JP6105448B2 - Method for manufacturing crystal resonator element - Google Patents

Method for manufacturing crystal resonator element Download PDF

Info

Publication number
JP6105448B2
JP6105448B2 JP2013209878A JP2013209878A JP6105448B2 JP 6105448 B2 JP6105448 B2 JP 6105448B2 JP 2013209878 A JP2013209878 A JP 2013209878A JP 2013209878 A JP2013209878 A JP 2013209878A JP 6105448 B2 JP6105448 B2 JP 6105448B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
axis
groove
vibrating arm
protrusion
corrosion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013209878A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2015076651A (en
Inventor
井上 憲司
憲司 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Crystal Device Corp
Original Assignee
Kyocera Crystal Device Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Crystal Device Corp filed Critical Kyocera Crystal Device Corp
Priority to JP2013209878A priority Critical patent/JP6105448B2/en
Publication of JP2015076651A publication Critical patent/JP2015076651A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6105448B2 publication Critical patent/JP6105448B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Description

本発明は、例えば基準信号源やクロック信号源又は速度センサなどに用いられる水晶振動素子の製造方法に関する。以下、水晶振動素子の一例として、音叉型屈曲水晶振動素子(以下「振動素子」と略称する。)について説明する。   The present invention relates to a method for manufacturing a crystal resonator element used for, for example, a reference signal source, a clock signal source, or a speed sensor. Hereinafter, a tuning fork-type bending quartz crystal vibrating element (hereinafter abbreviated as “vibrating element”) will be described as an example of a quartz crystal vibrating element.

特許文献1の第6図には、振動腕部の表面及び裏面のそれぞれに溝部が形成された振動素子が開示されている。この振動素子の製造方法(以下「従来技術1」という。)は、特許文献1の第3頁右下欄第10行〜第4頁左上欄第3行に、次のように開示されている。まず、水晶ウェハの表裏に、外形形成用のマスクを作成する。続いて、このマスクを用いてフッ酸により一回目のエッチングをし、外形を途中まで形成する。続いて、このマスクの一部を開口して、溝部形成用兼外形形成用のマスクを作成する。最後に、このマスクを用いてフッ酸により二回目のエッチングをし、外形を完全に形成するとともに一定の深さの溝部を形成する。   FIG. 6 of Patent Document 1 discloses a vibration element in which a groove is formed on each of the front surface and the back surface of the vibration arm. This method of manufacturing a vibrating element (hereinafter referred to as “Prior Art 1”) is disclosed in Patent Document 1 on page 3, lower right column, line 10 to page 4, upper left column, line 3 as follows. . First, a mask for forming an outer shape is created on the front and back of a quartz wafer. Subsequently, the first etching is performed with hydrofluoric acid using this mask to form the outer shape halfway. Subsequently, a part of the mask is opened to form a groove forming / outside forming mask. Finally, a second etching is performed with hydrofluoric acid using this mask to completely form the outer shape and to form a groove having a certain depth.

従来技術1では、外形形成と溝形成とに前述のように二回のウェットエッチング工程が必要であった。その理由は、一回のウェットエッチングで外形と溝部の両方を形成しようとすると、溝部が表裏で貫通してしまうからである。そのため、従来技術1では、二回のウェットエッチング工程が必要となるために製造工程が複雑化する他に、次のような問題もあった。   In the prior art 1, two wet etching processes are required for the outer shape formation and the groove formation as described above. The reason is that when both the outer shape and the groove portion are formed by one wet etching, the groove portion penetrates on both sides. Therefore, in the prior art 1, since the wet etching process is required twice, the manufacturing process becomes complicated, and the following problem also occurs.

一回目の外形作成用マスクと二回目の溝部形成用兼外形形成用マスクとを作成するために、二回の露光工程が必要となる。このとき、露光時のアライメント精度によって一回目のマスクと二回目のマスクとに位置ずれが生ずると、外形と溝部とにも位置ずれが生ずることになる。その結果、二本の振動腕部の振動バランスが崩れることにより、振動腕部を支持する基部に振動が大きく伝播し、周波数バラツキの増大やクリスタルインピーダンスの劣化を招く問題があった。   In order to create the first outer shape forming mask and the second groove forming / outer shape forming mask, two exposure steps are required. At this time, if a positional shift occurs between the first mask and the second mask due to the alignment accuracy at the time of exposure, a positional shift also occurs between the outer shape and the groove. As a result, the vibration balance between the two vibrating arm portions is lost, so that the vibration is greatly propagated to the base portion supporting the vibrating arm portion, resulting in an increase in frequency variation and a deterioration in crystal impedance.

これに対し、一回のウェットエッチングで外形と溝部の両方を形成し得る振動素子の製造方法が、特許文献2に開示されている(以下「従来技術2」という。)。従来技術2では、水晶ウェハをウェットエッチングする際に用いる耐食膜からなるマスクにおいて、溝部となる部分にエッチング抑制パターンを形成する。この溝部となる部分に形成されたエッチング抑制パターンは、一方の溝面となる部分から他方の溝面となる部分へ向けて突き出る突起である。従来技術2によれば、溝部内の多数の突起がエッチング抑制パターンとして作用することにより、振動素子の外形と溝部とが一回のウェットエッチングで同時に形成されるので、従来技術1の諸問題を解決できる。   On the other hand, Patent Document 2 discloses a method for manufacturing a vibration element that can form both the outer shape and the groove by one wet etching (hereinafter referred to as “Prior Art 2”). In the prior art 2, an etching suppression pattern is formed in a portion to be a groove in a mask made of a corrosion-resistant film used when wet etching a quartz wafer. The etching suppression pattern formed in the portion that becomes the groove portion is a protrusion that protrudes from the portion that becomes the one groove surface toward the portion that becomes the other groove surface. According to the prior art 2, since a large number of protrusions in the groove act as an etching suppression pattern, the outer shape of the vibration element and the groove are simultaneously formed by one wet etching. Solvable.

特開昭56−66517号公報(第6図等)JP 56-66517 A (Fig. 6 etc.) 特開2011−217039号公報(図4等)JP 2011-217039 A (FIG. 4 etc.)

しかしながら、近年の振動素子の小型化に伴い、従来技術2には次のような問題が生じつつある。   However, with the recent miniaturization of vibration elements, the following problems are occurring in the related art 2.

