JP6075522B2 - 放射線モニタ - Google Patents
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Description
(2)サンプルである汚染土をほぐして放射線がサンプルから偏りなく放射されるようにする、
(3)施設内に設置されているゲルマニウム半導体検出器にサンプルをセットする、
(4)サンプルに含まれる放射性物質からの放射能量を検出し、放射能濃度を割り出す、
というものである。
サンプルの側面と横側で対向し、該サンプルの側面から放射される放射線を検出して検出信号を出力する検出器を高さ別に複数備え、これら複数の検出器を高さとともに平面から見て角度を変化させた位置に螺旋状に配置してなる側面検出器と、
側面検出器の外側に設けられ、外界からのバックグラウンドを遮蔽する遮蔽体と、
遮蔽体内に設けられ、サンプルが収容される収容空間と、
収容空間内のサンプルを回転させるターンテーブルと、
を備え、
ターンテーブルでサンプルを回転させ、側面検出器の複数の検出器が高さ別にサンプルの全外周について放射線を検出し、サンプルに対して高さ方向に層別のモニタリングを行うことを特徴とする。
請求項1に記載の放射線モニタにおいて、
サンプルの側面と検出器との間に介在し、視野を絞りつつ対向させるコリメータをさらに備えることを特徴とする。
サンプルと対向し、該サンプルから放射される放射線を検出して検出信号を出力するn個(nは複数)の検出器と、
前記検出信号が入力される情報処理装置と、を備え、
前記情報処理装置は、
それぞれの前記検出器へ入射するサンプルの層別の検出効率を有し、
前記検出信号に含まれる計数率と前記検出効率とに基づいて、前記サンプルの層別の放射能量を算出すると共に、
サンプルをn層に分割したものとみるときに第i層(i=1,2,・・・,n)のサンプルにそれぞれ対向する第i番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[i]とし、
第i番目の検出器へ入射するサンプルの第j層(j=1,2,・・・,n)の検出効率をEff[i][j]とし、
第j層のサンプルの放射能量をAct[j]としたとき、
Count[i]=ΣEff[i][j]×Act[j] (但しj=1,2,・・・,n)に実測値であるCount[i]と予め算出したEff[i][j]を代入して放射能量Act[j]を算出することを特徴とする。
また、請求項4に係る発明は、
請求項3に記載の放射線モニタにおいて、
サンプルと検出器との間に介在し、視野を絞りつつ対向させるコリメータをさらに備えることを特徴とする。
前記検出器は(n+1)個であり、
前記情報処理装置は、
サンプルをn層に分割したものとみるときに第1層のサンプルからコリメータを介して対向する第1番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[1]とし、
第(i-1)層(但し、i=2,・・・,nである)のサンプルと第i層のサンプルからコリメータを介して対向する第i番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[i]とし、
第n層のサンプルからコリメータを介して対向する第(n+1)番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[n+1]とし、
第1番目の検出器へ入射する第1層のサンプルの検出効率をEff[1][1]とし、
第i番目の検出器へ入射する第(i-1)層のサンプルの検出効率をEff[i][i-1]とし、第i層のサンプルの検出効率をEff[i][i]とし、
第(n+1)番目の検出器へ入射する第n層のサンプルの検出効率をEff[n+1][n]とし、
第1層のサンプルの放射能量をAct[1]、第i層のサンプルの放射能量をAct[i]、第n層のサンプルの放射能量をAct[n]としたとき、
Count[1]=Eff[1][1]×Act[1]、
Count[i]=Eff[i][i-1]×Act[i-1]+Eff[i][i]×Act[i]、
Count[n+1]=Eff[n+1][n]×Act[n]、
に実測値であるCount[1],Count[i],Count[n+1]と予め算出したEff[1][1]、Eff[i][i-1]、Eff[i][i]およびEff[n+1][n]を代入して放射能量Act[i]を算出することを特徴とする。
前記情報処理装置は、前記放射能量に係数を掛けてサンプルの層別の放射能濃度を算出することを特徴とする。
請求項7に係る発明は、請求項3〜6のいずれか1項に記載の放射線モニタにおいて、
前記複数の検出器が、サンプルの側面と横側で対向するように高さ別に配置されていることを特徴とする。
請求項8に係る発明は、請求項7に記載の放射線モニタにおいて、
前記複数の検出器が、高さとともに平面から見て角度を変化させた位置に螺旋状に配置されていることを特徴とする。
請求項9に係る発明は、請求項8に記載の放射線モニタにおいて、
前記複数の検出器は、それぞれ、平面視でサンプルから等距離に配置されていることを特徴とする。
前記検出器の外側に設けられ、外界からのバックグラウンドを遮蔽する遮蔽体と、
前記遮蔽体内に設けられ、サンプルが収容される収容空間と、
前記収容空間内のサンプルを回転させるターンテーブルと、
