JP6063895B2 - 半導体製造設備のための温度制御システム - Google Patents

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Description

本発明は、半導体製造設備のための温度制御システムに関し、特に、半導体ウェーハ加工工程が実施されるチャンバでウェーハを支持し、温度を維持する静電チャック(Electroststic Chuck:ESC)に工程レシピによる温度で熱媒体(coolant)を供給するために低温熱媒体と高温熱媒体を混合する温度制御システムに関する。
半導体素子技術が次第に高度化されるに伴い、半導体製造設備に適用される装備の制御精密が重要になっている。特に、シリコンウェーハのような半導体基板材料に対する各種蒸着及びエッチング工程が行われる真空チャンバは、各工程レシピによる精密な温度制御を要求している。
最近、半導体製造設備は、所望の温度では安定的な温度を維持することを要求しながらも、工程レシピ上の温度変化時に迅速な温度変化を同時に要求している。特に、最近には、工程レシピの単位区間(STEP)内でも温度変化を要求していて、外部温度制御設備の対応が難しい実情である。
図1は、チャンバ20内の静電チャック22の温度をチラー10を通じて一定に維持する従来の構成を示すものである。
図示の構成は、チャンバ20内の静電チャック22にチラー10を通じて一定の温度に冷却した熱媒体(coolant)を提供し、工程レシピ上の所定温度区間に対応する方式であり、最近の微細化多層構造製造のための工程では、特定単位区間内でも温度を可変することができなければならない。
このために、最近の静電チャック22には、チューナブルヒーターをさらに構成し、特定単位区間内で温度をチャンバが自ら制御することができるようにしている。
図2は、チューナブルヒーター23が構成された静電チャック22を示すものであって、例えば、チラー10で特定単位区間の目標温度に設定された20℃の熱媒体を持続的に供給するとき、当該単位区間内で25℃の温度が必要になれば、チューナブルヒーター23を動作させて、静電チャック22の温度を25℃に合わせるようになる。
つまり、このような構成は、温度変化に対応するために比較的長い時間が要求される外部温度制御装置を利用しにくいため、チューナブルヒーターを通じて急激な温度変化を強制するものであるが、電力面で効率は非常に悪くなる。さらに、図1に示されたように、チャンバ20内の上部電極あるいはシャワーヘッド21に加えられるRF電力に対する撹乱の問題があるので、静電チャック22内にヒーターを設けることは好ましくない。
したがって、異なる温度を有する熱媒体を適切に混合し、迅速に所望の目標温度を合わせる方式の温度制御システムが登場した。
静電チャックの場合、相当な熱容量を有するので、温度制御時に不安定な状態が非常に長く持続するので、温度制御のために十分な流量の熱媒体が要求される。したがって、最近、冷却熱媒体と加熱熱媒体を混合し、静電チャックに提供する方式や回収される熱媒体に別に冷却あるいは加熱した熱媒体を適切に混合して供給する方式などが提案されている。
しかし、大部分の場合、静電チャックから回収される熱媒体を冷却手段と加熱手段の熱媒体タンク(Reservoir)に同一に供給するので、回収された熱媒体の温度を各冷却手段及び加熱手段の設定温度に合わせるための電力無駄遣いが多くて、負荷で要求する温度変化によって回収される熱媒体温度と制御しなければならない温度との差が急激に大きくなる場合、相当な熱衝撃が発生するので、一般的な制御方式(例えば、PID(proportional−integral−derivative)制御)で対応する場合、オーバースーツやアンダースーツが頻繁に発生し、制御が困難になる問題がある。
つまり、所望の設定温度の熱媒体を十分な流量で提供しながらも、熱衝撃を低減し、回収される熱媒体を冷却あるいは加熱するための熱量を最小化する新しい方式の温度制御システムが要求されている。
韓国特許登録第10−0817419号公報 韓国特許登録第10−1020357号公報
前述した問題点を改善するために、本発明の実施例の目的は、熱電素子を通じて冷却した熱媒体及びヒーターを通じて加熱した熱媒体を所望の目標温度になるように第1比率及び第2比率に合わせて混合して負荷に提供し、負荷から回収される熱媒体を混合時の比率である第1比率及び第2比率で熱電素子及びヒーターに分散提供することによって、冷却や加熱のために消耗する電力を最小化することができるようにした半導体製造設備のための温度制御システムを提供する。
本発明の他の実施例の目的は、チラー部及びヒーター部にそれぞれ構成された熱媒体タンク(Reservoir)の温度が異なる設定温度に維持されるように、設定温度の熱媒体を混合器に特定の比率で提供すると共に、提供されない残りの比率の熱媒体は、さらに、チラー部及びヒーター部にそれぞれバイパスされながら循環されるようにして、持続循環を通じて各熱媒体タンクの温度を所望の設定温度に維持あるいは可変することができ、負荷に供給する目標温度変化時にも高速対応が可能な半導体製造設備のための温度制御システムを提供する。
本発明のさらに他の実施例の目的は、チラー部及びヒーター部の熱電素子ブロックとヒーターを二重で構成し、回収及びバイパスされる熱媒体の温度を一次的に設定温度に近接するように冷却あるいは加熱した状態で熱媒体タンクに回収し、供給時に二次的に目標温度に合わせて熱媒体を冷却あるいは加熱するようにして、急激な温度変化に対しても熱衝撃を最小化し、アンダースーツやオーバースーツの発生を低減することができるようにした半導体製造設備のための温度制御システムを提供する。
本発明のさらに他の実施例の目的は、チラー部の冷却手段として熱電素子ブロックを利用し、当該熱電素子ブロックの冷却動作によって発生する熱を冷却させるために構成した冷却水流路を活用することができるようにヒーター部に熱交換器をさらに構成し、ヒーター側回収熱媒体やバイパス熱媒体の温度が前記冷却水の残熱より低い場合、これをさらに活用し、廃棄される残熱を回収することができるようにするか、またはヒーターによって加熱した熱媒体を冷却させるために活用することができるようにした半導体製造設備のための温度制御システムを提供する。