図8は、従来技術2の製造方法におけるエッチング抑制パターンを示す平面図である。以下、この図面に基づき説明する。   FIG. 8 is a plan view showing an etching suppression pattern in the manufacturing method of the prior art 2. FIG. Hereinafter, description will be given based on this drawing.

従来技術2における露光現像工程で耐食膜32上に残される感光性レジスト膜33は、図8に示す平面形状となる。溝部となる部分130,140に形成されたエッチング抑制パターンは、第一溝面となる部分131,141からそれぞれ第二溝面となる部分132,142へ向けて突き出る突起90である。   The photosensitive resist film 33 left on the corrosion-resistant film 32 in the exposure and development process in the prior art 2 has a planar shape shown in FIG. The etching suppression patterns formed in the portions 130 and 140 that become the groove portions are protrusions 90 that protrude from the portions 131 and 141 that become the first groove surfaces toward the portions 132 and 142 that become the second groove surfaces, respectively.

振動素子の小型化に伴い、溝部となる部分130,140の幅81が狭くなる。しかし、突起90の長さ91を短くすると、エッチング抑制パターンとしての作用が不十分となって、溝部となる部分130,140が表裏で貫通することになる。なぜなら、突起90をエッチング抑制パターンとして十分に作用させるためには、ある程度の長さ91が必要となるからである。   With the downsizing of the vibration element, the width 81 of the portions 130 and 140 that become the groove portions becomes narrower. However, if the length 91 of the protrusion 90 is shortened, the action as an etching suppression pattern becomes insufficient, and the portions 130 and 140 that become the groove portions penetrate through the front and back. This is because a certain length 91 is required in order for the protrusion 90 to sufficiently act as an etching suppression pattern.

この問題に対して、突起90の先端と第二溝面となる部分132,142との距離93をできるだけ接近させることにより、必要な長さ91を得ることが考えられる。しかし、これを実現するには、高精度の露光機が必要となるため、現実的ではない。   In order to solve this problem, it is conceivable to obtain the necessary length 91 by bringing the distance 93 between the tip end of the protrusion 90 and the portions 132 and 142 to be the second groove surfaces as close as possible. However, realizing this requires a high-precision exposure machine, which is not realistic.

また、突起90をエッチング抑制パターンとして十分に作用させるためには、突起90の幅92を大きくすることも有効である。しかし、その場合は、突起90の痕跡である大きなエッチング残渣が発生することにより、溝部での平行電界が得にくくなるので、振動素子の特性劣化に繋がる。   It is also effective to increase the width 92 of the protrusion 90 in order to make the protrusion 90 sufficiently function as an etching suppression pattern. However, in that case, since a large etching residue that is a trace of the protrusion 90 is generated, it becomes difficult to obtain a parallel electric field in the groove portion, which leads to deterioration of characteristics of the vibration element.

そこで、本発明の目的は、一回のウェットエッチングで外形と溝部の両方を形成するとともに、振動素子の小型化にも容易に対応し得る、振動素子の製造方法を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a method of manufacturing a vibration element that can form both the outer shape and the groove by one wet etching and can easily cope with the downsizing of the vibration element.

本発明に係る振動素子の製造方法は、
基部と、この基部から同一方向に延設された二本の振動腕部と、これらの振動腕部に当該振動腕部の長手方向に沿って設けられ、互いに対向する第一溝面及び第二溝面を有する溝部と、を備えた水晶振動素子を製造する方法であって、
水晶ウェハの表裏に耐食膜を形成する耐食膜形成工程と、
前記耐食膜上に感光性レジスト膜を形成する感光性レジスト膜形成工程と、
前記基部及び前記二本の振動腕部となる部分の前記感光性レジスト膜を残し、前記溝部となる部分にエッチング抑制パターンとしての前記感光性レジスト膜を残し、かつ、不要な前記感光性レジスト膜を除去する露光現像工程と、
前記感光性レジスト膜で覆われていない前記耐食膜を除去することにより前記耐食膜からなるマスクを作成するパターニング工程と、
前記耐食膜からなるマスクを用いて前記水晶ウェハをウェットエッチングするウェットエッチング工程と、
を含み、
前記エッチング抑制パターンは、前記第一溝面となる部分から前記第二溝面となる部分へ向けて突き出る第一突起と、この第一突起の先端から前記振動腕部の長手方向に沿って突き出る第二突起とを有する、
ことを特徴とする。
The method for manufacturing a vibration element according to the present invention includes:
A base portion, two vibrating arm portions extending in the same direction from the base portion, a first groove surface and a second groove portion provided on the vibrating arm portions along the longitudinal direction of the vibrating arm portion and facing each other. A method of manufacturing a crystal resonator element comprising a groove portion having a groove surface,
A corrosion-resistant film forming process for forming a corrosion-resistant film on the front and back of the quartz wafer;
A photosensitive resist film forming step of forming a photosensitive resist film on the corrosion-resistant film;
The photosensitive resist film is left as the etching resisting pattern in the portion serving as the groove, and the unnecessary photosensitive resist film is left as the groove and the portion serving as the two vibrating arms. An exposure development process for removing
A patterning step of creating a mask made of the corrosion resistant film by removing the corrosion resistant film not covered with the photosensitive resist film;
A wet etching step of wet etching the crystal wafer using the mask made of the corrosion-resistant film;
Including
The etching suppression pattern protrudes along the longitudinal direction of the vibrating arm portion from the first protrusion protruding from the portion serving as the first groove surface toward the portion serving as the second groove surface. Having a second protrusion,
It is characterized by that.

本発明によれば、溝部となる部分内の第一突起及び第二突起がエッチング抑制パターンとして作用することにより、振動素子の外形と溝部とを一回のウェットエッチングで同時に形成できるとともに、第一突起の先端から振動腕部の長手方向に沿って突き出る第二突起を設けたことにより、エッチング抑制パターンを実質的に長くできるので、第一突起の先端を第二溝面となる部分に接近させる必要もなく、かつ、第一突起の幅を広げる必要もないことから、振動素子の小型化にも容易に対応できる。   According to the present invention, the first protrusion and the second protrusion in the portion to be the groove portion act as an etching suppression pattern, so that the outer shape of the vibration element and the groove portion can be simultaneously formed by one wet etching, and the first protrusion By providing the second protrusion that protrudes from the tip of the protrusion along the longitudinal direction of the vibrating arm portion, the etching suppression pattern can be substantially lengthened, so that the tip of the first protrusion approaches the portion that becomes the second groove surface. Since it is not necessary and it is not necessary to increase the width of the first protrusion, it is possible to easily cope with downsizing of the vibration element.

