JP6035124B2 - 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 - Google Patents
欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6035124B2 JP6035124B2 JP2012259729A JP2012259729A JP6035124B2 JP 6035124 B2 JP6035124 B2 JP 6035124B2 JP 2012259729 A JP2012259729 A JP 2012259729A JP 2012259729 A JP2012259729 A JP 2012259729A JP 6035124 B2 JP6035124 B2 JP 6035124B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- image data
- filter
- defect
- inspection object
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
[欠陥検査装置の構成]
図1は、本実施形態に係る欠陥検査装置の概略構成図である。
本実施形態では、図1に示す検査対象物1の表面における色調の濃淡を検出する例として、欠陥部(明欠陥、暗欠陥)を検出する例を挙げて説明する。
ここで、明欠陥とは、検査対象物1の表面に汚れ、窪みや突起(凹凸)がない正常部に比べて、色調が明るい部分を言い、後述の検査画像データにおいて濃度が高い部分である。一方、暗欠陥とは、検査対象物1の表面に汚れ、窪みや突起(凹凸)がない正常部に比べて、色調が暗い部分を言い、後述の検査画像データにおいて濃度が低い部分である。
照明装置2は、検査対象物1上における光の照射範囲の長手方向が検査対象物1の走行方向に直交するように配置されたライン状の照明装置である。照明装置2としては、例えば、蛍光灯、ロッド照明、光ファイバ照明、LED(Light Emitting Diode)照明等を用いることができる。
ラインセンサ3は、検査対象物1からの反射光または透過光を受光し、検査対象物1の表面の色調の濃淡に応じた電気信号(検査画像データ)を画像処理装置4に供給する。言い換えると、ラインセンサ3は、検査対象物1の走行方向に直交するライン(以下、検査ライン)単位で、検査対象物1の表面の光強度分布に応じた電気信号を出力することになる。ラインセンサ3としては、例えば、CCDカメラが挙げられる。
なお、図示する例では、ラインセンサ3を、照明装置2と同じく検査対象物1の表面側に配置し、検査対象物1からの反射光を受光する構成としている。照明装置2を、ラインセンサ3とは反対の検査対象物1の背面側に配置し、検査対象物1の背面から光を照射し、透過光をラインセンサ3が受光する構成としてもよい。
次に、上述した画像処理装置4について詳細に説明する。
画像処理装置4は、フィルタ処理部9、閾値設定部10、2値化部11、ランレングス符号化部12、及び連結性処理部13を含んで構成される。
フィルタ処理部9は、ラインセンサ3から供給される検査画像データである、例えば8ビットの濃度値(256階調)を表すデジタルデータが供給され、検査画像データに対して、m行n列の画像フィルタを用いた差分処理(フィルタ処理)を行って、検査対象物1上の濃度変化を強調する(詳細後述)。
閾値設定部10には、検査対象物1の材質、厚さ等に応じて、欠陥検査に先行して予め外部から第1閾値th1(明→暗)、及び第2閾値th2(暗→明)が設定される。
2値化部11における検出論理には2種類ある。2値化部11は、明欠陥を検出する場合、第2閾値th2より大きい出力レベルを有する領域を”1”とし、暗欠陥を検出する場合、第1閾値th1より小さいレベルを有する領域を”1”とする。つまり、2値化部11による2値化により、欠陥部に相当する領域が”1”、正常部に相当する領域が”0”となる。
連結性処理部13は、ランレングス符号化部12によりランレングス符号化されたランレングス符号に対して連結性処理を実行する。ここで、連結性処理とは、複数の連続する走査ラインにおけるデータをライン間で比較しつつ処理することをいう。この連結性処理を行うことによって、検査対象物の欠陥を認識し、形態的特徴を測定できる。
次に、上述したフィルタ処理部9について詳細に説明する。図2は、画像処理装置4におけるフィルタ処理部9の概略構成図である。
フィルタ処理部9は、メモリ91、設定ライン読み出し部92、フィルタサイズ設定部93、第1フィルタ領域合計部94、第2フィルタ領域合計部95、及び差分算出部96を含んで構成される。
設定ライン読み出し部92は、第1フィルタ領域合計部94、及び第2フィルタ領域合計部95各々がフィルタ処理を開始する際のスタートライン(開始行)を設定する。
第1フィルタ領域合計部94、及び第2フィルタ領域合計部95各々がフィルタ処理を開始する開始行は、フィルタサイズ設定部93が第1フィルタ領域合計部94に設定する所定の行数(行数r)によって異なる行とされる。すなわち、第2フィルタ領域がフィルタ処理を開始する開始行は、第1フィルタ領域合計部94がフィルタ処理を開始する開始行に対して、画像データの行数としてr行だけ検査対象物1の移動方向に先行する行となる。
