JP6071876B2 - ホールセンサーシステム - Google Patents

ホールセンサーシステム Download PDF

Info

Publication number
JP6071876B2
JP6071876B2 JP2013517645A JP2013517645A JP6071876B2 JP 6071876 B2 JP6071876 B2 JP 6071876B2 JP 2013517645 A JP2013517645 A JP 2013517645A JP 2013517645 A JP2013517645 A JP 2013517645A JP 6071876 B2 JP6071876 B2 JP 6071876B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor system
integrated circuit
hall sensor
circuit hall
basic block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013517645A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013535661A (ja
Inventor
ケジク・パベル
レイモンド・セルジュ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LEM Intellectual Property SA
Original Assignee
LEM Intellectual Property SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LEM Intellectual Property SA filed Critical LEM Intellectual Property SA
Publication of JP2013535661A publication Critical patent/JP2013535661A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6071876B2 publication Critical patent/JP6071876B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0005Geometrical arrangement of magnetic sensor elements; Apparatus combining different magnetic sensor types
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • G01R33/072Constructional adaptation of the sensor to specific applications
    • G01R33/075Hall devices configured for spinning current measurements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N52/00Hall-effect devices
    • H10N52/101Semiconductor Hall-effect devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

開示の内容
本発明は、磁場を感知する適用のため、または、電流を感知する適用のための、ホールセンサーシステムに関する。
多くの適用に関して、シリコン回路に組み込まれたホール効果センサーは、他の磁場センサーよりも好まれる。これは、標準的なCMOS、または大量連続生産にとって経済的な他の集積回路製造プロセスによって、ホール効果センサーの全体が作製され得るためである。しかしながら、従来の一体化ホール効果装置の欠点は、比較的大きな残留オフセット(residual offset)、すなわちゼロ磁場での残留電圧を有することである。残留オフセットを制限するものは、ホールセンサーの局所抵抗の、電流密度への依存に起因する、装置の非線形性である。逆磁場相互主義(reverse field reciprocity principle)[3]によれば、スピニング電流法(spinning current method)は、線形システムにおいてオフセットを取り消す。システムが非線形になるにつれて、スピニング電流法の効率が低減するので、残留オフセットが残る。非線形性の主な原因は、装置の外形に応じて、接合型電界効果[4]、またはキャリア速度飽和のいずれかである。どちらの場合も、非線形性は、装置のバイアス電圧と共に増大する。スピニング電流[1]または直交連結(orthogonal coupling)などの技術は、オフセットを100μΤ台まで低減させることが知られている。
しかしながら、競合するテクノロジーに勝るためには、一体化ホールセンサーのオフセットは、例えば10μΤ台まで、さらに低減されなければならない。
本発明の目的は、正確で、特に低いオフセットを有する磁場センサーシステムを提供することである。大きな組をなして(in large series)製造するのに経済的な磁場センサーシステムを提供することが、有益であろう。
小型で信頼性のある磁場センサーを提供することが有益であろう。
本発明の目的は、請求項1に記載のホールセンサーシステムを提供することにより、達成されている。
本発明の目的は、請求項4に記載のホールセンサーシステムを提供することにより、達成されている。
