JP6124406B2 - プレートの固体増殖培地の表面を位置付けるための方法および機器 - Google Patents
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Description
この発明は一般に、医療診断目的などの主に実験室における診断目的のための、微生物試料の固体増殖培地への接種、および分離された細菌コロニーを生成するためのその後の接種物の画線に関わる機器に関する。この発明は、特に、自動画線機器においてその後の画線動作を手助けするためにプレートの固体増殖培地の表面を位置付けるための方法および機器に関する。しかしながら、この発明はその用途のみに限定されるものではない。
微生物(および特に細菌)の独立コロニーの分離は、多くの微生物実験室において重要な処置である。従来、この細菌の分離は熟練実験技師によって手作業で行なわれ、技師はまず微生物試料をペトリ皿の寒天などの固体増殖培地(以後単に、「寒天プレート」または単に「プレート」の「培地」と称する)の表面に分配し、次に手工具を用いて試料を培地の表面全体に亘って広げる(「画線」と呼ばれる)。
る。画線装置に関しては、z次元(高さ)での接触面の位置が不正確であることによって、全く接種物と接触しないか、または画線工具が培地の表面における線路も削り取るように過剰に接触することになる。
この発明は、プレートの固体増殖培地の表面をプレート作業位置に位置付けるための方法であって、プレート作業位置は、センサを含み、一次元(z)で固定された基準面を有し、この方法は、
〜プレートをプレート作業位置に配置するステップと、
〜センサを用いて、位置決めされたプレートのために培地表面を検知し、培地表面までの距離を測定するステップと、
〜測定された距離を基準面に参照付けて、位置決めされたプレートの培地の表面のために一次元(z)で基準面に対する表面位置参照を決定するステップとを含む、方法を提供する。
〜プレートをプレート作業位置に配置するステップと、
〜センサを用いて、位置決めされたプレートのために検知領域内で培地表面を検知し、その検知領域内で培地表面までの平均距離を測定するステップと、
〜測定された距離を基準面に参照付けて、位置決めされたプレートの培地の表面のために一次元(z)で基準面に対する表面位置参照を決定するステップと、
〜表面位置参照と概念上の作用線とを用いて、位置決めされたプレートの培地の表面を横切る線を代表する線を三次元(x,y,z)で決定するステップとを含む、方法を提供する。
〜上限と下限とを設定して、上限と下限との間の検出範囲を規定するステップと、
〜プレートをプレート作業位置に配置するステップと、
〜センサを用いて、位置決めされたプレートのために培地表面を検出範囲内で検知し、培地表面までの距離を測定するステップと、
〜測定された距離を基準面に参照付けて、位置決めされたプレートの培地の表面のために一次元(z)で基準面に対する表面位置参照を与えるステップとを含む、方法を提供する。
〜上限と下限とを設定して、上限と下限との間の検出範囲を規定するステップと、
〜プレートをプレート作業位置に配置するステップと、
〜センサを用いて、位置決めされたプレートのために検知領域内で検出範囲内で培地表面を検知し、その検知領域内で培地表面までの平均距離を測定するステップと、
〜測定された距離を基準面に参照付けて、位置決めされたプレートの培地の表面のために一次元(z)で基準面に対する表面位置参照を決定するステップと、
〜表面位置参照と概念上の作用線とを用いて、位置決めされたプレートの培地の表面を横切る線を代表する線を三次元(x,y,z)で決定するステップとを含む、方法を提供してもよい。
(a) 未処理プレートを逆さ向きに保管可能なプレート供給部と、
(b) プレート供給部から逆さの未処理プレートを取得し、未処理プレートの蓋を外し、底部が最下になるように未処理プレートを方向付け、方向付けられ蓋を外された未処理プレートを接種および画線ステーション内のプレート作業位置に移すことが可能なプレート移動送り機構と、
(c) 位置決めされたプレートの接種および画線の前に、そのプレートの培地の表面を位置付けることができるセンサである、この発明の機器と、
(d) 位置決めされたプレートの培地の表面に接種物を分配可能な接種装置と、
(e) 画線アプリケータ供給部から画線アプリケータを取得し、次に、位置決めされたプレートを回転させて画線する前に、画線アプリケータを、その間隔を空けられた接触面の列が位置決めされたプレートの培地の表面と接触するように動かすことが可能な画線装置と、
(f) 処理済プレートを逆さ向きに保管可能なプレート保管部と、
(g) 処理済プレートをプレート作業位置から取戻し、処理済プレートを再び方向付け蓋をし、処理済プレートをプレート保管部に移すことが可能なプレート移動保管機構とを含む。