第1フィルタ領域合計部94は、検査画像データのp行q列の画素の濃度値(以下、aqpとする)のm×n個(複数個の画素)の合計値を、下記式により演算し、第1加算信号(第1加算結果)を生成する。
Bij=第1加算信号−第2加算信号
Bijはj番目の行に対するフィルタ処理後の検査画像データであって、ライン方向の画素番号(画素No)iで示されるi番目の列の画素の検査対象物1の移動方向に隣接する画素との濃度差である。
さらに、エッジ部に関する検査画像データのうち、検査対象物の移動方向に対して隣接して得られる第1加算信号、及び第2加算信号は、ほぼ同じ濃度となる。そのため、フィルタ処理後のエッジ部の濃度変化を示す差分はほぼゼロとなることから、エッジ部を誤って欠陥と判定することはなくなり、エッジ部をマスクして検査する必要はなくなる。この点を詳細に説明するため、以下に実施形態の動作の説明として、上記構成において、m=n=2、r=1とした場合の動作について説明する。
図3は、検査画像データの一例を示す概念図である。また、図4は、フィルタ処理部9を説明するための図である。
図3(a)は、メモリ91で取り込む検査画像データを示している。図3(a)において、横方向に破線で区切られる部分が検査画像データの1ライン(行)を示している。また、図3(a)において、4ラインとして、検査対象物1の移動方向に対して前方から後方へ、ライン(j−1)、ラインj、ライン(j+1)、ライン(j+2)を示している。
また、図3(a)において、縦方向に破線で区切られる部分が検査画像データの1列を示している。この行と列とで区切られる部分が1画素であり、1ラインにおける画素には、図3(b)〜図3(d)に示すように、ラインセンサ3の画素Noが割り振られる。
また、図3(a)には、検査対象物1のエッジ部、明欠陥35A、暗欠陥35B、及び暗欠陥35Cが示されている。なお、暗欠陥35Cは、従来であれば、図3(a)に示す様に、検査対象物1のエッジ部近傍にあり、マスク領域に含まれてしまう欠陥であるので、検査対象とされなかった欠陥である。また、ここでは、このマスク領域に含まれる欠陥を暗欠陥35Cとして説明するが、この欠陥は明欠陥であってもよい。
ライン(j−1)に対応する画素濃度は、図3(b)に示す様に、画素Noが増えるにつれて、検査対象物1のエッジ部を境に、画素濃度が高くなり、その後、欠陥がないため一定の値を示している。
図4(a)は、図3(b)に示すライン(j−1)の画素Noが増えていくときの画素濃度と、図3(c)に示すラインjの画素Noが増えていくときの画素濃度とを合計した画素濃度を示している。
また、図4(b)は、図3(c)に示すラインjの画素Noが増えていくときの画素濃度と、図3(d)に示すライン(j+1)の画素Noが増えていくときの画素濃度とを合計した画素濃度を示している。
また、図4(c)は、図3(d)に示すライン(j+1)の画素Noが増えていくときの画素濃度と、図3(e)に示すライン(j+2)の画素Noが増えていくときの画素濃度とを合計した画素濃度を示している。
すなわち、第1フィルタ領域合計部94がラインjの画素濃度とライン(j+1)の画素濃度を読み込み、合計するとき(図4(b)が合計結果である第1加算信号を示す)、第2フィルタ領域合計部95は、ライン(j−1)の画素濃度とラインjの画素濃度を読み込み、合計している(図4(a)が合計結果である第2加算信号を示す)。
図4(d)は、j番目の行に対するフィルタ処理後の検査画像データであって、ライン方向の画素番号(画素No)iで示されるi番目の列の画素の検査対象物1の移動方向に隣接する画素(ライン(j−1)とライン(j+1)における画素)との濃度差である。また、図4(e)は、(j+1)番目の行に対するフィルタ処理後の検査画像データであって、ライン方向の画素番号(画素No)iで示されるi番目の列の画素の検査対象物1の移動方向に隣接する画素(ラインjとライン(j+2)における画素)との濃度差である。
2値化部11では、明欠陥35Aの場合、図4(d)に示すように第1閾値th1より大きくなることによりラインjにおいて明欠陥が始まることが検出され、図4(e)に示すように第2閾値th2より小さくなることによりライン(j+1)において明欠陥が終了することが検出される。
また、蛇行しているか否かの判定に関しては、第1閾値th1、及び第2閾値th2を、上記実施形態のように明欠陥、及び暗欠陥を検出できるように設定し(検査範囲を狭めて)、欠陥検出を行なうことによっても可能となる。つまり、検査対象物が大きく蛇行した場合、エッジ部を欠陥と判定することになるから、こうした場合は蛇行しているものと判定すればよい。
Claims (3)
- 検査対象物の表面における色調の濃淡を検査画像データとして取り込む取込手段と、
前記検査画像データに対して画像フィルタによりフィルタ処理を施して前記検査対象物の濃度変化を強調するフィルタ手段と、
予め設定された閾値に基づいて、前記フィルタ手段によるフィルタ処理後の前記検査画像データを2値化する2値化手段と、
前記検査対象物の移動方向に対して直交する方向の前記検査画像データの濃度変化が予め設定された変化量を超えると当該超えたときの列を前記検査対象物のエッジ部であると判定するエッジ検出部と、を備え、前記2値化手段により2値化されたデータに基づいて前記検査対象物の表面における欠陥を検出する欠陥検査装置であって、
前記フィルタ手段は、
前記検査画像データのうち、前記検査対象物の移動方向に対して直交する方向のn(n≧2以上の整数)個の画像データと前記検査対象物の移動方向のm(m≧2以上の整数)個からなるm×n個の検査画像データを加算して第1加算信号を算出する第1フィルタ領域合計部と、