をさらに備え、
前記ターンテーブルでサンプルを回転させ、複数の前記検出器が高さ別にサンプルの全外周について放射線を検出し、サンプルに対して高さ方向に層別のモニタリングを行うことを特徴とする。
請求項11に係る発明は、請求項10に記載の放射線モニタにおいて、
サンプルの平面と上側で対向しており、該サンプルの平面から放射される放射線を検出して検出信号を出力する上面検出器をさらに備えることを特徴とする。
前記情報処理装置は、
前記上面検出器へ入射するサンプルの層別の検出効率を有し、
サンプルを高さ方向にn層に分割したものとみるときに第i層(i=1,2,・・・,n)のサンプルからの放射線を前記上面検出器が検出した放射線パルスの計数率をCountNaIとし、
前記上面検出器へ入射する第i層(i=1,2,・・・,n)のサンプルの検出効率をEffNaI[i]とし、
第i層のサンプルの放射能濃度をAct[i]とし、また全放射能量をAtotとして各Act[i]を係数×Atotとして、
CountNaI=ΣEffNaI[i]×Act[i]に実測値であるCountNaI、予め算出したEffNaI[i]および係数×Atotを代入して放射能量Atotを算出することを特徴とする。
前記情報処理装置は、放射能量Atotに係数を掛けて放射能濃度を算出することを特徴とする。
本形態の高さ分布測定モニタ1は、図1で示すようにケース11を備える。また、図2で示すように、さらに遮蔽体12、ターンテーブル13、側面検出器14を備える。また、図3で示すように、さらに上面検出器15を備える。また、図4で示すように、さらにモータ16を備える。また、図5で示すように、さらにアンプ17,18、SCA(シングルチャンネルアナライザ)19、マルチチャンネルカウンタ20、二次電池21、情報処理装置22、スイッチ23を備える。高さ分布測定モニタ1は、図2,図3,図4で示すように、円柱状で高背の土壌サンプル2の放射能量や放射能濃度についてのモニタリングを行う。
また、図6(b)では特に高さ方向の相違を説明している(実際は螺旋状でこのようには見えない)が、実際は円周上であって螺旋状に配置されており、それぞれの高さ・角度が異なるように配置されている。これにより土壌サンプルの高さを分割して各高さ毎の値を得ることができる。そして、図3や図8(b)で示すように、立体的には螺旋状に配置される。螺旋状配置とすることで、対象外の層からの放射線の入射に対し摺る遮蔽・減衰効果を強化する。なお、これら検出器141を90°等角にずらすようにして、明確な螺旋に見えないような配置としても、螺旋状に配置されたものとする。これらCsIシンチレータ141a、PINフォトダイオード141bは安価な汎用品でありコスト低減に寄与する。
まず、図7(a)で示すように土壌サンプル2を取得する。比較的堅い土壌ならば、例えばホールカッター(ゴルフでグリーン上のカップを空ける道具)を用いる。砂状であるならば有底円筒状の容器を砂へ押し込み、開口部を押さえてサンプルを収容する。この場合は容器に収容された土壌サンプル2となる。容器は放射性物質から放射される放射線を透過する部材を用いればよく、例えば、プラスチックやガラスの容器であれば良い。このように各種サンプルを取得できるが、本形態では土壌サンプルであるものとして説明する。
Count[1]=Act[1]×Eff[1] [1]+Act[2]×Eff[1] [2]+Act[3]×Eff[1] [3]
+Act[4]×Eff[1] [4]+Act[5]×Eff[1] [5]+Act[6]×Eff[1] [6]
Count[2]=Act[1]×Eff[2] [1]+Act[2]×Eff[2] [2]+Act[3]×Eff[2] [3]
+Act[4]×Eff[2] [4]+Act[5]×Eff[2] [5]+Act[6]×Eff[2] [6]
Count[3]=Act[1]×Eff[3] [1]+Act[2]×Eff[3] [2]+Act[3]×Eff[3] [3]
+Act[4]×Eff[3] [4]+Act[5]×Eff[3] [5]+Act[6]×Eff[3] [6]
Count[4]=Act[1]×Eff[4] [1]+Act[2]×Eff[4] [2]+Act[3]×Eff[4] [3]
+Act[4]×Eff[4] [4]+Act[5]×Eff[4] [5]+Act[6]×Eff[4] [6]
Count[5]=Act[1]×Eff[5] [1]+Act[2]×Eff[5] [2]+Act[3]×Eff[5] [3]
+Act[4]×Eff[5] [4]+Act[5]×Eff[5] [5]+Act[6]×Eff[5] [6]
Count[6]=Act[1]×Eff[6] [1]+Act[2]×Eff[6] [2]+Act[3]×Eff[6] [3]
+Act[4]×Eff[6] [4]+Act[5]×Eff[6] [5]+Act[6]×Eff[6] [6]
Count[1]:検出器[1]が測定した計数率[cps]
Count[2]:検出器[2]が測定した計数率[cps]
Count[3]:検出器[3]が測定した計数率[cps]
Count[4]:検出器[4]が測定した計数率[cps]
Count[5]:検出器[5]が測定した計数率[cps]
Count[6]:検出器[6]が測定した計数率[cps]
