JP6055822B2 - 太陽電池セル検査装置及び方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 78
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 72
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 43
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 40
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 40
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 34
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 claims description 21
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 19
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 11
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 238000013082 photovoltaic technology Methods 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
- H02S50/15—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells using optical means, e.g. using electroluminescence
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Description
また、本願は以下に記載する態様を含む。
(態様1)
光エネルギーを検査対象の太陽電池セルに向ける発光体と、
多数のフィルタのうちの異なるフィルタを、前記発光体と前記検査対象の太陽電池セルとの間の光路に選択的に位置決めすることにより、前記太陽電池セルの性能を測定する操作、及び前記太陽電池セルのいずれかの欠陥を検出する操作のうちの少なくとも一方の操作を行なう素子と、を備え、多数のフィルタは、前記発光体から前記検査対象の太陽電池セルに向かう光エネルギーの強度の所定の割合を透過するように各フィルタを適合させた第1集合のフィルタと、そして前記太陽電池セルを、異なるスペクトルの光の下で検査する第2集合のフィルタと、を備える、太陽電池セル検査装置。
(態様2)
前記多数のフィルタは更に、遮光フィルタを備えることにより、前記太陽電池セルの電界発光検査を実施して、所定アンペア数の電流が前記太陽電池セルを流れると、前記太陽電池セルからの発光光を検出する、態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様3)
更に:
前記遮光フィルタが前記発光体と前記太陽電池セルとの間に配置されると、前記電流を前記太陽電池セルに流す電流源と、
前記電流が前記太陽電池セルに流れて前記太陽電池セルからの発光光が検出されると、前記太陽電池セルの画像を撮影するカメラと、
多接合型太陽電池セルである前記太陽電池セルからの撮像光を、前記太陽電池セルの異なる層に対応する光エネルギーの異なる波長のビームに分離するビームスプリッタと、
を備える、態様2に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様4)
前記第1集合のフィルタは:
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の全てを透過する100パーセントフィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の66パーセントを透過する66パーセントフィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の33パーセントを透過する33パーセントフィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の10パーセントを透過する10パーセントフィルタと、
を備える、態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様5)
前記第2集合のフィルタは:
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう赤い部分を欠くスペクトルの光を透過する赤色フィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう青い部分を欠くスペクトルの光を透過する青色フィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう赤外線部分を欠くスペクトルの光を透過する赤外線フィルタと、
を備える、態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様6)
更に:
前記発光体と前記太陽電池セルとの間の所定位置に現在位置している複数フィルタのうちの1つのフィルタによってフィルタリングされた前記発光体からの前記光エネルギーを受光するビームスプリッタと、
積分球であって、前記ビームスプリッタが、前記発光体からの前記光エネルギーの1つの構成部分を前記積分球に向け、そして前記光エネルギーの別の構成部分を前記太陽電池セルに向ける、前記積分球と、
前記積分球に接続されて、受光した前記光エネルギーの前記構成部分を分析するスペクトルアナライザと、
を備える、態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様7)
更に:
前記発光体からの光の強度を測定する光検出器と、
各フィルタの下の前記太陽電池セルの電流と電圧の関係の曲線(I−V曲線)を測定する素子と、
を備える、態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様8)
前記多数のフィルタのうちの異なるフィルタを選択的に位置決めする前記素子は、前記多数のフィルタの各フィルタを、前記発光体と前記太陽電池セルとの間に位置決めすることにより、前記多数のフィルタの各フィルタに対応する前記太陽電池セルの性能特性を測定する機構を備える、態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様9)
前記異なるフィルタを選択的に位置決めする前記素子は:
回転ホイールであって、前記多数のフィルタの各フィルタが、前記ホイールのハブの周りに環状に配置されて、前記ホイールが前記ハブの周りを回転するときに、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体と前記太陽電池セルとの間に位置決めする、前記回転ホイールと、
エンコーダ及び駆動軸を含むモータと、を備え、前記モータの前記駆動軸は、前記ホイールの前記ハブに接続されて、前記ホイールを回転させることにより、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体と前記太陽電池セルとの間に順次位置決めする、
態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様10)
更に、前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の透過を制御する遮光体を備える、態様1に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様11)
発光体と、
多数のフィルタのうちの異なるフィルタを、前記発光体と検査対象の太陽電池セルとの間の光路に選択的に位置決めする素子と、
前記多数のフィルタのうちの選択フィルタからの光の所定の構成部分を前記太陽電池セルに向けて、前記太陽電池セルの性能を測定する操作、及び前記太陽電池セルのいずれかの欠陥を検出する操作のうちの少なくとも一方の操作を行ない、そして前記光エネルギーの別の所定の構成部分を、前記発光体と前記太陽電池セルとの間の前記光路に位置決めされる前記多数のフィルタのうちの前記選択フィルタからの光の特性を測定する装置に向けるビームスプリッタと、
を備える、太陽電池セル検査装置。
(態様12)
更に、前記太陽電池セルの性能特性を測定する操作、及び前記太陽電池セルのいずれかの欠陥を検出する操作のうちの少なくとも一方の操作を行なう素子を備える、態様11に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様13)
前記太陽電池セルは、第1スペクトルの光に反応する上部半導体材料層と、第2スペクトルの光に反応する中間半導体材料層と、そして第3スペクトルの光に反応する下部半導体材料層と、を備え、そして前記多数のフィルタのうちの異なるフィルタを、選択的に位置決めする前記素子は:
光エネルギーの100パーセントを透過して太陽電池セルを、全電力を受けた状態で検査する第1フィルタに対応する第1フィルタ位置と、
太陽電池セルを、前記第2フィルタを透過した光エネルギーの所定の割合に対応する所定の割合の電力を受けた状態で検査する第2フィルタを含む第2フィルタ位置と、
前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記上部半導体材料層が反応する前記第1スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査する第3フィルタを含む第3フィルタ位置と、
前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記中間半導体材料層が反応する前記第2スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査する第4フィルタを含む第4フィルタ位置と、
前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記下部半導体材料層が反応する前記第3スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査する第5フィルタを含む第5フィルタ位置と、
前記太陽電池セルを、前記発光体からの光をフィルタリングして、前記太陽電池セルの電流−電圧特性曲線を暗状態で、または光を前記太陽電池セルが受光しない状態で測定することにより検査する第6フィルタを含む第6フィルタ位置と、
光を遮光して、電界発光検査を前記太陽電池セルに対して実施する第7フィルタを含む第7フィルタ位置と、
を含む、態様11に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様14)
前記多数のフィルタは:各フィルタを、前記発光体からの光エネルギーの強度の所定の割合を透過するように適合させた第1集合のフィルタと、
前記太陽電池セルを、異なるスペクトルの光の下で検査する第2集合のフィルタと、
前記太陽電池セルの電界発光検査を実施して、前記太陽電池セルからの発光光を、所定のアンペア数の電流が前記太陽電池セルを流れると検出する遮光フィルタと、
を備える、態様11に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様15)
前記第1集合のフィルタは:
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の全てを透過する100パーセントフィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の約66パーセントを透過する66パーセントフィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の約33パーセントを透過する33パーセントフィルタと、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の約10パーセントを透過する10パーセントフィルタと、
を備える、態様14に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様16)
前記第2集合のフィルタは:
赤色成分を欠くスペクトルの光を前記発光体から前記太陽電池セルに向かって透過する赤色フィルタと、
青色成分を欠くスペクトルの光を前記発光体から前記太陽電池セルに向かって透過する青色フィルタと、
赤外線成分を欠くスペクトルの光を前記発光体から前記太陽電池セルに向かって透過する赤外線フィルタと、
を備える、態様14に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様17)
前記異なるフィルタを選択的に位置決めする前記素子は:
回転ホイールであって、前記多数のフィルタの各フィルタが、前記ホイールの前記ハブの周りに環状に配置されて、前記ホイールが前記ハブの周りを回転するときに、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体と前記太陽電池セルとの間に位置決めする、前記回転ホイールと、
エンコーダ及び駆動軸を含むモータと、を備え、前記モータの前記駆動軸は、前記ホイールの前記ハブに接続されて、前記ホイールを回転させることにより、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体と前記太陽電池セルとの間に順次位置決めする、
態様11に記載の太陽電池セル検査装置。
(態様18)
太陽電池セルを検査する方法であって:
前記太陽電池セルに向けられる光を、多数のフィルタの各フィルタによってフィルタリングして、前記太陽電池セルの性能を測定する操作、及び前記太陽電池セルのいずれかの欠陥を検出する操作のうちの少なくとも一方の操作を行なうことと、
光を分解して、フィルタリングした光の所定の構成部分を前記太陽電池セルに向け、そして光の別の所定の構成部分を、前記多数のフィルタの各フィルタからの光の特性を測定する装置に向けることと、
を含む、方法。
(態様19)
光をフィルタリングすることでは:
第1集合のフィルタの各フィルタを、発光体と前記太陽電池セルとの間の光路に位置決めし、各フィルタが、光エネルギーの強度の所定の割合を透過して前記太陽電池セルを異なる強度の光の下で検査するように適合させ、
第2集合のフィルタの各フィルタを、前記発光体と前記太陽電池セルとの間の前記光路に位置決めし、各フィルタが、前記太陽電池セルを異なるスペクトルの光の下で検査するように適合させ、
遮光フィルタを前記光路に位置決めして、前記太陽電池セルの電界発光検査を実施することにより、所定のアンペア数の電流が前記太陽電池セルを流れると、前記太陽電池セルからの発光光を検出する、
態様18に記載の方法。
(態様20)
前記太陽電池セルは、光の第1スペクトルに反応する上部半導体材料層と、光の第2スペクトルに反応する中間半導体材料層と、そして光の第3スペクトルに反応する下部半導体材料層と、を備え、そして光をフィルタリングすることでは:
光エネルギーの100パーセントを透過して太陽電池セルを、全電力を受けた状態で検査するように適合させた第1フィルタを位置決めし、
光フィルタリング特性を有する第2フィルタを位置決めして前記太陽電池セルを、前記第2フィルタを透過する光エネルギーの所定の割合に対応する所定の割合の電力を受けた状態で検査し、
光フィルタリング特性を有する第3フィルタを位置決めして前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記上部半導体材料層が反応する前記第1スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査し、
光フィルタリング特性を有する第4フィルタを位置決めして前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記中間半導体材料層が反応する前記第2スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査し、
光フィルタリング特性を有する第5フィルタを位置決めして前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記下部半導体材料層が反応する前記第3スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査し、
光フィルタリング特性を有する第6フィルタを位置決めして前記太陽電池セルを、前記発光体からの光をフィルタリングして、暗電流−電圧特性曲線を測定することにより検査し;そして光フィルタリング特性を有する第7フィルタを位置決めして、電界発光検査を前記太陽電池セルに対して実施する、態様18に記載の方法。
Claims (11)
- 光エネルギーを検査対象の太陽電池セル(204)に向ける発光体(202)と、
多数のフィルタ(216)のうちの異なるフィルタを、前記発光体と前記検査対象の太陽電池セルとの間の光路(218)に選択的に位置決めすることにより、前記太陽電池セルの性能を測定する操作、及び前記太陽電池セルのいずれかの欠陥を検出する操作のうちの少なくとも一方の操作を行なう素子(214)と、を備え、前記多数のフィルタは、第1集合フィルタ(216a)であって、前記発光体から前記検査対象の太陽電池セルに向かう光エネルギーの強度の所定の割合を透過するように該第1集合フィルタの各フィルタを適合させた第1集合フィルタ(216a)と、前記太陽電池セルを、異なるスペクトルの光の下で検査することにより異なる太陽電池の層を検査する第2集合フィルタ(216b)と、を備えた太陽電池セル検査装置であって、
前記異なるフィルタ(216)を選択的に位置決めする前記素子(214)は:
回転ホイールであって、前記多数のフィルタの各フィルタが、前記ホイールのハブの周りに環状に配置されて、前記ホイールが前記ハブの周りを回転するときに、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体(202)と前記太陽電池セル(204)との間に位置決めする、前記回転ホイール(222)と、
エンコーダ(226)及び駆動軸(230)を含むモータ(224)と、を備え、前記モータの前記駆動軸は、前記ホイールの前記ハブに接続されて、前記ホイールを回転させることにより、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体と前記太陽電池セルとの間に順次位置決めする、太陽電池セル検査装置(200)。
- 前記多数のフィルタ(216)は更に、遮光フィルタ(316)を備えることにより、前記太陽電池セル(204)の電界発光検査を実施して、所定アンペア数の電流が前記太陽電池セルを流れると、前記太陽電池セルからの発光光を検出し、
更に、前記太陽電池セル検査装置は:
前記遮光フィルタ(316)が前記発光体(202)と前記太陽電池セルとの間に配置されると、前記電流を前記太陽電池セル(204)に流す電流源(256)と、
前記電流が前記太陽電池セルに流れて前記太陽電池セルからの発光光が検出されると、前記太陽電池セルの画像を撮影するカメラ(240)と、
多接合型太陽電池セルである前記太陽電池セルの画像を、前記太陽電池セルの異なる層に対応する光エネルギーの異なる波長のビームに分離するビームスプリッタ(234)と、
を備える、請求項1に記載の太陽電池セル検査装置(200)。 - 前記第1集合フィルタ(216a)は:
前記発光体(202)から前記太陽電池セル(204)に向かう光の強度の全てを透過する100パーセントフィルタ(302)と、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の66パーセントを透過する66パーセントフィルタ(304)と、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の33パーセントを透過する33パーセントフィルタ(306)と、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう光の強度の10パーセントを透過する10パーセントフィルタ(308)と、
を備える、請求項1に記載の太陽電池セル検査装置(200)。 - 前記第2集合フィルタ(216b)は:
前記発光体(202)から前記太陽電池セル(204)に向かう赤い部分を欠くスペクトルの光を透過する赤色フィルタ(312)と、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう青い部分を欠くスペクトルの光を透過する青色フィルタ(310)と、
前記発光体から前記太陽電池セルに向かう赤外線部分を欠くスペクトルの光を透過する赤外線フィルタ(314)と、
を備える、請求項1に記載の太陽電池セル検査装置(200)。 - 更に:
前記発光体(202)と前記太陽電池セル(204)との間に現在位置している複数フィルタ(216)のうちの1つのフィルタによってフィルタリングされた前記発光体(202)からの前記光エネルギーを受光するビームスプリッタ(234)と、
積分球(244)であって、前記ビームスプリッタが、前記発光体からの前記光エネルギーの一部分を前記積分球に向け、そして前記光エネルギーの別の一部分を前記太陽電池セルに向ける、前記積分球と、
前記積分球に連結されて、受光した前記光エネルギーの前記一部分を分析するスペクトルアナライザ(250)と、
を備える、請求項1に記載の太陽電池セル検査装置(200)。 - 更に:
前記発光体(202)からの光の強度を測定する光検出器(254)と、
各フィルタ(216)の下の前記太陽電池セル(204)の電流電圧曲線(I−V曲線)を測定する素子と、
を備える、請求項1に記載の太陽電池セル検査装置(200)。 - 更に、前記発光体(202)から前記太陽電池セル(204)に向かう光の透過を制御する遮光体(212)を備える、請求項1に記載の太陽電池セル検査装置(200)。
- 請求項1に記載の太陽電池セル検査装置(200)であって、さらに、
前記多数のフィルタ(216)のうちの選択されたフィルタからの光の所定の一部分を前記太陽電池セル(204)に向けて、前記太陽電池セルの性能を測定する操作、及び前記太陽電池セルのいずれかの欠陥を検出する操作のうちの少なくとも一方の操作を行ない、そして前記光エネルギーの別の所定の一部分を、前記発光体(202)と前記太陽電池セルとの間の前記光路(218)に位置決めされる前記多数のフィルタのうちの前記選択されたフィルタからの光の特性を測定する装置に向けるビームスプリッタ(234)、
を備える、太陽電池セル検査装置。 - 太陽電池セル(204)を検査する方法(400)であって:
前記太陽電池セルに向けられる光を、多数のフィルタ(216)の各フィルタによってフィルタリング(408)して、前記太陽電池セルの性能を測定する操作、及び前記太陽電池セルのいずれかの欠陥を検出する操作のうちの少なくとも一方の操作を行なうことであって、前記多数のフィルタは、第1集合フィルタ(216a)であって、発光体から検査対象の前記太陽電池セルに向かう光エネルギーの強度の所定の割合を透過するように該第1集合フィルタの各フィルタを適合させた第1集合フィルタ(216a)と、前記太陽電池セルを、異なるスペクトルの光の下で検査することにより異なる太陽電池の層を検査する第2集合フィルタ(216b)とを備える、フィルタリングすることと、
光を分割(410)して、フィルタリングした光の所定の一部分を前記太陽電池セルに向け、そして光の別の所定の一部分を、前記多数のフィルタの各フィルタからの光の特性を測定する装置に向けることと、
を含み、
前記フィルタリング(408)することは、前記多数のフィルタ(216)のうちの異なるフィルタを素子(214)によって選択的に位置決めすることを含み、前記素子は、
回転ホイールであって、前記多数のフィルタの各フィルタが、前記ホイールのハブの周りに環状に配置されて、前記ホイールが前記ハブの周りを回転するときに、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体(202)と前記太陽電池セル(204)との間に位置決めする、前記回転ホイール(222)と、
エンコーダ(226)及び駆動軸(230)を含むモータ(224)と、を備え、
前記モータの前記駆動軸は、前記ホイールの前記ハブに接続されて、前記ホイールを回転させることにより、前記フィルタ群の各フィルタを前記発光体と前記太陽電池セルとの間に順次位置決めする、方法。 - 光をフィルタリング(408)することでは:
第1集合フィルタ(216a)の各フィルタを、発光体(202)と前記太陽電池セル(204)との間の光路(218)に位置決め(418)し、該第1集合フィルタの各フィルタが、光エネルギーの強度の所定の割合を透過して前記太陽電池セルを異なる強度の光の下で検査するように適合させ、
第2集合フィルタ(216b)の各フィルタを、前記発光体と前記太陽電池セルとの間の前記光路に位置決め(418)し、
遮光フィルタ(316)を前記光路(218)に位置決め(420)して、前記太陽電池セルの電界発光検査を実施することにより、所定のアンペア数の電流が前記太陽電池セルを流れると、前記太陽電池セルからの発光光を検出する、
請求項9に記載の方法。 - 請求項9に記載の方法(400)であって、
前記太陽電池セル(100、204)は、光の第1スペクトルに反応する上部半導体材料層(102)と、光の第2スペクトルに反応する中間半導体材料層(104)と、そして光の第3スペクトルに反応する下部半導体材料層(106)と、を備え、そして光をフィルタリング(408)することでは:
光エネルギーの100パーセントを透過して太陽電池セルを、全電力を受けた状態で検査するように適合させた第1フィルタを位置決め(418)し、
光フィルタリング特性を有する第2フィルタを位置決め(418)して前記太陽電池セルを、前記第2フィルタを透過する光エネルギーの所定の割合に対応する所定の割合の電力を受けた状態で検査し、
光フィルタリング特性を有する第3フィルタを位置決め(418)して前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記上部半導体材料層が反応する前記第1スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査し、
光フィルタリング特性を有する第4フィルタを位置決め(418)して前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記中間半導体材料層が反応する前記第2スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査し、
光フィルタリング特性を有する第5フィルタを位置決め(418)して前記太陽電池セルを、前記太陽電池セルの前記下部半導体材料層が反応する前記第3スペクトルの光に対応するスペクトルの光をフィルタリングすることにより検査し、
光フィルタリング特性を有する第6フィルタを位置決め(418)して前記太陽電池セルを、前記発光体からの光をフィルタリングして、暗電流−電圧特性曲線を測定することにより検査し;そして光フィルタリング特性を有する第7フィルタを位置決め(420)して、電界発光検査を前記太陽電池セルに対して実施する、方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/157,826 | 2011-06-10 | ||
US13/157,826 US9863890B2 (en) | 2011-06-10 | 2011-06-10 | Solar cell testing apparatus and method |
PCT/US2012/038849 WO2012170191A1 (en) | 2011-06-10 | 2012-05-21 | Solar cell testing apparatus and method |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014523728A JP2014523728A (ja) | 2014-09-11 |
JP2014523728A5 JP2014523728A5 (ja) | 2016-07-07 |
JP6055822B2 true JP6055822B2 (ja) | 2016-12-27 |
Family
ID=46229922
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014514479A Active JP6055822B2 (ja) | 2011-06-10 | 2012-05-21 | 太陽電池セル検査装置及び方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9863890B2 (ja) |
EP (1) | EP2718697B1 (ja) |
JP (1) | JP6055822B2 (ja) |
KR (4) | KR20170107095A (ja) |
CN (2) | CN108627523A (ja) |
ES (1) | ES2818376T3 (ja) |
WO (1) | WO2012170191A1 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN101915859A (zh) | 2010-07-13 | 2010-12-15 | 常州亿晶光电科技有限公司 | El测试仪的拉板遮光装置 |
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-
2011
- 2011-06-10 US US13/157,826 patent/US9863890B2/en active Active
-
2012
- 2012-05-21 JP JP2014514479A patent/JP6055822B2/ja active Active
- 2012-05-21 CN CN201810417248.6A patent/CN108627523A/zh active Pending
- 2012-05-21 KR KR1020177025433A patent/KR20170107095A/ko active Application Filing
- 2012-05-21 ES ES12726523T patent/ES2818376T3/es active Active
- 2012-05-21 CN CN201280028502.4A patent/CN103597341A/zh active Pending
- 2012-05-21 KR KR1020177025440A patent/KR20170106504A/ko not_active Application Discontinuation
- 2012-05-21 EP EP12726523.9A patent/EP2718697B1/en active Active
- 2012-05-21 WO PCT/US2012/038849 patent/WO2012170191A1/en active Application Filing
- 2012-05-21 KR KR1020137026372A patent/KR20140022826A/ko active Application Filing
- 2012-05-21 KR KR1020197000141A patent/KR20190003865A/ko active Search and Examination
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES2818376T3 (es) | 2021-04-12 |
JP2014523728A (ja) | 2014-09-11 |
KR20170107095A (ko) | 2017-09-22 |
EP2718697A1 (en) | 2014-04-16 |
KR20170106504A (ko) | 2017-09-20 |
US20120313661A1 (en) | 2012-12-13 |
KR20140022826A (ko) | 2014-02-25 |
CN103597341A (zh) | 2014-02-19 |
EP2718697B1 (en) | 2020-07-08 |
WO2012170191A1 (en) | 2012-12-13 |
KR20190003865A (ko) | 2019-01-09 |
US9863890B2 (en) | 2018-01-09 |
CN108627523A (zh) | 2018-10-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150520 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150520 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160223 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160224 |
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A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
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