実施形態1の製造方法によって得られた振動素子を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a vibration element obtained by the manufacturing method of Embodiment 1. 図1におけるII−II線断面図である。It is the II-II sectional view taken on the line in FIG. 実施形態1の製造方法を示す工程図である。FIG. 5 is a process diagram illustrating the manufacturing method of the first embodiment. 実施形態1の製造方法を示す断面図であり、図4[1][2][3]の順に工程が進行する。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of Embodiment 1, and a process progresses in order of FIG. 4 [1] [2] [3]. 実施形態1の製造方法を示す断面図であり、図5[4][5]の順に工程が進行する。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of Embodiment 1, and a process progresses in order of FIG. 5 [4] [5]. 実施形態1の製造方法におけるエッチング抑制パターンを示す平面図である。5 is a plan view showing an etching suppression pattern in the manufacturing method of Embodiment 1. FIG. 実施形態2の製造方法におけるエッチング抑制パターンを示す平面図である。6 is a plan view showing an etching suppression pattern in the manufacturing method of Embodiment 2. FIG. 従来技術2の製造方法におけるエッチング抑制パターンを示す平面図である。It is a top view which shows the etching suppression pattern in the manufacturing method of the prior art 2. FIG.

以下、添付図面を参照しながら、本発明を実施するための形態(以下「実施形態」という。)について説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の構成要素については同一の符号を用いる。図面に描かれた形状は、当業者が理解しやすいように描かれているため、実際の寸法及び比率とは必ずしも一致していない。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention (hereinafter referred to as “embodiments”) will be described with reference to the accompanying drawings. In the present specification and drawings, the same reference numerals are used for substantially the same components. The shapes depicted in the drawings are drawn so as to be easily understood by those skilled in the art, and thus do not necessarily match the actual dimensions and ratios.

図1は、実施形態1の製造方法によって得られた振動素子を示す平面図である。図2は、図1におけるII−II線断面図である。以下、図1及び図2に基づき説明する。   FIG. 1 is a plan view illustrating a vibration element obtained by the manufacturing method according to the first embodiment. 2 is a cross-sectional view taken along line II-II in FIG. Hereinafter, a description will be given based on FIG. 1 and FIG.

図1に示すように、振動素子10は、基部11と、基部11から同一方向に延設された二本の振動腕部12a,12bと、振動腕部12aに振動腕部12aの長手方向(±Y’軸方向)に沿って設けられた溝部13a,14aと、振動腕部12bに振動腕部12bの長手方向(±Y’軸方向)に沿って設けられた溝部13b,14bと、を備えている。   As shown in FIG. 1, the vibrating element 10 includes a base portion 11, two vibrating arm portions 12 a and 12 b extending from the base portion 11 in the same direction, and the vibrating arm portion 12 a in the longitudinal direction of the vibrating arm portion 12 a ( Groove portions 13a and 14a provided along the ± Y′-axis direction) and groove portions 13b and 14b provided on the vibrating arm portion 12b along the longitudinal direction (± Y′-axis direction) of the vibrating arm portion 12b. I have.

図2に示すように、溝部13aは互いに対向する第一溝面131a及び第二溝面132aを有し、溝部14aは互いに対向する第一溝面141a及び第二溝面142aを有し、溝部13bは互いに対向する第一溝面131b及び第二溝面132bを有し、溝部14bは互いに対向する第一溝面141b及び第二溝面142bを有する。溝部13a,14aは振動腕部12aの両面に設けられ、溝部13b,14bは振動腕部12bの両面に設けられている。   As shown in FIG. 2, the groove portion 13a has a first groove surface 131a and a second groove surface 132a facing each other, and the groove portion 14a has a first groove surface 141a and a second groove surface 142a facing each other. 13b has a first groove surface 131b and a second groove surface 132b facing each other, and the groove portion 14b has a first groove surface 141b and a second groove surface 142b facing each other. The groove portions 13a and 14a are provided on both surfaces of the vibrating arm portion 12a, and the groove portions 13b and 14b are provided on both surfaces of the vibrating arm portion 12b.

水晶の結晶は三方晶系である。水晶の頂点を通る結晶軸をZ軸、Z軸に垂直な平面内の稜線を結ぶ三つの結晶軸をX軸、X軸及びZ軸に直交する座標軸をY軸とする。ここで、これらのX軸、Y軸及びZ軸からなる座標系をX軸を中心として±5度の範囲で回転させたときの回転後のY軸及びZ軸を、それぞれY’軸及びZ’軸とする。この場合、本実施形態1では、二本の振動腕部12a,12bの延設方向がY’軸の方向であり、二本の振動腕部12a,12bの並ぶ方向がX軸の方向である。   Quartz crystals are trigonal. A crystal axis passing through the crystal apex is defined as a Z axis, three crystal axes connecting ridge lines in a plane perpendicular to the Z axis are defined as an X axis, and a coordinate axis orthogonal to the X axis and the Z axis is defined as a Y axis. Here, when the coordinate system consisting of these X, Y, and Z axes is rotated within a range of ± 5 degrees around the X axis, the rotated Y axis and Z axis are respectively represented as Y ′ axis and Z axis. 'As axis. In this case, in the first embodiment, the extending direction of the two vibrating arm portions 12a and 12b is the Y′-axis direction, and the direction in which the two vibrating arm portions 12a and 12b are arranged is the X-axis direction. .

振動素子10には励振電極21a,21b等の金属膜が設けられている。励振電極21aは、振動腕部12aの外側面121a及び内側面122a並びに振動腕部12bの溝部13b,14bに設けられている。励振電極21bは、振動腕部12bの内側面121b及び外側面122b並びに振動腕部12aの溝部13a,14aに設けられている。なお、基部11には電極パッド22a,22b及び配線パターン23a,23b、振動腕部12a,12bの先端部には周波数調整用金属膜24a,24bが、それぞれ設けられている。   The vibration element 10 is provided with metal films such as excitation electrodes 21a and 21b. The excitation electrode 21a is provided on the outer side surface 121a and the inner side surface 122a of the vibrating arm portion 12a and the groove portions 13b and 14b of the vibrating arm portion 12b. The excitation electrode 21b is provided on the inner side surface 121b and the outer side surface 122b of the vibrating arm portion 12b and the groove portions 13a and 14a of the vibrating arm portion 12a. The base 11 is provided with electrode pads 22a and 22b, wiring patterns 23a and 23b, and frequency adjusting metal films 24a and 24b at the distal ends of the vibrating arms 12a and 12b, respectively.

