JP5913969B2 - 基板設計装置及び基板設計方法 - Google Patents
基板設計装置及び基板設計方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5913969B2 JP5913969B2 JP2011286610A JP2011286610A JP5913969B2 JP 5913969 B2 JP5913969 B2 JP 5913969B2 JP 2011286610 A JP2011286610 A JP 2011286610A JP 2011286610 A JP2011286610 A JP 2011286610A JP 5913969 B2 JP5913969 B2 JP 5913969B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- unit
- width
- division
- movement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
まず、実施例1に係る基板設計装置の構成について説明する。図1は、実施例1に係る基板設計装置100の構成を示す図である。図1に示すように、基板設計装置100は、入出力制御I/F部110と、入力部120と、表示部130と、記憶部140と、制御部150とを有する。そして、基板設計装置100は、CADシステムによって設計された半導体パッケージの、一つの入力と一つの出力を有する面の位置情報を更新する。なお、基板設計装置100は、例えば、PC(Personal Computer)、ワークステーション又は基板設計用の専用装置である。
抽出部151は、設計情報記憶部141に記憶された位置情報から定まる面の入出力方向に沿った中心線を抽出する。さらに、抽出部151は、抽出した中心線を所定の長さに等分に分割する複数の分割点を設定する。そして、抽出部151は、設定した各分割点における左右の面幅を算出する。
図1に戻って、検出部152は、面の周囲に存在する障害物を検出する。例えば、検出部152は、面の周囲にある障害物の内、抽出部151が抽出した分割点各々から最も近くにある当該障害物の輪郭線上の点を障害点として検出する。
図1に戻って、算出部153は、抽出部151が抽出した分割点各々の移動先を算出する。例えば、算出部153は、予め定められた移動条件に従い、抽出部151が抽出した面の幅と検出部152が検出した障害点とに基づいて、各分割点の移動可能点の座標を算出する。移動可能点とは、分割点が移動しうる範囲を示す点であり、分割点の左右双方について算出する。そして、算出部153は、左右の移動可能点の座標に基づいて移動先を算出する。
まず、移動条件1の場合、すなわち、面の幅を維持しつつ面と障害物との距離をできるだけ広げることが移動条件である場合の移動可能点算出処理について図9の(A)を参照して説明する。図9は、移動可能点算出処理を説明するための図であり、図9の(A)は移動条件1の場合の移動可能点算出処理を説明するための図である。図9の(A)を参照し、移動条件が移動条件1であるときに、分割点DP2の移動可能点を算出する場合について説明する。算出部153は、上記の通り、処理対象となる分割点DP2について、垂直二等分線LV、分割点垂点VPD及び障害点垂点VPOを求める。また、移動条件記憶部142から、面と障害物との間に確保するようデザインルールによって規定されている最短距離(以下便宜上、面障害物間DR(DR1)と呼ぶ)を読み出す。そしてまず、算出部153は、分割点DP2の左側につき、移動可能点を求める。すなわち、垂直二等分線LV上において、障害点垂点VPOから分割点垂点VPDに向かう方向に、抽出部151が抽出した当該分割点における左側の面幅WLと面障害物間DR(DR1)とを合算した距離だけ離れた点を移動可能点PLとして求める。算出部153は、分割点の右側についても、同様の処理を行い、分割点DP2に対して2つの移動可能点PR、PLを得る。算出した移動可能点PR、PLの座標は、移動データ記憶部143に記憶する。
次に、図9に戻って、移動条件2の場合、すなわち、面の幅を増加させることを優先して面を移動させることが移動条件である場合の移動可能点算出処理について説明する。図9の(B)は、移動条件2の場合の移動可能点算出処理を説明するための図である。図9の(B)を参照し、算出部153は、移動条件1の場合と同様に、まず、処理対象となる分割点DP2について、垂直二等分線LV、分割点垂点VPD及び障害点垂点VPOを求める。また、算出部153は、移動条件記憶部142から、面障害物間DR(DR1)を読み出す。さらに、算出部153は、移動条件記憶部142から、増加させる面幅の最大値Wmaxを読み出す。なお、増加させる面幅の最大値は、所定の設計情報に基づいて自動的に決定されるものとしてもよく、ユーザが指定するものとしてもよい。
