JP6101746B2 - 試料保持プレート、撮像装置および撮像方法 - Google Patents
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Description
前記窪部を撮像して得た前記歪み検出用パターンの像の歪みを検出する検出工程と、
前記検出工程における検出結果に基づき前記処理対象画像の歪みを補正する画像補正工程とを備えている。
図1はこの発明にかかる撮像装置の概略構成を示す図である。この撮像装置1は、図1(a)に示すように、断面が略円形で、それぞれに例えば培養液、培地、試薬などの液体等が注入された複数の、例えば96個(12×8のマトリクス配列)のウェルWを形成されたサンプル(マイクロプレート)Mが載置されるステージ15と、該ステージ11を保持するホルダ11と、該ホルダ11の下方に設けられた光源12と、ホルダ11の上方に設けられた撮像ユニット13と、これらを司って所定の動作を実行させる制御部10とを備えている。図1(a)においては上下方向が鉛直方向である。マイクロプレートMにおける各ウェルWの直径および深さは代表的には10mm弱程度である。なお、この撮像装置1が対象とするマイクロプレートのサイズやウェルの数はこれらに限定されるものではなく任意である。
図3はこの発明にかかる撮像装置の第1実施形態の主要部を示す図である。この実施形態は、図1(a)に示す撮像ユニット13、光源12、光源制御部112および画像処理部114に相当する構成に特徴を有するものである。この実施形態における撮像ユニット、光源、光源制御部および画像処理部をそれぞれ符号13a、12a、112aおよび114aにより示す。
図6はこの発明にかかる撮像装置の第2実施形態の主要部を示す図である。この実施形態における撮像ユニット、光源、光源制御部および画像処理部をそれぞれ符号13b、12b、112bおよび114bにより示す。
次に、この発明の第3実施形態について説明する。上記した第1および第2実施形態の撮像装置では、照明用の光源12(12a,12b)とマイクロプレートMとの間に設けたステージ15にグリッドパターンを設けていた。こうすることで、グリッドパターンの形状や寸法、撮像ユニット13等との位置関係などが装置固有のものとなり、製品のばらつきが歪み補正に影響を及ぼすことが回避される。またマイクロプレートMには特別な仕様が要求されないので、現在市販されている一般的なものを使用することができる。
以上説明したように、上記各実施形態においては、マイクロプレートMおよび2が本発明の「試料保持プレート」に相当しており、ウェルWが本発明の「窪部」に相当している。また、マイクロプレート2の上部プレート21および下面シート22がそれぞれ本発明の「プレート」および「透明シート」に相当している。
11 ホルダ(保持手段)
12,12a,12b 光源(照明手段)
13,13a,13b 撮像ユニット(撮像手段)
15 ステージ(保持手段、透明ステージ、パターン形成体)
21 上部プレート(プレート)
22 下面シート(透明シート)
114,114a,114b 画像処理部(画像補正手段)
135 ダイクロイックミラー(分光部)
GP1,GP2,GP3 グリッドパターン(歪み検出用パターン)
S102〜S103 撮像工程、テストパターン撮像工程
S105〜S106 撮像工程、処理対象画像撮像工程
S202〜S203 撮像工程
S104,S204 検出工程
S107,S205 補正工程
W ウェル(窪部)
Claims (15)
- 平板状のプレート上面に、液体を保持可能な窪部が設けられ、
前記窪部の底部では、可視光に対し透明な底面に、所定波長の光に対する透過率が前記底面よりも低い規則的パターンである歪み検出用パターンが設けられている試料保持プレート。 - 前記プレートは、側面が前記窪部の側面となる貫通孔を有し、前記歪み検出用パターンが形成された透明シートが、前記プレート下面側で前記貫通孔を塞ぐように装着されて前記底部をなす請求項1に記載の試料保持プレート。
