JP6079432B2 - 圧子ユニットおよび硬さ試験機 - Google Patents

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Description

この発明は、試験片の硬度を測定するための圧子ユニットおよび硬さ試験機に関する。
このような硬さ試験機としては、例えば、試験片のビッカース硬さやヌープ硬さなどを測定するビッカース硬度計等が知られている。このような硬さ試験機においては、試験片に試験力をかけてその表面に圧痕を形成する圧子と、この圧子と対向配置されて試験片を載置する載置台と、試験片上の複数の計測点で圧痕を形成するために試験片を順次に移動するXYステージと、試験片を観察するための10倍や50倍程度の複数の対物レンズと、これらの対物レンズおよび圧子のうちいずれか一つを計測点と対向させるように切り換えるターレットとを備えている。そして、試験片に形成された圧痕は、対物レンズを透過して拡大された試験片像をオペレータが観察するための接眼レンズや、対物レンズにより拡大された試験片像を表示するためのモニタを利用して観察される(特許文献1参照)。
このような硬さ試験機でビッカース試験を行う場合には、試験片に対して四角錐形状の圧子により圧痕を形成し、ターレットを回転して圧子と対物レンズとを切り換え、対物レンズを介して圧痕の画像を取得している。そして、試験力を圧痕の対角線長さから求められた圧痕の表面積で割った値が、ビッカース硬さ(HV)として算出される。
図7は、従来のビッカース硬さ試験機の負荷機構の例を説明する概要図である。図7(a)は、試験片100に対して試験力が加えられている状態を示し、図7(b)は、試験片100に対する試験力が解除されている状態を示している。
従来より使用されているビッカース硬さ試験機の大半は、負荷に分銅を用いている。その負荷機構は、例えば中心Oを軸に回転するカム161と、カム161の回転により昇降する昇降部材162と、圧子121の圧子軸144に係合部材145を介して連結された分銅台164および分銅Mとから構成される。この負荷機構は、分銅Mに働く重力を圧子軸144および圧子121を介して試験片100に加える試験力として利用している。すなわち、試験片100に試験力を加えるときには、図7(a)に示すように、昇降部材162を下降させる。このときには、昇降部材162に形成された孔部163と係合部材145との係合状態が解除され、重力に従って圧子軸144に分銅Mの重さが直接的に伝達される。これにより、圧子121が試験片100に押し込まれる。また、試験片100に試験力を加えていないときには、図7(b)に示すように、昇降部材162を上昇させておき、昇降部材162の孔部163と係合部材145との係合により、分銅Mの重さを昇降部材162により受けるとともに、圧子121を試験片100と接触しない位置で支持するようにしている。
ビッカース硬さ(HV)は、試験片に形成された圧痕の計測値から求めることができるため、ビッカース試験において、圧子121が試験片に押し込まれた深さを直接的に計測する必要性は乏しい。このため、図7に示すように、ビッカース試験用に構成された従来の硬さ試験機のうち、市中で使用されている大半は、負荷機構により上下動する圧子121もしくは圧子軸144の変位を計測して、圧子121の試験片への押し込み量を求められるような変位検出器は設けられていなかった。
特開平09−15128号公報
しかしながら、試験片が透明ガラスや白色樹脂などの場合、対物レンズを介して観察したときに圧痕と試験片の表面との境界がわかりにくく、圧痕のサイズを正確に計測することが困難であるという問題が生じている。このような圧痕のサイズ計測が困難な試料に対して硬さを評価するための試験を行うためには、ユーザは、試験機本体に圧子の押し込み深さを計測する変位検出器が内蔵された硬さ試験機を別途購入しなければならなかった。
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、簡易な構成でありながら、圧子の試験片への押し込み深さを検出することが可能な圧子ユニットおよび硬さ試験機を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、硬さ試験において試験片に圧痕を形成するための圧子と、一端が分銅に働く重力を負荷として利用する硬さ試験機の負荷機構に連結され、他端に前記圧子が取り付けられる圧子軸と、前記圧子軸に固設される鉄心と、前記圧子軸に対して周設される電磁コイルとからなる差動トランス式変位計と、前記電磁コイルを保持する保持部材に延設され、前記圧子が前記試験片の表面に押し込まれるときに、前記圧子の先端よりも先に前記試験片の表面に当接する当接部材と、を備え、前記保持部材に形成された孔部に、前記圧子軸に固設された係合部材を係合させることにより、前記負荷機構による試験力が前記圧子軸に伝達されて前記当接部材が前記試験片の表面に当接するまで前記保持部材を前記圧子軸に係止するとともに、前記硬さ試験機に対して着脱されることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項に記載の圧子ユニットにおいて、前記当接部材は透明材料により形成される。