Eff[1] [1]:検出器[1]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[1] [2]:検出器[1]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[1] [3]:検出器[1]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[1] [4]:検出器[1]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[1] [5]:検出器[1]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[1] [6]:検出器[1]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [1]:検出器[2]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [2]:検出器[2]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [3]:検出器[2]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [4]:検出器[2]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [5]:検出器[2]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [6]:検出器[2]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [1]:検出器[3]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [2]:検出器[3]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [3]:検出器[3]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [4]:検出器[3]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [5]:検出器[3]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [6]:検出器[3]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [1]:検出器[4]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [2]:検出器[4]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [3]:検出器[4]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [4]:検出器[4]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [5]:検出器[4]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [6]:検出器[4]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [1]:検出器[5]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [2]:検出器[5]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [3]:検出器[5]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [4]:検出器[5]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [5]:検出器[5]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [6]:検出器[5]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [1]:検出器[6]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [2]:検出器[6]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [3]:検出器[6]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [4]:検出器[6]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [5]:検出器[6]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [6]:検出器[6]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Act[1]:土壌サンプル第1層の放射能量[Bq]
Act[2]:土壌サンプル第2層の放射能量[Bq]
Act[3]:土壌サンプル第3層の放射能量[Bq]
Act[4]:土壌サンプル第4層の放射能量[Bq]
Act[5]:土壌サンプル第5層の放射能量[Bq]
Act[6]:土壌サンプル第6層の放射能量[Bq]
Count[i]=ΣEff[i][j]×Act[j]
上面検出器15で全放射能濃度を測定する場合、検出器に近い層からのカウントは多く、遠い層のカウントは少なくなる。小型検出器で求めた放射能量の分布を用いて、精度の高い全放射能量を算出し、最終的に放射能濃度を演算する。全放射能量Atotは次式のようになる。
Atot=Act[1]+Act[2]+Act[3]+Act[4]+Act[5]+Act[6]
Act[1]:Act[2]:Act[3]:Act[4]:Act[5]:Act[6]=1:k12:k13:k14:k15:k16
EffNaI[1]:第1層からNaI検出器に対する検出効率[cps/Bq]
EffNaI[2]:第2層からNaI検出器に対する検出効率[cps/Bq]
EffNaI[3]:第3層からNaI検出器に対する検出効率[cps/Bq]
EffNaI[4]:第4層からNaI検出器に対する検出効率[cps/Bq]
EffNaI[5]:第5層からNaI検出器に対する検出効率[cps/Bq]
EffNaI[6]:第6層からNaI検出器に対する検出効率[cps/Bq]
Count-NaI=Act[1]×EffNaI[1]+Act[2]×EffNaI[2]+Act[3]×EffNaI[3]
+Act[4]×EffNaI[4]+Act[5]×EffNaI[5]+Act[6]×EffNaI[6]
=Atot×(1/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[1]
+k12/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[2]
+k13/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[3]
+k14/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[4]
+k15/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[5]
+k16/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[6])
Atot=Count-NaI/(1/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[1]
+k12/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[2]
+k13/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[3]
+k14/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[4]
+k15/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[5]
+k16/(1+k12+k13+k14+k15+k16)×EffNaI[6])
Count[7]=Act[6]×Eff[7][6]
Count[6]=Act[5]×Eff[6][5] + Act[6]×Eff[6][6]
Count[5]=Act[4]×Eff[5][4] + Act[5]×Eff[5][5]
Count[4]=Act[3]×Eff[4][3] + Act[4]×Eff[4][4]
Count[3]=Act[2]×Eff[3][2] + Act[3]×Eff[3][3]
Count[2]=Act[1]×Eff[2][1] + Act[2]×Eff[2][2]
Count[1]=Act[1]×Eff[1][1]
Count[1]:検出器[1]が測定した計数率
Count[2]:検出器[2]が測定した計数率
Count[3]:検出器[3]が測定した計数率
Count[4]:検出器[4]が測定した計数率
Count[5]:検出器[5]が測定した計数率
Count[6]:検出器[6]が測定した計数率
Count[7]:検出器[7]が測定した計数率
Eff[1] [1]:検出器[1]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [1]:検出器[2]の土壌サンプル第1層への検出効率[cps/Bq]
Eff[2] [2]:検出器[2]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [2]:検出器[3]の土壌サンプル第2層への検出効率[cps/Bq]
Eff[3] [3]:検出器[3]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [3]:検出器[4]の土壌サンプル第3層への検出効率[cps/Bq]
Eff[4] [4]:検出器[4]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [4]:検出器[5]の土壌サンプル第4層への検出効率[cps/Bq]
Eff[5] [5]:検出器[5]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [5]:検出器[6]の土壌サンプル第5層への検出効率[cps/Bq]