前記第1加算信号とは前記検査対象物の移動方向に所定の行数離れた位置におけるm×n個の検査画像データを加算して第2加算信号を算出する第2フィルタ領域合計部と、
前記第1加算信号と前記第2加算信号との差分に基づいてフィルタ処理後の前記検査画像データを生成する差分算出部と、
前記取り込み手段から前記検査対象物の移動方向に対してm行の画像データを読み出して前記第1フィルタ領域合計部に出力し、前記m行の画像データとはそれぞれが前記所定の行数だけ異なるm行の画像データを読み出して前記第2フィルタ領域合計部に出力する設定ライン読み出し部と、
を有し、
前記欠陥検査装置は、
前記フィルタ手段を用いて欠陥検査を行なう第1のモードと、前記エッジ検出部を用いて欠陥検査を行なう第2のモードと、を有し、
前記第2のモードで得られるエッジ情報に基づいて前記第1のモードにおいて幅方向の欠陥位置情報を出力する、ことを特徴とする欠陥検査装置。 - 検査対象物の表面における色調の濃淡を検査画像データとして取り込む取込ステップと、
前記検査画像データに対して画像フィルタによりフィルタ処理を施して前記検査対象物の濃度変化を強調するフィルタステップと、
予め設定された閾値に基づいて、前記フィルタステップによるフィルタ処理後の前記検査画像データを2値化する2値化ステップと、
前記検査対象物の移動方向に対して直交する方向の前記検査画像データの濃度変化が予め設定された変化量を超えると当該超えたときの列を前記検査対象物のエッジ部であると判定するエッジ検出ステップと、を有し、前記2値化ステップにより2値化されたデータに基づいて前記検査対象物の表面における欠陥を検出する欠陥検査方法であって、
前記フィルタステップは、
前記検査画像データのうち、前記検査対象物の移動方向に対して直交する方向のn(n≧2以上の整数)個の画像データと前記検査対象物の移動方向のm(m≧2以上の整数)個からなるm×n個の検査画像データを加算して第1加算信号を算出する第1フィルタ領域合計ステップと、
前記第1加算信号とは前記検査対象物の移動方向に所定の行数離れた位置におけるm×n個の検査画像データを加算して第2加算信号を算出する第2フィルタ領域合計ステップと、
前記第1加算信号と前記第2加算信号との差分に基づいてフィルタ処理後の前記検査画像データを生成する差分算出ステップと、
前記取り込みステップから前記検査対象物の移動方向に対してm行の画像データを読み出して前記第1フィルタ領域合計ステップに出力し、前記m行の画像データとはそれぞれが前記所定の行数だけ異なるm行の画像データを読み出して前記第2フィルタ領域合計ステップに出力する設定ライン読み出しステップと、
を有し、
前記欠陥検査方法は、
前記フィルタステップを用いて欠陥検査を行なう第1のモードステップと、前記エッジ検出ステップを用いて欠陥検査を行なう第2のモードステップと、を有し、
前記第2のモードステップで得られるエッジ情報に基づいて前記第1のモードステップにおいて幅方向の欠陥位置情報を出力する、ことを特徴とする欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012259729A JP6035124B2 (ja) | 2012-11-28 | 2012-11-28 | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012259729A JP6035124B2 (ja) | 2012-11-28 | 2012-11-28 | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014106141A JP2014106141A (ja) | 2014-06-09 |
JP6035124B2 true JP6035124B2 (ja) | 2016-11-30 |
Family
ID=51027752
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012259729A Active JP6035124B2 (ja) | 2012-11-28 | 2012-11-28 | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6035124B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6035375B1 (ja) * | 2015-06-02 | 2016-11-30 | 株式会社メック | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 |
CN106276372A (zh) * | 2016-10-11 | 2017-01-04 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种定位卷装包装缺陷的方法及装置 |
CN108921819B (zh) * | 2018-05-29 | 2021-02-02 | 黎明职业大学 | 一种基于机器视觉的验布装置及方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0739999B2 (ja) * | 1991-01-24 | 1995-05-01 | 肇産業株式会社 | 欠陥検出方法 |
