JP6046478B2 - 回路検証方法、装置、プログラム及び記録媒体 - Google Patents

Description

本発明は、電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証する回路検証方法、前記回路検証方法を実施するための回路検証装置、前記回路検証方法をコンピュータに実行させるための回路検証用プログラム及び前記回路検証用プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関する。

従来から、大規模集積回路（ＬＳＩ）のような電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値に基づいて、前記電子回路が所定の基準を満たすか否かを検証することにより、回路設計が適正か否かを検証する発明が開発されている（例えば、特許文献１〜３参照）。

図６は、特許文献１〜３に記載された回路検証方法の処理を示すフローチャートである。
図６において、先ず、回路検証装置に、シミュレーションを行う回路図及びテストベンチを入力する（ステップＳ６０１）。次に、パラメータ（例えば、ゲート幅Ｗ、ゲート長Ｌ、ＰＶＴ（プロセス、直流電圧、温度）、周波数等）を設定して（ステップＳ６０２）、シミュレーションを実行する（ステップＳ６０３）。

シミュレーションによって得られた結果（シミュレーション値）が所定の基準を満たすか否かを判定し（ステップＳ６０４）、シミュレーション値が前記所定の基準を満たしている場合には「良」である旨やシミュレーション値等を表示部等に出力する（ステップＳ６０５）。処理ステップＳ６０５においてシミュレーション値が前記所定の基準を満たしていない場合には「否」である旨やシミュレーション値等を表示部等に出力した後あるいは何も出力せずに、処理ステップＳ６０２に戻ってパラメータ（例えば周波数特性を得る場合には周波数）値を次の値に変更した後、再び処理ステップＳ６０３以降の処理を実行する。
上記処理を、パラメータ値を変更しながら繰り返し実行することにより、回路が「良」か「否」かの検証や、適正なパラメータ値等の検証が行われる。

例えば、回路の周波数特性の検証を行う場合には、処理ステップＳ６０２においてゲート幅Ｗやゲート長Ｌ等のパラメータを固定した状態で周波数を走査しながら処理ステップＳ６０３〜Ｓ６０５を繰り返し行うことにより、即ち、複数の周波数点において順次シミュレーション値を得ることにより、各シミュレーション値が所定の基準を満たすか否かの判定を行うことにより、適正な周波数特性か否かが判定される。この処理を、ゲート幅Ｗやゲート長Ｌ等の各パラメータを順次変えながら行うことにより、各パラメータを変更しながらシミュレーションすることによって周波数特性が得られ、回路の周波数特性の検証が行われる。

以上のようにして回路の検証が可能ではあるが、判定は、直流電圧点、周波数点、時刻等に対するシミュレーション値の判定であり、シミュレーションした結果の点での判定である。特性を判定する場合、各シミュレーション点の判定のような点での判定ではなく、波形形状のような連続的な判定を行う必要がある場合がある。

しかしながら前記各特許文献１〜３記載の発明では、前述したように点での判定しかできないため、連続的な波形形状の判定、例えば、減衰振動曲線が収束するか否かの判定が困難という問題がある。
これを解決するために各シミュレーション値を表示部に表示して利用者に視認させるようにした場合でも、回路検証装置が波形として連続的に認識できないため、自動処理できないという問題がある。

また、特許文献１〜３に記載した方法では、シミュレーションの結果を複数の領域にまたがって判定することは困難であるという問題がある。複数の領域、複数の評価項目にまたがる判定を実行しようとした場合、多数の場合分けや条件分岐等が必要になるため、コンピュータ化した回路検証装置に検証させる場合には、プログラム記述に高度な専門性が必要になるという問題がある。
また、多数のシミュレーション点の値毎に判定を行うため処理に時間がかかるという問題がある。

特開２００４−２１３２６７号公報 特開平１１−８５８２２号公報 特開平１０−１１２５０６号公報

本発明は、前記問題点に鑑み成されたもので、処理が簡単で、高度な専門性がなくても所望範囲の複数のシミュレーション値をまとめて判定できるようにすることを課題としている。

本発明の第１の視点によれば、電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証する回路検証方法において、前記シミュレーション値を判定する領域である判定領域を表す判定領域データ及び前記判定領域内のシミュレーション値の良否を判定する判定基準である判定基準データを設定する設定ステップと、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定する判定ステップとを備えて成ることを特徴とする回路検証方法が提供される。

