JP6118895B2 - 封止膜に孔をあけるためのシステム - Google Patents

Description

本発明は、医療分析を行うための機器の分野に関する。

従来、「自動分析器」とも呼ばれるこのような機器は、例えば容器の封止膜に孔をあけること及び、液体、特に血液サンプルや他の種類の人的サンプルを、あらかじめ１つ又は複数の試薬を収容している当該容器へピペットで分配することなどの一定の手順を自動化することができる。

本発明の装置及び方法は、ゲルカードの封止膜に孔をあけるのに特に適している。

周知の方法では、ゲルカードは、１つ又は複数の反応ウェルを備える容器であり、反応ウェルはあらかじめ封止膜によって封止され、それぞれが試薬を収容しており、１つのゲルカードにおける１つのウェルと他のウェルとで、当該試薬が異なっていてもよい。

そのようなゲルカードへの充填には、一定の基準が満たされなければならず、特に、計量された量又は「１ドース（dose）」の分注された液体と、ゲルカードにおけるウェルの底に前もって存在する試薬との間に、空隙が形成されなければならない。当該空隙の存在は、分注された１ドースの液体と試薬との間の物理的接触を一時的に防ぐ。当該空隙の利点は、化学反応の開始時点を制御することである。

１ドースの液体の一部が、ウェルの壁に付着したままになることで、インキュベートされ、および遠心分離されるべき反応混合物から除外されることを防ぐため、充填に対して満たされるべき他の基準は、ウェルの内壁上に液体の飛沫があってはならないことである。そのような飛沫は、ほとんどの場合、ウェル内に分注された１ドースの液体がさまざまな範囲で、しかし常に不規則に分裂することに由来する。

現在では、ウェルの内壁上での飛沫の形成は、上記の容器から静電荷を取り除くことによって防がれることが知られている。１ドースの液体が充填手段から離れるときに、容器が有している静電荷が、１ドースの液体を分散させる傾向にある。結果として、静電荷によって発生する引力のために、１ドースの液体の一部が、ウェルの内壁に付着するようになる。分注された１ドースの液体と、容器の底に前もって存在する試薬との間での空隙の形成もまた、充填手段によって滴下された１ドースの液体を偏向させる傾向のある静電力が欠如することによって促進される。国際公開第２０１０／１１６０６９号の公開された特許出願では、あらかじめ封止膜によって塞がれたゲルカードに充填するための方法及び装置が記載されている。上記の装置は、膜に孔をあけるための手段及び、分注作業の前に、ゲルカードのウェルが有している可能性がある静電荷を取り除くために設計された別の手段を含んでいる。

国際公開第２０１０／１１６０６９号

本発明は、先行技術の装置と比較して改善されたシステムを提供することを目的とする。

特に本発明は、膜によってあらかじめ塞がれたゲルカードタイプの容器が、充填される前に、先行技術の装置と比べてより速く、およびより効率的にコンディショニングされることを可能にするシステムを提供することを目的とする。

この目的は、容器の少なくとも１つのキャビティを塞いでいる少なくとも１つの封止膜に孔をあけるための孔あけシステムであって、
前記封止膜を穿刺する孔あけ部材と、
前記キャビティが有している可能性がある静電荷を取り除くためのイオン化装置と、を備え、
前記イオン化装置が、イオン化特性を示すように構成された前記孔あけ部材を含んでいる、孔あけシステムによって達成される。

本発明のシステムでは、容器を塞いでいる封止膜に孔をあける作業及び当該容器をイオン化する作業は、本明細書中において「イオン化装置」と呼ばれる１つの共通部材によって実施される。

まず、イオン化装置は、交互に正の電荷と負の電荷を帯びたイオンの流れを発生させるように構成され、このイオンの流れは、周囲の空気によって容器に伝わる。この電荷符号の交互変化は、容器の壁が有している静電荷を取り除くことを可能にする。

さらに、イオン化装置は、充填されるべき容器の封止膜に孔をあけることができるように形成されている。

したがって、これら２つの作業は、同時に、又は少なくとも１つの共通の工程の間に、実施されることが可能である。

さらに、これらの設定によって、イオン化装置はまた、封止膜と接触し、ひいては容器のキャビティに非常に接近する、又は実際に当該キャビティに貫入する。さらに、イオン化装置の中心軸は、容器の中心軸と一直線に並びうる。したがってこのイオン化は、イオン化スパイクの一片がゲルカードのウェルから離れて、かつウェルに対して傾斜していることが必要であった先行技術の装置と比べて、より効率的で、より速い。

