JP5915848B2 - 圧電素子の製造方法、液体噴射ヘッドの製造方法、液体噴射装置の製造方法、超音波デバイスの製造方法及びセンサーの製造方法 - Google Patents

圧電素子の製造方法、液体噴射ヘッドの製造方法、液体噴射装置の製造方法、超音波デバイスの製造方法及びセンサーの製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、圧電材料からなる圧電体層及び電極を有する圧電素子を具備し、ノズル開口から液滴を吐出させる液体噴射ヘッドの製造方法、液体噴射装置及び圧電素子の製造方法に関する。
液体噴射ヘッドの代表例としては、例えば、インク滴を吐出するノズルと連通する圧力発生室の一部を振動板で構成し、この振動板を圧電素子により変形させて圧力発生室のインクを加圧してノズルからインク滴として吐出させるインクジェット式記録ヘッドがある。インクジェット式記録ヘッドに用いられる圧電素子としては、電気的機械変換機能を呈する圧電材料、例えば、結晶化した誘電材料からなる圧電体層(圧電体膜)を、2つの電極で挟んで構成されたものがある。
このような圧電素子を構成する圧電体層として用いられる圧電材料には高い圧電特性が求められており、圧電材料の代表例として、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)が挙げられる(特許文献1等参照)。しかしながら、環境問題の観点から、非鉛又は鉛の含有量を抑えた圧電材料が求められている。鉛を含有しない圧電材料としては、例えば、Bi及びFeを含有するBiFeO系の圧電材料や(特許文献2等参照)、Ba及びTiを含有するBaTiO系の圧電材料が知られている(特許文献3等参照)。
特開2001−223404号公報 特開2007−287745号公報 特開昭62−154680号公報
しかしながら、このようなBi及びFeやBa及びTiを含有する非鉛系圧電材料を用いると、クラックが発生し易く実用化が困難という問題がある。なお、このような問題は、インクジェット式記録ヘッドだけではなく、勿論、インク以外の液滴を吐出する他の液体噴射ヘッドにおいても同様に存在し、また、液体噴射ヘッド以外に用いられる圧電素子においても同様に存在する。
本発明はこのような事情に鑑み、環境負荷が小さく且つクラックの発生が抑制された圧電体層を有する圧電素子を備えた液体噴射ヘッドの製造方法、液体噴射装置及び圧電素子の製造方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決する本発明の態様は圧電体層と前記圧電体層を挟む電極とを備えた圧電素子の製造方法であって、Bi及びFe、または、Ba及びTiを含有する第1圧電体前駆体膜を形成する工程と、前記第1圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して第1圧電体層を形成する工程と、前記第1圧電体層上に、前記第1圧電体前駆体膜に含有されるBi及びFe、または、Ba及びTiに加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する第2圧電体前駆体膜を形成する工程と、前記第1圧電体層及び前記第2圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して前記圧電体層を形成する工程と、を具備することを特徴とする圧電素子の製造方法にある。
かかる態様では、Bi及びFeを含有する圧電材料やBa及びTiを含有する圧電材料からなる圧電体層を製造する際に、Bi及びFe、または、Ba及びTiを含有する第1圧電体前駆体膜を経て第1圧電体層を形成し、この第1圧電体層上に、第1圧電体前駆体膜に含有されるBi及びFe、または、Ba及びTiに加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種の元素を含有する第2圧電体前駆体膜を設けて圧電体層を形成することにより、圧電体層のクラックの発生を抑制することができる。また、非鉛又は鉛の含有量を抑えられるため、環境への負荷を低減することができる。
本発明の他の態様は、上記圧電素子の製造方法により製造された圧電素子を具備することを特徴とする液体噴射ヘッド、及び当該液体噴射ヘッドを具備することを特徴とする液体噴射装置にある。かかる態様では、クラックの発生が抑制された圧電体層を有するため、信頼性に優れた液体噴射ヘッド、及び液体噴射装置となる。
また、本発明の他の態様は、上記圧電素子の製造方法により製造された圧電素子を具備することを特徴とする超音波デバイス、あるいは、上記圧電素子を具備するセンサーにある。かかる態様では、クラックの発生が抑制された圧電体層を有するため、信頼性に優れた超音波デバイス、あるいは、センサーを提供できる
実施形態1に係る記録ヘッドの概略構成を示す分解斜視図。 実施形態1に係る記録ヘッドの平面図。 実施形態1に係る記録ヘッドの断面図。 実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図。 実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図。 実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図。 実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図。 実施形態1に係る記録ヘッドの製造工程を示す断面図。 実施例1〜3及び比較例1の断面をSEMで観察した写真。 実施例1〜3及び比較例1の圧電体層の表面を金属顕微鏡で観察した写真 実施例1〜3及び比較例1のP−V曲線。 実施例1〜3及び比較例1のI−V曲線。 実施例4の断面をSEMで観察した写真。 実施例4の圧電体層の表面を金属顕微鏡で観察した写真。 実施例4のP−V曲線。 実施例4のI−V曲線。 試験例9で用いた駆動波形。 実施例4及び比較例1の変位量の測定結果を示す図。 本発明の一実施形態に係る記録装置の概略構成を示す図。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る製造方法によって製造される液体噴射ヘッドの一例であるインクジェット式記録ヘッドの概略構成を示す分解斜視図であり、図2は、図1の平面図であり、図3は図2のA−A′線断面図である。図1〜図3に示すように、本実施形態の流路形成基板10は、シリコン単結晶基板からなり、その一方の面には二酸化シリコンからなる弾性膜50が形成されている。
流路形成基板10には、複数の圧力発生室12がその幅方向に並設されている。また、流路形成基板10の圧力発生室12の長手方向外側の領域には連通部13が形成され、連通部13と各圧力発生室12とが、各圧力発生室12毎に設けられたインク供給路14及び連通路15を介して連通されている。連通部13は、後述する保護基板のマニホールド部31と連通して各圧力発生室12の共通のインク室となるマニホールドの一部を構成する。インク供給路14は、圧力発生室12よりも狭い幅で形成されており、連通部13から圧力発生室12に流入するインクの流路抵抗を一定に保持している。なお、本実施形態では、流路の幅を片側から絞ることでインク供給路14を形成したが、流路の幅を両側から絞ることでインク供給路を形成してもよい。また、流路の幅を絞るのではなく、厚さ方向から絞ることでインク供給路を形成してもよい。本実施形態では、流路形成基板10には、圧力発生室12、連通部13、インク供給路14及び連通路15からなる液体流路が設けられていることになる。
また、流路形成基板10の開口面側には、各圧力発生室12のインク供給路14とは反対側の端部近傍に連通するノズル開口21が穿設されたノズルプレート20が、接着剤や熱溶着フィルム等によって固着されている。なお、ノズルプレート20は、例えば、ガラスセラミックス、シリコン単結晶基板、ステンレス鋼等からなる。