図2に基づき詳しく説明すると、振動腕部12aには、水晶を挟んで対向する平面同士が同極となるように、両側面に励振電極21aが設けられ、表裏面の溝部13a,14aに励振電極21bが設けられる。同様に、振動腕部12bには、水晶を挟んで対向する平面同士に同極となるように、両側面に励振電極21bが設けられ、表裏面の溝部13b,14bに励振電極21aが設けられる。したがって、振動腕部12aにおいては両側面に設けられた励振電極21aと溝部13a,14a内に設けられた励振電極21bが異極同士となり、振動腕部12bにおいては両側面に設けられた励振電極21bと溝部13b,14b内に設けられた励振電極21aが異極同士となる。このとき、振動腕部12aにおいては、外側面121aの励振電極21aと第一溝面131aの励振電極21bとが対向し、内側面122aの励振電極21aと第二溝面142aの励振電極21bとが対向し、それらの電極間で大きな電界強度が得られる。振動腕部12bにおいても同様である。   Describing in detail with reference to FIG. 2, the vibrating arm 12a is provided with excitation electrodes 21a on both sides so that the planes facing each other across the crystal have the same polarity, and excitation in the grooves 13a and 14a on the front and back surfaces. An electrode 21b is provided. Similarly, the vibrating arm portion 12b is provided with excitation electrodes 21b on both side surfaces so as to have the same polarity on opposite surfaces across the quartz, and excitation electrodes 21a are provided in the groove portions 13b and 14b on the front and back surfaces. . Accordingly, in the vibrating arm portion 12a, the excitation electrode 21a provided on both side surfaces and the excitation electrode 21b provided in the groove portions 13a and 14a have different polarities, and in the vibrating arm portion 12b, excitation electrodes provided on both side surfaces. 21b and the excitation electrodes 21a provided in the grooves 13b and 14b are different from each other. At this time, in the vibrating arm portion 12a, the excitation electrode 21a on the outer surface 121a and the excitation electrode 21b on the first groove surface 131a face each other, and the excitation electrode 21a on the inner surface 122a and the excitation electrode 21b on the second groove surface 142a Are opposed to each other, and a large electric field strength is obtained between the electrodes. The same applies to the vibrating arm 12b.

振動素子10は、図示しないが、基部11の電極パッド22a,22bを介して、導電性接着剤によって素子搭載部材側の電極パッドに固定されると同時に電気的に接続される。   Although not illustrated, the vibration element 10 is fixed to the electrode pad on the element mounting member side by the conductive adhesive via the electrode pads 22a and 22b of the base 11, and is electrically connected at the same time.

振動素子10を動作させるには、励振電極21a,21bに交流電圧を印加する。印加後のある電気的状態を瞬間的に捉えると、振動腕部12aにおいて、溝部13a,14aに設けられた励振電極21bはプラス電位となり、外側面121a及び内側面122aに設けられた励振電極21aはマイナス電位となり、プラスからマイナスに電界が生じる。このとき、振動腕部12bにおいて、溝部13b,14bに設けられた励振電極21aはマイナス電位となり、内側面121b及び外側面122bに設けられた励振電極21bはプラス電位となり、振動腕部12aに生じた極性とは反対の極性となり、プラスからマイナスに電界が生じる。この交流電圧で生じた電界によって、振動腕部12a,12bに伸縮現象が生じ、所定の共振周波数の屈曲振動モードが得られる。   In order to operate the vibration element 10, an alternating voltage is applied to the excitation electrodes 21a and 21b. When an electrical state after application is captured instantaneously, in the vibrating arm portion 12a, the excitation electrode 21b provided in the grooves 13a and 14a becomes a positive potential, and the excitation electrode 21a provided on the outer side surface 121a and the inner side surface 122a. Becomes a negative potential, and an electric field is generated from positive to negative. At this time, in the vibrating arm portion 12b, the excitation electrode 21a provided in the grooves 13b and 14b has a negative potential, and the excitation electrode 21b provided on the inner side surface 121b and the outer side surface 122b has a positive potential, and is generated in the vibrating arm portion 12a. The polarity is opposite to the polarity, and an electric field is generated from positive to negative. The electric field generated by the AC voltage causes a stretching phenomenon in the vibrating arm portions 12a and 12b, and a flexural vibration mode having a predetermined resonance frequency is obtained.

なお、図1及び図2ではわかりやすく説明するためにエッチング残渣を省略して示しているが、実際はエッチング残渣が発生する。   In FIGS. 1 and 2, the etching residue is omitted for easy understanding, but an etching residue actually occurs.

図3は、実施形態1の製造方法を示す工程図である。図4及び図5は、実施形態1の製造方法を示す断面図である。図6は、実施形態1の製造方法におけるエッチング抑制パターンを示す平面図である。以下、図1乃至図6に基づき、実施形態1の製造方法について説明する。   FIG. 3 is a process diagram illustrating the manufacturing method according to the first embodiment. 4 and 5 are cross-sectional views showing the manufacturing method of the first embodiment. FIG. 6 is a plan view showing an etching suppression pattern in the manufacturing method of the first embodiment. Hereinafter, the manufacturing method of Embodiment 1 is demonstrated based on FIG. 1 thru | or FIG.

本実施形態1の製造方法は、図1及び図2に示す振動素子10を製造する方法であって、次の工程を含む。なお、図4乃至図6では、図1及び図2に示す振動腕部12aに相当する部分のみを示す。   The manufacturing method according to the first embodiment is a method for manufacturing the vibration element 10 shown in FIGS. 1 and 2 and includes the following steps. 4 to 6 show only a portion corresponding to the vibrating arm portion 12a shown in FIGS.

