JP5923338B2 - トランジスタ素子 - Google Patents
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本発明のトランジスタ素子は、シート状のベース電極の表裏の一方の面或いは両方の面に、積層させた状態で電流透過促進層をさらに形成することも好ましい態様である。より具体的には、該電流透過促進層は、ベース電極とコレクタ層の間(コレクタ層側)、ベース電極とエミッタ層との間(エミッタ層側)のいずれか一方又は両方の位置に、必要に応じて形成され、かつ、これらの電流透過促進層は、ベース電極に積層された構造であることが好ましい。本発明者らの検討によれば、ベース電極とコレクタ層の間に形成されたコレクタ層側電流透過促進層は、(1)OFF電流を減少させる、(2)ベース電流とコレクタ電流の比率が大きくなり増幅率を高くする、といった効果を発揮する。また、ベース電極とエミッタ層の間に形成されたエミッタ層側電流透過促進層は、(1)コレクタ層への電荷移動の高効率化、電荷の注入率の向上によりコレクタ電流を大きくする、(2)電極界面の改善によるOFF電流の減少をすることができ、この結果、電流増幅率、ON/OFF比をより大きくする。さらに、低電圧領域において、大きな出力変調と大電流変調が、安定して作動できるという効果をもたらす。
(基板)
本発明の有機トランジスタ素子は、通常、下記に挙げるような基板上に形成して使用される。この際に用いる基板は、トランジスタ素子の形態を保持できる材料であればよく、例えば、ガラス、アルミナ、石英、炭化珪素などの無機材料、アルミニウム、銅、金などの金属材料、ポリイミドフィルム、ポリエステルフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリスチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレートなどのプラスチック基板を用いることができる。プラスチック基板を用いた場合は、軽量で、耐衝撃性に優れたフレキシブルなトランジスタ素子を作製することができる。また、有機発光層を形成した発光トランジスタ素子として利用する場合であって、基板側から光を放出させるボトムエミッションの場合は、プラスチックフィルム、ガラスなど、光透過率の高い基板を用いることが望ましい。これら基板は、単独で使用してもよく、或いは併用してもよい。また、基板の大きさや、形態については、トランジスタ素子の形成が可能であれば、例えば、カード状、フィルム状、ディスク状、チップ状など、どのようなものでも問題なく使用できる。
先に述べたように、本発明の有機トランジスタ素子の特徴は、構成するp型有機半導体層が、図1に示したように、コレクタ電極とベース電極間に設けたコレクタ層22と、ベース電極とエミッタ電極間に形成されたエミッタ層21からなり、さらに、これらのうちのコレクタ層22が、それぞれに異なるp型有機半導体層からなる2層以上の積層構造をもつことにある。また、ベース電極と、p型有機半導体層であるコレクタ層およびエミッタ層とは、直接或いは電流透過促進層を介して積層された状態にある(図1、図2参照)。以下、p型有機半導体層について、コレクタ層とエミッタ層とに分けて説明する。
本発明の有機トランジスタ素子を構成するエミッタ層21は、p型有機半導体からなるが、その形成材料としては、正孔を輸送する材料であれば問題なく利用できる。また、必要に応じて、他のp型有機半導体層との多層構造としてもよいし、n型有機半導体層とのダイオード構造としてもよいし、ホール注入層との積層構造としてもよい。
本発明の有機トランジスタ素子を構成するコレクタ層は、ベース電極とコレクタ電極間に、2層以上のp型有機半導体層からなる積層構造となるように、p型有機半導体材料から形成される。そして、該コレクタ層を形成する材料としては、有機半導体として通常使用されているp型有機半導体材料が挙げられ、いずれも使用できる。p型半導体材料としては、正孔を輸送する材料であれば特に制限なく、一般的に使用されているp型の有機半導体材料が使用でき、先に説明したエミッタ層に使用されるp型半導体材料をいずれも利用できる。
但し、コレクタ層の電荷移動度は、高いことが望ましく、少なくとも、0.0001cm2/V・s以上であることが望ましい。電荷移動度が低いと、トランジスタ素子としての性能、例えば、オン電流が小さくなるなどの問題を生じるおそれがあるので好ましくない。
本発明のトランジスタ素子に用いられる電極について説明する。本発明のトランジスタ素子を構成する電極としては、コレクタ電極11、エミッタ電極12、およびベース電極13があり、図1に示すように、コレクタ電極11は基板10上に設けられ、ベース電極13は、p型有機半導体層であるエミッタ層21と、積層構造を有するコレクタ層22との間に埋め込まれるように設けられ、エミッタ電極12は、コレクタ電極11と対向する位置に、上記p型有機半導体層21、22とベース電極13とを挟むように設けられる。
本発明のトランジスタ素子は、下記のようにして暗電流抑制層を形成したものであってもよい。その方法としては、ベース電極を形成した後に、当該ベース電極を加熱処理して形成することが好ましい。さらに、本発明のトランジスタ素子においては、前記ベース電極を金属からなるものとし、該ベース電極の片面または両面に該ベース電極の酸化膜を形成することで、エミッタ電極−ベース電極間に電圧VBを印加しない場合に流れる暗電流を効果的に抑制することができるものになる。
(トランジスタ素子の評価)
作製したトランジスタ素子について、エミッタ電極−コレクタ電極間に印加電圧(VC)を印加し、エミッタ電極−ベース電極間に印加するベース電圧(VB)を0V〜−3、−5、−10Vの範囲で変調させた。出力変調特性の測定は、エミッタ電極−コレクタ電極間にコレクタ電圧(VC)を印加し、さらにエミッタ電極−ベース電極間にベース電圧VB(0〜−3V)を印加したときの、ベース電流IB、および、コレクタ電流ICの変化量(オフ電流、オン電流)を測定した。また、コレクタ電流の変化に対するベース電流の変化の比率、すなわち、電流増幅率(hFE)、オン電流とオフ電流の比率であるオン/オフ比(IC-ON/IC-OFF)を算出した。
[コレクタ層:CuPc/DIP、エミッタ層:ペンタセン]
ITO透明基板をコレクタ電極とし、該基板上にコレクタ電極側コレクタ層として、p型有機半導体材料である銅フタロシアニン(CuPc)からなる平均厚さ240nmのp型有機半導体層を形成し、さらに、その上にDIPからなる平均厚さ160nmのベース電極側コレクタ層を、それぞれ真空蒸着法により形成し、上記異なる2層が積層した構造のコレクタ層を作製した。得られたコレクタ層表面は、粗さがRMS=1.68nmであり、平均の結晶粒子径が26nmであった。次に、上記コレクタ層の上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成し、その上にアルミニウムからなる平均厚さ10nmのベース電極層を真空蒸着法により形成した。その後、大気中で150℃、1時間の熱処理により、アルミ電極表面に、酸化アルミニウムからなる暗電流抑制層を形成した。さらに、その上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成した後、エミッタ層として、ペンタセンからなるp型有機半導体層(平均膜厚100nm)を真空蒸着法により積層した。次に、その上に金からなる平均厚さ30nmのエミッタ電極12を真空蒸着法による成膜手段で形成し、上記した順に各層および電極を積層し、実施例1のトランジスタ素子を得た。
[コレクタ層:CuPc/DNTT、エミッタ層:ペンタセン]
ITO透明基板をコレクタ電極とし、該基板上にコレクタ電極側コレクタ層として、p型有機半導体材料である銅フタロシアニン(CuPc)からなる平均厚さ300nmのp型有機半導体層を形成し、さらに、その上にDNTTからなる平均厚さ100nmのベース電極側コレクタ層を、それぞれ真空蒸着法により形成し、上記異なる2層が積層した構造のコレクタ層を作製した。得られたコレクタ層表面は、粗さがRMS=13.6nmであり、平均の結晶粒子径が107nmであった。次に、上記コレクタ層の上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成し、その上にアルミニウムからなる平均厚さ10nmのベース電極層を真空蒸着法により形成した。その後、大気中で150℃、1時間の熱処理により、アルミ電極表面に、酸化アルミニウムからなる暗電流抑制層を形成した。さらに、その上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成した後、エミッタ層として、ペンタセンからなるp型有機半導体層(平均膜厚100nm)を真空蒸着法により積層した。次に、その上に金からなる平均厚さ30nmのエミッタ電極12を真空蒸着法による成膜手段で形成し、上記した順に各層および電極を積層し、実施例2のトランジスタ素子を得た。