従属請求項は、発明によるホールセンサーシステムの、さらに有益な特徴を説明している。
本明細書には、集積回路ホールセンサーシステムが開示され、これは、複数の基本ブロック(elementary blocks)(EB)を含み、各基本ブロックは、ホールセル(Hall cell)、増幅器の入力段、および端子を含み、端子は、各基本ブロックの対向する外側部上に横方向に置かれ、複数の基本ブロックは、並置するように配列されて、端子で相互接続される少なくとも1つの列を形成している。各基本ブロックは、有利なことに、電流源と、ホールセルに接続された4相配電箱(four phase switch box)と、をさらに含んでよい。
有益な実施形態では、入力段は、差動対を含むか、または差動対に存してよく、増幅器は、差動差分増幅器(Differential Difference Amplifier)(DDA)を含むか、または差動差分増幅器に存してよい。
各列のホールセルは、並列式に動作するように接続され、構成されることができる。
有益な実施形態では、鏡像対称(mirror image symmetry)に配列された、基本ブロックの少なくとも2つの列がある。基本ブロックの各列は、増幅器の第2段により終了して、フロントエンドチャネルを形成することができる。各チャネルは、復調器、および出力バッファーをさらに含んでよい。
本発明のさらなる目的および有益な特徴は、付属図面と関連して、請求項および以下の本発明の実施形態の詳細な説明から、明らかとなるであろう。
低オフセットおよびオフセットドリフトを備えた一体化ホールセルのデザインでは、1つの目的は、バイアス電圧を低く保つことである。十字のCMOS一体化ホールセルに加えられる電圧の関数としての、典型的なオフセット値が、図1に示されており、ここでは、残留電圧が、磁場単位で表されるように感度で割られている。残留オフセットは、ゼロ磁場で4相スピニング電流法を適用した後で、得られた。図1は、バイアス電圧を低く保つことが重要であるが、バイアス電圧を低減することにより、熱雑音がその後優位になるので、信号対雑音比が低下することを示している。
本発明によると、信号対雑音比は、それぞれが弱くバイアスをかけられたホールセルのアレイを一体化することにより、著しく改善される。このアレイは、有利なことに、スケーラブルであり、レイアウトの制限なしで一体化するのが容易である。好適な実施形態では、アレイは、差動差分増幅器(DDA)トポロジー(DDAデザインの説明については参考文献[5]を参照)を含み、図2に示すように、DDAの共通の信号接続部In、Ipに接続される差動対8の数を選択する上で柔軟性をもたらす。差動対の数は、共通の信号接続部In、Ipと並列式に他の差動対を接続することにより増加させることができる。
本発明の実施形態では、DDAに基づいたホール電圧の差動感知(differential sensing)が好ましい。それでもなお、本発明の範囲内では、バイアス方法の選択が第1の信号増幅段階の構造および動作に影響を及ぼし得る、他の増幅手段を採用することが可能である。演算増幅器(OA)を使用する場合、ホールバイアス電流の回路は、例えば、[6]、および基本ブロックに組み込まれた、対応する入力段に従って、配列しなおされてよい。
単純なホールセルアレイの実現のため、DDAの差動対の数は、任意に増加され、ホールセルに接続されることができる。しかしながら、ある数の差動対に達すると、平面図は複雑になってしまう。加えて、すべての経路(routing lines)が、中心を外れたDDAブロックに集中した場合、レイアウトの対称性が壊れる。本発明の有利な態様によると、各ホールセルは、バイアス回路と、並列接続を可能とする増幅段階の一部とに関連する。これらの要素は、図3aおよび図3bに示すように、基本ブロック(EB)の一部である。
より正確には、本発明の有利な実施形態による基本ブロックEBは、ホール装置4と、配電箱(スピンボックスとも呼ばれる)7と、電流源5と、増幅器の入力段8と、を含む。例示した実施形態では、入力段は、差動差分増幅器(DDA)の差動対8を含む。配電箱7は、4相スピニング電流を行うために、EBの接続部A、B、C、Dを通じて論理回路9a、9bの入力部からの論理信号によって駆動される。差動対8は、有利なことに、ホール感知電圧(Hall sensing voltage)を、読み取りが容易な電流信号に変換する。EB端子12が、Y軸に沿って横方向かつ対称に置かれて、隣接する基本ブロックの隣接する対向端子12a、12bにより相互接続されたN個の基本ブロックEBを含む列6a、6bを容易に作り上げる。各列6a、6bのホールセル4は、並列式に動作する。各ホールセルのホール信号が相互に関連しているので、各基本ブロックの電流の合計は、有用な測定信号を表すが、ホールセル4の固有オフセットは、相関関係がなく、基本ブロックの個数Nにわたって平均化される。電流信号は、DDAの第2段11a、11bで電圧に再変換され、これにより各列6a、6bを終わらせる。DDAの第2段のブロック11a、11bを備えた各列6a、6b全体が、1つのフロントエンドチャネルを形成する。
図4に描くように、フロントエンドチャネルは、Y軸に直交するX軸に沿ってミラーリングにより複製されて、鏡面対称の、基本ブロックEBの2つの列6a、6bを実現し、差動出力を得て、電子機器により生じる望ましくない体系的なオフセット(systematic offsets)を抑制することができる。
したがって、システムのトポロジーは、1本の中心線軸Xに対して「分布し(distributed)」、かつ対称的である。この構造により、オフセットの低減と、感度と、電流消費との間の、良いトレードオフを見出すことができる。例示される実施形態では、システムは、独立型磁場マイクロセンサーを得るために、各チャネルにおいて、とりわけスピンボックス論理信号A、B、C、Dを提供する調整回路9a、9b、スイッチドキャパシタ回路に基づく復調器14、および出力バッファー16によって完成する。バックエンド回路は、例えば[7]に記載されるように、従来の回路と同様であってよい。
〔実験的セットアップ〕
〔チップ実現の実施例〕
0.35μmのCMOS標準テクノロジーにおける実験システムが、図5のチップの写真で示されるようにレイアウトの中心部に均等に分布した、16個のEBで作られた。ホール信号は、差動式(differential way)に処理され、必要な信号帯域幅に応じて、各DDAの出力部において変調形態で監視されるか、または、スイッチドキャパシタ技術を用いて可変クロック周波数で復調された。論理回路は、内部クロック:周波数分配器を備えた2.6MHzのRC弛張発振器によって駆動されるか、または、外部制御された。回路は、kHz台から1.3MHzの変調周波数までで試験された。ホールセルのバイアス電流は、試験目的で電流源によって外部制御されることができる。レイアウトサイズは、1.6×1.6mmであった。上列の第3のEBはズームアウトされて、ホール装置の場所が、十字形上により図式化される(schematized)。総電流消費量は、ホールセルバイアス電流の値次第であり、500μAを各ホールセルに加えると、全体の電流消費量は、3.3Vの供給電圧で25mAであった。
残留オフセットの性質、およびシステムにおけるその発端を研究するため、温度およびホールセルのバイアス電流が掃引され得る実験的セットアップを使用した。6層のパーマロイ磁気シールドを使用して、システムを環境騒音から保護し、外部磁場を抑制した。試験は、無作為選択した3つのサンプルに対して行われた。チャネル間の差動オフセットを観察した(これは、システムの最終オフセットである)が、各チャネルの個別オフセットも観察した。システムの感度は、ホールセルのバイアス電流次第であり、例えば、ホールセル当たり500μAのバイアス電流では、測定される総合感度は、21V/Tであった。
〔フロントエンド部分の特性づけ〕
低オフセットのシステムを実現する際、システムにおけるオフセットの発端を知ることが重要である。この目的のため、DDAの出力部における変調信号が監視され、外部ロックイン増幅器で復調され、システムに由来する論理信号により同期された。5kHzの比較的低い変調周波数が選択されて、DDAの整定時間、およびスイッチにより生じるスパイクが無視された。ホールバイアス電流が、各温度段階で100μAから600μAまで掃引された。ホール電圧がDDAの入力部において変調されるので、残留ホールオフセットは、復調によりDDAオフセットから分離され、測定値から抽出されることができる。オフセットドリフトが、−20〜100℃の温度範囲で測定された。図6は、実験的セットアップで測定された様々なホールバイアス電流での差動オフセットドリフトを示している。200μA未満のバイアス電流では、オフセットドリフトは、ノイズにより隠されている。300μAより高いホールバイアス電流では、オフセットドリフトは、図1に示した性質に類似した増大を示しているが、はるかに低いレベルである。
〔参考文献〕
[1] P. Munter, "A low-offset spinning-current Hall plate", Sensors and Actuators A: Physical, 21-23 (1990) 743-746
[2] P. Ripka, "Magnetic Sensors and Magnetometers", ISBN 1 58053 057 5, 2001
[3] HH. Sample et al. "Reverse field reciprocity for conducting specimens in magnetic fields" J. Appl. Phys. 61, (1987) 1079
[4] R.S. Popovic, B. Halg, "Nonlinearity in Hall devices and its compensation", Solid- State Electronics, Volume 31, Issue 12, December 1988, 1681-1688
[5] H Alzaher, M Ismail, "A CMOS Fully Balanced Differential Difference Amplifier and Its Applications", IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS-II: ANALOG AND DIGITAL SIGNAL PROCESSING, VOL. 48, NO. 6, JUNE 2001, pp. 614-620
[6] R. S. Popovic, "Hall Effect Devices", the adam hilger series on sensors, ISBN: 0-7503- 0096-5, 1991, pp. 187-188
〔実施の態様〕
(1) 複数の基本ブロック(EB)を含む集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
各基本ブロックは、
ホールセル(4)、
前記ホールセルに接続された配電箱(7)、
増幅器の入力段、および、
端子(12a、12b)、
を含み、
前記端子(12a、12b)は、Y軸に平行な各基本ブロックの対向する外側部上に横方向に置かれ、
