した状態における周波数特性を図中破線で示す。

図２に示すように、図１に示したＲＦＩＤタグ１が物品に密着すると、周波数特性が全体的に低周波側にシフトし、それにより、共振周波数が低周波側にずれる。そのため、例えば、所定周波数となるリーダ／ライタからの電波の周波数が９２０ＭＨｚの場合、ＲＦＩＤタグ１単体では、共振周波数が９２０ＭＨｚよりも高周波側に存在するように予めずらされて設計されている。本発明は、このような共振周波数のずれが適正であるかどうかを検査する方法に関するものである。また、ＲＦＩＤタグ１を物品に密着させた場合に限らず、共振周波数が低周波側にずれるほどＲＦＩＤタグ１を物品に近接させた場合においても、上記同様に共振周波数が低周波側にずれることになるため、ＲＦＩＤタグ１が物品に近接した形態で使用される場合においても、ＲＦＩＤタグ１単体の共振周波数がリーダ／ライタからの電波の周波数よりも高周波側に存在するように予めずらされて設計されている。この場合、リーダ／ライタからは、一定の幅を有する周波数帯で電波が送信されているが、本発明は、ＲＦＩＤタグ１の共振周波数が、リーダ／ライタから送信される電波の周波数の幅を超えて低周波側にずれるほど近接した形態で使用されるものについて検査するものである。なお、ＲＦＩＤメディアとしては、上述したようなＲＦＩＤタグ１に限らず、ＲＦＩＤラベル等であってもよい。

（第１の実施の形態）
図３は、本発明のＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置の第１の実施の形態を示す図である。

本形態における検査装置は図３に示すように、図１に示したＲＦＩＤタグ１が搬送される搬送経路１０に、３つの検査エリア４０ａ〜４０ｃを有している。この３つの検査エリア４０ａ〜４０ｃのそれぞれには、搬送経路１０に対向してリーダ／ライタ２０ａ〜２０ｃが設けられており、これら３つのリーダ／ライタ２０ａ〜２０ｃは制御部５０に接続されている。また、搬送経路１０上には、検査エリア４０ａ〜４０ｃのそれぞれにて１つのＲＦＩＤタグ１のみがリーダ／ライタ２０ａ〜２０ｃ側に表出するような孔部を有するシールド１１が設けられている。

検査エリア４０ａには、搬送経路１０上においてＲＦＩＤタグ１のリーダ／ライタ２０ａとは反対側に、ＲＦＩＤタグ１に密着もしくは近接して検査部材となる誘電体３０が配置されており、この密着もしくは近接状態及び誘電体３０の誘電率は、検査エリア４０ａにおけるＲＦＩＤタグ１の周波数特性が、ＲＦＩＤタグ１がその後に物品に密着もしくは近接して取り付けられて製品化された場合の周波数特性となるように調整されている。これにより、ＲＦＩＤタグ１が物品に密着もしくは近接することにより共振周波数が低周波側にずれた状態が再現されている。また、リーダ／ライタ２０ａは、検査エリア４０ａに搬送されてきたＲＦＩＤタグ１に対して、ＲＦＩＤタグ１がその後に物品に取り付けられて製品化された場合に要求される通信距離だけ離れて配置されている。

検査エリア４０ｂに配置されたリーダ／ライタ２０ｂは、検査エリア４０ｂに搬送されてきたＲＦＩＤタグ１に対して、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態において共振周波数が高周波側にずらされた場合でも、リーダ／ライタ２０ｂの電波の周波数にて通信可能となるべき距離だけ離れて配置されている。

検査エリア４０ｃに配置されたリーダ／ライタ２０ｃは、検査エリア４０ｃに搬送されてきたＲＦＩＤタグ１に対して、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態において共振周波数が高周波側にずらされることにより、リーダ／ライタ２０ｃの電波の周波数にて通信不可能となるべき距離だけ離れて配置されている。

以下に、上記のように構成された検査装置におけるＲＦＩＤタグ１の検査方法について説明する。なお、以下の説明においても、リーダ／ライタ２０ａ〜２０ｃの電波の周波数を９２０ＭＨｚとする。

図３に示した検査装置においては、ＲＦＩＤタグ１が搬送経路１０上を連続搬送されてくると、まず、第１の工程として、検査エリア４０ａにおいて、リーダ／ライタ２０ａにてＲＦＩＤタグ１からの情報の読み取り検査が行われる。