JPH08145904A (ja) * | 1994-11-15 | 1996-06-07 | Toshiba Eng Co Ltd | 明欠陥/暗欠陥検査装置 |
JP2000036033A (ja) * | 1998-07-21 | 2000-02-02 | Toshiba Eng Co Ltd | 明暗検査装置および明暗検査方法 |
JP5104443B2 (ja) * | 2008-03-21 | 2012-12-19 | Jfeスチール株式会社 | 表面検査装置および方法 |
JP5659540B2 (ja) * | 2009-04-15 | 2015-01-28 | Jfeスチール株式会社 | 鋼板表面欠陥検査方法および装置 |
-
2012
- 2012-11-28 JP JP2012259729A patent/JP6035124B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014106141A (ja) | 2014-06-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5074998B2 (ja) | 透明フィルムの外観検査方法およびその装置 | |
US10109045B2 (en) | Defect inspection apparatus for inspecting sheet-like inspection object, computer-implemented method for inspecting sheet-like inspection object, and defect inspection system for inspecting sheet-like inspection object | |
JP6035124B2 (ja) | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 | |
JP4906609B2 (ja) | 撮像装置および方法 | |
JP2008122139A (ja) | 用紙品質検査装置 | |
JP6628185B2 (ja) | 透明体の検査方法 | |
JP4743231B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP5181912B2 (ja) | 表面欠陥の検査方法、表面欠陥検査装置、鋼板の製造方法、及び鋼板の製造装置 | |
JP2005265467A (ja) | 欠陥検出装置 | |
JP2017062181A (ja) | 表面疵検査装置及び表面疵検査方法 | |
JP4743230B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP2016217989A (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
JP2003156451A (ja) | 欠陥検出装置 | |
CN104935837B (zh) | 用于光学图像定点设备及光学视频设备的图像处理方法 | |
JP4863050B2 (ja) | 色ムラ欠陥検査方法及び装置 | |
JP5136277B2 (ja) | 網入りまたは線入りガラスの欠陥検出方法 | |
JP4403036B2 (ja) | 疵検出方法及び装置 | |
KR101675532B1 (ko) | 후판 표면 결함 탐상 장치 및 방법 | |
JP7293907B2 (ja) | 外観検査管理システム、外観検査管理装置、外観検査管理方法及びプログラム | |
JP4395057B2 (ja) | 帯状体や柱状体の周期疵検出方法およびその装置 | |
JP2003329428A (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
WO2015159352A1 (ja) | ウェブ検査装置、ウェブ検査方法、ウェブ検査プログラム | |
JP4178923B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP5231779B2 (ja) | 外観検査装置 | |
JP6035375B1 (ja) | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150811 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160422 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160510 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160708 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161018 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161031 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6035124 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |