JP5911361B2 - メンテナンス時予測システム及びメンテナンス時予測方法 - Google Patents

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Description

本発明は環境評価技術に関し、特にメンテナンス時予測システム及びメンテナンス時予測方法に関する。
例えばバイオクリーンルームや無菌室等のクリーンルームにおいて臨床試験を行う場合、臨床試験は、予め作成された計画に基づき、中断されることなく、確実に実施されることが要求される。また、クリーンルームにおいては、環境のトレーサビリティのために、粒子検出装置を用いて、飛散している汚染物質等の粒子が検出され、記録される(例えば、非特許文献1参照。)。粒子検出装置は、常にクリーンルーム内の気体にさらされるため、クリーンルーム内における汚染物質の量がわずかであっても、期間の経過と共に、粒子検出装置が備える光学素子等の内部機構が汚れてくる。内部機構の汚れは、粒子検出装置の粒子検出能を低下させるため、粒子検出装置は定期的にメンテナンスされることが望まれる。
長谷川倫男他,「気中微生物リアルタイム検出技術とその応用」,株式会社山武,azbil Technical Review 2009年12月号,p.2-7,2009年
ここで、本発明者は、中断することが許されないような臨床試験の最中に、粒子検出装置がメンテナンスされるべき状態になると、臨床試験を最後まで実施しても、粒子検出装置の粒子検出能が信頼できないため、クリーンルームの環境トレーサビリティが損なわれ、ひいては臨床試験の結果の信頼性や再現性も損なわれることに着目した。臨床試験では生命倫理が尊重されるため、試験中に粒子検出装置のメンテナンス時期が来ても、試験を中断し、粒子検出装置のメンテナンス後、臨床試験を再度実施することは容易ではない。臨床試験に限らず、半導体装置等の精密機器の製造においても同様である。そこで、本発明は、粒子検出装置のメンテナンス時を予測可能な、メンテナンス時予測システム及びメンテナンス時予測方法を提供することを目的の一つとする。
本発明の態様によれば、(a)粒子検出装置が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得する期間取得部と、(b)取得された期間を記録する期間記録装置と、(c)検出粒子の総数が基準値に達した後、検出粒子の総数をゼロにリセットするリセット部と、(d)期間記録装置に記録されている複数の期間のうち、最も短い期間を抽出する抽出部と、(e)検出粒子の総数が基準値に達して粒子検出装置がメンテナンスされた後、粒子検出装置が粒子の検出を再開した時から、抽出された最も短い期間を経た時を、粒子検出装置の次回のメンテナンス時と予測する予測部と、を備える、メンテナンス時予測システムが提供される。
また、本発明の態様によれば、(a)粒子検出装置が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得すること、取得された期間を期間記録装置に記録すること、検出粒子の総数が基準値に達した後、検出粒子の総数をゼロにリセットすること、及び粒子検出装置をメンテナンスして粒子の検出を再開することを繰り返し、取得された期間の記録を期間記録装置に蓄積することと、(b)期間記録装置に記録されている複数の期間のうち、最も短い期間を抽出することと、(c)粒子検出装置がメンテナンスされた後、粒子の検出を再開した時から、抽出された最も短い期間を経た時を、粒子検出装置の次回のメンテナンス時と予測することと、を含む、メンテナンス時予測方法が提供される。
本発明によれば、粒子検出装置の粒子検出装置のメンテナンス時を予測可能な、メンテナンス時予測システム及びメンテナンス時予測方法を提供可能である。
本発明の実施の形態に係るメンテナンス時予測システムの模式図である。 本発明の実施の形態に係るクリーンルームの模式図である。 本発明の第1の実施例に係る粒子検出装置の模式図である。 本発明の実施の形態に係る粒子の検出期間と、検出粒子数と、の関係を模式的に示すグラフである。 本発明の実施の形態に係るメンテナンス時予測方法を示すフローチャートである。
以下に本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号で表している。但し、図面は模式的なものである。したがって、具体的な寸法等は以下の説明を照らし合わせて判断するべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
実施の形態に係るメンテナンス時予測システムは、図1に示すように、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得する期間取得部301と、取得された期間を記録する期間記録装置401と、検出粒子の総数が基準値に達した後、検出粒子の総数をゼロにリセットするリセット部302と、期間記録装置401に記録されている複数の期間のうち、最も短い期間を抽出する抽出部303と、検出粒子の総数が基準値に達して粒子検出装置20がメンテナンスされた後、粒子検出装置20が粒子の検出を再開した時から、抽出された最も短い期間を経た時を、次回の粒子検出装置20のメンテナンス時と予測する予測部304と、を備える。
