JP6002728B2 - 監視チップ温度に基づく供給電圧の動的調整 - Google Patents
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Description
Nominal_Vdd、閾値、および傾きは、コントロール/ステータスレジスタ(CSR)に書き込むことによって、または、1つ以上のワンタイムプログラマブル(OTP)ヒューズを溶断することによって制御される、プログラム可能な値であってもよい。28nmプロセスに対する値は、例えば、以下の通りであってもよい。
Nominal_Vdd=900mV
閾値=50℃
傾き=−1mV/℃
なお、本発明は、実施の態様として以下の内容を含む。
〔態様1〕
半導体チップの温度を監視することと、
監視された前記温度である監視温度に基づいて、前記半導体チップに対する供給電圧を調整することと、
を含む、方法。
〔態様2〕
前記温度は、オンチップ温度センサによって監視される、態様1に記載の方法。
〔態様3〕
前記温度は、オフチップ温度センサによって監視される、態様1に記載の方法。
〔態様4〕
前記供給電圧を調整することは、低下する前記監視温度に応じて前記供給電圧を増加することを含む、態様1に記載の方法。
〔態様5〕
前記供給電圧を増加することは、前記監視温度が閾値温度未満である場合に限り生じる、態様4に記載の方法。
〔態様6〕
前記供給電圧を調整することは、温度に対して負の傾きを有する直線関係によって決定される、態様1に記載の方法。
〔態様7〕
半導体チップの温度を監視する温度センサと、
監視された前記温度である監視温度に基づいて、前記半導体チップに対する供給電圧を調整するように構成されたコントローラと、
を備える、装置。
〔態様8〕
前記温度センサおよび前記コントローラは、前記半導体チップ上に位置する、態様7に記載の装置。
〔態様9〕
前記温度センサおよび前記コントローラは、前記半導体チップの外に位置する、態様7に記載の装置。
〔態様10〕
前記コントローラは、制御信号を電圧レギュレータモジュール(VRM)に送信して、前記VRMに前記供給電圧を調整させるように構成されている、態様7に記載の装置。
〔態様11〕
前記コントローラは、低下する前記監視温度に応じて前記供給電圧を増加することによって、前記供給電圧を調整するように構成されている、態様7に記載の装置。
〔態様12〕
前記コントローラは、前記監視温度が閾値温度未満である場合に限り、前記供給電圧を増加するように構成されている、態様11に記載の装置。
〔態様13〕
前記チップ上のジャンクション温度を監視する前記温度センサに連結されるオンチップ熱ダイオードを更に備える、態様7に記載の装置。
〔態様14〕
前記コントローラは、温度に対して負の傾きを有する直線関係によって決定されるように、前記供給電圧を調整するように構成されている、態様7に記載の装置。
〔態様15〕
半導体チップの温度を監視する手段と、
監視された前記温度である監視温度に基づいて、前記半導体チップに対する供給電圧を調整する手段と、
を備える、装置。
〔態様16〕
前記温度を監視する手段は、オンチップ温度センサである、態様15に記載の装置。
〔態様17〕
前記温度を監視する手段は、オフチップ温度センサである、態様15に記載の装置。
〔態様18〕
前記調整手段は、低下する前記監視温度に応じて前記供給電圧を増加する手段を含む、態様15に記載の装置。
〔態様19〕
前記供給電圧を増加する手段は、前記監視温度が閾値温度未満である場合に限り、増加するように動作する、態様18に記載の装置。
〔態様20〕
前記供給電圧を調整する手段は、温度に対して負の傾きを有する直線関係に基づいて動作する、態様15に記載の装置。
104、304、404 熱ダイオード
106、306、406 温度センサ
108、308、408 コントローラ
110、310、410 電圧レギュレータモジュール(VRM)
112A、112B、312A、312B、412A、412B 入力
114、314、414 符号付き8ビット信号
116、316、416 接続
118、318、418 供給電圧(Vdd)
Claims (14)
- 40nm以下のフィーチャサイズを有する半導体チップの温度を監視することと、
監視された前記温度である監視温度であって、低下する監視温度の連続関数として前記半導体チップに対する供給電圧を増加することによって、前記供給電圧を調整することとを含み、
前記供給電圧を調整することは、前記監視温度が閾値温度未満である場合に限り生じる、方法。 - 前記温度は、オンチップ温度センサによって監視される、請求項1に記載の方法。
- 前記温度は、オフチップ温度センサによって監視される、請求項1に記載の方法。
- 前記供給電圧を調整することは、温度に対して負の傾きを有する直線関係によって決定される、請求項1に記載の方法。
- 40nm以下のフィーチャサイズを有する半導体チップの温度を監視する温度センサと、
監視された前記温度である監視温度であって、低下する監視温度の連続関数として前記半導体チップに対する供給電圧を増加することによって、前記供給電圧を調整するように構成されたコントローラであって、前記監視温度が閾値温度未満である場合に限り、前記供給電圧を増加するように構成されているコントローラと、
を備える、装置。 - 前記温度センサおよび前記コントローラは、前記半導体チップ上に位置する、請求項5に記載の装置。
- 前記温度センサおよび前記コントローラは、前記半導体チップの外に位置する、請求項5に記載の装置。
- 前記コントローラは、制御信号を電圧レギュレータモジュール(VRM)に送信して、前記VRMに前記供給電圧を調整させるように構成されている、請求項5に記載の装置。
- 前記チップ上のジャンクション温度を監視する前記温度センサに連結されるオンチップ熱ダイオードを更に備える、請求項5に記載の装置。
- 前記コントローラは、温度に対して負の傾きを有する直線関係によって決定されるように、前記供給電圧を調整するように構成されている、請求項5に記載の装置。