[コレクタ層:CuPc/DIP、エミッタ層:ペンタセン]
実施例1のトランジスタ素子において、2層構造からなるコレクタ層の厚みの総計は400nmで同様とし、銅フタロシアニンとジインデノペリレンの各材料から形成したp型有機半導体層の厚さを、表2に記載した厚さにそれぞれ変えてコレクタ層を形成した以外は実施例1と同様にして、実施例3〜8のトランジスタ素子を作製した。
[コレクタ層:CuPc/NiPc、エミッタ層:ペンタセン]
実施例2のトランジスタ素子において、ベース電極側コレクタ層を、ジナフトチエノチオフェン(DNTT)からニッケルフタロシアニン(NiPc)に変えて、それ以外は実施例2と同様にして実施例9のトランジスタ素子を得た。具体的には、ITO透明基板をコレクタ電極とし、該基板上に、コレクタ電極側コレクタ層として、p型有機半導体材料である銅フタロシアニン(CuPc)からなる平均厚さ300nmの有機半導体層を形成し、さらに、その上にNiPcからなる平均厚さ100nmのベース電極側コレクタ層を真空蒸着法により形成した。得られたコレクタ層表面は、粗さがRMS=8.36nmであり、平均の結晶粒子径41nmであった。次に、上記コレクタ層の上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成し、アルミニウムからなる平均厚さ10nmのベース電極層を真空蒸着法により形成した。その後、大気中で150℃、1時間の熱処理により、アルミ電極表面に、酸化アルミニウムからなる暗電流抑制層を形成した。さらに、その上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成した後、エミッタ層として、ペンタセンからなるp型有機半導体層(平均膜厚100nm)を真空蒸着法により積層した。次に、その上に金からなる平均厚さ30nmのエミッタ電極12を真空蒸着法による成膜手段で形成し、上記した順に積層し、実施例9のトランジスタ素子を得た。
[コレクタ層:CuPc、エミッタ層:ペンタセン]
ITO透明基板をコレクタ電極とし、該基板上にp型有機半導体材料である銅フタロシアニン(CuPc)からなる平均厚さ400nmのp型有機半導体層をコレクタ層として真空蒸着法により作成した。次に、その上に、フッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成し、その上にアルミニウムからなる平均厚さ10nmのベース電極層を真空蒸着法により形成した。その後、大気中で150℃、1時間の熱処理により、アルミ電極表面に、酸化アルミニウムからなる暗電流抑制層を形成した。さらに、その上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成した後、エミッタ層として、ペンタセンからなるp型有機半導体層(平均膜厚100nm)を真空蒸着法により積層した。次に、その上に金からなる平均厚さ30nmのエミッタ電極12を真空蒸着法による成膜手段で形成し、上記した順に積層し、比較例1のトランジスタ素子を得た。素子の構造を図3に示す。
[コレクタ層:DIP、エミッタ層:ペンタセン]
ITO透明基板をコレクタ電極とし、該基板上にp型有機半導体材料であるジインデノペリレン(DIP)からなる平均厚さ400nmの有機半導体層をコレクタ層として真空蒸着法により作成した。次に、その上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成し、次に、その上にアルミニウムからなる平均厚さ10nmのベース電極層を真空蒸着法により形成した。その後、大気中で150℃、1時間の熱処理により、アルミ電極表面に、酸化アルミニウムからなる暗電流抑制層を形成した。さらに、その上にフッ化リチウムからなる3nmの電流透過促進層を形成した後、エミッタ層として、ペンタセンからなるp型有機半導体層(平均膜厚100nm)を真空蒸着法により積層した。次に、金からなる平均厚さ30nmのエミッタ電極12を真空蒸着法による成膜手段で形成し、上記した順に積層し、比較例2のトランジスタ素子を得た。
トランジスタ素子の出力特性は、エミッタ電極−コレクタ電極間にコレクタ電圧VCを−5V印加し、さらにエミッタ電極−ベース電極間にベース電圧VBを印加したときと印加しないとき(0〜−3V)の、コレクタ電流ICおよびベース電流IBの変化量を測定して行った。実施例のトランジスタ素子は、いずれもMBOTとして動作が確認された。