本発明の第２の視点によれば、電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証する回路検証装置において、前記シミュレーション値を判定する領域である判定領域を表す判定領域データ及び前記判定領域内のシミュレーション値の良否を判定する判定基準である判定基準データを設定する設定手段と、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定する判定手段とを備えて成ることを特徴とする回路検証装置が提供される。

本発明の第３の視点によれば、コンピュータに、電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証させるための回路検証用プログラムにおいて、コンピュータに前記回路検証方法を実行させることを特徴とする回路検証用プログラムが提供される。

本発明の第４の視点によれば、前記回路検証用プログラムを記録して成ることを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体が提供される。

本発明の回路検証方法によれば、処理が簡単で、高度な専門性がなくても所望範囲の複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能である。
また、本発明の回路検証装置によれば、処理が簡単で、高度な専門性がなくても所望範囲の複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能である。
また、コンピュータが本発明の回路検証用プログラムを実行することにより、処理が簡単で、高度な専門性がなくても所望範囲の複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能である。
また、本発明の記録媒体に記録した回路検証用プログラムをコンピュータに実行させることにより、処理が簡単で、高度な専門性がなくても所望範囲の複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能な回路検証装置を構築することが可能になる。

本発明の実施の形態に係る回路検証装置のブロック図である。 本発明の実施の形態に係る回路検証装置の部分詳細ブロック図である。 本発明の実施の形態の動作を説明する特性図である。 本発明の実施の形態の動作を説明する特性図である。 本発明の実施の形態に係る回路検証装置の部分詳細ブロック図である。 従来の回路検証方法を示すフローチャートである。

以下、本発明の実施の形態に係る回路検証方法、前記回路検証方法を実施するための回路検証装置、前記回路検証方法をコンピュータに実行させるための回路検証用プログラム及び前記回路検証用プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体について図面を用いて説明する。尚、各図において同一部分には同一符号を付している。
図１は、本発明の実施の形態に係る回路検証装置のブロック図である。
図１において、本発明の実施の形態に係る回路検証装置１００は、入力部１０１、検証部１０２、表示部１０３、記憶部１０４を備えている。

回路検証装置１００は、キーボードやマウスなどの入力部、表示部、中央処理装置（ＣＰＵ）及び記憶部を備えたコンピュータによって構成することができる。前記コンピュータに、コンピュータ読み取り可能な記録媒体であるＣＤ−ＲＯＭ１１３に記録された検証用プログラムをインストールして実行させることにより、回路検証装置１００として機能させることができる。

入力部１０１は、データや命令を入力するためのもので、マウスやキーボードによって構成される操作部１０５、記録媒体や記憶装置等に記憶されたファイル１０６を有している。また、入力部１０１は、電子回路等のシミュレーションにより得られたシミュレーションデータ（シミュレーションにより得られた値（シミュレーション値）の集合）を入力するように構成されている。

ファイル１０６は、電子回路のシミュレーションにより得られたシミュレーション値の良否を判定する基準となる仕様データを作成する際に用いるファイルであり、回路特性に関するシミュレーションにより得られた一連の複数のシミュレーション値（シミュレーションデータ）によって波形状に構成されたデータのファイル（波形データファイル）、他のシミュレータによって作成された仕様データのファイル、表計算ソフトで使用者が定義した仕様データのファイル等、新たな仕様データを作成するための各種ファイルを含んでいる。

前記仕様データには、シミュレーション値が示す回路特性である回路特性データ、前記シミュレーション値の中から判定対象とするシミュレーション値の範囲を指定するための領域データ及び当該領域内のシミュレーション値を「良」と判定するかあるいは「否」と判定するかを指定するための判定データが含まれる。

シミュレーションの回路特性として種々の特性があるが、例えば、低域フィルタ（ＬＰＦ）回路の回路特性として、ゲインの周波数特性やゲインの位相特性等がある。
シミュレーションの回路特性がゲインの周波数特性の場合、周波数をスキャンしながらゲインを測定し、所定の複数の周波数点におけるゲインがシミュレーション値となる。
本実施の形態では、所定の回路特性に関して１走査（例えば周波数の場合には最低周波数から最高周波数までの走査）分のシミュレーションによって得られる複数のシミュレーション値をシミュレーションデータと称し、又、前記複数のシミュレーション値の集まりを波形として捉えて波形データと称している。

