JP6013950B2 - 結晶相同定方法、結晶相同定装置、及び結晶相同定プログラム - Google Patents
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Description
以下に、図面に基づき、本発明の第1の実施形態に係る結晶相同定方法を具体的かつ詳細に説明する。当該実施形態に係る結晶相同定方法は、当該実施形態に係る結晶相同定装置1によって自動的に実行される。すなわち、当該実施形態に係る結晶相同定装置1は、当該実施形態に係る結晶相同定法を用いて、自動的に試料の定性分析を行うことが出来る装置である。図1は、当該実施形態に係る結晶相同定装置1の構成を示すブロック図である。当該実施形態に係る結晶相同定装置1は、解析部2と、情報入力手段3と、情報出力手段4と、記憶部5と、を備えている。結晶相同定装置1は、一般に用いられるコンピュータによって実現される。結晶相同定装置1は、X線回折装置11と接続されている。X線回折装置11は、粉末試料に対して、X線回折測定により、当該試料のX線回折データを測定し、測定されたX線回折データを、結晶相同定装置1の情報入力手段3へ出力する。解析部2は、情報入力手段3より、当該X線回折データを取得し、当該X線回折データに前処理を施して、試料の粉末回折パターンを生成する。ここで、前処理は、データの平滑化、バックグラウンドの除去、Kα2成分の除去などの処理をいう。解析部2で生成される当該粉末回折パターンは、記憶部5に入力され、保持される。なお、X線回折装置11が解析部(データ処理部)を備え、X線回折装置11の解析部が測定されるX線回折データに前処理を施すことにより試料の粉末回折パターンを生成して、結晶相同定装置1の情報入力手段3へ試料の粉末回折パターンを出力してもよい。また、前処理は必ずしも必要ではなく、測定されたX線回折データを、試料の粉末回折パターンとしてもよい。この場合、解析部2は、情報入力手段3より、測定されたX線回折データを取得し、記憶部5に試料の粉末回折パターンとして保持させる。解析部2は、記憶部5(又は情報入力手段3)より、当該試料の当該粉末回折パターンを取得し、当該粉末回折パターンに基づき、当該試料に含まれる結晶相を自動的に同定し、分析結果として、同定された結晶相を、その含有量(重量比)などとともに情報出力手段4へ出力する。情報出力手段4は、接続される表示装置12へ当該結晶相の情報を出力し、表示装置12において分析結果の表示が行われる。結晶相同定装置1の解析部2は、以下に説明する各ステップを実行する手段をそれぞれ備えている。また、当該実施形態に係る結晶相同定プログラムは、コンピュータを、各手段として機能させるためのプログラムである。
ステップ1では、試料の粉末回折パターンを取得する。試料の粉末回折パターンは、記憶部5に保持されている。又は、前述の通り、X線回折装置11が解析部(データ処理部)を備え、測定される試料のX線回折データに前処理を施して試料の粉末回折パターンを生成し、試料の粉末回折パターンを結晶相同定装置1の情報入力手段3へ出力してもよい。また、前処理を必要としない場合は、X線回折装置11が情報入力手段3へ測定される試料のX線回折データを試料の粉末回折パターンとして出力してもよい。結晶相同定装置1の解析部2は、記憶部5(又は情報入力手段3)より当該試料の粉末回折パターンを取得する。図5Aは、試料の粉末回折パターンのスペクトルを示しており、図の横軸はピーク位置を示す2θであり、図の縦軸はスペクトルの強度である。試料の粉末回折パターンに含まれる複数のピークにはそれぞれピーク番号(1〜30)が付されている。なお、X線回折装置11により測定される試料のX線回折データが情報入力手段3に入力されるか、記憶部5に保持されていてもよい。この場合は、解析部2が、情報入力手段3又は記憶部5より、試料のX線回折データを取得し、試料のX線回折データに前処理を施して、試料の粉末回折パターンを生成する。また、前処理を必要としない場合は、解析部2が、情報入力手段3又は記憶部5より、試料のX線回折データを試料の粉末回折パターンとして取得する。
ステップ2では、複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度の情報が少なくとも収納されるデータベースを用いて、試料の粉末回折パターンに対して、サーチマッチをする。すなわち、試料の粉末回折パターンを、データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる結晶相を選択し、当該結晶相を試料含有結晶相情報とする。ここで、試料含有結晶相情報とは既に同定された結晶相の情報であり、既に同定された結晶相(結晶相名又は当該結晶相のコード)が収納される。以下、図3を用いて、サーチマッチについて説明する。
ステップ3では、既に同定された結晶相の情報である試料含有結晶相情報を用いて、第1回折パターンに対して、全パターン解析による全パターンフィッティングを施して、前記試料含有結晶相情報にある結晶相の理論回折パターンを算出する。当該実施形態において、第1回折パターンとは、試料の粉末回折パターンである。
