JP5998627B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体集積回路装置に関する。
特許文献1は、半導体装置を提供する。この半導体装置は、電源の立ち上げ順序やタイミングなどに影響されず内部回路を正常に初期化でき、電源の立ち上げ、立ち下げ時の貫通電流を抑制する。内部電源検出回路は、内部回路を動作させる内部電源発生回路が内部回路を動作可能となる電圧となったことを検出する。電源検出回路は、電源がリセット回路とインターフェイス1回路を動作可能となる電圧となったことを検出する。内部電源検出回路の検出信号とIO1電源検出回路の検出信号から、入出力許可信号生成回路は、入出力許可信号を生成する。
特開2007−251738号公報
ある種の半導体集積回路装置は、当該半導体集積回路装置を制御するコントローラ回路に関連する装置部と、該コントローラ回路に関連する回路から初期化のための制御信号を受ける装置部とを含む。コントローラ回路を含む装置部は、半導体製造の微細化の恩恵を受けて比較的低い電圧で動作できる。一方、この装置部と異なる別の装置部は、個々の用途に固有の機能を別の装置部にさせるための異なる別の電源系で動作する。このように、半導体集積回路装置が、少なくとも第1電源線の電源系及び第2電源線の電源系を用いるとき、一般には、当該半導体集積回路装置の動作にはこれら全ての電源系の確立が必要である。一方で、半導体集積回路装置には、当該半導体集積回路装置に固有の制御のための調整をコントローラ回路装置部に行う必要であるものもある。この調整は、例えば半導体集積回路装置の製造工程で行われる。
2つ以上の電圧(例えば、5ボルト及び3.3ボルト)の電源を必要とする装置、例えば光トランシーバが、ひとつの電圧で駆動されるマイクロコントローラ回路(MCU)を内蔵している場合でも、マイクロコントローラ回路を動作させてROMへのアクセス(例えばROMへの読み書きや消去)を行いたい場合は、装置が必要とする全て(例えば2つ以上)の電圧の電源を用意して上記装置を通常の動作モードにおいて稼動させた状態で、ROMへのアクセスを行なうことになる。
求められていることは、半導体集積回路装置に固有の制御のための調整を、製造工程においてより少ない電源の確立で実行可能にすることである。
本発明は、このような事情を鑑みて為されたものであり、複数の電源を必要とする半導体集積回路装置において単一の電源の確立により半導体集積回路装置の調整を可能にする構成を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。
本発明に係る半導体集積回路装置は、(a)第1電圧の電源を供給する第1電源線に接続されたマイクロコントローラ回路と、(b)前記第1電圧と異なる第2電圧を供給する第2電源線に接続されており、前記マイクロコントローラ回路からの初期化信号に応答して初期化可能な第1回路とを備える。前記マイクロコントローラ回路は、前記第2電源線の電圧をモニタするためのAD変換器、当該半導体集積回路装置の調整データ及びプログラムを格納するための電気的に書き換え可能な不揮発性メモリ、該プログラムにより動作する中央処理装置、及び記憶手段を含み、前記マイクロコントローラ回路は初期化処理手段及びメイン処理手段を含み、前記初期化処理手段は、前記AD変換器からのモニタ信号が前記第2電源線の電源が確立しているか否かの第1検出を実行し、前記第1検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合、前記第1回路の初期化を行うことなく、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段に制御を移し、前記メイン処理手段は、前記第1検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合に当該半導体集積回路装置の調整が可能であり、前記メイン処理手段は、前記AD変換器からのモニタ信号に基づき前記第2電源線の電源が確立しているか否かの第2検出を実行すると共に、該第2検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合には前記第2検出の実行に戻り、前記初期化処理手段は、前記第1検出が前記第2電源線の電源が確立していることを示す場合、前記第1回路の初期化のための制御信号の生成を行う。