検証部１０２は、前記仕様データを作成する仕様データ作成部１０７、仕様データによって設定された判定領域に対応するシミュレーションデータの良否を判定する判定部１０８を備えている。尚、「判定領域に対応する」とは、判定領域内のみならず所定範囲の判定領域外も含むことを意味し、具体的には後述するように、判定領域を定義する線分の両側を意味している。
記憶部１０４には、仕様データをテンプレート化したテンプレート１０９、既存のシミュレーションデータ１１０、検証用プログラム等のプログラム１１１、仕様データ作成時や回路検証時に生じたデータをはじめとする各種のデータ１１２が記憶される。

判定部１０８から出力された判定結果は、表示部１０３に出力されて表示されると共に、シミュレータ１２０にフィードバックされる。
シミュレータ１２０は、図６に示した処理から、処理ステップＳ６０４の良否判定処理を除いた処理（ステップＳ６０１〜Ｓ６０３）を行うことにより、シミュレーションデータを得て出力する機能を有している。シミュレータ１２０は、判定部１０８の判定結果に基づいてパラメータの変更等を行いながらシミュレーションを行うことによりシミュレーションデータを得て、当該シミュレーションデータを、入力部１０１を介して検証部１０２に入力する。

検証部１０２は、前記シミュレーションデータの検証を行ったり、後に検証を行う等のためにシミュレーションデータ１１０として記憶部１０４に記憶する。
記憶部１０４に記憶したシミュレーションデータ１１０には、シミュレータ１２０によって得られたシミュレーションデータや他のシミュレータによって得られたシミュレーションデータが含まれる。

回路検証装置１００とシミュレータ１２０によってシミュレーションシステムが構成される。また、回路検証装置１００とシミュレータ１２０によってシミュレーション方法が実現される。
尚、入力部１０１は入力手段を構成し、検証部１０２は検証手段を構成し、表示部１０３は表示手段を構成し、記憶部１０４は記憶手段を構成している。また、仕様データ作成部１０７は設定手段を構成し、判定部１０７は判定手段を構成している。

本発明の実施の形態の概要を図１を用いて説明すると、先ず、新たに仕様データを作成する場合、仕様データを作成するために必要なデータを入力部１０１から仕様データ作成部１０７に入力する。仕様データを作成するために必要なデータとしては、ファイル１０６に含まれる波形データファイルや仕様データあるいは使用者が仕様データを決めるために操作部１０５によって設定するデータである。

仕様データ作成部１０７は、前記波形データファイルや仕様データ等に基づいて新たな仕様データを作成する。新たに作成した仕様データは、シミュレーションデータの良否判定を行う回路検証に利用される。即ち、領域データにおける領域指定用の数値や判定データにおける良否判定の設定を含む仕様データを用いてシミュレーションデータの検証を行う場合には、前記数値等を含む仕様データが判定部１０８に入力され、判定部１０８は当該仕様データを用いて回路検証を行うことになる。

また、前述したようにして新たに作成した仕様データは、テンプレート化する場合、領域データにおいて判定領域を具体的に定める数値や判定データにおける良否判定の設定が除かれてテンプレート１０９として記憶部１０４に記憶され、以後の回路検証に利用される。
仕様データ作成部１０７は回路検証を行う際に、テンプレート１０９を用いて新たな仕様データを作成し、当該仕様データが判定部１０８によって使用される。
以上のようにして仕様データ作成部１０７は回路検証を行う際に仕様データの設定を行う。

次にシミュレーションデータの検証を行う場合、操作部１０５を操作することにより、仕様データ作成部１０７が操作部１０５により指定されたテンプレート１０９を記憶部１０４から読み出し、操作部１０５からテンプレート１０９に判定領域等を具体的に定義する数値を入力して仕様データ（領域データや判定データ）を設定する。
また、操作部１０５を操作することにより、検証対象とするシミュレーションデータ１１０を選択する。

判定部１０８は前述のようにして設定された仕様データを用いて、前記選択されたシミュレーションデータ１１０の検証を行う。
即ち、判定部１０８は、領域データによって設定された領域に対応するシミュレーション値を判定データに基づいて良否判定し、各シミュレーション値の良否判定結果を表示部１０３に表示する。本実施の形態では、後述するように、判定結果が「否」のシミュレーション値を他（判定結果が「良」のシミュレーション値や判定対象外のシミュレーション値）から区別できるように表示している。

