JP6023406B2 - 眼科装置、評価方法および当該方法を実行するプログラム - Google Patents
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Description
Saturation:ヒストグラムの99パーセンタイル
Low:ヒストグラムの1パーセンタイル
Noise:ヒストグラムの75パーセンタイル
Middle:SaturationとNoiseの平均値
Number(saturation〜middle)は、ヒストグラムにおいて、saturationからmiddleまでの輝度値を持つピクセル総数である。IRはSNR(Signal to Noise Ratio)に相当する項であり、TSRは図8に示すように明るい層と暗い層のピクセル数の比率である。
本発明の実施形態1を、図1〜図3を用いて説明する。
図2は本発明を実施するためのOCT構成図である。図2において、200は光源である。本実施形態において、SLD光源(Super Luminescent Diode)を用いる。しかし、低コヒーレント光源であれば、何れでもよい。具体的にはASE光源(Amplified Spontaneous Emission)、チタンサファイアレーザーやSC光源(Super Continuum)などの超短パルス光源、SS光源(Swept Source光源)などが挙げられる。
IQI1=Cont×TSR (式2.1)
Cont=(saturation-noise)/2BitDepth (式2.2)
TSR=(Number(saturation〜middle)/Number(middle〜noise)) (式2.3)
ここでBitDepthは画像のビット深さであり、saturationはヒストグラム99パーセンタイル値、noiseは(網膜断層像の最低輝度値-1)でありmiddleはsaturationとnoiseの平均値である。Number(saturation〜middle)は、ヒストグラムにおいて、saturationからmiddleまでの輝度値を持つピクセル総数である。Contは網膜断層像のコントラストに相当する項であり、TSRは網膜断層像における明るい層と暗い層のピクセル数の比を表わす。
しかし画質評価指標1はIQI1に制限するものではない。
また、当該特徴量は前述したようにヒストグラムにより構成されることが好ましいが、例えば、該ヒストグラムに基づいて得られる所謂重心等の値より構成されることも可能である。また、このヒストグラムは、輝度値等の断層画像中の各評価領域の各々より得られる信号値、或いは該信号値以上の値が得られる出現頻度、にも対応する。
評価指標算出領域は、疾病部分を含む任意のサイズの領域とする。評価指標算出領域はユーザーが表示された断層像の層構造に設定してもよいし、疾病部位近傍の矩形閉空間領域をPC220もしくはユーザーが設定しても良い。図3(下)では矩形領域として設定している。
実施形態2を図4から図6を用いて説明する。なお、以降の実施形態において、光干渉断層撮像装置は実施形態1と同じであるため、省略する。
ノーマル撮像では、評価領域が網膜像全体であるため画質評価指標1は実施形態1で用いたIQI1を用いる。
IQI2=Cont×Skew(式3)
Skewはヒストグラム網膜部分の歪度を示すヒストグラム3次のモーメントである。Skewが高いほど断層像における網膜部分のヒストグラムの歪が大きい(正規分布から離れている)事を示す。暗い層である脈絡膜層がよく見えるほどヒストグラムは低輝度値が多くなるため、歪度が大きくなる。
実施形態3に関して図7を用いて説明する。本実施形態は実施形態2をベースにしている。画質評価指標による評価結果を上げ、より良い画質にするため本実施例では画像評価指標と基準値を用いてOCTへのフィードバック構成を設ける。
・網膜断層像のコントラストが小さい
・コヒーレンスゲートの位置が網膜像から離れている
・網膜断層像のコントラストが小さい
・コヒーレンスゲートから脈絡膜層が離れている、もしくはコヒーレンスゲートが脈絡膜層にかかっているため、脈絡膜で折り返しが発生している
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
201:ファイバカプラ
202:ファイバ
203:ファイバ
204:ファイバコリメータ
205:分散補償
206:参照系反射ミラー
207:電動ステージ
208:参照光
209:ファイバコリメータ
210:測定光
211:スキャナミラー
212:スキャナレンズ
213:対物レンズ
214:電動ステージ
215:被測定検体(眼)
216:スキャナコントローラ
217:ファイバ
218:分光器
219:光検出素子
220:PC
221:ステージコントローラ
Claims (12)
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて得られた前記被検眼の断層画像を評価する眼科装置であって、
コヒーレンスゲートの位置に基づいて複数の評価方法のうち一の評価方法を選択する選択手段と、
前記選択手段により選択された評価方法に基づいて前記断層画像を評価する評価手段と、
を有することを特徴とする眼科装置。 - 前記評価手段は、前記断層画像の画質を評価することを特徴とする請求項1に記載の眼科装置。
- 前記断層画像は前記被検眼の眼底の断層画像であって、
前記選択手段は前記コヒーレンスゲートの前記被検眼の前記眼底に対する位置に基づいて前記評価方法を選択することを特徴とする請求項1または2に記載の眼科装置。 - 前記選択手段は、前記眼底の網膜に対して前記コヒーレンスゲートが前記被検眼の前眼部側にある場合には第一の評価方法を選択し、前記眼底の網膜に対して前記コヒーレンスゲートが前記前眼部側とは反対側にある場合には前記第一の評価方法とは異なる第二の評価方法を選択することを特徴とする請求項3に記載の眼科装置。
- 前記第一の評価方法は前記断層画像における所定の値以上の輝度値のピクセル数と前記所定の値未満の輝度値のピクセル数との比を用いる評価方法であり、前記第二の評価方法は前記比を用いない評価方法であることを特徴とする請求項4に記載の眼科装置。
- 前記第一の評価方法は前記断層画像における所定の値以上の輝度値のピクセル数と前記所定の値未満の輝度値のピクセル数との比を用いる評価方法であり、前記第二の評価方法は前記断層画像のヒストグラムの歪を用いることを特徴とする請求項4に記載の眼科装置。
- 前記コヒーレンスゲートの位置は前記測定光の光路長と前記参照光の光路長とが一致する位置であることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の眼科装置。
- 前記評価手段による評価結果に基づいて、前記断層画像の撮影のために前記眼科装置における調整を行う調整手段を有することを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の眼科装置。
- 前記調整手段は前記眼科装置において前記コヒーレンスゲートの位置を調整することを特徴とする請求項8に記載の眼科装置。
- 前記調整手段は前記眼科装置において合焦の調整を行うことを特徴とする請求項8に記載の眼科装置。
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて得られた前記被検眼の断層画像を評価する評価方法であって、
コヒーレンスゲートの位置に基づいて複数の評価方法のうち一の評価方法を選択する工程と、
前記選択された評価方法に基づいて、前記断層画像を評価する工程と、
を有することを特徴とする評価方法。 - 請求項11に記載の評価方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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