前記目的を達成するために、本発明の一実施例による半導体製造設備のための温度制御システムは、半導体製造設備の負荷から回収される熱媒体(Coolant)を冷温制御し、目標温度で供給する温度制御システムであって、低温熱媒体と高温熱媒体を混合し、負荷に供給する混合器と;低温熱媒体を貯蔵する第1の熱媒体タンクと;第1の熱媒体タンクの熱媒体を冷却させて提供する第1の熱電素子ブロックと;回収熱媒体を冷却させて前記第1の熱媒体タンクに提供する第2の熱電素子ブロックと;前記第1の熱電素子ブロックを通じて提供される冷却した第1の熱媒体タンクの熱媒体を第1比率で前記混合器に提供し、前記第1の比率で提供した以外の熱媒体を前記第2の熱電素子ブロックにバイパスさせて、第1の熱媒体タンクが回収するようにする第1の3方向スイッチング弁と;高温熱媒体を貯蔵する第2の熱媒体タンクと;第2の熱媒体タンクの熱媒体を加熱する第1のヒーターと;回収熱媒体を加熱し、前記第2の熱媒体タンクに提供する第2のヒーターと;前記第1のヒーターを通じて加熱した第2の熱媒体タンクの熱媒体を第2比率で前記混合器に提供し、前記第2の比率で提供した以外の熱媒体を前記第2のヒーターにバイパスさせて、第2の熱媒体タンクが回収するようにする第2の3方向スイッチング弁と;負荷から回収される熱媒体を前記第1比率で前記第2の熱電素子ブロックに提供し、前記第2比率で前記第2のヒーターに提供する第3の3方向スイッチング弁と;を含む。
ここで、前記第1及び第2の熱電素子ブロックの冷却のために前記熱電素子ブロックを経由する冷却水(Process Cooling Water)流路をさらに含む。
なお、回収熱媒体が前記第2のヒーターに入る前または後の位置にさらに構成され、前記熱電素子ブロックを経由する冷却水流路と連結され、冷却水温度が回収熱媒体の温度を所望の温度で加熱または冷却することができる温度範囲であるときに動作する熱交換器をさらに含むことができる。
前記第2の熱電素子ブロックは、回収熱媒体の温度を回収熱媒体温度と冷却設定温度との間の既定の温度で冷却し、前記第1の熱電素子ブロックは、前記第2の熱電素子ブロックによって既定の温度で冷却した熱媒体を冷却設定温度で冷却させて、前記第1及び第2の熱電素子ブロックに対する熱衝撃を低減することができる。
前記第2のヒーターは、回収熱媒体の温度を回収熱媒体温度と加熱設定温度との間の既定の温度で加熱し、前記第1のヒーターは、前記第2のヒーターによって既定の温度で加熱した熱媒体を加熱設定温度で加熱させて、前記第1及び第2のヒーターに対する熱衝撃を低減することができる。
前記第1、第2及び第3の3方向スイッチング弁の制御は、前記混合器で前記高温熱媒体と前記低温熱媒体が混合した熱媒体温度が負荷に供給する目標設定温度になるように、第1の3方向スイッチング弁と第2の3方向スイッチング弁とが流量を調節すると共に、負荷から回収される熱媒体を混合器に供給するために設定された流量の比率によって分散させるように、第3の3方向スイッチング弁が流量を調節することができる
本発明の他の実施例による半導体製造設備のための温度制御システムは、半導体製造設備の負荷から回収される熱媒体を冷温制御し、目標温度で供給する温度制御システムであって、低温熱媒体と高温熱媒体を混合し、負荷に供給する混合器と;低温熱媒体を貯蔵する第1の熱媒体タンクと;第1の熱媒体タンクに熱媒体を冷却させて提供する熱電素子ブロックと;前記冷却した第1の熱媒体タンクの熱媒体を第1比率で前記混合器に提供し、前記第1の比率で提供した以外の熱媒体を前記熱電素子ブロックを通じて前記第1の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第1の3方向スイッチング弁と;高温熱媒体を貯蔵する第2の熱媒体タンクと;第2の熱媒体タンクに熱媒体を加熱して提供するヒーターと;前記加熱した第2の熱媒体タンクの熱媒体を第2比率で前記混合器に提供し、前記第2の比率で提供した以外の熱媒体を前記ヒーターを通じて前記第2の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第2の3方向スイッチング弁と;負荷から回収される熱媒体を前記第1比率で前記熱電素子ブロックのバイパスラインに提供し、前記第2比率で前記ヒーターのバイパスラインに提供する第3の3方向スイッチング弁と;を含む。
本発明の他の実施例による半導体製造設備のための温度制御システムは、低温熱媒体と高温熱媒体を混合し、半導体製造設備の負荷に供給する混合器と;低温熱媒体を貯蔵する第1の熱媒体タンクと;第1の熱媒体タンクに熱媒体を冷却させて提供する熱電素子ブロックと;前記冷却した第1の熱媒体タンクの熱媒体を第1比率で前記混合器に提供し、前記第1の比率で提供した以外の熱媒体を前記熱電素子ブロックを通じて前記第1の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第1の3方向スイッチング弁と;高温熱媒体を貯蔵する第2の熱媒体タンクと;第2の熱媒体タンクに熱媒体を加熱して提供するヒーターと;前記加熱した第2の熱媒体タンクの熱媒体を第2比率で前記混合器に提供し、前記第2の比率で提供した以外の熱媒体を前記ヒーターを通じて前記第2の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第2の3方向スイッチング弁と;負荷から回収される熱媒体を前記熱電素子ブロック及び前記ヒーターに分散提供する第3の3方向スイッチング弁と;前記熱電素子ブロックによって冷却される熱媒体の温度と前記ヒーターによって加熱される熱媒体の温度を測定し、前記第1、第2及び第3の3方向スイッチング弁の動作による各弁の連結部の流量を測定するセンサー部と;前記熱電素子ブロックの冷却温度とヒーターの加熱温度及び負荷に供給する混合熱媒体の温度に対する設定値を受信し、前記センサー部の各部の温度を基準として前記熱電素子ブロックとヒーターの動作を制御する温度制御部と;前記センサー部が提供する各部の流量と冷却及び加熱した熱媒体の温度を基準として前記第1及び第2の3方向スイッチング弁を第1及び第2比率で制御し、回収熱媒体を前記熱電素子ブロック及びヒーターに分散提供する前記第3の3方向スイッチング弁の動作の比率を供給時の比率を反映して制御する弁制御部と;を含む。
本発明の実施例による半導体製造設備のための温度制御システムは、熱電素子を通じて冷却した熱媒体とヒーターを通じて加熱した熱媒体を所望の目標温度になるように第1比率及び第2比率に合わせて混合して負荷に提供し、負荷から回収される熱媒体を混合時の比率である第1比率及び第2比率で熱電素子及びヒーターに分散提供することによって、冷却や加熱のために消耗する電力を最適化することができる効果がある。
本発明の実施例による半導体製造設備のための温度制御システムは、チラー部及びヒーター部にそれぞれ構成された熱媒体タンクの温度が異なる設定温度に維持されるように設定温度の熱媒体を混合器に特定の比率で提供すると共に、提供されない残りの比率の熱媒体は、さらにチラー部及びヒーター部にそれぞれバイパスされながら循環されるようにして、持続循環を通じて各熱媒体タンクの温度を所望の設定温度に維持あるいは可変することができ、負荷に供給する目標温度変化時にも高速対応が可能であるという効果がある。