図２は、本発明の実施の形態に係る回路検証装置１００の仕様データ作成部１０７の構成を示す図であり、仕様データ作成部１０７の構成を機能ブロックによって表している。
図２において、入力部１０１は、操作部１０５、参照波形データファイル２０１、仕様定義ファイル２０２を有している。参照波形データファイル２０１と仕様定義ファイル２０２はファイル１０６の構成要素である。参照波形データファイル２０１は、仕様データを作成するために参照する波形データファイル（シミュレーションして得られている既存の波形データのファイル）である。仕様定義ファイル２０２は、他のシミュレータ等によって作成された仕様データを格納したファイルである。

仕様データ作成部１０７は、参照波形データ読み込み処理部Ｓ２０１、参照波形データ表示部Ｓ２０２を有している。参照波形データ読み込み処理部Ｓ２０１は、参照波形データファイル２０１から参照波形データを読み込む。参照波形表示部Ｓ２０２は、前記参照波形データを表示部１０３に表示するように表示処理を行う。表示部１０３には、参照波形データ２０３が表示される。

また、仕様データ作成部１０７は、操作部１０５によって設定された仕様データを読み込む仕様読み込み処理部Ｓ２０３を有している。
使用者は表示部１０３に表示された参照波形データ２０３を参照しながら操作部１０５を操作して、判定対象とする判定領域の設定及び前記設定した判定領域内のシミュレーションデータを「良」とするか「否」とするかの良否設定を行うことにより仕様データを作成する。尚、判定領域に「良」又は「否」の一方を設定することにより、他の判定領域は「否」又は「良」と定義するようにすることができる。

前記仕様データは仕様定義ファイル２０２から読み込んで設定することができるように構成されている。仕様データの設定に使用する仕様定義ファイル２０２を指定して仕様設定を指示することにより、仕様読み込み処理部Ｓ２０５が指定された仕様定義ファイル２０２から仕様データを読み込んで仕様データの設定を行う（設定ステップ）。

参照波形読み込み処理部Ｓ２０１で読み込まれた参照波形データ２０３と仕様読み込み処理部Ｓ２０３又はＳ２０５によって読み込まれた仕様データ（領域データ２０４が含まれる。）は合成処理部Ｓ２０４によって重ね合わされる。尚、図２において合成処理部Ｓ２０４が参照波形データ２０３と前記仕様データとを重ね合わせた図は、仕様データ作成部１０７の内部処理を示す図であり表示部１０３には表示されないが、表示するように構成してもよい。

合成処理部Ｓ２０４は、参照波形データ２０３と前記仕様データを重ね合わせて、実仕様データ（実際のシミュレーション値の判定に使用する仕様データ）を作成する。
テンプレート作成処理部Ｓ２０６は実仕様データから具体的な寸法値を削除してテンプレートを作成する（テンプレート作成ステップ）。
実仕様データとテンプレートは、前者が座標値等の具体的な数値を持っているが、後者は具体的な数値は持たず使用者がその都度設定するようになっている点で相違している。

保存処理部Ｓ２０７はテンプレート作成処理部Ｓ２０６が作成したテンプレートを記憶部１０４にテンプレート１０９として記憶し、表示部１０３に表示させる。また、保存処理部Ｓ２０７は合成処理部Ｓ２０４が作成した実仕様データを記憶部１０４にデータ１１２として記憶し、表示部１０３に表示させる。このとき、保存処理部Ｓ２０７は、テンプレート１０９と実仕様データの少なくとも一方を表示部１０３に表示させるように構成してもよい。

回路検証を行う際に設定データを設定する場合、仕様データ作成部１０７は、操作部１０５の操作に応答してテンプレート１０９を読み出す。仕様読み込み処理部Ｓ２０３は、操作部１０５の操作により設定された数値の入力を行う等の仕様読み込み処理を行い、新たな仕様データを設定する（設定ステップ）。
尚、合成処理部Ｓ２０４を設けずに、参照波形データ２０３を含まない仕様データをテンプレートや実仕様データとして保存するように構成してもよい。

図３は表示部１０３の表示を示す図で、保存処理部Ｓ２０７が表示部１０３に表示させたテンプレート１０９の例を示している。図３の例は、シミュレーション対象の電子回路が低域フィルタ（ＬＰＦ）の例であり、回路特性としてゲインＧ対周波数ｆ特性（縦軸がゲインＧ、横軸が周波数ｆ）の例を挙げている。
参照波形データ２０３を基準として参照図形データ２０３の周りに所定の許容範囲をとるように線分Ｌ１〜Ｌ６が配置されている。線分Ｌ１〜Ｌ６は各々２点を結ぶベクトルとして定義されている。