半導体集積回路装置は、当該半導体集積回路装置を制御するコントローラ回路に関連する装置部と、該コントローラ回路に関連する回路から初期化用の制御信号を受ける第1回路を含む別の装置部とを備える。コントローラ回路を含む装置部は、ある電圧で動作する一方で、この装置部と異なる別の装置部は、該別の装置部を機能させるための異なる別電源系で動作する。このように、半導体集積回路装置が、少なくとも第1電源線の電源系及び第2電源線の電源系を用いるとき、当該半導体集積回路装置の動作にはこれら全ての電源系の確立が必要である。一方で、これらの装置部は機能の側面から切り分けられており、この機能の切り分けに合わせて電源系の切り分けもこれらの装置部に関して行うとき、半導体集積回路装置を制御するコントローラ回路装置部の動作は、電源系全ての確立を必要とすることなく、第1電源系の確立のみで実行可能になる。このようなハードウエア構成を有する半導体集積回路装置では、初期化処理手段における処理及びメイン処理手段における処理を切り分けることによって、コントローラ回路装置部は、第2電源系が確立しているか不明な第1回路に初期化動作の実行を避けると共に、第2電源系の確立を監視しながら、第2電源系の確立を必要としない別の動作が可能になる。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記メイン処理手段は、前記第2検出が前記第2電源線の電源が確立していることを示す場合には前記メイン処理手段から前記初期化処理手段に制御を移し、前記初期化処理手段は、前記メイン処理手段から前記初期化処理手段に制御が移った場合に、前記第1回路の初期化を行うための制御信号を生成することができる。
この半導体集積回路装置によれば、一旦制御がメイン処理手段に移った後でも、第2電源線の電源が確立したことを検出したときは、メイン処理手段から初期化処理手段に制御を移して、初期化処理手段が第1回路の初期化を行うための準備を行って制御信号を生成する。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記メイン処理手段は、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段に制御を移した後に、当該半導体集積回路装置に固有の制御のための調整を前記マイクロコントローラ回路に行い、該調整は、第1電源線の確立のみで実行可能であり、該調整は、半導体集積回路装置の製造工程に行われることができる。
この半導体集積回路装置では、半導体集積回路装置の製造工程において第1電源線の確立のみで、当該半導体集積回路装置に固有の制御のための調整をコントローラ回路装置部に行う。
本発明に係る半導体集積回路装置は、前記マイクロコントローラ回路に接続されたインタフェース回路を更に備えることができる。前記メイン処理手段は、該第2検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合に、前記インタフェース回路を用いて前記マイクロコントローラ回路内の前記不揮発性メモリのデータを変更することが好ましい。
この半導体集積回路装置では、マイクロコントローラ回路は、初期化処理手段が第2電源線の電源が確立していないことを示す検出を行うときに、不揮発性メモリを書き込む動作モードに置かれる。書き込みデータは、マイクロコントローラ回路に接続されたインタフェース回路を介して提供される。半導体集積回路装置は、全ての電源系の確立を必要とせずに、上記の調整を行うことができる。このインタフェース回路が電源を必要とするとき、インタフェース回路は第1電源線に接続されている。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記第1回路は、光送信のための制御回路を含むことが好ましい。前記半導体集積回路装置は、前記制御回路によって制御されるレーザ駆動回路と、前記レーザ駆動回路からの駆動信号を受けるレーザダイオードと、該レーザダイオードからの光信号を受ける光導波路とを更に備えることができる。前記レーザ駆動回路及び前記レーザダイオードは、前記第2電源線に接続されていることが好ましい。
この半導体集積回路装置では、光送信モジュールの製造工程において調整を行う際に、半導体集積回路装置のための全ての電源の確立を必要としない。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記第1回路は、光受信のための制御回路を含むことが好ましい。前記半導体集積回路装置は、光導波路と、該光導波路からの光信号を受けるフォトダイオードと、前記フォトダイオードからの電気信号を処理する信号処理回路とを更に備えることができる。前記フォトダイオード及び前記信号処理回路は、前記第2電源線に接続されていることが好ましい。
この半導体集積回路装置では、光受信モジュールの製造工程において調整を行う際に、半導体集積回路装置のための全ての電源の確立を必要としない。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記初期化処理手段では、前記第2電源線の電源が確立しているか否かの第1検出結果は判定フラグとして前記記憶手段に格納され、前記判定フラグの値は、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段へ処理が移る際に、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段へ引き渡されて前記メイン処理手段において保持されることができる。