一方、このような流路形成基板10の開口面とは反対側には、上述したように弾性膜50が形成され、この弾性膜50上には、例えば厚さ30〜50nm程度の酸化チタン等からなり、弾性膜50等の第1電極60の下地との密着性を向上させるための密着層56が設けられている。本実施形態においては、密着層56として酸化チタンを用いたが、密着層56の材質は第1電極60とその下地の種類等により異なるが、例えば、ジルコニウム、アルミニウムを含む酸化物や窒化物や、SiO、MgO、CeO等とすることができる。なお、弾性膜50上に、必要に応じて酸化ジルコニウム等からなる絶縁体膜が設けられていてもよい。
さらに、この密着層56上には、第1電極60と、厚さが3μm以下、好ましくは0.3〜1.5μmの薄膜である圧電体層70と、第2電極80とが、積層形成されて、圧力発生室12に圧力変化を生じさせる圧力発生手段としての圧電素子300を構成している。ここで、圧電素子300は、第1電極60、圧電体層70及び第2電極80を含む部分をいう。一般的には、圧電素子300の何れか一方の電極を共通電極とし、他方の電極及び圧電体層70を各圧力発生室12毎にパターニングして構成する。本実施形態では、第1電極60を圧電素子300の共通電極とし、第2電極80を圧電素子300の個別電極としているが、駆動回路や配線の都合でこれを逆にしても支障はない。また、ここでは、圧電素子300と当該圧電素子300の駆動により変位が生じる振動板とを合わせてアクチュエーター装置と称する。なお、上述した例では、弾性膜50、密着層56、第1電極60及び必要に応じて設ける絶縁体膜が振動板として作用するが、勿論これに限定されるものではなく、例えば、弾性膜50や密着層56が設けられていなくてもよい。また、圧電素子300自体が実質的に振動板を兼ねるようにしてもよい。
そして、圧電体層70は、詳しくは後述するが、Bi及びFe、または、Ba及びTiを含有する第1圧電体前駆体膜を形成する工程と、第1圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して第1圧電体層を形成する工程と、第1圧電体層上に、第1圧電体前駆体膜に含有されるBi及びFe、または、Ba及びTiに加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する第2圧電体前駆体膜を形成する工程と、第1圧電体層及び第2圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して圧電体層を形成する工程とを具備する製造方法によって製造されるものである。具体的には、例えば、Bi及びFeを含有する金属錯体を含む第1前駆体溶液またはBa及びTiを含有する金属錯体を含む第1前駆体溶液により第1圧電体前駆体膜を形成する工程と、この第1圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して第1圧電体層を形成する工程と、この第1圧電体層上に、第1前駆体溶液に含まれるBi及びFeを含有する金属錯体またはBa及びTiを含有する金属錯体に加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する金属錯体を含む第2前駆体溶液により第2圧電体前駆体膜を形成する工程と、第1圧電体層及び第2圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して圧電体層を形成する工程とを具備する製造方法によって製造されるものである。
このような圧電体層70とすることにより、後述する実施例に示すように、クラックの発生が抑制されたものとなる。また、LiやBを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合、例えば、上記第2前駆体溶液としてLiやBを含有する金属錯体を含むものを用いた場合は、空孔が無いまたは少ない圧電体層70とすることができる。なお、この空孔は、焼成工程で形成されると推測される。また、LiやBを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合、例えば、上記第2前駆体溶液としてLiやBを含有する金属錯体を含むものを用いた場合は、柱状結晶を有する圧電体層70とすることができる。また、LiやCuを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合、例えば、上記第2前駆体溶液としてLiやCuを含有する金属錯体を含むものを用いた場合は、LiやCuを含有しない場合と比較して、変位が大きい圧電体層70とすることができる。また、BやCuを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合、例えば、上記第2前駆体溶液としてBやCuを含有する金属錯体を含むものを用いた場合は、耐圧を向上できる。
このような製造方法で製造された圧電体層70は、ビスマス(Bi)及び鉄(Fe)を含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物、または、バリウム(Ba)及びチタン(Ti)を含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物からなる。勿論、圧電体層70は、Bi、Fe、Ba及びTiを含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物からなるものであってもよい。ペロブスカイト構造、すなわち、ABO3型構造のAサイトは酸素が12配位しており、また、Bサイトは酸素が6配位して8面体(オクタヘドロン)をつくっている。そして、このAサイトにBiやBaが、BサイトにFeやTiが位置している。
圧電体層70の構造の詳細は不明であるが、以下の構造を有するものと推測される。
第1圧電体前駆体膜及び第2圧電体前駆体膜としてBi及びFeを含有するものを経て上記方法で製造された場合、すなわち、例えば、第1前駆体溶液及び第2前駆体溶液としてBi及びFeを含有する金属錯体を含むものを用いて上記方法で製造された場合は、圧電体層70を構成する圧電材料は、Bi及びFeを含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物である鉄酸ビスマス系の圧電材料であり、上述したように、ペロブスカイト構造のAサイトにBiが、BサイトにFeが位置している。なお、鉄酸ビスマスはペロブスカイト構造を有する公知の圧電材料であり、種々の組成のものが知られ、例えば鉄酸ビスマスとして、BiFeO以外に、元素が一部欠損する又は過剰であったり、元素の一部が他の元素に置換されたものも知られているが、本発明で鉄酸ビスマスと表記した場合、基本的な特性が変わらない限り、元素(Bi、Fe、O)の欠損や過剰により化学量論の組成(BiFeO)からずれたものも、鉄酸ビスマスの範囲に含まれるものとする。そして、第1圧電体前駆体膜及び第2圧電体前駆体膜としてBi及びFeを含有するものを経て上記方法で製造された場合、すなわち、例えば、第1前駆体溶液及び第2前駆体溶液としてBi及びFeを含有する金属錯体を含むものを用いて上記方法で製造された場合は、圧電体層70を構成する複合酸化物は、ほとんどすべてが鉄酸ビスマスであり、少量のLi、少量のB、または、少量のCuをさらに含むものとなる。これらLi、BやCuを含んでいても、圧電体層70はペロブスカイト構造を有するものである。そして、Li、B、Cuは、AサイトのBiやBサイトのFeの一部を置換する、または、グレインの界面に存在しているものと推測される。
また、第1圧電体前駆体膜及び第2圧電体前駆体膜としてBa及びTiを含有するものを経て上記方法で製造された場合、すなわち、例えば、第1前駆体溶液及び第2前駆体溶液としてBa及びTiを含有する金属錯体を含むものを用いて上記方法で製造された場合は、圧電体層70を構成する圧電材料は、Ba及びTiを含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物であるチタン酸バリウム系の圧電材料であり、ペロブスカイト構造のAサイトにBaが、BサイトにTiが位置している。なお、チタン酸バリウムはペロブスカイト構造を有する公知の圧電材料であり、種々の組成のものが知られ、例えばチタン酸バリウムとして、BaTiO以外に、元素が一部欠損する又は過剰であったり、元素の一部が他の元素に置換されたものも知られているが、本発明でチタン酸バリウムと表記した場合、基本的な特性が変わらない限り、元素(Ba、Ti、O)の欠損や過剰により化学量論の組成(BaTiO)からずれたものも、鉄酸ビスマスの範囲に含まれるものとする。そして、第1圧電体前駆体膜及び第2圧電体前駆体膜としてBa及びTiを含有するものを経て上記方法で製造された場合、すなわち、例えば、第1前駆体溶液及び第2前駆体溶液としてBa及びTiを含有する金属錯体を含むものを用いて上記方法で製造された場合は、圧電体層70を構成する複合酸化物は、ほとんどすべてがチタン酸バリウムであり、少量のLi、少量のB、または、少量のCuをさらに含むものとなる。これらLi、BやCuを含んでいても、圧電体層70はペロブスカイト構造を有するものである。そして、Li、B、Cuは、AサイトのBaやBサイトのTiの一部を置換する、または、グレインの界面に存在しているものと推測される。
また、第1圧電体前駆体膜及び第2圧電体前駆体膜としてBi、Fe、Ba及びTiを含有するものを経て上記方法で製造された場合、すなわち、例えば、第1前駆体溶液及び第2前駆体溶液としてBi、Fe、Ba及びTiを含有する金属錯体を含むものを用いて上記方法で製造された場合は、圧電体層70を構成する圧電材料は、Bi、Fe、Ba及びTiを含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物からなり、ペロブスカイト構造のAサイトにBi及びBaが、BサイトにFe及びTiが位置している。このようなBi、Fe、Ba及びTiを含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物は、鉄酸ビスマスとチタン酸バリウムとの混晶のペロブスカイト構造を有する複合酸化物、または、鉄酸ビスマスとチタン酸バリウムが均一に固溶した固溶体としても表される。なお、X線回折パターンにおいて、鉄酸ビスマスや、チタン酸バリウムは、単独では検出されないものである。ここで、上述したように、鉄酸ビスマスやチタン酸バリウムは、それぞれペロブスカイト構造を有する公知の圧電材料であり、それぞれ種々の組成のものが知られ、例えば鉄酸ビスマスやチタン酸バリウムとして、BiFeOやBaTiO以外に、元素が一部欠損する又は過剰であったり、元素の一部が他の元素に置換されたものも知られているが、本発明で鉄酸ビスマス、チタン酸バリウムと表記した場合、基本的な特性が変わらない限り、欠損・過剰により化学量論の組成からずれたものや元素の一部が他の元素に置換されたものも、鉄酸ビスマス、チタン酸バリウムの範囲に含まれるものとする。そして、第1圧電体前駆体膜及び第2圧電体前駆体膜としてBi、Fe、Ba及びTiを含有するものを経て上記方法で製造された場合、すなわち、例えば、第1前駆体溶液及び第2前駆体溶液としてBi、Fe、Ba及びTiを含有する金属錯体を含むものを用いて上記方法で製造された場合は、圧電体層70を構成する複合酸化物は、ほとんどすべてが鉄酸ビスマスとチタン酸バリウムとの混晶のペロブスカイト構造を有する複合酸化物(例えば下記式(1)や下記式(2))であり、少量のLi、少量のB、または、少量のCuをさらに含むものとなる。これらLi、BやCuを含んでいても、圧電体層70はペロブスカイト構造を有するものである。そして、Li、B、Cuは、AサイトのBi、BaやBサイトのFe、Tiの一部を置換する、または、グレインの界面に存在しているものと推測される。
なお、式(1)は、式(1’)で表すこともでき、式(2)は、式(2’)で表すこともできる。ここで、式(1)及び式(1’)の記述や、式(2)及び式(2’)の記述は化学量論に基づく組成表記であり、上述したように、ペロブスカイト構造を取り得る限りにおいて、格子不整合、酸素欠損等による不可避な組成のずれは勿論元素の一部置換等も許容される。例えば、化学量論比が1とすると、0.85〜1.20の範囲内のものは許容される。また、下記式(2)は、第1前駆体溶液や第2前駆体溶液が、さらにMnやCo等を含有する金属錯体を含む場合であり、この場合は、MnやCoはBサイトに位置し、MnやCoがBサイトに位置するFeの一部を置換したペロブスカイト構造の複合酸化物であると推測される。
(1−x)[BiFeO]−x[BaTiO] (1)
(0<x<0.40)
(Bi1−xBa)(Fe1−xTi)O (1’)
(0<x<0.40)
(1−x)[Bi(Fe1−y)O]−x[BaTiO] (2)
(0<x<0.40、0.01<y<0.09、MはMnまたはCo)
(Bi1−xBa)((Fe1−y1−xTi)O (2’)
(0<x<0.40、0.01<y<0.09、MはMnまたはCo)
圧電体層70が、上記式(2)または式(2’)のようにMnやCoを含む場合、例えば、Mnを含む場合は、圧電体層70を構成する複合酸化物は、ほとんどすべてが、鉄酸ビスマスとチタン酸バリウムが均一に固溶した固溶体のFeの一部がMnで置換された構造、又は、鉄酸マンガン酸ビスマスとチタン酸バリウムとの混晶のペロブスカイト構造を有する複合酸化物であり、少量のLi、少量のB、または、少量のCuをさらに含むものとなる。そして、基本的な特性は上記の鉄酸ビスマスとチタン酸バリウムとの混晶のペロブスカイト構造を有する複合酸化物に少量のLi、少量のB、または、少量のCuをさらに含むものと同じであるが、リーク特性が向上することがわかっている。また、Coを含む場合も、Mnと同様にリーク特性が向上するものである。なお、X線回折パターンにおいて、鉄酸ビスマス、チタン酸バリウム、鉄酸マンガン酸ビスマス及び鉄酸コバルト酸ビスマスは、単独では検出されないものである。
このような圧電素子300の個別電極である各第2電極80には、インク供給路14側の端部近傍から引き出され、弾性膜50上や必要に応じて設ける絶縁体膜上にまで延設される、例えば、金(Au)等からなるリード電極90が接続されている。
このような圧電素子300が形成された流路形成基板10上、すなわち、第1電極60、弾性膜50や必要に応じて設ける絶縁体膜及びリード電極90上には、マニホールド100の少なくとも一部を構成するマニホールド部31を有する保護基板30が接着剤35を介して接合されている。このマニホールド部31は、本実施形態では、保護基板30を厚さ方向に貫通して圧力発生室12の幅方向に亘って形成されており、上述のように流路形成基板10の連通部13と連通されて各圧力発生室12の共通のインク室となるマニホールド100を構成している。また、流路形成基板10の連通部13を圧力発生室12毎に複数に分割して、マニホールド部31のみをマニホールドとしてもよい。さらに、例えば、流路形成基板10に圧力発生室12のみを設け、流路形成基板10と保護基板30との間に介在する部材(例えば、弾性膜50、必要に応じて設ける絶縁体膜等)にマニホールド100と各圧力発生室12とを連通するインク供給路14を設けるようにしてもよい。
また、保護基板30の圧電素子300に対向する領域には、圧電素子300の運動を阻害しない程度の空間を有する圧電素子保持部32が設けられている。圧電素子保持部32は、圧電素子300の運動を阻害しない程度の空間を有していればよく、当該空間は密封されていても、密封されていなくてもよい。
このような保護基板30としては、流路形成基板10の熱膨張率と略同一の材料、例えば、ガラス、セラミック材料等を用いることが好ましく、本実施形態では、流路形成基板10と同一材料のシリコン単結晶基板を用いて形成した。
また、保護基板30には、保護基板30を厚さ方向に貫通する貫通孔33が設けられている。そして、各圧電素子300から引き出されたリード電極90の端部近傍は、貫通孔33内に露出するように設けられている。
また、保護基板30上には、並設された圧電素子300を駆動するための駆動回路120が固定されている。この駆動回路120としては、例えば、回路基板や半導体集積回路(IC)等を用いることができる。そして、駆動回路120とリード電極90とは、ボンディングワイヤー等の導電性ワイヤーからなる接続配線121を介して電気的に接続されている。
また、このような保護基板30上には、封止膜41及び固定板42とからなるコンプライアンス基板40が接合されている。ここで、封止膜41は、剛性が低く可撓性を有する材料からなり、この封止膜41によってマニホールド部31の一方面が封止されている。また、固定板42は、比較的硬質の材料で形成されている。この固定板42のマニホールド100に対向する領域は、厚さ方向に完全に除去された開口部43となっているため、マニホールド100の一方面は可撓性を有する封止膜41のみで封止されている。
このような本実施形態のインクジェット式記録ヘッドIでは、図示しない外部のインク供給手段と接続したインク導入口からインクを取り込み、マニホールド100からノズル開口21に至るまで内部をインクで満たした後、駆動回路120からの記録信号に従い、圧力発生室12に対応するそれぞれの第1電極60と第2電極80との間に電圧を印加し、弾性膜50、密着層56、第1電極60、圧電体層70をたわみ変形させることにより、各圧力発生室12内の圧力が高まりノズル開口21からインク滴が吐出する。
次に、本実施形態のインクジェット式記録ヘッドの製造方法の一例について、図4〜図8を参照して説明する。なお、図4〜図8は、圧力発生室の長手方向の断面図である。
まず、図4(a)に示すように、シリコンウェハーである流路形成基板用ウェハー110の表面に弾性膜50を構成する二酸化シリコン(SiO)等からなる二酸化シリコン膜を熱酸化等で形成する。なお、弾性膜50上等に、酸化ジルコニウム等からなる絶縁体膜(図示なし)を設ける場合は、例えば、反応性スパッター法や熱酸化等で形成することができる。
次いで、図4(b)に示すように、弾性膜50(二酸化シリコン膜)上に、また、絶縁体膜を設けた場合は絶縁体膜上に、酸化チタン等からなる密着層56を、スパッターリング法や熱酸化等で形成する。
次に、図5(a)に示すように、密着層56の上に、白金、イリジウム、酸化イリジウム又はこれらの積層構造等からなる第1電極60をスパッターリング法や蒸着法等により全面に形成する。次に、図5(b)に示すように、第1電極60上に所定形状のレジスト(図示無し)をマスクとして、密着層56及び第1電極60の側面が傾斜するように同時にパターニングする。
次いで、レジストを剥離した後、この第1電極60上に、Bi及びFe、または、Ba及びTiを含有する第1圧電体前駆体膜を形成する工程と、第1圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して第1圧電体層を形成する工程と、第1圧電体層上に、第1圧電体前駆体膜に含有されるBi及びFe、または、Ba及びTiに加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する第2圧電体前駆体膜を形成する工程と、第1圧電体層及び第2圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して圧電体層を形成する工程とを具備する製造方法によって、圧電体層70を積層する。例えば、金属錯体を含む前駆体溶液を塗布乾燥し、さらに高温で焼成することで金属酸化物からなる圧電体層を得るMOD(Metal−Organic Decomposition)法やゾル−ゲル法等の化学溶液法で、圧電体層70を製造できる。その他、レーザーアブレーション法、スパッタリング法、パルス・レーザー・デポジション法(PLD法)、CVD法、エアロゾル・デポジション法など、気相法、液相法や固相法でも圧電体層70を製造することができる。
圧電体層70を化学溶液法で形成する場合の具体的な形成手順例としては、まず、第1電極60上に、Bi及びFeを含有する金属錯体を含む第1前駆体溶液、または、Ba及びTiを含有する金属錯体を含む第1前駆体溶液を用いて、第1圧電体前駆体膜71aを形成した後、この第1圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して第1圧電体層71を形成する。
第1圧電体層71の具体的な形成手順例としては、まず、図5(c)に示すように、第1電極60上に、Bi及びFeを含有する金属錯体を含む第1前駆体溶液、または、Ba及びTiを含有する金属錯体を含む第1前駆体溶液を、スピンコート法などを用いて塗布して、第1圧電体前駆体膜71aを形成する(第1圧電体層塗布工程)。
塗布する第1前駆体溶液は、Bi及びFeを含有する金属錯体を混合し該混合物を有機溶媒に溶解または分散させたもの、または、Ba及びTiを含有する金属錯体を混合し該混合物を有機溶媒に溶解または分散させたものである。勿論、第1前駆体溶液として、Bi、Fe、Ba及びTiを含有する金属錯体を混合し該混合物を有機溶媒に溶解または分散させたものを用いてもよい。また、さらにMnやCo等を有する金属錯体を含有するものを、第1前駆体溶液としてもよい。各金属錯体の混合割合は、各金属が所望のモル比となるように混合すればよい。金属錯体としては、例えば、各金属の、アルコキシド、有機酸塩、βジケトン錯体などを用いることができる。Biを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸ビスマス、酢酸ビスマスなどが挙げられる。Feを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸鉄、酢酸鉄、鉄(III)アセチルアセトナートなどが挙げられる。Baを含む金属錯体としては、例えばバリウムイソプロポキシド、2−エチルヘキサン酸バリウム、バリウムアセチルアセトナートなどが挙げられる。Tiを含有する金属錯体としては、例えばチタニウムイソプロポキシド、2−エチルヘキサン酸チタン、チタン(ジ−i−プロポキシド)ビス(アセチルアセトナート)などが挙げられる。Mnを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸マンガン、酢酸マンガンなどが挙げられる。Coを含む有機金属化合物としては、例えば2−エチルヘキサン酸コバルト、コバルト(III)アセチルアセトナートなどが挙げられる。勿論、前駆体溶液に含有させる金属錯体として、Bi、Fe、BaやTi等の金属を一種含む金属錯体を用いてもよく、また、これら金属を二種以上含む金属錯体を用いてもよい。また、第1前駆体溶液の溶媒としては、プロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、オクタノール、エチレングリコール、プロピレングリコール、オクタン、デカン、シクロヘキサン、キシレン、トルエン、テトラヒドロフラン、酢酸、プロピオン酸、オクチル酸などが挙げられる。
次いで、この第1圧電体前駆体膜71aを所定温度(例えば130〜250℃)に加熱して一定時間乾燥させる(第1圧電体層乾燥工程)。次に、乾燥した第1圧電体前駆体膜71aを所定温度(例えば300〜450℃)に加熱して一定時間保持することによって脱脂する(第1圧電体層脱脂工程)。ここで言う脱脂とは、第1圧電体前駆体膜71aに含まれる有機成分を、例えば、NO2、CO2、H2O等として離脱させることである。乾燥工程や脱脂工程の雰囲気は限定されず、大気中、酸素雰囲気中や、不活性ガス中でもよい。なお、第1圧電体層塗布工程、第1圧電体層乾燥工程及び第1圧電体層脱脂工程はそれぞれ1回ずつでもよいが、第1圧電体層塗布工程、第1圧電体層乾燥工程や第1圧電体層脱脂工程を複数回行ってもよい。図5においては、第1圧電体層塗布工程、第1圧電体層乾燥工程及び第1圧電体層脱脂工程からなる一連の工程を3回行って、第1圧電体前駆体膜71aを3層積層した。
次に、図5(d)に示すように、第1圧電体前駆体膜71aを所定温度、例えば600〜850℃程度に加熱して、一定時間、例えば、1〜15分間保持することによって結晶化させ、Bi及びFe、または、Ba及びTiを含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物からなる第1圧電体膜71bを形成する(第1圧電体層焼成工程)。本実施形態においては、複数の第1圧電体前駆体膜71aを設け一括して焼成する操作を複数回行ったので、図6(a)に示すように、複数の第1圧電体膜71bからなる第1圧電体層71が形成される。この第1圧電体層焼成工程においても、雰囲気は限定されず、大気中、酸素雰囲気中や、不活性ガス中でもよい。第1圧電体層乾燥工程、第1圧電体層脱脂工程及び第1圧電体層焼成工程で用いられる加熱装置としては、例えば、赤外線ランプの照射により加熱するRTA(Rapid Thermal Annealing)装置やホットプレート等が挙げられる。
なお、複数の第1圧電体膜71bからなる第1圧電体層71を形成する際には、上記のように第1圧電体層塗布工程、第1圧電体層乾燥工程及び第1圧電体層脱脂工程を繰り返し行った後、複数層をまとめて焼成するようにしてもよいが、第1圧電体層塗布工程、第1圧電体層乾燥工程、第1圧電体層脱脂工程及び第1圧電体層焼成工程を順に行って積層していってもよい。また、本実施形態では、第1圧電体膜71bを積層して設けたが、1層のみでもよい。
次に、第1圧電体層71上に、第1前駆体溶液に含まれるBi及びFeを含有する金属錯体またはBa及びTiを含有する金属錯体に加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する金属錯体を含む第2前駆体溶液により第2圧電体前駆体膜72aを形成する。第2圧電体前駆体膜72aの具体的な形成手順例としては、図6(b)に示すように、第1電極60上に、第2前駆体溶液を、スピンコート法などを用いて塗布して、第2圧電体前駆体膜72aを形成する(第2圧電体層塗布工程)。
第1前駆体溶液としてBi及びFeを含有する金属錯体を含むものを用いた場合は、第2前駆体溶液として、Bi及びFeを含有する金属錯体とLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する金属錯体とを含むものを用いる。また、第1前駆体溶液としてBa及びTiを含有する金属錯体を含むものを用いた場合は、第2前駆体溶液として、Ba及びTiを含有する金属錯体とLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する金属錯体とを含むものを用いる。そして、第1前駆体溶液としてBi、Fe、Ba及びTiを含有する金属錯体を含むものを用いた場合は、第2前駆体溶液としてBi、Fe、Ba及びTiを含有する金属錯体とLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する金属錯体とを含むものを用いる。例えば、第2前駆体溶液は、第1前駆体溶液にさらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する金属錯体を添加したものとすることができる。また、さらにMnやCo等を有する金属錯体を含有するものを、第2前駆体溶液としてもよい。なお、第2前駆体溶液も、各金属錯体を混合し該混合物を有機溶媒に溶解または分散させることにより得られる。各金属錯体の混合割合は、各金属が所望のモル比となるように混合すればよい。例えば、BiやBa等のAサイト元素の総モル量や、Fe、TiやMn等のBサイト元素の総モル量に対して、Liは1.0〜10モル%が好ましく、Bは1.0〜10モル%が好ましく、また、Cuは0.5〜10モル%が好ましい。金属錯体としては、例えば、各金属の、アルコキシド、有機酸塩、βジケトン錯体などを用いることができる。Biを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸ビスマス、酢酸ビスマスなどが挙げられる。Feを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸鉄、酢酸鉄、トリス(アセチルアセトナート)鉄などが挙げられる。Baを含む金属錯体としては、例えばバリウムイソプロポキシド、2−エチルヘキサン酸バリウム、バリウムアセチルアセトナートなどが挙げられる。Tiを含有する金属錯体としては、例えばチタニウムイソプロポキシド、2−エチルヘキサン酸チタン、チタン(ジ−i−プロポキシド)ビス(アセチルアセトナート)などが挙げられる。Mnを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸マンガン、酢酸マンガンなどが挙げられる。Coを含む有機金属化合物としては、例えば2−エチルヘキサン酸コバルト、コバルト(III)アセチルアセトナートなどが挙げられる。Liを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸リチウムなどが挙げられる。Bを含む金属錯体としては、2−エチルヘキサン酸ホウ素などが挙げられる。Cuを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸銅などが挙げられる。勿論、前駆体溶液に含有させる金属錯体として、Bi、Fe、Ba、Ti、Li、BやCu等の金属を一種含む金属錯体を用いてもよく、また、これら金属を二種以上含む金属錯体を用いてもよい。また、第2前駆体溶液の溶媒としては、プロパノール、ブタノール、ペンタノール、ヘキサノール、オクタノール、エチレングリコール、プロピレングリコール、オクタン、デカン、シクロヘキサン、キシレン、トルエン、テトラヒドロフラン、酢酸、プロピオン酸、オクチル酸などが挙げられる。
次いで、この第2圧電体前駆体膜72aを所定温度(例えば、150〜250℃)に加熱して一定時間乾燥させる(第2圧電体層乾燥工程)。次に、乾燥した第2圧電体前駆体膜72aを所定温度(例えば、300〜450℃)に加熱して一定時間保持することによって脱脂する(第2圧電体層脱脂工程)。ここで言う脱脂とは、第2圧電体前駆体膜72aに含まれる有機成分を、例えば、NO、CO、HO等として離脱させることである。第2圧電体層乾燥工程や第2圧電体層脱脂工程の雰囲気も限定されず、大気中、酸素雰囲気中や、不活性ガス中でもよい。なお、第2圧電体層塗布工程、第2圧電体層乾燥工程及び第2圧電体層脱脂工程はそれぞれ1回ずつでもよいが、第2圧電体層塗布工程、第2圧電体層乾燥工程及び第2圧電体層脱脂工程を複数回行ってもよい。図6(b)においては、第2圧電体層塗布工程、第2圧電体層乾燥工程及び第2圧電体層脱脂工程からなる一連の工程を3回行って、第2圧電体前駆体膜72aを3層積層した。
次に、図6(c)に示すように、第2圧電体前駆体膜72aを所定温度、例えば600〜850℃程度に加熱して、一定時間、例えば、1〜15分間保持することによって結晶化させ、ペロブスカイト構造を有する複合酸化物からなる第2圧電体膜72bを形成する(第2圧電体層焼成工程)。図6においては、複数の第2圧電体前駆体膜72aを設けたので、複数の第2圧電体膜72bからなる第2圧電体層72が形成される。
この第2圧電体層焼成工程の雰囲気は限定されず、大気中、酸素雰囲気中や、不活性ガス中でもよい。第2圧電体層乾燥工程、第2圧電体層脱脂工程及び第2圧電体層焼成工程で用いられる加熱装置としては、例えば、赤外線ランプの照射により加熱するRTA装置やホットプレート等が挙げられる。なお、複数の第2圧電体膜72bからなる第2圧電体層72を形成する際には、上記のように第2圧電体層塗布工程、第2圧電体層乾燥工程及び第2圧電体層脱脂工程を繰り返し行った後、複数層をまとめて焼成するようにしてもよいが、第2圧電体層塗布工程、第2圧電体層乾燥工程、第2圧電体層脱脂工程及び第2圧電体層焼成工程を順に行って積層していってもよい。また、本実施形態では、第2圧電体膜72bを積層して設けたが、1層のみでもよい。
この第2圧電体前駆体膜72aを加熱して結晶化する工程(第2圧電体層焼成工程)では、第2圧電体前駆体膜72aの下層である第1圧電体膜71bも加熱され、第1圧電体膜71b’となる。このように第1圧電体膜71bが、その上に形成された第2圧電体前駆体膜72aが加熱される際に同時に加熱されると、第1圧電体膜71bが液相になると共に、第2圧電体前駆体膜72aを構成する元素であるLi、BまたはCuが、液相となった第1圧電体膜71bまで拡散し、そして、液相になった第1圧電体膜71bと第2圧電体前駆体膜72aが全体として結晶化すると推測される。このように拡散した元素により、第1圧電体膜71bの製造段階で発生していたクラックや空孔が埋められる等すると推測される。そして、このように第2圧電体前駆体膜72aが加熱され結晶化する際に第1圧電体膜71bが液相になり、また、第1前駆体溶液に含まれる金属元素と第2前駆体溶液に含まれる金属元素が共通するため、後述する実施例に示すように、得られる圧電体層70は、連続して結晶が成長し境界が観察されない1層の圧電体層となる。
なお、図6等においては、製造される圧電体層70を、第1圧電体膜71bをさらに加熱した第1圧電体膜71b’が積層された第1圧電体層71’と第2前駆体溶液を用いて形成される第2圧電体膜72bが積層された第2圧電体層72とで構成される表記にしたが、これは、製造方法を分かりやすくするために便宜上記載したものである。実際に製造される圧電体層70は、上述したように、連続して結晶が成長し境界が観察されない1層で構成され、第1圧電体層71’と第2圧電体層72とを見た目で区別することはできない。
このように、所定の第1圧電体前駆体膜を経て第1圧電体層71を形成し、この第1圧電体層71上にLi、BやCuを含有する所定の第2圧電体前駆体膜72aを形成した後、加熱して結晶化させる製造方法で得られる圧電体層70は、後述する実施例に示すように、クラックの発生が抑制されたものとなる。また、LiやBを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合は、空孔が無いまたは少ない圧電体層70を製造することができる。なお、この空孔は、焼成工程で形成されると推測される。また、LiやBを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合は、柱状結晶を有する圧電体層70を製造することができる。また、LiやCuを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合は、LiやCuを含有しない場合と比較して、変位量が大きい圧電体層70を製造することができる。また、BやCuを含有する第2圧電体前駆体膜を経て製造された場合は、耐圧が向上した圧電体層70を製造できる。
このように圧電体層70を形成した後は、図7(a)に示すように、圧電体層70上に白金等からなる第2電極80をスパッターリング法等で形成し、各圧力発生室12に対向する領域に圧電体層70及び第2電極80を同時にパターニングして、第1電極60と圧電体層70と第2電極80を有する圧電素子300を形成する。なお、圧電体層70と第2電極80とのパターニングでは、所定形状に形成したレジスト(図示なし)を介してドライエッチングすることにより一括して行うことができる。その後、必要に応じて、600℃〜800℃の温度域でポストアニールを行ってもよい。これにより、圧電体層70と第1電極60や第2電極80との良好な界面を形成することができ、かつ、圧電体層70の結晶性を改善することができる。
次に、図7(b)に示すように、流路形成基板用ウェハー110の全面に亘って、例えば、金(Au)等からなるリード電極90を形成後、例えば、レジスト等からなるマスクパターン(図示なし)を介して各圧電素子300毎にパターニングする。
次に、図7(c)に示すように、流路形成基板用ウェハー110の圧電素子300側に、シリコンウェハーであり複数の保護基板30となる保護基板用ウェハー130を接着剤35を介して接合した後に、流路形成基板用ウェハー110を所定の厚さに薄くする。
次に、図8(a)に示すように、流路形成基板用ウェハー110上に、マスク膜52を新たに形成し、所定形状にパターニングする。
そして、図8(b)に示すように、流路形成基板用ウェハー110をマスク膜52を介してKOH等のアルカリ溶液を用いた異方性エッチング(ウェットエッチング)することにより、圧電素子300に対応する圧力発生室12、連通部13、インク供給路14及び連通路15等を形成する。
その後は、流路形成基板用ウェハー110及び保護基板用ウェハー130の外周縁部の不要部分を、例えば、ダイシング等により切断することによって除去する。そして、流路形成基板用ウェハー110の保護基板用ウェハー130とは反対側の面のマスク膜52を除去した後にノズル開口21が穿設されたノズルプレート20を接合すると共に、保護基板用ウェハー130にコンプライアンス基板40を接合し、流路形成基板用ウェハー110等を図1に示すような一つのチップサイズの流路形成基板10等に分割することによって、本実施形態のインクジェット式記録ヘッドIとする。
以下、実施例を示し、本発明をさらに具体的に説明する。なお、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
まず、(110)に配向した単結晶シリコン基板の表面に熱酸化により膜厚1170nmの二酸化シリコン膜を形成した。次に、二酸化シリコン膜上にRFマグネトロンスパッター法により膜厚40nmのチタン膜を形成し、熱酸化することで酸化チタン膜を形成した。次に、酸化チタン膜上にRFマグネトロンスパッター法により膜厚100nmの白金膜を形成して第1電極60とした。
次いで、第1電極60上に、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti及びLiを含みペロブスカイト構造を有する複合酸化物からなる圧電体層70を形成した。その手法は以下のとおりである。まず、2−エチルヘキサン酸ビスマス、2−エチルヘキサン酸バリウム、2−エチルヘキサン酸鉄、2−エチルヘキサン酸マンガン、2−エチルヘキサン酸チタンの各n−オクタン溶液を混合し、Bi、Ba、Fe、Mn、Tiのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0となるように混合して、第1前駆体溶液を調製した。
次いで、第1前駆体溶液を、第1電極60上に滴下し、500rpmで6秒間回転後、3000rpmで基板を20秒回転させてスピンコート法により第1圧電体前駆体膜71aを形成した(第1圧電体層塗布工程)。次に、ホットプレート上に基板を載せ、180℃で2分間乾燥した(第1圧電体層乾燥工程)。次いで、ホットプレート上に基板を載せ、350℃で2分間脱脂を行った(第1圧電体層脱脂工程)。この第1圧電体層塗布工程、第1圧電体層乾燥工程及び第1圧電体層脱脂工程からなる工程を3回繰り返した後に、酸素雰囲気中で、RTA装置で、800℃で5分間焼成を行った(第1圧電体層焼成工程)。次いで、上記の工程を3回繰り返し、計9回の塗布により第1圧電体層71を形成した。
次に、2−エチルヘキサン酸ビスマス、2−エチルヘキサン酸バリウム、2−エチルヘキサン酸鉄、2−エチルヘキサン酸マンガン、2−エチルヘキサン酸チタン、2−エチルヘキサン酸リチウムの各n−オクタン溶液を混合し、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti、Liのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti:Li=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0:8.5となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した。
次いで、この第2前駆体溶液を第1圧電体層71上に滴下し、500rpmで6秒間回転後、3000rpmで基板を20秒回転させてスピンコート法により第2圧電体前駆体膜72aを形成した(第2圧電体層塗布工程)。次に、ホットプレート上に基板を載せ、180℃で2分間乾燥した(第2圧電体層乾燥工程)。次いで、ホットプレート上に基板を載せ、350℃で2分間脱脂を行った(第2圧電体層脱脂工程)。この第2圧電体層塗布工程、第2圧電体層乾燥工程及び第2圧電体層脱脂工程からなる工程を3回繰り返した後に、酸素雰囲気中で、RTA装置で、750℃で5分間焼成を行った(第2圧電体層焼成工程)。
その後、圧電体層70上に、第2電極80としてDCスパッター法により膜厚100nmの白金膜(第2電極80)を形成した後、RTA装置を用いてOフローのもと700℃で5分間焼成を行うことで、圧電素子を形成した。
(実施例2)
2−エチルヘキサン酸リチウムのn−オクタン溶液のかわりに2−エチルヘキサン酸ホウ素のn−オクタン溶液を用い、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti、Bのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti:B=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0:3.0となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
(実施例3)
2−エチルヘキサン酸リチウムのn−オクタン溶液のかわりに2−エチルヘキサン酸銅のn−オクタン溶液を用い、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti、Cuのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti:Cu=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0:8.5となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
(比較例1)
2−エチルヘキサン酸リチウムのn−オクタン溶液を用いず、Bi、Ba、Fe、Mn、Tiのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
(試験例1)
実施例1〜3及び比較例1について、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成直後の断面を、50,000倍の走査電子顕微鏡(SEM)により観察した。比較例1の結果を図9(a)に、実施例1の結果を図9(b)に、実施例2の結果を図9(c)に、実施例3の結果を図9(d)に示す。
この結果、Li、BまたはCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例1〜3では、圧電体層70は空孔がほとんど無く膜密度が高かった。また、LiまたはBを含む第2前駆体溶液を用いた実施例1〜2では、圧電体層70は柱状結晶で形成されていた。一方、Li、BやCuを含まない第2前駆体溶液を用いた比較例1では、焼成工程を行った位置等に多数の空孔が見られた。
(試験例2)
実施例1〜3及び比較例1において、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成2週間後の圧電体層70の表面を500倍の金属顕微鏡により観察し、圧電体層70のクラックの発生の有無を確認した。比較例1の結果を図10(a)に、実施例1の結果を図10(b)に、実施例2の結果を図10(c)に、実施例3の結果を図10(d)に示す。
図10に示すように、Li、BまたはCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例1〜3では、クラックが観察されなかったが、Li、BやCuを含まない第2前駆体溶液を用いた比較例1では、クラックが多数観察された。
(試験例3)
実施例1〜3及び比較例1の各圧電素子について、東陽テクニカ社製「FCE−1A」で、φ=500μmの電極パターンを使用し、室温(25℃)で周波数1kHzの三角波を印加して、分極量と電圧の関係(P−V曲線)を求めた。結果を図11に示す。なお、図11は、最大分極値を基準として規格化した図である。図11に示すように、実施例1〜3及び比較例1はいずれも強誘電体であることが確認され、LiまたはCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例1及び3は、脱分極が小さかった。
(試験例4)
実施例1〜3及び比較例1の各圧電素子について、ヒューレットパッカード社製「4140B」を用い、室温(25℃)で電流密度と電圧との関係(I−V曲線)を求めた。測定はφ=500μmの電極パターンを使用した。結果を図12に示す。この結果、BまたはCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例2〜3は、比較例1と比べて、高い電圧を印加しても圧電素子が破壊せず、耐圧が向上していた。
(実施例4)
2−エチルヘキサン酸ホウ素のn−オクタン溶液及び2−エチルヘキサン酸銅のn−オクタン溶液も用い、Bi、Ba、Fe、Mn、Ti、Li、B、Cuのモル比が、Bi:Ba:Fe:Mn:Ti:Li:B:Cu=75.0:25.0:71.25:3.75:25.0:4.5:3.0:1.0となるように混合して、第2前駆体溶液を調製した以外は、実施例1と同様の操作を行った。
(試験例5)
実施例4について、試験例1と同様にして、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成直後の断面を、50,000倍の走査電子顕微鏡(SEM)により観察した。結果を図13に示す。この結果、Li、B及びCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例4は、圧電体層70の空孔がほとんど無く膜密度が高かった。また、実施例4は、圧電体層70は柱状結晶で形成されていた。
(試験例6)
実施例4において、試験例2と同様にして、第2電極80を形成する前の圧電体層70について、形成2週間後の圧電体層70の表面を500倍の金属顕微鏡により観察し、圧電体層70のクラックの発生の有無を確認した。結果を図14に示す。図14に示すように、Li、B及びCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例4では、クラックが観察されなかった。
(試験例7)
実施例4の圧電素子について、試験例3と同様に、東陽テクニカ社製「FCE−1A」で、φ=500μmの電極パターンを使用し、室温(25℃)で周波数1kHzの三角波を印加して、分極量と電圧の関係(P−V曲線)を求めた。結果を図15に示す。なお、図15は、最大分極値を基準として規格化した図である。図15に示すように、実施例4は強誘電体であり、且つ、脱分極が小さかった。