例えば線分Ｌ１は点Ａから点Ｂへ至るベクトルである。点Ａの座標は（ａ，ｂ）、点Ｂの座標は（ｃ，ｄ）である。同様に、線分Ｌ２は点Ｃ（ａ，ｄ）から点Ｄ（ｅ，ｄ）に至るベクトル、線分Ｌ３は点Ｂ（ｃ，ｄ）から点Ｇ（ｈ，ｇ）に至るベクトル、線分Ｌ４は点Ｄ（ｅ，ｄ）から点Ｅ（ｆ，ｇ）に至るベクトル、線分Ｌ５は点Ｇ（ｈ，ｇ）から点Ｈ（＋∞，ｇ）に至るベクトル、線分Ｌ６は点Ｅ（ｆ，ｇ）から点Ｆ（ｆ，−∞）に至るベクトルである。

線分Ｌ１〜Ｌ６には、良否の判定を必要とする領域を定義するための線分（実線で表された線分Ｌ１、Ｌ２、Ｌ５、Ｌ６）と、良否の判定を必要としない領域を定義するための線分（破線で表された線分Ｌ３、Ｌ４）がある。
各点Ａ〜Ｇの座標値ａ〜ｈは、使用者が操作部１０５によって設定するパラメータである。

また、操作部１０５の操作により、各線分Ｌ１〜Ｌ６には、各線分を境界として「良」と判定する側または「否」と判定する側を定義するための判定データが設定される。例えば、線分Ｌ１には判定データとして線分Ｌ１の下側に矢印Ｌ１’が付されており、線分Ｌ１を境界として矢印Ｌ１’が示す側が「良」であることを表している。逆に、線分Ｌ１を境界として、矢印Ｌ１’付されていない側が「否」であることを表している。

同様に、線分Ｌ２には矢印Ｌ２’、線分Ｌ５には矢印Ｌ５’、線分Ｌ６には矢印Ｌ６’が判定データとして付されており、各線分を境界として矢印が示す側が「良」、矢印が示さない側が「否」であることを表している。矢印Ｌ１’、Ｌ２’、Ｌ５’、Ｌ６’は「良」、「否」の領域を指定する記号である。
尚、線分Ｌ３、Ｌ４は良否判定が不要な領域であるため、良否の指定記号（矢印）は設定されていない。

図３の例では、良否の判定が必要な領域に対応するシミュレーションデータは、線分Ｌ１の両側（図３では上下両側）の領域、線分Ｌ２の両側（図３では上下両側）の領域、線分Ｌ５の両側（図３では上下両側）の領域、線分Ｌ６の両側（図３では左右両側）の領域に存在するシミュレーションデータである。
判定値が「良」の領域は、線分Ｌ１、Ｌ２によって囲まれた領域（ハッチングで示す判定領域）３０１と、線分Ｌ５、Ｌ６で囲まれた領域（ハッチングで示す判定領域）３０２である。このように、本実施の形態では、複数の判定領域が設定可能である。判定対象となるシミュレーション値のうち「良」の判定領域に入らないものは、その判定値を「否」とされる。

操作部１０５から領域データであるパラメータａ〜ｈの値を図４に示す例のように入力することにより、判定が必要な領域及び良否の判定基準が設定されたことになる。図４の例では、パラメータａに０Ｈｚ、ｂに７０ｄＢ、ｃに１０ｋＨｚ、ｄに５０ｄＢ、ｅに８ｋＨｚ、ｆに８００ＭＨｚ、ｇに−６ｄＢ、ｈに１ＧＨｚを設定した例である。尚、判定データである良否の指定記号はテンプレートに含まれているため設定不要である。

シミュレーションデータ中の判定対象となるデータは前記良否判定が必要な領域に対応する領域のシミュレーションデータであり、領域３０１、３０２に入るシミュレーションデータは「良」、入らないシミュレーションデータは「否」と判定されることになる。
図５は、本発明の実施の形態に係る回路検証装置１００の判定部１０８の構成を示す図であり、判定部１０８の構成を機能ブロックによって表している。

図５において、判定部１０８は、差分処理部Ｓ５０１、第１の判定処理部Ｓ５０２、データ反映処理部Ｓ５０３、表示処理部Ｓ５０４を備えている。
また、判定部１０８は、第２の判定処理部Ｓ５０５、フィードバック処理部Ｓ５０６を備えている。
差分処理部Ｓ５０１は、操作部１０５によって指定された記憶部１０４内のシミュレーションデータ１１０から、仕様データ作成部１０７から入力された仕様データ５０１中の判定領域２０４に対応する領域のシミュレーション値５０２を取り出して出力する。