図４は、図３に示した検査エリア４０ａにおける第１の工程でのＲＦＩＤタグ１からの情報の読み取り検査を説明するための図である。

検査エリア４０ａにおいては、上述したように、誘電体３０によってＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられた状態が再現されており、リーダ／ライタ２０ａとＲＦＩＤタグ１との距離が、ＲＦＩＤタグ１がその後に物品に取り付けられて製品化された場合に要求される通信距離となっているため、ＲＦＩＤタグ１が良品であればリーダ／ライタ２０ａにおいて共振周波数の９２０ＭＨｚにてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるはずである。

そのため、図４に示すように、ＲＦＩＤタグ１がその後に物品に取り付けられて製品化された場合に要求される通信距離が３．７ｍである場合に、ＲＦＩＤタグ１から３．７ｍ離れたリーダ／ライタ２０ａにおいて、ＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるかどうかによって、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられた状態において、９２０ＭＨｚにて要求される通信距離にて通信可能であるかというＲＦＩＤタグ１の通信性能が検査される。この際、検査対象となるＲＦＩＤタグ１のみが、シールド１１の孔部からリーダ／ライタ２０ａ側に表出しているため、リーダ／ライタ２０ａにおいては、搬送経路１０上にてこのＲＦＩＤタグ１の前後に搬送されてくるＲＦＩＤタグ１からは情報が読み取られない。なお、リーダ／ライタ２０ａにおいて、通信距離が３．７ｍに相当する電波強度でＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるかどうかによって検査を行ってもよい。

その後、検査エリア４０ｂ，４０ｃのそれぞれにおいて、リーダ／ライタ２０ｂ，２０ｃにてＲＦＩＤタグ１からの情報の読み取り検査が行われる。

図５は、図３に示した検査エリア４０ｂ，４０ｃにおける第２及び第３の工程でのＲＦＩＤタグ１からの情報の読み取り検査を説明するための図である。

検査エリア４０ｂにおいては、誘電体３０が配置されていないため、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態における検査となる。ここで、物品に取り付けられていない状態のＲＦＩＤタグ１においては、上述したように共振周波数が高周波側にずらして設計されているため、検査エリア４０ｂにおいて検査されるＲＦＩＤタグ１の共振周波数は図５に示すように、９２０ＭＨｚから高周波側にずれている。

そこで、まず、検査エリア４０ｂにおいては、第２の工程として、共振周波数が９２０ＭＨｚから高周波側にずらされた場合でも９２０ＭＨｚにて通信可能となるべき距離にて通信可能であるかが検査される。ＲＦＩＤタグ１の共振周波数が適正にずらされていればリーダ／ライタ２０ｂにおいて共振周波数の９２０ＭＨｚにてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるはずである。

そのため、図５に示すように、共振周波数が９２０ＭＨｚから高周波側にずらされた場合でも９２０ＭＨｚにて通信可能となるべき距離が２．２ｍである場合に、ＲＦＩＤタグ１から２．２ｍ離れたリーダ／ライタ２０ｂにおいて、ＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるかどうかによって、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態において、共振周波数が高周波側にずらされた場合でも９２０ＭＨｚにて通信可能となるべき距離にて通信可能であるかが検査される。この際、検査対象となるＲＦＩＤタグ１のみが、シールド１１の孔部からリーダ／ライタ２０ｂ側に表出しているため、リーダ／ライタ２０ｂにおいては、搬送経路１０上にてこのＲＦＩＤタグ１の前後に搬送されてくるＲＦＩＤタグ１からは情報が読み取られない。なお、リーダ／ライタ２０ｂにおいて、通信距離が２．２ｍに相当する電波強度でＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるかどうかによって検査を行ってもよい。

次に、第３の工程として、検査エリア４０ｃにおいて、共振周波数が９２０ＭＨｚから高周波側にずらされることにより９２０ＭＨｚにて通信不可能となるべき距離にて通信不可能であるかが検査される。ＲＦＩＤタグ１の共振周波数が適正にずらされていればリーダ／ライタ２０ｃにおいて共振周波数の９２０ＭＨｚにてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られないはずである。

そのため、図５に示すように、共振周波数が９２０ＭＨｚから高周波側にずらされることにより９２０ＭＨｚにて通信不可能となるべき距離が２．８ｍである場合に、ＲＦＩＤタグ１から２．８ｍ離れたリーダ／ライタ２０ｃにおいて、ＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるかどうかによって、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態において、共振周波数が高周波側にずらされることにより９２０ＭＨｚにて通信不可能となるべき距離にて通信不可能であるかが検査される。この際、検査対象となるＲＦＩＤタグ１のみが、シールド１１の孔部からリーダ／ライタ２０ｃ側に表出しているため、リーダ／ライタ２０ｃにおいては、搬送経路１０上にてこのＲＦＩＤタグ１の前後に搬送されてくるＲＦＩＤタグ１からは情報が読み取られない。なお、リーダ／ライタ２０ｃにおいて、通信距離が２．８ｍに相当する電波強度でＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られるかどうかによって検査を行ってもよい。