ある実施形態において、前記孔あけ部材は、前記封止膜を貫通することによって、前記容器の前記キャビティに貫入するように設計された孔あけスパイクを含んでいる。

ある実施形態において、イオン化装置はさらに、孔あけスパイクの周りに、孔をあけないイオン化スパイクを含んでいる。

ある実施形態において、前記容器は、前記封止膜によって塞がれた複数のウェルを含むゲルカードであって、前記ウェルのそれぞれが１つ又は複数の試薬を収容しており、及び前記キャビティは、前記ゲルカードにおける１つのウェルである。

１つの実施形態において、孔あけ部材は、電圧源に接続されている。好ましくは、前記孔あけ部材は、コロナ作用を発生させる電位となるように構成されている。

本発明はまた、容器の少なくとも１つのキャビティを塞いでいる少なくとも１つの封止膜に孔をあけるための孔あけ方法であって、
前記キャビティを開口するために、前記封止膜に孔をあけることと、
前記キャビティが有している可能性がある静電荷を除去することと、を含み、
前記封止膜の孔あけ及び前記静電荷の除去が、１つの共通部材、すなわちイオン化特性を示すように構成された孔あけ部材によって実施される、孔あけ方法を提供する。

本発明によると、容器のキャビティからの静電荷の除去（すなわちイオン化）は、孔あけの間及び／又は後に実施される。

一般的に、前記封止膜の孔あけ及び前記静電荷の除去は、同時に実施される。

１つの実施において、孔あけ部材及び容器のキャビティが互いに対向して設置され、当該孔あけ部材が、キャビティ内に挿入され、その後キャビティから引き抜かれ、それによって当該キャビティを塞いでいる封止膜に孔があけられ、キャビティへの孔あけ部材の挿入開始と、キャビティからの孔あけ部材の引き抜き終了との間の少なくとも一瞬に、当該孔あけ部材がイオン化特性を示す。

通常、当該孔あけ部材は、ある電位、特にコロナ作用を発生させる電位となった場合にイオン化特性を有する導体素子を含んでいる。当該孔あけ部材に加えられる電位は、上記方法の実施の間、必要に応じて制御及び調節されてもよい。したがって、当該孔あけ部材は、ある時点で、又は連続的にイオン化特性を示してもよい。

有利な実施において、前記キャビティへの前記孔あけ部材の挿入開始から、前記キャビティからの前記孔あけ部材の引き抜き終了まで、前記孔あけ部材は連続して、又は実質的に連続してイオン化特性を示す。

ある実施において、前記方法は、少なくとも、
前記孔あけ部材及び前記容器を入口位置に設置する工程と、
前記孔あけ部材を、前記キャビティ内の、前記封止膜に孔があけられる押し込み位置まで挿入する工程と、
前記キャビティから前記孔あけ部材を引き抜き、前記孔あけ部材及び前記容器を出口位置に設置する工程と、を連続して含んでいる。

入口位置は、孔あけ部材がキャビティの注入口付近に位置する位置であり、具体的には孔あけ部材がキャビティと対向する位置であり、より具体的には孔あけ部材がキャビティの中心軸と一直線に並ぶ位置である。

同様に、出口位置は、孔あけ部材がキャビティの排出口付近に位置する位置であり、具体的には孔あけ部材がキャビティと対向する位置であり、より具体的には孔あけ部材がキャビティの中心軸と一直線に並ぶ位置である。

ある実施では、前記方法は、
前記孔あけ部材を前記封止膜上方の入口位置に設置する工程と、
前記孔あけ部材を、前記キャビティ内の、前記封止膜に孔があけられる押し込み位置まで下げる工程と、
前記孔あけ部材を、前記押し込み位置から前記キャビティ上方に位置する出口位置まで引き上げる工程と、を含んでいる。

ある実施では、前記方法は、
前記容器を、前記孔あけ部材に対向する入口位置に設置する工程と、
前記孔あけ部材が、前記キャビティ内の、前記封止膜に孔があけられる押し込み位置まで貫入するように、前記孔あけ部材に前記容器を近づける工程と、
前記孔あけ部材に対向して位置する出口位置に前記容器を運ぶことによって、前記孔あけ部材から前記容器を遠ざける工程と、を含んでいる。