本実施の形態では差分処理部Ｓ５０１は、差分処理結果５０３として図示するように、シミュレーションデータ１１０全体から、指定された判定領域２０４に対応するシミュレーション値５０２をサブとして抽出して出力する。
この段階では、抽出されたシミュレーション値５０２には、判定領域２０４に対応するシミュレーション値５０２中の、「良」及び「否」のいずれのシミュレーション値も含まれている。

判定処理部Ｓ５０２は、差分処理部Ｓ５０１によって抽出されたシミュレーション値の中から、仕様データに基づいて「否」のシミュレーション値を抽出する（判定ステップ）。
データ反映処理部Ｓ５０３は、判定処理部Ｓ５０２が抽出した「否」のシミュレーション値が、シミュレーション値全体中において他から区別できるようにシミュレーションデータ１１０に反映させる。

表示処理部Ｓ５０４は、「否」のシミュレーション値を他のシミュレーション値から区別できるように表示部１０３に表示させる。図５の例では、表示部１０３には、判定領域２０４を表示すると共に、全シミュレーション値を表示し、その中の「否」のシミュレーション値５０４を各々大きな黒点で表示するようにしている。
これにより、判定領域２０４に対応する「良」、「否」のシミュレーション値を区別して表示させることができる。
また、「良」、「否」のシミュレーション値をまとめて波形データとして表示させることができる。

また、本実施の形態では判定部１０８が「良」、「否」のシミュレーション値をまとめて波形データとして認識することが可能になるため、収束性等の連続的な判定を自動で行うことが可能になる。
判定処理部Ｓ５０２の判定結果（例えばシミュレーション値に対する「否」の判定結果）は、フィードバック処理部Ｓ５０６に入力される。
フィードバック処理部Ｓ５０６は前記判定結果をシミュレータ１２０にフィードバックする。

シミュレータ１２０はシミュレーションを行ってシミュレーションデータを判定処理部Ｓ５０５に入力する。判定処理部Ｓ５０５は、所定の判定条件（例えば操作部１０５によって設定された判定条件）によって前記シミュレーションンデータを判定し、判定結果（例えばシミュレーション値に対する「否」の判定結果）は、フィードバック処理部Ｓ５０６に入力される。フィードバック処理部Ｓ５０６は前記判定結果をシミュレータ１２０にフィードバックする。

シミュレータ１２０はフィードバック処理部Ｓ５０６からフィードバックされた判定結果に基づいてパラメータの変更等を行いながらシミュレーションを行う。
判定処理部Ｓ５０５は、良否のいずれも含まれるシミュレーション値を表示処理部Ｓ５０４に入力する。表示処理部Ｓ５０４は、シミュレーションデータ（良否のいずれのシミュレーション値も含まれる。）を表示部１０３に表示させる。これにより、表示部１０３には従来方法によってシミュレーションしたシミュレーション値も表示させることができる。
このようにして、各処理部Ｓ５０１〜Ｓ５０３が処理した結果を表示部１０３に表示するだけでなく、判定処理部Ｓ５０２、Ｓ５０５判定結果を反映するようにシミュレータ１２０にシミュレーションさせることが可能になる。

以上述べたように本発明の実施の形態に係る回路検証方法は、電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証する回路検証方法において、前記シミュレーション値を判定する領域である判定領域を表す判定領域データ及び前記判定領域内のシミュレーション値の良否を判定する判定基準である判定基準データを設定する設定ステップと、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定する判定ステップとを備えて成ることを特徴としている。

ここで、回路特性に関する既存のシミュレーションデータを用いて前記判定領域データ及び判定基準データを設定することによりテンプレートを作成するテンプレート作成ステップを有し、前記設定ステップでは前記テンプレートを用いて前記判定領域データ及び前記判定基準データを設定し、前記判定ステップは、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定するように構成することができる構成することができる。
また、前記判定領域は２点間を結ぶ線分を複数用いて形成されると共に、前記判定基準は前記線分を境界として一方の側を「良」とし他方の側を「否」とするように設定されるように構成することができる。

したがって、本発明の実施の形態に係る回路検証方法によれば、処理が簡単で、高度な専門性がなくても所望範囲の複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能である。
また、判定領域に対応する範囲のシミュレーション値のみを判定するため、処理が容易である。
また、複数のシミュレーション値を波形のように連続するデータとしてまとめて取り扱うことができ、又、シミュレーションデータが収束するか否か等の判定を容易に行うことができる。

