JP6063333B2 - ガス検出装置、ガス検出方法、及び光学部品 - Google Patents
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Description
図1乃至図9を参照して第1実施形態について説明する。図1は、ガス検出装置の概略的な断面構成を示す模式図である。図2は、ガス検出装置に組み込まれる窓材の概略的な構成を示す模式図であり、同図(a)にて窓材の部分的かつ概略的な上面構成を示し、同図(b)にて窓材の概略的な断面構成を示す。図3は、ガス検出装置に組み込まれる窓材の製造方法を示す工程図である。図4は、ガス検出装置に組み込まれる窓材の上面を写した写真である。図5は、ガス検出装置に組み込まれる窓材の導電性薄膜の光学的開口の間隔と透過スペクトルの透過ピークの最大透過率の波長(λmax)の関係を示すグラフである。図6は、ガス検出装置に組み込まれる窓材の導電性薄膜の透過スペクトルの対比を示すグラフである。図7Aは、ガス検出装置に組み込まれる窓材の導電性薄膜の透過スペクトルとターゲットガスの吸収スペクトルを同一波長軸にて示すグラフであり、透過スペクトルと吸収スペクトルとが重畳することを示す。図7Bは、ガス検出装置に組み込まれる窓材の導電性薄膜の透過スペクトルとターゲットガスの吸収スペクトルを同一波長軸にて示すグラフであり、λtrmaxとλabmaxが一致することを示す。図8は、ターゲットガス濃度と出力電圧の関係を示すグラフである。図9は、ターゲットガス濃度と吸光度の変化の関係を示すグラフである。
図10を参照して第2実施形態について説明する。図10は、ガス検出装置の概略的な断面構成を示す模式図である。本実施形態においては、ガスセル110の内面上に第1実施形態で説明したものに等しい導電性薄膜を設け、またこの導電性薄膜を光源410から光検出部420に至る光路上に配置する。これにより、導電性薄膜とターゲットガスのより十分な相互作用面積を確保することができる。本実施形態の場合にも第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
図11を参照して第3実施形態について説明する。図11は、ガス検出装置の概略的な断面構成を示す模式図である。本実施形態においては、ガスセル110が積分球の如く球状の反射性の内面を有し、そのガスセル110の反射性の球面に第1実施形態で説明したものに等しい導電性薄膜を設ける。導電性薄膜は光源410から光検出部420に至る光路上に配置される。導電性薄膜とターゲットガスのより十分な相互作用面積を確保することができる。本実施形態の場合にも第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
図12を参照して第4実施形態について説明する。図12は、ガス検出装置に組み込まれる窓材の部分的かつ概略的な上面構成を示す模式図である。上述の実施形態においては、導電性薄膜に設ける光学的開口の開口形状が円形であったが、これを多角形としても良い。多角形とする場合、エッジに光が局在しやすいという光のエッジ効果に由来して光学的開口のエッジにおいて光源410の放射光とターゲットガスの相互作用を十分に促進することが予測される。本実施形態の場合にも第1実施形態と同様の効果を得ることができる。また、円形の光学的開口が導電性薄膜に設けられた場合と比較して導電性薄膜の近傍でのターゲットガスと光の相互作用をより十分にすることが見込まれる。
図13及び図14は、実施例と比較例の比較結果を示すグラフである。■が、図1に示した構成に等しい実施例の評価結果を示し、これを実施例1とする。●が図1に示した構成において2枚の導電性薄膜のうち一方を支持基板のターゲットガスに接しない側に設けた実施例の評価結果を示し、これを実施例2とする。▲が、図1に示した構成において2枚の導電性薄膜の両方を支持基板のターゲットガスに接しない側に設けた比較例の評価結果を示す。
110 ガスセル
120 ガス導入部
130 セル内空間
140 ガス排出部
200 窓材
210 支持基板
220 導電性薄膜
300 窓材
310 支持基板
320 導電性薄膜
410 光源
420 光検出部
510 回路部
520 表示部
Claims (9)
- 吸収スペクトルにおいて吸収ピークを呈するターゲットガスが供給される空間と、
少なくとも前記吸収ピークに属する波長の光を生成可能である光源と、
前記光源から放射されて前記空間を伝播した光を検出可能である光検出部と、を備えるガス検出装置であって、
前記吸収スペクトルの前記吸収ピークに対して透過スペクトルの透過ピークが波長軸上で重畳するように複数の光学的開口が規則的に配置され、前記光源からの光を受けて表面プラズモンポラリトンが励起されて前記光学的開口の間隔に応じた前記透過ピークの光を透過する導電性薄膜と、
前記光源から放射された光の前記空間への伝播を中継する、若しくは前記光源から放射されて前記空間を伝播した光の前記光検出部への伝播を中継する窓材を更に備え、
前記導電性薄膜が、少なくとも前記光源から前記光検出部に至る光路上の前記窓材上に設けられ、かつ前記空間内の前記ターゲットガスに接触可能に設けられる、ガス検出装置。 - 前記複数の光学的開口は、前記導電性薄膜の平面において互いに直交関係の第1及び第2方向に沿って所定間隔をあけて2次元状に配置される、請求項1に記載のガス検出装置。
- 前記複数の光学的開口が、前記第1方向に沿って前記光学的開口が配置された第1及び第2光学的開口列を含み、前記第2光学的開口列が、前記第1光学的開口列に対して前記第2方向に隣接して配置され、前記第2光学的開口列における前記光学的開口の配列位置が、前記第1光学的開口列における前記光学的開口の配列位置に対して前記所定間隔の半分の値だけ前記第1方向にシフトしている、請求項2に記載のガス検出装置。
- 前記第1方向に沿って前記光学的開口が配置された光学的開口列において隣接する前記光学的開口同士の間隔と、当該光学的開口列における前記光学的開口に対して斜め方向において隣接する他の光学的開口列における前記光学的開口との間隔とが等しい、請求項2又は3に記載のガス検出装置。
- 前記複数の光学的開口は、各々、三角格子の構成単位の三角形の頂点に対応する位置に設けられる、請求項1乃至4のいずれか一項に記載のガス検出装置。
- 前記導電性薄膜が、銀、金、銅、クロム、アルミニウム、及び鉄から成る群から選択される、請求項1乃至5のいずれか一項に記載のガス検出装置。
- 前記空間が、ガス導入部及びガス排出部を有するガスセルにより画定される、請求項1乃至6のいずれか一項に記載のガス検出装置。
- 前記空間が、ガス導入部及びガス排出部を有するガスセルにより画定され、当該ガスセルの反射性の内面には前記導電性薄膜が設けられる、請求項1乃至7のいずれか一項に記載のガス検出装置。
- 前記空間が、反射性の球面により画定され、当該球面上に前記導電性薄膜が設けられる、請求項1乃至8のいずれか一項に記載のガス検出装置。
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US20030023181A1 (en) * | 2001-07-26 | 2003-01-30 | Mault James R. | Gas analyzer of the fluorescent-film type particularly useful for respiratory analysis |
US6998613B2 (en) * | 2003-04-22 | 2006-02-14 | Raytheon Company | Integrated spectroscopic microbolometer with microfilter arrays |
US7132657B2 (en) | 2004-02-09 | 2006-11-07 | Sensor Electronics Corporation | Infrared gas detector |
US20060044562A1 (en) * | 2004-08-25 | 2006-03-02 | Norsk Elektro Optikk As | Gas monitor |
WO2007083817A1 (en) | 2006-01-18 | 2007-07-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Target substance-detecting element |
JP2007218900A (ja) * | 2006-01-18 | 2007-08-30 | Canon Inc | 標的物質検出用の素子 |
JP2010139299A (ja) | 2008-12-10 | 2010-06-24 | Akebono Brake Ind Co Ltd | ガスセンサ |
JP5452140B2 (ja) * | 2009-09-03 | 2014-03-26 | 日本航空電子工業株式会社 | 水素検出用表面プラズモン共鳴素子、表面プラズモン共鳴式光学水素検出器及び表面プラズモン共鳴を利用して光学的に水素を検出する方法 |
JP5971789B2 (ja) * | 2010-08-31 | 2016-08-17 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 | ファイバー用プローブの作製方法 |
US20120190997A1 (en) | 2011-01-21 | 2012-07-26 | Carefusion 2200, Inc. | Main stream gas analyzing device |
JP6102184B2 (ja) | 2012-10-31 | 2017-03-29 | 日立化成株式会社 | 調光素子、調光装置、調光フィルムの駆動方法、調光フィルムの駆動装置 |
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