ステップ4では、ステップ3(全パターンフィッティングステップ)が算出した「既に同定された結晶相」の理論回折パターンと、第1回折パターンとの差異に基づいて、試料の残余情報を生成する。当該実施形態では、第1回折パターンから該理論回折パターンを差し引き、残差回折パターンを作成する。そして、ステップ2(サーチマッチステップ)のデータリスト化ステップ(ステップ(a))と同様のステップにより、残差回折パターンのd−Iリストを作成する。当該d−Iリストが試料の残余情報に含まれる。
ステップ5では、ステップ4(残余情報生成ステップ)が生成する残余情報に含まれる情報に応じて、残余情報に対してサーチマッチを行うか否かの判定を行う。まず、残差回折パターンのd−Iリストに、さらにサーチマッチを行うのに十分な情報が含まれているかを示す残存判定値を残差回折パターンのd−Iリストより算出する。当該残存判定値が設定値未満である場合は、残差回折パターンのd−Iリストにはさらにサーチマッチを行うのに十分な情報が含まれていないと判断し、直近のステップ3(全パターンフィッティングステップ)で用いた試料含有結晶相情報にある結晶相(結晶相名又は当該結晶相のコード)と、ステップ3の全パターンフィッティングより得られる当該結晶相それぞれの含有量とを、同定した結晶相及びその含有量として、情報出力手段4に出力して、当該結晶相同定方法を終了する。これに対して、当該残存判定値が設定値以上である場合は、ステップ5を終了して、ステップ6へ進む。
ステップ6では、ステップ4(残余情報生成ステップ)が生成する残余情報に含まれる残差回折パターンのd−Iリストを、データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる新たな結晶相を選択する。
ステップ7では、ステップ6(残余情報サーチマッチステップ)における同定の適合度合いに基づいて、更なる同定を行うか否かを判定する。更なる同定を行う場合は、ステップ6が選択した新たな結晶相を試料含有結晶相情報に追加して、新たに試料含有結晶相情報を生成する。新たに生成された当該試料含有結晶相情報を用いて、試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、ステップ3、ステップ4、ステップ5、及びステップ6をさらに実行する。更なる同定を行わない場合は、当該結晶相同定方法を終了する。
本発明の第2の実施形態に係る結晶相同定方法は、ステップ2(サーチマッチステップ)が異なる点を除いて、第1の実施形態に係る結晶相同定法と同じである。第1の実施形態に係る結晶相同定方法では、ステップ2において、試料に含まれる結晶相を1個選択していたのに対して、当該実施形態に係る結晶相同定方法では、試料に含まれる結晶相を複数個選択することが出来る。以下、図3を用いて、当該実施形態に係るステップ2について説明する。
本発明の第3の実施形態に係る結晶相同定方法は、ステップ7(サーチマッチ結果判定ステップ)で生成する試料含有結晶相情報及び第1回折パターンが異なり、それに伴い、次に実行されるステップ3(全パターンフィッティングステップ)における第1回折パターン及び試料含有結晶相情報が異なるが、それ以外については、第1又は第2の実施形態に係る結晶相同定方法と同じである。すなわち、ステップ7における同定の適合度合いに基づいて、更なる同定を行うか否かを判定し、更なる同定を行う場合は、ステップ6(残余情報サーチマッチステップ)が選択した新たな結晶相の情報を新たに試料含有結晶相情報とし、第1回折パターンからすでに同定された結晶相の理論回折パターンを差し引いた残差回折パターンを新たに第1回折パターンとして、当該第1回折パターンに対して、当該試料結晶相情報を用いて、ステップ3、ステップ4、ステップ5及びステップ6をさらに実行させる。以下、図2を用いて、当該実施形態に係る結晶相同定方法について説明する。
以上、本発明の第1乃至第3の実施形態に係る結晶相同定方法、結晶相同定装置、及び結晶相同定プログラムについて説明した。第1乃至第3の実施形態に係る結晶相同定方法では、サーチマッチにおける適合の度合い表すFOMに閾値を設定し、また、修正d−Iリストの残存判定値に設定値を設定することにより、更なる同定を行うか否かの判定を自動で行うことが出来、当該実施形態の結晶相同定装置1は、自動的に試料の定性分析を行うことが出来ている。特に、ステップ4(残余情報生成ステップ)で作成される残差回折パターンは、全パターンフィッティングにより精密化されており、より成分量の少ない結晶相の同定を可能とし、より精度よく定性分析を行うことが出来ている。本発明を用いることなく、精度よく定性分析を行うためには、ユーザは、測定方法の改善、試料調整の改善、検索データベースの制限、サーチマッチ条件の設定など、様々な方策を駆使して、成分量の少ない結晶相の同定を行う必要があるが、発明により、熟練度の低いユーザであっても、短時間に、精度の高い、自動定性分析を行うことが出来る。
Claims (9)
- 複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度の情報が少なくとも収納されるデータベースを用いて、試料の粉末回折パターンより前記試料に含まれる結晶相を同定する、結晶相同定方法であって、
既に同定された結晶相の情報である試料含有結晶相情報を用いて、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、全パターンフィッティングを施して、前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを算出する、全パターンフィッティングステップと、