・水晶ウェハ31の表裏に耐食膜32を形成する耐食膜形成工程(図3ステップS1、図4[1])。
・耐食膜32上に感光性レジスト膜33を形成する感光性レジスト膜形成工程(図3ステップS2、図4[2])。
・基部11及び振動腕部12a,12bとなる部分の感光性レジスト膜33を残し、溝部13a,13b,14a,14bとなる部分にエッチング抑制パターン40(図6)としての感光性レジスト膜33を残し、かつ、不要な感光性レジスト膜33を除去する露光現像工程(図3ステップS3、図4[3])。
・感光性レジスト膜33で覆われていない耐食膜32を除去することにより耐食膜32からなるマスクを作成するパターニング工程(図3ステップS4、図5[4])。
・耐食膜32からなるマスクを用いて水晶ウェハ31をウェットエッチングするウェットエッチング工程(図3ステップS5、図5[5])。
Corrosion-resistant film forming step for forming the corrosion-resistant film 32 on the front and back of the quartz wafer 31 (step S1 in FIG. 3, FIG. 4 [1]).
A photosensitive resist film forming step for forming a photosensitive resist film 33 on the corrosion resistant film 32 (step S2 in FIG. 3, FIG. 4 [2]).
A portion of the photosensitive resist film 33 that becomes the base 11 and the vibrating arm portions 12a and 12b is left, and a portion of the photosensitive resist film 33 that serves as the groove portions 13a, 13b, 14a, and 14b is provided with the photosensitive resist film 33 as the etching suppression pattern 40 (FIG. 6). An exposure development process for removing the remaining photosensitive resist film 33 that is unnecessary (FIG. 3, step S3, FIG. 4 [3]).
Patterning step of creating a mask made of the corrosion resistant film 32 by removing the corrosion resistant film 32 not covered with the photosensitive resist film 33 (step S4 in FIG. 3, FIG. 5 [4]).
A wet etching process (step S5 in FIG. 3, FIG. 5 [5]) in which the crystal wafer 31 is wet etched using a mask made of the corrosion resistant film 32

図6に示すように、エッチング抑制パターン40は、第一溝面となる部分131,141からそれぞれ第二溝面となる部分132,142へ向けて突き出る第一突起41と、第一突起41の先端から振動腕部の長手方向(±Y’軸方向)に沿って突き出る第二突起42とを有する。   As shown in FIG. 6, the etching suppression pattern 40 includes a first protrusion 41 that protrudes from the portions 131 and 141 that become the first groove surfaces toward the portions 132 and 142 that become the second groove surfaces, and the first protrusion 41. And a second protrusion 42 protruding from the tip along the longitudinal direction (± Y′-axis direction) of the vibrating arm portion.

次に、上記各工程について詳しく説明する。   Next, the above steps will be described in detail.

<耐食膜形成工程:図4[1]>
耐食膜形成工程では、水晶ウェハ31の表裏に耐食膜32を形成する。例えば、スパッタによりクロム又はクロム及び金の二層からなる耐食膜32を成膜する。
<Corrosion-resistant film formation process: FIG. 4 [1]>
In the corrosion resistant film forming step, the corrosion resistant film 32 is formed on the front and back of the crystal wafer 31. For example, the corrosion resistant film 32 made of chromium or two layers of chromium and gold is formed by sputtering.

<感光性レジスト膜形成工程:図4[2]>
感光性レジスト膜形成工程では、耐食膜32上に感光性レジスト膜33を形成する。感光性レジスト膜33は、例えばポジ型を使用する。
<Photosensitive resist film formation process: FIG. 4 [2]>
In the photosensitive resist film forming step, a photosensitive resist film 33 is formed on the corrosion resistant film 32. For the photosensitive resist film 33, for example, a positive type is used.

<露光現像工程:図4[3]>
露光現像工程では、耐食膜32上に感光性レジスト膜33を露光・現像する。つまり、露光機を用いて感光性レジスト膜33に所定のパターンを転写し、現像処理によって光の当たった部分の感光性レジスト膜33を除去する。
<Exposure development process: FIG. 4 [3]>
In the exposure and development process, the photosensitive resist film 33 is exposed and developed on the corrosion resistant film 32. That is, a predetermined pattern is transferred to the photosensitive resist film 33 by using an exposure machine, and the photosensitive resist film 33 in a portion exposed to light is removed by development processing.

露光現像工程において耐食膜32上に残される感光性レジスト膜33は、図6に示す平面形状となる。図6では、振動腕部12aの溝部となる部分130,140のみを示している。エッチング抑制パターン40は、溝部となる部分130,140にそれぞれ、Y’軸方向に一定間隔で複数設けられる。第一突起41は、Y’軸から時計回りに60°の方向に突き出ているが、これに限らず、例えばY’軸から時計回りに120°の方向に突き出てもよく、又はY’軸から時計回りに90°の方向に突き出てもよい。第二突起42は、Y’軸方向に突き出ているが、−Y’軸方向に突き出るようにしてもよい。   The photosensitive resist film 33 left on the corrosion-resistant film 32 in the exposure and development process has a planar shape shown in FIG. FIG. 6 shows only the portions 130 and 140 that become the groove portions of the vibrating arm portion 12a. A plurality of the etching suppression patterns 40 are provided at regular intervals in the Y′-axis direction in the portions 130 and 140 to be the groove portions. The first protrusion 41 protrudes in the direction of 60 ° clockwise from the Y ′ axis, but is not limited thereto, and may protrude in the direction of 120 ° clockwise from the Y ′ axis, or the Y ′ axis. It may project in a 90 ° direction clockwise. The second protrusion 42 protrudes in the Y ′ axis direction, but may protrude in the −Y ′ axis direction.

<パターニング工程:図5[4]>
パターニング工程では、感光性レジスト膜33で覆われていない耐食膜32を除去することにより、耐食膜32からなるマスクを作成する。耐食膜32の除去には、耐食膜32のみをエッチングし、水晶ウェハ31をエッチングしない強酸を用いる。この耐食膜32からなるマスクも、図6に示す平面形状となる。
<Patterning process: FIG. 5 [4]>
In the patterning step, the corrosion-resistant film 32 that is not covered with the photosensitive resist film 33 is removed to create a mask made of the corrosion-resistant film 32. For removing the corrosion-resistant film 32, a strong acid that etches only the corrosion-resistant film 32 and does not etch the crystal wafer 31 is used. The mask made of the corrosion resistant film 32 also has a planar shape shown in FIG.

