JP5948891B2 - 液滴吐出装置の検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、吐出機構ごとに液滴を吐出する液滴吐出装置の検査装置に関する。

複数の吐出機構ごとに駆動素子を駆動させてインク滴を吐出するプリンターにおいて、正常にノズルからインク滴が吐出されているか否かを検査することが行われている（特許文献１、参照。）。特許文献１では、複数の駆動素子のグランド側の電極が共通接続されたトランジスタ（特許文献１、"トランジスタ４４"。）を備え、トランジスタをオンにした状態で複数の吐出機構にてインク滴を吐出させる。一方、トランジスタをオフにした状態で、検査対象の駆動素子を１個ずつ駆動させることにより、吐出機構の検査を１個ずつ順に行う。

特開２００５−３０５９９２号公報

しかしながら、検査対象の駆動素子を同じ駆動条件で１個ずつ駆動させなければならず、任意の印刷ジョブを実行する期間において駆動素子の検査ができないという問題があった。すなわち、任意の印刷ジョブを実行する期間においては、複数の体積のインク滴を吐出させるために駆動素子が複数の駆動条件で駆動し得るため、駆動素子の検査ができないという問題があった。また、任意の印刷ジョブを実行する期間において、駆動素子が特定の体積のインク滴を吐出させる場合に限って検査を行うと、検査の所要期間が長期化するという問題があった。
本発明の目的は、前記課題にかんがみてなされたもので、複数の体積の液滴を吐出させる液滴吐出装置において吐出機構の検査を早期に完了させる検査装置の提供を目的とする。

前記課題を解決するために本発明の検査装置は、ノズルから液滴を吐出させる駆動素子を含む吐出機構を備える液滴吐出装置に備えられる。検査電圧取得手段は、液滴を吐出させる駆動素子の動作状態を示す検査電圧を取得する。電圧判定手段は、駆動素子が第１体積の液滴を吐出させる場合と、駆動素子が第１体積よりも小さい第２体積の液滴を吐出させる場合とで、異なる判定条件を用いて検査電圧が異常であるか否かを判定する。異常判定手段は、検査電圧が異常である場合、吐出機構が異常であると判定する。

前記の構成において、電圧判定手段は、駆動素子が第１体積の液滴を吐出させる場合と、駆動素子が第２体積の液滴を吐出させる場合とで、異なる判定条件を用いて検査電圧が異常であるか否かを判定する。駆動素子が第１体積の液滴を吐出させる場合と、駆動素子が第２体積の液滴を吐出させる場合とで駆動素子の正常な動作状態が異なり得るが、それぞれにおいて適切な判定条件により検査電圧が異常であるか否かを判定できる。また、異常判定手段は、第１体積の液滴を吐出させる場合と、第２体積の液滴を吐出させる場合との双方において吐出機構が異常であるか否かを判定できる。従って、吐出機構が第１体積と第２体積とのうちいずれか一方を吐出する機会を待つ必要がなく、異常判定手段は、早期に吐出機構が異常であるか否かを判定できる。また、任意の印刷ジョブの実行中において複数の体積の液滴の液滴が吐出され得る場合でも、早期に吐出機構の検査を完了させることができる。

ここで、駆動素子が第１体積よりも体積の小さい第２体積の液滴を吐出させる場合には、第１体積の液滴を吐出させる場合よりも駆動素子が弱く駆動されるため、検査電圧の振幅が小さくなる。そこで、検査電圧取得手段は、駆動素子が第２体積の液滴を吐出させる場合における増幅回路の増幅率を、駆動素子が第１体積の液滴を吐出させる場合における増幅回路の増幅率よりも大きくしてもよい。これにより、駆動素子が第２体積の液滴を吐出させる場合でも異常であるか否かが判定可能な振幅の検査電圧を得ることができる。

さらに、異常判定手段は、第１体積の液滴を吐出させる場合の第１判定結果と、第２体積の液滴を吐出させる場合の第２判定結果とを総合して吐出機構が異常であるか否かを判定してもよい。すなわち、吐出機構は第１体積の液滴と第２体積の液滴とを吐出させた場合の第１判定結果と第２判定結果とを双方とも考慮して吐出機構が異常であるか否かを判定すれば、早期に吐出機構の検査を完了させることができる。

また、異常判定手段は、第１判定結果を第２判定結果よりも重視して吐出機構が異常であるか否かを判定してもよい。駆動素子が第２体積よりも体積の大きい第１体積の液滴を吐出させる場合には、第２体積の液滴を吐出させる場合よりも駆動素子が強く駆動されるため、検査電圧に対するノイズの影響が小さくなる。従って、第１判定結果を第２判定結果よりも重視することにより、吐出機構が異常であるか否かを精度よく判定できる。

検査装置を含むプリンターのブロック図である。 （２Ａ）は吐出機構の模式図、（２Ｂ）は吐出ヘッドの回路図である。 （３Ａ）はノズルを示す図、（３Ｂ）は検査スイッチの動作を示すタイミングチャートである。 （４Ａ）は検査電圧のグラフ、（４Ｂ）は検査テーブルを示す図である。 検査処理のフローチャートである。 異常対応処理のフローチャートである。 （７Ａ）は変形例１の吐出機構の模式図、（７Ｂ）は変形例１の吐出ヘッドの回路図である。 （８Ａ），（８Ｂ）は変形例１の検査スイッチの動作を示すタイミングチャートである。 （９Ａ）は変形例１の異常対応処理のフローチャート、（９Ｂ）は変形例１の検査テーブルを示す図である。

ここでは、下記の順序に従って本発明の実施の形態について説明する。
（１）第１実施形態：
（１−１）プリンターの構成：
（１−２）検査処理：
（１−３）異常対応処理：
（２）変形例１：
（３）変形例２：
（４）他の変形例：

（１）プリンターの構成：
図１は本発明の一実施形態にかかる検査装置を含む液滴吐出装置としてのプリンター１の構成を示すブロック図である。プリンター１は、吐出ヘッド１０と主基板２０とを備える。主基板２０は、吐出可否データ生成回路２１と駆動電圧生成回路２２とを備える。吐出可否データ生成回路２１は、吐出ヘッド１０が備える複数の吐出機構のそれぞれについて液滴としてのインク滴を吐出させるか否かを指定した吐出可否データＳＩを生成する回路である。吐出可否データ生成回路２１は、複数の吐出機構の順列に吐出可否データＳＩをシリアル結合されたノズル選択データを吐出ヘッド１０に出力する。また、吐出可否データ生成回路２１は、複数の吐出タイミングのそれぞれについて吐出可否データＳＩを生成し、吐出可否データＳＩを吐出タイミングの順に出力する。なお、吐出タイミングとは、印刷ジョブの実行期間中において吐出ヘッド１０が備える複数の吐出機構が同時にインク滴を吐出するタイミングである。また、吐出可否データ生成回路２１は、ラッチ信号ＬＡＴと切替信号ＣＨとを生成し、吐出ヘッド１０に出力する。ラッチ信号ＬＡＴは、吐出タイミングを規定するためのタイミング信号である。切替信号ＣＨは、吐出タイミングを細分化した期間を規定するためのタイミング信号である。