本発明のトランジスタ素子は、比較例の素子との比較から、コレクタ層を2層以上の積層構造としたことにより、優れたコレクタ電流値、オン/オフ比が得られることが確認された。また、ベース電極に積層されるコレクタ層のp型有機半導体層を平滑な表面とすることで、さらに優れた性能が得られ、実用化が期待されるトランジスタ特性が得られることを確認した。
11:コレクタ電極
12:エミッタ電極
13:ベース電極
21:有機半導体層(エミッタ層)
22:有機半導体層(コレクタ層)
22A:有機半導体層(ベース電極側コレクタ層)
22B:有機半導体層(コレクタ電極側コレクタ層)
Claims (10)
- エミッタ電極とコレクタ電極との間にシート状のベース電極が配置され、かつ、該ベース電極の表裏それぞれの側にp型有機半導体層が設けられている積層構造をなすトランジスタ素子において、
エミッタ電極とベース電極との間に少なくとも1層のp型有機半導体を含む有機半導体層が設けられ、かつ、ベース電極とコレクタ電極との間に、同一又は異なるp型半導体材料で形成された、HOMO準位(最高被占軌道エネルギー準位)がそれぞれに異なる2層のp型有機半導体層が順に積層した積層構造(但し、ベース電極とコレクタ電極との間に有機EL素子部が設けられている場合における、正孔注入層と正孔輸送層とが順に積層した積層構造を除く。)を有するコレクタ層が設けられており、かつ、コレクタ電極側コレクタ層のHOMO準位よりもベース電極側コレクタ層のHOMO準位が大きいことを特徴とするトランジスタ素子。 - 前記異なる2層のp型有機半導体層が順に積層した積層構造が、コレクタ電極側コレクタ層とベース電極側コレクタ層の2つの有機半導体層からなり、コレクタ電極側コレクタ層が、HOMO準位(最高被占軌道エネルギー準位)4.5から5.5eVにあるp型有機半導体層からなり、ベース電極側コレクタ層が、HOMO準位(最高被占軌道エネルギー準位)5.0〜6.0eVにあるp型有機半導体層からなり、かつ、コレクタ電極側コレクタ層よりもベース電極側コレクタ層のHOMO準位(最高被占軌道エネルギー準位)が大きい請求項1に記載のトランジスタ素子。
- 前記コレクタ層の異なる2層のp型有機半導体層が順に積層した積層構造を形成している各p型有機半導体層の表面の粗さが、平均2乗粗さ(RMS)で5nm以下である請求項1又は2に記載のトランジスタ素子。
- 前記コレクタ層の異なる2層のp型有機半導体層が順に積層した積層構造を形成している複数のp型有機半導体層のうちのベース電極側に配置されている有機半導体層が、ジインデノペリレン、ジナフトチエノチオフェン、フタロシアニンおよび、これらの誘導体を含んでなる請求項1〜3のいずれか1項に記載のトランジスタ素子。
- 前記コレクタ層の異なる2層のp型有機半導体層が順に積層した積層構造を形成しているp型有機半導体層のうちのコレクタ電極側に配置されている有機半導体層が、フタロシアニン、ジインデノペリレンおよび、これらの誘導体を含んでなる請求項1〜4のいずれか1項に記載のトランジスタ素子。
- 前記エミッタ電極とベース電極との間に配置されているp型有機半導体層が、ペンタセン、フタロシアニンおよび、これらの誘導体を含んでなる請求項1〜5のいずれか1項に記載のトランジスタ素子。
- 前記シート状ベース電極の表裏の一方の面或いは両方の面に積層された状態で、電流透過促進層がさらに設けられている請求項1〜6のいずれか1項に記載のトランジスタ素子。
- 前記電流透過促進層が、フッ化リチウムで形成されている請求項7に記載のトランジスタ素子。
- 前記電流透過促進層の膜厚が、0.1nmから100nmの厚みである請求項7又は8に記載のトランジスタ素子。
- 前記エミッタ電極と前記ベース電極間に電圧(VB)を印加し、さらに前記エミッタ電極と前記コレクタ電極間に電圧(VC)を印加することで流れたコレクタ電流IC-ONと、エミッタ電極とベース電極間に電圧(VB)を印加せずに、前記エミッタ電極と前記コレクタ電極間に電圧(VC)を印加することにより流れるコレクタ電流IC-OFFとの比であるON/OFF(IC-ON/IC-OFF)が、1,000以上となる電流変調性を示す請求項1〜9のいずれか1項に記載のトランジスタ素子。
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