<ウェットエッチング工程:図5[5]>
ウェットエッチング工程では、耐食膜32からなるマスクを用いて水晶ウェハ31をウェットエッチングする。このウェットエッチングには、フッ酸を用いる。図5[5]では、感光性レジスト膜33が除去されているが、感光性レジスト膜33を残しておき又は新たな感光性レジスト膜を形成し直して、次の工程でリフトオフを用いて電極等を形成してもよい。
<Wet etching process: FIG. 5 [5]>
In the wet etching process, the crystal wafer 31 is wet etched using a mask made of the corrosion resistant film 32. Hydrofluoric acid is used for this wet etching. In FIG. 5 [5], the photosensitive resist film 33 is removed, but the photosensitive resist film 33 is left or a new photosensitive resist film is formed again, and the electrode is lifted off in the next step. Etc. may be formed.

その後、図1及び図2に示すように、基部11及び振動腕部12a,12bに励振電極21a,21b等となる金属膜を形成する。これらの金属膜は、例えばチタン層の上にパラジウム層又は金層が設けられた積層構造であり、スパッタリングや蒸着によって成膜される。励振電極21a,21b等は、前述のリフトオフを用いて、又はフォトリソグラフィ及びエッチングを用いて、金属膜をパターニングすることにより形成される。   Thereafter, as shown in FIGS. 1 and 2, a metal film to be the excitation electrodes 21a, 21b and the like is formed on the base 11 and the vibrating arms 12a, 12b. These metal films have a laminated structure in which, for example, a palladium layer or a gold layer is provided on a titanium layer, and are formed by sputtering or vapor deposition. The excitation electrodes 21a, 21b and the like are formed by patterning a metal film using the above-described lift-off or using photolithography and etching.

前述のとおり、パターニング工程(図5[4])で作成される耐食膜32からなるマスクも、図6に示す平面形状となる。このような平面形状の耐食膜32からなるマスクを用いることにより、ウェットエッチング工程(図5[5])では第一突起41及び第二突起42がエッチング抑制パターン40として作用するので、振動素子10の外形と溝部13a,14aとが一回のウェットエッチングで同時に形成される。以上、溝部13a,14aについて説明したが、他の溝部13b,14bについても同様である。   As described above, the mask made of the corrosion-resistant film 32 formed in the patterning step (FIG. 5 [4]) also has the planar shape shown in FIG. Since the first protrusion 41 and the second protrusion 42 act as the etching suppression pattern 40 in the wet etching process (FIG. 5 [5]) by using the mask made of the planar corrosion-resistant film 32, the vibration element 10 And the grooves 13a and 14a are simultaneously formed by one wet etching. Although the groove portions 13a and 14a have been described above, the same applies to the other groove portions 13b and 14b.

次に、振動素子10の作用及び効果について説明する。   Next, the operation and effect of the vibration element 10 will be described.

(1)溝部となる部分130,140内の複数の第一突起41及び第二突起42がエッチング抑制パターン40として作用することにより、振動素子10の外形と溝部13a,14a,13b,14bとを一回のウェットエッチングで同時に形成できる。   (1) The plurality of first protrusions 41 and the second protrusions 42 in the portions 130 and 140 to be the groove portions act as the etching suppression pattern 40, so that the outer shape of the vibration element 10 and the groove portions 13a, 14a, 13b, and 14b are reduced. They can be formed simultaneously by one wet etching.

(2)第一突起41の先端から振動腕部12a,12bの長手方向(±Y’軸)に沿って突き出る第二突起42を設けたことにより、エッチング抑制パターン40を実質的に長くできるので、第一突起41の先端を第二溝面となる部分132,142に接近させる必要もなく、かつ、第一突起41の幅を広げる必要もないことから、振動素子10の小型化に容易に対応できる。つまり、第一突起41の先端を第二溝面となる部分132,142に接近させる必要がないので、高精度の露光機が不要である。第一突起41の幅を広げる必要がないので、第一突起41の痕跡であるエッチング残渣が発生しにくい。そのため、外側面121a,122b及び内側面121b,122aと第一溝面131a,131b及び第二溝面142a,142bとの平行電界が得やすくなることにより、振動素子10の特性劣化を抑えることができるので、高精度の露光機が不要になることも相まって、振動素子10の小型化に容易に対応できる。   (2) Since the second protrusion 42 protruding from the tip of the first protrusion 41 along the longitudinal direction (± Y ′ axis) of the vibrating arms 12a and 12b is provided, the etching suppression pattern 40 can be made substantially longer. Since the tip of the first protrusion 41 does not need to be close to the portions 132 and 142 that form the second groove surface, and the width of the first protrusion 41 does not need to be increased, the vibration element 10 can be easily reduced in size. Yes. That is, since it is not necessary to bring the tip of the first protrusion 41 close to the portions 132 and 142 serving as the second groove surface, a highly accurate exposure machine is not necessary. Since it is not necessary to increase the width of the first protrusion 41, an etching residue that is a trace of the first protrusion 41 is hardly generated. Therefore, it becomes easy to obtain a parallel electric field between the outer side surfaces 121a and 122b and the inner side surfaces 121b and 122a and the first groove surfaces 131a and 131b and the second groove surfaces 142a and 142b, thereby suppressing the characteristic deterioration of the vibration element 10. Therefore, it is possible to easily cope with the downsizing of the vibration element 10 together with the fact that a high-precision exposure machine is unnecessary.

(3)第一突起41がZ’軸を中心としてY’軸から時計回りに60±5度又は120±5度(好ましくは60度又は120度)の方向に突き出る場合は、第一突起41がX面からなるので、更にエッチング残渣が生じにくい。なぜなら、X面はY面に比べてエッチングレートが大きいからである。したがって、この場合の第一突起41下の水晶は、ウェットエッチング工程(図5[5])において大部分がアンダーエッチングによって消滅する。   (3) When the first protrusion 41 protrudes in the direction of 60 ± 5 degrees or 120 ± 5 degrees (preferably 60 degrees or 120 degrees) clockwise from the Y ′ axis around the Z ′ axis, the first protrusion 41 Since it consists of the X plane, etching residues are less likely to occur. This is because the X plane has a higher etching rate than the Y plane. Therefore, most of the crystal under the first protrusion 41 in this case disappears by under-etching in the wet etching step (FIG. 5 [5]).

図7は、実施形態2の製造方法におけるエッチング抑制パターンを示す平面図である。以下、この図面に基づき説明する。   FIG. 7 is a plan view showing an etching suppression pattern in the manufacturing method of the second embodiment. Hereinafter, description will be given based on this drawing.