駆動電圧生成回路２２は、吐出ヘッド１０が備える駆動素子としてのピエゾ素子１２を駆動するための駆動電圧ＣＯＭを生成する回路（駆動電圧源）である。駆動電圧生成回路２２は、駆動電圧の電圧パターンを規定するデジタルデータに基づいて駆動電圧ＣＯＭを生成するＤ／Ａ変換部と、Ｄ／Ａ変換された駆動電圧ＣＯＭを増幅する増幅部とを備える。駆動電圧生成回路２２から出力された駆動電圧ＣＯＭは、吐出ヘッド１０の印加スイッチＰに入力される。

図２Ａは吐出ヘッド１０が備える吐出機構の構造を示す模式図であり、図２Ｂは吐出ヘッド１０の一部の回路図である。図１に示すように吐出ヘッド１０は、ヘッドＩＣ１１とピエゾ素子１２とインク室１３とノズル１４と振動板１５とを備える。吐出ヘッド１０は、複数（不図示）の吐出機構を備え、図２Ａに示すように複数の吐出機構のそれぞれがピエゾ素子１２とインク室１３とノズル１４と振動板１５とを含む。本実施形態において吐出機構は、Ｃ（シアン），Ｍ（マゼンタ），Ｙ（イエロー），Ｋ（ブラック）のそれぞれのインク色ごとに９０個ずつ備えられ、合計で３６０（＝Ｎ）個備えられている。ピエゾ素子１２は、圧電素子である。駆動電圧ＣＯＭをピエゾ素子１２に印加することにより、ピエゾ素子１２が機械的に歪み、インクが充填されたインク室１３の壁面を構成する振動板１５を振動させる。これにより、インク室内が加減圧され、インク室内のインクがインク滴となってノズル１４から吐出される。印加スイッチＰは、複数の吐出機構のそれぞれにおいて駆動電圧ＣＯＭをピエゾ素子１２に印加させるか否かを切り替えるスイッチである。すなわち、印加スイッチＰは、吐出可否データＳＩにてインク滴を吐出させると指定されたノズル１４に対応するピエゾ素子１２に対して選択的に駆動電圧ＣＯＭを印加させる。

図２Ｂに示すように、複数の吐出機構（一点鎖線）のそれぞれにおいて、駆動電圧ＣＯＭが伝送される配線とピエゾ素子１２と印加スイッチＰとグランドとが直列に接続されている。印加スイッチＰは、ピエゾ素子１２とグランドとの間でソース−ドレインを直列に接続させている。従って、印加スイッチＰがオンとなる場合には駆動電圧ＣＯＭがピエゾ素子１２に印加され、印加スイッチＰがオフとなる場合には駆動電圧ＣＯＭがピエゾ素子１２に印加されない。また、印加スイッチＰは、オンとなる状態においてソース−ドレイン間に素子固有の大きさの抵抗を有する。従って、印加スイッチＰがオンとなっている期間においてピエゾ素子１２から電流が流れると、当該電流に比例した電圧（以下、検査電圧ＭＶ）が印加スイッチＰのソース−ドレイン間に生じる。

複数の吐出機構のそれぞれにおいて、ピエゾ素子１２と印加スイッチＰとの間に検査スイッチＭが接続されている。検査スイッチＭは吐出機構ごとに備えられ、検査スイッチＭはパルス変換部１１ｅの検査端子Ｔに接続される。検査スイッチＭがオンとなる場合には、検査スイッチＭがオンとなっている吐出機構の印加スイッチＰのソース−ドレイン間の検査電圧ＭＶがパルス変換部１１ｅの検査端子Ｔに入力される。なお、検査スイッチＭ内の抵抗による電圧降下は無視することとする。

図１に示すようにヘッドＩＣ１１は、スイッチ制御データ生成部１１ａと異常対応部１１ｂと印加スイッチ制御部１１ｃと印加スイッチＰと検査スイッチ制御部１１ｄと検査スイッチＭとパルス変換部１１ｅと減衰期間計測部１１ｆと電圧判定部１１ｇと異常判定部１１ｈとを備える。ヘッドＩＣ１１は、デジタル信号処理回路やアナログ信号処理回路やＲＡＭ等が単一の半導体集積回路に含まれるＳＯＣ（System on a chip）等である。スイッチ制御データ生成部１１ａは、吐出可否データＳＩを後段の異常対応部１１ｂに出力する。

スイッチ制御データ生成部１１ａは、吐出可否データＳＩを後段の異常対応部１１ｂに出力する。異常対応部１１ｂは、吐出可否データＳＩが、後述する検査処理によって異常であると確定された異常吐出機構にインク滴を吐出させ、かつ、正常であると確定された正常吐出機構にインク滴を吐出させないことを示す場合に、吐出可否データＳＩを修正する。すなわち、異常対応部１１ｂは、当該異常吐出機構の代わりに当該正常吐出機構にインク滴を吐出させるように、吐出可否データＳＩを修正して後段の印加スイッチ制御部１１ｃに出力する。本実施形態において、異常対応部１１ｂは、異常吐出機構の代わりに、当該異常吐出機構に隣接する正常吐出機構にインク滴を吐出させる。

図３Ａは、ヘッドＩＣ１１において記録媒体に対向する面（ノズル面）におけるノズル１４の配列を示す図である。本実施形態においてヘッドＩＣ１１はラインヘッドであり、記録媒体の搬送方向（印刷方向）に直交して複数のノズル１４が配列するノズル列がインク色ごとに２列ずつ備えられている。各ノズル列において印刷方向の直交方向におけるノズル１４の配列間隔は一定とされている。また、印刷方向の直交方向におけるノズル１４の位置は、印刷方向に隣接するノズル列間で前記配列間隔の半分だけずれている。異常吐出機構に隣接する正常吐出機構とは、異常吐出機構と同一のインク色のインク滴を吐出し、かつ、印刷方向の直交方向において異常吐出機構が備えるノズル１４（白丸）との距離が最短（配列間隔の半分）となるノズル１４（二重丸）を備える２個の吐出機構である。

異常対応部１１ｂは、印刷ジョブ内の吐出タイミングごとに、複数の吐出機構のそれぞれが異常であるか否かを示す判定テーブルＤ２を取得し、当該吐出タイミングにおいてインク滴を吐出させる吐出機構を吐出可否データＳＩに基づいて特定する。そして、インク滴を吐出させる吐出機構が異常吐出機構である場合には、当該異常吐出機構の代わりに、当該異常吐出機構に隣接する正常吐出機構にインク滴を吐出させる。なお、異常判定部１１ｈは印刷ジョブ内の吐出タイミングごとに判定テーブルＤ２を更新している。従って、（Ａ＋１）番目の吐出タイミングにおいて、異常対応部１１ｂは、Ａ番目の吐出タイミングにおいて異常判定部１１ｈによって異常とされた異常吐出機構の代わりに、正常吐出機構にインク滴を吐出させることとなる。なお、吐出可否データＳＩは吐出タイミングごとに吐出機構に出力されるため、印刷ジョブにおけるＡ番目の吐出タイミングにおいてＡ番目の吐出可否データＳＩに基づいて吐出機構のピエゾ素子１２が制御されることとなる。