リーダ／ライタ２０ａ〜２０ｃにおける検査結果は制御部５０に送られる。制御部５０においては、ＲＦＩＤタグ１とリーダ／ライタ２０ａ〜２０ｃとの通信状態に基づいて、ＲＦＩＤタグ１の良品／不良品が判定される。具体的には、リーダ／ライタ２０ａにおいてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られた場合に、ＲＦＩＤタグ１が、９２０ＭＨｚにて要求される通信距離にて通信可能であるという通信性能を有していると判定され、また、リーダ／ライタ２０ｂにてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られ、かつ、リーダ／ライタ２０ｃにてＲＦＩＤ１から情報が読み取られなかった場合に、ＲＦＩＤタグ１の共振周波数が適正にずらされていると判定される。そのため、第２及び第３の工程におけるＲＦＩＤタグ１とリーダ／ライタ２０ｂ，２０ｃとの距離は、ＲＦＩＤタグ１のずれ量に応じて適宜設定される。そのずれ量に応じて、第２の工程における距離が、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態において、共振周波数が高周波側にずらされた場合でも９２０ＭＨｚにて通信可能となるべき距離とされ、第３の工程における距離が、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態において、共振周波数が高周波側にずらされることにより９２０ＭＨｚにて通信不可能となるべき距離とされることになる。これらの距離は、図５に示したように、ＲＦＩＤタグ１の周波数特性において通信可能距離の変化が急峻なものとなる２点を用いることにより、ＲＦＩＤタグ１の周波数特性のばらつきがわずかであった場合でも、第２及び第３の工程におけるずれの検査を確実に行うことができる。

このように、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられて物品に密着もしくは近接することにより共振周波数が低周波側にずれた状態を再現して使用形態におけるＲＦＩＤタグ１の通信性能を検査し、その後、ＲＦＩＤタグ１が物品に取り付けられていない状態において、通信可能となるべき距離と通信不可能となるべき距離とのそれぞれにてＲＦＩＤタグ１が通信可能であるか通信不可能であるかを検査することで共振周波数が適正にずらされているかを検査するという簡易な方法で、物品に取り付けられた形態で使用されるＲＦＩＤタグ１の検査を行うことができる。

なお、本形態においては、検査エリア４０ａ〜４０ｃのそれぞれにおいて、ＲＦＩＤタグ１からの情報の読み取りが１度ずつしか行われないため、タクトが短く生産効率を向上させることができる。また、検査エリア４０ａ〜４０ｃのそれぞれにおける検査時間が同一であるため、ＲＦＩＤタグ１の連続搬送による検査もロスなく実施することができる。

（第２の実施の形態）
図６は、本発明のＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置の第２の実施の形態を示す図である。

本形態における検査装置は図６に示すように、図３に示したものに対して、検査エリア４０ａ，４０ｂが２つしか設けられていない点が異なるものである。

図６に示した検査装置においては、まず、第１の工程として、検査エリア４０ａにおいて第１の実施の形態にて示したものと同様の検査が行われる。

次に、検査エリア４０ｂにおいて、第２の工程として、リーダ／ライタ２０ｂとＲＦＩＤタグ１との距離が２．２ｍとされ、リーダ／ライタ２０ｂにてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られ、その後、第３の工程として、リーダ／ライタ２０ｂとＲＦＩＤタグ１との距離が２．８ｍとされ、リーダ／ライタ２０ｂにてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られる。

そして、制御部５０において、第１の実施の形態にて示したものと同様に、リーダ／ライタ２０ａにおいてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られた場合に、ＲＦＩＤタグ１が、９２０ＭＨｚにて要求される通信距離にて通信可能であるという通信性能を有していると判定され、また、リーダ／ライタ２０ｂとＲＦＩＤタグ１との距離が２．２ｍとされた場合にリーダ／ライタ２０ｂにてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られ、かつ、リーダ／ライタ２０ｂとＲＦＩＤタグ１との距離が２．８ｍとされた場合にリーダ／ライタ２０ｂにてＲＦＩＤ１から情報が読み取られなかった場合に、ＲＦＩＤタグ１の共振周波数が適正にずらされていると判定される。

