JP6006534B2 - 位置検出装置 - Google Patents
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Description
この構成によれば、磁束密度が比較的高密度な永久磁石の他軸方向の中央部と対面する位置に、凹部のある磁気ヨークを設けたことにより、永久磁石の他軸方向の中央部から遠い部分の磁束が、相対的に補強される。したがって、磁気検出素子の移動面において、他軸方向の磁束密度が平坦になる。したがって、他軸方向の変位による検出軸方向の位置検出の精度の劣化を低減することが可能である。
請求項4は、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の発明において、前記磁気検出素子はホール素子であることを特徴とする。この構成によれば、安価で高性能な位置検出装置を提供することが可能である。
0<d≦W+2×β …(1)
Gap+α≦t≦Gap+α+W …(2)
Gap+α≦t≦Gap+α+0.25×W …(3)
この構成によれば、磁束密度分布を、他軸方向に、さらに確実に平坦化できる。したがって、検出軸方向に直交する他軸方向の変位による、検出軸方向の位置検出の精度の劣化を、より一層確実に防止できる位置検出装置を安価に提供することが可能である。
本発明に係る第1実施形態について、図1から図4を参照して説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係る位置検出装置を、カメラモジュールに適用した概略斜視図であり、図18に示した従来例に、本発明を適用したものであるため、同一機能部には同一符号を付している。
・d:ヨーク間距離;一対の磁気ヨークの離間距離
・Gap:磁石−パッケージ表面間距離;基準面からホールセンサのパッケージ表面までの距離
・α:パッケージ面−センサ間距離;パッケージ表面からホールセンサの感磁部までの距離
・W:他軸方向の磁石幅;検出軸に直交する他軸方向の磁石幅
・β:他軸方向の変位量;ホールセンサが磁石に対して他軸方向に相対移動する距離
・0<d≦W+2×β …(1)
・Gap+α≦t≦Gap+α+W …(2)
・Gap+α≦t≦Gap+α+0.25×W …(3)
図7(a)に示すグラフにおいて、d=2.0の場合、他軸方向の変位量β=±1.0mmまで、磁束密度のグラフが平坦であり、磁束密度の大きさが最高レベルの性能が確認できる。磁束密度の点では、d=0.4mmの場合が最高値を示し、磁気ヨークなしの場合が最低値を示している。
図7(c)に示す表によれば、位置検出装置10の性能は、ヨーク間距離d=2.0〜2.4mmにおいて、他軸方向の変位量β=1.2mmまで許容できるという実用性能を満足することが確認できる。この時、磁束密度の大きさが中程度である。
図8(a)に示すグラフにおいて、d=0.4の場合、他軸方向の変位量β=±1.0mmまで、磁束密度のグラフが平坦であり磁束密度の大きさの点でも最高レベルの性能が確認できる。また、磁束密度は、磁気ヨークなしの場合が最低値を示している。
図8(c)に示す表によれば、位置検出装置10の性能は、ヨーク間距離d=3.6〜4.0mmにおいて、他軸方向の変位量β=1.2mmまで許容できるという実用性能を満足することが確認できる。この時、磁束密度の大きさは特に大きくない。
図9(a)に示すグラフにおいて、t=1.0とt=1.5との場合、他軸方向の変位量β=±0.6mmまで、磁束密度のグラフが平坦であり磁束密度の大きさの点でも最高レベルの性能が確認できる。また、磁束密度の大きさは、t=0、すなわち磁石5に磁気ヨーク1,2を接触させた場合が、磁気ヨークなしの場合よりも、さらに低い結果を示している。
図9(c)に示す表によれば、位置検出装置10の性能は、ヨーク間距離t=1.0〜1.5mmにおいて、他軸方向の変位量β=0.6mmまで許容できるという実用性能を満足することが確認できる。この時、磁束密度の大きさも最高レベルにある。。
図10(a)に示すグラフにおいて、t=1.5とt=2.0との場合、他軸方向の変位量β=±0.6mmまで、磁束密度のグラフが平坦であり磁束密度の大きさの点でも最高レベルの性能が確認できる。また、磁束密度の大きさは、t=0からt=1.0、すなわち磁気ヨーク1,2が磁石5とホールセンサ3の間にある場合、磁気ヨークなしの場合よりも、さらに低い結果を示している。
図10(c)に示す表によれば、位置検出装置10の性能は、ヨーク間距離t=1.5〜2.0mmにおいて、他軸方向の変位量β=0.6〜0.8mmまで許容できるという実用性能を満足することが確認できる。この時、磁束密度の大きさも最高レベルである。