この半導体集積回路装置では、初期化処理手段の検出結果をメイン処理手段において保持しながら、メイン処理手段における処理を行うと共に電源の確立をモニタして、モニタ結果に応じて初期化処理手段に処理を戻すことができる。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記メイン処理手段において、前記判定フラグの値が前記第2電源線の電源が確立していないことを示すとき前記AD変換器からのモニタ信号に基づき前記第2電源線の電源が確立しているか否かの検出を実行し、該検出が前記第2電源線の電源が確立したことを示すとき前記判定フラグの値に関係なく前記メイン処理手段から前記初期化処理手段に処理を戻し、前記メイン処理手段から処理を引き受けた後に前記初期化処理手段は記AD変換器からのモニタ信号に基づき前記第2電源線の電源が確立しているか否かの検出を実行し、該検出に基づき前記判定フラグの値を変更すると共に前記第1回路の初期化を行うことが好ましい。
この半導体集積回路装置では、メイン処理手段は、判定フラグの値に応じて異なる処理を行うことができる。判定フラグの値が第2電源線の電源が確立していないことを示すとき第2電源線の電源が確立しているか否かの検出を実行し、この検出が第2電源線の電源が確立したことを示すとき判定フラグの値を変更することなくメイン処理手段から初期化処理手段に処理を戻して、初期化処理手段は検出フラグの値を変更すると共に初期化を行う。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記マイクロコントローラ回路は、信号の入力及び出力のいずれかを実行可能なポートを有し、前記メイン処理手段は、前記判定フラグの値に応じて前記ポートを操作することが好ましい。
本発明に係る半導体集積回路装置では、前記判定フラグの値が前記第2電源線の電源が確立したことを示すとき、前記メイン処理手段は、前記第2電源線の電源の確立の監視を行うことなく、前記メイン処理手段における処理を繰り返すことができる。
この半導体集積回路装置は、例えば中央処理装置に対する割り込み要求を監視する。
本発明の上記の目的および他の目的、特徴、並びに利点は、添付図面を参照して進められる本発明の好適な実施の形態の以下の詳細な記述から、より容易に明らかになる。
以上説明したように、本発明によれば、複数の電源を必要とする半導体集積回路装置において単一の電源の確立により半導体集積回路装置の調整を可能にする構成を有する半導体集積回路装置が提供される。
図1は本実施の形態に係る半導体集積回路装置を示す図面である。 図2は機能ブロックにおける制御を示すフローを示す図面である。 図3は、上記の半導体集積回路装置における処理を達成するための手段を概略的に示す図面である。 図4は、上記の半導体集積回路装置における処理を達成するための手段を概略的に示す図面である。
本発明の知見は、例示として示された添付図面を参照して以下の詳細な記述を考慮することによって容易に理解できる。引き続いて、添付図面を参照しながら、本発明の半導体集積回路装置に係る実施の形態を説明する。可能な場合には、同一の部分には同一の符号を付する。
図1は、本実施の形態に係る半導体集積回路装置を示す図面である。図1の(a)部は半導体集積回路装置のハードウエアブロックを概略的に示し、図1の(b)部は、機能ブロックを概略的に示す。半導体集積回路装置10は、第1電圧の電源を供給する第1電源線Aと、第1電圧と異なる第2電圧を供給する第2電源線Bと、マイクロコントローラ回路MCUと、第1回路11とを備える。この第1回路11は、第1電圧と異なる第2電圧を供給する第2電源線Bに接続されており、マイクロコントローラ回路MCUからの初期化信号に応答して初期化可能である。マイクロコントローラ回路MCUは、第1電圧の電源を供給する第1電源線Aに接続されており、第1電源線Aから電力の供給を受けて動作する。
マイクロコントローラ回路MCUは、第2電源線Bの電圧をモニタするためのAD変換器13、当該半導体集積回路装置10の調整データ及びプログラムを格納するための電気的に書き換え可能な不揮発性メモリ15、該プログラムにより動作する中央処理装置17、並びに、ROM、RAMやレジスタといった記憶手段19を含む。
半導体集積回路装置10に第1電源線Aが供給されると、マイクロコントローラ回路MCUは第1電源線Aから電源の供給を受けて動作可能になる。マイクロコントローラ回路MCUは第1電源線Aの確立により初期化される。この初期化は、マイクロコントローラ回路MCUに内蔵される電源検出回路、またはマイクロコントローラ回路MCUの外部に設けられたリセット素子等によって行われる。マイクロコントローラ回路MCUの初期化が完了すると、マイクロコントローラ回路MCUは所定のプログラムを実行する。
マイクロコントローラ回路MCUは、図1の(b)部に示されるように機能ブロックとして、初期化処理手段21及びメイン処理手段23を含む。図2は、機能ブロックにおける制御のためのフローを示す。
工程S101においてマイクロコントローラ回路MCUが適切に起動された後に、初期化処理手段21は、AD変換器13からのモニタ信号が第2電源線Bの電源が確立しているか否かの第1検出を実行する。この第1検出のために、工程S102においてAD変換器13からモニタ値を取り込んで、工程S103において第1検出を行って、判定フラグFを設定する。この第1検出が第2電源線Bの電源が確立していないことを示す場合、工程S104において判定フラグに第1値、例えば「1」を設定する。