本形態においては、２つの検査エリア４０ａ，４０ｂのみで検査を行うことにより、使用する機器や装置の設置スペースを削減することができる。

なお、本形態においては、検査エリア４０ｂにおいてリーダ／ライタ２０ｂとＲＦＩＤタグ１との物理的距離を異ならせて第２及び第３の工程を行っているが、リーダ／ライタ２０ｂの出力を切り替えることにより、リーダ／ライタ２０ｂとＲＦＩＤタグ１との距離を仮想的に異ならせることも考えられる。

（第３の実施の形態）
図７は、本発明のＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置の第３の実施の形態及びそれによる検査方法を示す図である。

本形態における検査装置は図７に示すように、図３に示したものに対して、検査エリア４０が１つしか設けられていない点が異なるものである。

図７に示した検査装置においては、まず、第１の工程として、図７（ａ）に示すように、図３に示した検査エリア４０ａと同様に、検査対象となるＲＦＩＤタグ１のリーダ／ライタ２０とは反対側に誘電体３０が設置され、この状態にて図３に示した検査エリア４０ａと同様の検査が行われる。

次に、第２の工程として、図７（ｂ）に示すように、誘電体３０が検査エリア４０から離間するとともに、リーダ／ライタ２０とＲＦＩＤタグ１との距離が２．２ｍとされ、リーダ／ライタ２０にてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られる。

その後、第３の工程として、図７（ｃ）に示すように、リーダ／ライタ２０とＲＦＩＤタグ１との距離が２．８ｍとされ、リーダ／ライタ２０にてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られる。

そして、制御部５０において、第１の実施の形態にて示したものと同様に、第１の工程においてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られた場合に、ＲＦＩＤタグ１が、９２０ＭＨｚにて要求される通信距離にて通信可能であるという通信性能を有していると判定され、また、第２の工程においてリーダ／ライタ２０にてＲＦＩＤタグ１から情報が読み取られ、かつ、第３の工程においてリーダ／ライタ２０にてＲＦＩＤ１から情報が読み取られなかった場合に、ＲＦＩＤタグ１の共振周波数が適正にずらされていると判定される。

本形態においては、１つの検査エリア４０のみで検査を行うことにより、使用する機器や装置の設置スペースを削減することができる。

なお、本形態においては、検査エリア４０においてリーダ／ライタ２０とＲＦＩＤタグ１との物理的距離を異ならせて第２及び第３の工程を行っているが、リーダ／ライタ２０の出力を切り替えることにより、リーダ／ライタ２０とＲＦＩＤタグ１との距離を仮想的に異ならせることも考えられる。

１ＲＦＩＤタグ
２ベース基材
３ａ，３ｂアンテナ
４ＩＣチップ
１０搬送経路
１１シールド
２０，２０ａ〜２０ｃリーダ／ライタ
３０誘電体
４０ａ〜４０ｃ検査エリア
５０制御部

Claims

物品に密着もしくは近接した形態で使用され、前記物品に密着もしくは近接することにより共振周波数が低周波側にずれるために、前記物品に密着もしくは近接していない状態における共振周波数が所定周波数から高周波側に予めずらされたＲＦＩＤメディアを、前記物品に密着もしくは近接していない状態にて検査するＲＦＩＤメディアの検査方法であって、
前記共振周波数が低周波側にずれた状態を再現し、当該状態において、前記所定周波数にて要求される通信距離にて通信可能であるかを検査する第１の工程と、
前記ＲＦＩＤメディアが前記物品に密着もしくは近接していない状態において、前記共振周波数が高周波側にずらされた場合でも前記所定周波数にて通信可能となるべき距離にて通信可能であるかを検査する第２の工程と、
前記ＲＦＩＤメディアが前記物品に密着もしくは近接していない状態において、前記共振周波数が高周波側にずらされることにより前記所定周波数にて通信不可能となるべき距離にて通信不可能であるかを検査する第３の工程とを有する、ＲＦＩＤメディアの検査方法。
請求項１に記載のＲＦＩＤメディアの検査方法を実施するための検査装置であって、
前記第１の工程における前記ＲＦＩＤメディアに対する密着もしくは近接状態及び誘電率が、前記第１の工程における前記ＲＦＩＤメディアの周波数特性が、ＲＦＩＤメディアがその後に前記物品に密着もしくは近接して取り付けられた場合の周波数特性となるように調整され、前記共振周波数が低周波側にずれた状態を再現するための検査部材と、
前記ＲＦＩＤメディアと通信を行うリーダ／ライタと、
前記第１〜第３の工程における前記ＲＦＩＤメディアと前記リーダ／ライタとの通信状態に基づいて、前記ＲＦＩＤメディアの良品／不良品を判定する制御手段とを有する検査装置。