前記複数の基本ブロックは、並置するように配列されて、前記Y軸に直交するX軸に沿って延び、かつ前記端子で相互接続される少なくとも1つの列(6a、6b)を形成する、集積回路ホールセンサーシステム。
(2) 実施態様1に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
前記ホールセルに接続された前記配電箱は、4相配電箱である、集積回路ホールセンサーシステム。
(3) 実施態様1または2に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
基本ブロックの各列(6a、6b)は、前記増幅器の第2段(11a、11b)により終了して、フロントエンドチャネルを形成する、集積回路ホールセンサーシステム。
(4) 複数の基本ブロック(EB)を含む集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
各基本ブロックは、
ホールセル(4)、
増幅器の入力段、および、
端子(12a、12b)、
を含み、
前記端子(12a、12b)は、Y軸に平行な各基本ブロックの対向する外側部上に横方向に置かれ、
前記複数の基本ブロックは、並置するように配列されて、前記Y軸に直交するX軸に沿って延び、かつ前記端子で相互接続される少なくとも1つの列(6a、6b)を形成し、
基本ブロックの各列(6a、6b)は、前記増幅器の第2段(11a、11b)により終了して、フロントエンドチャネルを形成する、集積回路ホールセンサーシステム。
(5) 実施態様4に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
各基本ブロックは、前記ホールセルに接続された4相配電箱(7)をさらに含む、集積回路ホールセンサーシステム。
(6) 実施態様3、4、または5に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
各チャネルが、前記基本ブロックの接続部(A、B、C、D)を通じて接続された論理回路(9a、9b)を含み、前記論理回路(9a、9b)は、各ホールセルに対し4相スピニング電流を実行するために、前記ホールセルに接続された各基本ブロックの4相電流配電箱に論理信号を伝達するように構成される、集積回路ホールセンサーシステム。
(7) 実施態様3、4、5、または6に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
各チャネルが、スイッチドキャパシタ回路に基づく復調器(14a、14b)を含む、集積回路ホールセンサーシステム。
(8) 実施態様3、4、5、6、または7に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
各チャネルは、出力バッファー(16a、16b)を含む、集積回路ホールセンサーシステム。
(9) 実施態様1〜8のいずれかに記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
前記入力段は、差動対(8)である、集積回路ホールセンサーシステム。
(10) 実施態様1〜9のいずれかに記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
前記増幅器は、差動差分増幅器(DDA)である、集積回路ホールセンサーシステム。
(11) 実施態様10に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
前記DDAの前記第2段(11a、11b)は、前記基本ブロックの電流信号出力を電圧信号に変換するように構成される、集積回路ホールセンサーシステム。
(12) 実施態様1〜11のいずれかに記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
各基本ブロックは、電流源(5)をさらに含む、集積回路ホールセンサーシステム。
(13) 実施態様1〜12のいずれかに記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
前記少なくとも1つの列(6a、6b)の前記ホールセル(4)は、並列式に動作するように接続され、構成されている、集積回路ホールセンサーシステム。
(14) 実施態様1〜13のいずれかに記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
前記X軸に対して鏡像対称に配列された、基本ブロックの少なくとも2つの前記列(6a、6b)がある、集積回路ホールセンサーシステム。
一体化ホールセルに対して印加されたバイアス電圧の関数として典型的な残留オフセットを示すグラフである。 本発明の実施形態の特徴による、差動信号接続部In、Ipを備えた、DDAトポロジーの概略図である。 本発明の実施形態によるセンサーシステムの分散ホールセルアレイのための基礎単位(building unit)を形成する基本ブロック(EB)を示す、ブロック図である。 本発明の実施形態によるセンサーシステムの分散ホールセルアレイのための基礎単位を形成する基本ブロック(EB)を示す、概略的な回路図である。 本発明の実施形態による2チャネル一体化ホールセンサーシステムの平面図(floorplan)である。 本発明によるPCBに取り付けられたホールセンサーシステムの実験的セットアップの一例の写真である。 図5の実験的セットアップのための温度における差分残留オフセットドリフト(differential residual offset drift)のグラフであり、ホールセルのバイアス電流は、100μAから600μAに掃引され、フロントエンドチャネル1およびチャネル2の出力における差異が、各温度段階で測定された。