期間取得部301と、リセット部302と、抽出部303と、予測部304と、期間記録装置401と、は、例えば、中央演算処理装置(CPU)300に含まれている。
粒子検出装置20が配置される図2に示すクリーンルーム10は、骨格をなす例えばアルミニウム製のフレームと、フレームにはめ込まれた、側壁をなすポリカーボネート製の透明パネルと、を備える。ただし、実施の形態に係るクリーンルームは、これに限定されない。例えば、コンテナ型のクリーンルーム、プレハブ型のクリーンルーム、移動式手術室、及び建物の一部をなす移動不可能なクリーンルーム等も、実施の形態に係るクリーンルームに含まれる。
クリーンルーム10内部には、例えばHEPA(High Efficiency Particulate Air Filter)及びULPA(Ultra Low Penetration Air Filter)等の超高性能エアフィルタを通して、清浄な空気が送り込まれる。さらにクリーンルーム10内部には、空気等の気体に含まれる微粒子や微生物を除去し、気体を清浄化する清浄化装置が配置されていてもよい。
図3に示すように、クリーンルーム10に配置された粒子検出装置20は、クリーンルーム10内の気体を内部に吸引するための吸引口21と、検査後の気体をクリーンルーム10に戻すための排気口22と、を有する。例えば、粒子検出装置20は、内部に、レーザ光源が発したレーザ光を、吸引された気体に照射する光学系23を備える。レーザ光は、可視光であっても、紫外光であってもよい。レーザ光が可視光である場合、レーザ光の波長は、例えば400乃至410nmの範囲内であり、例えば405nmである。レーザ光が紫外光である場合、レーザ光の波長は、例えば310乃至380nmの範囲内であり、例えば355nmである。なお、粒子検出装置20が備える光源はレーザ光源に限られない。例えば、粒子検出装置20は、粒子に光を照射する光源として、発光ダイオード(LED)、及びキセノンランプ等を備えていてもよい。
空気中に細菌を含む微生物等の微粒子が含まれる場合、レーザ光を照射された細菌が、蛍光を発する。細菌の例としては、グラム陰性菌、グラム陽性菌、及びカビ胞子を含む真菌が挙げられる。グラム陰性菌の例としては、大腸菌が挙げられる。グラム陽性菌の例としては、表皮ブドウ球菌、枯草菌芽胞、マイクロコッカス、及びコリネバクテリウムが挙げられる。カビ胞子を含む真菌の例としては、アスペルギルスが挙げられる。粒子検出装置20は、レーザ光を照射された微生物が発した蛍光を検出し、蛍光強度を計測する。粒子検出装置20は、蛍光強度の大きさに基づき、空気中に含まれている微生物を検出する。
なお、粒子検出装置20が検出対象とする粒子は微生物に限られない。例えば、粒子検出装置20が検出対象とする粒子は、無害又は有害な化学物質、ごみ、ちり、及び埃等のダストも含む。また、粒子検出装置20の粒子の検出原理も、上記に限定されない。さらに、粒子検出装置20の検出結果も粒子の数や濃度に限定されず、粒径分布等をさらに測定してもよい。例えば、粒子が光線を通過するときに生じる光の散乱と、粒子の径と、の相関を利用して、粒径分布を測定してもよい。粒子検出装置20は、逐次、検出した粒子の数の情報を含む検出結果情報を電子的又は磁気的に生成する。生成された検出結果情報は、粒子検出装置20が備える内部メモリ等に逐次保存される。粒子検出装置20には、粒子の粒子検出時刻を検出結果情報に付与するための検出時刻付与装置が配置されている。検出時刻付与装置は、例えば、水晶振動子を備える。さらに粒子検出装置20は、シリアルナンバ等の識別記号を記録した識別素子を備えていてもよい。この場合、粒子検出装置20は、識別記号を検出結果情報に付与する。
粒子検出装置20には、送受信機2及びアンテナ24が固定されている。送受信機2は、逐次、アンテナ24を用いて、図1に示すネットワークに検出結果情報を無線送信する。例えば、図3に示す粒子検出装置20が備える電子機器には、内蔵バッテリ25から電源が供給される。図1に示す情報受信機3は、ネットワークを経由してきた検出結果情報を受信する。情報受信機3は、受信した検出結果情報をCPU300に伝送する。情報受信機3はCPU300に直接接続されていてもよいし、有線又は無線ローカルエリアネットワーク(LAN)を介して接続されていてもよい。
CPU300は、積算部305をさらに備える。積算部305は、情報受信機3から伝送されてきた、粒子検出装置20が検出した粒子の数の情報を含む検出結果情報を逐次受信する。積算部305は、粒子検出装置20が前回メンテナンスされた後、粒子検出装置20が検出してきた粒子の数を積算する。なお、粒子検出装置20がメンテナンスを受けたことがない場合には、積算部305は、粒子検出装置20が初めてクリーンルーム10に配置された後、粒子検出装置20が検出してきた粒子の数を積算する。
積算部305は、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した時、CPU300に接続されているディスプレイ等の出力装置に、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達したことを出力させる。これにより、積算部305は、クリーンルーム10の管理者等に、粒子検出装置20を停止させ、粒子検出装置20をメンテナンスすることを促す。なお、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した時、積算部305は、ネットワークを介して粒子検出装置20に対して、検出の停止を指示してもよい。ここで、粒子検出装置20のメンテナンスとは、粒子検出装置20のソフトウェアによる検出機構の補正、検出機構を構成する光学部品を含む部品の清掃、及び検出機構を構成する部品の交換等を含む。
積算部305は、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した時、期間取得部301に、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達したことを通知する。通知を受けた期間取得部301は、例えば、CPU300の内部時計や、CPU300に接続されているタイムサーバから、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した年月日等の時を取得する。
また、期間取得部301は、CPU300に含まれる検出開始時記録装置402に記録されている、粒子検出装置20が前回メンテナンスされた後、粒子の検出を開始した年月日等の時を読み出す。なお、粒子検出装置20がメンテナンスを受けたことがない場合には、期間取得部301は、検出開始時記録装置402に記録されている、粒子検出装置20が初めてクリーンルーム10に配置された後、粒子の検出を開始した年月日等の時を読み出す。
期間取得部301は、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した時と、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した時と、の差に基づき、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得する。期間取得部301は、取得した、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を、期間記録装置401に記録する。
リセット部302は、期間取得部301が、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得した後、積算部305が算出した粒子検出装置20が検出した粒子の総数をゼロにリセットする。粒子検出装置20がメンテナンスされ、粒子の検出を再開すると、期間取得部301は、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した年月日等の時を、検出開始時記録装置402に記録する。
期間記録装置401には、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達し、粒子検出装置20がメンテナンスされる度に、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間が蓄積的に記録される。図4に示す例では、5回のメンテナンスが実施され、1回目のメンテナンスまでの期間はt1、1回目の後2回目のメンテナンスまでの期間はt2、2回目の後3回目のメンテナンスまでの期間はt3、3回目の後4回目のメンテナンスまでの期間はt4、4回目の後5回目のメンテナンスまでの期間はt5である。この例では、期間t3が最も短い。図1に示す抽出部303は、期間記録装置401に蓄積的に記録されている複数の期間のうち、最も短い期間を抽出する。図4に示す例においては、抽出部303は、期間t3を抽出する。
図1に示す予測部304は、検出開始時記録装置402に記録されている、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した直近の年月日等の時から、抽出部303が抽出した期間を経た時を、粒子検出装置20の次回のメンテナンス時と予測する。予測部304は、予測したメンテナンス時を、CPU300に含まれる予測時記録装置403に記録する。また予測部304は、CPU300に接続されているディスプレイ等の出力装置に、粒子検出装置20の予測された次回のメンテナンス時を出力させる。さらにCPU300には、予測部304によって予測された次回のメンテナンス時をシールに印字する印刷装置が接続されていてもよい。次回のメンテナンス時を印字したシールを粒子検出装置20に貼り付けることにより、クリーンルーム10の管理者が次回の粒子検出装置20の次回のメンテナンス時を明瞭に認識することが可能となる。
次に、図5に示すフローチャートを用いて、実施の形態に係るメンテナンス時予測方法について説明する。
(a)ステップS101で、図2に示すクリーンルーム10に粒子検出装置20を設置する。クリーンルーム10に設置される粒子検出装置20は、予めメンテナンスされていてもよいし、設置後にメンテナンスされてもよい。また、粒子検出装置20が新品で清浄であれば、設置前後のメンテナンスは必ずしも必要ではない。ステップS102で、粒子検出装置20は、粒子の検出を開始する。粒子検出装置20は、粒子の検出を開始したことを、図1に示すネットワークを介して期間取得部301に通知する。ステップS103で、通知を受けた期間取得部301は、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した年月日等の時を、検出開始時記録装置402に記録する。
