JP5984257B2 - 光子計数型のx線コンピュータ断層装置及び散乱線補正方法 - Google Patents
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Description
を有する。
11 スキャナ装置
12 画像処理装置
21 X線管
23 光子計数型画像検出器
24 DAS
51 チャージアンプ
52 波形整形回路
531〜53n 比較器
541〜54n スイッチ
55 閾値論理回路
561〜56m カウンタ
57 重み付け回路
58 加算回路
61 CT撮像部
62 エネルギー弁別部
63 減弱係数マップ生成部
64 減弱係数マップ変換部
65 シミュレーション実行部
66 補正処理部
67 画像再構成部
Claims (12)
- 最大エネルギーが特性X線の最大ピークエネルギーより大きいエネルギーであるX線光子を発生するX線管と、
前記X線光子を検出するX線検出物質と、
前記特性X線の最大ピークエネルギーを含む第1エネルギー領域に相当する第1減弱係数マップを生成する減弱係数マップ生成手段と、
前記第1減弱係数マップを、前記第1エネルギー領域とは異なる領域である第2エネルギー領域の第2減弱係数マップに変換する減弱係数マップ変換手段と、
前記第2減弱係数マップに基づいて散乱線シミュレーションを行なって散乱X線光子の散乱光子分布を生成するシミュレーション実行手段と、
前記第2エネルギー領域に相当する、前記検出されたX線光子に基づいて再構成前のデータを生成し、前記再構成前のデータを前記散乱光子分布で補正処理して補正データを生成し、前記補正データに基づいて、前記第2エネルギー領域に相当する、散乱線補正された画像を再構成する画像再構成手段と、
を有する光子計数型のX線コンピュータ断層装置。 - 前記シミュレーション実行手段は、前記X線管から放出される複数のX線光子について単位距離だけ進行させて散乱確率及び散乱角度をそれぞれ計算し、計算の結果、前記複数のX線光子が計算範囲外になるまで前記複数のX線光子について単位距離をそれぞれ進行させる処理を行なうことで、前記散乱光子分布を生成する請求項1に記載の光子計数型のX線コンピュータ断層装置。
- 前記シミュレーション実行手段は、前記散乱線シミュレーションで、前記X線光子のエネルギーに閾値を設ける請求項2に記載の光子計数型のX線コンピュータ断層装置。
- 前記シミュレーション実行手段は、前記散乱線シミュレーションで、前記X線光子の散乱回数を制限する請求項2に記載の光子計数型のX線コンピュータ断層装置。
- 前記シミュレーション実行手段は、前記散乱線シミュレーションで、計算範囲を制限する請求項2に記載の光子計数型のX線コンピュータ断層装置。
- 前記X線管は、前記最大エネルギーが前記特性X線の最大ピークエネルギー付近であるX線光子を発生する請求項1に記載の光子計数型のX線コンピュータ断層装置。
- X線管から、最大エネルギーが特性X線の最大ピークエネルギーより大きいエネルギーであるX線光子を発生させ、
X線検出物質によって前記X線光子を検出させ、
前記特性X線の最大ピークエネルギーを含む第1エネルギー領域に相当する第1減弱係数マップを生成し、
前記第1減弱係数マップを、前記第1エネルギー領域とは異なる領域である第2エネルギー領域の第2減弱係数マップに変換し、
前記第2減弱係数マップに基づいて散乱線シミュレーションを行なって散乱X線光子の散乱光子分布を生成し、
前記第2エネルギー領域に相当する、前記検出されたX線光子に基づいて再構成前のデータを生成し、前記再構成前のデータを前記散乱光子分布で補正処理して補正データを生成し、前記補正データに基づいて、前記第2エネルギー領域に相当する、散乱線補正された画像を再構成する、
散乱線補正方法。 - 前記X線管から放出される複数のX線光子について単位距離だけ進行させて散乱確率及び散乱角度をそれぞれ計算し、計算の結果、前記複数のX線光子が計算範囲外になるまで前記複数のX線光子について単位距離をそれぞれ進行させる処理を行なうことで、前記散乱光子分布を生成する請求項7に記載の散乱線補正方法。
- 前記散乱線シミュレーションで、前記X線光子のエネルギーに閾値を設ける請求項8に記載の散乱線補正方法。
- 前記シミュレーション実行手段は、前記散乱線シミュレーションで、前記X線光子の散乱回数を制限する請求項8に記載の散乱線補正方法。
- 前記シミュレーション実行手段は、前記散乱線シミュレーションで、計算範囲を制限する請求項8に記載の散乱線補正方法。
- 前記X線管は、前記最大エネルギーが前記特性X線の最大ピークエネルギー付近であるX線光子を発生する請求項7に記載の散乱線補正方法。
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