Claims (12)

  1. 複数の基本ブロック(EB)を含む集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    各基本ブロックは、
    ホールセル(4)、
    前記ホールセルに接続されたスピンボックス(7)、
    差動対(8)を有する、増幅器の入力段、および、
    端子(12a、12b)、
    を含み、
    前記端子(12a、12b)は、Y軸に平行な、各基本ブロックの対向する外側部の横に置かれ、
    前記複数の基本ブロックは、並置するように配列されて、前記Y軸に直交するX軸に沿って延び、かつ前記Y軸方向において同位置の前記端子同士で相互接続される、少なくとも1つの列(6a、6b)を形成
    前記X軸に対して鏡像対称に配列された、基本ブロックの少なくとも2つの前記列(6a、6b)がある、集積回路ホールセンサーシステム。
  2. 請求項1に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    前記ホールセルに接続された前記スピンボックスは、4相スピンボックスである、集積回路ホールセンサーシステム。
  3. 請求項1または2に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    基本ブロックの各列(6a、6b)は、前記増幅器の第2段(11a、11b)により終了して、フロントエンドチャネルを形成する、集積回路ホールセンサーシステム。
  4. 複数の基本ブロック(EB)を含む集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    各基本ブロックは、
    ホールセル(4)、
    差動対(8)を有する、増幅器の入力段、および、
    端子(12a、12b)、
    を含み、
    前記端子(12a、12b)は、Y軸に平行な、各基本ブロックの対向する外側部の横に置かれ、
    前記複数の基本ブロックは、並置するように配列されて、前記Y軸に直交するX軸に沿って延び、かつ前記Y軸方向において同位置の前記端子同士で相互接続される、少なくとも1つの列(6a、6b)を形成し、
    基本ブロックの各列(6a、6b)は、前記増幅器の第2段(11a、11b)により終了して、フロントエンドチャネルを形成
    前記X軸に対して鏡像対称に配列された、基本ブロックの少なくとも2つの前記列(6a、6b)がある、集積回路ホールセンサーシステム。
  5. 請求項4に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    各基本ブロックは、前記ホールセルに接続された4相スピンボックス(7)をさらに含む、集積回路ホールセンサーシステム。
  6. 請求項3、4、または5に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    各チャネルが、前記基本ブロックの接続部(A、B、C、D)を通じて接続された論理回路(9a、9b)を含み、前記論理回路(9a、9b)は、各ホールセルに対し4相スピニング電流を実行するために、前記ホールセルに接続された各基本ブロックの4相電流スピンボックスに論理信号を伝達するように構成される、集積回路ホールセンサーシステム。
  7. 請求項3、4、5、または6に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    各チャネルが、スイッチドキャパシタ回路に基づく復調器(14a、14b)を含む、集積回路ホールセンサーシステム。
  8. 請求項3、4、5、6、または7に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    各チャネルは、出力バッファー(16a、16b)を含む、集積回路ホールセンサーシステム。
  9. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    前記増幅器は、差動差分増幅器(DDA)である、集積回路ホールセンサーシステム。
  10. 請求項9に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    前記DDAの前記第2段(11a、11b)は、前記基本ブロックの電流信号出力を電圧信号に変換するように構成される、集積回路ホールセンサーシステム。
  11. 請求項1〜10のいずれか1項に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    各基本ブロックは、電流源(5)をさらに含む、集積回路ホールセンサーシステム。
  12. 請求項1〜11のいずれか1項に記載の集積回路ホールセンサーシステムにおいて、
    前記少なくとも1つの列(6a、6b)の前記ホールセル(4)は、並列式に動作するように接続され、構成されている、集積回路ホールセンサーシステム。
JP2013517645A 2010-07-02 2011-07-01 ホールセンサーシステム Active JP6071876B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP10168375A EP2402779A1 (en) 2010-07-02 2010-07-02 Hall sensor system
EP10168375.3 2010-07-02
PCT/IB2011/052911 WO2012001662A1 (en) 2010-07-02 2011-07-01 Hall sensor system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013535661A JP2013535661A (ja) 2013-09-12
JP6071876B2 true JP6071876B2 (ja) 2017-02-01

Family

ID=43037702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013517645A Active JP6071876B2 (ja) 2010-07-02 2011-07-01 ホールセンサーシステム

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9453892B2 (ja)
EP (2) EP2402779A1 (ja)
JP (1) JP6071876B2 (ja)
CN (1) CN102971639B (ja)
WO (1) WO2012001662A1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012011759A1 (de) * 2012-06-13 2013-12-19 Gerrit Ebbers Verfahren zur Frequenzmessung von magnetischen Wellen
CN104502868A (zh) * 2014-12-29 2015-04-08 南京大学 一种高精度的十字霍尔传感器的电路模型
US9746531B2 (en) 2015-03-05 2017-08-29 Sii Semiconductor Corporation Magnetic sensor circuit
CN105180927B (zh) * 2015-09-29 2018-06-19 珠海创智科技有限公司 磁导航传感器
US9705436B2 (en) * 2015-12-04 2017-07-11 Texas Instruments Incorporated Linear hall device based field oriented control motor drive system
RU2624565C1 (ru) * 2016-02-11 2017-07-04 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет" (ДГТУ) Инструментальный усилитель для работы при низких температурах
CN107395194B (zh) * 2017-08-29 2023-04-25 桂林电子科技大学 一种基于频率转换的电容传感器接口电路
CN112985246B (zh) 2021-01-25 2023-03-31 成都芯源系统有限公司 位置传感系统及位置传感方法
US11761983B2 (en) * 2021-09-13 2023-09-19 Globalfoundries Singapore Pte. Ltd. Probe card integrated with a hall sensor

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02216479A (ja) * 1989-02-17 1990-08-29 Mitsubishi Electric Corp 磁気センサ
JPH0384484A (ja) * 1989-08-28 1991-04-10 Sumitomo Metal Ind Ltd 磁気センサ
JPH06118152A (ja) * 1991-03-11 1994-04-28 Masatoshi Utaka オフセット電圧を自己補償する集積化磁気検知装置
JPH0816718A (ja) * 1994-06-29 1996-01-19 Tec Corp 図形情報入力装置
DE59609727D1 (de) * 1996-03-02 2002-10-31 Micronas Gmbh Monolithisch integrierte Sensorschaltung
US6674280B1 (en) * 1999-12-31 2004-01-06 Honeywell International Inc. Position detection apparatus with distributed bridge sensor
JP3705727B2 (ja) * 2000-01-25 2005-10-12 シャープ株式会社 ホール素子バイアス回路
US6969988B2 (en) * 2002-03-22 2005-11-29 Asahi Kasei Emd Corporation Angle determining apparatus and angle determining system
EP1527350A1 (de) * 2002-08-01 2005-05-04 Sentron Ag Magnetfeldsensor und verfahren zum betrieb des magnetfeldsensors
ATE506705T1 (de) * 2002-09-10 2011-05-15 Melexis Tessenderlo Nv Magnetfeldsensor mit einem hallelement
NL1024114C1 (nl) * 2003-08-15 2005-02-16 Systematic Design Holding B V Werkwijze en inrichting voor het verrichten van metingen aan magnetische velden met gebruik van een hall-sensor.
EP1637898A1 (en) * 2004-09-16 2006-03-22 Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. Continuously calibrated magnetic field sensor
US7902820B2 (en) * 2005-05-03 2011-03-08 Imec Method and apparatus for detecting spatially varying and time-dependent magnetic fields
JP4674578B2 (ja) * 2006-01-13 2011-04-20 株式会社デンソー 磁気センサ及び磁気検出方法
JP4994365B2 (ja) * 2006-04-03 2012-08-08 旭化成エレクトロニクス株式会社 ホール素子及び磁気センサ
WO2009052537A1 (en) 2007-10-25 2009-04-30 Sensordynamics Ag Entwicklungs- Und Produktionsgesellschaft Method and device for contactless sensing rotation and angular position using orientation tracking
JP5369270B2 (ja) * 2008-09-30 2013-12-18 セイコーエプソン株式会社 磁場センサ
CH699933A1 (de) * 2008-11-28 2010-05-31 Melexis Technologies Sa Vertikaler Hallsensor.
US9274179B2 (en) * 2008-12-08 2016-03-01 Robert Bosch Gmbh Integrated sensor array with offset reduction
US9366547B2 (en) * 2009-12-07 2016-06-14 Ams Ag Sensor arrangement and method for operating a sensor arrangement