請求項に記載の発明は、請求項1または請求項に記載の圧子ユニットが装着され、前記圧子を前記試験片の表面に押し込んだときの前記圧子軸の移動量から、前記圧子の先端と前記当接部材の先端との距離の差を除した長さを、押し込み深さとして算出する制御部を備えた硬さ試験機である。
請求項に記載の発明は、請求項に記載の硬さ試験機において、前記試験片の表面に圧痕を形成するための圧子と、前記試験片の表面に形成された圧痕を観察するための複数の対物レンズとを支持して回転することにより、前記試験片の表面に前記圧子または前記対物レンズのいずれかを対向配置するターレットを備え、前記圧子ユニットは、前記ターレットの前記圧子の支持位置に装着される。
請求項1および請求項に記載の発明によれば、圧子軸に変位検出手段としての差動トランス式変位計を配設した圧子ユニットを構成し、硬さ試験機に対して、圧子の着脱と同時に変位検出手段の着脱を可能としたことから、簡易な構成でありながら、圧子の試験片への押し込み深さの検出手段を、硬さ試験機に追加することが可能となる。
請求項1に記載の発明によれば、変位検出手段差動トランス式変位計であることから、圧子ユニットをターレットなどの圧子支持部材への取り付けが容易なサイズにすることが可能となる。
請求項に記載の発明によれば、圧子ユニットは、圧子の先端より先に試験片の表面に当接する当接部材を備えることから、圧子と試験片との不要な接触を防止するとともに、押し込み深さを正確に求めることが可能となる。
請求項に記載の発明によれば、保持部材に形成された孔部に、圧子軸に固設された係合部材を係合させることにより、負荷機構による試験力が圧子の軸に伝達されるまで保持部材を圧子軸に係止することから、圧子の軸に試験力が伝達された後の圧子の軸の変位量を正確に検出することが可能となる。
請求項に記載の発明によれば、当接部材は透明部材から形成されることから、外部より圧子の位置を容易に確認することが可能となる。
請求項3および請求項に記載の発明によれば、ユーザは、変位検出器を内蔵した高額な試験機を導入しなくても、圧子ユニットを装着した硬さ試験機により、圧子の試験片への押し込み深さの計測が可能となり、押し込み深さにより硬さの評価を行うことができる。
この発明に係る硬さ試験機の概要図である。 ターレット20付近の拡大図である。 ターレット20に支持された圧子ユニット50等の配置を示す説明図である。 圧痕を観察するための光学系を模式的に示す概要図である。 圧子ユニット50と負荷機構を示す概要図である。 圧子ユニット50と負荷機構を示す概要図である。 従来のビッカース硬さ試験機の負荷機構の例を説明する概要図である。
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係る硬さ試験機の概要図である。また、図2は、ターレット20付近の拡大図である。図3は、ターレット20に支持された圧子ユニット50等の配置を示す説明図である。図4は、試験片100の表面を観察するための光学系を模式的に示す概要図である。
この硬さ試験機は、テーブル11と、このテーブル11上に配置され試験片100を載置する載置台としてのXYステージ12とを備える。XYステージ12は、試験片100をX方向(図1における左右方向)およびY方向(図1における紙面に垂直な方向)に移動させるためのものである。このXYステージ12には、試験片100をX方向に移動させるためのマイクロメータ13と、試験片100をY方向に移動させるためのマイクロメータ14とが付設されている。また、XYステージ12は、昇降ハンドル15の作用により、昇降する構成となっている。
テーブル11には、試験条件の設定等に利用される入力部、および、各種試験パラメータ等を表示する表示部を備えたコントロール部19が配設される。コントロール部19は、テーブル11に内設された演算装置および記憶装置を利用して、この硬さ試験機の動作を制御するとともに、後述する変位検出器54の出力から圧子21の試験片100への押し込み量を計算する制御部として機能する。
また、この硬さ試験機は、試験片100を観察するための接眼レンズ16と、試験片100を撮影するためのモニタ用カメラ17と、試験片100の拡大像を表示するための表示部18と、後述する圧子21と変位検出器54を備える圧子ユニット50および対物レンズ22等を支持して回転する回転部材としてのターレット20とを備える。このターレット20は、ベアリング29を介して軸28に接続されており、つまみ26を操作することにより、鉛直方向を向く軸28を中心に回転する。