印加スイッチ制御部１１ｃは、吐出可否データＳＩがシリアル結合されたノズル選択データをパラレル変換することにより、吐出可否データＳＩを吐出機構ごとに復元するシフトレジスタを含む。すなわち、印加スイッチ制御部１１ｃは、複数の吐出機構のそれぞれに対応する複数のレジスタを有し、当該複数のレジスタにてノズル選択データを所定のクロックごとにシフトさせることにより、当該複数のレジスタにて吐出可否データＳＩを保持する。そして、印加スイッチ制御部１１ｃは、ラッチ信号ＬＡＴと切替信号ＣＨに同期して、複数のレジスタのそれぞれに保持された吐出可否データＳＩに基づいて印加スイッチＰが接続されたデータ出力端子における制御信号の信号レベルを１または０に制御する。これにより、複数の吐出機構のそれぞれにおいて、印加スイッチＰのオン（制御信号：１）オフ（制御信号：０）が切り替えられ、ピエゾ素子１２にインク滴を吐出させるか否かが切り替えられる。

図３Ｂは、駆動電圧ＣＯＭと各スイッチＰ，Ｍの動作を示すタイミングチャートである。本実施形態において、駆動電圧生成回路２２は吐出タイミングごとに、インク滴を吐出するようにピエゾ素子１２を駆動させる吐出パルスと、インク滴を吐出させない程度に振動板１５が振動するようにピエゾ素子１２を駆動させる微振動パルスとを含む駆動電圧ＣＯＭを生成する。なお、吐出パルスの出力期間と微振動パルスの出力期間とを除く期間において、駆動電圧生成回路２２が生成する電圧パターンの電位は既知の基準電位ＶＳとなる。吐出タイミングとは、ラッチ信号ＬＡＴのパルスが立ち上がるタイミングの間の期間である。切替信号ＣＨは、単一の吐出タイミングを第１〜４期間に分割するためのタイミング信号である。

第１期間において、駆動電圧ＣＯＭは大ドットを形成する大インク滴を吐出するための吐出パルスを含む。第２期間において、駆動電圧ＣＯＭは中ドットを形成する中インク滴を吐出するための吐出パルスを含む。第３期間において、駆動電圧ＣＯＭは小ドットを形成する小インク滴を吐出するための吐出パルスを含む。第４期間において、駆動電圧ＣＯＭはピエゾ素子１２を微振動させるための微振動パルスを含む。なお、インク滴の体積は、大インク滴が最も大きく、小インク滴が最も小さい。

吐出機構にて大インク滴を吐出させる吐出可否データＳＩが入力された場合、印加スイッチ制御部１１ｃは第１期間において印加スイッチＰがオンとなるようにデータ出力端子における制御信号の信号レベルを制御する（第１期間においてのみ信号レベルを１とする）。また、吐出機構にて中インク滴を吐出させる吐出可否データＳＩが入力された場合、印加スイッチ制御部１１ｃは第２期間において印加スイッチＰがオンとなるようにデータ出力端子における制御信号の信号レベルを制御する（第２期間においてのみ信号レベルを１とする）。さらに、吐出機構にて小インク滴を吐出させる吐出可否データＳＩが入力された場合、印加スイッチ制御部１１ｃは第３期間において印加スイッチＰがオンとなるようにデータ出力端子における制御信号の信号レベルを制御する（第３期間においてのみ信号レベルを１とする）。これにより、吐出すべき大きさのインク滴に対応する吐出パルスをピエゾ素子１２に印加することができる。一方、吐出機構にてインク滴を吐出させない吐出可否データＳＩが入力された場合、印加スイッチ制御部１１ｃは第４期間において印加スイッチＰがオンとなるようにデータ出力端子における制御信号の信号レベルを制御する（第４期間においてのみ信号レベルを１とする）。これにより、インク滴を吐出させない吐出機構においても、インク滴を吐出させない程度に振動板１５を振動させることができ、インク室１３におけるインクの滞留が防止できる。

図１に示すようにスイッチ制御データ生成部１１ａは、検査制御データＳＧを生成して検査スイッチ制御部１１ｄに出力する。図２Ｂに示すように検査スイッチ制御部１１ｄは、検査制御データＳＧのシリアルデータをパラレル変換して、検査制御データＳＧを吐出機構ごとに備えられた検査スイッチＭに出力するシフトレジスタである。スイッチ制御データ生成部１１ａは、各吐出タイミングごとに検査対象の吐出機構を１個ずつ選択し、当該吐出機構に対応する検査スイッチＭのみをオンとするように検査制御データＳＧを生成する。従って、パルス変換部１１ｅの検査端子Ｔには、検査対象の吐出機構の印加スイッチＰのソース−ドレイン間に生じた検査電圧ＭＶが入力される。スイッチ制御データ生成部１１ａは、同一の吐出機構を複数の吐出タイミングにわたって連続して検査対象として選択し得る。

図３Ｂに示すように検査対象として選択され、かつ、大インク滴を吐出させる吐出機構に対応する検査スイッチＭは、第１期間における吐出パルスの出力期間の終期から第１期間の終了までの期間においてのみオンとなるように検査制御データＳＧによって制御される。また、検査対象として選択され、かつ、中インク滴を吐出させる吐出機構に対応する検査スイッチＭは、第２期間における吐出パルスの出力直後から第２期間の終了までの期間においてのみオンとなるように検査制御データＳＧによって制御される。さらに、検査対象として選択され、かつ、小インク滴を吐出させる吐出機構に対応する検査スイッチＭは、第３期間における吐出パルスの出力直後から第３期間の終了までの期間においてのみオンとなるように検査制御データＳＧによって制御される。これにより、大〜小インク滴のいずれを吐出させた場合でも、振動板１５を強制的に振動させた吐出パルスの出力期間の直後における振動板１５の残留振動の状態を示す検査電圧ＭＶを得ることができる。すなわち、インク滴の吐出した吐出機構において、インク滴の吐出直後のピエゾ素子１２の動作状態として残留振動の状態を示す検査電圧ＭＶを得ることができる。なお、振動板１５の残留振動によりピエゾ素子１２の寄生容量が変化することによりピエゾ素子１２とグランドとの間で電流が流れ、当該電流に比例した検査電圧が印加スイッチＰのソース−ドレイン間に生じることとなる。一方、検査対象でない吐出機構においては、検査スイッチＭが常にオフとなるため、検査対象でない吐出機構の印加スイッチＰにて生じた電圧が検査電圧ＭＶのノイズ源となることが防止できる。

パルス変換部１１ｅは、検査端子Ｔに入力された検査電圧ＭＶを所定の閾値電圧よりも大きいか否かによって二値化することにより、検査パルスＭＰを生成する回路である。なお、印加スイッチＰの一端がグランドに接続するために、検査端子Ｔの電位を、印加スイッチＰのソース−ドレイン間に生じた検査電圧ＭＶとして取得できる。本実施形態においてパルス変換部１１ｅは、３個の第１〜３増幅回路Ａ１〜Ａ３とスイッチ（不図示）とを備える。第１期間においてスイッチは検査電圧ＭＶを第１増幅回路Ａ１に入力させ、第２期間においてスイッチは検査電圧ＭＶを第２増幅回路Ａ２に入力させ、第３期間においてスイッチは検査電圧ＭＶを第３増幅回路Ａ３に入力させる。第１〜３増幅回路Ａ１〜Ａ３における増幅率は、第１増幅回路Ａ１が最も小さく、第３増幅回路Ａ３が最も大きい。すなわち、吐出するインク滴の体積が小さいほど検査電圧ＭＶの増幅率を大きくする。吐出するインク滴の体積が小さいほど増幅前の検査電圧ＭＶの振幅が小さくなるが、増幅率を大きくすることにより、増幅後の検査電圧ＭＶの振幅に閾値電圧が含まれるようにすることができる。従って、吐出するインク滴の体積が小さいほど検査電圧ＭＶの増幅率を大きくすることにより、吐出するインク滴の体積が小さくても、検査電圧ＭＶに応じた検査パルスＭＰが生成することができる。