Eff[6] [6]:検出器[6]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Eff[7] [6]:検出器[7]の土壌サンプル第6層への検出効率[cps/Bq]
Act[1]:土壌サンプル第1層の放射能量[Bq]
Act[2]:土壌サンプル第2層の放射能量[Bq]
Act[3]:土壌サンプル第3層の放射能量[Bq]
Act[4]:土壌サンプル第4層の放射能量[Bq]
Act[5]:土壌サンプル第5層の放射能量[Bq]
Act[6]:土壌サンプル第6層の放射能量[Bq]
側面検出器は、図12で示すようにn+1個の検出器を有するものとする。この際(β/α)=nとなる。検出器の径も調整することでnを最適な値に決定することができる。
サンプルを高さ方向に第1層のサンプルからコリメータを介して対向する第1番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[1]とする。第(i-1)層(但し、i=2,・・・,nである)のサンプルと第i層のサンプルからコリメータを介して対向する第i番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[i]とする。第n層のサンプルからコリメータを介して対向する第(n+1)番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[n+1]とする。
第(i-1)層のサンプルから第i番目の検出器へ入射する放射能量の影響を表す検出効率をEff[i][i-1] と、また、第i層のサンプルからi番目の検出器へ入射する放射能量の影響を表す検出効率をEff[i][i]とする。
第n層のサンプルから第(n+1)番目の検出器へ入射する放射能量の影響を表す検出効率をEff[n+1][n]とする。
Count[1]=Eff[1][1]×Act[1]、
Count[i]=Eff[i][i-1]×Act[i-1]+Eff[i][i]×Act[i]、
Count[n+1]=Eff[n+1][n]×Act[n]、
この高さ分布測定モニタ1,1’では、土壌中の放射性セシウム(134Cs+137Cs)の放射能濃度の総量及び深さ分布を円柱状のサンプルをそのまま測定するモニタとしており、特に除染作業での活用が見込まれる。軽量化・小型化により車両への搭載を可能とし、従来のように検査所まで戻る必要や土壌をほぐす作業もなくし、電池駆動によりサンプル採取現場での迅速な測定を可能としている。農地等の土壌放射能の現場測定や、除染時の最適な土壌剥ぎ取り厚の決定等に貢献する。
11:ケース
111:蓋部
12:遮蔽体
121:収容空間
13:ターンテーブル
14:側面検出器
141:検出器
141a:CsIシンチレータ
141b:PINフォトダイオード
15:上面検出器
151:NaIシンチレータ
152:光電子増倍管
16:モータ
16a:駆動軸
17:アンプ
18:アンプ
19:SCA(シングルチャンネルアナライザ)
20:マルチチャンネルカウンタ
21:二次電池
22:情報処理装置
23:スイッチ
30:コリメータ
2:土壌サンプル
Claims (13)
- サンプルの側面と横側で対向し、該サンプルの側面から放射される放射線を検出して検出信号を出力する検出器を高さ別に複数備え、これら複数の検出器を高さとともに平面から見て角度を変化させた位置に螺旋状に配置してなる側面検出器と、
側面検出器の外側に設けられ、外界からのバックグラウンドを遮蔽する遮蔽体と、
遮蔽体内に設けられ、サンプルが収容される収容空間と、
収容空間内のサンプルを回転させるターンテーブルと、
を備え、
ターンテーブルでサンプルを回転させ、側面検出器の複数の検出器が高さ別にサンプルの全外周について放射線を検出し、サンプルに対して高さ方向に層別のモニタリングを行うことを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項1に記載の放射線モニタにおいて、
サンプルの側面と検出器との間に介在し、視野を絞りつつ対向させるコリメータをさらに備えることを特徴とする放射線モニタ。 - サンプルと対向し、該サンプルから放射される放射線を検出して検出信号を出力するn個(nは複数)の検出器と、
前記検出信号が入力される情報処理装置と、を備え、
前記情報処理装置は、
それぞれの前記検出器へ入射するサンプルの層別の検出効率を有し、
前記検出信号に含まれる計数率と前記検出効率とに基づいて、前記サンプルの層別の放射能量を算出すると共に、
サンプルをn層に分割したものとみるときに第i層(i=1,2,・・・,n)のサンプルにそれぞれ対向する第i番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[i]とし、
第i番目の検出器へ入射するサンプルの第j層(j=1,2,・・・,n)の検出効率をEff[i][j]とし、
第j層のサンプルの放射能量をAct[j]としたとき、
Count[i]=ΣEff[i][j]×Act[j] (但しj=1,2,・・・,n)に実測値であるCount[i]と予め算出したEff[i][j]を代入して放射能量Act[j]を算出することを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項3に記載の放射線モニタにおいて、