ターレット20には、XYステージ12上に載置された試験片100に圧痕を形成するための圧子21を備える圧子ユニット50と、50倍の対物レンズ22と、10倍の対物レンズ23と、試験片100を原寸または拡大して観察するための対物レンズ24とが配設されている。これらの圧子ユニット50、対物レンズ22、対物レンズ23および対物レンズ24はターレット20の回転に伴って、XYステージ12上に載置された試験片100と対向する位置に移動する。なお、圧子ユニット50、対物レンズ22、対物レンズ23および対物レンズ24は、ターレット20に対して適宜着脱され、例えば、試験片100を原寸または拡大して観察するための対物レンズ24に換えて、試験片100に対して圧子21による圧痕と異なる形状の圧痕を形成するための他の圧子、もしくは、他の圧子を備えた圧子ユニットを配置してもよい。圧子ユニット50に配設される圧子21は、四角錐のビッカース圧子に限らず、ヌープ圧子、ロックウェル圧子等であってもよい。
図4に示すように、試験片100の表面を観察するための光学系は、光源31と、光源31からの光を水平方向に導く光筒32と、試験片100を上から照明するために、光筒32により導かれた光を筒状部材34の中空部に導光するとともに、試験片100の表面からの反射光をモニタ用カメラ17側に透過させるハーフミラー33と、ハーフミラー33を透過した試験片100の表面からの反射光を接眼レンズ16およびモニタ用カメラ17に分割するプリズム35とを備える。
次に、この発明に係る圧子ユニット50の構成について説明する。図5および図6は、圧子ユニット50と負荷機構を示す概要図である。なお、図5は、圧子ユニット50がXYステージ12上に載置された試験片100と対向配置され、試験片100に試験力が加えられる前の状態を示し、図6は、XYステージ12上に載置された試験片100の表面に圧子21が押し込まれている状態を示している。
圧子ユニット50は、圧子21と変位検出器54と当接部材55を備える。この変位検出器54は、圧子軸44に固設された鉄心51と、保持部材53に保持された状態で圧子軸44の周りに周設された電磁コイル52とからなり、鉄心51の変位により生じる2個の電磁コイル52の電圧差を利用して圧子軸44の変位を検出する差動トランス式変位計である。
保持部材53は、有底筒状形状を有し、圧子軸44が貫通する孔部57が形成されている。当接部材55は、保持部材53の下面より延設され、周壁により圧子21を取り囲むように配置された筒状部材である。また、圧子軸44には、圧子軸44の鉄心51の配設位置の上側と下側に、係合部材45と係合部材56が配設されている。係合部材45は、後述する昇降部材62に形成された孔部63と係合し、係合部材56は、保持部材53の孔部57と係合する。なお、係合部材45と孔部63、また、係合部材56と孔部57とは、相互に嵌め合い可能な形状を有する。
この硬さ試験機の負荷機構は、中心Oを軸として回転するカム61と、図示しないガイド部材により案内され、カム61の回転により昇降する昇降部材62と、圧子軸44に係合部材45を介して連結された分銅台64および分銅Mとから構成される。この負荷機構は、分銅Mに働く重力を圧子軸44および圧子21を介して試験片100に加える試験力として利用している。なお、負荷機構に採用する負荷の方式は分銅Mによるものに限定されるものではなく、電磁力を使用するもの、あるいは、分銅と電磁力を組み合わせたものでもよい。
昇降部材62には、圧子軸44に固定された係合部材45を係合させる孔部63が形成されている。係合部材45と孔部63とは、相互に嵌め合い可能な形状を有する。このため、図5に示すように、昇降部材62が上昇し、係合部材45が孔部63に係わり合った状態では、圧子21は試験片100の表面と接触しない高さ位置で、昇降部材62に支持される。
圧子軸44の係合部材45が孔部63に係止され、圧子21が昇降部材62に支持されている状態においては、保持部材53の孔部57が係合部材56により係止される。これにより、保持部材53および当接部材55が、当接部材55の先端が試験片100の表面と接触しない高さ位置に、圧子軸44を介して昇降部材62により支持される。
当接部材55の保持部材53の下面からの延設方向の長さは、図5の下段に拡大して示すように、係合部材56が保持部材53の孔部57に係わり合った状態で、当接部材55の先端の方が圧子21の先端よりも距離sだけ試験片100に近くなる長さとしている。これは、圧子21の先端位置と当接部材55の先端位置(端面位置)を正確に合わせることは技術的に難しく、圧子21の先端が当接部材55の端面位置より僅かでも突出していると、正確な押し込み深さを測定できなくなることを防止するためである。
また、圧子21はダイヤモンド等の極めて硬い材質で構成されており、試験片100に僅かに接触しただけでも、試験片100の表面にくぼみ様の傷をつけてしまう。このため、当接部材55は、試験開始前の圧子21と試験片100との接触を防止する接触防止部材としても機能する。なお、当接部材55は、圧子21の位置を外部から確認することを容易にする観点から、ガラスや透明プラスチック等の透明材料により構成することが好ましい。