図11(a)に示すグラフにおいて、t=2.0とt=2.5との場合、他軸方向の変位量β=±0.6mmまで、磁束密度のグラフが平坦であり磁束密度の大きさの点でも最高レベルの性能が確認できる。また、磁束密度の大きさは、t=0からt=1.5、すなわち磁気ヨーク1,2が磁石5とホールセンサ3の間にある場合、磁気ヨークなしの場合よりも、さらに低い結果を示している。
図11(c)に示す表によれば、位置検出装置10の性能は、ヨーク−磁石間距離t=2.0〜2.5mmにおいて、他軸方向の変位量β=0.6〜1.2mmまで許容できるという実用性能を満足することが確認できる。この時、磁束密度の大きさも最高レベルである。
また、図13(b)形状2,(c)形状3においても、ホールセンサ3と、磁石5と、は同一符号で示すとおりであるが、図13(b)に示す形状2のヨーク101,102は、ヨーク1,2とは異なる。そして、図13(c)に示す形状3のヨーク103も、ヨーク1,2とは異なる。これら、形状1〜3によるそれぞれの位置検出装置は、図15に示すシミュレーション検証データのグラフで性能を開示している。
図16は、本発明の第2実施形態に係る位置検出装置を、カメラモジュールに適用した概略斜視図である。図16に示すカメラモジュール200は、図1に示したカメラモジュール20に対し、駆動コイル111,112が付加された点のみが異なる。したがって、駆動コイル111,112以外に関し、カメラモジュール200は、カメラモジュール20とほぼ同一構成であり、同一動作をする。また、カメラモジュール200に搭載された位置検出装置10,10yも、カメラモジュール20に搭載された位置検出装置10,10yと、ほぼ等しいので、斯かる重複説明は省略する。
5 磁石
3 ホールセンサ
39 ホールセンサの感磁面
10,10y,30x,30y 位置検出装置
A 基準面
t:ヨーク−磁石間距離;磁石の基準面から磁気ヨークまでの距離
d:ヨーク間距離;一対の磁気ヨークの離間距離
Gap:磁石−パッケージ表面間距離;基準面からホールセンサのパッケージ表面までの距離
α:パッケージ面−センサ間距離;パッケージ表面からホールセンサの感磁部までの距離
W:他軸方向の磁石幅;検出軸に直交する他軸方向の磁石幅
β:他軸方向の変位量;ホールセンサが磁石に対して他軸方向に相対移動する距離
Q 凹部
Claims (6)
- 位置を検出する対象となる物体に取り付けられ検出軸方向に移動可能に配置された永久磁石と、
前記永久磁石が発生する磁束密度を検出する磁気検出素子と、を備え、
前記磁気検出素子の検出値に基づいて前記物体の位置を検出する位置検出装置において、
前記磁気検出素子の前記永久磁石側とは逆側となる背面側に配置された磁気ヨークを有し、
前記磁気ヨークは、検出軸方向に長い二本のヨーク部材から成り、それら二本の部材を、前記磁気検出素子の前記背面側に、平面視でその磁気検出素子を両側から挟み込むように配置することで、少なくとも、平面視で前記検出軸方向と直交する方向の両側に、前記検出軸方向に長い部分を有することを特徴とする位置検出装置。 - 位置を検出する対象となる物体に取り付けられ検出軸方向に移動可能に配置された永久磁石と、
前記永久磁石が発生する磁束密度を検出する磁気検出素子と、を備え、
前記磁気検出素子の検出値に基づいて前記物体の位置を検出する位置検出装置において、
前記磁気検出素子の前記永久磁石側とは逆側となる背面側に配置された磁気ヨークを有し、
前記磁気ヨークは、前記磁気検出素子を背面側から覆う平板状の部材であり、その平板状の部材の前記磁気検出素子に対向する側の面に、前記検出軸方向に直交する方向の中央部に凹部が形成されることで、少なくとも、平面視で前記検出軸方向と直交する方向の両側に、前記検出軸方向に長い部分を有することを特徴とする位置検出装置。 - 前記凹部は、前記検出軸方向に連続した溝であることを特徴とする請求項2に記載の位置検出装置。
- 前記磁気検出素子はホール素子であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の位置検出装置。
- 前記磁気検出素子に対面する前記永久磁石の基準面から前記磁気ヨークまでの距離tと、
一対の前記長い部分の離間距離dと、
前記基準面から前記磁気検出素子のパッケージ表面までの距離Gapと、
前記パッケージ表面から前記磁気検出素子の感磁部までの距離αと、
前記検出軸に直交する他軸方向の磁石幅Wと、
前記磁気検出素子が前記永久磁石に対して前記他軸方向に相対移動する他軸方向の変位量βと、の条件が、下式(1)と、下式(2)とを満足することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の位置検出装置。
0<d≦W+2×β …(1)
Gap+α≦t≦Gap+α+W …(2) - 前記条件が、下式(3)を満足することを特徴とする請求項5に記載の位置検出装置。
Gap+α≦t≦Gap+α+0.25×W …(3)
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