- 前記歪み検出用パターンが一定間隔のグリッドパターンである請求項1または2に記載の試料保持プレート。
- 前記歪み検出用パターンは、可視光線に対して透明であり、かつ可視領域外の所定の波長の光に対する透過率が可視光線に対する透過率よりも低い請求項1ないし3のいずれかに記載の試料保持プレート。
- 前記歪み検出用パターンは、赤外光に対する透過率が前記底面よりも低い請求項1ないし4のいずれかに記載の試料保持プレート。
- 請求項1ないし5のいずれかに記載の試料保持プレートを略水平に保持する保持手段と、
前記窪部の下方から前記窪部に向けて光を照射する照明手段と、
前記窪部の上方で、前記窪部を透過してくる光を受光して前記窪部の内容物を撮像し処理対象画像を取得する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された前記歪み検出用パターンの像に基づき前記処理対象画像の歪みを補正する画像補正手段と
を備える撮像装置。 - 前記撮像手段は、前記窪部の内容物を前記歪み検出用パターンと同時に撮像する請求項6に記載の撮像装置。
- 前記画像補正手段は、前記歪み検出用パターンの像から前記歪み検出用パターンの歪みを検出し、該歪みをキャンセルするために必要な補正を、前記処理対象画像に対して施す請求項6または7に記載の撮像装置。
- 前記画像補正手段は、前記歪み検出用パターンの像から把握される前記歪み検出用パターンの構成要素の位置関係に基づいて、前記処理対象画像内の画像要素の位置関係を調節した画像を、補正後の画像とする請求項8に記載の撮像装置。
- 前記撮像手段は、前記照明手段から照射された光のうち可視領域内の波長成分を受光して前記処理対象画像を撮像する一方、前記照明手段から照射された光のうち可視領域外の波長成分を受光して前記歪み検出用パターンの像を撮像する請求項6ないし9のいずれかに記載の撮像装置。
- 前記照明手段は、可視領域内の波長成分を含む第1の光と可視領域外の波長成分のみを含む第2の光とを選択的に前記窪部に向けて照射し、前記撮像手段は、前記照明手段から前記第1の光が照射された状態で前記処理対象画像を撮像する一方、前記照明手段から前記第2の光が照射された状態で前記歪み検出用パターンの像を撮像する請求項10に記載の撮像装置。
- 前記照明手段は、可視領域内の波長成分と可視領域外の波長成分とを共に含む光を前記窪部に向けて照射する一方、前記撮像手段は、前記窪部を透過する光を可視領域内の波長成分と可視領域外の波長成分とに分光する分光部を有し、分光された光を個別に受光して前記処理対象画像および前記歪み検出用パターンの像を撮像する請求項10に記載の撮像装置。
- 請求項1ないし5のいずれかに記載の試料保持プレートを略水平に保持し、前記試料保持プレートの下方から前記窪部に光を照射して、前記窪部の上方に透過してくる光を受光して前記窪部の内容物を撮像し処理対象画像を取得する撮像工程と、
前記窪部を撮像して得た前記歪み検出用パターンの像の歪みを検出する検出工程と、
前記検出工程における検出結果に基づき前記処理対象画像の歪みを補正する画像補正工程と
を備える撮像方法。 - 前記撮像工程は、可視領域内の波長成分を含む第1の光を前記窪部に向けて照射し前記処理対象画像を撮像する処理対象画像撮像工程と、可視領域外の波長成分のみを含む第2の光を前記窪部に向けて照射し前記歪み検出用パターンの像を撮像する歪み検出用パターン撮像工程とを含む請求項13に記載の撮像方法。
- 前記撮像工程では、可視領域内の波長成分と可視領域外の波長成分とを共に含む光を前記窪部に向けて照射し、前記窪部を透過する光を可視領域内の波長成分と可視領域外の波長成分とに分光し、可視領域内の波長成分を受光して前記処理対象画像を取得する一方、可視領域外の波長成分を受光して前記歪み検出用パターンの像を取得する請求項13に記載の撮像方法。
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