図6に示すように、昇降部材62が下降し、孔部63と係合部材45との係合が解除されると、試験力の大きさに応じて選択された分銅台64上の所定の重量の分銅Mの重さが、重力の作用により圧子軸44を介して圧子21への試験力として伝達される。そして、試験力を受けた圧子21は、試験片100に押し込まれる。
次に、このような構成の圧子ユニット50を備えた硬さ試験機により試験を行ったときの、試験片100への圧子21の押し込み深さdの計算について説明する。
図6の下段に拡大して示すように、圧子21が試験片100の表面からd(μm)だけ深く押し込まれた場合、求めるべき押し込み深さはd(μm)である。しかし、上述したように、この圧子ユニット50の当接部材55の負荷方向の長さは、係合部材56が保持部材53の孔部57に係わり合った状態で、圧子21の先端よりも距離sだけ長くなっている。そして、昇降部材62を下降させたときには、当接部材55の方が圧子21の先端よりも先に試験片100の表面に当接する。したがって、このとき変位検出器54が検出した圧子軸44の変位量Dは、s+d(μm)となる。
このため、当接部材55の先端と圧子21の先端との間の距離sは、予め圧子ユニット50を他の校正用の試験機に取り付けて計測しておく。そして、ユーザに対しては、この距離sの情報を付した状態で圧子ユニット50を配布するようにしている。すなわち、距離sの情報を、コントロール部19の入力部を介して、この圧子ユニット50を装着した硬さ試験機の記憶装置に記憶させておくことにより、押し込み深さd(=D‐s)を求めることができるようにすることができる。
なお、圧子ユニット50は、図5および図6に示すように、圧子軸44をターレット20の所定の位置に差し込み、係合部材45、分銅台64もしくは図示を省略したターレット20の接続部材に圧子軸44を連結することにより、ターレット20に装着されるため、変位検出器54の部材である持部材53をターレット20に直接的に連結する必要はない。このような圧子ユニット50により、変位検出器54の硬さ試験機への取り付けを、圧子21のターレット20への取り付けとともに行うことができる。
また、圧子軸44に対して変位検出器54を配設した圧子ユニット50を、変位検出器を内蔵していない硬さ試験機に装着することで、圧痕のサイズ計測が困難な試験片100に対しても、圧子21の押し込み深さによる硬さの評価が可能となる。
11 テーブル
12 XYステージ
13 マイクロメータ
14 マイクロメータ
15 昇降ハンドル
16 接眼レンズ
17 モニタ用カメラ
18 表示部
19 コントロール部
20 ターレット
21 圧子
22 対物レンズ
23 対物レンズ
24 対物レンズ
26 つまみ
28 軸
29 ベアリング
31 光源
32 光筒
33 ハーフミラー
34 筒状部材
35 プリズム
44 圧子軸
45 係合部材
50 圧子ユニット
51 鉄心
52 電磁コイル
53 保持部材
54 変位検出器
55 当接部材
56 係合部材
57 孔部
61 カム
62 昇降部材
63 孔部
64 分銅台
100 試験片
M 分銅

Claims (4)

  1. 硬さ試験において試験片に圧痕を形成するための圧子と、
    一端が分銅に働く重力を負荷として利用する硬さ試験機の負荷機構に連結され、他端に前記圧子が取り付けられる圧子軸と、
    前記圧子軸に固設される鉄心と、前記圧子軸に対して周設される電磁コイルとからなる差動トランス式変位計と、
    前記電磁コイルを保持する保持部材に延設され、前記圧子が前記試験片の表面に押し込まれるときに、前記圧子の先端よりも先に前記試験片の表面に当接する当接部材と、
    を備え、
    前記保持部材に形成された孔部に、前記圧子軸に固設された係合部材を係合させることにより、前記負荷機構による試験力が前記圧子軸に伝達されて前記当接部材が前記試験片の表面に当接するまで前記保持部材を前記圧子軸に係止するとともに、前記硬さ試験機に対して着脱されることを特徴とする圧子ユニット。
  2. 請求項に記載の圧子ユニットにおいて、
    前記当接部材は透明材料により形成される圧子ユニット。
  3. 請求項1または請求項に記載の圧子ユニットが装着され、
    前記圧子を前記試験片の表面に押し込んだときの前記圧子軸の移動量から、前記圧子の先端と前記当接部材の先端との距離の差を除した長さを、押し込み深さとして算出する制御部を備えた硬さ試験機。
  4. 請求項に記載の硬さ試験機において、
    前記試験片の表面に圧痕を形成するための圧子と、前記試験片の表面に形成された圧痕を観察するための複数の対物レンズとを支持して回転することにより、前記試験片の表面に前記圧子または前記対物レンズのいずれかを対向配置するターレットを備え、
    前記圧子ユニットは、前記ターレットの前記圧子の支持位置に装着される硬さ試験機。
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