図４Ａは、検査電圧ＭＶと検査パルスＭＰとを示すタイミングチャートである。図４Ａに示すように、検査電圧ＭＶは時刻ｔの経過とともに振幅が減衰する周期波形を有する。そして、時刻ｔの経過とともに残留振動が減衰し、増幅後の検査電圧ＭＶの振幅が閾値電圧（二点鎖線）を含まなくなった場合には、検査パルスＭＰの信号レベルが変化しなくなる。減衰期間計測部１１ｆは、吐出パルスの出力期間の終了時刻から、最後に検査パルスＭＰの信号レベルが変化した時刻までの期間を減衰期間ｑとして特定する。

電圧判定部１１ｇは、第１〜第３期間のそれぞれについて減衰期間ｑの正常範囲を判定条件データＤ１から読み出し、減衰期間計測部１１ｆが計測した減衰期間ｑが正常範囲に属する場合には検査電圧ＭＶが正常であると判定する。なお、小インク滴が吐出される第３期間においては、大インク滴と中インク滴とが吐出される第１，２期間よりもピエゾ素子１２（振動板１５）の振幅が小さいため、減衰期間ｑは短くなる。ただし、第１〜３増幅回路Ａ１〜Ａ３の増幅率がそれぞれ異なるため、必ずしも第１期間における減衰期間ｑの正常範囲よりも、第３期間における減衰期間ｑの正常範囲が短い値側に設定されるとは限らない。なお、インク室１３内のインクの粘度が高くなるほど、減衰期間ｑは短くなるため、減衰期間ｑが正常範囲に属することはインク室１３内のインクの粘度が正常であることを意味する。すなわち、本実施形態において、吐出機構が異常であるとは、インク室１３内のインクの粘度が異常であることを意味する。

異常判定部１１ｈは、吐出可否データ生成回路２１から検査制御データＳＧを取得し、当該検査制御データＳＧに基づいて検査対象の吐出機構を特定する。異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構についての検査電圧ＭＶの判定結果を判定テーブルＤ２に記録する。

図４Ｂは、異常判定部１１ｈが記録する判定テーブルＤ２を示す図である。図４Ｂの判定テーブルＤ２において、複数の吐出機構ごとに固有の番号ｎ（最大値Ｎ）と、吐出タイミングに対応する吐出タイミングの番号Ａとの組み合わせごとに検査の結果が記録される。図４Ｂの判定テーブルＤ２において、検査対象の吐出機構以外の吐出機構に対応する番号ｎの欄には斜線を付している。また、検査対象の吐出機構がインク滴を吐出しなかった吐出タイミングの番号Ａの欄には休止の文字を付す。一方、検査対象の吐出機構がインク滴を吐出した吐出タイミングの番号Ａの欄には、吐出したインク滴の大きさを示す大〜小の文字、および、検査電圧ＭＶ（減衰期間ｑ）の判定結果であるＯＫ（正常の場合）またはＮＧ（異常の場合）の文字を付す。

異常判定部１１ｈは、検査電圧ＭＶが正常である場合、吐出機構が正常であると仮判定し、当該吐出機構について正常回数に１を加算する。そして、異常判定部１１ｈは、正常回数が所定の正常閾値となった吐出機構について、当該吐出機構が正常であると確定する。本実施形態において正常閾値は２回とする。例えば、図４Ｂの判定テーブルＤ２において、３１（＝ｎ）番の吐出機構において小インク滴と大インク滴とをそれぞれ吐出させた２０５，２０６（＝Ａ）番の吐出タイミングにおいて検査電圧ＭＶが正常であると判定されており、２０６番の吐出タイミングにおいて正常回数が２回となる。従って、３１番の吐出機構は、２０６番の吐出タイミングにおいて正常であると確定される。なお、図４Ｂの判定テーブルＤ２において、正常であると確定された吐出機構の番号ｎに対応する欄には○の文字を付す。同様に、図４Ｂの判定テーブルＤ２において、３２（＝ｎ）番の吐出機構において大インク滴と中インク滴とをそれぞれ吐出させた２０７，２０９（＝Ａ）番の吐出タイミングにおいて検査電圧ＭＶが正常であると判定されており、２０９番の吐出タイミングにおいて３２（＝ｎ）番の吐出機構が正常であると確定される。

一方、図４Ｂの判定テーブルＤ２において、３３（＝ｎ）番の吐出機構において中インク滴を吐出させた２１０（＝Ａ）番の吐出タイミングにおいて検査電圧ＭＶが異常であると判定されており、２１０番の吐出タイミングにおいて３３（＝ｎ）番の吐出機構が異常であると確定される。すなわち、異常判定部１１ｈは、検査電圧ＭＶが異常であると判定された回数である異常回数が１回（異常閾値）以上となった場合に、吐出機構が異常であると確定する。図４Ｂの判定テーブルＤ２において、異常であると確定された吐出機構の番号ｎに対応する欄には×の文字を付す。

異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構について正常または異常であると確定できた場合には、次の吐出機構を検査対象として選択することを許可する。これを受けてスイッチ制御データ生成部１１ａは、次の吐出タイミングにおいて、次の検査対象の吐出機構に対応する検査スイッチＭを吐出パルスの直後にオンさせる検査制御データＳＧを生成する。一方、異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構について正常または異常であると確定できなかった場合には、次の吐出機構を検査対象として選択することを許可しない。これを受けてスイッチ制御データ生成部１１ａは、次の吐出タイミングにおいて、現在の検査対象の吐出機構に対応する検査スイッチＭを吐出パルスの直後にオンさせる検査制御データＳＧを引き続き生成する。従って、異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構が正常または異常であると確定されるまで、当該吐出機構について検査電圧ＭＶが正常であるか否かを判定する処理を繰り返すこととなる。

以上説明した本実施形態の構成において、ピエゾ素子１２に駆動電圧ＣＯＭを印加させる場合に、印加スイッチＰのソース−ドレイン間は導通し、印加スイッチＰのソース−ドレイン間には固有の抵抗が生じる。従って、ピエゾ素子１２に駆動電圧ＣＯＭが印加される場合に、ピエゾ素子１２の残留振動に応じて印加スイッチＰのソース−ドレイン間に電流が流れ、当該電流に比例した検査電圧が生じる。すなわち、異常判定部１１ｈは、ピエゾ素子１２の残留振動に応じた検査電圧を得ることができ、当該検査電圧に基づいて吐出機構が異常であるか否かを判定することができる。検査スイッチＭは複数の吐出機構のそれぞれに備えられるため、検査スイッチＭに流れる電流量を抑制できる。従って、検査スイッチＭを小電流の素子で実現することができ、検査スイッチＭを含むヘッドＩＣ１１を小型化できる。さらに、吐出機構ごとに検査スイッチＭが備えられるため、検査対象でない吐出機構におけるピエゾ素子１２の残留振動により生じた電圧を検査スイッチＭにて遮断できる。従って、検査対象の吐出機構の検査を妨げることなく検査対象でない吐出機構においてインク滴を吐出させることができ、任意の印刷ジョブを実行する期間においても吐出機構の検査を行うことができる。