前記全パターンフィッティングステップが算出した前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを前記第1回折パターンから差し引いた残差回折パターンに基づいて、又は前記既に同定された結晶相の理論回折パターンにピーク1本毎のプロファイルを足して、前記第1回折パターンに近づけるようプロファイルフィッティングを施すことに基づいて、試料の残余情報を生成する、残余情報生成ステップと、
前記残余情報生成ステップが生成する前記残余情報を、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる新たな結晶相を選択する、残余情報サーチマッチステップと、
を備えることを特徴とする結晶相同定方法。 - 請求項1に記載の結晶相同定方法であって、
前記全パターンフィッティングステップの前に実行されるとともに、前記試料の粉末回折パターンを、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる結晶相を選択し、当該結晶相を前記試料含有結晶相情報とする、サーチマッチステップを、
さらに備えることを特徴とする結晶相同定方法。 - 複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度の情報が少なくとも収納されるデータベースを用いて、試料の粉末回折パターンより前記試料に含まれる結晶相を同定する、結晶相同定方法であって、
既に同定された結晶相の情報である試料含有結晶相情報を用いて、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、全パターンフィッティングを施して、前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを算出する、全パターンフィッティングステップと、
前記全パターンフィッティングステップが算出した前記既に同定された結晶相の理論回折パターンと、前記第1回折パターンとの差異に基づいて、試料の残余情報を生成する、残余情報生成ステップと、
前記残余情報生成ステップが生成する前記残余情報を、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる新たな結晶相を選択する、残余情報サーチマッチステップと、
前記残余情報サーチマッチステップにおける同定の適合度合いに基づいて、更なる同定を行うか否かを判定し、更なる同定を行う場合は、前記残余情報サーチマッチステップが選択した前記新たな結晶相を前記試料含有結晶相情報に追加し、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、前記試料含有結晶相情報を用いて、前記全パターンフィッティングステップ、前記残余情報生成ステップ、及び前記残余情報サーチマッチステップをさらに実行させる、サーチマッチ結果判定ステップと、
を備えることを特徴とする結晶相同定方法。 - 請求項3に記載の結晶相同定方法であって、
前記全パターンフィッティングステップの前に実行されるとともに、前記試料の粉末回折パターンを、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる結晶相を選択し、当該結晶相を前記試料含有結晶相情報とする、サーチマッチステップを、
さらに備えることを特徴とする結晶相同定方法。 - 請求項1又は2に記載の結晶相同定方法であって、
前記残余情報サーチマッチステップにおける同定の適合度合いに基づいて、更なる同定を行うか否かを判定し、更なる同定を行う場合は、前記残余情報サーチマッチステップが選択した前記新たな結晶相を新たに前記試料含有結晶相情報とし、前記残差回折パターンを新たに前記第1回折パターンとして、前記第1回折パターンに対して、前記試料含有結晶相情報を用いて、前記全パターンフィッティングステップ、前記残余情報生成ステップ、及び前記残余情報サーチマッチステップをさらに実行させる、サーチマッチ結果判定ステップを、
さらに備えることを特徴とする結晶相同定方法。 - 複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度の情報が少なくとも収納されるデータベースを用いて、試料の粉末回折パターンより前記試料に含まれる結晶相を同定する、結晶相同定装置であって、
既に同定された結晶相の情報である試料含有結晶相情報を用いて、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、全パターンフィッティングを施して、前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを算出する、全パターンフィッティング手段と、
前記全パターンフィッティング手段が算出した前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを前記第1回折パターンから差し引いた残差回折パターンに基づいて、又は前記既に同定された結晶相の理論回折パターンにピーク1本毎のプロファイルを足して、前記第1回折パターンに近づけるようプロファイルフィッティングを施すことに基づいて、試料の残余情報を生成する、残余情報生成手段と、