次に、移動条件3の場合、すなわち、面と障害物との距離を広げることを優先して面を移動させることが移動条件である場合の移動可能点算出処理について、図9の(C)を参照して説明する。図9の(C)は、移動条件3の場合の移動可能点算出処理を説明するための図である。図9の(C)を参照し、移動条件3のときに、分割点DP2の移動可能点を算出する場合について説明する。算出部153は、移動条件1の場合と同様に、まず、分割点DP2について、垂直二等分線LV、分割点垂点VPD及び障害点垂点VPOを求める。また、算出部153は、移動条件記憶部142から、面障害物間DR(DR1)と、面幅として確保するようデザインルールによって規定されている最短距離(以下、最短距離の2分の1に相当する距離を面幅DR(DR2)と呼ぶ)とを読み出す。さらに、算出部153は、移動条件記憶部142から、面と障害物との間に増加させる距離の最大値Lmaxを読み出す。なお、増加させる距離の最大値は、所定の設計情報に基づいて自動的に決定されるものとしてもよく、ユーザが指定するものとしてもよい。
図1に戻って、設定部154は、分割点各々について、移動条件に基づいて移動後の面幅を設定する。移動条件が上記移動条件1乃至3のいずれであるかによって、設定態様が異なる。
まず、図11の(A)を参照し、移動条件1の場合、すなわち、面の幅を維持しつつ面と障害物との距離をできるだけ広げることが移動条件である場合の移動後の面幅の設定処理について説明する。図11は、面幅設定処理を説明するための図である。図11の(A)は、移動条件1の場合の面幅設定処理を説明するための図である。この場合、面の幅を維持することが移動条件であるので、移動後の面幅は移動前のままとなる。したがって、設定部154は、移動データ記憶部143を参照して、既に記憶されている面幅WLをそのまま移動後面幅として移動データ記憶部143に記憶させる。
次に、図11の(B)および図11の(C)を参照し、移動条件2の場合、すなわち、面の幅を増加させることを優先して面を移動させることが移動条件である場合の面幅設定処理について説明する。図11の(B)および図11の(C)は、移動条件2の場合の面幅設定処理を説明するための図である。この場合、移動可能点として算出部153が算出した点が、分割点垂点であるか否かによって、移動後の面幅の設定方法が異なる。
次に、図11の(D)および図11の(E)を参照し、移動条件3の場合、すなわち、面と障害物との距離を広げることを優先して面を移動させることが移動条件である場合の面幅設定処理について説明する。図11の(D)および図11の(E)は、移動条件3の場合の面幅設定処理を説明するための図である。この場合は、移動可能点として算出部153が算出した点が、分割点垂点から障害点垂点に向かう方向に面幅DR(DR2)だけ離れた点であるか否かによって、移動後の面幅の設定方法が異なる。
図1に戻って、更新部155は、算出部153が算出した移動先と、設定部154が設定した移動後面幅とに基づいて、各分割点を移動させた位置における、移動後面幅を有する面の位置情報を作成し、移動データ記憶部143の位置情報を更新する。その後、移動データ記憶部143に記憶された位置情報によって設計情報記憶部141に記憶された位置情報を更新することで、面の位置情報を更新する。
実施例1に係る基板設計装置100による更新処理前の面と、更新処理後の面との例を図12に示す。図12の(A)は、更新処理前の面2を示す図である。図の上方にはビア1が配置されており、その下に1つの面2が配置され、さらにその下に障害物6が配置されている。
次に、実施例1に係る基板設計装置100による処理の手順を説明する。図13は、実施例1に係る基板設計装置100による面形状更新処理の手順を示すフローチャートである。図13に示すように、実施例1に係る基板設計装置100においては、面形状更新処理の実行コマンドである移動コマンドが実行されると(ステップS101肯定)、まず、抽出部151が処理対象となる面を選択する(ステップS102)。なお、移動コマンドは、移動条件の指定を含む。移動コマンドの実行がない場合は(ステップS101否定)、ステップ101を繰り返す。面の選択は、ユーザの指定に基づいて行われてもよく、設計図全体について移動コマンドが実行される場合は、基板設計装置100が自動的に行うものとしてもよい。そして、抽出部151は、選択した面の中心線を抽出する(ステップS103)。例えば、設計情報記憶部141に記憶された面の輪郭線の位置情報に基づいて、中心線を抽出する。そして、抽出部151は、抽出した中心線を所定の長さに等分に分割するN個の分割点を設定する(ステップS104)。ここで、Nは3以上の自然数である。次に、抽出部151はN個の分割点のうち、分割点DPnを選択する(ステップS105)。そして、抽出部151は、選択した分割点DPnにおける面幅を抽出する(ステップS106)。