また、複数の吐出機構のそれぞれにおいて、印加スイッチＰの一端が既知の電位（グランド）とされ、当該印加スイッチＰの他端がピエゾ素子１２に接続する。そして、検査スイッチＭは、印加スイッチＰの他端と検査端子Ｔとを導通させるか否かを切り替える。このように、印加スイッチＰの一端を既知の電位としておけば、印加スイッチＰの他端の電位を検査端子Ｔにて計測することにより、当該計測した電位と既知の電位との差により、印加スイッチＰのソース−ドレイン間の検査電圧を得ることができる。特に、複数の吐出機構のそれぞれにおいて、印加スイッチＰの一端を既知の電位としてのグランドに接続するため、グランド電位と印加スイッチＰの他端における電位との差により検査電圧を容易に取得できる。

異常対応部１１ｂは、吐出可否データＳＩが、異常吐出機構にインク滴を吐出させ、正常吐出機構にインク滴を吐出させないことを示す場合に、異常吐出機構の代わりに正常吐出機構にインク滴を吐出させる。すなわち、異常対応部１１ｂは、正常にインク滴を吐出できない異常吐出機構の代わりに、正常にインク滴を吐出できる正常吐出機構にインク滴を吐出させる。これにより、異常吐出機構が存在する場合でも異常なインク滴が吐出されることが防止できる。また、Ａ番目の吐出可否データＳＩに基づいてインク滴を吐出させる場合に異常吐出機構が検出された場合に、同一の印刷ジョブ内の（Ａ＋１）番目の吐出可否データＳＩに基づいてインク滴を吐出させる際（次の吐出タイミング）には、異常吐出機構の代わりに正常吐出機構にインク滴を吐出させることができる。従って、印刷画像の劣化を抑えることができる。また、印刷ジョブを中止させる必要もない。さらに、異常判定部１１ｈと異常対応部１１ｂとが吐出ヘッド１０に備えられるため、異常吐出機構の代わりに正常吐出機構にインク滴を吐出させるための吐出可否データＳＩを生成しなくてもよい。従って、異常吐出機構の代わりに正常吐出機構にインク滴を吐出させる吐出可否データＳＩを生成するように、異常吐出機構の判定結果を吐出ヘッド１０外の主基板等に通知する必要がなく、当該通知のための信号線を設けなくても済む。

前記の構成において、電圧判定部１１ｇは、ピエゾ素子１２が吐出させるインク滴の体積ごとに、異なる判定条件を用いて検査電圧ＭＶの減衰期間ｑが異常であるか否かを判定する。ピエゾ素子１２が吐出させるインク滴の体積ごとに、ピエゾ素子１２の残留振動の減衰期間ｑの正常範囲が異なり得るが、それぞれにおいて適切な判定条件により検査電圧ＭＶが異常であるか否かを判定できる。また、異常判定部１１ｈは、いずれの体積のインク滴を吐出させる場合にも、吐出機構が異常であるか否かを判定できる。従って、例えば吐出機構が大インク滴を吐出する機会を待つ必要がなく、異常判定部１１ｈは、早期に吐出機構が異常であるか否かを判定できる。また、任意の印刷ジョブの実行中において複数の体積のインク滴のインク滴が吐出され得る場合でも、早期に吐出機構の検査を完了させることができる。

ここで、ピエゾ素子１２が小さい体積のインク滴を吐出させるほど、ピエゾ素子１２が弱く駆動されるため、検査電圧ＭＶの振幅が小さくなる。そこで、検査電圧取得手段としてのパルス変換部１１ｅは、ピエゾ素子１２が小さい体積のインク滴を吐出させるほど、第１〜第３増幅回路Ａ１〜Ａ３の増幅率を大きくする。これにより、ピエゾ素子１２が小インク滴を吐出させる場合でも異常であるか否かが判定可能な振幅（閾値電圧を含む）の検査電圧ＭＶを得ることができる。

さらに、異常判定部１１ｈは、大インク滴を吐出させた場合に検査電圧ＭＶが正常であると判定された回数（判定結果）と、中インク滴を吐出させた場合に検査電圧ＭＶが正常であると判定された回数（判定結果）と、小インク滴を吐出させた場合に検査電圧ＭＶが正常であると判定された回数（判定結果）とを順次合計し（Ｓ１３５）、当該正常回数に基づいて吐出機構が異常であるか否かを判定する。これにより、任意の印刷ジョブの実行中において複数の体積のインク滴のインク滴が吐出され得る場合でも、早期に吐出機構の検査を完了させることができる。

ここで、検査電圧ＭＶが正常であると判定された回数が多くなるほど、検査電圧ＭＶが正常であることの信頼度が高くなる。本実施形態のように、異常判定部１１ｈは、検査電圧ＭＶが正常であると仮判定された回数である正常回数が所定の正常閾値（２回）以上となった場合に、吐出機構が正常であると確定することにより、信頼度の高い検査を行うことができる。

（１−２）検査処理：
図５は、吐出ヘッド１０のヘッドＩＣ１１が実行する検査処理のフローチャートである。検査処理は、印刷ジョブの実行中において吐出タイミングごと実行されるループ処理である。なお、検査処理が実行可能な印刷ジョブは特に限定されず、任意の印刷画像を形成する印刷ジョブにおいて検査処理が実行できる。スイッチ制御データ生成部１１ａは検査対象の吐出機構を選択する（Ｓ１００）。例えば、スイッチ制御データ生成部１１ａは、番号ｎの小さい順に吐出機構を選択してもよい。また、前回の印刷ジョブの際にすべての吐出機構についての検査処理が完了していなかった場合には、判定テーブルＤ２を参照して、前回の印刷ジョブの際に検査処理が未完了の吐出機構を選択するようにしてもよい。次にスイッチ制御データ生成部１１ａは、検査対象の吐出機構に対応する検査スイッチＭのみをオンとさせる検査制御データＳＧを生成し、検査スイッチ制御部１１ｄに出力する（Ｓ１０５）。これにより、検査制御データＳＧは、検査スイッチ制御部１１ｄのシフトレジスタによって保持される。

次に、スイッチ制御データ生成部１１ａは吐出可否データＳＩを吐出可否データ生成回路２１から取得する（Ｓ１１０）。すなわち、スイッチ制御データ生成部１１ａは、吐出機構が今回インク滴を吐出するための吐出可否データＳＩを取得する。吐出可否データＳＩを取得すると、異常対応部１１ｂは異常対応処理（後述）を実行させる。この異常対応処理において、異常対応部１１ｂは吐出可否データＳＩを修正し、ステップＳ１１５以降は修正後の吐出可否データＳＩを対象として各処理が行われる。そして、異常対応処理の後にラッチ信号ＬＡＴのパルスが立ち上がると、検査対象の吐出機構を含め、吐出可否データＳＩにてインク滴を吐出するように指定されたすべての吐出機構からインク滴が吐出される。