一方、初期化処理手段21は、第1検出が第2電源線Bの電源が確立していることを示す場合、判定フラグを工程S108で、第1の値と異なる第2の値、例えば「0」に設定して、工程S109で、第1回路11の初期化を行う。
判定フラグが「1」であるとき、マイクロコントローラ回路MCU所定の値は、第1回路11の初期化を行うことなく、初期化処理手段21からメイン処理手段23に制御を移す。メイン処理手段23では、第1検出が第2電源線Bの電源が確立していないことを示す場合に当該半導体集積回路装置10の調整が可能であり、この調整処理を工程S105において行う。
半導体集積回路装置10では、メイン処理手段23は、初期化処理手段21からメイン処理手段23に制御を移した後に、当該半導体集積回路装置10に固有の制御のための調整をマイクロコントローラ回路MCUに行う。この調整処理は、第1電源線Aの確立のみで実行可能であり、該調整処理は、例えば半導体集積回路装置の製造工程に行われることができる。
この半導体集積回路装置10では、半導体集積回路装置10の製造工程において第1電源線Aの確立のみで、当該半導体集積回路装置10に固有の制御のための調整をコントローラ回路装置部に行うとき、メイン処理手段23における調整処理25は、例えばEEPROMといった不揮発性メモリ15の書き込み、割り込み処理等を含む。
メイン処理手段23は、AD変換器13からのモニタ信号(モニタ値)に基づき第2電源線Bの電源が確立しているか否かの第2検出処理を実行する。この第2検出処理のために、工程S106においてAD変換器13からモニタ値を取り込んで、工程S107において第2検出を行う。
この第2検出が第2電源線Bの電源が確立していないことを示す場合には第2検出処理の実行に戻る。例えば、このために制御経路BK2を介してメイン処理手段23の先頭に制御を移す。
また、第2検出が第2電源線Bの電源が確立していることを示す場合、制御経路BK1を介して初期化処理手段21にメイン処理手段23から制御を移す。
半導体集積回路装置10は、当該半導体集積回路装置10を制御するコントローラ回路MCUに関連する装置部と、該コントローラ回路MCUに関連する回路から初期化用の制御信号を受ける第1回路11を含む別の装置部とを備える。コントローラ回路MCUを含む装置部は、電源系Aからのある電圧で動作する一方で、この装置部と異なる別の装置部(例えば第1回路11)は、該別の装置部を機能させるために、異なる別電源系Bで動作する。
少なくとも第1電源線Aの電源系及び第2電源線Bの電源系を用いる半導体集積回路装置では、一般に、この半導体集積回路装置の動作のためにこれら全ての電源系A及びBの確立が必要である。しかしながら、半導体集積回路装置10では、半導体集積回路装置10を機能の側面から切り分けてこれらの装置部が規定されている。この機能の切り分けに合わせて、個々の装置部に関して電源系の切り分け(例えばマイクロコントローラ回路MCUは第1電源系のみで動作、第1回路11は第1電源系のみで動作、或いは第1電源系及び第2電源系で動作)も行うとき、半導体集積回路装置10を制御するコントローラ回路装置部の動作は、電源系全ての確立を必要とすることなく、第1電源系Aの確立のみで実行可能になる。このようなハードウエア構成を有する半導体集積回路装置10では、初期化処理手段21における処理及びメイン処理手段23における処理を切り分けることによって、コントローラ回路装置部は、第2電源系Bが確立しているか不明な第1回路11に初期化動作の実行を避けると共に、第2電源系Bの確立を監視しながら、第2電源系Bの確立を必要としないそれ独自の動作が可能になる。
半導体集積回路装置10は、メイン処理手段23は、第2検出が第2電源線Bの電源が確立していることを示す場合には、メイン処理手段23から制御経路BK1を介して初期化処理手段21に制御を移す。初期化処理手段21は、メイン処理手段23から初期化処理手段21に制御が移った場合に、第1回路11の初期化を行うための制御信号を生成することができる。第1回路11の初期化では、例えば工程S108において判定フラグに第2値、例えば「0」を設定する。工程S109において第1回路11の初期化のための制御信号の生成を行う。
この半導体集積回路装置10によれば、制御が一旦メイン処理手段23に移った後でも、第2電源線Bの電源が確立したことを検出したときは、制御をメイン処理手段23から初期化処理手段21に制御を移して、初期化処理手段21が第1回路11の初期化を行うための準備(例えば工程S103、S108)を行って制御信号を生成する(例えば工程S109)。
半導体集積回路装置10は、マイクロコントローラ回路MCUに接続されたインタフェース回路31を更に備えることができる。メイン処理手段23は、該第2検出が第2電源線Bの電源が確立していないことを示す場合に、インタフェース回路31を用いて外部からデータを取り込んで、マイクロコントローラ回路MCU内の不揮発性メモリ15の記憶内容を変更することができる。
この半導体集積回路装置10では、マイクロコントローラ回路MCUは、初期化処理手段21が第2電源線Bの電源が確立していないことを示す検出を行うときに、工程S114において不揮発性メモリ15を書き込む動作モードに置かれる。書き込みデータは、マイクロコントローラ回路MCUに接続されたインタフェース回路31を介して提供される。半導体集積回路装置10は、全ての電源系A及びBの確立を必要とせずに、上記の装置調整を行うことができる。このインタフェース回路31が電源を必要とするとき、インタフェース回路31を第1電源線Aに接続される装置部に含ませることができる。
このような半導体集積回路装置10は、例えば光送信器、光受信器、光送受信器といった光通信器に適用される。
第1回路11は、光送信のための制御回路33を含むことが好ましい。半導体集積回路装置10は、制御回路33によって制御されるレーザ駆動回路LDDと、レーザ駆動回路LDDからの駆動信号を受けるレーザダイオードLDを含む光送信サブアセンブリTOSAと、該レーザダイオードLDからの光信号LBOUTを受ける光ファイバといった光導波路FB1とを更に備えることができる。レーザ駆動回路LDD及びレーザダイオードLDは、第2電源線Bに接続されている。レーザ駆動回路LDDは、レーザダイオードLDにLD電流SD及び変調信号SMを提供する。マイクロコントローラ回路MCUはレーザ駆動回路LDDを(例えば、温度モニタ値に応じた設定値の書込み、LDDからのFault信号の読み込み)のように制御する。光送信器又は光送受信器は、マイクロコントローラ回路MCUによって制御されるTEC電源35を含むことができ、TEC電源35は、光送信サブアセンブリTOSAからの信号(例えばLD温度信号)STに応じて動作するTEC駆動回路37に接続される。TEC駆動回路37は、光送信サブアセンブリTOSA内のペルチェ素子の温度を制御するためにTEC電流を供給する。マイクロコントローラ回路MCUはTEC電源35を、例えば、温度モニタ値に応じた値の設定、TECイネーブル信号の入力といったような制御をする。
光送信器又は光送受信器のための半導体集積回路装置10では、光送信モジュールの製造工程において調整(例えば工程S114における不揮発性メモリの変更)を行う際に、半導体集積回路装置10のための全ての電源の確立を必要としない。
半導体集積回路装置10では、第1回路11は、光受信のための制御回路39を含むことが好ましい。半導体集積回路装置10は、光ファイバといった光導波路FB2と、該光導波路FB2からの光信号LBINを受けるフォトダイオードPDと、フォトダイオードPDからの電気信号SROUT(例えば差動信号)を処理する信号処理回路41とを更に備えることができる。信号処理回路41は、クロックデータリカバリ回路CDRやリミッティングアンプLIA等を含む。フォトダイオードLD及び信号処理回路41は、第2電源線Bに接続されている。
光送信器又は光送受信器のための半導体集積回路装置10では、光受信モジュールの製造工程において調整を行う際に、半導体集積回路装置10のための全ての電源の確立を必要としない。
半導体集積回路装置10では、初期化処理手段21では、第2電源線Bの電源が確立しているか否かの第1検出結果は判定フラグとして記憶手段19に格納され、判定フラグの値は、初期化処理手段21からメイン処理手段23へ処理が移る際に、初期化処理手段21からメイン処理手段23へ引き渡されてメイン処理手段23において保持されることができる。この半導体集積回路装置10では、初期化処理手段21における検出結果をメイン処理手段23において保持しながら、メイン処理手段23における処理を行いながら電源の確立をモニタして、モニタ結果に応じて初期化処理手段21に処理を戻すことができる。
既に説明したように、初期化処理手段21及びメイン処理手段23の内では、電源確立を示すステイタスの伝達のために、記憶手段19に格納された判定フラグを用いることができる。判定フラグFは初期化処理手段21により設定され、メイン処理手段23における処理のために利用され、メイン処理手段23では変更されない。
半導体集積回路装置10では、初期化処理手段21において設定された判定フラグの値が第2電源線の電源が確立していないことを示すとき、例えば判定フラグ1であるとき、メイン処理手段23は、AD変換器13からのモニタ信号に基づき第2電源線Bの電源が確立しているか否かの判定を実行する。メイン処理手段23における該検出が第2電源線Bの電源が確立したことを示すとき判定フラグの値に関係なくメイン処理手段23から経路FB2を介して初期化処理手段21に処理を戻す。メイン処理手段23から処理を引き受けた後に初期化処理手段21はAD変換器13からのモニタ信号に基づき第2電源線Bの電源が確立しているか否かの検出を再度実行する。この検出に基づき判定フラグの値を変更すると共に第1回路11の初期化を行うことが好ましい。