上述したように、実施例1によれば、設計情報記憶部141が、半導体パッケージの各要素に係る位置情報を少なくとも記憶する。そして、抽出部151が、設計情報記憶部141に記憶された位置情報に基づき、面の中心線、分割点、各分割点における面幅を抽出する。そして、検出部152が、各分割点における障害点を検出する。さらに、算出部153が、抽出部151が抽出した分割点および面幅並びに検出部152が検出した障害点に基づき、各分割点の移動先を算出する。そして、設定部154が各分割点について移動後の面の幅を設定する。そして、更新部155が、算出部153が算出した移動先および設定部154が設定した面幅に基づき、面の位置情報を更新する。従って、実施例1に係る基板設計装置100は、複数の面を有する半導体パッケージの設計図面において、各面が所定の移動条件を満たすよう、面の位置情報を更新することができる。よって、実施例1にかかる基板設計装置100は、面形状更新処理におけるミスを低減し、半導体パッケージの歩留まりを向上させることができる。
上記実施例では、移動条件としてデザインルール、移動条件1〜3を用いる場合について説明したが、本実施例はこれに限定するものではなく、例えば、面の幅を面と障害物との距離よりも広くする等、他の条件を設定してもよい。その場合は、移動条件の内容に応じて、算出部153における移動先算出処理の内容も変更する。
上記実施例では、設計情報記憶部141によって記憶された全ての面を面形状更新処理の対象とする場合について説明した。しかしながら、本実施例はこれに限定するものではなく、例えば、一部領域のみを面形状更新処理の対象とする場合であってもよい。
上記実施例では、面の略中心を通る線分を引き、これを所定の距離ごとに複数のセグメントに分割して各セグメントの中心点を抽出し、面の中心線を抽出するものとして説明した。しかし、本実施例はこれに限定するものではなく、例えば、略中心を通る線分を利用せずに、左右の輪郭線を基準に中心線を設定する等、他の方法で中心線を設定してもよい。
図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示された構成要素と同一であることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。例えば、図1に示す抽出部151と検出部152とを一つの処理部として統合してもよい。また、一方で、図1に示す抽出部151を、中心線を抽出する抽出部と、分割点を設定する設定部と、面幅を算出する算出部とに分散してもよい。
ところで、上記実施例1では、ハードウェアロジックによって各種の処理を実現する場合を説明したが、本実施例はこれに限定されるものではなく、予め用意されたプログラムをコンピュータで実行するようにしてもよい。そこで、以下では、図14を用いて上記実施例に示した基板設計装置100と同様の機能を有する基板設計プログラムを実行するコンピュータの一例を説明する。図14は、基板設計プログラムを実行するコンピュータを示す図である。
141 設計情報記憶部
142 移動条件記憶部
143 移動データ記憶部
151 抽出部
152 検出部
153 算出部
154 設定部
155 更新部
Claims (9)
- 基板に設けられる要素に係る位置情報を少なくとも記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された位置情報に基づき前記基板に設けられる1の入力と1の出力とを有する面の入出力方向に沿って当該面の中心線を抽出し、当該中心線を所定の長さに等分に分割する複数の分割点を設定し、当該分割点各々における前記面の幅を抽出する抽出部と、
前記分割点各々について、前記面の周辺に存在する障害物の輪郭上から障害点を検出する検出部と、
前記分割点各々について、所定の移動条件と前記抽出部が抽出した面の幅と前記検出部が検出した障害点とに基づき移動先を算出する算出部と、
前記分割点各々について、前記所定の移動条件に基づき移動後の前記面の幅を設定する設定部と、
前記算出部が算出した移動先と前記設定部が設定した面の幅とに基づき、前記記憶部に記憶した前記面の位置情報を更新する更新部と、
を備える基板設計装置。 - 前記算出部は、前記分割点各々の前記移動先を、当該分割点と前記中心線上において隣接する2つの分割点を相互に結ぶ線分の垂直二等分線上に算出する請求項1に記載の基板設計装置。
- 前記抽出部は、前記分割点における前記面の幅を、前記中心線上において当該分割点と隣接する2つの分割点各々と当該分割点とを結ぶ線分が成す角度を二等分する線分と前記面の輪郭線とが交わる点から、当該分割点までの距離として抽出する請求項1または2に記載の基板設計装置。
- 前記検出部は、前記分割点を頂点として所定の角度を成す範囲内から、前記障害点を検出する請求項1〜3のいずれか一つに記載の基板設計装置。
- 前記所定の移動条件が、前記面の幅を維持しながら当該面と前記障害物との距離を広げることである場合において、
前記算出部は、前記障害点を通り前記垂直二等分線に直交する線分と前記垂直二等分線との交点である第1の交点から前記分割点に向かう方向に、前記垂直二等分線上を、前記面と前記障害物との間に確保することが規定されている最短距離と前記抽出部が抽出した前記面の幅とを合算した距離だけ離れた点を、移動可能点として算出し、当該移動可能点に基づき前記移動先を算出する請求項2に記載の基板設計装置。 - 前記所定の移動条件が、前記面の幅を広くすることである場合において、