プレート14における、表面13を有する固体増殖培地12の表面をプレート作業位置Aに位置付けるための機器10が図1および図2に示されており、培地12およびプレート14は図1には図示されていない。図1は、矢印Xの方向にプレート作業位置Aまでプレートを移動させるために、中央に集めてクランプした位置でプレート14を受けることができるプレートプラットホーム30を示す。プレートプラットホーム30は、好適なコントローラに応答してガイドレール33に沿って摺動移動させるための支持部31上に取付けられる。プレートプラットホーム30は、カム装置(図示せず)によって動かされる3つの可動ラグの形態のプレートクランプ部材32を含み、このラグは好ましくは、プラットホーム30上でプレート14の位置を中央に集めるためのプレート中央集中化手段の役割を果たすこともできる。これは、プレート14に対するその後の動作にとって有用であり得る。
Claims (16)
- プレート(14)内の固体増殖培地(12)の表面(13)を横切る線を代表する線(D)を三次元(x,y,z)で決定するための方法であって、前記線(D)は接種および画線のためのものであり、前記方法は、
〜前記プレートをプレート作業位置に配置するステップと、
〜センサ(20)を用いて、前記プレート作業位置に配置されたプレートの検知領域(112)内で培地表面を検知し、その検知領域内で前記センサに固定された基準点(101)から前記培地表面までの平均距離(d)を測定するステップとを備え、前記センサは、前記培地表面上に集束ビームを与えることが可能な超音波ビーム集束要素を含む超音波検知装置であり、
〜前記平均距離を、一次元(z)で固定された基準面(C)に参照付けて、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面のために一次元(z)で前記基準面に対する表面位置参照(p)を決定するステップと、
〜前記表面位置参照と予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された概念上の作用線(B)とを用いて、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面を横切る線を代表する線(D)を三次元(x,y,z)で決定するステップとを含み、前記線(D)のx方向の位置、y方向の位置、およびz方向の位置は、それぞれ、前記概念上の作用線のx方向の位置、y方向の位置、および、前記表面位置基準のz方向の位置に対応し、
前記プレート作業位置は、前記センサを含み、前記予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された前記概念上の作用線を有し、一次元(z)で固定された前記基準面を有する、方法。 - 通常の、概して水平な向きにあるプレートの培地の表面は、前記表面位置参照を決定することによって、少なくともz次元で位置付けられる、請求項1に記載の方法。
- 前記基準面は、前記プレートをクランプして支持できるプレートプラットホームの一部を成す面である、請求項1または請求項2に記載の方法。
- 前記表面位置参照の決定は、前記プレートが載っているプレートプラットホームを基準として前記培地の高さを決定する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
- プレート(14)内の固体増殖培地(12)の表面(13)を横切る線を代表する線(D)を三次元(x,y,z)で決定するための方法であって、前記線(D)は接種および画線のためのものであり、前記方法は、
〜上限と下限とを設定して、前記上限と前記下限との間の検出範囲を規定するステップと、
〜前記プレートをプレート作業位置に配置するステップと、
〜センサ(20)を用いて、前記プレート作業位置に配置されたプレートの検知領域(112)内で検出範囲内で培地表面を検知し、その検知領域内で前記センサに固定された基準点(101)から前記培地表面までの平均距離(d)を測定するステップとを備え、前記センサは、前記培地表面上に集束ビームを与えることが可能な超音波ビーム集束要素を含む超音波検知装置であり、
〜前記平均距離を、一次元(z)で固定された基準面(C)に参照付けて、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面のために一次元(z)で前記基準面に対する表面位置参照(p)を決定するステップと、
〜前記表面位置参照と予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された概念上の作用線(B)とを用いて、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面を横切る線を代表する線(D)を三次元(x,y,z)で決定するステップとを含み、前記線(D)のx方向の位置、y方向の位置、およびz方向の位置は、それぞれ、前記概念上の作用線のx方向の位置、y方向の位置、および、前記表面位置基準のz方向の位置に対応し、
前記プレート作業位置は、前記センサを含み、前記予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された前記概念上の作用線を有し、一次元(z)で固定された前記基準面を有する、方法。 - 検出上限は前記基準面より上にあり、検出下限は前記基準面より下にある、請求項5に記載の方法。
- 前記検出範囲は、較正サブ範囲を備える、請求項5または請求項6に記載の方法。
- 前記較正サブ範囲は、警報状態を識別する、請求項7に記載の方法。
- 前記警報状態は、前記プレート作業位置に配置されたプレートが、依然としてその上に蓋を含むか、または上下反対に前記プレート作業位置に配置された場合である、請求項8に記載の方法。
- 前記検出範囲は約30mmに設定され、前記上限は前記基準面の上20mmの位置に設定され、前記下限は前記基準面の下10mmの位置に設定される、請求項9に記載の方法。
- 前記センサは、メインフレームに強固に取付けられ、それによって、前記プレート作業位置の概略位置を規定する、請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法。
- 前記センサは、前記プレート作業位置の上方にくるようにおよびそのすぐ下方でプレートプラットホームに保持された、前記配置されたプレートに動作可能に隣接しているように取付けられ、前記配置されたプレートは、上向きに開放した培地表面を有する、請求項1〜11のいずれか1項に記載の方法。
- プレート(14)内の固体増殖培地(12)の表面(13)を横切る線を代表する線(D)を三次元(x,y,z)で決定するための機器であって、前記線(D)は接種および画線のためのものであり、
センサは、プレート作業位置に配置されたプレートの検知領域内で培地表面を検知し、その検知領域内で前記センサに固定された基準点(101)から前記培地表面までの平均距離(d)を測定することが可能であり、前記機器は、前記センサから、一次元(z)で固定された基準面(C)までの前記平均距離を参照して、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面のために一次元(z)で前記基準面に対する表面位置参照(p)を決定し、次いで、前記表面位置参照と予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された概念上の作用線(B)とを用いて、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面を横切る線を代表する線(D)を三次元(x,y,z)で決定するように構成され、前記線(D)のx方向の位置、y方向の位置、およびz方向の位置は、それぞれ、前記概念上の作用線のx方向の位置、y方向の位置、および、前記表面位置基準のz方向の位置に対応し、
前記プレート作業位置は、前記センサを含み、前記予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された前記概念上の作用線を有し、一次元(z)で固定された前記基準面を有し、
前記センサは、前記培地表面上に集束ビームを与えることが可能な超音波ビーム集束要素を含む超音波検知装置である、機器。 - プレート(14)内の固体増殖培地(12)の表面(13)を横切る線を代表する線(D)を三次元(x,y,z)で決定するための機器であって、前記線(D)は接種および画線のためのものであり、
センサは、上限と下限とを有して前記上限と前記下限との間の検出範囲を規定し、プレート作業位置に配置されたプレートの検知領域内で前記検出範囲内で培地表面を検知し、その検知領域内で前記センサに固定された基準点(101)から前記培地表面までの平均距離(d)を測定することが可能であり、前記機器は、測定された距離を基準面に参照付けて、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面のために一次元(z)で前記基準面に対する表面位置参照(p)を決定し、次いで、前記表面位置参照と予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された概念上の作用線(B)とを用いて、前記配置されたプレートの前記培地の前記表面を横切る線を代表する線を三次元(x,y,z)で決定するように構成され、
前記線(D)のx方向の位置、y方向の位置、およびz方向の位置は、それぞれ、前記概念上の作用線のx方向の位置、y方向の位置、および、前記表面位置基準のz方向の位置に対応し、
前記プレート作業位置は、前記センサを含み、前記予め定められた位置に二次元(x,y)で固定された前記概念上の作用線を有し、一次元(z)で固定された前記基準面を有する、機器。 - 前記センサは、メインフレームに強固に取付けられ、それによって、前記プレート作業位置の概略位置を規定する、請求項13〜14のいずれか1項に記載の機器。
- 前記センサは、前記プレート作業位置の上方にくるようにおよびそのすぐ下方でプレートプラットホームに保持された、配置されたプレートに動作可能に隣接しているように取付けられ、前記配置されたプレートは、上向きに開放した培地表面を有する、請求項13〜15のいずれか1項に記載の機器。
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