この半導体集積回路装置10では、メイン処理手段23は、判定ラグの値に応じて異なる処理を行うことができる。判定フラグの値が第2電源線Bの電源が確立していないことを示すとき、メイン処理手段23は、第2電源線Bの電源が確立しているか否かの検出を実行し、この検出が第2電源線Bの電源が確立したことを示すとき判定フラグの値を変更することなくメイン処理手段23から初期化処理手段21に処理を戻して、初期化処理手段21は判定フラグの値を変更すると共に初期化を行う。判定フラグの値をメイン処理手段で変更しない理由は、初期化の際に電源電圧Bの判定をして判定フラグを再設定するからである。
半導体集積回路装置10では、マイクロコントローラ回路MCUは、信号の入力及び出力のいずれかを実行可能なポートを有する。メイン処理手段23は、検出フラグの値に応じてポートを操作することが好ましい。
半導体集積回路装置10では、判定フラグの値が第2電源線Bの電源が確立していないことを示すとき、メイン処理手段23は、第2電源線Bの電源の確立の監視を繰り返すことなく、メイン処理手段23における処理を経路BK2を介して繰り返すことができる。この繰り返しにおいて、工程S110における判定フラグの値に関する判断に応じて、第2電源線Bの電源の確立の監視をスキップする。また、この繰り返しにおいて、各種モニタの監視(例えば、温度/電源電圧/TxBias/TxPower/RxPower)を工程S111において行うことができ、また周期的設定の処理(例えば、DAC、トランシーバICへの設定)を工程S112において行うことができる。また、この繰り返しにおいて、割り込み要求の処理を工程S113において行うことができる。この半導体集積回路装置10は、例えば中央処理装置CPUに対する割り込み要求の監視等を行うことができる。
図3は、上記の半導体集積回路装置10における処理を達成するための手段を概略的に示す図面である。
初期化処理手段21は、第1モニタ手段51、第1判定手段52、第1格納手段53、生成手段54、第1制御手段55、第2格納手段56、第2制御手段57を含むことができる。初期化処理手段21では、第1モニタ手段51は、AD変換器13を用いた第2電源線Bの電圧のモニタからモニタ値を生成するために設けられる。第1判定手段52は、第1モニタ手段51におけるモニタ値に基づいて、第2電源線Bの電圧が確立されたかの第1判定を行うために設けられる。第1格納手段53は、第1判定手段52における第1判定が肯定的であるとき、つまり電源が確立されているとき、該検出が肯定的であることを示す値を記憶手段19に格納するために設けられる。生成手段54は、第1判定手段52における第1判定が肯定的であるとき、第1回路11を初期化するための指示信号を生成するために設けられる。第1制御手段55は、第1判定手段52における第1判定が肯定的であるとき、初期化処理手段21からメイン処理手段23に処理を移すために設けられる。第2格納手段56は、第1判定手段52における第1判定が否定的であるとき、つまり電源が確立されていないとき、該検出が否定的であることを示す値を記憶手段19に格納するために設けられる。第2制御手段57は、第1判定手段52における第1判定が否定的であるとき、初期化処理手段21からメイン処理手段23に処理を移すために設けられる。
この半導体集積回路装置10では、上記の手段の一部又は全部を用いて、第2電源線Bの電圧が確立された場合には第1回路11の初期化の処理と、第2電源線Bの電圧が確立されていない場合の処理と、初期化処理手段21から処理が移されたメイン処理手段23における処理のための値を記憶手段19に格納できる。
図4は、上記の半導体集積回路装置10における処理を達成するための手段を概略的に示す図面である。メイン処理手段23は、第2判定手段61、第2モニタ手段62、第3判定手段63、第2制御手段64、及び第3制御手段65を備える。メイン処理手段23では、第2判定手段61は、記憶手段19内の値を読み出して、初期化処理手段21における検出に基づくメイン処理手段23における処理の分岐に関する第2判定を行うために設けられる(工程S110)。第2モニタ手段62は、第2判定手段61における第2判定手段の第2判定が否定的であることを示すとき、つまり電源が確立していないとき、AD変換器13を用いた第2電源線Bの電圧のモニタからモニタ値を生成するために設けられる(工程S106)。第3判定手段63は、第2モニタ手段62におけるモニタ値に基づいて、第2電源線Bの電圧が確立されたかの第3判定を行うために設けられる(工程S107)。第2制御手段64は、第3判定手段63における第3判定が肯定的であるとき、つまり電源が確立されたとき、メイン処理手段23から初期化処理手段21に処理を移すために設けられる(経路BK1)。第3制御手段65は、第3判定手段63における第3判定が否定的であるとき、つまり電源が確立されていないとき、メイン処理手段23で処理を続けるために設けられる(経路BK2)。第4制御手段66は、第2判定手段61における第2判定が肯定的であるとき、つまり電源が既に確立されているとき、メイン処理手段23から初期化処理手段21に処理を移すことなく、メイン処理手段23で処理を続けるために設けられる(経路BK2)。