(試験例8)
実施例4の圧電素子について、試験例4と同様に、ヒューレットパッカード社製「4140B」を用い、室温(25℃)で電流密度と電圧との関係(I−V曲線)を求めた。測定はφ=500μmの電極パターンを使用した。結果を図16に示す。この結果、Li、B及びCuを含む第2前駆体溶液を用いた実施例4は、上記比較例1と比べて、高い電圧を印加しても圧電素子が破壊せず、耐圧が向上していた。
(試験例9)
実施例4及び比較例1の圧電素子のそれぞれに、第1電極60を基準電位(図17において「Gnd」と記載する。)として、第2電極80に図17に示す駆動波形200を印加した時の変位量を求めた。変位量は、グラフテック社製のレーザードップラー変位計を用い室温(25℃)で測定した。なお、図17に示す駆動波形200において、基準電位(Gnd)より上側が正の電圧であり、基準電位(Gnd)よりも下側が負の電圧となる。また、Vは待機状態で印加される電圧(中間電圧)である。そして、本試験例においては、V=20V、V=−10Vで固定し、Vを20Vから60Vまで5Vおきに変化させることによりΔVを30Vから70Vまで変化させて、それぞれ変位量を求めた。結果を図18に示す。この結果、図18に示すように、同じ電圧で比べると、比較例1に対して、実施例4は変位量が顕著に大きかった。
(試験例10)
実施例1〜4及び比較例1の圧電素子について、Bruker AXS社製の「D8 Discover」を用い、X線源にCuKα線を使用し、室温(25℃)で、圧電体層70のX線回折パターンを求めた。この結果、実施例1〜4及び比較例1の全てにおいて、ペロブスカイト構造に起因するピークと、基板由来のピークが観測され、異相は確認されなかった。
(他の実施形態)
以上、本発明の一実施形態を説明したが、本発明の基本的構成は上述したものに限定されるものではない。例えば、上述した実施形態では、流路形成基板10として、シリコン単結晶基板を例示したが、特にこれに限定されず、例えば、SOI基板、ガラス等の材料を用いるようにしてもよい。
また、これら実施形態のインクジェット式記録ヘッドは、インクカートリッジ等と連通するインク流路を具備する記録ヘッドユニットの一部を構成して、インクジェット式記録装置に搭載される。図19は、そのインクジェット式記録装置の一例を示す概略図である。
図19に示すインクジェット式記録装置IIにおいて、インクジェット式記録ヘッドIを有する記録ヘッドユニット1A及び1Bは、インク供給手段を構成するカートリッジ2A及び2Bが着脱可能に設けられ、この記録ヘッドユニット1A及び1Bを搭載したキャリッジ3は、装置本体4に取り付けられたキャリッジ軸5に軸方向移動可能に設けられている。この記録ヘッドユニット1A及び1Bは、例えば、それぞれブラックインク組成物及びカラーインク組成物を吐出するものとしている。
そして、駆動モーター6の駆動力が図示しない複数の歯車およびタイミングベルト7を介してキャリッジ3に伝達されることで、記録ヘッドユニット1A及び1Bを搭載したキャリッジ3はキャリッジ軸5に沿って移動される。一方、装置本体4にはキャリッジ軸5に沿ってプラテン8が設けられており、図示しない給紙ローラーなどにより給紙された紙等の記録媒体である記録シートSがプラテン8に巻き掛けられて搬送されるようになっている。
なお、上述した実施形態では、液体噴射ヘッドの一例としてインクジェット式記録ヘッドを挙げて説明したが、本発明は広く液体噴射ヘッド全般を対象としたものであり、インク以外の液体を噴射する液体噴射ヘッドにも勿論適用することができる。その他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンター等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレイ等のカラーフィルターの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレイ、FED(電界放出ディスプレイ)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。
また、本発明にかかる圧電素子は、液体噴射ヘッドに用いられる圧電素子に限定されず、その他のデバイスにも用いることができる。その他のデバイスとしては、例えば、超音波発信器等の超音波デバイス、超音波モーター、温度−電気変換器、圧力−電気変換器、強誘電体トランジスター、圧電トランス、赤外線等の有害光線の遮断フィルター、量子ドット形成によるフォトニック結晶効果を使用した光学フィルター、薄膜の光干渉を利用した光学フィルター等のフィルターなどが挙げられる。また、センサーとして用いられる圧電素子、強誘電体メモリーとして用いられる圧電素子にも本発明は適用可能である。圧電素子が用いられるセンサーとしては、例えば、赤外線センサー、超音波センサー、感熱センサー、圧力センサー、焦電センサー、及びジャイロセンサー(角速度センサー)等が挙げられる。
I インクジェット式記録ヘッド(液体噴射ヘッド)、 II インクジェット式記録装置(液体噴射装置)、 10 流路形成基板、 12 圧力発生室、 13 連通部、 14 インク供給路、 20 ノズルプレート、 21 ノズル開口、 30 保護基板、 31 マニホールド部、 32 圧電素子保持部、 40 コンプライアンス基板、 50 弾性膜、 60 第1電極、 70 圧電体層、 71 第1圧電体層、 71a 第1圧電体前駆体膜、 71b 第1圧電体膜、 72 第2圧電体層、 72a 第2圧電体前駆体膜、 72b 第2圧電体膜、 80 第2電極、 90 リード電極、 100 マニホールド、 120 駆動回路、 300 圧電素子

Claims (7)

  1. 圧電体層と前記圧電体層を挟む電極とを備えた圧電素子の製造方法であって、
    Bi及びFe、または、Ba及びTiを含有する第1圧電体前駆体膜を形成する工程と、
    前記第1圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して第1圧電体層を形成する工程と、
    前記第1圧電体層上に、前記第1圧電体前駆体膜に含有されるBi及びFe、または、Ba及びTiに加えて、さらにLi、B及びCuから選択される少なくとも1種を含有する第2圧電体前駆体膜を形成する工程と、
    前記第1圧電体層及び前記第2圧電体前駆体膜を加熱し結晶化して前記圧電体層を形成する工程と、
    を具備することを特徴とする圧電素子の製造方法。
  2. 前記第1圧電体前駆体膜はさらにMnを含有し、
    前記第2圧電体前駆体膜はさらにMnを含有することを特徴とする請求項1に記載の圧電素子の製造方法。
  3. 前記圧電体層を形成する工程において、前記第1圧電体層は液相になると共に、前記第2圧電体前駆体膜に含有される元素が前記第1圧電体層に拡散することを特徴とする請求項1又は2に記載の圧電素子の製造方法。
  4. 請求項1〜3の何れか一項に記載の圧電素子の製造方法により圧電素子を製造し、
    前記圧電素子を用いて液体噴射ヘッドを製造することを特徴とする液体噴射ヘッドの製造方法
  5. 請求項に記載の液体噴射ヘッドの製造方法で液体噴射ヘッドを製造し、
    前記液体噴射ヘッドを用いて液体噴射装置を製造することを特徴とする液体噴射装置の製造方法
  6. 請求項1〜3の何れか一項に記載の圧電素子の製造方法により圧電素子を製造し、
    前記圧電素子を用いて超音波デバイスを製造することを特徴とする超音波デバイスの製造方法
  7. 請求項1〜3の何れか一項に記載の圧電素子の製造方法により圧電素子を製造し、
    前記圧電素子を用いてセンサーを製造することを特徴とするセンサーの製造方法
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