JP6117139B2 - 力検知装置 - Google Patents

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本明細書で開示される技術は、ピエゾ抵抗効果を利用する力検知装置に関する。
ピエゾ抵抗効果を利用する力検知装置が開発されている。この種の力検知装置は、基板及び力伝達ブロックを備える。基板の主面には、ブリッジ回路を構成するメサ型ゲージが形成されている。力伝達ブロックは、メサ型ゲージの頂面に接する。力伝達ブロックがメサ型ゲージを押圧すると、メサ型ゲージに加わる圧縮応力が増大し、メサ型ゲージの電気抵抗がピエゾ抵抗効果によって変化する。この電気抵抗の変化から力伝達ブロックに加わる力が検知される。
特許文献1及び特許文献2は、封止型の力検知装置を開示する。封止型の力検知装置は、力伝達ブロックがメサ型ゲージの周囲の基板の主面に一巡して接合することを特徴とする。
特開2004−132811号公報 特開2006−058266号公報(特に、図9)
封止型の力検知装置の小型化を進めると、力伝達ブロックの受圧面積が小さくなり、メサ型ゲージに加わる圧縮応力が小さくなる。この結果、力検知装置のセンサ感度が低下する。本明細書は、高センサ感度の封止型の力検知装置を提供することを目的とする。
本明細書で開示される力検知装置の一実施形態は、基板及び力伝達ブロックを備える。基板は、メサ型ゲージ、封止部及び支柱を有する。メサ型ゲージは、基板の主面に形成されており、力伝達ブロックに接しており、ブリッジ回路を構成する。封止部は、基板の主面に形成されており、メサ型ゲージの周囲を一巡して力伝達ブロックに接する。支柱は、基板の主面に形成されており、メサ型ゲージで囲まれた内部に配置されており、力伝達ブロックに接する。
上記実施形態の力検知装置では、基板と力伝達ブロックの間に封止空間が構成される。力伝達ブロックに加わる力が増大すると、力伝達ブロックがこの封止空間内を基板側に向けて湾曲する。このとき、力伝達ブロックが湾曲して変位する部分が力点となり、支柱が支点となり、メサ型ゲージが作用点となる梃子の関係が成立する。このため、作用点となるメサ型ゲージには大きな圧縮応力が加わるので、力検知装置のセンサ感度が向上する。
図1は、実施例の力検知装置であり、図2のI-I線に対応した断面図を模式的に示す。 図2は、実施例の力検知装置であり、基板の平面図を模式的に示す。 図3は、実施例の力検知装置であり、封止空間近傍の要部拡大断面図であり、梃子の作用を説明するための図を示す。 図4は、変形例の力検知装置であり、図2のI-I線に対応した断面図を模式的に示す。 図5は、変形例の力検知装置であり、図2のI-I線に対応した断面図を模式的に示す。
以下、本明細書で開示される技術の特徴を整理する。なお、以下に記す事項は、各々単独で技術的な有用性を有している。
本明細書で開示される力検知装置の一実施形態は、気圧を検知するセンサであり、一例では、燃焼圧を検知対象としてもよい。この力検知装置は、基板と力伝達ブロックを備えていてもよい。基板の材料は、圧縮応力に応じて電気抵抗が変化するピエゾ抵抗効果が現われるものが望ましい。例えば、基板は、半導体基板及びSOI基板を含む。基板は、メサ型ゲージ、封止部及び支柱を有していてもよい。メサ型ゲージは、基板の主面に形成されており、力伝達ブロックに接しており、ブリッジ回路を構成してもよい。メサ型ゲージは、メサ状の形態を有しており、その頂面で力伝達ブロックに接していてもよい。封止部は、基板の主面に形成されており、メサ型ゲージの周囲を一巡して力伝達ブロックに接していてもよい。支柱は、基板の主面に形成されており、メサ型ゲージで囲まれた内部に配置されており、力伝達ブロックに接していてもよい。支柱は、メサ状の形態を有しており、その頂面で力伝達ブロックに接していてもよい。支柱の剛性は、メサ型ゲージの剛性よりも高いのが望ましい。
上記実施形態では、基板と力伝達ブロックで外部から気密に隔てられる封止空間が構成されていてもよい。封止空間は、メサ型ゲージと封止部の間に配置されており、力伝達ブロックが湾曲するのを許容する厚みを有していてもよい。
上記実施形態の力伝達ブロックには、基板側の面に溝が形成されていてもよい。溝は、メサ型ゲージに接する部分と封止部に接する部分の間に配置されていてもよい。この溝により封止空間が構成される。
上記実施形態では、力伝達ブロックが、シリコン層と酸化シリコン層を有していてもよい。酸化シリコン層は、シリコン層の基板側の面の一部を被覆してもよい。この場合、溝は、酸化シリコン層の非被覆領域に構成されてもよい。力伝達ブロックの酸化シリコン層を加工することで、封止空間を構成するための溝を容易に形成することができる。
図1及び図2に示されるように、力検知装置1は、例えば、内燃機関の燃焼圧を検知する半導体圧力センサであり、半導体基板2及び力伝達ブロック4を備える。
