JP6048302B2 - 欠陥判定装置および欠陥判定方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施形態にかかる欠陥判定装置10の機能を説明するブロック図である。図1に示されるように、本発明の実施形態にかかる欠陥判定装置10は、検査データ取得手段11と、検査データ記憶手段12と、第1判定手段13と、擬正常記憶手段14と、擬欠陥記憶手段15と、第2判定手段16とを備える。
以下、本発明の実施形態にかかる欠陥判定方法について説明する。なお、以下の説明では、図1に示した構成を参照しながら本発明の実施形態にかかる欠陥判定方法について説明するが、本発明の実施形態は図1に示した構成に限定されるものではない。
11 検査データ取得手段
12 検査データ記憶手段
13 第1判定手段
14 擬正常記憶手段
15 擬欠陥記憶手段
16 第2判定手段
20 検査装置
Claims (2)
- 複数の被検査体についての検査データを取得する検査データ取得手段と、
前記複数の被検査体についての検査データを単位幅に分割した各領域についての欠陥の混入率を求め、少なくとも1つの領域についての欠陥の混入率が閾値を超えた場合に前記被検査体が擬欠陥であると判定する第1判定手段と、
前記擬欠陥と判定された被検査体における前記欠陥の混入率が閾値を超えた領域の幅方向の位置が、複数の被検査体において同一である場合に全長性欠陥が発生していると判定する第2判定手段と、を備え、
前記第1判定手段は、前記単位幅に分割した全ての領域の欠陥の混入率が閾値を超えない場合に前記被検査体は擬正常であると判定し、
前記第2判定手段は、擬正常であると判定された被検査体が全長性欠陥が発生していると判定された被検査体に挟まれている場合、擬正常であると判定された被検査体についても全長性欠陥が発生していると判定することを特徴とする欠陥判定装置。 - 複数の被検査体についての検査データを取得する検査データ取得ステップと、
前記複数の被検査体についての検査データを単位幅に分割した各領域についての欠陥の混入率を求め、少なくとも1つの領域についての欠陥の混入率が閾値を超えた場合に前記被検査体が擬欠陥であると判定する第1判定ステップと、
前記擬欠陥と判定された被検査体における前記欠陥の混入率が閾値を超えた領域の幅方向の位置が、複数の被検査体において同一である場合に全長性欠陥が発生していると判定する第2判定ステップと、を含み、
前記第1判定ステップは、前記単位幅に分割した全ての領域の欠陥の混入率が閾値を超えない場合に前記被検査体は擬正常であるとステップを含み、
前記第2判定ステップは、擬正常であると判定された被検査体が全長性欠陥が発生していると判定された被検査体に挟まれている場合、擬正常であると判定された被検査体についても全長性欠陥が発生していると判定するステップを含むことを特徴とする欠陥判定方法。
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