パルス変換部１１ｅと減衰期間計測部１１ｆとは、検査電圧ＭＶを取得し、当該検査電圧ＭＶが振動する減衰期間ｑを計測する（Ｓ１１５）。すなわち、パルス変換部１１ｅの検査端子Ｔには、吐出パルスの直後の期間において、検査スイッチＭを介して検査対象の吐出機構の印加スイッチＰから検査電圧ＭＶが入力される。そして、パルス変換部１１ｅは、検査対象の吐出機構が吐出させたインク滴の体積に対応する第１〜３増幅回路Ａ１〜Ａ３にて検査電圧ＭＶを増幅し、当該増幅後の検査電圧ＭＶを検査パルスＭＰに変換する。さらに、減衰期間計測部１１ｆは、吐出パルスの出力期間の終期から検査パルスＭＰの信号レベルが最後に変化した時刻ｔまでの期間を減衰期間ｑとして計測する。次に、電圧判定部１１ｇは、減衰期間ｑが異常であるか否かを判定する（Ｓ１２０）。すなわち、電圧判定部１１ｇは、判定条件データＤ１に規定された正常範囲に属さない場合には減衰期間ｑが異常であると判定し、正常範囲に属する場合には減衰期間ｑが正常であると判定する。

減衰期間ｑが異常である場合（Ｓ１２０：Ｙ）、異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構が異常であると確定する（Ｓ１２５）。そして、異常判定部１１ｈは、すべての吐出機構を検査対象として選択したか否かを判定する（Ｓ１３０）。すべての吐出機構を検査対象として選択していない場合（Ｓ１３０：Ｎ）、異常判定部１１ｈは、ステップＳ１００に戻る。すなわち、異常判定部１１ｈは、スイッチ制御データ生成部１１ａに次の吐出機構を検査対象として選択することを許可し、次の吐出機構についての処理（Ｓ１０５〜）を実行させる。一方、すべての吐出機構を検査対象として選択した場合（Ｓ１３０：Ｙ）、異常判定部１１ｈは、検査処理を終了させる。検査処理を終了するよりも先に印刷ジョブが完了した場合には、その時点における判定テーブルＤ２を保持し、次の印刷ジョブにおいて検査処理を続行させてもよい。

一方、減衰期間ｑが正常である場合（Ｓ１２０：Ｎ）、異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構が正常であると仮判定し、正常回数に１を加算する（Ｓ１３５）。なお、吐出機構が最初に検査対象として選択された段階で、当該吐出機構について正常回数は０にリセットされている。そして、異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構の正常回数が正常閾値（２）と等しいか否かを判定する（Ｓ１４０）。

検査対象の吐出機構についての正常回数が正常閾値（２）と等しい場合（Ｓ１４０：Ｙ）、異常判定部１１ｈは、検査対象の吐出機構が正常であると確定する（Ｓ１４５）。そして、異常判定部１１ｈは、すべての吐出機構を検査対象として選択したか否かを判定する（Ｓ１３０）。一方、検査対象の吐出機構についての正常回数が正常閾値（２）と等しくない場合（Ｓ１４０：Ｎ）、異常判定部１１ｈは、ステップＳ１００において次の吐出機構を検査対象として選択させることなく、ステップＳ１０５に戻る。すなわち、異常判定部１１ｈは、スイッチ制御データ生成部１１ａに次の吐出機構を検査対象として選択することを禁止させ、同一の吐出機構についての処理（Ｓ１１０〜）を繰り返して実行させる。

（１−３）異常対応処理：
図６は、異常対応部１１ｂが実行する異常対応処理のフローチャートである。異常対応処理は、図５の検査処理において吐出可否データＳＩが取得されるごとに実行される処理である。図５のステップＳ１１０にて吐出可否データＳＩが取得されると、異常対応部１１ｂは、前回の吐出タイミングにおいて更新された判定テーブルＤ２を取得する。すなわち、図５のステップＳ１１０にて（Ａ＋１）番目の吐出タイミングの吐出可否データＳＩが取得されたとすると、異常対応部１１ｂは、Ａ番目の吐出タイミングにて更新された判定テーブルＤ２を取得する。

異常対応部１１ｂは、今回の吐出可否データＳＩに基づいてインク滴を吐出すべき吐出機構である稼働吐出機構を特定し、当該稼働吐出機構のうち１個を選択する（Ｓ２１０）。次に、異常対応部１１ｂは、選択した稼働吐出機構が判定テーブルＤ２にて異常であると確定された異常吐出機構であるか否かを判定する（Ｓ２３０）。そして、選択した稼働吐出機構が判定テーブルＤ２にて異常であると確定された異常吐出機構でない場合（Ｓ２３０：Ｎ）、選択した稼働吐出機構についての吐出可否データＳＩを修正することなく、ステップＳ２５０を実行する。異常対応部１１ｂは、すべての稼働吐出機構を選択したか否かを判定する（Ｓ２５０）。そして、すべての稼働吐出機構を選択していない場合（Ｓ２５０：Ｎ）、ステップＳ２１０に戻り、次の稼働吐出機構を選択する。なお、異常対応処理において、未検査の吐出機構（異常とも正常とも確定されていない吐出機構）は、異常でないこととする。

一方、選択した稼働吐出機構が判定テーブルＤ２にて異常であると確定された異常吐出機構である場合（Ｓ２３０：Ｙ）、異常対応部１１ｂは、選択した稼働吐出機構に隣接する隣接吐出機構のすべてが判定テーブルＤ２にて異常であると確定された異常吐出機構であるか否かを判定する（Ｓ２６０）。すなわち、図３Ａに示すように異常対応部１１ｂは、異常吐出機構と同一のインク色のインク滴を吐出し、かつ、印刷方向の直交方向において異常吐出機構が備えるノズル１４（白丸）との距離が最短（配列間隔の半分）となるノズル１４（二重丸）を備える２個の吐出機構が双方とも異常吐出機構であるか否かを判定する。そして、隣接吐出機構のすべてが異常吐出機構である場合（Ｓ２６０：Ｙ）、異常対応部１１ｂは、吐出可否データＳＩを修正することなく、ステップＳ２５０を実行する。

一方、隣接吐出機構の少なくとも１個が異常吐出機構でない場合（Ｓ２６０：Ｎ）、異常対応部１１ｂは、異常吐出機構でない隣接吐出機構のすべてが稼働吐出機構であるか否かを判定する（Ｓ２７０）。そして、異常吐出機構でない隣接吐出機構の少なくとも１個が稼働吐出機構でない場合（Ｓ２７０：Ｎ）、異常対応部１１ｂは、選択した稼働吐出機構についての吐出可否データＳＩと、異常吐出機構でも稼働吐出機構でもない隣接吐出機構についての吐出可否データＳＩとを交換する（Ｓ２８０）。これにより、選択した異常な稼働吐出機構の代わりに、正常な隣接吐出機構にインク滴を吐出させるように吐出可否データＳＩを修正できる。なお、異常吐出機構でも稼働吐出機構でもない隣接吐出機構が複数存在する場合には、異常対応部１１ｂは、これらのいずれの隣接吐出機構と吐出可否データＳＩを交換してもよい。