また、シミュレーションデータ中の複数領域にまたがる判定を行うことが可能になる。従来手法では、複数の領域にまたがる判定や複数の仕様データについての判定を行う場合、多数の場合分けや条件分岐等が必要になるため、検証用プログラムとしてプログラム言語記述に高度な専門性が必要とされたが、本発明の実施の形態では複数領域又は複数仕様にまたがる場合でも容易に判定を行わせることが可能になる。

また、判定対象となるシミュレーションデータを領域指定するように構成しているため、従来の離散的な判定以外の連続的な判定が可能になる。
また、ｎ（＝正の整数）次元の領域指定と判定を行い又、複数の仕様データの利用や複数の判定領域の指定を行うことにより、シミュレーションデータの多角的な評価や判定が容易化でき、トレードオフ設計が容易になる。

また、判定領域を図形のようにして定義し判定するようにしているため、任意領域を指定して判定することが容易に可能になる。
また、判定領域を図形のように定義し判定することにより、ｎ次元超平面の判定が可能になる。これにより、従来できなかった判定、例えば、減衰波形のエンベロープを判定対象にする等、波形形状の判定が可能になる。
また、点であるシミュレーション値の間を補完して判定することにより、各点が連続した波形として良否判定することが可能になる。

また、判定対象となるシミュレーションデータを図形のようにして領域指定するようにしているため、連続的な判定等のように従来目視に頼っている判定を自動化することが可能になり、設計効率の向上と最適化設計の自動化への親和性を高めることが可能になる。
また、複数の判定領域や任意の判定領域の判定を可能とすることで、場合分けや条件分岐等を記述せずにプログラミングすることが可能になり、プログラミングに要求される専門性が緩和される。

また、判定領域を図形のように定義してテンプレートにすることにより、テンプレートを他の類似の判定にも適用することが可能になる。
また、判定領域を図形のように定義してテンプレートにすることにより、既存の回路やシステムの規格等の仕様をテンプレートにして、仕様の設定に利用可能になる。
また、判定領域をテンプレートにすることにより、判定処理を蓄積して再利用を促進することが可能になる。

また、シミュレーションデータの評価方法の定義を容易化でき、高品質で高効率に定義することが可能になる。
また、シミュレーションデータの自動判定を適切、正確、高品質に行うことが可能になる。
また、回路設計自動化の障害を低減し、均一で高品質、高信頼な回路設計が可能になる等の効果を奏する。

また、本発明の実施の形態に係る電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証する回路検証装置において、前記シミュレーション値を判定する領域である判定領域を表す判定領域データ及び前記判定領域内のシミュレーション値の良否を判定する判定基準である判定基準データを設定する設定手段と、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定する判定手段とを備えて成ることを特徴としている。

ここで、回路特性に関する既存のシミュレーションデータを用いて前記判定領域データ及び判定基準データを設定することによりテンプレートを作成するテンプレート作成手段を有し、前記設定手段は前記テンプレートを用いて前記判定領域データ及び前記判定基準データを設定し、前記判定手段は、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定するように構成することができる。
また、前記判定領域は２点間を結ぶ線分を複数用いて形成されると共に、前記判定基準は前記線分を境界として一方の側を良とし他方の側を否とするように設定されるよう構成することができる。

したがって、本発明の実施の形態に係る回路検証装置によれば、処理が簡単で、高度な専門性がなくても所望範囲の複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能である。
また、複数のシミュレーション値を波形のように連続して判定することが可能である等の前記回路検証方法と同様の効果を奏する。

また、本発明の実施の形態によれば、コンピュータに、電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証させるための回路検証用プログラムにおいて、コンピュータに前記いずれか一に記載の回路検証方法を実行させることを特徴とする回路検証用プログラムが提供される。

コンピュータが前記回路検証用プログラムを実行することにより、処理が簡単で、高度な専門性がなくても複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能な回路検証方法を実行させることが可能になる。また、専門性がなくても複数のシミュレーション値を波形のように連続して判定すること等が可能な回路検証方法を実行させることが可能になる。

また、本発明の実施の形態によれば、前記回路検証用プログラムを記録して成ることを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体が提供される。
本発明の実施の形態に係る記録媒体に記録した回路検証用プログラムをコンピュータに実行させることにより、処理が簡単で、高度な専門性がなくても複数のシミュレーション値をまとめて判定することが可能な回路検証方法を実行させることが可能になる。また、専門性がなくても複数のシミュレーション値を波形のように連続して判定すること等が可能な回路検証方法を実行させることが可能になる。