半導体基板2は、n型の単結晶シリコンであり、その主面2Sが(110)結晶面である。半導体基板2の主面2Sには複数の溝11が形成されている。複数の溝11は、半導体基板2の主面2Sに検知部10、支柱20及び封止部30を画定する。
図2に示されるように、検知部10は、ブリッジ回路を構成するメサ型ゲージ12,14,16,18を有する。メサ型ゲージ12,14,16,18は、溝11の底面からメサ状に突出しており、その高さは約0.5〜5μmである。メサ型ゲージ12,14,16,18の頂面は、溝11の周囲の半導体基板2の主面2Sと同一面に位置している。即ち、メサ型ゲージ12,14,16,18は、例えばドライエッチング技術を利用して、半導体基板2の主面2Sに複数の溝11を形成した残部として形成される。
図2に示されるように、検知部10では、第1メサ型ゲージ12及び第3メサ型ゲージ16が矩形の対向する一対の辺を構成し、第2メサ型ゲージ14及び第4メサ型ゲージ18が矩形の対向する一対の辺を構成する。第1メサ型ゲージ12及び第3メサ型ゲージ16は、半導体基板2の<110>方向に沿って伸びている。半導体基板2の<110>方向に伸びる第1メサ型ゲージ12及び第3メサ型ゲージ16には、圧縮応力に応じて電気抵抗が変化するピエゾ抵抗効果が現われる。第2メサ型ゲージ14及び第4メサ型ゲージ18は、半導体基板2の<100>方向に沿って伸びている。半導体基板2の<100>方向に伸びる第2メサ型ゲージ14及び第4メサ型ゲージ18には、ピエゾ抵抗効果が実質的に現われない。
図1及び図2に示されるように、メサ型ゲージ12,14,16,18の表面には、p型不純物が導入されたゲージ部12a,14a,16a,18aが形成されている。ゲージ部12a,14a,16a,18aの不純物濃度は、約1×1018〜1×1021cm−3である。ゲージ部12a,14a,16a,18aは、pn接合によって、n型の半導体基板2から実質的に絶縁されている。
図1及び図2に示されるように、支柱20は、メサ型ゲージ12,14,16,18で囲まれた内部に配置されている。支柱20は、溝11の底面からメサ状に突出しており、その高さは約0.5〜5μmである。支柱20の頂面は、溝11の周囲の半導体基板2の主面2Sと同一面に位置している。即ち、支柱20は、例えばドライエッチング技術を利用して、半導体基板2の主面2Sに複数の溝11を形成した残部として形成される。支柱20は、平面視したときに、メサ型ゲージ12,14,16,18の矩形と相似な形態を有している。支柱20の辺長は、メサ型ゲージ12,14,16,18の幅(長手方向に直交する方向の幅)よりも大きい。これにより、支柱20の剛性は、メサ型ゲージ12,14,16,18の剛性よりも高い。
図2に示されるように、半導体基板2は、主面2Sにp型不純物が導入された配線部32,34,36,38を有する。配線部32,34,36,38の不純物濃度は、約1×1018〜1×1021cm−3である。第1配線部32は、一端が第1ゲージ部12aと第2ゲージ部14aの接続部に接続されており、他端が第1電極42に接続されている。第2配線部34は、一端が第2ゲージ部14aと第3ゲージ部16aの接続部に接続されており、他端が第2電極44に接続されている。第3配線部36は、一端が第3ゲージ部16aと第4ゲージ部18aの接続部に接続されており、他端が第3電極46に接続されている。第4配線部38は、一端が第4ゲージ部18aと第1ゲージ部12aの接続部に接続されており、他端が第4電極48に接続されている。電極42,44,46,48の各々は、半導体基板2の主面2S上に設けられており、力伝達ブロック4で覆われる範囲外に配置されている。
図1に示されるように、力伝達ブロック4は、直方体形状を有しており、シリコン層4aと酸化シリコン層4bを有する。酸化シリコン層4bは、シリコン層4aの半導体基板2側の表面の一部を被覆する。力伝達ブロック4は、メサ型ゲージ12,14,16,18の周囲を一巡するように、半導体基板2の主面2Sに接合する。半導体基板2のうちの力伝達ブロック4が接合する部分を封止部30という。半導体基板2の封止部30と力伝達ブロック4は、気密に接合する。また、力伝達ブロック4は、メサ型ゲージ12,14,16,18の頂面及び支柱20の頂面にも接合する。半導体基板2と力伝達ブロック4は、常温個相接合技術を利用して接合される。具体的には、アルゴンイオンを用いて半導体基板2の主面2S及び力伝達ブロック4の酸化シリコン層4bの表面を活性化させた後に、超高真空中で半導体基板2の主面2Sと力伝達ブロック4の酸化シリコン層4bの表面を接触させ、両者を接合させる。
図1に示されるように、力伝達ブロック4の酸化シリコン層4bの一部が除去されており、力伝達ブロック4の半導体基板2側の面に溝4cが形成されている。溝4cは、半導体基板2のメサ型ゲージ12,14,16,18と封止部30の間の領域に対向するように配置されており、力検知装置1を平面視したときに、メサ型ゲージ12,14,16,18の周囲を一巡する。このような溝4cが形成されていることにより、半導体基板2と力伝達ブロック4の間には、外部から隔てられた封止空間6が構成される。
