JP6049132B2 - 液状組成物及び膜の製造方法 - Google Patents
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Description
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
フローテスター((株)島津製作所製の「CFT−500型」)を用いて、液晶ポリエステル約2gを、内径1mm及び長さ10mmのノズルを有するダイを取り付けたシリンダーに充填し、9.8MPa(100kg/cm2)の荷重下、4℃/分の速度で昇温しながら、液晶ポリエステルを溶融させ、ノズルから押し出し、4800Pa・s(48000P)の粘度を示す温度を測定した。
B型粘度計(東機産業(株)製の「TVL−20型」)を用いて、No.21のローターにより、回転数20rpmで測定した。
膜から50mm×50mmのサンプルを切り出し、JIS K7126のA法(差圧法)に準拠して、ガス透過率・透湿度測定装置(GTRテック(株)の「GTR−10X」)を用いて、温度40℃、相対湿度90%の条件で測定した。
膜から20mm×50mmのサンプルを切り出し、熱機械分析装置(セイコー電子(株)の「TMA」)を用いて、10gの荷重をかけながら、窒素気流下、10℃/分で250℃まで昇温した後、室温まで冷却し、次いで、10℃/分で250℃まで再加熱し、この再加熱時における200〜250℃での膜の線膨張係数を測定した。
[液晶ポリエステルの製造]
攪拌装置、トルクメータ、窒素ガス導入管、温度計及び還流冷却器を備えた反応器に、6−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸941g(5.0モル)、p−アミノフェノール273g(2.5モル)、イソフタル酸415.3g(2.5モル)及び無水酢酸1123g(11モル)を入れ、反応器内のガスを窒素ガスで置換した後、窒素ガス気流下、攪拌しながら、室温から150℃まで15分かけて昇温し、150℃で3時間還流させた。次いで、副生酢酸及び未反応の無水酢酸を留去しながら、150℃から290℃まで4時間15分かけて昇温し、290℃で30分保持した後、反応器から内容物を取り出し、室温まで冷却した。得られた固形物を、粉砕機で粉砕して、粉末状の液晶ポリエステル(1)を得た。この液晶ポリエステル(1)の流動開始温度は、181℃であった。
液晶ポリエステル(3)8gを、N−メチル−2−ピロリドン92gに加え、窒素雰囲気下、140℃で4時間攪拌して、液晶ポリエステル溶液を得た。この液晶ポリエステル溶液の粘度は1085cPであった。
粉末状のポリアミドイミド(ニッポン高度紙工業(株)の「ソクシール」)20gを、N−メチル−2−ピロリドン80gに加え、窒素雰囲気下、100℃で4時間攪拌して、ポリアミドイミド溶液を得た。このポリアミドイミド溶液の粘度は8000cPであった。
液晶ポリエステル溶液とポリアミドイミド溶液とを、攪拌脱泡機((株)キーエンスの「HM−500」)を用いて、5分間攪拌した後、5分間脱泡して、液状組成物を得た。ここで、液晶ポリエステル溶液とポリアミドイミド溶液との割合は、液晶ポリエステルとポリアミドイミドとが表1に示す質量割合になるように、質量基準で調整した。
液状組成物を、銅箔(三井金属鉱業(株)の「3EC−VLP」、厚さ18μm)のS面(粗面)上に塗布した後、100℃で30分乾燥し、次いで、窒素雰囲気下、300℃で1時間熱処理して、銅張積層板を得た。この銅張積層板から、塩化第二鉄溶液(木田(株)、40°ボーメ)を用いて、エッチングで銅箔を除去して、厚さ20μmの膜を得た。この膜の透湿度及び線膨張係数を測定し、結果を表1に示した。
Claims (5)
- ポリアミドイミドと、液晶ポリエステルと、非プロトン性化合物の占める割合が50質量%以上である溶媒とを含む液状組成物であって、
前記液晶ポリエステルが、それを構成する全繰返し単位の合計量に対して、下記式(1)で表される繰返し単位を30〜50モル%、下記式(2)で表される繰返し単位を25〜35モル%、下記式(3)で表される繰返し単位を25〜35モル%有する液晶ポリエステルであり、X及び/又はYがそれぞれイミノ基であり、
前記液状組成物中の前記液晶ポリエステルの含有量は、前記ポリアミドイミド及び前記液晶ポリエステルの合計量に対して、10〜30質量%である液状組成物。
(1)−O−Ar1−CO−
(2)−CO−Ar2−CO−
(3)−X−Ar3−Y−
(Ar1は、フェニレン基、ナフチレン基又はビフェニリレン基を表す。Ar2及びAr3は、それぞれ独立に、フェニレン基、ナフチレン基、ビフェニリレン基又は下記式(4)で表される基を表す。X及びYは、それぞれ独立に、酸素原子又はイミノ基を表す。Ar1、Ar2又はAr3で表される前記基にある水素原子は、それぞれ独立に、ハロゲン原子、アルキル基又はアリール基で置換されていてもよい。)
(4)−Ar4−Z−Ar5−
(Ar4及びAr5は、それぞれ独立に、フェニレン基又はナフチレン基を表す。Zは、酸素原子、硫黄原子、カルボニル基、スルホニル基又はアルキリデン基を表す。) - Ar1がp−フェニレン基又は2,6−ナフチレン基であり、Ar2がp−フェニレン基、m−フェニレン基又は2,6−ナフチレン基であり、Ar3がp−フェニレン基であり、Xがイミノ基であり、Yが酸素原子である請求項1に記載の液状組成物。
- 請求項1又は2に記載の液状組成物を支持基板上に流延した後、前記溶媒を除去する膜の製造方法。
- 前記膜がアルミ電解コンデンサー用セパレーターとして用いられる請求項3に記載の膜の製造方法。
- 前記膜がプリント配線基板用カバーレイとして用いられる請求項4に記載の膜の製造方法。
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