本実施形態2の製造方法では、エッチング抑制パターン50の形状が実施形態1のそれと異なる。本実施形態2における露光現像工程で耐食膜32上に残される感光性レジスト膜33は、図7に示す平面形状となる。溝部となる部分130,140に形成されたエッチング抑制パターン50は、第一溝面となる部分131,141からそれぞれ第二溝面となる部分132,142へ向けて突き出る第一突起41と、第一突起41の先端から振動腕部の長手方向(±Y’軸方向)に沿って突き出る第二突起52とを有する。そして、第二突起52は、振動腕部の延設方向(Y’軸方向)に突き出る突起521と、振動腕部の延設方向の反対方向(−Y’軸方向)に突き出る突起522とを有する。本実施形態2の振動素子のその他の構成、作用及び効果は、実施形態1のそれらと同様である。   In the manufacturing method of the second embodiment, the shape of the etching suppression pattern 50 is different from that of the first embodiment. The photosensitive resist film 33 left on the corrosion-resistant film 32 in the exposure and development process in the second embodiment has a planar shape shown in FIG. The etching suppression pattern 50 formed on the portions 130 and 140 that become the groove portions includes the first protrusion 41 that protrudes from the portions 131 and 141 that become the first groove surfaces toward the portions 132 and 142 that become the second groove surfaces, respectively. A second protrusion 52 protruding from the tip of one protrusion 41 along the longitudinal direction (± Y′-axis direction) of the vibrating arm portion. The second protrusion 52 includes a protrusion 521 protruding in the extending direction (Y′-axis direction) of the vibrating arm part and a protrusion 522 protruding in the opposite direction (−Y′-axis direction) of the extending direction of the vibrating arm part. Have. Other configurations, operations, and effects of the vibration element of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

以上、上記各実施形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記各実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細については、当業者が理解し得るさまざまな変更を加えることができる。また、本発明には、上記各実施形態の構成の一部又は全部を相互に適宜組み合わせたものも含まれる。   Although the present invention has been described with reference to the above embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments. Various changes that can be understood by those skilled in the art can be made to the configuration and details of the present invention. Further, the present invention includes a combination of some or all of the configurations of the above-described embodiments as appropriate.

10 振動素子
11 基部
12a 振動腕部
121a 外側面
122a 内側面
13a 溝部
131a 第一溝面
132a 第二溝面
14a 溝部
141a 第一溝面
142a 第二溝面
12b 振動腕部
121b 内側面
122b 外側面
13b 溝部
131b 第一溝面
132b 第二溝面
14b 溝部
141b 第一溝面
142b 第二溝面
21a,21b 励振電極
22a,22b 電極パッド
23a,23b 配線パターン
24a,24b 周波数調整用金属膜
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Vibration element 11 Base part 12a Vibrating arm part 121a Outer side surface 122a Inner side surface 13a Groove part 131a First groove surface 132a Second groove surface 14a Groove part 141a First groove surface 142a Second groove surface 12b Vibrating arm part 121b Inner side surface 122b Outer side surface 13b Groove 131b First groove surface 132b Second groove surface 14b Groove portion 141b First groove surface 142b Second groove surface 21a, 21b Excitation electrode 22a, 22b Electrode pad 23a, 23b Wiring pattern 24a, 24b Metal film for frequency adjustment

31 水晶ウェハ
32 耐食膜
33 感光性レジスト膜
31 Crystal wafer 32 Corrosion-resistant film 33 Photosensitive resist film

130 溝部となる部分
131 第一溝面となる部分
132 第二溝面となる部分
140 溝部となる部分
141 第一溝面となる部分
142 第二溝面となる部分
40 エッチング抑制パターン
41 第一突起
42 第二突起
50 エッチング抑制パターン
52 第二突起
521,522 突起
130 Part to be a groove part 131 Part to be a first groove surface 132 Part to be a second groove surface 140 Part to be a groove part 141 Part to be a first groove surface 142 Part to be a second groove surface 40 Etching suppression pattern 41 First protrusion 42 Second protrusion 50 Etching suppression pattern 52 Second protrusion 521, 522 Projection

81 溝部となる部分の幅
90 突起(エッチング抑制パターン)
91 突起の長さ
92 突起の幅
93 距離
81 Width 90 of the portion to become the groove portion Protrusion (etching suppression pattern)
91 Projection length 92 Projection width 93 Distance

Claims (3)