- 40nm以下のフィーチャサイズを有する半導体チップの温度を監視する手段と、
監視された前記温度である監視温度であって、低下する監視温度の連続関数として前記半導体チップに対する供給電圧を増加する手段を含む、前記供給電圧を調整する手段であって、前記供給電圧を増加する手段は、前記監視温度が閾値温度未満である場合に限り、調整するように動作する、手段と、
を備える、装置。 - 前記温度を監視する手段は、オンチップ温度センサである、請求項11に記載の装置。
- 前記温度を監視する手段は、オフチップ温度センサである、請求項11に記載の装置。
- 前記供給電圧を調整する手段は、温度に対して負の傾きを有する直線関係に基づいて動作する、請求項11に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/040,431 | 2013-09-27 | ||
US14/040,431 US9507369B2 (en) | 2013-09-27 | 2013-09-27 | Dynamically adjusting supply voltage based on monitored chip temperature |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015109420A JP2015109420A (ja) | 2015-06-11 |
JP6002728B2 true JP6002728B2 (ja) | 2016-10-05 |
Family
ID=52673240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014192983A Active JP6002728B2 (ja) | 2013-09-27 | 2014-09-22 | 監視チップ温度に基づく供給電圧の動的調整 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9507369B2 (ja) |
JP (1) | JP6002728B2 (ja) |
KR (1) | KR20150035446A (ja) |
CN (2) | CN108469861A (ja) |
DE (1) | DE102014014494B4 (ja) |
HK (1) | HK1207430A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9404812B2 (en) * | 2013-03-14 | 2016-08-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for detecting environmental value in electronic device and electronic device |
JP2017208449A (ja) * | 2016-05-18 | 2017-11-24 | キヤノン株式会社 | 半導体集積回路および電子機器 |
WO2018010089A1 (en) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | Honeywell International Inc. | Dynamic temperature sensor |
US10649514B2 (en) | 2016-09-23 | 2020-05-12 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for temperature and voltage management control |
CN107144778A (zh) * | 2017-05-16 | 2017-09-08 | 珠海格力节能环保制冷技术研究中心有限公司 | 一种芯片温度检测装置及方法 |
CN108871604B (zh) * | 2018-07-26 | 2020-06-02 | 珠海格力电器股份有限公司 | 一种igbt模块的温度检测装置及方法 |
CN110928340B (zh) * | 2018-09-19 | 2021-12-24 | 中车株洲电力机车研究所有限公司 | 一种功率器件主动结温控制系统及方法 |
US20200381995A1 (en) * | 2019-05-27 | 2020-12-03 | Nanya Technology Corporation | Voltage supply device and operation method thereof |
CN110687952A (zh) * | 2019-10-24 | 2020-01-14 | 广东美的白色家电技术创新中心有限公司 | 电压调节电路、电压调节方法和存储介质 |
CN110991131B (zh) * | 2019-12-06 | 2023-11-24 | 国家电网有限公司 | 一种用于fpga的结温动态调节装置和方法 |
CN114114971B (zh) * | 2020-08-31 | 2023-12-22 | 北京比特大陆科技有限公司 | 电压调节方法、装置、数字处理设备及可读存储介质 |
US20220398026A1 (en) * | 2021-06-11 | 2022-12-15 | Micron Technology, Inc. | Bank remapping based on sensed temperature |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0736233A (ja) * | 1993-07-16 | 1995-02-07 | Canon Inc | 画像形成装置 |
US6082115A (en) * | 1998-12-18 | 2000-07-04 | National Semiconductor Corporation | Temperature regulator circuit and precision voltage reference for integrated circuit |
US20030074591A1 (en) * | 2001-10-17 | 2003-04-17 | Mcclendon Thomas W. | Self adjusting clocks in computer systems that adjust in response to changes in their environment |
US7117382B2 (en) * | 2002-05-30 | 2006-10-03 | Sun Microsystems, Inc. | Variably controlled delay line for read data capture timing window |
JP2009152311A (ja) | 2007-12-19 | 2009-07-09 | Toshiba Corp | 半導体集積回路システム |
US8356194B2 (en) | 2010-01-28 | 2013-01-15 | Cavium, Inc. | Method and apparatus for estimating overshoot power after estimating power of executing events |
US8384395B2 (en) * | 2010-05-06 | 2013-02-26 | Texas Instrument Incorporated | Circuit for controlling temperature and enabling testing of a semiconductor chip |
KR101817156B1 (ko) * | 2010-12-28 | 2018-01-10 | 삼성전자 주식회사 | 관통 전극을 갖는 적층 구조의 반도체 장치, 반도체 메모리 장치, 반도체 메모리 시스템 및 그 동작방법 |
WO2012141182A1 (ja) * | 2011-04-11 | 2012-10-18 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | 半導体集積回路 |
JP5785759B2 (ja) * | 2011-04-11 | 2015-09-30 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | 半導体集積回路、その制御方法、電子機器、及び周波数の変更回数の決定方法 |
JP2013004677A (ja) * | 2011-06-15 | 2013-01-07 | Toshiba Corp | 半導体集積回路及び半導体集積回路の動作制御方法 |
US8874949B2 (en) * | 2011-12-22 | 2014-10-28 | Intel Corporation | Method, apparatus, and system for energy efficiency and energy conservation including enhanced temperature based voltage control |
JP5969237B2 (ja) * | 2012-03-23 | 2016-08-17 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
-
2013
- 2013-09-27 US US14/040,431 patent/US9507369B2/en active Active
-
2014
- 2014-09-22 JP JP2014192983A patent/JP6002728B2/ja active Active
- 2014-09-25 DE DE102014014494.1A patent/DE102014014494B4/de active Active
- 2014-09-26 KR KR20140129160A patent/KR20150035446A/ko not_active Application Discontinuation
- 2014-09-26 CN CN201810444294.5A patent/CN108469861A/zh active Pending
- 2014-09-26 CN CN201410503442.8A patent/CN104516384A/zh active Pending
-
2015
- 2015-08-18 HK HK15107953.3A patent/HK1207430A1/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104516384A (zh) | 2015-04-15 |
US9507369B2 (en) | 2016-11-29 |
CN108469861A (zh) | 2018-08-31 |
HK1207430A1 (en) | 2016-01-29 |
DE102014014494A1 (de) | 2015-04-02 |
DE102014014494B4 (de) | 2020-06-18 |
JP2015109420A (ja) | 2015-06-11 |
US20150091638A1 (en) | 2015-04-02 |
KR20150035446A (ko) | 2015-04-06 |
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Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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A601 | Written request for extension of time |
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