この半導体集積回路装置10では、メイン処理手段23は、上記の手段を用いて、記憶手段19から読み出した値に応じて、第2電源線Bの電圧のモニタ処理及びメイン処理を行うことができる。
通常、光トランシーバ等の装置は、電源Aの下に動作するマイクロコントローラ回路MCUと、電源Aと異なる電源Bの下に動作する光通信用のサブアセンブリ(TOSA、ROSA)及びその周辺回路とを含む。装置の起動時において、マイクロコントローラ回路MCUは、電源Aが確立された後に電源Bの確立を待つことなく、サブアセンブリの周辺回路に対する初期化処理を行うことがある。このような場合に、メイン処理における処理(例えばメインループ)を正常に移行しないという不具合が生じることがある。
このような不具合を避けるために、電源A及び電源Bの両方の確立を待った後に、サブアセンブリの周辺回路に対する初期化処理を行うことができる。しかしながら、この処理及び方法では、両方の電源が共に立ち上がるまでの待ち時間を要することがあり、通常の動作ではない製造ラインでの、EEPROMといった不揮発性メモリの書き込みの際にも、両方の電源が共に立ち上がることを必要とする。しかしながら、製造工程において、複数の電源の準備は煩雑である。
本実施の形態に係る半導体集積回路装置10において、電源Aが確立されているけれども電源Bが確立していない状態(つまり、判定フラグ「1」の状態)では、初期化の対象である回路ICの初期化処理を行うことなく、メイン処理に移行してメインループを実行する。このメイン処理において、電源Aの確立のみで、製造工程において半導体集積回路装置10の調整(例えば、不揮発性メモリの書き込み)を実行できる。メイン処理におけるループにおいては、電源Bの立ち上がりをモニタしており、このモニタの結果として電源Bが確立したとき、制御は初期化処理へ戻った後に、初期化の対象である回路ICの初期化処理を行うと共に、判定フラグ「0」の状態に設定する。初期化処理により回路ICの初期化が完了した後に、メイン処理に移行する。このとき、メイン処理では、電源Bが確立している状態(つまり、判定フラグ「0」の状態)であるので、制御はメイン処理にとどまるように、例えばメイン処理において所定のループを繰り返す。この処理の流れによれば、複数の電源(例えば電源A及びB)を必要とする半導体集積回路装置10において単一の電源(例えば電源A)の確立により半導体集積回路装置10の調整を可能にする構成が提供される。
本実施の形態では、光通信装置の半導体集積回路装置について例示的に説明しているけれども、複数の電源で動作する半導体装置であって、前記複数電源のうちひとつの電源で動作する制御回路(MPU)へアクセスする場合に有用な技術である。
好適な実施の形態において本発明の原理を図示し説明してきたが、本発明は、そのような原理から逸脱することなく配置および詳細において変更され得ることは、当業者によって認識される。本発明は、本実施の形態に開示された特定の構成に限定されるものではない。したがって、特許請求の範囲およびその精神の範囲から来る全ての修正および変更に権利を請求する。
以上説明したように、本実施の形態によれば、複数の電源を必要とする半導体集積回路装置において単一の電源の確立により半導体集積回路装置の調整を可能にする構成を有する半導体集積回路装置が提供される。
A…第1電源線(電源)、B…第2電源線(電源)、10…半導体集積回路装置、11…第1回路、MCU…マイクロコントローラ回路、13…AD変換器、15…不揮発性メモリ、17…中央処理装置、19…記憶手段、21…初期化処理手段、23…メイン処理手段、25…調整処理、31…インタフェース回路、33…制御回路、LDD…レーザ駆動回路、LD…レーザダイオード、TOSA…光送信サブアセンブリ、FB1…光導波路、35…TEC電源、37…TEC駆動回路、39…制御回路、FB2…光導波路、PD…フォトダイオード、41…信号処理回路。

Claims (10)

  1. 半導体集積回路装置であって、
    第1電圧の電源を供給する第1電源線に接続されたマイクロコントローラ回路と、
    前記第1電圧と異なる第2電圧を供給する第2電源線に接続されており、前記マイクロコントローラ回路からの初期化信号に応答して初期化可能な第1回路と、
    を備え、
    前記マイクロコントローラ回路は、前記第2電源線の電圧をモニタするためのAD変換器、当該半導体集積回路装置の調整データ及びプログラムを格納するための電気的に書き換え可能な不揮発性メモリ、該プログラムにより動作する中央処理装置、及び記憶手段を含み、
    前記マイクロコントローラ回路は初期化処理手段及びメイン処理手段を含み、
    前記初期化処理手段は、前記AD変換器からのモニタ信号が前記第2電源線の電源が確立しているか否かの第1検出を実行し、前記第1検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合、前記第1回路の初期化を行うことなく、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段に制御を移し、