(b)ステップS104で、粒子検出装置20は粒子の検出を継続し、検出した粒子の数の情報を含む検出結果情報を、ネットワークを介して、積算部305に逐次送信する。積算部305は、粒子検出装置20が検出してきた粒子の数を積算する。ステップS105で、積算部305は、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達したか否かを判断する。粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達していない場合は、ステップS104に戻り、粒子検出装置20は粒子の検出を継続する。粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した場合は、ステップS106に進む。
(c)ステップS106で、積算部305は、期間取得部301に、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達したことを通知する。通知を受けた期間取得部301は、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した年月日等の時を取得する。ステップS107で、積算部305は、出力装置等に、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達し、メンテナンス時が来たことを出力させる。また、粒子検出装置20は、粒子の検出を停止する。
(d)ステップS108で、期間取得部301は、検出開始時記録装置402に記録されている、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した直近の年月日等の時を読み出す。期間取得部301は、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が所定の基準値に達した時と、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した直近の時と、の差に基づき、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得する。
(e)ステップS109で、期間取得部301は、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間の過去の記録が、期間記録装置401に記録されているか検索する。過去の記録が、期間記録装置401に記録されていない場合、ステップS110で、期間取得部301は、取得した、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を含むログファイルを作成し、期間記録装置401に記録する。ログファイルが既に期間記録装置401に保存されている場合、ステップS111で、期間取得部301は、ログファイルに、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに今回要した期間を追加し、ログファイルを上書き保存する。
(f)ステップS112で、期間取得部301は、リセット部302に、粒子検出装置20が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得したことを通知する。通知を受けたリセット部302は、積算部305が算出した粒子検出装置20が検出した粒子の総数をゼロにリセットする。ステップS113で、クリーンルーム10の管理者等が、粒子検出装置20のメンテナンスを実施する。なお、粒子検出装置20のメンテナンスは、ステップS108乃至ステップS112と並行して実施してもよい。
(g)粒子検出装置20のメンテナンスが終了した後、ステップS114で、粒子検出装置20は粒子の検出を再開する。粒子検出装置20は、粒子の検出を開始した信号を、ネットワークを介して期間取得部301に伝送する。ステップS115で、信号を受信した期間取得部301は、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した年月日等の時を、検出開始時記録装置402に記録する。ステップS116で、抽出部303は、期間記録装置401に保存されているログファイルに蓄積的に記録されている複数の期間のうち、最も短い期間を抽出する。抽出部303は、抽出した期間を、予測部304に伝送する。
(h)ステップS117で、予測部304は、抽出部303から抽出した期間を受け取る。また、予測部304は、検出開始時記録装置402から、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した直近の年月日等の時を読み出す。次に、予測部304は、粒子検出装置20が粒子の検出を開始した直近の年月日等の時から、抽出部303が抽出した期間を経た時を、粒子検出装置20の次回のメンテナンス時と予測する。予測部304は、予測したメンテナンス時を予測時記録装置403に記録する。また予測部304は、出力装置に、粒子検出装置20の予測された次回のメンテナンス時を出力させる。さらに予測部304は、CPU300に接続されている印刷装置に、予測部304によって予測された次回のメンテナンス時をシールに印字させ、クリーンルーム10の管理者が次回のメンテナンス時を印字したシールを粒子検出装置20に貼り付けてもよい。その後、ステップS104に戻る。
以上説明した実施の形態に係るメンテナンス時予測方法によれば、粒子検出装置20の次回のメンテナンス時を予測することが可能となる。クリーンルーム10の環境は、クリーンルーム10の仕様や、使用状況により、様々である。そのため、粒子検出装置20のメンテナンス間隔は、粒子検出装置20が配置されるクリーンルーム10に依存する。そのため、粒子検出装置20が実際にクリーンルーム10に配置される前に、粒子検出装置20のメンテナンス間隔を予測することは困難である。これに対し、実施の形態に係るメンテナンス時予測方法によれば、クリーンルーム10に設置後の粒子検出装置20の過去のメンテナンス間隔の記録に基づき、次回のメンテナンス時を予測するため、クリーンルーム10の環境に即した予測をすることが可能となる。これにより、クリーンルーム10内で例えば臨床試験を実施する場合に、臨床試験の最中に粒子検出装置20のメンテナンス時が到来してしまうような不測の事態を避けることが可能となる。なお、粒子検出装置20が、クリーンルーム10の所有者に貸与されている場合は、CPU300は、粒子検出装置20の所有者が管理していてもよい。
(その他の実施の形態)
上記のように、本発明を実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす記述及び図面はこの発明を限定するものであると理解するべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施の形態及び運用技術が明らかになるはずである。例えば、実施の形態において、送受信機2は、アンテナ24を用いて情報を無線送信すると説明したが、送受信機2は情報を有線ネットワークに送信してもよい。また、粒子検出装置20が備える電子機器には、外部電源から電源が供給されてもよい。この様に、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を包含するということを理解すべきである。
2 送受信機
3 情報受信機
10 クリーンルーム
20 粒子検出装置
21 吸引口
22 排気口
23 光学系
24 アンテナ
25 内蔵バッテリ
301 期間取得部
302 リセット部
303 抽出部
304 予測部
305 積算部
401 期間記録装置
402 検出開始時記録装置
403 予測時記録装置

Claims (9)

  1. 粒子検出装置が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得する期間取得部と、
    前記取得された期間を記録する期間記録装置と、
    前記検出粒子の総数が前記基準値に達した後、前記検出粒子の総数をゼロにリセットするリセット部と、
    前記期間記録装置に記録されている複数の期間のうち、最も短い期間を抽出する抽出部と、
    前記検出粒子の総数が前記基準値に達して前記粒子検出装置がメンテナンスされた後、前記粒子検出装置が前記粒子の検出を再開した時から、前記抽出された最も短い期間を経た時を、前記粒子検出装置の次回のメンテナンス時と予測する予測部と、
    を備える、メンテナンス時予測システム。
  2. 前記予測されたメンテナンス時を出力する出力装置を更に備える、請求項1に記載のメンテナンス時予測システム。
  3. 前記予測されたメンテナンス時をシールに印字する印刷装置を更に備える、請求項1に記載のメンテナンス時予測システム。
  4. 前記予測されたメンテナンス時をネットワークに送信する送信部を更に備える、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のメンテナンス時予測システム。
  5. 粒子検出装置が検出した粒子の総数が基準値に達するまでに要した期間を取得すること、前記取得された期間を期間記録装置に記録すること、前記検出粒子の総数が前記基準値に達した後、前記検出粒子の総数をゼロにリセットすること、及び前記粒子検出装置をメンテナンスして粒子の検出を再開することを繰り返し、前記取得された期間の記録を前記期間記録装置に蓄積することと、
    前記期間記録装置に記録されている複数の期間のうち、最も短い期間を抽出することと、
    前記粒子検出装置がメンテナンスされた後、前記粒子の検出を再開した時から、前記抽出された最も短い期間を経た時を、前記粒子検出装置の次回のメンテナンス時と予測することと、
    を含む、メンテナンス時予測方法。
  6. 前記予測されたメンテナンス時を出力することを更に含む、請求項5に記載のメンテナンス時予測方法。
  7. 前記予測されたメンテナンス時をシールに印字することを更に含む、請求項5に記載のメンテナンス時予測方法。
  8. 前記予測されたメンテナンス時を印字された前記シールを前記粒子検出装置に貼ることを更に含む、請求項7に記載のメンテナンス時予測方法。
  9. 前記予測されたメンテナンス時をネットワークに送信することを更に含む、請求項5乃至8のいずれか1項に記載のメンテナンス時予測方法。
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