前記残余情報生成手段が生成する前記残余情報を、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる新たな結晶相を選択する、残余情報サーチマッチ手段と、
を備えることを特徴とする結晶相同定装置。 - 複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度の情報が少なくとも収納されるデータベースを用いて、試料の粉末回折パターンより前記試料に含まれる結晶相を同定する、結晶相同定装置であって、
既に同定された結晶相の情報である試料含有結晶相情報を用いて、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、全パターンフィッティングを施して、前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを算出する、全パターンフィッティング手段と、
前記全パターンフィッティング手段が算出した前記既に同定された結晶相の理論回折パターンと、前記第1回折パターンとの差異に基づいて、試料の残余情報を生成する、残余情報生成手段と、
前記残余情報生成手段が生成する前記残余情報を、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる新たな結晶相を選択する、残余情報サーチマッチ手段と、
前記残余情報サーチマッチ手段における同定の適合度合いに基づいて、更なる同定を行うか否かを判定し、更なる同定を行う場合は、前記残余情報サーチマッチ手段が選択した前記新たな結晶相を前記試料含有結晶相情報に追加し、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、前記試料含有結晶相情報を用いて、前記全パターンフィッティング手段、前記残余情報生成手段、及び前記残余情報サーチマッチ手段をさらに実行させる、サーチマッチ結果判定手段と、
を備えることを特徴とする結晶相同定装置。 - 複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度の情報が少なくとも収納されるデータベースを用いて、試料の粉末回折パターンより前記試料に含まれる結晶相を同定する、結晶相同定プログラムであって、
コンピュータを、
既に同定された結晶相の情報である試料含有結晶相情報を用いて、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、全パターンフィッティングを施して、前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを算出する、全パターンフィッティング手段、
前記全パターンフィッティング手段が算出した前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを前記第1回折パターンから差し引いた残差回折パターンに基づいて、又は前記既に同定された結晶相の理論回折パターンにピーク1本毎のプロファイルを足して、前記第1回折パターンに近づけるようプロファイルフィッティングを施すことに基づいて、試料の残余情報を生成する、残余情報生成手段、
前記残余情報生成手段が生成する前記残余情報を、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる新たな結晶相を選択する、残余情報サーチマッチ手段、
として機能させるための結晶相同定プログラム。 - 複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度の情報が少なくとも収納されるデータベースを用いて、試料の粉末回折パターンより前記試料に含まれる結晶相を同定する、結晶相同定プログラムであって、
コンピュータを、
既に同定された結晶相の情報である試料含有結晶相情報を用いて、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、全パターンフィッティングを施して、前記既に同定された結晶相の理論回折パターンを算出する、全パターンフィッティング手段、
前記全パターンフィッティング手段が算出した前記既に同定された結晶相の理論回折パターンと、前記第1回折パターンとの差異に基づいて、試料の残余情報を生成する、残余情報生成手段、
前記残余情報生成手段が生成する前記残余情報を、前記データベースに収納される複数の結晶相のピーク位置及びピーク強度と、比較することにより、前記データベースに収納される複数の結晶相より前記試料に含まれる新たな結晶相を選択する、残余情報サーチマッチ手段、
前記残余情報サーチマッチ手段における同定の適合度合いに基づいて、更なる同定を行うか否かを判定し、更なる同定を行う場合は、前記残余情報サーチマッチ手段が選択した前記新たな結晶相を前記試料含有結晶相情報に追加し、前記試料の粉末回折パターンである第1回折パターンに対して、前記試料含有結晶相情報を用いて、前記全パターンフィッティング手段、前記残余情報生成手段、及び前記残余情報サーチマッチ手段をさらに実行させる、サーチマッチ結果判定手段、
として機能させるための結晶相同定プログラム。
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