    前記メイン処理手段は、前記第1検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合に当該半導体集積回路装置の調整を行い、
    前記メイン処理手段は、前記AD変換器からのモニタ信号に基づき前記第2電源線の電源が確立しているか否かの第2検出を実行すると共に、該第2検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合には前記第2検出の実行に戻り、
    前記初期化処理手段は、前記第1検出が前記第2電源線の電源が確立していることを示す場合、前記第1回路の初期化のための制御信号の生成を行う、半導体集積回路装置。
  2. 前記メイン処理手段は、前記第2検出が前記第2電源線の電源が確立していることを示す場合には前記メイン処理手段から前記初期化処理手段に制御を移し、
    前記初期化処理手段は、前記メイン処理手段から前記初期化処理手段に制御が移った場合に、前記第1回路の初期化を行うための制御信号を生成する、請求項1に記載された半導体集積回路装置。
  3. 前記メイン処理手段は、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段に制御を移した後に、当該半導体集積回路装置に固有の制御のための調整を前記マイクロコントローラ回路に行い、該調整は、第1電源線の確立のみで実行可能であり、
    該調整は、半導体集積回路装置の製造工程に行われる、請求項1又は請求項2に記載された半導体集積回路装置。
  4. 前記マイクロコントローラ回路に接続されたインタフェース回路を更に備え、
    前記メイン処理手段は、該第2検出が前記第2電源線の電源が確立していないことを示す場合に、前記インタフェース回路を用いて前記マイクロコントローラ回路内の前記不揮発性メモリのデータを変更する、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載された半導体集積回路装置。
  5. 前記第1回路は、光送信のための制御回路を含み、
    前記半導体集積回路装置は、前記制御回路によって制御されるレーザ駆動回路と、前記レーザ駆動回路からの駆動信号を受けるレーザダイオードと、該レーザダイオードからの光信号を受ける光導波路とを更に備え、
    前記レーザ駆動回路及び前記レーザダイオードは、前記第2電源線に接続されている、請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載された半導体集積回路装置。
  6. 前記第1回路は、光受信のための制御回路を含み、
    前記半導体集積回路装置は、光導波路と、該光導波路からの光信号を受けるフォトダイオードと、前記フォトダイオードからの電気信号を処理する信号処理回路とを更に備え、
    前記フォトダイオード及び前記信号処理回路は、前記第2電源線に接続されている、請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載された半導体集積回路装置。
  7. 前記初期化処理手段では、前記第2電源線の電源が確立しているか否かの第1検出結果は判定フラグとして前記記憶手段に格納され、
    前記判定フラグの値は、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段へ処理が移る際に、前記初期化処理手段から前記メイン処理手段へ引き渡されて前記メイン処理手段において保持される、請求項1〜請求項6のいずれか一項に記載された半導体集積回路装置。
  8. 前記メイン処理手段において、前記判定フラグの値が前記第2電源線の電源が確立していないことを示すとき前記AD変換器からのモニタ信号に基づき前記第2電源線の電源が確立しているか否かの検出を実行し、該検出が前記第2電源線の電源が確立したことを示すとき前記判定フラグの値に関係なく前記メイン処理手段から前記初期化処理手段に処理を戻し、
    前記メイン処理手段から処理を引き受けた後に前記初期化処理手段は前記AD変換器からのモニタ信号に基づき前記第2電源線の電源が確立しているか否かの検出を実行し、該検出に基づき前記判定フラグの値を変更すると共に前記第1回路の初期化を行う、請求項7に記載された半導体集積回路装置。
  9. 前記判定フラグの値が前記第2電源線の電源が確立したことを示すとき、前記メイン処理手段は、前記第2電源線の電源の確立の監視を行うことなく、前記メイン処理手段における処理を繰り返す、請求項7又は請求項8に記載された半導体集積回路装置。
  10. 前記マイクロコントローラ回路は、信号の入力及び出力のいずれかを実行可能なポートを有し、
    前記メイン処理手段は、前記判定フラグの値に応じて前記ポートを操作する、請求項7〜請求項9のいずれか一項に記載された半導体集積回路装置。
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