本発明の実施例による半導体製造設備のための温度制御システムは、チラー部及びヒーター部の熱電素子ブロックとヒーターを二重で構成し、回収及びバイパスされる熱媒体の温度を一次的に設定温度に近接するように冷却あるいは加熱した状態で熱媒体タンクに回収し、供給時に二次的に目標温度に合わせて熱媒体を冷却あるいは加熱することによって、急激な温度変化に対しても熱衝撃を最小化し、アンダースーツやオーバースーツの発生を低減することができるという効果がある。
本発明の実施例による半導体製造設備のための温度制御システムは、チラー部のチラー手段として熱電素子ブロックを利用し、当該熱電素子ブロックの冷却動作によって発生する熱を冷却させるために構成した冷却水流路を活用することができるようにヒーター部に熱交換器をさらに構成し、ヒーター側回収熱媒体やバイパス熱媒体の温度が前記冷却水の残熱より低い場合、これをさらに活用し、廃棄される残熱を回収することができるようにし、必要な場合、ヒーターによって加熱した熱媒体の温度を下げることができるようにして、エネルギー効率を最適化する効果がある。
図1は、従来チャンバの静電チャックの温度制御のためのシステム構成の例である。 図2は、従来チューナブルヒーターを具備した静電チャックの温度制御システムの構成例である。 図3は、本発明の実施例による温度制御システムの簡略な構成図である。 図4は、本発明の実施例による温度制御システムのより具体的な構成を示す構成図である。 図5は、本発明の実施例による温度制御方式を説明するための制御部の構成図である。 図6は、本発明の実施例による温度制御システムの動作例を示す例示図である。
前述したような本発明を添付の図面と実施例を通じて詳しく説明する。
まず、図3は、本発明の実施例による半導体製造設備のための温度制御システム100の構成を示すものであり、図示のように、上端には、チラー部110〜150が構成され、下端には、ヒーター部210〜250が構成され、負荷30と連結される右側には、混合器310と3方向スイッチング弁(3−ways witching valve)が構成される。
温度制御システム100は、熱電素子ブロック130、140を通じて冷却した熱媒体とヒーター230、240を通じて加熱した熱媒体を所望の目標温度に合わせて混合器310で混合し、負荷(例えば、静電チャック)30に提供し、負荷30から回収される熱媒体をさらに熱電素子ブロック及びヒーターに分散循環させる温度制御システムである。
チラー部は、第1の熱媒体タンク110と、第1の熱媒体タンク110の熱媒体を目標温度で冷却させる供給経路熱電素子130と、回収熱媒体を冷却させて、第1の熱媒体タンク110に伝達する回収経路熱電素子140と、供給経路熱電素子130が提供する熱媒体の一定比率を混合器310に提供し、その他の熱媒体を回収経路熱電素子140にバイパスさせる第1の3方向スイッチング弁150とを含む。
ヒーター部は、第2の熱媒体タンク210と、第2の熱媒体タンク210の熱媒体を目標温度で加熱させる供給経路ヒーター230と、回収熱媒体を加熱させて、熱媒体タンクに伝達する回収経路ヒーター240と、供給経路ヒーター230によって目標温度に加熱した熱媒体の一定の比率を混合器310に提供し、その他の熱媒体を回収経路ヒーター240にバイパスさせる第2の3方向スイッチング弁250とを含む。
混合及び回収熱媒体分散循環のために、第1及び第2の3方向スイッチング弁150、250を通じて提供される熱媒体を混合し、制御温度で負荷に提供する混合器310と、負荷から回収される熱媒体を混合器310に熱媒体を提供した比率によって分散させて、回収経路熱電素子140及び回収経路ヒーター240に提供する第3の3方向スイッチング弁が構成される。
このような構成において、混合器310を通じて目標温度で混合するために、第1及び第2の3方向スイッチング弁150、250の供給流量の比率が第1比率:第2比率(第1比率と第2比率の和は、100%になることが好ましい)であるとき、回収される熱媒体は、第3の3方向スイッチング弁320によってチラー側及びヒーター側に第1比率:第2比率で分散供給される。
例えば、チラー側で供給する熱媒体の温度が0℃であり、ヒーター側で供給する熱媒体の温度が60℃であり、負荷に供給する目標設定温度が10℃なら、チラー側熱媒体の供給比率がヒーター側熱媒体の供給比率よりさらに大きくなる。この場合、回収される熱媒体の温度は、目標温度(10℃)に隣接する所定の温度になる。したがって、このような回収熱媒体は、チラー側の設定温度にさらに近接するので、従来のように、同一の比率でチラー側及びヒーター側に供給される場合、ヒーター側では、10℃近くの熱媒体を設定温度である60℃に上昇させなければならないので、ヒーター側で消耗する熱量が過度になる。
しかし、図示した本発明の実施例による実施例では、混合時の比率によって回収熱媒体を分散させるので、10℃近くの回収熱媒体をチラーにさらに多く分散させるようになる。
すなわち、目標温度がヒーターの熱媒体温度に近接する場合、チラー側では、少しの熱媒体だけを混合器に提供し、大部分の熱媒体は、バイパスを通じて循環するようにし、ヒーター側では、大部分の熱媒体を混合器に提供し、少しの熱媒体だけをバイパスを通じて循環するようにする。この場合、回収冷媒は、ヒーターの熱媒体温度に近接した目標設定温度の近くになるので、大部分の回収熱媒体は、ヒーター部に提供され、一部の熱媒体だけがチラー側に提供される。したがって、ヒーター側が回収した熱媒体の温度を高めるか、またはチラー側が回収した熱媒体の温度を下げるときに必要な熱量が最適化される。
特に、図示した実施例を通じて分かるように、冷却した熱媒体と加熱した熱媒体のうち必要な流量の熱媒体だけを混合器310に単純提供するものではなく、混合器に提供されない熱媒体は、それぞれさらに回収経路熱電素子140及び回収経路ヒーター240にバイパスされるので、回収熱媒体とともに各回収経路熱電素子140及びヒーター240に供給される。したがって、このようなバイパスされた熱媒体によって、回収熱媒体の温度差が希釈され、回収経路熱電素子130やヒーター240の熱衝撃を低減しながら、各熱媒体タンク110、210の熱媒体温度をそれぞれあらかじめ設定された温度に維持することができる。すなわち、チラー部及びヒーター部の熱媒体は、持続的に循環されるので、熱電素子やヒーターの持続的で且つ安定的な運転状態を保障することができる。
さらに、負荷に供給する目標温度が変化する場合にも、単純に混合器310に供給する加熱熱媒体と冷却熱媒体の比率だけを変更すれば良いので、容易に変化した温度の熱媒体を十分な流量で直ちに提供することができる。特に目標温度が急激に変化し、チラー部やヒーター部のうち1つが100%熱媒体を供給する必要があっても、複数の冷却/加熱手段を利用して対応するので、熱衝撃を最小化することができ、迅速な制御が可能である。
図4は、本発明の実施例の原理を簡略に説明した図3の具体的な実施構成を示すものであって、冷却のための熱電素子130、140と加熱のためのヒーター230、240、熱媒体管理のための熱媒体タンク110、230、このような熱媒体タンク内の熱媒体を適切な流量で供給するためのポンプ120、220、3個の3方向スイッチング弁150、250、320及び混合器310の構成と配置及び動作原理は、図3と同一である。
しかし、図4では、図3の概念的構成が動作するために必要なセンサーと熱電素子の熱媒体冷却時に発生する発熱を処理するための冷却水線路を示し、さらに明確に本発明の実施例を理解することができるようにしたものである。
図示のように、各熱電素子130、140とヒーター230、240の前後及び混合器310によって混合した熱媒体を供給する流路上には、温度を測定するための温度センサーが適用され、例えば、測定温度範囲が広い測温−抵抗センサー(Resistance Temparature Device:RTD)が適用されることができる。
また、第1及び第2の3方向スイッチング弁150、250によって混合器310に供給される流路及びバイパスされる流路、混合器によって混合した熱媒体が負荷に供給される流路、そして第3の3方向スイッチング弁320によって分散提供される流路にそれぞれ流量センサー(Flow meter)が構成される。実質的に、このような流量は、混合器310に混合される熱媒体の混合比率と第3の3方向スイッチング弁320による回収熱媒体の分散比率を制御するのに基準になることができる。
一方、ポンプ120、220によって熱媒体を混合器に供給する流路の圧力を測定するための圧力計(Pressure Gauge)を第1及び第2の3方向スイッチング弁の前端にそれぞれ構成し、混合器310が混合熱媒体を負荷に供給する流路に供給熱媒体の圧力を測定するための圧力計を構成する。
このように、温度センサー、流量センサー及び圧力センサーを必要な流路に形成し、各熱電素子及びヒーターの温度を制御し、3方向スイッチング弁を制御する。
なお、図示のように、熱電素子130、140には、熱媒体を冷却させながら発生する反対面の熱を冷却させるための冷却水(Process Cooling Water:PCW)流路が構成される。このようなPCW流路は、単純に熱電素子130、140の安定的動作のために熱電素子専用で構成されることもできるが、図示の構成では、これをヒーター部でも使用するようにする。すなわち、回収経路ヒーター240と熱媒体タンク210との間にこのような冷却水が通る熱交換器260をさらに構成し、前記熱交換器260の使用を決定するために冷却水を当該熱交換器260に供給すべきか、バイパスさせるべきかを決定する第4の3方向スイッチング弁330を構成する。このように、PCWが選択的に供給される熱交換器260は、冷却時に付随的に発生する熱電素子の発熱によって加熱した冷却水の廃熱を利用してヒーター部の熱媒体温度を上げるか、またはヒーター部の熱媒体の温度を下げなければならない場合に活用されることができる。
例えば、熱電素子の冷却動作に発生する熱によって冷却水の温度が高くなることができ、もし冷却水の温度が65℃になり、回収経路ヒーター240によって加熱される回収及びバイパス熱媒体の温度が55℃なら、第4の3方向スイッチング弁330を動作させて、冷却水が熱交換器260に供給されるようにして、当該冷却水の廃熱をヒーターの機能を補助するために活用することができる。これを利用する場合、回収経路ヒーター240は、節約運転されることができる。
他の例として、ヒーター部の設定温度が下向き調節される場合、ヒーター230、240が動作しないとしても、温度下降速度が遅いので、第4の3方向スイッチング弁330を動作させて、温度の低い冷却水が熱交換器260に供給されるようにして、ヒーター部の熱媒体温度を効果的に下げることができる。
なお、チラー部の場合、熱電素子130、140が供給電力の極性によって冷却と加熱が可変されることができるので、必要な場合、別途の構成なしに迅速に温度を上向き調節することができる。
図示した場合、前記熱交換器260は、ヒーター230、240の間に構成されるが、他の位置に構成されてもよい。
図5は、前述した図4の構成を実質的に制御するための制御部400の構成を示すものであって、図示のように、センサー部430、温度制御部410及び弁制御部420よりなる。
前記センサー部430は、温度センサー、流量センサー及び圧力センサーを含み、測定された値を温度制御部410及び弁制御部420に提供する。前記センサー以外にも、必要な場合、追加的なセンサーをさらに含むことができる。
前記温度制御部410は、内部にチラー温度制御部411とヒーター温度制御部412を含み、負荷に供給する目標温度に対する設定値(Set Value:SV)情報を入力されて、適切な冷却温度と加熱温度で各熱媒体タンクの温度及び供給温度を制御する。
チラー温度制御部411は、供給経路熱電素子の駆動を制御するTEM1駆動部と、回収経路熱電素子の駆動を制御するTEM2駆動部とを含み、このような各駆動部を実質的に順次制御する2つのPID制御部よりなる第1のPID制御部を含む。前記第1のPID制御部は、回収経路熱電素子に対してセンサー部430を通じて提供される実際冷却前後温度と内部設定された温度を基準としてPID制御を実施し、混合器に供給する熱媒体の設定温度より少し高い1次的な設定温度で回収及びバイパス熱媒体の温度を冷却させて、熱媒体タンクに供給するようにし、供給熱電素子に対してセンサー部430を通じて提供される実際冷却前後温度と冷却設定温度を基準として2次的なPID制御を実施し、混合器に供給する熱媒体を冷却設定温度で合わせる。このように、順次的なカスケード形態のPID制御方式を利用する場合、熱衝撃を最小化することができると共に、目標温度に対する制御性能を向上させることができる。
同様に、ヒーター温度制御部412は、供給経路ヒーターの駆動を制御する第1のヒーター駆動部と、回収経路ヒーターの駆動を制御する第2のヒーター駆動部とを含み、このような各駆動部を順次制御する2つのPID制御部よりなる第2のPID制御部を含む。前記第2のPID制御部は、回収経路ヒーターに対してセンサー部430を通じて提供される実際加熱前後温度と内部設定された温度を基準としてPID制御を実施し、混合器に供給する熱媒体の設定温度より少し低い1次的な設定温度で回収及びバイパス熱媒体の温度を加熱し、熱媒体タンクに供給するようにして、供給ヒーターに対してセンサー部430を通じて提供される実際加熱前後温度と加熱設定温度を基準として2次的なPID制御を実施し、混合器に供給する熱媒体を加熱設定温度に合わせる。このように、順次的なカスケード形態のPID制御方式を利用する場合、熱衝撃を最小化することができると共に、設定温度に対する制御性能を向上させることができる。
前記弁制御部420は、センサー部430を通じて3方向スイッチング弁の動作による流路の流量に対する測定値を提供され、混合器で加熱熱媒体と冷却熱媒体が混合した熱媒体温度が負荷に供給する目標設定温度になるように、第1の3方向スイッチング弁と第2の3方向スイッチング弁を制御する供給3方向スイッチング弁制御部421と、負荷から回収される熱媒体を混合器に供給するために設定された流量の比率によって分散させるように、第3の3方向スイッチング弁を制御するリターン3方向スイッチング弁制御部422とを含む。
もちろん、必要な場合、前記弁制御部は、熱電素子を冷却するための冷却水をヒーター側に構成された熱交換器に供給すべきかを選択する第4の3方向スイッチング弁を制御する弁制御部をさらに含むことができる。
図6は、本発明の実施例による温度制御方式を説明するための例示的な制御過程を示すものであり、図示した例は、説明の便宜のために温度変化を単純化して説明したものであって、これは、本発明の温度制御の動作原理を理解するための用途に過ぎず、具体的な個別素子の構成や容量、熱媒体の種類、流路の長さと形態、負荷の種類などによって具体的な温度は変わることができることに注意する。
図示した例で、チラー部が混合器310に提供する冷却熱媒体の設定温度は、0℃であり、ヒーター部が混合器310に提供する加熱熱媒体の設定温度は、60℃であり、負荷30で要求する温度は、40℃であると仮定する。
このように負荷で要求する目標温度が40℃であり、冷却熱媒体が0℃であり、加熱熱媒体が60℃であるので、目標温度は、加熱熱媒体の温度に近い。したがって、混合器310に混合する比率は、加熱熱媒体80%、冷却熱媒体20%に設定されることができる。
チラー部の動作を見れば、まず、熱媒体タンク110の冷媒は、設定温度である0℃より少し高い2.5℃程度を維持する。このような温度の熱媒体は、ポンプ120を通じて供給経路熱電素子130に提供され、ポンプ120を経由しながら熱媒体の温度は、少し上昇し、3.0℃になることができる。前記供給経路熱電素子130は、熱媒体を設定温度である0℃に冷却し、第1の3方向スイッチング弁150に供給する。
前記供給経路熱電素子130は、1次的に冷却され、熱媒体タンク110に保管された熱媒体を設定温度で冷却させるので、PID制御によって正確な温度を容易に維持することができる。
前記第1の3方向スイッチング弁150は、供給される冷却熱媒体のうち流量基準20%を混合器310に提供し、80%をバイパス経路を通じて回収経路熱電素子140に提供する。
前記回収経路熱電素子140は、バイパスされた冷却熱媒体と40℃に供給されてから負荷を経て回収される42℃の熱媒体とが混合した熱媒体を、1次的な冷却温度である2℃に冷却させて、熱媒体タンク110に提供する。前記回収経路熱電素子140に供給される熱媒体は、バイパスされた0℃熱媒体80%と回収される42℃の熱媒体20%よりなるので、これらが混合され、10℃程度に温度が低くなった状態で提供されるので、冷却のための負荷が減少する。
以下、ヒーター部の動作を見れば、ヒーター部熱媒体タンク210の熱媒体は、供給経路ヒーター230によって設定温度である60℃を維持する。このような温度の熱媒体は、ポンプ220を通じて第2の3方向スイッチング弁250に供給される。
前記供給経路ヒーター230は、1次的に加熱され、熱媒体タンク210に提供される熱媒体を設定温度で加熱するので、PID制御によって正確な温度を容易に維持することができる。
前記第2の3方向スイッチング弁250は、供給される加熱熱媒体のうち流量基準80%を混合器310に提供し、20%をバイパス経路を通じて回収経路ヒーター240に提供する。
前記回収経路ヒーター240は、バイパスされた加熱熱媒体と負荷を経て40℃に供給されてから少し上昇して回収される42℃の熱媒体が混合した熱媒体を1次的な加熱温度である55℃に加熱し、熱媒体タンク210に提供する。前記回収経路ヒーター240に供給される熱媒体は、バイパスされた60℃熱媒体20%と回収される42℃の熱媒体80%よりなるので、これらが混合され、49℃程度に温度が高くなった状態で提供されるので、加熱のための負荷が減少する。
混合器310は、0℃熱媒体20%と60℃熱媒体80%が混合した40℃熱媒体を負荷30に供給し、負荷で温度が42℃に高くなった熱媒体が第3の3方向スイッチング弁320に回収される。このように回収された熱媒体は、供給時の比率によってチラー側回収経路に20%、ヒーター側回収経路に80%分散提供される。
したがって、このような構成及び制御方式を通じて所望の目標温度の熱媒体を十分な流量で提供しながらも、熱衝撃を低減し、回収される熱媒体を冷却あるいは加熱するための熱量を最小化することができる。
以上では、本発明による好ましい実施例について図示し、説明した。しかし、本発明は、前述した実施例に限定されず、特許請求の範囲で添付する本発明の要旨を逸脱することなく、当該発明が属する技術分野における通常の知識を有するなら誰でも多様な変形実施が可能である。
100 温度制御システム
110、210 熱媒体タンク
120、220 ポンプ
130 供給経路熱電素子
140 回収経路熱電素子
150 第1の3方向スイッチング弁
230 供給経路ヒーター
240 回収経路ヒーター
250 第2の3方向スイッチング弁
260 熱交換器
310 混合器
320 第3の3方向スイッチング弁
330 第4の3方向スイッチング弁
400 制御部
410 温度制御部
420 弁制御部
430 センサー部

Claims (17)

  1. 半導体製造設備の負荷から回収される熱媒体(Coolant)を冷温制御し、目標温度で供給する温度制御システムであって、
    低温熱媒体と高温熱媒体を混合し、負荷に供給する混合器と;
    低温熱媒体を貯蔵する第1の熱媒体タンクと;
    第1の熱媒体タンクの熱媒体を冷却させて提供する第1の熱電素子ブロックと;
    回収熱媒体を冷却させて、前記第1の熱媒体タンクに提供する第2の熱電素子ブロックと;
    前記第1の熱電素子ブロックを通じて提供される冷却した第1の熱媒体タンクの熱媒体を第1比率で前記混合器に提供し、前記第1の比率で提供した以外の熱媒体を前記第2の熱電素子ブロックにバイパスさせて、第1の熱媒体タンクが回収するようにする第1の3方向スイッチング弁と;
    高温熱媒体を貯蔵する第2の熱媒体タンクと;
    第2の熱媒体タンクの熱媒体を加熱する第1のヒーターと;
    回収熱媒体を加熱し、前記第2の熱媒体タンクに提供する第2のヒーターと;
    前記第1のヒーターを通じて加熱した第2の熱媒体タンクの熱媒体を第2比率で前記混合器に提供し、前記第2の比率で提供した以外の熱媒体を前記第2のヒーターにバイパスさせて、第2の熱媒体タンクが回収するようにする第2の3方向スイッチング弁と;
    負荷から回収される熱媒体を前記第1比率で前記第2の熱電素子ブロックに提供し、前記第2比率で前記第2のヒーターに提供する第3の3方向スイッチング弁と;を含むことを特徴とする半導体製造設備のための温度制御システム。
  2. 前記第1及び第2の熱電素子ブロックの冷却のために前記熱電素子ブロックを経由する冷却水(Process Cooling Water)流路をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  3. 回収熱媒体が前記第2のヒーターに入る前または後の位置にさらに構成され、前記熱電素子ブロックを経由する冷却水流路と連結され、冷却水温度が回収熱媒体の温度を所望の温度で加熱または冷却することができる温度範囲であるときに動作する熱交換器をさらに含むことを特徴とする 請求項2に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  4. 前記第2の熱電素子ブロックは、回収熱媒体の温度を回収熱媒体温度と冷却設定温度との間の既定の温度に冷却し、前記第1の熱電素子ブロックは、前記第2の熱電素子ブロックによって既定の温度で冷却した熱媒体を冷却設定温度で冷却させて、前記第1及び第2の熱電素子ブロックに対する熱衝撃を低減することを特徴とする 請求項1に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  5. 前記第2のヒーターは、回収熱媒体の温度を回収熱媒体温度と加熱設定温度との間の既定の温度で加熱し、前記第1のヒーターは、前記第2のヒーターによって既定の温度に加熱した熱媒体を加熱設定温度で加熱させて、前記第1及び第2のヒーターに対する熱衝撃を低減することを特徴とする 請求項1に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  6. 前記第1、第2及び第3の3方向スイッチング弁の制御は、
    前記混合器で前記高温熱媒体と前記低温熱媒体が混合した熱媒体温度が負荷に供給する目標設定温度になるように、第1の3方向スイッチング弁と第2の3方向スイッチング弁とが流量を調節すると共に、負荷から回収される熱媒体を混合器に供給するために設定された流量の比率によって分散させるように、第3の3方向スイッチング弁が流量を調節する
    ことを特徴とする 請求項1に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  7. 半導体製造設備の負荷から回収される熱媒体を冷温制御し、目標温度で供給する温度制御システムであって、
    低温熱媒体と高温熱媒体を混合し、負荷に供給する混合器と;
    低温熱媒体を貯蔵する第1の熱媒体タンクと;
    第1の熱媒体タンクに熱媒体を冷却させて提供する熱電素子ブロックと;
    前記冷却した第1の熱媒体タンクの熱媒体を第1比率で前記混合器に提供し、前記第1の比率で提供した以外の熱媒体を前記熱電素子ブロックを通じて前記第1の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第1の3方向スイッチング弁と;
    高温熱媒体を貯蔵する第2の熱媒体タンクと;
    第2の熱媒体タンクに熱媒体を加熱して提供するヒーターと;
    前記加熱した第2の熱媒体タンクの熱媒体を第2比率で前記混合器に提供し、前記第2の比率で提供した以外の熱媒体を前記ヒーターを通じて前記第2の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第2の3方向スイッチング弁と;
    負荷から回収される熱媒体を前記第1比率で前記熱電素子ブロックに提供し、前記第2比率で前記ヒーターに提供する第3の3方向スイッチング弁と;を含むことを特徴とする半導体製造設備のための温度制御システム。
  8. 前記熱電素子ブロックは、前記第1の熱媒体タンクを基準としてタンク内の熱媒体を混合器に提供する温度で冷却させる第1の熱電素子ブロックと、前記回収熱媒体と前記バイパスされる熱媒体を冷却させて、前記第1の熱媒体タンクに提供する第2の熱電素子ブロックと、を含むことを特徴とする 請求項7に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  9. 前記ヒーターは、前記第2の熱媒体タンクの熱媒体温度を混合器に提供する温度で加熱させる第1のヒーターと、前記回収熱媒体と前記バイパスされる熱媒体を加熱し、前記第2の熱媒体タンクに提供する第2のヒーターとを含むことを特徴とする 請求項7に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  10. 前記熱電素子ブロックの冷却のために前記熱電素子ブロックを経由する冷却水流路をさらに含むことを特徴とする 請求項7に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  11. 前記ヒーターに提供される回収熱媒体と前記バイパスされる熱媒体の温度と前記熱電素子ブロックを通る冷却水の温度を比較し、前記冷却水の温度が、前記ヒーターに提供される回収熱媒体とバイパス熱媒体の温度を所望の温度で加熱または冷却することができる範囲であるときに動作する熱交換器をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  12. 前記第1、第2及び第3の3方向スイッチング弁の制御は流量を基準とすることを特徴とする 請求項7に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  13. 低温熱媒体と高温熱媒体を混合し、半導体製造設備の負荷に供給する混合器と;
    低温熱媒体を貯蔵する第1の熱媒体タンクと;
    第1の熱媒体タンクに熱媒体を冷却させて提供する熱電素子ブロックと;
    前記冷却した第1の熱媒体タンクの熱媒体を第1比率で前記混合器に提供し、前記第1の比率で提供した以外の熱媒体を前記熱電素子ブロックを通じて前記第1の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第1の3方向スイッチング弁と;
    高温熱媒体を貯蔵する第2の熱媒体タンクと;
    第2の熱媒体タンクに熱媒体を加熱して提供するヒーターと;
    前記加熱した第2の熱媒体タンクの熱媒体を第2比率で前記混合器に提供し、前記第2の比率で提供した以外の熱媒体を前記ヒーターを通じて前記第2の熱媒体タンクが回収するようにバイパスさせる第2の3方向スイッチング弁と;
    負荷から回収される熱媒体を前記熱電素子ブロック及び前記ヒーターに分散提供する第3の3方向スイッチング弁と;
    前記熱電素子ブロックによって冷却する熱媒体の温度と前記ヒーターによって加熱される熱媒体の温度を測定し、前記第1、第2及び第3の3方向スイッチング弁の動作による各弁の連結部流量を測定するセンサー部と;
    前記熱電素子ブロックの冷却温度とヒーターの加熱温度及び負荷に供給する混合熱媒体の温度に対する設定値を受信し、前記センサー部の各部の温度を基準として前記熱電素子ブロックとヒーターの動作を制御する温度制御部と;
    前記センサー部が提供する各部の流量と冷却及び加熱した熱媒体の温度を基準として前記第1及び第2の3方向スイッチング弁を第1及び第2比率で制御し、回収熱媒体を前記熱電素子ブロック及びヒーターに分散提供する前記第3の3方向スイッチング弁の動作の比率を供給時の比率を反映して制御する弁制御部と;を含むことを特徴とする半導体製造設備のための温度制御システム。
  14. 前記熱電素子ブロックは、前記第1の熱媒体タンクを基準としてタンク内の熱媒体を混合器に提供する温度で冷却させる第1の熱電素子ブロックと、前記回収熱媒体と前記バイパスされる熱媒体を冷却させて、前記第1の熱媒体タンクに提供する第2の熱電素子ブロックと、を含み、
    前記温度制御部は、前記第1の熱電素子ブロックと第2の熱電素子ブロックの冷却温度を相異に制御し、前記第1及び第2の熱電素子ブロックに対する熱衝撃を低減することを特徴とする 請求項13に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  15. 前記ヒーターは、前記第2の熱媒体タンクの熱媒体温度を混合器に提供する温度で加熱させる第1のヒーターと、前記回収熱媒体と前記バイパスされる熱媒体を加熱し、前記第2の熱媒体タンクに提供する第2のヒーターと、を含み、
    前記温度制御部は、前記第1のヒーターと第2のヒーターの加熱温度を相異に制御し、前記第1及び第2のヒーターに対する熱衝撃を低減することを特徴とする 請求項13に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  16. 前記熱電素子ブロックの冷却のために前記熱電素子ブロックを経由する冷却水流路をさらに含むことを特徴とする 請求項13に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
  17. 前記熱電素子ブロックを経由する冷却水流路と連結され、熱交換弁によって前記ヒーターに提供される回収熱媒体及び前記バイパスされる熱媒体と選択的に熱交換を実施する熱交換器をさらに含み、
    前記センサー部は、前記熱交換器に提供される冷却水の温度と前記ヒーターに提供される回収熱媒体とバイパス熱媒体の温度をさらに測定し、
    前記弁制御部は、前記熱交換器に提供される冷却水の温度が前記ヒーターに提供される回収熱媒体及びバイパス熱媒体が混合した熱媒体の温度を所望の温度で加熱または冷却させることができる範囲であるときに熱交換弁を制御し、熱交換を実施するようにすることを特徴とする 請求項13に記載の半導体製造設備のための温度制御システム。
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Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101630693B1 (ko) * 2015-01-15 2016-06-15 (주)테키스트 냉각수 순환을 이용한 반도체 제조 설비의 온도조절장치
KR101558425B1 (ko) * 2015-01-23 2015-10-12 (주)테키스트 냉매의 순환방향 전환이 가능한 냉동사이클을 이용한 반도체 제조 설비의 온도제어시스템
KR101558431B1 (ko) 2015-01-23 2015-10-12 (주)테키스트 냉매의 순환방향 전환이 가능한 반도체 제조 설비의 온도제어시스템
KR101558426B1 (ko) 2015-01-23 2015-10-12 (주)테키스트 냉매의 순환방향 전환이 가능한 열교환기를 이용한 반도체 제조 설비의 온도제어시스템
KR101533696B1 (ko) * 2015-02-17 2015-07-03 (주)테키스트 냉각성능이 향상된 열전소자를 이용한 온도제어장치
US10283384B2 (en) * 2015-04-27 2019-05-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method for etching etch layer and wafer etching apparatus
JP5938506B1 (ja) * 2015-09-17 2016-06-22 株式会社日立国際電気 基板処理システム、半導体装置の製造方法、プログラム及び記録媒体
TWI587114B (zh) * 2016-02-05 2017-06-11 致茂電子股份有限公司 雙迴路溫度控制模組及具備該模組之電子元件測試設備
US10845375B2 (en) * 2016-02-19 2020-11-24 Agjunction Llc Thermal stabilization of inertial measurement units
KR101739369B1 (ko) 2016-03-31 2017-05-24 주식회사 에프에스티 반도체 공정 설비용 온도 제어시스템
US11837479B2 (en) * 2016-05-05 2023-12-05 Applied Materials, Inc. Advanced temperature control for wafer carrier in plasma processing chamber
KR101862003B1 (ko) * 2016-06-09 2018-05-29 주식회사 에프에스티 유닛 분리형 반도체 공정 설비용 칠러 시스템
KR101910347B1 (ko) * 2016-12-05 2018-10-23 주식회사 글로벌스탠다드테크놀로지 반도체 제조설비의 고도화 온도제어장치
JP6823494B2 (ja) * 2017-02-24 2021-02-03 伸和コントロールズ株式会社 温度制御装置
JP6990058B2 (ja) 2017-07-24 2022-01-12 伸和コントロールズ株式会社 温度制御装置
US10510564B2 (en) * 2018-01-10 2019-12-17 Lam Research Corporation Dynamic coolant mixing manifold
US11164759B2 (en) * 2018-05-10 2021-11-02 Micron Technology, Inc. Tools and systems for processing one or more semiconductor devices, and related methods
US10741429B2 (en) * 2018-06-21 2020-08-11 Lam Research Corporation Model-based control of substrate processing systems
KR20200023988A (ko) 2018-08-27 2020-03-06 삼성전자주식회사 정전 척 및 상기 정전 척을 탑재한 웨이퍼 식각 장치
KR101975007B1 (ko) * 2018-09-19 2019-05-07 (주)본씨앤아이 반도체 설비 냉각용 냉각 시스템
CN110544663A (zh) * 2018-10-31 2019-12-06 北京北方华创微电子装备有限公司 静电吸附卡盘的循环液系统
KR102179060B1 (ko) * 2019-01-31 2020-11-16 유니셈 주식회사 열 매체의 혼합장치를 적용한 칠러 장치
KR102148773B1 (ko) 2019-11-28 2020-08-27 (주)유니테스트 챔버의 부하 온도 개선을 위한 오토 바이어스 제어 방법 및 시스템
KR102403661B1 (ko) * 2020-02-19 2022-05-31 (주)피티씨 반도체 공정용 칠러 장치
KR102275434B1 (ko) 2021-05-09 2021-07-12 동주에이피 주식회사 반도체 칠러장치용 밸브 모듈
KR102372462B1 (ko) * 2021-07-07 2022-03-08 황인기 급속가열과 급속냉각이 가능한 반도체 웨이퍼 장비용 칠러
KR102433253B1 (ko) 2021-09-02 2022-08-18 주식회사 에프에스티 반도체 공정 설비에 사용되는 독립형 칠러 시스템
CN113589682B (zh) * 2021-09-28 2021-12-28 南方电网调峰调频发电有限公司 一种主变冷却器切换方法及系统
DE102021214258A1 (de) 2021-12-13 2023-06-15 Volkswagen Aktiengesellschaft Wärmepumpenkaskade und Verfahren zur Erwärmung oder Abkühlung eines Kühlmittels mittels einer Wärmepumpenkaskade
CN114864441B (zh) * 2022-04-26 2023-04-07 上海稷以科技有限公司 一种晶圆加热盘的温度补偿方法
KR102538605B1 (ko) * 2022-11-01 2023-06-01 솔리드(주) 냉각액 순환시스템

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6117245A (en) * 1998-04-08 2000-09-12 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for controlling cooling and heating fluids for a gas distribution plate
WO2000074117A1 (en) * 1999-05-27 2000-12-07 Matrix Integrated Systems, Inc. Rapid heating and cooling of workpiece chucks
US6295819B1 (en) * 2000-01-18 2001-10-02 Midwest Research Institute Thermoelectric heat pump fluid circuit
JP3786871B2 (ja) * 2001-12-26 2006-06-14 株式会社小松製作所 熱媒流体を用いて対象物の温度を調節するための装置及び方法
US6634177B2 (en) * 2002-02-15 2003-10-21 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Apparatus for the real-time monitoring and control of a wafer temperature
US6908512B2 (en) * 2002-09-20 2005-06-21 Blue29, Llc Temperature-controlled substrate holder for processing in fluids
JP2005210080A (ja) * 2003-12-25 2005-08-04 Tokyo Electron Ltd 温度調節方法及び温度調節装置
TW200745067A (en) * 2006-03-14 2007-12-16 Astrazeneca Ab Novel compounds
KR100817419B1 (ko) 2007-04-20 2008-03-27 (주)테키스트 열전소자의 극성전환을 이용한 반도체 제조설비의 온도제어시스템
JP5032269B2 (ja) * 2007-11-02 2012-09-26 東京エレクトロン株式会社 被処理基板の温度調節装置及び温度調節方法、並びにこれを備えたプラズマ処理装置
WO2010053173A1 (ja) * 2008-11-10 2010-05-14 株式会社Kelk 半導体ウェーハの温度制御装置および温度制御方法
US8410393B2 (en) * 2010-05-24 2013-04-02 Lam Research Corporation Apparatus and method for temperature control of a semiconductor substrate support
KR20130031945A (ko) * 2011-09-22 2013-04-01 삼성전자주식회사 로딩용 척의 온도 제어 설비 및 온도 제어 방법
JP5905735B2 (ja) * 2012-02-21 2016-04-20 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び基板温度の設定可能帯域の変更方法
KR101227153B1 (ko) * 2012-09-05 2013-01-31 (주)테키스트 열전소자를 이용한 반도체 제조 설비의 광역 온도제어시스템
KR101302156B1 (ko) 2013-05-08 2013-08-30 (주)테키스트 반도체 제조 설비를 위한 실시간 열량 모니터링 기반 열전소자 온도제어 시스템

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