JP5915848B2 - 圧電素子の製造方法、液体噴射ヘッドの製造方法、液体噴射装置の製造方法、超音波デバイスの製造方法及びセンサーの製造方法 - Google Patents
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Description
かかる態様では、Bi及びFeを含有する圧電材料やBa及びTiを含有する圧電材料からなる圧電体層を製造する際に、Bi及びFe、または、Ba及びTiを含有する第1圧電体前駆体膜を経て第1圧電体層を形成し、この第1圧電体層上に、第1圧電体前駆体膜に含有されるBi及びFe、または、Ba及びTiに加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種の元素を含有する第2圧電体前駆体膜を設けて圧電体層を形成することにより、圧電体層のクラックの発生を抑制することができる。また、非鉛又は鉛の含有量を抑えられるため、環境への負荷を低減することができる。
図1は、本発明の実施形態1に係る製造方法によって製造される液体噴射ヘッドの一例であるインクジェット式記録ヘッドの概略構成を示す分解斜視図であり、図2は、図1の平面図であり、図3は図2のA−A′線断面図である。図1〜図3に示すように、本実施形態の流路形成基板10は、シリコン単結晶基板からなり、その一方の面には二酸化シリコンからなる弾性膜50が形成されている。
(0<x<0.40)
(Bi1−xBax)(Fe1−xTix)O3 (1’)
(0<x<0.40)
(1−x)[Bi(Fe1−yMy)O3]−x[BaTiO3] (2)
(0<x<0.40、0.01<y<0.09、MはMnまたはCo)
(Bi1−xBax)((Fe1−yMy)1−xTix)O3 (2’)
(0<x<0.40、0.01<y<0.09、MはMnまたはCo)
まず、(110)に配向した単結晶シリコン基板の表面に熱酸化により膜厚1170nmの二酸化シリコン膜を形成した。次に、二酸化シリコン膜上にRFマグネトロンスパッター法により膜厚40nmのチタン膜を形成し、熱酸化することで酸化チタン膜を形成した。次に、酸化チタン膜上にRFマグネトロンスパッター法により膜厚100nmの白金膜を形成して第1電極60とした。
2−エチルヘキサン酸リチウムのn−オクタン溶液のかわりに2−エチルヘキサン酸ホウ素のn−オクタン溶液を用い、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti、Bのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti:B=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0:3.0となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
2−エチルヘキサン酸リチウムのn−オクタン溶液のかわりに2−エチルヘキサン酸銅のn−オクタン溶液を用い、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti、Cuのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti:Cu=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0:8.5となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
2−エチルヘキサン酸リチウムのn−オクタン溶液を用いず、Bi、Ba、Fe、Mn、Tiのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
実施例1〜3及び比較例1について、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成直後の断面を、50,000倍の走査電子顕微鏡(SEM)により観察した。比較例1の結果を図9(a)に、実施例1の結果を図9(b)に、実施例2の結果を図9(c)に、実施例3の結果を図9(d)に示す。
実施例1〜3及び比較例1において、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成2週間後の圧電体層70の表面を500倍の金属顕微鏡により観察し、圧電体層70のクラックの発生の有無を確認した。比較例1の結果を図10(a)に、実施例1の結果を図10(b)に、実施例2の結果を図10(c)に、実施例3の結果を図10(d)に示す。
実施例1〜3及び比較例1の各圧電素子について、東陽テクニカ社製「FCE−1A」で、φ=500μmの電極パターンを使用し、室温(25℃)で周波数1kHzの三角波を印加して、分極量と電圧の関係(P−V曲線)を求めた。結果を図11に示す。なお、図11は、最大分極値を基準として規格化した図である。図11に示すように、実施例1〜3及び比較例1はいずれも強誘電体であることが確認され、LiまたはCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例1及び3は、脱分極が小さかった。
実施例1〜3及び比較例1の各圧電素子について、ヒューレットパッカード社製「4140B」を用い、室温(25℃)で電流密度と電圧との関係(I−V曲線)を求めた。測定はφ=500μmの電極パターンを使用した。結果を図12に示す。この結果、BまたはCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例2〜3は、比較例1と比べて、高い電圧を印加しても圧電素子が破壊せず、耐圧が向上していた。
2−エチルヘキサン酸ホウ素のn−オクタン溶液及び2−エチルヘキサン酸銅のn−オクタン溶液も用い、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti、Li、B、Cuのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti:Li:B:Cu=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0:4.5:3.0:1.0となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
実施例4について、試験例1と同様にして、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成直後の断面を、50,000倍の走査電子顕微鏡(SEM)により観察した。結果を図13に示す。この結果、Li、B及びCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例4は、圧電体層70の空孔がほとんど無く膜密度が高かった。また、実施例4は、圧電体層70は柱状結晶で形成されていた。
実施例4において、試験例2と同様にして、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成2週間後の圧電体層70の表面を500倍の金属顕微鏡により観察し、圧電体層70のクラックの発生の有無を確認した。結果を図14に示す。図14に示すように、Li、B及びCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例4では、クラックが観察されなかった。
実施例4の圧電素子について、試験例3と同様に、東陽テクニカ社製「FCE−1A」で、φ=500μmの電極パターンを使用し、室温(25℃)で周波数1kHzの三角波を印加して、分極量と電圧の関係(P−V曲線)を求めた。結果を図15に示す。なお、図15は、最大分極値を基準として規格化した図である。図15に示すように、実施例4は強誘電体であり、且つ、脱分極が小さかった。
実施例4の圧電素子について、試験例4と同様に、ヒューレットパッカード社製「4140B」を用い、室温(25℃)で電流密度と電圧との関係(I−V曲線)を求めた。測定はφ=500μmの電極パターンを使用した。結果を図16に示す。この結果、Li、B及びCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例4は、上記比較例1と比べて、高い電圧を印加しても圧電素子が破壊せず、耐圧が向上していた。
実施例4及び比較例1の圧電素子のそれぞれに、第1電極60を基準電位(図17において「Gnd」と記載する。)として、第2電極80に図17に示す駆動波形200を印加した時の変位量を求めた。変位量は、グラフテック社製のレーザードップラー変位計を用い室温(25℃)で測定した。なお、図17に示す駆動波形200において、基準電位(Gnd)より上側が正の電圧であり、基準電位(Gnd)よりも下側が負の電圧となる。また、V1は待機状態で印加される電圧(中間電圧)である。そして、本試験例においては、V1=20V、V2=−10Vで固定し、V3を20Vから60Vまで5Vおきに変化させることによりΔVを30Vから70Vまで変化させて、それぞれ変位量を求めた。結果を図18に示す。この結果、図18に示すように、同じ電圧で比べると、比較例1に対して、実施例4は変位量が顕著に大きかった。
実施例1〜4及び比較例1の圧電素子について、Bruker AXS社製の「D8 Discover」を用い、X線源にCuKα線を使用し、室温(25℃)で、圧電体層70のX線回折パターンを求めた。この結果、実施例1〜4及び比較例1の全てにおいて、ペロブスカイト構造に起因するピークと、基板由来のピークが観測され、異相は確認されなかった。
以上、本発明の一実施形態を説明したが、本発明の基本的構成は上述したものに限定されるものではない。例えば、上述した実施形態では、流路形成基板10として、シリコン単結晶基板を例示したが、特にこれに限定されず、例えば、SOI基板、ガラス等の材料を用いるようにしてもよい。
Claims (7)
- 圧電体層と前記圧電体層を挟む電極とを備えた圧電素子の製造方法であって、
Bi及びFe、または、Ba及びTiを含有する第1圧電体前駆体膜を形成する工程と、
前記第1圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して第1圧電体層を形成する工程と、
前記第1圧電体層上に、前記第1圧電体前駆体膜に含有されるBi及びFe、または、Ba及びTiに加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する第2圧電体前駆体膜を形成する工程と、
前記第1圧電体層及び前記第2圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して前記圧電体層を形成する工程と、
を具備することを特徴とする圧電素子の製造方法。 - 前記第1圧電体前駆体膜はさらにMnを含有し、
前記第2圧電体前駆体膜はさらにMnを含有することを特徴とする請求項1に記載の圧電素子の製造方法。 - 前記圧電体層を形成する工程において、前記第1圧電体層は液相になると共に、前記第2圧電体前駆体膜に含有される元素が前記第1圧電体層に拡散することを特徴とする請求項1又は2に記載の圧電素子の製造方法。
- 請求項1〜3の何れか一項に記載の圧電素子の製造方法により圧電素子を製造し、
前記圧電素子を用いて液体噴射ヘッドを製造することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法。 - 請求項4に記載の液体噴射ヘッドの製造方法で液体噴射ヘッドを製造し、
前記液体噴射ヘッドを用いて液体噴射装置を製造することを特徴とする液体噴射装置の製造方法。 - 請求項1〜3の何れか一項に記載の圧電素子の製造方法により圧電素子を製造し、
前記圧電素子を用いて超音波デバイスを製造することを特徴とする超音波デバイスの製造方法。 - 請求項1〜3の何れか一項に記載の圧電素子の製造方法により圧電素子を製造し、
前記圧電素子を用いてセンサーを製造することを特徴とするセンサーの製造方法。
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