一方、異常吐出機構でない隣接吐出機構のすべてが稼働吐出機構である場合（Ｓ２７０：Ｙ）、異常対応部１１ｂは、吐出可否データＳＩを修正することなく、ステップＳ２５０を実行する。なお、異常吐出機構の代わりに正常吐出機構にインク滴を吐出させることができない場合（Ｓ２６０：Ｙ，Ｓ２７０：Ｙ）、異常対応部１１ｂは、当該稼働吐出機構から異常なインク滴が吐出されないように吐出可否データＳＩを修正してもよい。さらに、異常吐出機構の代わりに正常吐出機構にインク滴を吐出させることができない場合（Ｓ２６０：Ｙ，Ｓ２７０：Ｙ）、異常対応部１１ｂは、隣接吐出機構が満たすべきノズル１４の存在範囲を広げてもよい。また、異常吐出機構でない隣接吐出機構のすべてが稼働吐出機構である場合（Ｓ２７０：Ｙ）、異常対応部１１ｂは、異常吐出機構でないいずれかの隣接吐出機構において吐出させるインク滴の体積を大きくするように当該隣接吐出機構についての吐出可否データＳＩを修正してもよい。

（２）変形例１：
図７Ａは変形例１の吐出ヘッド１０が備える吐出機構の構造を示す模式図であり、図７Ｂは変形例１の吐出ヘッド１０の一部の回路図である。図７Ａに示すように、変形例１では、各吐出機構が通常部と予備部とノズル１４とを備えている。通常部は、ピエゾ素子１２ａとインク室１３ａと振動板１５ａとを備え、インク室１３ａはノズル１４に連通する。予備部は、予備ピエゾ素子１２ｂと予備インク室１３ｂと予備振動板１５ｂとを備え、インク室１３ｂもノズル１４に連通する。吐出機構は、通常部と予備部とは、図７Ａの紙面において中央のノズル１４に関して左右対称な構造を有している。インク室１３ａと予備インク室１３ｂとはノズル１４と連通しているため、インク室１３ａと予備インク室１３ｂとのそれぞれからノズル１４にインクが供給される。

図７Ｂにおいて、単一の吐出機構（一点鎖線）においてピエゾ素子１２ａと予備ピエゾ素子１２ｂとが備えられており、ピエゾ素子１２ａと予備ピエゾ素子１２ｂとのそれぞれがグランドと駆動電圧生成回路２２との間において直列に接続されている。また、ピエゾ素子１２ａと予備ピエゾ素子１２ｂのそれぞれとグランドとの間において印加スイッチＰ１と予備印加スイッチＰ２とが直列に接続されている。従って、印加スイッチＰ１がオンとなればピエゾ素子１２ａに駆動電圧ＣＯＭが印加され、予備印加スイッチＰ２がオンとなれば予備ピエゾ素子１２ｂに駆動電圧ＣＯＭが印加される。印加スイッチＰ１と予備印加スイッチＰ２とは、切替回路Ｃを介して印加スイッチ制御部１１ｃと接続し、印加スイッチ制御部１１ｃと切替回路Ｃとによってオンオフが切り替えられる。印加スイッチＰ１と駆動電圧生成回路２２との間から検査電圧ＭＶを出力するか否かを切り替える検査スイッチＭが接続される。一方、予備印加スイッチＰ２に対応する検査スイッチＭは設けていない。

図８Ａは、変形例１において、正常である吐出機構における駆動電圧ＣＯＭと各スイッチＰ１，Ｐ２，Ｍの動作を示すタイミングチャートである。ラッチ信号ＬＡＴと切替信号ＣＨと駆動電圧ＣＯＭとは、前記実施形態と同様である。切替回路Ｃは、印加スイッチ制御部１１ｃのデータ出力端子から印加スイッチＰ１と予備印加スイッチＰ２とのそれぞれに出力する制御信号を、ピエゾ素子１２ａの残留振動が正常であるか否かに応じて入れ替えるスイッチである。

ピエゾ素子１２ａの残留振動が正常である場合、印加スイッチ制御部１１ｃと切替回路Ｃとは、印加スイッチＰ１を吐出可否データＳＩに基づいて制御する。すなわち、前記実施形態と同様に、大〜小インク滴を吐出させることを示す吐出可否データＳＩが出力された場合にはインク滴の体積に対応する第１〜第３期間にて印加スイッチＰ１をオンさせ、インク滴を吐出させないことを示す吐出可否データＳＩが出力された場合には第４期間にて印加スイッチＰ１をオンさせる。吐出機構が正常である場合、検査スイッチＭは、第１実施形態と同様に、吐出するインク滴の体積に対応する吐出パルスの出力期間の直後においてオンとされる。さらに、ピエゾ素子１２ａの残留振動が正常である場合、印加スイッチ制御部１１ｃと切替回路Ｃとは、予備印加スイッチＰ２を吐出可否データＳＩに非依存の微振動データＶＩ（図７Ｂ）に基づいて制御する。すなわち、吐出可否データＳＩに依存することなく、常時、吐出タイミングの第４期間にて予備印加スイッチＰ２をオンさせる。

図８Ｂは、変形例１において、異常である吐出機構における駆動電圧ＣＯＭと各スイッチＰ１，Ｐ２，Ｍの動作を示すタイミングチャートである。吐出機構が異常である場合、印加スイッチ制御部１１ｃと切替回路Ｃとは、予備印加スイッチＰ２を吐出可否データＳＩに基づいて制御する。すなわち、大〜小インク滴を吐出させることを示す吐出可否データＳＩが出力された場合にはインク滴の体積に対応する第１〜第３期間にて予備印加スイッチＰ２をオンさせ、インク滴を吐出させないことを示す吐出可否データＳＩが出力された場合には第４期間にて予備印加スイッチＰ２をオンさせる。さらに、吐出機構が異常である場合、印加スイッチ制御部１１ｃと切替回路Ｃとは、印加スイッチＰ１を吐出可否データＳＩに非依存の微振動データＶＩ（図７Ｂ）に基づいて制御する。すなわち、吐出可否データＳＩに依存することなく、常時、第４期間のみ印加スイッチＰ１をオンさせる。吐出機構が異常である場合、検査スイッチＭは、常時オフとされる。

図９Ａは、変形例１にかかる異常対応処理のフローチャートである。変形例１においても異常対応処理は、印刷ジョブの実行中において、検査処理中（図５のステップＳ１１０の後）に実行される処理である。図５のステップＳ１１０にて吐出可否データＳＩが取得されると、異常対応部１１ｂは、前回の吐出タイミングにおいて更新された判定テーブルＤ２を取得する（Ｓ４００）。次に異常対応部１１ｂは、処理対象の吐出機構を選択する（Ｓ４１０）。そして、異常対応部１１ｂは、処理対象の吐出機構が異常であると確定されたか否かを判定する（Ｓ４２０）。

処理対象の吐出機構が異常であると確定されていた場合（Ｓ４２０：Ｙ）、異常対応部１１ｂは、処理対象の吐出機構について予備ピエゾ素子１２ｂの駆動によりインク滴を吐出させるように切替回路Ｃを切り替える（Ｓ４３０）。すなわち、予備印加スイッチＰ２に吐出可否データＳＩに基づく制御信号を出力させ、印加スイッチＰ１に吐出可否データＳＩに非依存の微振動データＶＩに基づく制御信号を出力させるように切り替えるための異常対応信号を切替回路Ｃに出力する。一方、処理対象の吐出機構が異常であると確定されていなかった場合（Ｓ４２０：Ｎ）、異常対応部１１ｂは、処理対象の吐出機構について切替回路Ｃを切り替えるための異常対応信号を出力することなく、次の吐出機構を処理対象として選択する（Ｓ４４０，Ｓ４１０）。すなわち、印加スイッチＰ１に吐出可否データＳＩに基づく制御信号を出力させるとともに、予備印加スイッチＰ２に吐出可否データＳＩに非依存の微振動データＶＩに基づく制御信号を出力させる。

（３）変形例２：
図９Ｂは、変形例２において記録される判定テーブルＤ２の例を示す。図９Ｂにおいて、検査対象とされている吐出機構の欄に記載された数値は、正常回数でなく総合指標値を表す。異常判定部１１ｈは、第１期間において取得した検査電圧ＭＶが正常である場合、正常回数に１回を加算するのではなく、正常回数に１回に重み係数２を乗算した指標値として２（＝２×１）を総合指標値に加算する。異常判定部１１ｈは、第２期間において取得した検査電圧ＭＶが正常である場合、正常回数に１回に重み係数１を乗算した指標値として１（＝１×１）を総合指標値に加算する。さらに、異常判定部１１ｈは、第３期間において取得した検査電圧ＭＶが正常である場合、正常回数に１回に重み係数０．５を乗算した指標値として０．５（＝０．５×１）を総合指標値に加算する。すなわち、異常判定部１１ｈは、検査電圧ＭＶが正常であると判定された回数に、インク滴の体積が大きいほど値の大きい重み係数を乗算した指標値を合計した総合指標値を算出する。そして、異常判定部１１ｈが所定の正常閾値である２以上となった場合に、検査対象の吐出機構が正常であると確定する。

図９Ｂの例では、大インク滴を吐出させた場合に検査電圧ＭＶが正常となった正常回数が１回以上であれば、吐出機構が正常であると確定されることとなる。また、中インク滴を吐出させた場合に検査電圧ＭＶが正常となった正常回数が２回以上であれば、吐出機構が正常であると確定される。さらに、小インク滴を吐出させた場合に検査電圧ＭＶが正常となった正常回数が４回以上であれば、吐出機構が正常であると確定される。すなわち、図１１Ｂの例では、吐出したインク滴の体積が小さいほど、吐出機構が正常であると確定するための正常回数の閾値を大きくしている。

上述のように小インク滴を吐出した場合には、検査電圧ＭＶが最も大きい増幅率によって増幅されるため、小インク滴を吐出した場合には微小のノイズ電圧が検査電圧ＭＶに混在した場合でも、検査パルスＭＰに当該ノイズ電圧に対応するパルスが表れ得る。すなわち、検査電圧ＭＶを取得した際に吐出したインク滴が小さいほど、検査パルスＭＰにノイズ成分が表れる可能性が高く、当該検査パルスＭＰに基づく検査電圧ＭＶの判定結果の信頼性が低くなる。反対に、検査電圧ＭＶを取得した際に吐出したインク滴が大きいほど、検査パルスＭＰにノイズ成分が表れる可能性が低く、当該検査パルスＭＰに基づく検査電圧ＭＶの判定結果の信頼性が高くなる。従って、インク滴の大きさが大きいほど値の大きい重み係数を乗算した指標値を合計した総合指標値に基づいて吐出機構が正常であるか否かを判定することにより、信頼性の高い検査電圧ＭＶの判定結果を重視して、吐出機構が正常であるか否かを判定できる。

（４）他の変形例：
前記実施形態では検査装置がインク滴を吐出させる吐出機構を検査する例を示したが、インク滴以外の液滴を吐出させる吐出機構を検査してもよい。すなわち、吐出機構は吐出させた液滴によって平面構造物や立体構造物を形成してもよく、液滴は平面構造物や立体構造物を構成する何らかの材料であってもよい。さらに、吐出機構は液滴の着弾位置における加工処理（洗浄、エッチング等）を行うための処理液を吐出させてもよい。さらに、前記実施形態では任意の印刷ジョブの実行中に検査処理を行うこととしたが、プリンター１は所定の検査画像を印刷させつつ検査処理を行ってもよい。また、検査処理と異常対応処理とを並行して行うこととしたが、プリンター１は、検査処理のみを実行し、異常な吐出機構が存在する場合に印刷ジョブを中止させてもよい。さらに、液滴は、圧電素子の機械変化による加圧によって吐出されるものに限られず、気泡の発生による加圧によって吐出されてもよい。

１…プリンター、１０…吐出ヘッド、１１…ヘッドＩＣ、１１ａ…スイッチ制御データ生成部、１１ｂ…異常対応部、１１ｃ…印加スイッチ制御部、１１ｄ…検査スイッチ制御部、１１ｅ…パルス変換部、１１ｆ…減衰期間計測部、１１ｇ…電圧判定部、１１ｇ…パルス変換部、１１ｇ…電圧判定部、１１ｈ…異常判定部、１２…ピエゾ素子、１３…インク室、１４…ノズル、１５…振動板、２０…主基板、２１…吐出可否データ生成回路、２２…駆動電圧生成回路、Ａ１〜Ａ３…増幅回路、Ｃ…切替回路、ＣＨ…切替信号、ＣＯＭ…駆動電圧、Ｄ１…判定条件データ、Ｄ２…判定テーブル、Ｍ…検査スイッチ、ＭＰ…検査パルス、ＭＶ…検査電圧、Ｐ…印加スイッチ、ＳＩ…吐出可否データ、Ｔ…検査端子、ＶＩ…微振動データ、ＶＳ…基準電位。

Claims (3)

1. ノズルから液滴を吐出させる駆動素子を含む吐出機構を備える液滴吐出装置の検査装置であって、
   液滴を吐出させる前記駆動素子の動作状態を示す検査電圧を取得する検査電圧取得手段と、
   前記検査電圧が異常であるか否かを判定する電圧判定手段と、
   前記検査電圧が異常である場合、前記吐出機構が異常であると判定する異常判定手段と、
   を備え、
   前記異常判定手段は、前記駆動素子が第１体積の液滴を吐出させる場合における前記検査電圧の判定結果である第１判定結果と、前記駆動素子が前記第１体積よりも小さい第２体積の液滴を吐出させる場合における前記検査電圧の判定結果である第２判定結果と、に基づいて前記吐出機構が異常であるか否かを判定する検査装置。
2. 前記検査電圧取得手段は、前記駆動素子から出力された前記検査電圧を増幅する増幅回路を備えるとともに、前記駆動素子が前記第２体積の液滴を吐出させる場合における前記増幅回路の増幅率を、前記駆動素子が前記第１体積の液滴を吐出させる場合における前記増幅回路の増幅率よりも大きくする、
   請求項１に記載の検査装置。
3. 前記異常判定手段は、前記第１判定結果を前記第２判定結果よりも重視して前記吐出機構が異常であるか否かを判定する、
   請求項１または請求項２に記載の検査装置。

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