サンプルと検出器との間に介在し、視野を絞りつつ対向させるコリメータをさらに備えることを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項4に記載の放射線モニタにおいて、
前記検出器は(n+1)個であり、
前記情報処理装置は、
サンプルをn層に分割したものとみるときに第1層のサンプルからコリメータを介して対向する第1番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[1]とし、
第(i-1)層(但し、i=2,・・・,nである)のサンプルと第i層のサンプルからコリメータを介して対向する第i番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[i]とし、
第n層のサンプルからコリメータを介して対向する第(n+1)番目の検出器が検出した放射線パルスの計数率をCount[n+1]とし、
第1番目の検出器へ入射する第1層のサンプルの検出効率をEff[1][1]とし、
第i番目の検出器へ入射する第(i-1)層のサンプルの検出効率をEff[i][i-1]とし、第i層のサンプルの検出効率をEff[i][i]とし、
第(n+1)番目の検出器へ入射する第n層のサンプルの検出効率をEff[n+1][n]とし、
第1層のサンプルの放射能量をAct[1]、第i層のサンプルの放射能量をAct[i]、第n層のサンプルの放射能量をAct[n]としたとき、
Count[1]=Eff[1][1]×Act[1]、
Count[i]=Eff[i][i-1]×Act[i-1]+Eff[i][i]×Act[i]、
Count[n+1]=Eff[n+1][n]×Act[n]、
に実測値であるCount[1],Count[i],Count[n+1]と予め算出したEff[1][1]、Eff[i][i-1]、Eff[i][i]およびEff[n+1][n]を代入して放射能量Act[i]を算出することを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項3〜5のいずれか1項に記載の放射線モニタにおいて、
前記情報処理装置は、前記放射能量に係数を掛けてサンプルの層別の放射能濃度を算出することを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項3〜6のいずれか1項に記載の放射線モニタにおいて、
前記複数の検出器が、サンプルの側面と横側で対向するように高さ別に配置されていることを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項7に記載の放射線モニタにおいて、
前記複数の検出器が、高さとともに平面から見て角度を変化させた位置に螺旋状に配置されていることを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項8に記載の放射線モニタにおいて、
前記複数の検出器は、それぞれ、平面視でサンプルから等距離に配置されていることを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項7〜9のいずれか1項に記載の放射線モニタにおいて、
前記検出器の外側に設けられ、外界からのバックグラウンドを遮蔽する遮蔽体と、
前記遮蔽体内に設けられ、サンプルが収容される収容空間と、
前記収容空間内のサンプルを回転させるターンテーブルと、
をさらに備え、
前記ターンテーブルでサンプルを回転させ、複数の前記検出器が高さ別にサンプルの全外周について放射線を検出し、サンプルに対して高さ方向に層別のモニタリングを行うことを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項10に記載の放射線モニタにおいて、
サンプルの平面と上側で対向しており、該サンプルの平面から放射される放射線を検出して検出信号を出力する上面検出器をさらに備えることを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項11に記載の放射線モニタにおいて、
前記情報処理装置は、
前記上面検出器へ入射するサンプルの層別の検出効率を有し、
サンプルを高さ方向にn層に分割したものとみるときに第i層(i=1,2,・・・,n)のサンプルからの放射線を前記上面検出器が検出した放射線パルスの計数率をCountNaIとし、
前記上面検出器へ入射する第i層(i=1,2,・・・,n)のサンプルの検出効率をEffNaI[i]とし、
第i層のサンプルの放射能濃度をAct[i]とし、また全放射能量をAtotとして各Act[i]を係数×Atotとして、
CountNaI=ΣEffNaI[i]×Act[i]に実測値であるCountNaI、予め算出したEffNaI[i]および係数×Atotを代入して放射能量Atotを算出することを特徴とする放射線モニタ。 - 請求項12に記載の放射線モニタにおいて、
前記情報処理装置は、放射能量Atotに係数を掛けて放射能濃度を算出することを特徴とする放射線モニタ。
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