基部と、この基部から同一方向に延設された二本の振動腕部と、これらの振動腕部に当該振動腕部の長手方向に沿って設けられ、互いに対向する第一溝面及び第二溝面を有する溝部と、を備えた水晶振動素子を製造する方法であって、
水晶ウェハの表裏に耐食膜を形成する耐食膜形成工程と、
前記耐食膜上に感光性レジスト膜を形成する感光性レジスト膜形成工程と、
前記基部及び前記二本の振動腕部となる部分の前記感光性レジスト膜を残し、前記溝部となる部分にエッチング抑制パターンとしての前記感光性レジスト膜を残し、かつ、不要な前記感光性レジスト膜を除去する露光現像工程と、
前記感光性レジスト膜で覆われていない前記耐食膜を除去することにより前記耐食膜からなるマスクを作成するパターニング工程と、
前記耐食膜からなるマスクを用いて前記水晶ウェハをウェットエッチングするウェットエッチング工程と、
を含み、
前記エッチング抑制パターンは、前記第一溝面となる部分から前記第二溝面となる部分へ向けて突き出る第一突起と、この第一突起の先端から前記振動腕部の長手方向に沿って突き出る第二突起とを有する、
ことを特徴とする水晶振動素子の製造方法。
A base portion, two vibrating arm portions extending in the same direction from the base portion, a first groove surface and a second groove portion provided on the vibrating arm portions along the longitudinal direction of the vibrating arm portion and facing each other. A method of manufacturing a crystal resonator element comprising a groove portion having a groove surface,
A corrosion-resistant film forming process for forming a corrosion-resistant film on the front and back of the quartz wafer;
A photosensitive resist film forming step of forming a photosensitive resist film on the corrosion-resistant film;
The photosensitive resist film is left as the etching resisting pattern in the portion serving as the groove, and the unnecessary photosensitive resist film is left as the groove and the portion serving as the two vibrating arms. An exposure development process for removing
A patterning step of creating a mask made of the corrosion resistant film by removing the corrosion resistant film not covered with the photosensitive resist film;
A wet etching step of wet etching the crystal wafer using the mask made of the corrosion-resistant film;
Including
The etching suppression pattern protrudes along the longitudinal direction of the vibrating arm portion from the first protrusion protruding from the portion serving as the first groove surface toward the portion serving as the second groove surface. Having a second protrusion,
A method for manufacturing a quartz crystal resonator element.
水晶の頂点を通る結晶軸をZ軸、このZ軸に垂直な平面内の稜線を結ぶ三つの結晶軸をX軸、前記X軸及び前記Z軸に直交する座標軸をY軸とし、これらのX軸、Y軸及びZ軸からなる座標系を前記X軸を中心として±5度の範囲で回転させたときの回転後の前記Y軸及び前記Z軸を、それぞれY’軸及びZ’軸とした場合、
前記二本の振動腕部の延設方向が前記Y’軸の方向であり、前記二本の振動腕部の並ぶ方向が前記X軸の方向であり、
前記溝部の中心から見て前記X軸側が前記第一溝面であり、前記溝部の中心から見て前記X軸の反対側である−X軸側が前記第二溝面であり、
前記第一突起は、前記Z’軸を中心として前記Y’軸から時計回りに60±5度又は120±5度の方向に突き出る、
請求項1記載の水晶振動素子の製造方法。
The crystal axis passing through the crystal apex is the Z axis, the three crystal axes connecting the ridges in the plane perpendicular to the Z axis are the X axis, the X axis and the coordinate axis orthogonal to the Z axis are the Y axes, and these X The Y-axis and the Z-axis after rotation when a coordinate system consisting of an axis, a Y-axis, and a Z-axis is rotated within a range of ± 5 degrees around the X-axis, respectively, are a Y′-axis and a Z′-axis if you did this,
The extending direction of the two vibrating arm portions is the direction of the Y ′ axis, and the direction in which the two vibrating arm portions are arranged is the direction of the X axis,
The X-axis side when viewed from the center of the groove is the first groove surface, and the -X-axis side that is the opposite side of the X-axis when viewed from the center of the groove is the second groove surface,
The first protrusion protrudes in a direction of 60 ± 5 degrees or 120 ± 5 degrees clockwise from the Y ′ axis around the Z ′ axis.
A method for manufacturing a crystal resonator element according to claim 1.
前記第二突起は、前記振動腕部の延設方向に突き出る突起と、前記振動腕部の延設方向の反対方向に突き出る突起とを有する、
請求項1又は2記載の水晶振動素子の製造方法。
The second protrusion has a protrusion protruding in the extending direction of the vibrating arm part and a protrusion protruding in a direction opposite to the extending direction of the vibrating arm part.
A method for manufacturing a crystal resonator element according to claim 1 or 2.
JP2013209878A 2013-10-07 2013-10-07 Method for manufacturing crystal resonator element Expired - Fee Related JP6105448B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013209878A JP6105448B2 (en) 2013-10-07 2013-10-07 Method for manufacturing crystal resonator element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013209878A JP6105448B2 (en) 2013-10-07 2013-10-07 Method for manufacturing crystal resonator element

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015076651A JP2015076651A (en) 2015-04-20
JP6105448B2 true JP6105448B2 (en) 2017-03-29

Family

ID=53001226

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013209878A Expired - Fee Related JP6105448B2 (en) 2013-10-07 2013-10-07 Method for manufacturing crystal resonator element

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6105448B2 (en)

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002141770A (en) * 2000-11-01 2002-05-17 Citizen Watch Co Ltd Small-sized vibrator
JP2003087078A (en) * 2001-09-07 2003-03-20 Citizen Watch Co Ltd Crystal vibrator structure
JP4241022B2 (en) * 2002-12-17 2009-03-18 セイコーエプソン株式会社 Quartz vibrating piece, manufacturing method thereof, quartz crystal device using quartz crystal vibrating piece, mobile phone device using quartz crystal device, and electronic equipment using quartz crystal device
JP4292825B2 (en) * 2003-02-26 2009-07-08 セイコーエプソン株式会社 Method for manufacturing quartz vibrating piece
JP5465573B2 (en) * 2010-03-31 2014-04-09 京セラクリスタルデバイス株式会社 Manufacturing method of tuning fork type crystal piece
JP5468444B2 (en) * 2010-03-31 2014-04-09 京セラクリスタルデバイス株式会社 Manufacturing method of tuning fork type crystal piece
JP5465572B2 (en) * 2010-03-31 2014-04-09 京セラクリスタルデバイス株式会社 Manufacturing method of tuning fork type crystal piece

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015076651A (en) 2015-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5941802B2 (en) Quartz vibrating element and method for manufacturing the same
JP5534828B2 (en) Tuning fork type bending crystal resonator element
JP5520618B2 (en) Tuning fork type bending crystal resonator element
JP5465573B2 (en) Manufacturing method of tuning fork type crystal piece
JP5468444B2 (en) Manufacturing method of tuning fork type crystal piece
JP5465572B2 (en) Manufacturing method of tuning fork type crystal piece
JP5890271B2 (en) Tuning fork-type bending crystal resonator element and manufacturing method thereof
JP6105448B2 (en) Method for manufacturing crystal resonator element
JP6163379B2 (en) Method for manufacturing crystal resonator element
JP6055294B2 (en) Method for manufacturing piezoelectric element
JP6055273B2 (en) Method for manufacturing piezoelectric element
JP6279386B2 (en) Quartz vibrating element and method for manufacturing the same
JP6043588B2 (en) Quartz vibrating element and method for manufacturing the same
JP6163404B2 (en) Method for manufacturing piezoelectric element
JP6005001B2 (en) Quartz vibrating element and method for manufacturing the same
JP6150433B2 (en) Quartz vibrating element and method for manufacturing the same
JP6457199B2 (en) Quartz vibrating element and method for manufacturing the same
JP6590482B2 (en) Crystal oscillator
JP2021040175A (en) Tuning fork-type crystal element, crystal device, and electronic apparatus
JP6584257B2 (en) Tuning-fork type crystal vibrating element
JP2015091052A (en) Manufacturing method of piezoelectric element
JP2015091051A (en) Manufacturing method of piezoelectric element
JP2015019139A (en) Method for manufacturing piezoelectric element
JP6448591B2 (en) Crystal oscillator
JP2019087774A (en) Tuning fork type crystal vibrating element and piezoelectric device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160513

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170131

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170302

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6105448

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees