JP6118656B2 - Board inspection equipment - Google Patents

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Description

本発明は、プリント配線板等の被検査基板の検査を行う基板検査装置に関し、さらに詳しく言えば、検査前の被検査基板のストック部と検査済み被検査基板のストック部とを基板検査部の片側の同一スペース内に配置し、装置全体の専有面積を小さくするとともに、基板搬送手段の構成を簡素した基板検査装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate inspection apparatus for inspecting a substrate to be inspected such as a printed wiring board. More specifically, the present invention relates to a stock portion of a substrate to be inspected before inspection and a stock portion of a substrate to be inspected before the inspection of the substrate inspection portion. The present invention relates to a substrate inspection apparatus that is disposed in the same space on one side, reduces the exclusive area of the entire apparatus, and simplifies the configuration of the substrate transfer means.

プリント配線板等の被検査基板の良否をプローブピンや画像処理等によって検査する基板検査装置として、被検査基板を検査する検査部と、検査前の被検査基板をストックして検査部に供給する供給部と、検査部にて検査された検査済の被検査基板をストックする収納部とを一体型とした基板検査装置がある(例えば、特許文献1参照)。   As a substrate inspection device that inspects the quality of a substrate to be inspected, such as a printed wiring board, using probe pins or image processing, the inspection unit that inspects the substrate to be inspected and the substrate to be inspected before inspection are stocked and supplied to the inspection unit There is a substrate inspection apparatus in which a supply unit and a storage unit that stocks inspected substrates that have been inspected by the inspection unit are integrated (for example, see Patent Document 1).

図6に、このような従来の基板検査装置の一例を示す。この基板検査装置1は、被検査基板Pの良否を検査する検査部2と、検査前の被検査基板Pをストックする搬入側ストック部3と、検査済の被検査基板Pをストックする搬出側ストック部4と、この検査システムの動作を制御する制御部(図示省略)とを備えている。   FIG. 6 shows an example of such a conventional substrate inspection apparatus. The substrate inspection apparatus 1 includes an inspection unit 2 for inspecting pass / fail of a substrate P to be inspected, a carry-in side stock unit 3 for stocking a substrate P to be inspected before inspection, and a carry-out side for stocking a substrate P to be inspected. A stock unit 4 and a control unit (not shown) for controlling the operation of the inspection system are provided.

また、基板検査装置1には、被検査基板Pを保持して搬入側ストック部3と検査部2との間を往復動する搬送手段5と、被検査基板Pを保持して検査部2と搬出側ストック部4との間を往復動する搬送手段6とが備えられている。   Further, the substrate inspection apparatus 1 includes a transfer means 5 that holds the substrate P to be inspected and reciprocates between the carry-in side stock unit 3 and the inspection unit 2, and holds the substrate P to be inspected with the inspection unit 2. Conveying means 6 that reciprocates between the carry-out side stock unit 4 is provided.

検査部2には、図示はされていないが、被検査基板Pが載置される検査テーブルや検査基板Pを画像処理やプローブピンを接触させて電気的検査を行う各種検査治具等が設けられている。   Although not shown, the inspection unit 2 is provided with an inspection table on which the inspected substrate P is placed, various inspection jigs for performing electrical inspection by contacting the inspection substrate P with image processing and probe pins, and the like. It has been.

搬入側ストック部3には、検査前の被検査基板Pがストックされる搬入側ストッカー3aが備えられている。図6に示すように、搬入側ストッカー3aは、その上方が開放されたボックス型とされ、その内部に例えば数百枚単位で被検査基板Pを収納できるようになっている。   The carry-in side stock unit 3 is provided with a carry-in side stocker 3a in which the inspected substrate P before being inspected is stocked. As shown in FIG. 6, the carry-in side stocker 3a has a box shape with its upper part opened, and can accommodate the inspected substrates P in units of, for example, several hundred pieces.

搬出側ストック部4には、検査済の被検査基板Pをストックする2つの搬出側ストッカー4a,4bが備えられている。この例において、一方の搬出側ストッカー4aには検査部2にて良品と判定された被検査基板Pが、他方の搬出側ストッカー4bには検査部2にて不良品と判定された被検査基板Pがそれぞれ収納されるようになっている。   The carry-out side stock unit 4 is provided with two carry-out side stockers 4a and 4b for stocking the inspected substrates P to be inspected. In this example, a substrate to be inspected P determined to be a non-defective product by the inspection unit 2 in one unloading side stocker 4a, and a substrate to be inspected determined to be a defective product by the inspection unit 2 in the other unloading side stocker 4b. Each P is stored.

この2つの搬出側ストッカー4a,4bの各々は、搬入側ストッカー3aと同様に、その上方が開放されたボックス型とされ、その内部に例えば数百枚単位で被検査基板Pが収納できるようになっている。   Each of the two carry-out side stockers 4a and 4b has a box shape with its upper part opened like the carry-in side stocker 3a so that the inspected substrates P can be accommodated in units of, for example, several hundred pieces. It has become.

この例において、2つの搬出側ストッカー4a,4bは、それぞれ支持脚4c,4dに支持されており、支持脚4c,4dは、図示しないモータ等の駆動手段により昇降可能とされている。   In this example, the two carry-out side stockers 4a and 4b are supported by support legs 4c and 4d, respectively, and the support legs 4c and 4d can be moved up and down by driving means such as a motor (not shown).

搬入側ストック部3側の搬送手段5は、搬入側ストック部3と検査部2との間に懸架される搬送ベルト5aと、搬送ベルト5aに支持されて、搬入側ストッカー3a内にストックされている検査前の被検査基板Pを図示しない真空吸着手段により保持する基板保持部5bとを備えている。   The conveying means 5 on the carry-in side stock unit 3 is stocked in the carry-in side stocker 3a supported by the carry belt 5a suspended between the carry-in side stock unit 3 and the inspection unit 2, and the carry belt 5a. And a substrate holding part 5b for holding the inspected substrate P before inspection by a vacuum suction means (not shown).

この例において、真空吸着手段は、基板保持部5bの基端側に並列して設けられる3つの吸着パッド5b1を備え、各吸着バッド5b1は、オンオフ切替弁を介して真空発生器(ともに図示しない)に接続されている。   In this example, the vacuum suction means includes three suction pads 5b1 provided in parallel on the base end side of the substrate holding portion 5b, and each suction pad 5b1 is connected to a vacuum generator (both not shown) via an on / off switching valve. )It is connected to the.

また、基板保持部5bは、図示しないモータ等の駆動手段により昇降可能とされている。これにより、基板保持部5bを、搬送ベルト5aを介して搬入側ストッカー3a上に位置決めした後に降下させ、吸着パッド5b1にて搬入側ストッカー3a内の被検査基板Pをエア吸着するようにしている。   The substrate holding part 5b can be moved up and down by driving means such as a motor (not shown). Thus, the substrate holding portion 5b is lowered after being positioned on the carry-in side stocker 3a via the transport belt 5a, and the board to be inspected P in the carry-in side stocker 3a is sucked by the suction pad 5b1. .

収納ストック部4側の搬送手段6は、検査部2と収納ストック部4との間に設けられた搬送ベルト6aと、搬送ベルト6aに支持されて、上記搬送手段5と同様の構成からなる基板保持部6bとを備えている。   The transporting means 6 on the storage stock unit 4 side is a substrate having the same configuration as the transporting means 5 supported by the transporting belt 6a provided between the inspection unit 2 and the storing stock part 4 and the transporting belt 6a. Holding part 6b.

基板保持部6bは、上記基板保持部5bと同様に、図示しないモータ等の駆動手段により昇降可能とされている。また、真空吸着手段として、基板保持部5bの吸着パッド5b1と同様に、図示しない真空発生器とオンオフ切替弁を介して接続される3つの吸着パッド6b1が備えられている。   The substrate holding part 6b can be moved up and down by a driving means such as a motor (not shown), similarly to the substrate holding part 5b. Further, as the vacuum suction means, three suction pads 6b1 connected to a vacuum generator (not shown) via an on / off switching valve are provided in the same manner as the suction pads 5b1 of the substrate holding part 5b.

次に、この従来の基板検査装置1のシステム動作例を説明する。まず、検査システムの始動に際しては、被検査基板Pを搬入側ストック部3の搬入側ストッカー3a内に所定枚数積層してストックし、図示しない操作部を操作することにより検査システムを開始する。   Next, a system operation example of the conventional substrate inspection apparatus 1 will be described. First, when starting the inspection system, a predetermined number of substrates to be inspected P are stacked and stocked in the loading-side stocker 3a of the loading-side stock unit 3, and the inspection system is started by operating an operation unit (not shown).

検査システムの始動により、搬送ベルト5aは、基板保持部5bを搬入側ストッカー3a上に移動させて、搬入側ストッカー3a内の被検査基板Pをエア吸着可能な位置にまで降下させる。   With the start of the inspection system, the transport belt 5a moves the substrate holder 5b onto the carry-in side stocker 3a and lowers the substrate P to be inspected in the carry-in side stocker 3a to a position where air can be adsorbed.

次に、図示しない真空吸着手段を作動させて、吸着パッド5b1を介して、被検査基板Pをエア吸着して保持させ、この状態で基板保持部5bを降下前の初期位置にまで上昇させる。   Next, a vacuum suction means (not shown) is operated to hold the inspected substrate P by air suction via the suction pad 5b1, and in this state, the substrate holding portion 5b is raised to the initial position before being lowered.

そして、搬送ベルト5aを介して、基板保持部5bに保持された被検査基板Pを検査部2へと搬送する。その際、被検査基板Pは、図示はされていないが、検査部2内の所定位置(例えば検査テーブル上)に載置され、その後、あらかじめ設定された所定の検査工程が行われる。   Then, the substrate to be inspected P held by the substrate holding unit 5b is conveyed to the inspection unit 2 via the conveyance belt 5a. At that time, although not shown, the substrate P to be inspected is placed at a predetermined position (for example, on an inspection table) in the inspection unit 2, and then a predetermined inspection process set in advance is performed.

なお、検査前の被検査基板Pを検査部2へと搬送した後には、次の被検査基板Pを検査部2へと搬送する動作が繰り返し行われる。すなわち、基板保持部5bを搬送ベルト5aを介して再び搬入側ストック部3へと移動させ、上記動作を繰り返して検査前の被検査基板Pを検査部2へと順次搬送するようになっている。   In addition, after the board | substrate P to be inspected before a test | inspection is conveyed to the test | inspection part 2, the operation | movement which conveys the next board | substrate P to be inspected to the test | inspection part 2 is performed repeatedly. That is, the substrate holding unit 5b is moved again to the carry-in stock unit 3 via the transport belt 5a, and the above-described operation is repeated to sequentially transport the substrate P to be inspected before inspection to the inspection unit 2. .

一方、検査部2にて所定の検査が終了した検査済の被検査基板Pは、搬送手段6を介して、搬出側ストック部4へと搬送される。検査部2から検査済の被検査基板Pを搬出側ストック部4に搬送するには、まず、基板保持部6bを検査部2の検査テーブル(図示せず)上に位置決めした後降下させ、吸着パッド6b1を介して被検査基板Pをエア吸着して保持する。   On the other hand, the inspected substrate P that has been inspected by the inspection unit 2 is transferred to the carry-out side stock unit 4 via the transfer means 6. In order to transport the substrate P to be inspected from the inspection unit 2 to the carry-out side stock unit 4, first, the substrate holding unit 6b is positioned on the inspection table (not shown) of the inspection unit 2 and then lowered and sucked. The substrate to be inspected P is adsorbed and held through the pad 6b1.

次に、被検査基板Pを保持した基板保持部6bを降下前の元の初期位置まで上昇させ、搬送ベルト6aを介して搬出側ストック部4へと搬送する。検査部2の検査結果は図示しない制御部から搬送手段6へと送信されており、これにより、検査済みの被検査基板Pを、搬送ベルト6aを介して、良品を収納する搬出側ストッカー4aあるいは不良品を収納する搬出側ストッカー4bのいずれかのストッカーに収納する。   Next, the substrate holding portion 6b holding the substrate to be inspected P is raised to the original initial position before being lowered, and is transferred to the carry-out side stock portion 4 via the transfer belt 6a. The inspection result of the inspection unit 2 is transmitted from the control unit (not shown) to the transport unit 6, whereby the inspected substrate P that has been inspected is transferred via the transport belt 6 a to the unloading side stocker 4 a or The defective product is stored in any one of the carry-out side stockers 4b.

具体的には、被検査基板Pが良品の場合には、基板保持部6bを搬出側ストッカー4a上へと位置決めして降下させる。そして、基板保持部6bに保持されている検査済の被検査基板Pを搬出側ストッカー4aの最上位の被検査基板P上に載置した後、吸着パッド6b1のエア吸着を解除する。   Specifically, when the inspected substrate P is a non-defective product, the substrate holding portion 6b is positioned and lowered onto the carry-out side stocker 4a. Then, after placing the inspected inspected substrate P held by the substrate holding portion 6b on the uppermost inspected substrate P of the carry-out side stocker 4a, the air suction of the suction pad 6b1 is released.

他方、被検査基板Pが不良品の場合には、基板保持部6bを搬出側ストッカー4b上へと位置決めして降下させる。そして、基板保持部6bに保持されている検査済の被検査基板Pを搬出側ストッカー4bの最上位の被検査基板P上に載置した後、吸着パッド6b1のエア吸着を解除する。   On the other hand, if the inspected substrate P is defective, the substrate holding portion 6b is positioned and lowered onto the carry-out side stocker 4b. Then, after the inspected inspected substrate P held by the substrate holding portion 6b is placed on the uppermost inspected substrate P of the carry-out side stocker 4b, the air suction of the suction pad 6b1 is released.

その後、基板保持部6bを降下前の初期位置にまで上昇させ、搬送ベルト6aを介して再び検査部2へと移動させる。そして、上記動作を繰り返し、検査済の被検査基板Pを搬出側ストッカー4aあるいは搬出側ストッカー4bへと良品・不良品に振り分けて収納するようになっている。   Thereafter, the substrate holding unit 6b is raised to the initial position before being lowered, and is moved again to the inspection unit 2 through the transport belt 6a. Then, the above operation is repeated, and the inspected substrate P is sorted and stored in the unloading stocker 4a or the unloading stocker 4b.

なお、この例において、支持脚4c,4dを介して、搬出側ストッカー4a,4bにストックされている最上位の被検査基板Pの高さ位置が基板保持部6bの降下位置となるようにあらかじめ調整されており、これにより、検査済の被検査基板Pを破損等することなく搬出側ストッカー4a,4b内に振り分けてストックできるようにしている。   In this example, the height position of the uppermost inspected substrate P stocked in the carry-out side stockers 4a and 4b is set in advance via the support legs 4c and 4d so as to be the lowered position of the substrate holding portion 6b. Thus, the inspected substrate P that has been inspected can be distributed and stocked in the unloading side stockers 4a and 4b without being damaged.

特開平6−221819号公報JP-A-6-221819

上記従来の基板検査装置では、検査前の被検査基板Pを搬入側ストッカー3aにストックし、検査部2にて所定の検査工程を行わせることにより、検査済の被検査基板Pを検査結果に応じた搬出側ストッカー4a,4bに振り分けて収納させることができる。   In the conventional substrate inspection apparatus, the substrate P to be inspected before inspection is stocked in the loading-side stocker 3a, and the inspection unit 2 performs a predetermined inspection process, whereby the inspected substrate P is inspected. It can be sorted and stored in the corresponding carry-out side stockers 4a and 4b.

そのため、被検査基板Pを上流側の搬入側ストック部3から下流側の搬出側ストック部4という一方向の流れのなかに、検査工程をおくことができ、検査システムをシンプルに構成することができるという利点がある。   Therefore, the inspection process can be performed in the one-way flow of the substrate P to be inspected from the upstream carry-in side stock unit 3 to the downstream carry-out side stock unit 4, and the inspection system can be configured simply. There is an advantage that you can.

しかしながら、搬入側ストック部3、検査部2および搬出側ストック部4が、それぞれ独立した構成とされるため、それに応じてスペースや機構部品が必要とされ、システム全体の専有面積が大きくなるとともに、コスト的にも高価とならざるを得ない、という問題があった。   However, since the carry-in side stock unit 3, the inspection unit 2 and the carry-out side stock unit 4 are configured independently of each other, space and mechanism parts are required accordingly, and the exclusive area of the entire system increases. There was a problem that it had to be expensive in terms of cost.

また、検査前の被検査基板Pをストックする搬入側ストック部3と、検査済の被検査基板Pをストックする搬出側ストック部4とが、検査部2の両側にそれぞれ配置されているため、作業者の作業範囲が広くなり作業効率が低下する、といった問題もあった。   Further, since the carry-in side stock unit 3 for stocking the inspected substrate P before inspection and the carry-out side stock unit 4 for stocking the inspected substrate P after inspection are arranged on both sides of the inspection unit 2, There is also a problem that the work range of the worker is widened and work efficiency is lowered.

そこで、本発明の課題は、装置全体の専有面積を小さくして作業効率を向上させるとともに、コスト的にも有利な基板検査装置を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a substrate inspection apparatus that is advantageous in terms of cost as well as improving work efficiency by reducing the area occupied by the entire apparatus.

上記課題を解決するため、本発明は、被検査基板の良否を検査する検査部と、検査前の上記被検査基板をストックする搬入側ストッカーと、検査済みの上記被検査基板を良品と不良品に分けてストックする第1および第2の2つの搬出側ストッカーと、上記被検査基板を上記搬入側ストッカー→上記検査部→上記搬出側ストッカーへと搬送する搬送手段とを含み、上記検査部にて検査された上記被検査基板を良品・不良品に振り分けて上記搬出側ストッカーのいずれか一方に収納する基板検査装置において、上記搬入側ストッカーと上記第1および第2搬出側ストッカーの3つのストッカーは、それぞれ同一の間隔をもって上記検査部の片側に配置されている同一のストック部内に並置されており、上記搬送手段には、上記搬入側ストッカーから検査前の上記被検査基板を保持して上記検査部に搬送する第1の基板保持部と、上記検査部から検査済の上記被検査基板を保持して上記第1もしくは第2搬出側ストッカーに搬送する第2の基板保持部と、上記第1の基板保持部と上記第2の基板保持部を支持して上記検査部と上記ストック部との間に水平移動可能に懸架される搬送ベルトとが備えられ、上記第1の基板保持部と上記第2の基板保持部には、所定の昇降手段により上記搬送ベルトの移動方向と直交する垂直方向に駆動され、上記被検査基板を着脱可能に吸着する吸着ヘッドがそれぞれ設けられており、上記第1の基板保持部と上記第2の基板保持部は、上記ストッカーの配置間隔と同一の間隔をもって上記搬送ベルトに支持され、上記第1,第2の各基板保持部がともにそれらの間隔を一定として移動することを特徴としている。   In order to solve the above-described problems, the present invention provides an inspection unit that inspects the quality of a substrate to be inspected, a loading stocker that stocks the substrate to be inspected before inspection, and the inspected substrate that has been inspected as a good product and a defective product. The first and second carry-out side stockers that are stocked separately, and a conveying means that conveys the substrate to be inspected from the carry-in side stocker to the inspection unit to the carry-out side stocker. In the substrate inspection apparatus that sorts the inspected substrate inspected into non-defective products and defective products and stores them in one of the carry-out side stockers, the three stockers of the carry-in side stocker and the first and second carry-out side stockers Are juxtaposed in the same stock section arranged on one side of the inspection section with the same interval, and the transport means includes the carry-in side stocker. A first substrate holding unit for holding the substrate to be inspected before inspection and transporting the substrate to be inspected, and the first or second unloading side stocker for holding the substrate to be inspected from the inspection unit. A second substrate holding unit that conveys the first substrate holding unit, and a conveyance belt that supports the first substrate holding unit and the second substrate holding unit and is suspended between the inspection unit and the stock unit so as to be horizontally movable. The first substrate holding portion and the second substrate holding portion are driven in a vertical direction perpendicular to the moving direction of the transport belt by predetermined lifting means, and the substrate to be inspected can be attached and detached. The first substrate holding part and the second substrate holding part are supported by the conveyor belt at the same interval as the placement interval of the stocker, Both second substrate holders It is characterized by moving the interval between these a constant.

本発明において、好ましくは、上記搬入側ストッカーと上記各搬出側ストッカーには、上記搬入側ストッカー内に収納される最上位の上記被検査基板の高さ位置と、上記各搬出側ストッカーに収納される最上位の上記被検査基板の高さ位置を監視する高さ位置監視センサと、上記高さ位置監視センサの出力に応じて上記ストッカーを昇降させるストッカー昇降手段とが設けられており、上記搬入側ストッカー内の最上位の被検査基板の高さと上記各搬出側ストッカー内の最上位の被検査基板の高さとが同じ高さに調整される。   In the present invention, preferably, the carry-in stocker and each carry-out stocker are housed in the height position of the uppermost substrate to be inspected and stored in each carry-out stocker. A height position monitoring sensor for monitoring the height position of the uppermost substrate to be inspected, and a stocker elevating means for elevating the stocker according to the output of the height position monitoring sensor. The height of the uppermost substrate to be inspected in the side stocker and the height of the uppermost substrate to be inspected in each carry-out side stocker are adjusted to the same height.

また、上記第1基板保持部の吸着ヘッドと上記第2基板保持部の吸着ヘッドは、上記昇降手段により同時に同一方向かつ同一移動量で昇降駆動されることが好ましい。   Further, it is preferable that the suction head of the first substrate holding unit and the suction head of the second substrate holding unit are simultaneously driven up and down in the same direction and the same movement amount by the lifting means.

また、本発明の基板検査装置は、少なくとも上記搬送手段、上記昇降手段および上記吸着ヘッドの各動作を制御する制御手段をさらに有し、上記制御手段は、第1ステップとして、上記搬送ベルトにより上記第1の基板保持部が上記搬入側ストッカー上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第1の基板保持部の吸着ヘッドのみを有効として、上記第1の基板保持部の吸着ヘッドにて上記搬入側ストッカー内の検査前の上記被検査基板を吸着保持させたのち、上記各吸着ヘッドを上昇させ、第2ステップとして、上記搬送ベルトにより上記第1の基板保持部が上記検査部上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第1の基板保持部の吸着ヘッドを無効にして上記検査前の上記被検査基板を上記検査部上に載置して、上記各吸着ヘッドを上昇させ、第3ステップとして、上記検査部にて上記被検査基板の検査を行わせ、第4ステップとして、上記搬送ベルトにより上記第2の基板保持部が上記検査部上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第2の基板保持部の吸着ヘッドのみを有効として、上記第2の基板保持部の吸着ヘッドにて上記検査部上の検査済み上記被検査基板を吸着保持させたのち、上記各吸着ヘッドを上昇させ、第5ステップとして、上記検査部での良品,不良品の検査結果に応じて、上記搬送ベルトにより上記第2の基板保持部が上記搬出側ストッカーのいずれか一方の上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第2の基板保持部の吸着ヘッドを無効にして上記検査済み上記被検査基板を上記いずれか一方の搬出側ストッカー内に収納させ、上記検査前の上記被検査基板ごとに、上記第1ステップないし上記第5ステップを繰り返し実行することを特徴としている。   The substrate inspection apparatus of the present invention further includes a control unit that controls at least the operations of the transport unit, the elevating unit, and the suction head. The control unit uses the transport belt as a first step. After the first and second substrate holders are moved so that the first substrate holder is positioned on the carry-in side stocker, the suction heads are lowered by the elevating means, and the first substrate is lowered. Only the suction head of the holding unit is effective, the suction substrate of the first substrate holding unit sucks and holds the substrate to be inspected before inspection in the loading-side stocker, and then raises each suction head. As a second step, after the first and second substrate holders are moved by the conveyor belt so that the first substrate holder is positioned on the inspection unit, the lifting and lowering means The suction heads are lowered, the suction heads of the first substrate holding part are disabled, the substrate to be inspected before the inspection is placed on the inspection part, the suction heads are raised, As a third step, the inspection substrate is inspected by the inspection unit, and as a fourth step, the first and first substrates are positioned so that the second substrate holding unit is positioned on the inspection unit by the transport belt. After the second substrate holding part is moved, the suction heads are lowered by the lifting means, and only the suction head of the second substrate holding part is enabled, and the suction head of the second substrate holding part is used. After sucking and holding the inspected substrate to be inspected on the inspection unit, the respective suction heads are raised, and as a fifth step, the conveyor belt is used in accordance with the inspection result of non-defective products and defective products in the inspection unit. The second group After the first and second substrate holders are moved so that the holder is positioned on one of the carry-out side stockers, the suction heads are lowered by the elevating means, and the second The suction head of the substrate holding unit is disabled, and the inspected substrate to be inspected is stored in one of the carry-out side stockers, and the first step to the fifth step are performed for each of the inspected substrates before the inspection. It is characterized by repeatedly executing steps.

上記第1の搬出側ストッカーが良品用、上記第2の搬出側ストッカーが不良品用であるとして、特に上記第1ステップないし上記第5ステップを実行するうえで、上記検査部から見て、上記搬入側ストッカー,上記第1の搬出側ストッカー,上記第2の搬出側ストッカーがこの順序で配置されていることが好ましい。   Assuming that the first carry-out side stocker is for a non-defective product and the second carry-out side stocker is for a defective product, particularly when performing the first step to the fifth step, It is preferable that the carry-in side stocker, the first carry-out side stocker, and the second carry-out side stocker are arranged in this order.

本発明によれば、搬入側ストッカーと第1および第2搬出側ストッカーの3つのストッカーを、それぞれ同一の間隔をもって検査部の片側に配置されている同一のストック部内に並置するとともに、搬入側の第1の基板保持部と搬出側の第2の基板保持部とを、上記ストッカーの配置間隔と同一の間隔をもって搬送ベルトに支持させて第1,第2の各基板保持部がともにそれらの間隔を一定として移動するようにしたことにより、基板搬送機構の構成が大幅に簡素化できる。また、検査前基板の検査部への搬入、検査済み基板の検査部からの搬出の一連の工程を合理的に行うことができる。また、装置全体の占有面積を小さくすることができる。さらには、作業者の作業領域が検査部の片側のみとなるため、作業者の作業効率も向上する。   According to the present invention, the three stockers of the carry-in side stocker and the first and second carry-out side stockers are juxtaposed in the same stock part arranged on one side of the inspection part with the same interval, respectively, The first substrate holding unit and the second substrate holding unit on the carry-out side are supported by the transport belt at the same interval as the arrangement interval of the stocker, and the first and second substrate holding units are both spaced apart from each other. By making the movement constant, the configuration of the substrate transport mechanism can be greatly simplified. Further, it is possible to rationally carry out a series of steps of loading the pre-inspection board into the inspection section and unloading the inspected board from the inspection section. In addition, the area occupied by the entire apparatus can be reduced. Furthermore, since the work area of the worker is only on one side of the inspection unit, the work efficiency of the worker is improved.

本発明の実施形態に係る基板検査装置を示す模式図。The schematic diagram which shows the board | substrate inspection apparatus which concerns on embodiment of this invention. 上記実施形態における搬入側ストッカーと搬出側ストッカーの構成を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows typically the structure of the carrying-in side stocker and the carrying-out side stocker in the said embodiment. 上記実施形態における基板保持部の構成を模式的に示す断面図。Sectional drawing which shows the structure of the board | substrate holding part in the said embodiment typically. 上記実施形態の係る基板検査装置の動作例を模式的に示す説明図。Explanatory drawing which shows typically the operation example of the board | substrate inspection apparatus which concerns on the said embodiment. 上記実施形態の係る基板検査装置の他の動作例を模式的に示す説明図。Explanatory drawing which shows typically the other operation example of the board | substrate inspection apparatus which concerns on the said embodiment. 従来の基板検査装置の一例を示す模式図。The schematic diagram which shows an example of the conventional board | substrate inspection apparatus.

次に、図1ないし図5により、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 5, but the present invention is not limited to this.

図1に示すように、この実施形態に係る基板検査装置1Aは、被検査基板Pの良否検査を行う検査部10と、検査前および検査済の被検査基板Pをストックするストック部20と、この検査システムを制御する制御手段100とを備えている。制御手段100には、CPU(中央演算処理ユニット)やマイクロコンピュータ等が用いられる。   As shown in FIG. 1, a substrate inspection apparatus 1A according to this embodiment includes an inspection unit 10 that performs a quality inspection of a substrate P to be inspected, a stock unit 20 that stocks a substrate P to be inspected before and after the inspection, And a control means 100 for controlling the inspection system. As the control means 100, a CPU (Central Processing Unit), a microcomputer or the like is used.

また、この基板検査装置1Aは、検査前の被検査基板Pをストック部20から検査部10に搬入するとともに、検査済の被検査基板Pを検査部10からストック部20へと搬出する搬送手段30を備えている。   Further, the substrate inspection apparatus 1A carries a substrate P to be inspected before inspection from the stock unit 20 to the inspection unit 10 and also transports the substrate P to be inspected from the inspection unit 10 to the stock unit 20. 30.

検査部10には、被検査基板Pが載置される検査テーブルT(図4および図5参照)や、図示はされていないが、被検査基板Pの電気的検査や画像処理による外観検査等を行う各種検査治具およびこれら検査治具等を制御する制御装置等が備えられている。   The inspection unit 10 has an inspection table T (see FIGS. 4 and 5) on which the substrate P to be inspected is placed, an electrical inspection of the substrate P to be inspected, an appearance inspection by image processing, etc. (not shown). Are equipped with various inspection jigs for performing the above and a control device for controlling these inspection jigs.

図1に示すように、本発明において、検査前の被検査基板Pおよび検査済の被検査基板Pはともに、検査部10と隣接してその片側に配置されたストック部20内にストックされる。   As shown in FIG. 1, in the present invention, both the inspected substrate P before inspection and the inspected substrate P that have been inspected are stocked in a stock unit 20 that is adjacent to the inspection unit 10 and arranged on one side thereof. .

ストック部20には、検査前の被検査基板Pがストックされる1つの搬入側ストッカー21と、検査済みの被検査基板Pがストックされる2つの搬出側ストッカー22,23の3つのストッカーが、それぞれ同一の間隔aをもって一直線上に並置されている。   In the stock unit 20, there are three stockers: one loading-side stocker 21 in which the inspected substrate P before inspection is stocked, and two unloading side stockers 22 and 23 in which the inspected substrate P has been inspected. They are juxtaposed on a straight line with the same interval a.

なお、2つの搬出側ストッカー22,23のうち、一方の搬出側ストッカー22が検査において良品と判断された被検査基板Pがストックされる良品用の搬出側ストッカーであり、他方の搬出側ストッカー23が検査において不良品と判断された被検査基板Pがストックされる不良品用の搬出側ストッカーである。   Of the two unloading side stockers 22 and 23, one unloading side stocker 22 is a non-defective unloading side stocker on which the inspected substrate P determined to be non-defective in the inspection, and the other unloading side stocker 23 is stored. Is a carry-out side stocker for defective products in which the inspected substrate P determined to be defective in the inspection is stocked.

ストッカーの配置順としては、検査前の被検査基板Pを検査部10に搬入し、また、検査済みの被検査基板Pを検査部10から搬出するうえで、検査部10から見て、搬入側ストッカー21,良品用の搬出側ストッカー22,不良品用の搬出側ストッカー23の順序であることが好ましい。これは、一般的に不良品の数が少ないことによる。   The order of placement of the stocker is to carry in the inspected substrate P before inspection into the inspection unit 10 and to carry out the inspected substrate P from the inspection unit 10 when viewed from the inspection unit 10. The order of the stocker 21, the unloading stocker 22 for good products, and the unloading stocker 23 for defective products is preferable. This is because the number of defective products is generally small.

搬入側ストッカー21および搬出側ストッカー22,23は、それぞれ上面が開放されたボックス型に形成されており、各ストッカーは、例えば数百枚の被検査基板Pを積層してストックし得る容積を備えている。   The carry-in side stocker 21 and the carry-out side stockers 22 and 23 are each formed in a box shape having an open upper surface, and each stocker has a volume capable of stacking and stocking, for example, several hundred substrates P to be inspected. ing.

この実施形態において、搬入側ストッカー21および搬出側ストッカー22,23に積層される最上位の被検査基板Pは、それぞれほぼ同一高さ位置(同一平面上)に揃うように、その高さ位置が制御される。   In this embodiment, the uppermost substrates P to be stacked on the carry-in side stocker 21 and the carry-out side stockers 22 and 23 have their height positions so that they are aligned at substantially the same height position (on the same plane). Be controlled.

そのための高さ調整手段として、各ストッカー21,22,23内の最上位の被検査基板Pの有無を検知するセンサS1,S2と、被検査基板Pを支持して昇降可能な支持脚24,25,26とを備えている。   As height adjustment means therefor, sensors S1 and S2 for detecting the presence or absence of the uppermost inspected substrate P in each stocker 21, 22, and 23, and support legs 24 that can move up and down while supporting the inspected substrate P, 25, 26.

一例として、図2(a)に示すように、搬入側ストッカー21の上端側に設けられるセンサS1は、例えば反射型光センサであって、光センサS1が発したビームが搬入側ストッカー21内の最上位の被検査基板Pにあたって反射することにより、最上位の被検査基板Pの位置を検出する。   As an example, as shown in FIG. 2A, the sensor S <b> 1 provided on the upper end side of the carry-in side stocker 21 is, for example, a reflection type photosensor, and the beam emitted from the photosensor S <b> 1 is contained in the carry-in side stocker 21. The position of the uppermost substrate to be inspected P is detected by reflecting on the uppermost substrate to be inspected P.

一方、図2(b)に示すように、搬出側ストッカー22,23の上端側に向かい合って設けられるセンサS2は、例えば透過型光センサであって、センサS2,S2間のビームを被検査基板Pが遮ることにより、最上位の被検査基板Pの位置を検出する。   On the other hand, as shown in FIG. 2B, the sensor S2 provided facing the upper end side of the carry-out side stockers 22 and 23 is, for example, a transmission type optical sensor, and the beam between the sensors S2 and S2 is transmitted to the substrate to be inspected. When P is blocked, the position of the uppermost substrate P to be inspected is detected.

また、支持脚24,25,26は、それぞれ被検査基板Pが載置される載置板241,251,261を有し、図示しないモータ等の駆動手段により、被検査基板Pの1枚分の厚さに相当するピッチで昇降駆動される。   Each of the support legs 24, 25, and 26 has mounting plates 241, 251, and 261 on which the substrate P to be inspected is mounted. The supporting legs 24, 25, and 26 support one piece of the substrate P to be inspected by driving means such as a motor (not shown). Is driven up and down at a pitch corresponding to the thickness.

図2(a)に示すように、搬入側ストッカー21から最上位の被検査基板P1が取り除かれると、センサS1がオフになり、これにより上記駆動手段が動作し、次葉の被検査基板PによりセンサS1がオンになるまで支持脚24を上昇させる。   As shown in FIG. 2 (a), when the uppermost substrate to be inspected P1 is removed from the carry-in side stocker 21, the sensor S1 is turned off, whereby the drive means operates to inspect the substrate to be inspected P of the next leaf. Thus, the support leg 24 is raised until the sensor S1 is turned on.

一方、図2(b)に示すように、搬出側ストッカー22,23に最上位となる被検査基板P2が積層されると、センサS2,S2間のビームが遮られて、センサS2がオフになり、これにより上記駆動手段が動作して支持脚25,26をセンサS2がオンになるまで下降させる。   On the other hand, as shown in FIG. 2B, when the uppermost substrate P2 to be inspected is stacked on the carry-out side stockers 22 and 23, the beam between the sensors S2 and S2 is blocked, and the sensor S2 is turned off. Accordingly, the driving means operates to lower the support legs 25 and 26 until the sensor S2 is turned on.

このようにして、各ストッカー21,22,23内の最上位の被検査基板Pが、それぞれほぼ同一高さ位置(同一平面上)に揃うように、その高さ位置が制御される。   In this way, the height positions of the uppermost substrates P to be inspected in the stockers 21, 22, and 23 are controlled so as to be aligned at substantially the same height position (on the same plane).

搬送手段30は、図1に示すように、検査部10とストック部20との間で水平方向に懸架される搬送ベルト31と、被検査基板Pを真空吸着手段により着脱可能に保持する2つの基板保持部32,33とを有している。   As shown in FIG. 1, the transport means 30 includes two transport belts 31 that are suspended in the horizontal direction between the inspection unit 10 and the stock unit 20, and two substrates that hold the substrate to be inspected P in a detachable manner by the vacuum suction means. And substrate holding portions 32 and 33.

この実施形態において、基板保持部32,33は同一構成で、ともに搬送ベルト31に支持されるが、図1に示すように、基板保持部32,33の配置間隔bは、上記ストッカーの配置間隔aと同間隔(a=b)とされ、基板保持部32,33は、常に配置間隔bを保って移動する。   In this embodiment, the substrate holders 32 and 33 have the same configuration and are both supported by the conveyor belt 31. As shown in FIG. 1, the arrangement interval b of the substrate holders 32 and 33 is the arrangement interval of the stocker. The interval is the same as a (a = b), and the substrate holders 32 and 33 always move with the arrangement interval b maintained.

なお、詳しくは図示されていないが、この実施形態において、搬送ベルト31には、一対の駆動ローラ間に架け渡された無端ベルトが用いられているが、検査部10とストック部20との間に、ガイドレールを水平に架け渡し、基板保持部32,33をガイドレールに沿って走行させるようにしてもよい。   Although not shown in detail, in this embodiment, an endless belt spanned between a pair of drive rollers is used as the conveyor belt 31, but between the inspection unit 10 and the stock unit 20. In addition, the guide rail may be bridged horizontally, and the substrate holders 32 and 33 may be caused to travel along the guide rail.

基板保持部32,33は、所定の駆動手段により搬送ベルト31の移動方向と直交する垂直方向(Z軸方向)に沿って昇降可能とされるアーム321,331と、アーム321,331の下端側に取り付けられた吸着パッド322,332とを備えている。   The substrate holders 32 and 33 are arms 321 and 331 that can be moved up and down along a vertical direction (Z-axis direction) orthogonal to the moving direction of the transport belt 31 by a predetermined driving unit, and lower ends of the arms 321 and 331. And suction pads 322 and 332 attached to the head.

この実施形態において、アーム321,331の駆動手段は、図3に示すように、搬送ベルト31に背板300を介して取り付けられたモータMと、モータMの回転運動を直線運動に変換する送りねじ軸Bと従動ナットNとの組み合わせからなる直動機構とを備え、アーム321,331は上記直動機構の従動ナットNに連結され、モータMによりZ軸方向に昇降駆動される。   In this embodiment, as shown in FIG. 3, the driving means of the arms 321 and 331 includes a motor M attached to the conveyor belt 31 via a back plate 300, and a feed that converts the rotational motion of the motor M into linear motion. The arm 321 and 331 are connected to the driven nut N of the linear motion mechanism and are driven up and down in the Z-axis direction by the motor M. The linear motion mechanism is a combination of the screw shaft B and the driven nut N.

吸着パッド322,332は、バキューム配管およびオンオフ切替弁等を介して真空発生器(ともに図示しない)に接続されている。図1に示すように、アーム321,331には、それぞれ3つの吸着パッド322,332が設けられているが、吸着パッド322,332の数は任意であってよい。   The suction pads 322 and 332 are connected to a vacuum generator (both not shown) via a vacuum pipe and an on / off switching valve. As shown in FIG. 1, the arms 321 and 331 are provided with three suction pads 322 and 332, respectively, but the number of suction pads 322 and 332 may be arbitrary.

次に、図4を参照して、この基板検査装置1Aの動作例について説明する。なお、基板保持部32,33のうち、図4(a)において、検査部10に近い方の一方の基板保持部32が検査前の被検査基板Pを検査部10に搬入する基板搬入用基板保持部で、他方の基板保持部33が検査済み被検査基板Pを検査部10から搬出する基板搬出用基板保持部である。また、この動作の制御主体は、制御手段100である。   Next, with reference to FIG. 4, an operation example of the substrate inspection apparatus 1A will be described. Of the substrate holders 32 and 33, in FIG. 4A, one substrate holder 32 closer to the inspection unit 10 carries the substrate P to be inspected before inspection into the inspection unit 10. In the holding unit, the other substrate holding unit 33 is a substrate carrying-out substrate holding unit that carries out the inspected substrate P from the inspection unit 10. The control body of this operation is the control means 100.

まず、図4(a)に示すように、搬送ベルト31により、基板保持部32,33を搬入側ストッカー21,良品用の搬出側ストッカー22上に位置決めして、それらのアーム321,331をともに下降させ、基板保持部32側の吸着パッド322を吸着可能(有効)とし、基板保持部33側の吸着パッド332は吸着不能(無効)として、基板保持部33の吸着パッド322にて搬入側ストッカー21の最上位の被検査基板Pを吸着し、アーム321,331を降下前の元の位置までともに上昇させる。   First, as shown in FIG. 4A, the substrate holders 32 and 33 are positioned on the carry-in side stocker 21 and the carry-out side stocker 22 by the carrying belt 31, and both the arms 321 and 331 are moved together. The suction pad 322 on the substrate holding part 32 side can be sucked (valid), and the suction pad 332 on the substrate holding part 33 side cannot be sucked (invalid). The uppermost substrate to be inspected 21 is adsorbed, and the arms 321 and 331 are both raised to their original positions before being lowered.

そして、図4(b)に示すように、搬送ベルト31により、基板保持部32が検査部10の検査テーブルT上に位置するように、基板保持部32,33をストック部20から検査部10へと移動させ、それらのアーム321,331をともに下降させ、基板保持部32の吸着パッド322の吸着を解除(無効)して、被検査基板Pを検査テーブルTに載置したのち、アーム321,331をともに上昇させる。   Then, as shown in FIG. 4B, the substrate holders 32 and 33 are moved from the stock unit 20 to the inspection unit 10 so that the substrate holding unit 32 is positioned on the inspection table T of the inspection unit 10 by the transport belt 31. The arm 321 and 331 are moved down together, the suction of the suction pad 322 of the substrate holding part 32 is released (invalid), the substrate P to be inspected is placed on the inspection table T, and then the arm 321 , 331 are raised together.

被検査基板Pを検査テーブルTに載置した後、基板保持部32,33は、図4(c)に示すように、被検査基板Pの検査終了まで検査テーブルT上で待機する。この例では、搬送ベルト31により、基板保持部33が被検査基板Pの上方に位置する状態で待機している。   After placing the substrate to be inspected P on the inspection table T, the substrate holders 32 and 33 stand by on the inspection table T until the inspection of the substrate P to be inspected is completed, as shown in FIG. In this example, the substrate belt 33 is on standby with the conveyor belt 31 positioned above the substrate P to be inspected.

検査部10での被検査基板Pの検査が終了すると、図4(d)に示すように、基板保持部32,33のアーム321,331をともに下降させ、今度は、基板保持部33側の吸着パッド332を有効とし、基板保持部33側の吸着パッド332は無効として、検査テーブル上の被検査基板Pを基板保持部33の吸着パッド332にて吸着し、アーム321,331をともに上昇させる。   When the inspection of the inspected substrate P in the inspection unit 10 is completed, as shown in FIG. 4D, the arms 321 and 331 of the substrate holding units 32 and 33 are lowered, and this time the substrate holding unit 33 side is moved. The suction pad 332 is enabled, the suction pad 332 on the substrate holding unit 33 side is disabled, the substrate P to be inspected on the inspection table is sucked by the suction pad 332 of the substrate holding unit 33, and both the arms 321 and 331 are raised. .

次に、搬送ベルト31により、基板保持部32,33を検査部10からストック部20へと移動させるが、検査済の被検査基板Pが良品である場合には、図4(e)に示すように、基板保持部33が良品用の搬出側ストッカー22上に位置するように、基板保持部32,33を移動させる。このとき、基板保持部32は、搬入側ストッカー21上に位置する。   Next, the substrate holders 32 and 33 are moved from the inspection unit 10 to the stock unit 20 by the conveyor belt 31. When the inspected substrate P has been inspected, it is shown in FIG. As described above, the substrate holders 32 and 33 are moved so that the substrate holder 33 is positioned on the carry-out side stocker 22 for non-defective products. At this time, the substrate holding part 32 is located on the carry-in side stocker 21.

そして、基板保持部32,33のアーム321,331をともに下降させ、基板保持部33の吸着パッド332の吸着を解除して、検査済み良品被検査基板Pを良品用の搬出側ストッカー22へとストックするとともに、図4(f)に示すように、基板保持部32の吸着パッド322を有効として、搬入側ストッカー21から次に検査する被検査基板Pを吸着し、アーム321,331をともに上昇させる。この一連の動作を各被検査基板Pごとに繰り返す。   Then, the arms 321 and 331 of the substrate holders 32 and 33 are lowered, the suction of the suction pads 332 of the substrate holder 33 is released, and the inspected non-defective substrate P to the unloading stocker 22 for non-defective products. As shown in FIG. 4 (f), the suction pad 322 of the substrate holding part 32 is made effective, and the substrate P to be inspected next is sucked from the loading-side stocker 21, and both the arms 321 and 331 are raised. Let This series of operations is repeated for each substrate P to be inspected.

これに対して、検査後の被検査基板Pが不良品である場合には、図5(a)に示すように、検査済の被検査基板Pを基板保持部33の吸着パッド332にて吸着した後、図5(b)に示すように、搬送ベルト31により、基板保持部33が不良品用の搬出側ストッカー23上に位置するように、基板保持部32,33を検査部10からストック部20へと移動させる。   On the other hand, when the inspected substrate P after the inspection is a defective product, the inspected inspected substrate P is sucked by the suction pad 332 of the substrate holding unit 33 as shown in FIG. After that, as shown in FIG. 5B, the substrate holders 32 and 33 are stocked from the inspection unit 10 so that the substrate holder 33 is positioned on the carry-out side stocker 23 for defective products by the conveyor belt 31. Move to section 20.

そして、それらのアーム321,331をともに下降させ、基板保持部33の吸着パッド332の吸着を解除して、被検査基板Pを不良品用の搬出側ストッカー23上にストックさせ、アーム321,331をともに上昇させる。このとき、基板保持部32の吸着パッド322は無効とされているため、良品用の搬出側ストッカー23内の被検査基板Pを吸着しない。   Then, both the arms 321 and 331 are lowered, the suction of the suction pad 332 of the substrate holding part 33 is released, and the substrate P to be inspected is stocked on the carry-out side stocker 23 for defective products. Together. At this time, since the suction pad 322 of the substrate holding part 32 is disabled, the inspection substrate P in the unloading-side stocker 23 for non-defective products is not sucked.

次に、図5(c)に示すように、搬送ベルト31により、基板保持部32が搬入側ストッカー21上に位置するように、基板保持部32,33を移動させた後、それらのアーム321,331をともに下降させる。   Next, as shown in FIG. 5C, the substrate holding portions 32 and 33 are moved by the transfer belt 31 so that the substrate holding portion 32 is positioned on the carry-in side stocker 21, and then their arms 321. , 331 are lowered.

そして、基板保持部32の吸着パッド322を有効(このとき、基板保持部33の吸着パッド332は無効)として、図5(d)に示すように、搬入側ストッカー21から次に検査する被検査基板Pを吸着し、アーム321,331をともに上昇させて、検査部10へと搬送し、図4(b)〜(d)の動作を経て、検査済の被検査基板Pが良品の場合には図4(e)の動作を、検査済の被検査基板Pが不良品の場合には図5(a),(b)の動作をそれぞれ繰り返す。   Then, the suction pad 322 of the substrate holding part 32 is made valid (at this time, the suction pad 332 of the board holding part 33 is invalid), and the inspection object to be inspected next from the carry-in side stocker 21 as shown in FIG. When the substrate P is adsorbed, the arms 321 and 331 are both lifted and conveyed to the inspection unit 10, and the inspected substrate P has been inspected through the operations of FIGS. 4 repeats the operation of FIG. 4E, and when the inspected substrate P is defective, the operations of FIGS. 5A and 5B are repeated.

このように、本発明によれば、基板保持部32,33の配置間隔bをストッカー21,22,23側の配置間隔aと同間隔(a=b)とし、また、各ストッカー21,22,23に積層される最上位の被検査基板Pが、ほぼ同一水平面上に位置するように高さ調整をしていることにより、検査前の被検査基板Pの取り出しと検査済の被検査基板Pのストックとを同時に行うことができ、基板搬送時間を短縮することができる。   Thus, according to the present invention, the arrangement interval b of the substrate holders 32 and 33 is set to the same interval (a = b) as the arrangement interval a on the stocker 21, 22, 23 side, and each stocker 21, 22, 23. The height adjustment is performed so that the uppermost inspected substrate P stacked on 23 is positioned on substantially the same horizontal plane, so that the inspected substrate P before inspection and the inspected substrate P that has been inspected can be obtained. Can be carried out at the same time, and the substrate transfer time can be shortened.

また、一般的に不良品の発生数が少ないため、検査部10から見て、搬入側ストッカー21,良品用の搬出側ストッカー22,不良品用の搬出側ストッカー23の順に各ストッカーを配置することにより、基板保持部32,33の移動距離が短くなり、この点も基板搬送時間の短縮に寄与する。   In general, since the number of defective products is small, the stockers are arranged in the order of the carry-in stocker 21, the non-defective product carry-out stocker 22, and the defective product carry-out stocker 23 as viewed from the inspection unit 10. As a result, the moving distance of the substrate holders 32 and 33 is shortened, which also contributes to the reduction of the substrate transport time.

また、検査前の被検査基板Pをストックする搬入側ストッカー21と、検査済の被検査基板Pをストックする搬出側ストッカー22,23とを、検査部10の片側の同一のストック部20内に配置したことにより、システム全体の専有面積を小さくすることができるとともに、検査部10への基板搬入と基板搬出の両基板搬送機構の共用化がはかられ、基板搬送機構の構成を大幅に簡素化することができる。   Further, the loading-side stocker 21 that stocks the substrate P to be inspected before inspection and the unloading-side stockers 22 and 23 that stock the substrate P to be inspected are placed in the same stock unit 20 on one side of the inspection unit 10. As a result of this arrangement, the exclusive area of the entire system can be reduced, and both the substrate carrying mechanism for loading and unloading the substrate to and from the inspection unit 10 can be shared, greatly simplifying the configuration of the substrate carrying mechanism. Can be

さらには、作業者の作業領域が検査部の片側のみとなるため、作業者の作業効率も向上する。   Furthermore, since the work area of the worker is only on one side of the inspection unit, the work efficiency of the worker is improved.

なお、上記実施形態では、制御プログラムの簡素化をはかるうえで、被検査基板Pの吸着もしくは解除時に、一律に基板保持部32,33のアーム321,331をほぼ同時に昇降させるようにしているが、例えば図4(a)で、基板保持部32の吸着ヘッド322にて搬入側ストッカー21から被検査基板Pを吸着する際、基板保持部33側のアーム331は昇降させないようにしてもよく、このような態様も本発明に含まれる。   In the above-described embodiment, in order to simplify the control program, the arms 321 and 331 of the substrate holding portions 32 and 33 are lifted and lowered almost simultaneously when the substrate P to be inspected is sucked or released. For example, in FIG. 4A, when the substrate P to be inspected is sucked from the loading-side stocker 21 by the suction head 322 of the substrate holder 32, the arm 331 on the substrate holder 33 side may not be raised or lowered. Such an embodiment is also included in the present invention.

また、上記実施形態では、基板保持部32,33を移動させるための搬送手段として、一対の駆動ローラ間に架け渡された無端ベルトを用いているが、本発明の搬送手段には、検査部10とストック部20との間に架け渡されたガイドレールで、そのガイドレールに沿って基板保持部32,33を上記間隔bを保って移動させる態様も含まれる、と理解されたい。   In the above-described embodiment, an endless belt stretched between a pair of drive rollers is used as the transport unit for moving the substrate holding units 32 and 33. However, the transport unit of the present invention includes an inspection unit. It should be understood that a guide rail spanned between 10 and the stock portion 20 and a manner in which the substrate holding portions 32 and 33 are moved along the guide rail while maintaining the distance b are also included.

1A 基板検査装置
10 検査部
20 ストック部
21 搬入側ストッカー
22 良品専用の搬出側ストッカー
23 不良品専用の搬出側ストッカー
24,25,26 支持脚
241,251,261 載置板
242,252,262 支軸部
30 搬送手段
31 搬送ベルト
32,33 基板保持部
321,331 アーム
322,332 吸着パッド
P 被検査基板
T 検査テーブル
S センサ
M モータ
B ボールねじ
N 従動ナット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1A Board | substrate inspection apparatus 10 Inspection | inspection part 20 Stock part 21 Carry-in side stocker 22 Carry-out side stocker 23 for non-defective goods 23 Carry-out side stocker 24, 25, 26 Supporting leg 241, 251, 261 Mounting plate Shaft part 30 Conveying means 31 Conveying belt 32,33 Substrate holding part 321,331 Arm 322,332 Adsorption pad P Substrate to be inspected T Inspection table S Sensor M Motor B Ball screw N Drive nut

Claims (5)

被検査基板の良否を検査する検査部と、検査前の上記被検査基板をストックする搬入側ストッカーと、検査済みの上記被検査基板を良品と不良品に分けてストックする第1および第2の2つの搬出側ストッカーと、上記被検査基板を上記搬入側ストッカー→上記検査部→上記搬出側ストッカーへと搬送する搬送手段とを含み、上記検査部にて検査された上記被検査基板を良品・不良品に振り分けて上記搬出側ストッカーのいずれか一方に収納する基板検査装置において、
上記搬入側ストッカーと上記第1および第2搬出側ストッカーの3つのストッカーは、それぞれ同一の間隔をもって上記検査部の片側に配置されている同一のストック部内に並置されており、
上記搬送手段には、上記搬入側ストッカーから検査前の上記被検査基板を保持して上記検査部に搬送する第1の基板保持部と、上記検査部から検査済の上記被検査基板を保持して上記第1もしくは第2搬出側ストッカーに搬送する第2の基板保持部と、上記第1の基板保持部と上記第2の基板保持部を支持して上記検査部と上記ストック部との間に水平移動可能に懸架される搬送ベルトとが備えられ、
上記第1の基板保持部と上記第2の基板保持部には、所定の昇降手段により上記搬送ベルトの移動方向と直交する垂直方向に駆動され、上記被検査基板を着脱可能に吸着する吸着ヘッドがそれぞれ設けられており、
上記第1の基板保持部と上記第2の基板保持部は、上記ストッカーの配置間隔と同一の間隔をもって上記搬送ベルトに支持され、上記第1,第2の各基板保持部がともにそれらの間隔を一定として移動することを特徴とする基板検査装置。
An inspection section for inspecting pass / fail of the substrate to be inspected, a loading side stocker for stocking the substrate to be inspected before inspection, and a first and a second for stocking the substrate to be inspected separately into good and defective products Including two unloading side stockers and a conveying means for conveying the substrate to be inspected to the loading side stocker → the inspecting unit → the unloading side stocker. In the substrate inspection apparatus that sorts out defective products and stores them in one of the carry-out side stockers,
The three stockers of the carry-in side stocker and the first and second carry-out side stockers are juxtaposed in the same stock part arranged on one side of the inspection part with the same interval,
The transport means holds a substrate to be inspected before being inspected from the carry-in stocker and transports the substrate to be inspected to the inspection portion, and holds the substrate to be inspected from the inspection portion. The second substrate holding part transported to the first or second carry-out side stocker, and supporting the first substrate holding part and the second substrate holding part between the inspection part and the stock part And a conveyor belt that is suspended horizontally.
The first substrate holding unit and the second substrate holding unit are driven in a vertical direction perpendicular to the moving direction of the transport belt by predetermined lifting means to suck the substrate to be inspected detachably. Are provided,
The first substrate holding unit and the second substrate holding unit are supported by the conveyor belt at the same interval as the arrangement interval of the stocker, and both the first and second substrate holding units are spaced apart from each other. The substrate inspection apparatus is characterized in that it moves with a constant value.
上記搬入側ストッカーと上記各搬出側ストッカーには、上記搬入側ストッカー内に収納される最上位の上記被検査基板の高さ位置と、上記各搬出側ストッカーに収納される最上位の上記被検査基板の高さ位置を監視する高さ位置監視センサと、上記高さ位置監視センサの出力に応じて上記ストッカーを昇降させるストッカー昇降手段とが設けられており、上記搬入側ストッカー内の最上位の被検査基板の高さと上記各搬出側ストッカー内の最上位の被検査基板の高さとが同じ高さに調整されることを特徴とする請求項1に記載の基板検査装置。   The carry-in stocker and each carry-out stocker include a height position of the uppermost substrate to be inspected stored in the carry-in stocker and the uppermost inspected product stored in each carry-out stocker. A height position monitoring sensor for monitoring the height position of the substrate, and a stocker raising / lowering means for raising and lowering the stocker according to the output of the height position monitoring sensor are provided, and the uppermost position in the loading-side stocker is provided. 2. The substrate inspection apparatus according to claim 1, wherein the height of the substrate to be inspected and the height of the uppermost substrate to be inspected in each carry-out side stocker are adjusted to the same height. 上記第1基板保持部の吸着ヘッドと上記第2基板保持部の吸着ヘッドは、上記昇降手段により同時に同一方向かつ同一移動量で昇降駆動されることを特徴とする請求項1または2に記載の基板検査装置。   The suction head of the first substrate holding unit and the suction head of the second substrate holding unit are simultaneously driven up and down in the same direction and with the same movement amount by the lifting means. Board inspection equipment. 少なくとも上記搬送手段、上記昇降手段および上記吸着ヘッドの各動作を制御する制御手段を有し、
上記制御手段は、第1ステップとして、上記搬送ベルトにより上記第1の基板保持部が上記搬入側ストッカー上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第1の基板保持部の吸着ヘッドのみを有効として、上記第1の基板保持部の吸着ヘッドにて上記搬入側ストッカー内の検査前の上記被検査基板を吸着保持させたのち、上記各吸着ヘッドを上昇させ、
第2ステップとして、上記搬送ベルトにより上記第1の基板保持部が上記検査部上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第1の基板保持部の吸着ヘッドを無効にして上記検査前の上記被検査基板を上記検査部上に載置して、上記各吸着ヘッドを上昇させ、
第3ステップとして、上記検査部にて上記被検査基板の検査を行わせ、
第4ステップとして、上記搬送ベルトにより上記第2の基板保持部が上記検査部上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第2の基板保持部の吸着ヘッドのみを有効として、上記第2の基板保持部の吸着ヘッドにて上記検査部上の検査済み上記被検査基板を吸着保持させたのち、上記各吸着ヘッドを上昇させ、
第5ステップとして、上記検査部での良品,不良品の検査結果に応じて、上記搬送ベルトにより上記第2の基板保持部が上記搬出側ストッカーのいずれか一方の上に位置するように上記第1,第2の基板保持部を移動させたのち、上記昇降手段により上記各吸着ヘッドを下降させ、上記第2の基板保持部の吸着ヘッドを無効にして上記検査済み上記被検査基板を上記いずれか一方の搬出側ストッカー内に収納させ、
上記検査前の上記被検査基板ごとに、上記第1ステップないし上記第5ステップを繰り返し実行することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の基板検査装置。
At least control means for controlling each operation of the conveying means, the elevating means and the suction head;
As a first step, the control means moves the first and second substrate holders so that the first substrate holder is positioned on the carry-in side stocker by the conveyor belt, and then moves up and down. Each suction head is lowered by means, and only the suction head of the first substrate holding part is made effective, and the substrate to be inspected before inspection in the loading-side stocker by the suction head of the first substrate holding part After sucking and holding the above, each suction head is raised,
As a second step, after the first and second substrate holders are moved by the conveyor belt so that the first substrate holder is positioned on the inspection unit, the suction heads are moved by the elevating means. And lowering the suction head of the first substrate holding part, placing the substrate to be inspected before the inspection on the inspection part, raising the suction heads,
As a third step, the inspection unit is inspected by the inspection unit,
As a fourth step, after the first and second substrate holders are moved by the conveyor belt so that the second substrate holder is positioned on the inspection unit, the suction heads are moved by the elevating means. , The suction head of the second substrate holding part is made effective, and the inspected substrate on the inspection part is sucked and held by the suction head of the second substrate holding part. Raise each suction head,
As a fifth step, the second substrate holding unit is positioned on one of the carry-out side stockers by the conveyor belt according to the inspection result of the non-defective product and the defective product in the inspection unit. After moving the first and second substrate holders, the suction heads are lowered by the elevating means to invalidate the suction heads of the second substrate holder and the inspected substrates to be inspected Store in one of the unloader stockers,
4. The substrate inspection apparatus according to claim 1, wherein the first step to the fifth step are repeatedly executed for each of the substrates to be inspected before the inspection.
上記第1の搬出側ストッカーが良品用、上記第2の搬出側ストッカーが不良品用であり、上記検査部から見て、上記搬入側ストッカー,上記第1の搬出側ストッカー,上記第2の搬出側ストッカーがこの順序で配置されていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の基板検査装置。   The first carry-out stocker is for a non-defective product, the second carry-out stocker is for a defective product, and viewed from the inspection section, the carry-in stocker, the first carry-out stocker, and the second carry-out 5. The board inspection apparatus according to claim 1, wherein the side stockers are arranged in this order.
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