尚、本発明の実施の形態では、２点間を結ぶ線分を用いて判定領域の設定を行うようにしたが、多角形、円形、楕円形等の各種図形によって判定領域を設定するように構成し、シミュレーション値が前記図形の内部に位置するかあるいは外部に位置するかによって良否を設定するように構成する等、種々の変更が可能である。
また、本実施の形態に係る回路検証方法を実行し、その結果に応じて判定条件等を変更しながら再び、本実施の形態に係る回路検証方法を実行するように構成することができる。また、本発明の実施の形態に係る回路検証方法と従来の回路検証方法を組み合わせて実行し、これらの判定結果に応じて更に回路検証を行うようにすることができる。

アナログ回路やデジタル回路のシミュレーションの検証に利用することが可能である。

１００・・・回路検証装置
１０１・・・入力部
１０２・・・検証部
１０３・・・表示部
１０４・・・記憶部
１０５・・・操作部
１０６・・・ファイル
１０７・・・仕様データ作成部
１０８・・・判定部
１０９・・・テンプレート
１１０・・・シミュレーションデータ
１１１・・・プログラム
１１２・・・データ
１１３・・・ＣＤ−ＲＯＭ
１２０・・・シミュレータ
２０１・・・参照波形データファイル
２０２・・・仕様定義ファイル
２０３・・・参照波形データ
２０４、３０１、３０２・・・判定領域
５０１・・・仕様データ
５０２・・・シミュレーション値
５０３・・・差分処理結果
５０４・・・
Ｓ２０１・・・参照波形データ読み込み処理部
Ｓ２０２・・・参照波形データ表示部
Ｓ２０３、Ｓ２０５・・・仕様読み込み処理部
Ｓ２０４・・・合成処理部
Ｓ２０６・・・テンプレート作成処理部
Ｓ２０７・・・保存処理部
Ｓ５０１・・・差分処理部
Ｓ５０２、Ｓ５０５・・・判定処理部
Ｓ５０３・・・データ反映処理部
Ｓ５０４・・・表示処理部
Ｓ５０６・・・フィードバック処理部
Ｌ１〜Ｌ６・・・線分

Claims (5)

1. 電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証する回路検証方法において、
   前記シミュレーション値を判定する領域である判定領域を表す判定領域データ及び前記判定領域内のシミュレーション値の良否を判定する判定基準である判定基準データを設定する設定ステップと、
   前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定する判定ステップとを備えて成り、
   前記判定領域は２点間を結ぶ線分を複数用いて形成されると共に、前記判定基準は前記線分を境界として一方の側を良とし他方の側を否とするように設定されることを特徴とする回路検証方法。
2. 回路特性に関する既存のシミュレーションデータを用いて前記判定領域データ及び判定基準データを設定することによりテンプレートを作成するテンプレート作成ステップを有し、
   前記設定ステップでは前記テンプレートを用いて前記判定領域データ及び前記判定基準データを設定し、
   前記判定ステップは、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定することを特徴とする請求項１記載の回路検証方法。
3. 電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証する回路検証装置において、
   前記シミュレーション値を判定する領域である判定領域を表す判定領域データ及び前記判定領域内のシミュレーション値の良否を判定する判定基準である判定基準データを設定する設定手段と、
   前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定する判定手段とを備えて成り、
   前記判定領域は２点間を結ぶ線分を複数用いて形成されると共に、前記判定基準は前記線分を境界として一方の側を良とし他方の側を否とするように設定されることを特徴とする回路検証装置。
4. 回路特性に関する既存のシミュレーションデータを用いて前記判定領域データ及び判定基準データを設定することによりテンプレートを作成するテンプレート作成手段を有し、
   前記設定手段は前記テンプレートを用いて前記判定領域データ及び前記判定基準データを設定し、
   前記判定手段は、前記判定基準に基づいて、前記シミュレーション値のうち前記判定領域に対応するシミュレーション値の良否を判定することを特徴とする請求項３記載の回路検証装置。
5. コンピュータに電子回路をシミュレーションして得られるシミュレーション値が所定の基準を満たすか否かを検証させるための回路検証用プログラムにおいて、
   コンピュータに請求項１又は２記載の回路検証方法を実行させることを特徴とする回路検証用プログラム。

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