前記算出部は、前記障害点を通り前記垂直二等分線に直交する線分と前記垂直二等分線との交点である第1の交点から前記分割点に向かう方向に、前記垂直二等分線上を、前記面と前記障害物との間に確保することが規定されている最短距離と前記抽出部が抽出した前記面の幅と前記面の幅を広げる長さの最大値とを合算した距離だけ離れた点と、前記分割点を通り前記垂直二等分線に直交する線分と前記垂直二等分線との交点である第2の交点と、のうち、前記第1の交点に近い方の点を、移動可能点として算出し、当該移動可能点に基づき前記移動先を算出する請求項2に記載の基板設計装置。 - 前記所定の移動条件が、前記面と前記障害物との間の距離を広げることである場合において、
前記算出部は、前記障害点を通り前記垂直二等分線に直交する線分と前記垂直二等分線との交点である第1の交点から前記分割点に向かう方向に、前記垂直二等分線上を、前記面と前記障害物との間に確保することが規定されている最短距離と前記抽出部が抽出した前記面の幅と前記面と前記障害物との間において広げる距離の最大値とを合算した距離だけ離れた点と、前記分割点を通り前記垂直二等分線に直交する線分と前記垂直二等分線との交点である第2の交点から前記第1の交点に向かう方向に、前記面の幅として確保することが規定されている最短距離だけ離れた点と、のうち、前記第1の交点に近い方の点を、移動可能点として算出し、当該移動可能点に基づき前記移動先を算出する請求項2に記載の基板設計装置。 - 基板設計装置の抽出部が、記憶部に記憶された、基板に設けられる要素に係る位置情報に基づき、前記基板に設けられる1の入力と1の出力とを有する面の入出力方向に沿って当該面の中心線を抽出し、当該中心線を所定の長さに分割する複数の分割点を設定し、当該分割点各々における前記面の幅を抽出する抽出工程と、
前記基板設計装置の検出部が、前記分割点各々について、前記面の周辺に存在する障害物の輪郭上から障害点を検出する検出工程と、
前記基板設計装置の算出部が、前記分割点各々について、所定の移動条件と前記抽出工程において抽出した面の幅と前記検出工程において検出した障害点とに基づき移動先を算出する算出工程と、
前記基板設計装置の設定部が、前記分割点各々について、前記所定の移動条件に基づき移動後の前記面の幅を設定する設定工程と、
前記基板設計装置の更新部が、前記算出工程において算出した移動先と前記設定工程において設定した面の幅とに基づき、前記記憶部に記憶した前記面の位置情報を更新する更新工程と、
を含む基板設計方法。 - 前記算出工程は、前記基板設計装置の前記算出部が、前記分割点各々の前記移動先を、当該分割点と前記中心線上において隣接する2つの分割点を相互に結ぶ線分の垂直二等分線上に算出する請求項8に記載の基板設計方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011286610A JP5913969B2 (ja) | 2011-12-27 | 2011-12-27 | 基板設計装置及び基板設計方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011286610A JP5913969B2 (ja) | 2011-12-27 | 2011-12-27 | 基板設計装置及び基板設計方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013134732A JP2013134732A (ja) | 2013-07-08 |
JP2013134732A5 JP2013134732A5 (ja) | 2014-10-23 |
JP5913969B2 true JP5913969B2 (ja) | 2016-05-11 |
Family
ID=48911351
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011286610A Active JP5913969B2 (ja) | 2011-12-27 | 2011-12-27 | 基板設計装置及び基板設計方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5913969B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05289312A (ja) * | 1992-04-06 | 1993-11-05 | Ricoh Co Ltd | 半導体集積回路のマスクパターン処理方法および処理装置 |
JP3192821B2 (ja) * | 1993-05-26 | 2001-07-30 | 株式会社東芝 | プリント配線板設計装置 |
JPH09325985A (ja) * | 1996-06-03 | 1997-12-16 | Ibiden Co Ltd | パターン間隙算出装置 |