次に、力検知装置1の動作を説明する。まず、力検知装置1は、第1電極42に定電流源が接続され、第3電極46が接地され、第2電極44と第4電極48の間に電圧測定器が接続して用いられる。力検知装置1では、力伝達ブロック4に加わる燃焼圧が変化すると、力伝達ブロック4を介してメサ型ゲージ12,14,16,18のゲージ部12a,14a,16a,18aに加わる圧縮応力も変化する。ピエゾ抵抗効果が現われるゲージ部12a,16aの電気抵抗は、圧縮応力に比例して変化する。このため、第2電極44と第4電極48の電位差は、ゲージ部12a,16aに加わる圧縮応力に比例する。これにより、電圧測定器で計測される電圧変化から力伝達ブロック4に加わる燃焼圧が検知される。
図3に示されるように、封止型の力検知装置1は、半導体基板2と力伝達ブロック4の間に封止空間6が構成されている。封止空間6は、半導体基板2の封止部30と力伝達ブロック4の気密接合により、外部から隔てられている。このため、封止型の力検知装置1は、燃焼圧が増大すると、封止空間6の内部の気圧と燃焼圧の間の圧力差が増大する構成を有する。したがって、力伝達ブロック4の受圧面積(力検知装置1を平面視したときに、メサ型ゲージ12,14,16,18と封止部30の間の面積に相当する)に加わる燃焼圧の合計である力F2は、力伝達ブロック4を封止空間6側に向けて湾曲させる。このとき、力伝達ブロック4が湾曲して変位する部分が力点となり、支柱20が支点となり、メサ型ゲージ12が作用点となる梃子の関係が成立する。支柱20の支点とメサ型ゲージ12の作用点の間の距離をL1とし、支柱20の支点と変位する部分の力点の間の距離をL2とすると、作用点に加わる力F1は、理想的な梃子の効果が発揮されるとすると、以下の数式1で表される。
このように、本実施例の封止型の力検知装置1は、梃子の関係が成立する構成を有しているので、力伝達ブロック4に加わる力F2を増幅させた力F1をメサ型ゲージ12,16に加えることができる。これにより、力検知装置1のセンサ感度が大幅に向上する。
数式1に示されるように、力検知装置1のセンサ感度を向上させるためには、L2/L1が大きいのが望ましく、L2/L1が2以上であるのが望ましい。
図4に示されるように、封止空間6を構成する溝4cが、酸化シリコン層4b及びシリコン層4aの双方を加工して形成されていてもよい。梃子の効果が発揮されるためには、封止空間6に対応する位置の力伝達ブロック4が湾曲しなければならない。図4に示されるように、封止空間6に対応する位置のシリコン層4aが薄く形成されていると、その部分のシリコン層4aが良好に湾曲するので、梃子の効果が良好に発揮される。
図5に示されるように、封止空間6を構成する溝4cが、半導体基板2の主面2Sを加工して形成されていてもよい。この溝4cは、メサ型ゲージ12,14,16,18及び支柱20をドライエッチング技術を利用して形成する工程と同一工程で形成することができる。
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
1:力検知装置、 2:半導体基板、 4:力伝達ブロック、 4a:シリコン層、 4b:酸化シリコン層、 4c:溝、 6:封止空間、 10:検知部、 12,14,16,18:メサ型ゲージ、 12a,14a,16a,18a:ゲージ部、 20:支柱、 30:封止部

Claims (3)

  1. 基板と力伝達ブロックを備え、
    前記基板は、
    主面に形成されており、前記力伝達ブロックに接しており、ブリッジ回路を構成するメサ型ゲージと、
    前記主面に形成されており、前記メサ型ゲージの周囲を一巡して前記力伝達ブロックに接する封止部と、
    前記主面に形成されており、前記メサ型ゲージで囲まれた内部に配置されており、前記力伝達ブロックに接する支柱と、を有しており、
    前記基板と前記力伝達ブロックで外部から気密に隔てられる封止空間が、前記メサ型ゲージと前記封止部の間に配置されており、
    前記封止空間に対応する前記力伝達ブロックが前記封止空間側に向けて湾曲すると、その湾曲する部分が力点となり、前記支柱が支点となり、前記メサ型ゲージが作用点となる梃子の関係が成立するように構成されている、力検知装置。
  2. 前記力伝達ブロックには、前記基板側の面に溝が形成されており、
    前記溝は、前記メサ型ゲージに接する部分と前記封止部に接する部分の間に配置されている、請求項1に記載の力検知装置。
  3. 前記力伝達ブロックは、
    シリコン層と、
    前記シリコン層の前記基板側の面の一部を被覆する酸化シリコン層と、を有し
    前記溝は、前記酸化シリコン層の非被覆領域に構成される、請求項2に記載の力検知装置。
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