いずれにしても、続く工程において、容器を孔あけ部材から遠ざけることが可能であり、逆もまた同様に可能である。

ある実施では、前記孔あけ部材及び前記容器が、前記押し込み位置で所定の時間保持される。

ある実施では、前記孔あけ部材を前記キャビティ内に挿入すること及び前記キャビティから前記孔あけ部材を引き抜くこと、すなわち前記孔あけ部材を下げて及び上げること、又は、前記容器を上げて及び下げることが、連続した往復動作で実施される。言い換えれば、孔あけ部材又は容器は、当該孔あけ部材が、当該容器のキャビティにおける押し込み位置で静止状態に保持されていない間、連続した往復動作で移動する。

ある実施では、前記封止膜に孔があけられた後に、前記孔あけ部材及び前記容器は、前記出口位置で所定の時間静止状態に保持される。

ある実施では、前記孔あけ部材を挿入すること（すなわち、入口位置から押し込み位置に、孔あけ部材を下げること又は容器を上げること）は、第一の所定速度で実施され、前記孔あけ部材を引き抜くこと（すなわち、押し込み位置から出口位置に、孔あけ部材を上げること又は容器を下げること）は、第一の所定速度と等しくてもよく、小さくてもよく、又は大きくてもよい第二の所定速度で実施される。

種々の実施形態及び実施が、本明細書に記載されている。しかし、特別の定めのない限り、１つの実施形態又は実施を参照して記載された特徴は、他の実施形態又は実施に適用されてもよい。

本発明の他の特徴及び利点は、非限定的な例として挙げられた本発明における実施形態に関連する以下の記述を読むことで明らかになる。この記述は、添付している図面を参照して与えられている。

ヒトから得られたサンプルを処理するように構成され、本発明の孔あけシステムの第一実施形態を備える多連結式ロボットを含んでいる、自動医療分析器の概略図である。 図１の自動分析器と共に用いるために設計されたゲルカードタイプの容器の正面図である。 本発明の孔あけシステムの第一実施形態の詳細図である。 完全に格納された位置における孔あけ部材を示した、本発明の孔あけシステムの第一実施形態の断面図である。 本発明の孔あけシステムの第一実施形態による、ゲルカードの封止膜の孔あけ開始時の断面図である。 孔あけ部材が押し込み位置にある、本発明の孔あけシステムの第一実施形態の断面図である。 本発明のイオン化装置の第一実施形態における一変形例の詳細図である。 本発明の孔あけシステムの第二実施形態の詳細図である。 孔あけ部材の下方の入口位置におけるゲルカードタイプの容器を示した、本発明の孔あけシステムの第二実施形態の断面図である。 孔あけシステムの第二実施形態による、ゲルカードの封止膜の孔あけ開始時の断面図である。 容器が押し込み位置にある、本発明の孔あけシステムの第二実施形態の断面図である。

図１は、自動医療分析器１０の一例の概略図である。

この自動医療分析器１０は、ゲルカードを扱う。図２に示すとおり、ゲルカード１２は、当該ゲルカードの上部壁１２ａを開口する複数のウェル又はキャビティ１４、具体的には６つのウェルを備えている。これらのウェル１４は、ゲルカード１２の上部壁１２ａに形成された開口１６を有しており、当該開口１６は、ゲルカード１２の左右方向Ｌに伸びる封止膜１８によってあらかじめ封止されている。本例では、封止膜１８は、ゲルカード１２の上部壁を封止する長くて薄い帯状片である。

上記のゲルカード１２のウェル１４は、それぞれ試薬Ｒで満たされており、ゲルカード１２における１つのウェルと他のウェルとで、当該試薬Ｒが異なっていることも可能である。さらに、それぞれのウェル１４は、円錐台形状の中間キャビティを介して、実質的に円筒形状の下部キャビティ１４ｂと接続された、実質的に円筒形状の上部キャビティ１４ａによって形成されている。上部キャビティ１４ａは、下部キャビティ１４ｂの直径よりも十分に大きい直径を有し、下部及び上部キャビティは、共通の中心軸Ａにおいて相互に一致する。試薬レベルは、下部キャビティ１４ｂの上端よりわずかに下に位置しており、一方で、最初は空である上部キャビティ１４ａがゲルカード１２の上部壁１２ａに開口する。

再度図１を参照すると、自動分析器１０は、多連結式ロボット１０２の腕部の遠位末端（又は「末端部材」）１０６に取り付けられた本発明の孔あけシステム１００の第一実施形態と、ゲルカードを充填するための充填装置２００と、充填装置２００によってウェル１４に注がれた液体の位置を確認するためのモニタリングステーション３００と、遠心分離機４００と、特にビューイングステーションによって構成される手段である、ゲルカード１２のウェル１４内で起こりうる化学反応を分析するための手段５００とを含んでいる。

ゲルカード１２はプラスチック製であり、静電荷Ｃ＋、Ｃ−を帯びる傾向がある（図２）。

すでに上述した理由のため、分析を実施するために選ばれたウェル１４内に分析されるべきサンプルを導入する前に、ウェル１４上に位置する膜１８の一部は穿刺される必要があり、ウェル１４は、静電荷を除去するためにイオン化される必要がある。

図３、４Ａ、４Ｂ及び４Ｃを参照して、より詳細に説明された本発明の孔あけ装置１００の第一実施形態により、孔あけ及びイオン化作業は、１つの共通部材を用いて、通常同時に実施される。しかし、この実施は限定的でなく、代わりに又は追加で、イオン化作業が孔あけ作業の後に実施されてもよい。

図３に示されるように、孔あけシステム１００は、孔あけ部材を形成するスパイク１１０を備え、取り外し可能な方法で円筒形のスリーブ１１２に固定されたイオン化装置１０８を含んでおり、この配置は当該スパイク１１０の定期的な洗浄を可能にする。

本発明によると、孔あけスパイク１１０は、ウェル１４上に位置する膜１８の一部に孔をあける作業及び当該ウェル１４をイオン化する作業のどちらも実施する。

上記のウェル１４をイオン化するため、孔あけスパイク１１０は、ゲルカードが有している静電荷を取り除くコロナ作用を発生させる電位となるように構成されている。この例において、孔あけスパイク１１０は、ゲルカードのウェルに電界Ｅを発生させる。この目的のため、例えば、孔あけスパイク１１０のために、２５０ヘルツ（Ｈｚ）の周波数、４．２キロボルト（ｋＶ）の最小電位差及び３．５ミリアンペア（ｍＡ）未満の電流を送る能力を有する、ほぼ正弦波を送る電源を選ぶことができる。

電気アークがないことにより、イオン化装置１０８がゲルカード１２と接触することも可能となる。

図示された例では、孔あけスパイク１１０は、ゲルカード１２におけるウェルの上部キャビティ１４ａの内径と実質的に等しい外径を有している。しかし、この例は限定的でなく、孔あけスパイク１１０の外径は、ゲルカードにおけるウェル１４の上部キャビティ１４ａの内径と比べて十分に小さくてもよい。

さらに、孔あけスパイク１１０は、斜面１１０ａを備えていてもよい。孔あけスパイク１１０の斜面１１０ａの数と、当該斜面１１０ａの、孔あけスパイク１１０の主軸に対する傾斜角とは、封止膜１８が作られた材料の性質に応じて調整することができる。

本発明の一変形例において、孔をあけないイオン化スパイク１１４が、図５に示されるように、孔あけスパイク１１０の周りにリング構造となるように配置されてもよく、これによりゲルカード１２におけるウェル１４のイオン化の効果を強めることが可能となる。

ゲルカード１２の封止膜１８に孔をあけるための本発明の方法が、図４Ａから４Ｃを参照して以下に説明されている。

第一工程の間、孔あけスパイク１１０はまず、図４Ａに示されるように、ゲルカード１２のウェル１４の中心軸Ａと一直線に並べられる。この時、孔あけスパイク１１０は、封止膜１８上方の「入口」位置に設置されている。

本方法の第二工程では、図４Ｂ及び４Ｃに示されるように、孔あけスパイク１１０は、メンブレン１８に完全に孔があけられる「押し込み」位置まで、垂直移動の動作でウェル１４の上部キャビティ１４ａ内に下げられる。スリーブ１１２は、上部壁１２ａ上におけるウェル１４の両側に隣接する位置となることがわかる。

上記のとおり、孔あけスパイク１１０は、ゲルカード１２におけるウェルの上部キャビティ１４ａの内径と実質的に等しい外径を有している。よって、図４Ｂ及び４Ｃで示すとおり、ウェル１４の封止膜に孔があけられている間、孔あけスパイク１１０はウェルの上部キャビティ１４ａの壁に沿って動き、当該上部キャビティ１４ａの壁に沿って膜１８ａの孔があけられた部分が押しのけられる。この場合、孔あけスパイク１１０が封止膜１８と接触しているため、孔あけスパイク１１０の周りの閉環境は、イオン化の残留効果が得られる。

孔あけスパイク１１０は、ウェル１４上方に位置するゲルカード１２の膜１８の一部を穿刺し、ウェル１４をイオン化もする。

その後、第三工程では、孔あけスパイク１１０は、押し込み位置からウェル１４上方に位置する出口位置まで引き上げられる。

好ましくは、孔あけスパイク１１０は、孔あけ作業の間（すなわち、第二工程及び第三工程の間）に、ゲルカードが有している静電荷を連続的に取り除くことを可能にするコロナ作用を発生させる電位となることである。

最後に第四工程では、孔あけスパイク１１０は、ゲルカード１２の他のウェルにおいて上述した工程を繰り返し行うために、任意にゲルカード１２から遠ざけられる。

このように、本発明の孔あけ方法は、ゲルカード１２におけるウェル１４の封止膜１８に孔をあけること及び当該ウェル１４をイオン化することを可能にする。これは、複数の分析中に部分的に使用されるゲルカード１２にとって特に有利である。ある場合には、特定のウェルが第一分析に使用され、他のウェルが第二分析に使用される。しかし、それぞれの分析において、ゲルカード１２のウェル１４に存在する試薬Ｒの品質が保証される必要がある。このため、ウェル１４は、充填される直前の間際に開口されることが望ましい。

本発明の孔あけ方法の１つの実施において、孔あけスパイク１１０は、押し込み位置で所定の時間、例えば１秒間、静止状態に保持されてもよい。

孔あけ方法の他の実施において、孔あけスパイク１１０は、連続した往復運動で下げられ及び上げられることもできる。そのとき、当該スパイクは押し込み位置で静止状態に保持されない。

有利な方法では、選択されたウェル１４上方に位置する膜の一部に孔をあけた後に、孔あけスパイク１１０は出口位置で所定の時間、例えば１秒のような間、静止状態に保持されうる。この実施は、分注された１ドースの液体と試薬との間での空隙の形成に関して、良好な結果を与える。

孔あけスパイク１１０が、入口位置から押し込み位置に第一の所定速度で下げられ、出口位置に第一の所定速度より小さい第二の所定速度で引き上げられる場合に、空隙の形成が更に促進される。例えば、孔あけスパイク１１０は、押し込み位置から出口位置に１秒間で上げられることができるので、孔あけ作業が１秒未満の時間で実施できる。

図１に示されるように、孔あけ及びイオン化作業の後に、ゲルカード１２は、一般的に充填手段２００に供される。これらの充填手段２００は、１ドースの液体を注ぐために、封止膜１８に形成された孔を通してウェル１４の上部キャビティ１４ａに挿入される、少なくとも１つのピペット２０２を含んでいる。好ましくは、上記のとおり、試薬と注がれた１ドースの液体との間に空隙が形成されるように設定されていることである。

そして充填工程の後、ゲルカード１２は、空隙が存在することを確認するため、モニタリングステーション３００に運ばれる。そのとき、ゲルカード１２はインキュベートされ、および遠心分離機４００を用いて遠心分離される。最後に、化学反応の結果が、化学反応を分析するための手段５００を用いて分析される。

本発明の孔あけシステムの第二実施形態は、図６〜７Ｃを参照して説明されている。本発明の第二実施形態は、主に、孔あけシステム６００が自動医療分析器１０において静止している点及び自動医療分析器１０によって扱われるゲルカード６０が、孔あけシステム６００に対して動くように取り付けられている点において、第一実施形態と異なる。

図６に示されるゲルカード６０は、第一実施形態におけるゲルカードと実質的に同一であるため、以下では詳細に説明しない。他に示さない限り、上述のゲルカードの特徴は全て第二実施形態でも有効である。

孔あけシステム１００の第一実施形態と同様に、ゲルカード６０のウェル６２の孔あけ及びイオン化の作業が、この例において、１つの共通部材によって実施される。

図６は、孔あけ部材を形成するスパイク６０４を備えるイオン化装置６０２を含む孔あけシステム６００を示している。示された例では、孔あけスパイク６０４は、自動分析器１０の枠に固定されている、この例においては三角形の部材（a set square）である支持部６０６に取り外し可能な形態で取り付けられた、取付器具６０８に取り付けられている。孔あけシステム６００の取り付けはこのように単純であり、自動医療分析器１０にあらかじめ包含されうる。孔あけスパイク６０４の取り外し可能な取付は、当該スパイクの定期的な洗浄も可能にする。

第一実施形態と同様に、孔あけスパイク６０４は、連続的にコロナ作用を発生する電位となるように構成されている。

ゲルカード６０は、自動分析器１０の多連結式ロボット６１０によって孔あけシステムに対して動かされうる。図６に示されるように、ゲルカード６０は、実質的にＬ字型であり、多連結式ロボット６１０の末端部材６１２の一部を形成する顎部６１４ａ、６１４ｂによって両末端が固定されている。

上述した孔あけシステムを用いるゲルカード６０の封止膜６４に孔をあける方法は、孔あけ部材が静止している一方で、容器が動くように取り付けられている点のみにおいて、図４Ａ〜４Ｃを参照して記載された孔あけ方法と異なる。

したがって、図７Ａに示された第一工程において、ゲルカード６０は、多連結式ロボット６１０によって、孔あけスパイク６０４の下方に位置する入口位置に移動され、当該カードのウェル６２の中心軸Ａは孔あけスパイク６０４と一直線に並ぶ。

図７Ｂ及び７Ｃに示されるように、本方法の第二工程において、ゲルカード６０は、膜６４に孔があけられる押し込み位置まで移動（この例では垂直移動）の動作で、孔あけスパイク６０４に近づけられる。

なお、この例において、孔あけスパイク６０４の径は、ゲルカード６０の上部キャビティ６２ａの径と比べて十分に小さい。他の例では、孔あけスパイク６０４の径は、ゲルカード６０の上部キャビティ６２ａの径と比べてより小さい又は実質的に等しい場合もある。

ゲルカード６０は、最終的に押し込み位置から、孔あけスパイク６０４の下方に位置する出口位置まで下げられる。

一般的に、ウェル６２の孔あけ及びイオン化の作業は同時に起こり、より具体的には、イオン化は孔あけ作業の間に実施される。しかし、この実施は限定的でなく、イオン化は、例えば孔あけ作業の間及び後、又は孔あけ作業の後のみに実施されてもよい。

第一実施形態を参照して記載された、様々に設定された構成の孔あけ作業が、この第二実施形態にも適用することが可能である。

したがって、ゲルカード６０を押し込み位置及び／又は出口位置に所定の時間静止状態に保持する、又は反対に、上部キャビティ６２ａ内への動作を連続した往復運動で実施する、又は孔あけスパイク６０４に押し込む速度を、そこから引き抜く速度より大きくなるように設定してもよい。

本発明は、特定の実施形態及び実施を参照して記載されているが、請求項によって定められた本発明の一般的な範囲を超えないで、これらの例について様々な修正及び変更が行われてもよいことが明らかである。特に、示された／言及された様々な実施形態及び実施の個々の特徴は、追加の実施形態及び実施において組み合わされてもよい。したがって、本明細書及び図面は、制限的というより実例的に与えられているとして考慮されるべきである。

Claims (14)

1. 容器（１２、６０）の少なくとも１つのキャビティ（１４、６２）を塞いでいる少なくとも１つの封止膜（１８、６４）に孔をあけるための孔あけシステム（１００、６００）であって、
   前記封止膜（１８、６４）を穿刺する孔あけ部材（１１０、６０４）と、
   前記キャビティ（１４、６２）が有している可能性がある静電荷を取り除くためのイオン化装置（１０８、６０２）と、を備え、
   前記イオン化装置（１０８、６０２）が、イオン化特性を示すように構成された前記孔あけ部材（１１０、６０４）を含んでいる、孔あけシステム。
2. 前記孔あけ部材（１１０、６０４）が、前記封止膜（１８、６４）を貫通することによって、前記容器（１２、６０）の前記キャビティ（１４、６２）に貫入するように設計された孔あけスパイクを含んでいる、請求項１に記載の孔あけシステム。
3. 前記容器（１２、６０）が、前記封止膜（１８、６４）によって塞がれた複数のウェルを含むゲルカードであって、前記ウェルのそれぞれが１つ又は複数の試薬（Ｒ）を収容しており、及び前記キャビティ（１４、６２）が、前記ゲルカードにおける１つのウェルである、請求項１又は２に記載の孔あけシステム。
4. 前記孔あけ部材（１１０、６０４）が、コロナ作用を発生させる電位となるように構成されている、請求項１〜３のいずれか１項に記載の孔あけシステム。
5. 容器（１２、６０）の少なくとも１つのキャビティ（１４、６２）を塞いでいる少なくとも１つの封止膜（１８、６４）に孔をあけるための孔あけ方法であって、
   前記キャビティ（１４、６２）を開口するために、前記封止膜（１８、６４）に孔をあけることと、
   前記キャビティ（１４、６２）が有している可能性がある静電荷を除去することと、を含み、
   前記封止膜（１８、６４）の孔あけ及び前記静電荷の除去が、１つの共通部材、すなわちイオン化特性を示すように構成された孔あけ部材（１１０、６０４）によって実施される、孔あけ方法。
6. 前記封止膜（１８、６４）の孔あけ及び前記静電荷の除去が、同時に実施される、請求項５に記載の孔あけ方法。
7. 少なくとも、
   前記孔あけ部材（１１０、６０４）及び前記容器（１２、６０）を入口位置に設置する工程と、
   前記孔あけ部材（１１０、６０４）を、前記キャビティ（１４、６２）内の、前記封止膜（１８、６４）に孔があけられる押し込み位置まで挿入する工程と、
   前記キャビティ（１４、６２）から前記孔あけ部材（１１０、６０４）を引き抜き、前記孔あけ部材（１１０、６０４）及び前記容器（１２、６０）を出口位置に設置する工程と、を連続して含んでいる、請求項５又は６に記載の孔あけ方法。
8. 前記キャビティへの前記孔あけ部材（１１０、６０４）の挿入開始から、前記キャビティ（１４、６２）からの前記孔あけ部材（１１０、６０４）の引き抜き終了まで、前記孔あけ部材（１１０、６０４）が、連続して、又は実質的に連続してイオン化特性を示す、請求項７に記載の孔あけ方法。
9. 少なくとも、
   前記孔あけ部材（１１０）を前記封止膜（１８）上方の入口位置に設置する工程と、
   前記孔あけ部材（１１０）を、前記キャビティ（１４）内の、前記封止膜（１８）に孔があけられる押し込み位置まで下げる工程と、
   前記孔あけ部材（１１０）を、前記押し込み位置から前記キャビティ（１４）上方に位置する出口位置まで引き上げる工程と、を連続して含んでいる、請求項５〜８のいずれか１項に記載の孔あけ方法。
10. 少なくとも、
    前記容器（６０）を、前記孔あけ部材（６０４）に対向する入口位置に設置する工程と、
    前記孔あけ部材（６０４）が、前記キャビティ（６２）内の、前記封止膜（６４）に孔があけられる押し込み位置まで貫入するように、前記孔あけ部材（６０４）に前記容器（６０）を近づける工程と、
    前記孔あけ部材に対向して位置する出口位置に前記容器を運ぶことによって、前記孔あけ部材（６０４）から前記容器（６０）を遠ざける工程と、を連続して含んでいる、請求項５〜８のいずれか１項に記載の孔あけ方法。
11. 前記孔あけ部材（１１０、６０４）及び前記容器（１２、６０）が、前記押し込み位置で所定の時間保持される、請求項７〜１０のいずれか１項に記載の孔あけ方法。
12. 前記孔あけ部材（１１０、６０４）を前記キャビティ（１４、６２）内に挿入する工程及び前記キャビティ（１４、６２）から前記孔あけ部材を引き抜く工程が、連続した往復動作で実施される、請求項７〜１０のいずれか１項に記載の孔あけ方法。
13. 前記封止膜（１８、６４）に孔があけられた後に、前記孔あけ部材（１１０、６０４）及び前記容器（１２、６０）が、前記出口位置で所定の時間静止状態に保持される、請求項７〜１２のいずれか１項に記載の孔あけ方法。
14. 前記孔あけ部材（１１０、６０４）を挿入することが、第一の所定速度で実施され、前記孔あけ部材（１１０、６０４）が、前記第一の所定速度と比べて、小さい、等しい又は大きい第二の所定速度で引き抜かれる、請求項７〜１３のいずれか１項に記載の孔あけ方法。

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