Also Published As

Publication number Publication date
US9453892B2 (en) 2016-09-27
US20130099782A1 (en) 2013-04-25
EP2588876B1 (en) 2015-02-11
EP2588876A1 (en) 2013-05-08
JP2013535661A (ja) 2013-09-12
WO2012001662A1 (en) 2012-01-05
CN102971639B (zh) 2016-08-31
EP2402779A1 (en) 2012-01-04
CN102971639A (zh) 2013-03-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6071876B2 (ja) ホールセンサーシステム
JP6045592B2 (ja) 円形縦型ホール磁場感知素子と平面ホール素子を組み合わせた磁場感知素子
US8890518B2 (en) Arrangements for self-testing a circular vertical hall (CVH) sensing element and/or for self-testing a magnetic field sensor that uses a circular vertical hall (CVH) sensing element
KR101429356B1 (ko) 3개의 접점을 갖는 홀 효과 영역을 포함하는 전자 디바이스
US10514430B2 (en) Magnetic sensor utilizing magnetization reset for sense axis selection
JP5802187B2 (ja) ホール起電力信号検出回路及びその電流センサ
KR102533697B1 (ko) 자기장 센서
CN103376426B (zh) 磁场传感器
US9857434B2 (en) Push-pull bridge-type magnetic sensor for high-intensity magnetic fields
CN106597326B (zh) 磁场感测装置
US9651635B2 (en) Bias circuit for stacked hall devices
JP2013535674A5 (ja)
TW201337302A (zh) 應用穿隧式磁電阻器之磁場感測方法及磁場感測裝置
CN106164691B (zh) 低偏移和高灵敏度垂直霍尔效应传感器
KR20150102052A (ko) 자기 센서 장치, 자기 감응 방법 및 그 제조 방법
CN106154189A (zh) 用于磁场感测的穿隧磁阻装置
CN110998348B (zh) 用于抑制具有隧道磁阻的磁阻传感器的低频噪声的系统和方法
Marra et al. 100 nT/√ Hz, 0.5 mm 2 monolithic, multi-loop low-power 3-axis MEMS magnetometer
US11953565B2 (en) Electrical offset compensating in a bridge using more than four magnetoresistance elements
Pascal et al. 3D Hall probe integrated in 0.35 μm CMOS technology for magnetic field pulses measurements
Kaufmann et al. Novel coupling concept for five-contact vertical hall devices
Osberger et al. High resolution, low offset vertical Hall device in low-voltage CMOS technology
Kejik et al. Offset compensation based on distributed Hall cell architecture
Mosser et al. A spinning current circuit for nanotesla range resolution in Hall measurements
US11609283B2 (en) Electrical offset compensating in a magnetoresistance bridge

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140610

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150224

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20150522

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150622

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151117

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20160217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160317

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20160809

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161121

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20161129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161220

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161227

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6071876

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250