JP3932583B2 (ja) * | 1996-10-29 | 2007-06-20 | イビデン株式会社 | 拡大パターンの設計装置及び設計方法 |
-
2011
- 2011-12-27 JP JP2011286610A patent/JP5913969B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013134732A (ja) | 2013-07-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110968983B (zh) | 一种交互式布线方法 | |
CN104346830A (zh) | 在三维场景中设计连接第一点到第二点的路径 | |
US9208277B1 (en) | Automated adjustment of wire connections in computer-assisted design of circuits | |
US20080303810A1 (en) | System and method for calculating loft surfaces using 3d scan data | |
TWI708304B (zh) | 晶圓設計影像分析方法、系統與非暫態電腦可讀取媒體 | |
JP2010108236A (ja) | 散布図におけるデータ点の分布領域描画方法及び散布図におけるデータ点の分布領域描画プログラム | |
JP4609481B2 (ja) | 形状検査装置および形状検査プログラム | |
KR20120086258A (ko) | 설계 지원장치 및 그 정보처리 방법 | |
WO2013171779A1 (ja) | 配管又は配線支援装置 | |
JP5913969B2 (ja) | 基板設計装置及び基板設計方法 | |
JP5673489B2 (ja) | 点群データの処理装置、処理方法、処理プログラム及び記録媒体 | |
US7546569B2 (en) | Automatic trace determination method | |
JP5566257B2 (ja) | データ生成方法および画像検査方法 | |
JP5299196B2 (ja) | マーカー検知装置及びマーカー検知装置用プログラム | |
JP5282511B2 (ja) | 光近接効果補正パターンの検証方法及びその検証装置 | |
JP4935232B2 (ja) | 情報処理装置、配線設計方法及びプログラム | |
TWI540450B (zh) | Machine configuration automatic calculation method and machine configuration automatic calculation device | |
JP5501102B2 (ja) | 配線設計装置及び配線設計方法 | |
US7627846B2 (en) | Method and apparatus for automatically shaping traces on surface of substrate of semiconductor package by using computation | |
JP5526016B2 (ja) | 基板設計装置及び基板設計方法 | |
CN110146071A (zh) | 定位维度提升方法及装置 | |
CN109271668A (zh) | 版图设计规则检查中区分多边形长宽度方向的方法 | |
WO2023145177A1 (ja) | 設計支援デバイス、設計支援デバイスを備える設計支援装置、及び設計支援方法 | |
JP2011141491A (ja) | 半導体デバイスパターン検証方法およびその検証プログラム | |
CN117272912A (zh) | 一种将Pin快速布局到Boundary周围的方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140908 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140908 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150903 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150908 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151019 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160315 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160404 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5913969 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |