JP5911170B2 - Substrate transport and processing equipment - Google Patents

Substrate transport and processing equipment Download PDF

Info

Publication number
JP5911170B2
JP5911170B2 JP2012104411A JP2012104411A JP5911170B2 JP 5911170 B2 JP5911170 B2 JP 5911170B2 JP 2012104411 A JP2012104411 A JP 2012104411A JP 2012104411 A JP2012104411 A JP 2012104411A JP 5911170 B2 JP5911170 B2 JP 5911170B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
block
substrate
processing
transfer arm
lower block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012104411A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013232575A (en
Inventor
塩野 忠久
忠久 塩野
基毅 和田
基毅 和田
仲 大利
仲 大利
Original Assignee
株式会社昭和真空
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社昭和真空 filed Critical 株式会社昭和真空
Priority to JP2012104411A priority Critical patent/JP5911170B2/en
Publication of JP2013232575A publication Critical patent/JP2013232575A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5911170B2 publication Critical patent/JP5911170B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

本発明は基板の搬送及び処理装置に関し、特に、加熱又は冷却装置に用いることができる基板の搬送及び処理装置に関する。   The present invention relates to a substrate transfer and processing apparatus, and more particularly to a substrate transfer and processing apparatus that can be used in a heating or cooling apparatus.

従来から、搬送機構によって処理対象基板を順次搬送し、所定の場所に移動された基板に加工を施す処理装置が知られている。例えば、特許文献1は、クリーム半田を介して電子部品が搭載された配線基板がワークテーブルに載置され、ワークテーブルがトランスファーによって所定間隔ずつ搬送され、加熱ゾーンに入った基板が加熱処理されるリフロー半田付け装置を開示する。同文献(特に図3)によると、基板は、トランスファーに搬入されると、複数のゾーンからなる予熱ゾーン、1つのゾーンからなるリフローゾーン、1つのゾーンからなる冷却ゾーンを順次通過する。   2. Description of the Related Art Conventionally, a processing apparatus is known in which substrates to be processed are sequentially transported by a transport mechanism and a substrate is moved to a predetermined location. For example, in Patent Document 1, a wiring board on which electronic components are mounted via cream solder is placed on a work table, the work table is transferred by a predetermined interval by transfer, and the board that has entered the heating zone is heated. A reflow soldering apparatus is disclosed. According to the document (particularly FIG. 3), when the substrate is carried into the transfer, the substrate sequentially passes through a preheating zone consisting of a plurality of zones, a reflow zone consisting of one zone, and a cooling zone consisting of one zone.

また、特許文献2(特に図4)は、処理対象物が搬送ユニットによって、投入ステージ、加熱ステージ、加圧ステージ、冷却ステージ、回収ステージに順次搬送される成形ブロック搬送装置を開示する。各ステージ間の処理対象物の受渡しは、各ステージ間に配置されたアーム状の搬送ユニットによって行われる。   Patent Document 2 (particularly FIG. 4) discloses a molding block transport apparatus in which a processing object is sequentially transported by a transport unit to an input stage, a heating stage, a pressure stage, a cooling stage, and a recovery stage. Delivery of the processing object between the stages is performed by an arm-shaped transport unit arranged between the stages.

特開2003−51672号公報JP 2003-51672 A 特開2009−143757号公報JP 2009-143757 A

しかし、特許文献1の装置においては、基板が等間隔で順次搬送され、各単位ゾーンについて一定のタクトタイムで処理される。言い換えると、処理全体に要する時間は、最も時間のかかるゾーンでのタクトタイムに依存する。従って、処理全体の時間を短縮することが難しいという問題があった。   However, in the apparatus of Patent Document 1, the substrates are sequentially conveyed at equal intervals, and each unit zone is processed with a fixed tact time. In other words, the time required for the entire process depends on the tact time in the most time-consuming zone. Therefore, there is a problem that it is difficult to shorten the entire processing time.

また、特許文献2の搬送装置では、各ステージ間の処理対象物の受渡しを個別の搬送ユニット(アーム)で行うため、搬送装置の構成が複雑なものとなり、特にステージ数が多くなればなるほど搬送装置が複雑かつ大型なものとなってしまう。従って、搬送装置を簡素化することができないという問題があった。   Further, in the transport apparatus of Patent Document 2, since the processing object is transferred between the stages by individual transport units (arms), the structure of the transport apparatus becomes complicated, and in particular, the transport is increased as the number of stages is increased. The device becomes complicated and large. Therefore, there is a problem that the transport device cannot be simplified.

そこで、本発明は、基板の搬送及び処理装置において、1つの処理工程のタクトタイムに拘束されずに処理全体の時間を短縮する搬送機構を簡素な構成で提供することを課題とする。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a substrate transport and processing apparatus with a simple configuration that shortens the entire processing time without being restricted by the tact time of one processing step.

本発明の第1の側面は、基板の搬送及び処理装置であって、基板を載置可能な搬送アーム、搬送アームを基板搬送方向に摺動させるスライド機構、第1の下部ブロック及び第1の上部ブロックからなる第1の処理ブロック、並びに第1の下部ブロックを降下位置と上昇位置の間で昇降させる第1の昇降機構を備える。第1の下部ブロックは、搬送アームの摺動方向に延在して上面が開放された凹部を有し、第1の下部ブロックが降下位置にある場合に、搬送アームに保持された基板が第1の上部ブロックと第1の下部ブロックの間を通過可能であり、第1の下部ブロックが上昇位置にある場合に、基板が第1の下部ブロックに支持されて第1の上部ブロックに接近させられ、かつ、凹部で画定される空間を搬送アームが移動可能に構成される。   A first aspect of the present invention is a substrate transfer and processing apparatus, a transfer arm on which a substrate can be placed, a slide mechanism that slides the transfer arm in the substrate transfer direction, a first lower block, and a first A first processing block composed of an upper block and a first lifting mechanism for lifting and lowering the first lower block between the lowered position and the raised position are provided. The first lower block has a recess that extends in the sliding direction of the transfer arm and has an upper surface open. When the first lower block is in the lowered position, the substrate held by the transfer arm is When the first lower block can pass between the first upper block and the first lower block, and the first lower block is in the raised position, the substrate is supported by the first lower block so as to approach the first upper block. And a transfer arm is configured to be movable in a space defined by the recess.

ここで、第1の処理ブロックは、基板に搭載された複数の素子を封着するために、第1の下部ブロック及び第1の上部ブロックで基板を挟み込み、素子を加熱及び加圧する加圧加熱ブロックとすることができる。   Here, in order to seal a plurality of elements mounted on the substrate, the first processing block sandwiches the substrate between the first lower block and the first upper block, and pressurizes and heats the elements. Can be a block.

さらに、第2の下部ブロック及び第2の上部ブロックからなり第1の処理ブロックに対して基板搬送方向に配置された第2の処理ブロック、及び第2の下部ブロックを降下位置と上昇位置の間で昇降させる第2の昇降機構を備え、第2の下部ブロックは、搬送アームの摺動方向に延在して上面が開放された凹部を有し、第2の下部ブロックが降下位置にある場合に、搬送アームに保持された基板が第2の上部ブロックと第2の下部ブロックの間を通過可能であり、第2の下部ブロックが前記上昇位置にある場合に、基板が第2の下部ブロックによって支持されて上部ブロックに接近させられ、かつ、凹部で画定される空間を搬送アームが移動可能に構成され、第1の下部ブロックと第2の下部ブロックが独立して昇降可能に構成される。   Further, the second processing block, which is composed of the second lower block and the second upper block and is arranged in the substrate transfer direction with respect to the first processing block, is arranged between the lowered position and the raised position. The second lower block has a recess that extends in the sliding direction of the transfer arm and has an open upper surface, and the second lower block is in the lowered position. In addition, when the substrate held by the transfer arm can pass between the second upper block and the second lower block, and the second lower block is in the raised position, the substrate is in the second lower block. The transport arm is configured to be moved in a space defined by the recess, supported by the upper block, and the first lower block and the second lower block can be moved up and down independently. .

ここで、第2の処理ブロックが第1の処理ブロックに対して搬送アームの搬送方向の後段に配置され、第1の処理ブロックが、基板を加熱及び加圧する加圧加熱ブロックであり、第2の処理ブロックが、基板を冷却する冷却ブロックであり、第1の下部ブロックが上昇位置にあり第1の処理ブロックによって基板が処理される間に、第2の下部ブロックが降下位置まで降下され、搬送アームが第2の処理ブロックから先行基板を搬出するように構成されるようにしてもよい。   Here, the second processing block is disposed downstream of the first processing block in the transport direction of the transport arm, and the first processing block is a pressure heating block that heats and pressurizes the substrate. The processing block is a cooling block for cooling the substrate, and the second lower block is lowered to the lowered position while the first lower block is in the raised position and the substrate is processed by the first processing block, The transport arm may be configured to unload the preceding substrate from the second processing block.

また、第2の処理ブロックが第1の処理ブロックに対して搬送アームの搬送方向の前段に配置され、第1の処理ブロックが、基板を加熱及び加圧する加圧加熱ブロックであり、第2の処理ブロックが、基板を予め加熱する予備加熱ブロックであり、第1の下部ブロックが上昇位置にあり第1の処理ブロックによって基板が処理される間に、第2の下部ブロックが降下位置まで降下され、搬送アームが第2の処理ブロックに後続基板を搬入するように構成されるようにしてもよい。   In addition, the second processing block is disposed upstream of the first processing block in the transport direction of the transport arm, and the first processing block is a pressure heating block that heats and pressurizes the substrate. The processing block is a preheating block that preheats the substrate, and the second lower block is lowered to the lowered position while the first lower block is in the raised position and the substrate is processed by the first processing block. The transfer arm may be configured to carry the subsequent substrate into the second processing block.

上記において、搬送アームはスライド機構によって、基板搬送方向の第1の方向及びその逆の第2の方向に移動可能に構成される。   In the above description, the transfer arm is configured to be movable in the first direction in the substrate transfer direction and the second direction opposite thereto by the slide mechanism.

本発明による基板の搬送及び処理装置の鳥瞰図である。1 is a bird's-eye view of a substrate transport and processing apparatus according to the present invention. 図1の装置の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of the apparatus of FIG. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第1の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 1st Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第2の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 2nd Example of this invention. 本発明の第3の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 3rd Example of this invention. 本発明の第3の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 3rd Example of this invention. 本発明の第3の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 3rd Example of this invention. 本発明の第3の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 3rd Example of this invention. 本発明の第4の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 4th Example of this invention. 本発明の第4の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 4th Example of this invention. 本発明の第4の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 4th Example of this invention. 本発明の第4の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 4th Example of this invention. 本発明の第4の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 4th Example of this invention. 本発明の第4の実施例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the 4th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の第5の実施例による装置の動作を説明する図である。It is a figure explaining operation | movement of the apparatus by the 5th Example of this invention. 本発明の変形例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the modification of this invention. 本発明の変形例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the modification of this invention. 本発明の変形例による装置を説明する図である。It is a figure explaining the apparatus by the modification of this invention.

<基本構成>
図1に本発明の実施例による、基板の搬送及び処理装置を示す。本実施例では、基板を加熱及び加圧するための加熱封止装置を例として示す。加熱封止装置は、搬送機構1、予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4を備える。基板5は、処理対象そのものに限られず、複数の処理対象を搭載して搬送する搬送トレーであってもよい。本実施例では、基板5上に、封着材とともに封止対象の素子が複数載置され、加熱封止装置は封止対象である素子を加熱及び加圧するものとする。基板5は搬送機構1によって予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4に順次搬送される。予備加熱ブロック2において、基板5は封着材の融点より低い温度で予備加熱されるとともに、容器内部の脱ガスが行われる。加圧加熱ブロック3において、基板5に圧力が加えられた上で封着材の融点以上の温度に加熱される。これにより、素子が封着される。冷却ブロック4において、基板5は冷却され、その後搬出される。
<Basic configuration>
FIG. 1 shows a substrate transfer and processing apparatus according to an embodiment of the present invention. In this embodiment, a heat sealing device for heating and pressurizing a substrate is shown as an example. The heat sealing device includes a transport mechanism 1, a preliminary heating block 2, a pressure heating block 3, and a cooling block 4. The substrate 5 is not limited to the processing target itself, and may be a transport tray that carries and transports a plurality of processing targets. In this embodiment, a plurality of elements to be sealed are placed on the substrate 5 together with the sealing material, and the heat sealing device heats and pressurizes the elements to be sealed. The substrate 5 is sequentially transferred to the preliminary heating block 2, the pressure heating block 3, and the cooling block 4 by the transfer mechanism 1. In the preheating block 2, the substrate 5 is preheated at a temperature lower than the melting point of the sealing material, and the inside of the container is degassed. In the pressure heating block 3, a pressure is applied to the substrate 5, and the substrate 5 is heated to a temperature equal to or higher than the melting point of the sealing material. Thereby, an element is sealed. In the cooling block 4, the substrate 5 is cooled and then unloaded.

搬送機構1は基板5を載置可能な搬送アーム11a及び11b並びにスライド機構12を備える。スライド機構12は、ガイド13a及び13bを軌道とする搬送アーム11a及び11bを長手方向、即ち、搬送方向に摺動させる。なお、以降の説明において、搬送アーム11a及び11bをまとめて搬送アーム11といい、ガイド13a及び13bをまとめてガイド13というものとする。搬送アーム11の上面には位置決め部が設けられ、基板5を所定の間隔で配置することができる。位置決め部は基板5の穴部に係合する突起であってもよいし、基板5に対して嵌合可能な段差であってもよい。この位置決め部は専ら基板5の配列用に設けられるものであり、各装置内で行われる高精度な位置決めには関与しないものでよい。   The transport mechanism 1 includes transport arms 11 a and 11 b on which a substrate 5 can be placed and a slide mechanism 12. The slide mechanism 12 slides the transport arms 11a and 11b whose tracks are guides 13a and 13b in the longitudinal direction, that is, the transport direction. In the following description, the transport arms 11a and 11b are collectively referred to as the transport arm 11, and the guides 13a and 13b are collectively referred to as the guide 13. A positioning portion is provided on the upper surface of the transfer arm 11, and the substrates 5 can be arranged at predetermined intervals. The positioning portion may be a protrusion that engages with a hole in the substrate 5 or may be a step that can be fitted to the substrate 5. This positioning unit is provided exclusively for the arrangement of the substrates 5 and may not be involved in the high-precision positioning performed in each apparatus.

予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4の外観構成は実質的に同じである。従って、上記処理ブロックを代表して加圧加熱ブロック3の構成を図1及び図2を参照して以下に説明する。なお、各処理ブロックの実質的な中身は当然に異なるが、各処理ブロックにおける処理の内容は本発明の主題ではないので詳細な説明を省略する。図2は加熱加圧ブロック3、搬送アーム11及び基板5について、基板搬送方向に垂直な断面を示す。加圧加熱ブロック3は、下部ブロック31、上部ブロック32及び昇降機構33を有し、昇降機構33は下部ブロック31を降下位置(図2左図)と上昇位置(図2右図)の間で昇降させる。下部ブロック31は、搬送アーム11の摺動方向に延在して上面が開口した凹部31a及び31bを有する。   The external configurations of the preheating block 2, the pressure heating block 3, and the cooling block 4 are substantially the same. Therefore, the configuration of the pressure heating block 3 will be described below with reference to FIGS. In addition, although the substantial content of each processing block naturally differs, the content of the processing in each processing block is not the subject of the present invention, and detailed description thereof is omitted. FIG. 2 shows a cross section of the heating / pressurizing block 3, the transport arm 11 and the substrate 5 perpendicular to the substrate transport direction. The pressure heating block 3 includes a lower block 31, an upper block 32, and an elevating mechanism 33. The elevating mechanism 33 moves the lower block 31 between a lowered position (left figure in FIG. 2) and an elevated position (right figure in FIG. 2). Move up and down. The lower block 31 has recesses 31 a and 31 b that extend in the sliding direction of the transfer arm 11 and have upper surfaces opened.

図2の左図に示すように、下部ブロック31が降下位置にある場合に、搬送アーム11a及び11bに支持された基板5は下部ブロック31と上部ブロック32の間を搬送方向に通過可能である。一方、図2の右図に示すように、下部ブロック31が上昇位置にある場合には、下部ブロック31の上面31cが基板5を支持して基板5は下部ブロック31と上部ブロック32の間に挟み込まれる。この状態において、搬送アーム11a及び11bはそれぞれ凹部31a及び31bで画定される空間を搬送方向に移動することができる。即ち、下部ブロック31が上部ブロック32に接近した状態において、搬送アーム11は下部ブロック31、上部ブロック32又は基板5に干渉せずに搬送方向に移動することができる。   As shown in the left diagram of FIG. 2, when the lower block 31 is in the lowered position, the substrate 5 supported by the transfer arms 11a and 11b can pass between the lower block 31 and the upper block 32 in the transfer direction. . On the other hand, as shown in the right diagram of FIG. 2, when the lower block 31 is in the raised position, the upper surface 31 c of the lower block 31 supports the substrate 5, and the substrate 5 is located between the lower block 31 and the upper block 32. It is caught. In this state, the transfer arms 11a and 11b can move in the transfer direction in the spaces defined by the recesses 31a and 31b, respectively. That is, when the lower block 31 is close to the upper block 32, the transfer arm 11 can move in the transfer direction without interfering with the lower block 31, the upper block 32, or the substrate 5.

予備加熱ブロック2及び冷却ブロック4に対しても同様に、それぞれ下部ブロック21及び41、上部ブロック23及び43並びに昇降機構22及び42が設けられる。また、下部ブロック21及び41においても同様に、凹部21a及び21b並びに凹部41a及び41bが設けられるものとする。即ち、互いに平行な搬送アーム11a及び11bは、上昇位置にある下部ブロック21、31及び41の凹部21a、31a及び41a並びに凹部21b、31b及び41bをそれぞれ貫通する。なお、スライド機構12並びに下部ブロック21、31及び41は不図示の制御手段によって統括して制御されるものとする。また、各処理ブロックは高精度な基板位置決め機構を有していてもよい。   Similarly, lower blocks 21 and 41, upper blocks 23 and 43, and lifting mechanisms 22 and 42 are provided for the preheating block 2 and the cooling block 4, respectively. Similarly, the lower blocks 21 and 41 are provided with recesses 21a and 21b and recesses 41a and 41b. That is, the transport arms 11a and 11b that are parallel to each other pass through the recesses 21a, 31a, and 41a and the recesses 21b, 31b, and 41b of the lower blocks 21, 31, and 41 in the raised position, respectively. Note that the slide mechanism 12 and the lower blocks 21, 31, and 41 are collectively controlled by a control means (not shown). Each processing block may have a highly accurate substrate positioning mechanism.

このように昇降可能な下部ブロックの凹部を搬送アーム11が通過する構成としたので、ある基板を加圧加熱ブロック3等が処理している間に他の基板を搬送機構1が搬送することができる。従って、詳細を後述するように、1つの処理ブロックにおいてある基板を処理している間に、他の基板を搬送して他の処理を進めることができる。即ち、上記構成により、複数の処理ブロック又は処理工程を有する処理装置において、1つの処理ブロックでのタクトタイムによらず処理全体に要する時間を短縮することができる。   Since the transport arm 11 passes through the concave portion of the lower block that can be moved up and down in this way, the transport mechanism 1 can transport another substrate while the pressure heating block 3 or the like is processing a certain substrate. it can. Therefore, as will be described in detail later, while a certain substrate is being processed in one processing block, another substrate can be transferred and another process can proceed. That is, with the above configuration, in a processing apparatus having a plurality of processing blocks or processing steps, the time required for the entire processing can be reduced regardless of the tact time in one processing block.

<実施例1>
図3A〜3Mを参照して本発明の第1の実施例による搬送処理を詳細に説明する。本実施例では、図3Aに示すように、処理ブロックは予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4からなるものを例示して説明する。予備加熱ブロック2の上部ブロック22には、基板と接触して加熱可能なヒータ部24が設けられる。加圧加熱ブロック3の上部ブロック32には、基板5に封着処理を行うことが可能なヒータ及びプローブ34が設けられる。冷却ブロック4の上部ブロック42には、基板5と接触して冷却可能な冷却部44が設けられる。なお、下部ブロック21、31及び41にもそれぞれヒータ部及び冷却部を設けてもよい。また、ヒータ部24は基板5と接触するものでなくてもよく、上部ブロック22に基板5を内包して加熱するものであってもよい。同様に、冷却部44は基板5と接触するものでなくてもよく、上部ブロック42に基板5を内包して冷却を行う冷却槽であってもよい。
<Example 1>
The conveyance process according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. In this embodiment, as shown in FIG. 3A, the processing block will be described as an example including a preliminary heating block 2, a pressure heating block 3, and a cooling block 4. The upper block 22 of the preheating block 2 is provided with a heater unit 24 that can be heated in contact with the substrate. The upper block 32 of the pressure heating block 3 is provided with a heater and a probe 34 capable of performing a sealing process on the substrate 5. The upper block 42 of the cooling block 4 is provided with a cooling unit 44 that can cool in contact with the substrate 5. In addition, you may provide a heater part and a cooling part also in the lower blocks 21, 31, and 41, respectively. Further, the heater unit 24 may not be in contact with the substrate 5, and may be one in which the substrate 5 is included in the upper block 22 and heated. Similarly, the cooling unit 44 may not be in contact with the substrate 5, and may be a cooling tank that cools by including the substrate 5 in the upper block 42.

搬送アーム11はその端部11c及び11dがそれぞれのガイド13に支持され、基板搬入位置(図3A参照)と基板搬出位置(図3B参照)の間をスライドして往復する。本実施例では、搬送アーム11は、少なくとも最初の処理ブロック(予備加熱ブロック2)から最後の処理ブロック(冷却ブロック4)までを含む長さに基板の搬入又は搬出スペースを加えた長さを有していればよい。   Ends 11c and 11d of the transfer arm 11 are supported by the respective guides 13, and slide back and forth between a substrate carry-in position (see FIG. 3A) and a substrate carry-out position (see FIG. 3B). In this embodiment, the transfer arm 11 has a length including at least the first processing block (preliminary heating block 2) to the last processing block (cooling block 4) plus a substrate loading / unloading space. If you do.

搬送アーム11が基板搬入位置にある状態では、基板搬入機構14が基板5を搬送アーム11上に載置させることができる。一方、搬送アーム11が基板搬出位置にある状態では、基板搬出機構15が基板5を搬送アーム11から取り出すことができる。なお、本実施例では、基板搬入機構14は、基板5を上方から掴んだ状態で降下して基板5を解放及び載置するように構成されるが、搬送アーム11の搬送方向前方(図面における搬送レール11の右側)又は側方(図の前後方向)から基板5を搬送アーム11上に載置するように構成されていてもよい。また、同様に、本実施例では、基板搬出機構15は、降下して基板5を上方から掴んでから上昇するように構成されるが、搬送アーム11の搬送方向後方(図面における搬送レール11の左側)又は側方から基板5を抜き取るように構成されていてもよい。   In a state where the transfer arm 11 is at the substrate carry-in position, the substrate carry-in mechanism 14 can place the substrate 5 on the carry arm 11. On the other hand, in a state where the transport arm 11 is at the substrate unloading position, the substrate unloading mechanism 15 can take out the substrate 5 from the transport arm 11. In this embodiment, the substrate carry-in mechanism 14 is configured to lower and release and place the substrate 5 in a state where the substrate 5 is grasped from above. You may be comprised so that the board | substrate 5 may be mounted on the conveyance arm 11 from the right side of the conveyance rail 11) or a side (front-back direction of a figure). Similarly, in the present embodiment, the substrate carry-out mechanism 15 is configured to descend and grasp the substrate 5 from above and then ascend, but in the rearward direction of the transfer arm 11 (of the transfer rail 11 in the drawing). The substrate 5 may be extracted from the left side) or from the side.

図3A〜3Mにおいて、予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4における処理のタクトタイムをそれぞれT2、T3及びT4とした場合、T3>T4であるものとする。また、T3>T2とすることもできるが、本実施例ではT2=T3であるものとする。   3A to 3M, when the tact times of the processes in the preheating block 2, the pressure heating block 3 and the cooling block 4 are T2, T3 and T4, respectively, it is assumed that T3> T4. Although T3> T2 can be set, in this embodiment, T2 = T3.

なお、本明細書においては、「基板搬送方向」は順方向及び逆方向を含むものとし、「順方向」とは、ある基板の処理開始から処理終了に向かう方向をいうものとし、「逆方向」とはその逆の方向をいうものとする。従って、各図においては、順方向は右→左方向であり、逆方向は左→右方向となる。また、各図において、図示の明瞭化のために符号の一部は省略されている。   In this specification, “substrate transport direction” includes a forward direction and a reverse direction, and “forward direction” refers to a direction from the start of processing of a certain substrate to the end of processing, and “reverse direction”. Means the opposite direction. Accordingly, in each figure, the forward direction is right → left direction, and the reverse direction is left → right direction. Moreover, in each figure, a part of code | symbol is abbreviate | omitted for clarification of illustration.

図3Aにおいて、下部ブロック21、31及び41は上昇位置にある。各下部ブロックは降下位置にあってもよいが、予備加熱ブロック2及び加圧加熱ブロック3の保温、及び冷却ブロック4の保冷の目的のため、各処理ブロックは上部ブロック及び下部ブロックが閉じた状態となっている方が好ましい。上述したように、処理ブロックの1以上が閉じた状態であっても搬送アーム11は各下部ブロックと干渉せずに基板5を搬送できる。図示するように、各処理ブロックで保温又は保冷した状態で(即ち、各処理ブロックを閉じた状態で)搬送アーム11が基板搬入位置に配置され、基板搬入機構14から搬入された最初の基板5−1が予備加熱ブロック2の直前に位置する。   In FIG. 3A, the lower blocks 21, 31 and 41 are in the raised position. Each lower block may be in the lowered position, but for the purpose of keeping the preheating block 2 and the pressure heating block 3 warm, and keeping the cooling block 4 cool, each processing block is in a state where the upper block and the lower block are closed. Is preferred. As described above, even when one or more of the processing blocks are closed, the transfer arm 11 can transfer the substrate 5 without interfering with each lower block. As shown in the drawing, the transfer arm 11 is placed at the substrate loading position while being kept warm or cold in each processing block (that is, with each processing block closed), and the first substrate 5 loaded from the substrate loading mechanism 14. −1 is located immediately before the preheating block 2.

次に図3Bに示すように、下部ブロック21が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が下部ブロック21と上部ブロック22の間に搬送される。そして図3Cに示すように、下部ブロック21が上昇位置まで上昇されて予備加熱ブロック2による基板5−1の予備加熱処理が行われる。ここで、後続の基板5−2が基板搬入機構14にセットされているものとする。   Next, as shown in FIG. 3B, the lower block 21 is lowered to the lowered position, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrate 5-1 is transferred between the lower block 21 and the upper block 22. Then, as shown in FIG. 3C, the lower block 21 is raised to the raised position, and the preliminary heating process of the substrate 5-1 by the preliminary heating block 2 is performed. Here, it is assumed that the subsequent substrate 5-2 is set in the substrate carry-in mechanism 14.

次に図3Dに示すように、基板5−1の予備加熱処理中に、搬送アーム11が逆方向にスライドされて後続の基板5−2が基板搬入機構14から搬送アーム11上に載置される。   Next, as shown in FIG. 3D, during the preheating process of the substrate 5-1, the transfer arm 11 is slid in the reverse direction, and the subsequent substrate 5-2 is placed on the transfer arm 11 from the substrate carry-in mechanism 14. The

基板5−1の予備加熱処理が終了すると、図3Eに示すように、下部ブロック31及び21が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1及び5−2がそれぞれ下部ブロック31と上部ブロック32の間及び下部ブロック21と上部ブロック22の間に搬送される。そして図3Fに示すように、下部ブロック31及び21が上昇位置まで上昇されて加圧加熱ブロック3による基板5−1の封着処理及び予備加熱ブロック2による基板5−2の予備加熱処理が行われる。ここで、後続の基板5−3が基板搬入機構14にセットされているものとする。   When the preheating process of the substrate 5-1 is completed, as shown in FIG. 3E, the lower blocks 31 and 21 are lowered to the lowered position, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrates 5-1 and 5-2 are moved. They are conveyed between the lower block 31 and the upper block 32 and between the lower block 21 and the upper block 22, respectively. Then, as shown in FIG. 3F, the lower blocks 31 and 21 are raised to the raised position, and the sealing process of the substrate 5-1 by the pressure heating block 3 and the preheating process of the substrate 5-2 by the preheating block 2 are performed. Is called. Here, it is assumed that the subsequent substrate 5-3 is set in the substrate carry-in mechanism 14.

次に図3Gに示すように、基板5−1の封着処理及び5−2の予備加熱処理中に、搬送アーム11が逆方向にスライドされて後続の基板5−3が基板搬入機構14から搬送アーム11上に載置される。   Next, as shown in FIG. 3G, during the sealing process of the substrate 5-1 and the preheating process of 5-2, the transfer arm 11 is slid in the reverse direction, and the subsequent substrate 5-3 is moved from the substrate carry-in mechanism 14. It is placed on the transfer arm 11.

基板5−1の封着処理及び5−2の予備加熱処理が終了すると、図3Hに示すように、下部ブロック41、31及び21が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1、5−2及び5−3がそれぞれ下部ブロック41と上部ブロック42の間、下部ブロック31と上部ブロック32の間及び下部ブロック21と上部ブロック22の間に搬送される。そして図3Iに示すように、下部ブロック41、31及び21が上昇位置まで上昇されて冷却ブロック4による基板5−1の冷却処理、加圧加熱ブロック3による基板5−2の封着処理及び予備加熱ブロック2による基板5−3の予備加熱処理が行われる。これらの処理中に搬送アーム11が逆方向にスライドされる。   When the sealing process of the substrate 5-1 and the preheating process of 5-2 are finished, as shown in FIG. 3H, the lower blocks 41, 31 and 21 are lowered to the lowered position, and the transfer arm 11 is slid in the forward direction. Then, the substrates 5-1, 5-2 and 5-3 are transferred between the lower block 41 and the upper block 42, between the lower block 31 and the upper block 32, and between the lower block 21 and the upper block 22, respectively. Then, as shown in FIG. 3I, the lower blocks 41, 31 and 21 are raised to the raised position, the cooling process of the substrate 5-1 by the cooling block 4, the sealing process of the substrate 5-2 by the pressure heating block 3, and the preliminary processing Preheating treatment of the substrate 5-3 by the heating block 2 is performed. During these processes, the transfer arm 11 is slid in the reverse direction.

基板5−1の冷却処理が終了すると、図3Jに示すように、加圧加熱ブロック3及び予備加熱ブロック2の処理を継続した状態で、下部ブロック41が降下位置まで降下される。そして図3Kに示すように、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が搬出位置まで搬送され、図3Lに示すように、基板搬出機構15によって基板5−1が取り出される。   When the cooling process of the substrate 5-1 is completed, as shown in FIG. 3J, the lower block 41 is lowered to the lowered position while the processes of the pressure heating block 3 and the preheating block 2 are continued. As shown in FIG. 3K, the transfer arm 11 is slid in the forward direction to transfer the substrate 5-1 to the carry-out position, and the substrate 5-1 is taken out by the substrate carry-out mechanism 15 as shown in FIG. 3L.

図3Mに示すように、基板5−2の封着処理及び5−3の予備加熱処理中に、搬送アーム11が逆方向にスライドされて後続の基板5−4が基板搬入機構14から搬送アーム11上に載置される。この状態は、図3Gの状態で基板が1つ進んだ状態(即ち、加圧加熱ブロック3に基板5−2が、予備加熱ブロック2に基板5−3が、待機位置に基板5−4がそれぞれ対応する状態)となる。以降は、基板5−nの処理が終了するまで図3G〜3Mの搬送及び処理の動作が繰り返される。   As shown in FIG. 3M, during the sealing process of the substrate 5-2 and the preheating process of 5-3, the transfer arm 11 is slid in the reverse direction, and the subsequent substrate 5-4 is transferred from the substrate carry-in mechanism 14 to the transfer arm. 11 is mounted. In this state, the substrate is advanced by one in the state of FIG. 3G (that is, the substrate 5-2 is in the pressure heating block 3, the substrate 5-3 is in the preheating block 2, and the substrate 5-4 is in the standby position. Respectively). Thereafter, the conveyance and processing operations of FIGS. 3G to 3M are repeated until the processing of the substrate 5-n is completed.

このように、ある処理ブロックでの処理中に他の処理ブロックの処理を終了して基板を搬送することができるので、1つの処理ブロックのタクトタイムに左右されずに処理全体の所要時間を短縮することができる。例えば、従来技術のように各基板を等間隔に維持して一定速度で搬送したとすると、1枚の基板について予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4での処理を終了する所要時間がT3×3となるのに対し、本実施例では、T3×2+T4(<T3×3)となり所要時間が短縮される。   In this way, the processing of another processing block can be completed and the substrate can be transported during processing in a certain processing block, so the time required for the entire processing is reduced without being affected by the tact time of one processing block. can do. For example, if each substrate is transported at a constant speed while being maintained at regular intervals as in the prior art, it is necessary to finish the processing in the preliminary heating block 2, the pressure heating block 3, and the cooling block 4 for one substrate. In contrast to the time T3 × 3, in this embodiment, T3 × 2 + T4 (<T3 × 3), and the required time is shortened.

<実施例2>
図4A〜4Jを参照して本発明の第1の実施例による搬送処理を詳細に説明する。本実施例では、処理ブロックは予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4からなるものを例示して説明する。本実施例では、図4Aに示すように、搬送アーム11が充分な長さを有するものとする。本実施例における予備加熱ブロック3、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4の各構成は第1の実施例と同様であるものとする。また、各ブロックのタクトタイムも第1の実施例と同様にT2=T3>T4であるものとする。
<Example 2>
The conveyance process according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. In this embodiment, the processing block will be described as an example including a preheating block 2, a pressure heating block 3 and a cooling block 4. In the present embodiment, as shown in FIG. 4A, it is assumed that the transfer arm 11 has a sufficient length. Each configuration of the preheating block 3, the pressure heating block 3, and the cooling block 4 in this embodiment is the same as that of the first embodiment. Also, the tact time of each block is assumed to be T2 = T3> T4 as in the first embodiment.

図4Aにおいて、下部ブロック21、31及び41は上昇位置にある。各下部ブロックは降下位置にあってもよいが、予備加熱ブロック2及び加圧加熱ブロック3の保温、及び冷却ブロック4の保冷の目的のため、各処理ブロックは上部ブロック及び下部ブロックが閉じた状態となっている方が好ましい。上述したように、処理ブロックの1以上が閉じた状態であっても搬送アーム11は各下部ブロックと干渉せずに基板5−1〜5−nを搬送できる。従って、各処理ブロックで保温又は保冷した状態で(即ち、各処理ブロックを閉じた状態で)基板5−1を予備加熱ブロック2の直前まで搬送することができる。   In FIG. 4A, the lower blocks 21, 31 and 41 are in the raised position. Each lower block may be in the lowered position, but for the purpose of keeping the preheating block 2 and the pressure heating block 3 warm, and keeping the cooling block 4 cool, each processing block is in a state where the upper block and the lower block are closed. Is preferred. As described above, even when one or more of the processing blocks are closed, the transfer arm 11 can transfer the substrates 5-1 to 5-n without interfering with the lower blocks. Therefore, the substrate 5-1 can be transported to the position immediately before the preheating block 2 while being kept warm or cold in each processing block (that is, with each processing block being closed).

次に図4Bに示すように、下部ブロック21が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が下部ブロック21と上部ブロック22の間に搬送される。そして図4Cに示すように、下部ブロック21が上昇位置まで上昇されて予備加熱ブロック2による基板5−1の予備加熱処理が行われる。ここで、後続の基板5−2が基板5−1に対して広い又は狭い間隔で搬送されてきた場合でも、基板5−1の予備加熱処理中に搬送アーム11を順方向又は逆方向にスライドして基板5−2の位置を調整することができる。このように本実施例の装置によると、複数の基板が、処理ブロック間の間隔とは異なる間隔で搬送されてきた場合でも、予備加熱ブロック2の直前で基板間隔を調整することができる。   Next, as shown in FIG. 4B, the lower block 21 is lowered to the lowered position, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrate 5-1 is transferred between the lower block 21 and the upper block 22. Then, as shown in FIG. 4C, the lower block 21 is raised to the raised position, and the preliminary heating process of the substrate 5-1 by the preliminary heating block 2 is performed. Here, even when the subsequent substrate 5-2 is transported at a wide or narrow interval with respect to the substrate 5-1, the transport arm 11 is slid forward or backward during the preheating process of the substrate 5-1. Thus, the position of the substrate 5-2 can be adjusted. As described above, according to the apparatus of the present embodiment, even when a plurality of substrates are conveyed at intervals different from the intervals between the processing blocks, the substrate interval can be adjusted immediately before the preheating block 2.

基板5−1の予備加熱処理が終了すると、図4Dに示すように、下部ブロック31及び21が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1及び5−2がそれぞれ下部ブロック31と上部ブロック32の間及び下部ブロック21と上部ブロック22の間に搬送される。そして図4Eに示すように、下部ブロック31及び21が上昇位置まで上昇されて加圧加熱ブロック3による基板5−1の封着処理及び予備加熱ブロック2による基板5−2の予備加熱処理が行われる。   When the preheating process of the substrate 5-1 is completed, as shown in FIG. 4D, the lower blocks 31 and 21 are lowered to the lowered position, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrates 5-1 and 5-2 are moved. They are conveyed between the lower block 31 and the upper block 32 and between the lower block 21 and the upper block 22, respectively. Then, as shown in FIG. 4E, the lower blocks 31 and 21 are raised to the raised position, and the sealing process of the substrate 5-1 by the pressure heating block 3 and the preheating process of the substrate 5-2 by the preheating block 2 are performed. Is called.

基板5−1の封着処理及び5−2の予備加熱処理が終了すると、図4Fに示すように、下部ブロック41、31及び21が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1、5−2及び5−3がそれぞれ下部ブロック41と上部ブロック42の間、下部ブロック31と上部ブロック32の間及び下部ブロック21と上部ブロック22の間に搬送される。そして図4Gに示すように、下部ブロック41、31及び21が上昇位置まで上昇されて冷却ブロック4による基板5−1の冷却処理、加圧加熱ブロック3による基板5−2の封着処理及び予備加熱ブロック2による基板5−3の予備加熱処理が行われる。ここで、図4Hに示すように、搬送アーム11が逆方向にスライドされて基板5−4の位置が後退される。   When the sealing process of the substrate 5-1 and the preheating process of 5-2 are finished, as shown in FIG. 4F, the lower blocks 41, 31 and 21 are lowered to the lowered position, and the transfer arm 11 is slid in the forward direction. Then, the substrates 5-1, 5-2 and 5-3 are transferred between the lower block 41 and the upper block 42, between the lower block 31 and the upper block 32, and between the lower block 21 and the upper block 22, respectively. Then, as shown in FIG. 4G, the lower blocks 41, 31 and 21 are raised to the ascending position, and the cooling process of the substrate 5-1 by the cooling block 4, the sealing process of the substrate 5-2 by the pressurizing and heating block 3, and the reserve Preheating treatment of the substrate 5-3 by the heating block 2 is performed. Here, as shown in FIG. 4H, the transfer arm 11 is slid in the reverse direction to retract the position of the substrate 5-4.

基板5−1の冷却処理が終了すると、図4Iに示すように、加圧加熱ブロック3及び予備加熱ブロック2の処理を継続した状態で、下部ブロック41が降下位置まで降下される。そして図4Jに示すように、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が搬出位置まで搬送され、基板5−1が取り出される。   When the cooling process of the substrate 5-1 is completed, as shown in FIG. 4I, the lower block 41 is lowered to the lowered position while the processes of the pressure heating block 3 and the preheating block 2 are continued. Then, as shown in FIG. 4J, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, the substrate 5-1 is transferred to the carry-out position, and the substrate 5-1 is taken out.

その後、加圧加熱ブロック3における封着処理及び予備加熱ブロック2における加熱処理が終了すると、図4Fの状態で基板が1つ進んだ状態(即ち、冷却ブロック4に基板5−2が、加圧加熱ブロック3に基板5−3が、予備加熱ブロック2に基板5−4が、それぞれ対応する状態)となる。以降は、基板5−nの処理が終了するまで図4F〜4Jの搬送及び処理の動作が繰り返される。   Thereafter, when the sealing process in the pressurizing and heating block 3 and the heating process in the preheating block 2 are completed, the substrate is advanced by one in the state of FIG. 4F (that is, the substrate 5-2 is pressurized to the cooling block 4). The substrate 5-3 and the substrate 5-4 correspond to the heating block 3 and the preliminary heating block 2, respectively. Thereafter, the conveyance and processing operations of FIGS. 4F to 4J are repeated until the processing of the substrate 5-n is completed.

このように、ある処理ブロックでの処理中に他の処理ブロックの処理を終了して基板を搬送することができるので、1つの処理ブロックのタクトタイムに左右されずに処理全体の所要時間を短縮することができる。例えば、従来技術のように各基板を等間隔に維持して一定速度で搬送したとすると、1枚の基板について予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4での処理を終了する所要時間がT3×3となるのに対し、本実施例では、T3×2+T4(<T3×3)となり所要時間が短縮される。また、処理室の上流側に前処理室を接続し、先行する基板の処理中に、前処理室から後続の基板を搬入すれば、処理室間における基板の受渡しに要する搬送時間を短縮することができる。処理室の下流側に後処理室を接続して基板の受渡しを行う場合も同様である。処理室の上流側に複数の基板を収容可能な基板ストッカーを設けてもよい。   In this way, the processing of another processing block can be completed and the substrate can be transported during processing in a certain processing block, so the time required for the entire processing is reduced without being affected by the tact time of one processing block. can do. For example, if each substrate is transported at a constant speed while being maintained at regular intervals as in the prior art, it is necessary to finish the processing in the preliminary heating block 2, the pressure heating block 3, and the cooling block 4 for one substrate. In contrast to the time T3 × 3, in this embodiment, T3 × 2 + T4 (<T3 × 3), and the required time is shortened. In addition, if a pretreatment chamber is connected upstream of the processing chamber and a subsequent substrate is loaded from the pretreatment chamber during the processing of the preceding substrate, the transfer time required for transferring the substrate between the processing chambers can be shortened. Can do. The same applies to the case where the post-processing chamber is connected to the downstream side of the processing chamber to deliver the substrate. A substrate stocker that can accommodate a plurality of substrates may be provided on the upstream side of the processing chamber.

<実施例3>
第1の実施例では搬送アーム11が最小限の長さを有し、第2の実施例では搬送アーム11が充分な長さを有する構成を示したが、本実施例では、搬送アーム11を、所定の長さとして所定の単位数の基板毎に処理を行う構成を示す。
<Example 3>
In the first embodiment, the transport arm 11 has a minimum length, and in the second embodiment, the transport arm 11 has a sufficient length. 1 shows a configuration in which processing is performed for each predetermined number of substrates as a predetermined length.

図5A及び5Bは、搬送アーム11の端部11c及び11dの双方がガイド13に支持される構成を示す。図5Aは搬送アーム11が基板搬入位置にある状態を示し、図5Bは搬送アーム11が基板搬出位置にある状態を示す。この構成の場合、搬送アーム11は、少なくとも最初の処理ブロック(予備加熱ブロック2)から最後の処理ブロック(冷却ブロック4)までを含む長さの約2倍の長さを有していればよい。   5A and 5B show a configuration in which both ends 11 c and 11 d of the transfer arm 11 are supported by the guide 13. FIG. 5A shows a state where the transfer arm 11 is at the substrate carry-in position, and FIG. 5B shows a state where the transfer arm 11 is at the substrate carry-out position. In the case of this configuration, the transfer arm 11 only needs to have a length that is approximately twice the length including at least the first processing block (preliminary heating block 2) to the last processing block (cooling block 4). .

図5C及び5Dは、搬送アーム11の片方の端部11cのみがガイド13に支持される構成を示す。図5Cは搬送アーム11が基板搬入位置にある状態を示し、図5Dは搬送アーム11が基板搬出位置にある状態を示す。この構成の場合、搬送アーム11は、少なくとも最初の処理ブロック(本実施例では予備加熱ブロック2)から基板搬出位置(図5Dの基板5の位置)までを含む長さを有していればよい。   5C and 5D show a configuration in which only one end portion 11c of the transfer arm 11 is supported by the guide 13. FIG. FIG. 5C shows a state where the transfer arm 11 is at the substrate carry-in position, and FIG. 5D shows a state where the transfer arm 11 is at the substrate carry-out position. In the case of this configuration, the transfer arm 11 may have a length including at least the first processing block (the preheating block 2 in this embodiment) to the substrate unloading position (the position of the substrate 5 in FIG. 5D). .

図5A及び5B又は図5C及び5Dの装置においては、3枚の基板を1ユニットとして搬送及び処理を行うようにすればよい。なお、図4A及び4Cのように1ユニットの基板が基板搬入位置で載置された状態から、搬送アーム11の順方向及び逆方向の搬送動作と各下部ブロックの昇降動作とを適宜組み合わせることにより、図5B及び5Dのように当該ユニットの最後の基板が搬出位置にある状態に到達することができる。これにより、図4B及び4Dのようにk番目のユニットの基板53k−2、53k−1及び53kのうちの最後の基板53kの処理を終了した状態から、搬送アーム11を逆方向に戻し、図5A及び5Cに示す状態と同様に、k+1番目のユニットの基板53k+1、53k+2及び53k+3を搬送アーム11に載置して次の処理を開始することができる。本実施例の構成により、搬送アーム11の長さを最小限とすることにより、装置全体を小型化することができる。 In the apparatus of FIGS. 5A and 5B or FIGS. 5C and 5D, the three substrates may be transported and processed as one unit. As shown in FIGS. 4A and 4C, from the state in which the substrate of one unit is placed at the substrate carry-in position, the forward and backward transport operations of the transport arm 11 and the lifting operation of each lower block are appropriately combined. 5B and 5D, it is possible to reach a state where the last substrate of the unit is in the unloading position. 4B and 4D, the transfer arm 11 is moved in the reverse direction from the state where the processing of the last substrate 53k among the substrates 53k-2 , 53k-1, and 53k of the kth unit is completed. In the same manner as in the states shown in FIGS. 5A and 5C, the substrates 5 3k + 1 , 5 3k + 2 and 5 3k + 3 of the (k + 1) th unit can be placed on the transfer arm 11 and the next processing can be started. With the configuration of this embodiment, the entire apparatus can be reduced in size by minimizing the length of the transfer arm 11.

<実施例4>
上記第1乃至第3の実施例では、装置に複数の下部ブロックが含まれる構成を示したが、本実施例では、装置に単一の下部ブロックのみが含まれる構成を示す。図6A〜6Dに示すように、本実施例の装置は、搬送機構1、加圧加熱ブロック3及び冷却ノズル45を備える。冷却ノズル45は搬送アーム11に向けて、又は移動していく基板5に対して、冷風又は冷却剤を吹きつけて搬送アーム11上の基板5を冷却する。なお、図6A〜6Dでは、冷却ノズル45が搬送アーム11の上方から下方に向けて冷却作用を及ぼす構成が図示されているが、冷却ノズル45が搬送アーム11の下方から上方に向けて冷却作用を及ぼす構成としてもよいし、両者を併用してもよい。
<Example 4>
In the first to third embodiments described above, the apparatus includes a plurality of lower blocks. However, in the present embodiment, the apparatus includes only a single lower block. As shown in FIGS. 6A to 6D, the apparatus of this embodiment includes a transport mechanism 1, a pressure heating block 3, and a cooling nozzle 45. The cooling nozzle 45 cools the substrate 5 on the transfer arm 11 by blowing cold air or a coolant toward the transfer arm 11 or the moving substrate 5. 6A to 6D show a configuration in which the cooling nozzle 45 exerts a cooling action from the upper side to the lower side of the transfer arm 11, but the cooling nozzle 45 has a cooling action from the lower side to the upper side of the transfer arm 11. It is good also as a structure which exerts, and you may use both together.

図6Aに示すように、下部ブロック31が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が下部ブロック31と上部ブロック32の間に搬送される。そして図6Bに示すように、下部ブロック31が上昇位置まで上昇されて加圧加熱ブロック3による基板5−1の封着処理が行われる。   As shown in FIG. 6A, the lower block 31 is lowered to the lowered position, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrate 5-1 is transferred between the lower block 31 and the upper block 32. Then, as shown in FIG. 6B, the lower block 31 is raised to the raised position, and the sealing process of the substrate 5-1 by the pressure heating block 3 is performed.

基板5−1の封着処理が終了すると、図6Cに示すように、下部ブロック31が降下位置まで降下され、その後、冷却ノズル45が冷却動作を開始する。そして図6Dに示すように、搬送アーム11が順方向にスライドされ、基板5−1が冷却ノズル45の下方に搬送されるとともに基板5−2が下部ブロック31と上部ブロック32の間に搬送される。図6Eに示すように、基板5−1の冷却処理が行われつつ、下部ブロック31が上昇位置まで上昇されて基板5−2の封着処理が開始される。そして図6Fに示すように、搬送アーム11が順方向にスライドされ、基板5−1が冷却ノズル45の下方を通過して搬出位置まで搬送され、取り出される。   When the sealing process of the substrate 5-1 is finished, as shown in FIG. 6C, the lower block 31 is lowered to the lowered position, and then the cooling nozzle 45 starts the cooling operation. 6D, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, the substrate 5-1 is transferred below the cooling nozzle 45, and the substrate 5-2 is transferred between the lower block 31 and the upper block 32. The As shown in FIG. 6E, while the cooling process of the substrate 5-1 is performed, the lower block 31 is raised to the raised position, and the sealing process of the substrate 5-2 is started. Then, as shown in FIG. 6F, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrate 5-1 passes below the cooling nozzle 45 and is transferred to the carry-out position and taken out.

図6Fにおいて基板5−1が取り出された状態は、図6Bの状態で基板が1つ進んだ状態となる。従って、以降は、基板5−nの処理が終了するまで図6B〜6Dの搬送及び処理の動作が繰り返される。従って、図6Cから6Fにかけて基板5が冷却ノズル45の下方で移動又は停止している間に基板5の冷却処理を継続的に行うことができる。   In FIG. 6F, the state where the substrate 5-1 is taken out is a state where the substrate is advanced by one in the state shown in FIG. 6B. Therefore, thereafter, the conveyance and processing operations of FIGS. 6B to 6D are repeated until the processing of the substrate 5-n is completed. Therefore, the cooling process of the substrate 5 can be continuously performed while the substrate 5 moves or stops below the cooling nozzle 45 from FIGS. 6C to 6F.

このように、本実施例の構成によると、ある処理ブロックで一方の基板が処理されている間に他方の基板を搬送可能としたので、基板を静止させて行うべき処理と基板を移動させながらでも実行可能な処理を並列に実行することができる。即ち、1つの処理ブロックでの処理時間内に他の処理を終了させることができ、処理全体の所要時間を短縮することができる。   As described above, according to the configuration of the present embodiment, since the other substrate can be transported while one substrate is being processed in a certain processing block, the processing to be performed while moving the substrate while moving the substrate stationary. However, the executable processing can be executed in parallel. That is, other processing can be completed within the processing time of one processing block, and the time required for the entire processing can be shortened.

<実施例5>
上記第1及び第2の実施例では、最も時間のかかる封着処理中に次段の冷却処理を終了して基板を取り出すことができる構成を示したが、本実施例では封着処理中により多くの他の処理を実行する例を示す。図7A〜7Hを参照して本実施例における搬送処理を説明する。本変形例では、処理ブロックは加圧加熱ブロック3、急冷用の一次冷却ブロック6、後段の二次冷却ブロック7からなる。他の処理ブロックと同様に、一次冷却ブロック6も下部ブロック61、上部ブロック62及び昇降機構63を備え、二次冷却ブロック7も下部ブロック71、上部ブロック72及び昇降機構73を備えるものとする。下部ブロック61には凹部61a及び61bが、下部ブロック71には凹部71a及び71bが設けられる。また、上部ブロック62及び72内にはそれぞれ一次冷却部64及び二次冷却部74が設けられる。
<Example 5>
In the first and second embodiments, the configuration in which the next cooling process can be completed and the substrate can be taken out during the most time-consuming sealing process is shown. An example of performing many other processes is shown. The conveyance process in a present Example is demonstrated with reference to FIG. In the present modification, the processing block includes a pressure heating block 3, a primary cooling block 6 for rapid cooling, and a secondary cooling block 7 in the subsequent stage. As with the other processing blocks, the primary cooling block 6 includes a lower block 61, an upper block 62, and an elevating mechanism 63, and the secondary cooling block 7 includes a lower block 71, an upper block 72, and an elevating mechanism 73. The lower block 61 is provided with recesses 61a and 61b, and the lower block 71 is provided with recesses 71a and 71b. A primary cooling unit 64 and a secondary cooling unit 74 are provided in the upper blocks 62 and 72, respectively.

本実施例では、加圧加熱ブロック3、一次冷却ブロック6及び二次冷却ブロック7における処理のタクトタイムをそれぞれT3、T6及びT7とした場合、T3=T6+T7であるものとする。   In this embodiment, when the tact times of the processes in the pressure heating block 3, the primary cooling block 6 and the secondary cooling block 7 are T3, T6 and T7, respectively, it is assumed that T3 = T6 + T7.

図7Aにおいて、下部ブロック31が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が下部ブロック31と上部ブロック32の間に搬送される。そして図7Bにおいて下部ブロック31が上昇位置に上昇されて封着処理が行われる。   In FIG. 7A, the lower block 31 is lowered to the lowered position, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrate 5-1 is transferred between the lower block 31 and the upper block 32. 7B, the lower block 31 is raised to the raised position, and the sealing process is performed.

基板5−1の封着処理が終了すると、図7Cに示すように、下部ブロック61及び31が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1及び5−2がそれぞれ下部ブロック61と上部ブロック62の間及び下部ブロック31と上部ブロック32の間に搬送される。そして図7Dに示すように、下部ブロック61及び31が上昇位置まで上昇されて一次冷却ブロック6による基板5−1の一次冷却処理及び加圧加熱ブロック3による基板5−2の封着処理が行われる。また、図7Dにおいて、搬送アーム11が逆方向にスライドされて基板5−3の位置が後退される。   When the sealing process of the substrate 5-1 is finished, as shown in FIG. 7C, the lower blocks 61 and 31 are lowered to the lowered position, the transfer arm 11 is slid in the forward direction, and the substrates 5-1 and 5-2 are moved. It is conveyed between the lower block 61 and the upper block 62 and between the lower block 31 and the upper block 32, respectively. Then, as shown in FIG. 7D, the lower blocks 61 and 31 are raised to the raised position, and the primary cooling process of the substrate 5-1 by the primary cooling block 6 and the sealing process of the substrate 5-2 by the pressure heating block 3 are performed. Is called. In FIG. 7D, the transfer arm 11 is slid in the reverse direction, and the position of the substrate 5-3 is retracted.

基板5−2の封着処理中に基板5−1の一次冷却処理が終了すると、図7Eに示すように下部ブロック71及び61が降下位置まで降下され、図7Fに示すように搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が下部ブロック71と上部ブロック72の間に搬送される。そして図7Gに示すように、下部ブロック71が上昇位置まで上昇されて二次冷却ブロック7による基板5−1の二次冷却処理が行われる。図7E〜7Gにおいて、加圧加熱ブロック3による基板5−2の封着処理は継続される。   When the primary cooling process of the substrate 5-1 is completed during the sealing process of the substrate 5-2, the lower blocks 71 and 61 are lowered to the lowered position as shown in FIG. 7E, and the transfer arm 11 is moved as shown in FIG. 7F. The substrate 5-1 is slid in the forward direction and conveyed between the lower block 71 and the upper block 72. Then, as shown in FIG. 7G, the lower block 71 is raised to the raised position, and the secondary cooling process of the substrate 5-1 by the secondary cooling block 7 is performed. 7E to 7G, the sealing process of the substrate 5-2 by the pressure heating block 3 is continued.

基板5−1の二次冷却処理及び基板5−2の封着処理が終了すると、図7Hに示すように、下部ブロック71、61及び31が降下位置まで降下され、搬送アーム11が順方向にスライドされて基板5−1が搬出位置まで搬送され、基板5−1が取り出される。また、図7Hにおける搬送アーム11のスライド動作によって、基板5−2及び基板5−3がそれぞれ下部ブロック61と上部ブロック62の間及び下部ブロック31と上部ブロック32の間に搬送される。   When the secondary cooling process of the substrate 5-1 and the sealing process of the substrate 5-2 are finished, as shown in FIG. 7H, the lower blocks 71, 61 and 31 are lowered to the lowered position, and the transfer arm 11 is moved in the forward direction. The substrate 5-1 is slid and conveyed to the carry-out position, and the substrate 5-1 is taken out. 7H, the substrate 5-2 and the substrate 5-3 are transferred between the lower block 61 and the upper block 62 and between the lower block 31 and the upper block 32, respectively.

その後、下部ブロック61及び31が上昇位置まで上昇されると、図7Dの状態で基板が1つ進んだ状態(即ち、一次冷却ブロック6に基板5−2が、加熱加圧ブロック3に基板5−3がそれぞれ対応する状態)となる。以降は、基板5−nの処理が終了するまで図7D〜7Hの搬送及び処理の動作が繰り返される。   Thereafter, when the lower blocks 61 and 31 are raised to the raised position, the substrate is advanced by one in the state of FIG. 7D (ie, the substrate 5-2 is in the primary cooling block 6 and the substrate 5 is in the heating and pressurizing block 3). −3 is a corresponding state). Thereafter, the conveyance and processing operations of FIGS. 7D to 7H are repeated until the processing of the substrate 5-n is completed.

このように、本実施例の構成によると、ある処理ブロックでの処理中に他の複数のブロックの処理を実行できるので所定の全体処理時間内に効率的に各種処理を行うことができる。例えば、従来技術のように各基板を等間隔に維持して一定速度で搬送したとすると、2枚の基板について、T3×2の時間内に封着処理及び1段の冷却処理しか行うことができなかったのに対し、本変形例では、同じT3×2の時間内に封着処理及び2段の冷却処理を行うことができる。   As described above, according to the configuration of the present embodiment, the processing of a plurality of other blocks can be executed during the processing of a certain processing block, so that various types of processing can be performed efficiently within a predetermined overall processing time. For example, assuming that each substrate is transported at a constant speed while maintaining the same interval as in the prior art, only the sealing process and the one-stage cooling process can be performed within a time of T3 × 2 for two substrates. In contrast, in this modification, the sealing process and the two-stage cooling process can be performed within the same T3 × 2 time.

なお、本実施例では冷却ブロックを2段としたが、予備加熱ブロックを2段としてもよい。また、本実施例でも第2の実施例と同様に、3枚の基板を1ユニットとして搬送及び処理を行う構成として搬送アーム11を最小限の長さとするようにしてもよい。   In this embodiment, the cooling block has two stages, but the preheating block may have two stages. Also in this embodiment, similarly to the second embodiment, the transport arm 11 may be configured to have a minimum length as a configuration for transporting and processing three substrates as one unit.

<変形例>
上記第1の実施例等においては、例えば、図4H及び図7Dに示すように、m番目の基板とm+1番目の基板の間隔を調整するために搬送アーム11を逆方向にスライドする工程が含まれていたが、変形例として、搬送アーム11を順方向のみにスライドさせつつも基板間隔を調整できる構成を示す。
<Modification>
In the first embodiment and the like, for example, as shown in FIGS. 4H and 7D, a step of sliding the transfer arm 11 in the reverse direction to adjust the distance between the mth substrate and the m + 1th substrate is included. However, as a modification, a configuration in which the substrate interval can be adjusted while the transfer arm 11 is slid only in the forward direction is shown.

図8A〜8Cに本変形例の装置を示す。本変形例の装置は基板送出ブロック8を処理ブロック群の前段に備える。処理ブロックとして予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3及び冷却ブロック4を図示するが、本変形例は任意の処理ブロックに対して適用できる。基板送出ブロック8は下部ブロック81及び昇降機構83を備え、下部ブロック81は降下位置と上昇位置の間で昇降機構83によって昇降される。   8A to 8C show an apparatus according to this modification. The apparatus according to this modification includes a substrate delivery block 8 at the front stage of the processing block group. Although the preheating block 2, the pressure heating block 3, and the cooling block 4 are illustrated as processing blocks, this modification can be applied to any processing block. The substrate delivery block 8 includes a lower block 81 and an elevating mechanism 83, and the lower block 81 is moved up and down by the elevating mechanism 83 between a lowered position and a raised position.

図8Aに示す状態において、基板5は搬送アーム11上にあり、順方向に搬送されている。一方、基板5m+1以降は下部ブロック81上にあり、搬送アーム11から離れて停止している。図8Bに示すように、搬送される基板5と待機中の基板5m+1の間隔が所望の距離になるときに下部ブロック81が降下位置まで降下され、基板5m+1が搬送アーム11に載置及び送出される。この基板5m+1の送出動作中に基板5m+2以降も搬送アーム11に載置されるが、下部ブロック81は基板5m+1を搬送アーム11上に送出した後、図8Cに示すように速やかに上昇位置に戻されるので、基板5m+2以降は再び搬送アーム11から離れて下部ブロック81上に指示され、停止する。 In the state shown in FIG. 8A, the substrate 5m is on the transport arm 11 and is transported in the forward direction. On the other hand, the substrate 5 m + 1 and thereafter are on the lower block 81 and are stopped away from the transfer arm 11. As shown in FIG. 8B, when the distance between the transported substrate 5 m and the standby substrate 5 m + 1 reaches a desired distance, the lower block 81 is lowered to the lowered position, and the substrate 5 m + 1 is placed on the transport arm 11. And sent out. This substrate 5 m + 1 substrate 5 m + 2 or later during transmitting operation is also mounted on the carrier arm 11, after the lower block 81 that sent the substrate 5 m + 1 on the carrier arm 11, rises rapidly as shown in FIG. 8C Since the position is returned to the position, the substrate 5 m + 2 and thereafter are again moved away from the transfer arm 11 and directed to the lower block 81 and stopped.

このように、本変形例によると、複数の基板5について、それぞれの搬送アーム11上での間隔を所望な距離に調整することができる。例えば、基板5と基板5m+1の間隔は、1処理ブロック間隔(隣接処理ブロックで基板が同時に処理され得る距離)又は2処理ブロック間隔(例えば、1番目の処理ブロックと3番目の処理ブロックで基板が同時に処理され得る距離)とすることができる。 As described above, according to the present modification, the intervals on the transfer arms 11 can be adjusted to a desired distance for the plurality of substrates 5. For example, the distance between the substrate 5 m and the substrate 5 m + 1 is 1 processing block interval (distance that the substrate can be processed simultaneously in adjacent processing blocks) or 2 processing block intervals (for example, the first processing block and the third processing block). Distance that the substrates can be processed simultaneously).

以上に実施例及び変形例を用いて説明したように、本発明の構成は種々の有利な効果を有する。
例えば、本発明の構成によると、先行の基板の処理中に後続の基板を搬送したり、後続の基板の処理中に先行の基板の処理を搬送したりすることができる。従って、複数の処理工程からなる基板の搬送及び処理装置において、処理全体の時間を短縮し、あるいは一定の処理時間内により多くの処理を行うことができ、生産効率の向上を図ることができる。
As described above using the embodiments and the modifications, the configuration of the present invention has various advantageous effects.
For example, according to the configuration of the present invention, a subsequent substrate can be transferred during processing of the preceding substrate, or a processing of the preceding substrate can be transferred during processing of the subsequent substrate. Therefore, in the substrate transfer and processing apparatus composed of a plurality of processing steps, the entire processing time can be shortened, or more processing can be performed within a certain processing time, and the production efficiency can be improved.

また、本発明の搬送及び処理装置は、摺動可能な搬送アームを備えた搬送機構、及び搬送アームが挿通可能な凹部と設けた下部ブロックを有する処理ブロックからなる簡素な構成で構築できるので、装置の汎用性に優れる。   In addition, since the transport and processing apparatus of the present invention can be constructed with a simple configuration comprising a transport mechanism having a slidable transport arm, and a processing block having a recessed portion through which the transport arm can be inserted and a lower block provided, Excellent device versatility.

また、本発明の搬送及び処理装置においては、処理中の基板が搬送アームから離れている状態(例えば、全ての基板が下部ブロックによって支持されている状態)の間に、搬送アーム11を逆方向に移動させて基板搬入位置に戻すことができる。従って、搬送アーム11に頻繁に基板を載置することができるので、短い搬送アーム11であっても多数の基板を連続的に処理することができる。即ち、搬送アーム11を短くして装置全体を小型にすることもできる。   In the transfer and processing apparatus of the present invention, the transfer arm 11 is moved in the reverse direction while the substrate being processed is away from the transfer arm (for example, all the substrates are supported by the lower block). To return to the substrate loading position. Therefore, since the substrate can be frequently placed on the transfer arm 11, a large number of substrates can be processed continuously even with the short transfer arm 11. That is, the transfer arm 11 can be shortened to reduce the size of the entire apparatus.

上記実施例及び変形例において本発明の好適な実施態様を説明したが、本発明の構成について以下を注記しておく。
実施例及び変形例においては下部ブロック及び上部ブロックを直方体として記載したが、必ずしも直方体である必要はない。例えば、上部ブロックは、下部ブロックによって支持される基板に対して所望の処理を施すことができれば、どのような形状であってもよい。言い換えると、本明細書でいう「ブロック」は直方体に限定して解釈されるべきではなく、上記の処理を実行できる1つの部材群として解釈されるべきである。
Although the preferred embodiments of the present invention have been described in the above-described examples and modifications, the following is noted about the configuration of the present invention.
In the embodiment and the modification, the lower block and the upper block are described as a rectangular parallelepiped, but they are not necessarily a rectangular parallelepiped. For example, the upper block may have any shape as long as a desired process can be performed on the substrate supported by the lower block. In other words, the “block” in this specification should not be interpreted as being limited to a rectangular parallelepiped, but should be interpreted as one member group capable of executing the above-described processing.

実施例及び変形例では、各下部ブロックの動作において基板が上部ブロックに当接又は内包される構成を示したが、各処理ブロックでの処理の性質に応じて、必ずしも基板は上部ブロックに当接又は内包されなくてもよい。即ち、本発明の装置は、下部ブロックが上昇位置にある場合に、上部ブロックが基板に所望の作用を及ぼすことができるように基板が上部ブロックに少なくとも接近させられる構成であればよい。   In the embodiment and the modification, the configuration in which the substrate is in contact with or included in the upper block in the operation of each lower block is shown, but the substrate is not necessarily in contact with the upper block depending on the nature of the processing in each processing block. Or it may not be included. That is, the apparatus of the present invention only needs to have a configuration in which the substrate is at least brought close to the upper block so that the upper block can exert a desired action on the substrate when the lower block is in the raised position.

実施例及び変形例では、処理ブロックとして、予備加熱ブロック2、加圧加熱ブロック3、冷却ブロック4等を示したが、他の処理ブロックを設けてもよい。例えば、冷却ブロックの後段に完成基板の良/不良を識別する検査ブロックを設けてもよいし、基板を埃、水分、静電気等から保護するためのカバーをつける包装ブロック等を設けてもよい。また、本発明の構成は加熱封止装置だけでなく、同様の搬送動作が必要な他の装置に適用することもできる。   In the embodiment and the modification, the preheating block 2, the pressure heating block 3, the cooling block 4 and the like are shown as the processing blocks, but other processing blocks may be provided. For example, an inspection block for identifying good / bad of the completed substrate may be provided after the cooling block, or a packaging block with a cover for protecting the substrate from dust, moisture, static electricity, or the like may be provided. Further, the configuration of the present invention can be applied not only to the heat sealing device but also to other devices that require the same transfer operation.

実施例及び変形例においては搬送アーム11がガイド13上を摺動される構成を示したが、スライド機構12が搬送アーム11の搬送方向を誘導できるものであれば、搬送アーム側に車輪等の回転部材を設けて搬送アーム11が平面上を走る構成としてもよい。   In the embodiment and the modified example, the configuration in which the transport arm 11 is slid on the guide 13 is shown. However, if the slide mechanism 12 can guide the transport direction of the transport arm 11, a wheel or the like is placed on the transport arm side. It is good also as a structure which provides a rotation member and the conveyance arm 11 runs on a plane.

実施例及び変形例においては搬送アームを2本とし、対応する各下部ブロックの凹部を2箇所としたが、搬送アームは互いに平行であれば3本以上としてもよい。また、基板が安定に載置されるのであれば搬送アームを1本としてもよい。いずれの場合においても、各下部ブロックの凹部は搬送アームの位置に対応させて設けられればよい。   In the embodiment and the modification, the number of transfer arms is two and the number of corresponding recesses in each lower block is two. However, the number of transfer arms may be three or more as long as they are parallel to each other. Further, if the substrate is stably placed, one transfer arm may be used. In any case, the recess of each lower block may be provided corresponding to the position of the transfer arm.

1.搬送機構
2.予備加熱ブロック
3.加圧加熱ブロック
4.冷却ブロック
5.基板
6.一次冷却ブロック
7.二次冷却ブロック
8.基板送出ブロック
11、11a、11b.搬送アーム
12.スライド機構
13、13a、13b.ガイド
14.基板搬入機構
15.基板搬出機構
21、31、41、61、71、81.下部ブロック
22、32、42、62、72.上部ブロック
23、33、43、63、73、83.昇降機構
31a、31b.凹部
31c.上面
45.冷却ノズル
1. 1. Transport mechanism Preheating block
3. 3. Pressure heating block 4. Cooling block Substrate 6. Primary cooling block 7. Secondary cooling block8. Substrate delivery blocks 11, 11a, 11b. Transfer arm 12. Slide mechanism 13, 13a, 13b. Guide 14. Substrate loading mechanism 15. Substrate carry-out mechanism 21, 31, 41, 61, 71, 81. Lower blocks 22, 32, 42, 62, 72. Upper blocks 23, 33, 43, 63, 73, 83. Elevating mechanism 31a, 31b. Recess 31c. Upper surface 45. Cooling nozzle

Claims (6)

基板の搬送及び処理装置であって、
基板を載置可能な搬送アーム、
前記搬送アームを基板搬送方向に摺動させるスライド機構、
第1の下部ブロック及び第1の上部ブロックからなる第1の処理ブロック、及び
前記第1の下部ブロックを降下位置と上昇位置の間で昇降させる第1の昇降機構
を備え、
前記第1の下部ブロックが、前記搬送アームの摺動方向に延在して上面が開放された凹部を有し、
前記第1の下部ブロックが前記降下位置にある場合に、前記搬送アームに保持された基板が前記第1の上部ブロックと該第1の下部ブロックの間を通過可能であり、
前記第1の下部ブロックが前記上昇位置にある場合に、該基板が該第1の下部ブロックに支持されて該第1の上部ブロックに接近させられ、かつ、前記凹部で画定される空間を前記搬送アームが移動可能に構成された装置。
A substrate transfer and processing apparatus,
A transfer arm on which a substrate can be placed,
A slide mechanism for sliding the transfer arm in the substrate transfer direction;
A first processing block comprising a first lower block and a first upper block, and a first lifting mechanism for lifting and lowering the first lower block between a lowered position and a raised position,
The first lower block has a recess extending in a sliding direction of the transfer arm and having an open upper surface;
When the first lower block is in the lowered position, the substrate held by the transfer arm can pass between the first upper block and the first lower block;
When the first lower block is in the raised position, the substrate is supported by the first lower block so as to approach the first upper block, and a space defined by the recess is formed in the space. A device in which the transfer arm is movable.
請求項1に記載の装置であって、さらに、
第2の下部ブロック及び第2の上部ブロックからなり、前記第1の処理ブロックに対して基板搬送方向に配置された第2の処理ブロック、及び
前記第2の下部ブロックを降下位置と上昇位置の間で昇降させる第2の昇降機構
を備え、
前記第2の下部ブロックが、前記搬送アームの摺動方向に延在して上面が開放された凹部を有し、
前記第2の下部ブロックが前記降下位置にある場合に、前記搬送アームに保持された基板が前記第2の上部ブロックと該第2の下部ブロックの間を通過可能であり、
前記第2の下部ブロックが前記上昇位置にある場合に、該基板が該第2の下部ブロックによって支持されて上部ブロックに接近させられ、かつ、前記凹部で画定される空間を前記搬送アームが移動可能に構成され、
前記第1の下部ブロックと前記第2の下部ブロックが独立して昇降可能に構成された装置。
The apparatus of claim 1, further comprising:
A second processing block, which is composed of a second lower block and a second upper block, and is disposed in the substrate transport direction with respect to the first processing block; and Second lifting mechanism that moves up and down
With
The second lower block has a recess extending in the sliding direction of the transfer arm and having an open upper surface;
When the second lower block is in the lowered position, the substrate held by the transfer arm can pass between the second upper block and the second lower block;
When the second lower block is in the raised position, the substrate is supported by the second lower block to approach the upper block, and the transfer arm moves in a space defined by the recess. Configured and possible
An apparatus in which the first lower block and the second lower block can be moved up and down independently.
請求項2に記載の装置において、前記第2の処理ブロックが前記第1の処理ブロックに対して前記搬送アームの搬送方向の後段に配置され、該第1の処理ブロックが、該基板を加熱及び加圧する加圧加熱ブロックであり、該第2の処理ブロックが、該基板を冷却する冷却ブロックであり、
前記第1の下部ブロックが上昇位置にあり前記第1の処理ブロックによって前記基板が処理される間に、前記第2の下部ブロックが降下位置まで降下され、前記搬送アームが前記第2の処理ブロックから先行基板を搬出するように構成された装置。
3. The apparatus according to claim 2, wherein the second processing block is disposed downstream of the first processing block in the transport direction of the transport arm, and the first processing block heats the substrate. A pressure heating block for pressing, and the second processing block is a cooling block for cooling the substrate;
While the first lower block is in the raised position and the substrate is processed by the first processing block, the second lower block is lowered to the lowered position, and the transfer arm is moved to the second processing block. An apparatus configured to unload a preceding substrate from
請求項2に記載の装置において、前記第2の処理ブロックが前記第1の処理ブロックに対して前記搬送アームの搬送方向の前段に配置され、該第1の処理ブロックが、該基板を加熱及び加圧する加圧加熱ブロックであり、該第2の処理ブロックが、該基板を予め加熱する予備加熱ブロックであり、
前記第1の下部ブロックが上昇位置にあり前記第1の処理ブロックによって前記基板が処理される間に、前記第2の下部ブロックが降下位置まで降下され、前記搬送アームが前記第2の処理ブロックに後続基板を搬入するように構成された装置。
3. The apparatus according to claim 2, wherein the second processing block is disposed upstream of the first processing block in the transport direction of the transport arm, and the first processing block heats the substrate. A pressure heating block for pressing, and the second processing block is a preheating block for preheating the substrate;
While the first lower block is in the raised position and the substrate is processed by the first processing block, the second lower block is lowered to the lowered position, and the transfer arm is moved to the second processing block. An apparatus configured to carry a subsequent substrate into the apparatus.
請求項1から4のいずれか一項に記載の装置において、前記搬送アームが前記スライド機構によって、前記基板搬送方向の第1の方向及びその逆の第2の方向に移動可能に構成された装置。   5. The apparatus according to claim 1, wherein the transfer arm is configured to be movable in a first direction of the substrate transfer direction and a second direction opposite thereto by the slide mechanism. 6. . 請求項1に記載の装置において、前記第1の処理ブロックが、前記基板に搭載された素子を封着するために、前記第1の下部ブロック及び前記第1の上部ブロックで該基板を挟み込み、該素子を加熱及び加圧する加圧加熱ブロックである装置。   The apparatus according to claim 1, wherein the first processing block sandwiches the substrate between the first lower block and the first upper block in order to seal an element mounted on the substrate, An apparatus that is a pressure heating block that heats and pressurizes the element.
JP2012104411A 2012-05-01 2012-05-01 Substrate transport and processing equipment Active JP5911170B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012104411A JP5911170B2 (en) 2012-05-01 2012-05-01 Substrate transport and processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012104411A JP5911170B2 (en) 2012-05-01 2012-05-01 Substrate transport and processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013232575A JP2013232575A (en) 2013-11-14
JP5911170B2 true JP5911170B2 (en) 2016-04-27

Family

ID=49678749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012104411A Active JP5911170B2 (en) 2012-05-01 2012-05-01 Substrate transport and processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5911170B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102217826B1 (en) * 2013-11-26 2021-02-18 토레이 엔지니어링 컴퍼니, 리미티드 Mounting device and mounting method
CN109353111B (en) * 2018-11-20 2023-09-19 浙江唐风工艺品有限公司 Automatic laminating machine

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008226980A (en) * 2007-03-09 2008-09-25 Hiroshi Takakura Reflow device
JP5590530B2 (en) * 2010-08-03 2014-09-17 富士機械製造株式会社 PCB printing system

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013232575A (en) 2013-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101331626B1 (en) Panel convey apparatus and panel processing system using the apparatus
JP4821756B2 (en) To-be-processed object transfer mechanism, to-be-processed object transfer method, and to-be-processed object processing system
JP5001172B2 (en) Workpiece machining apparatus and workpiece machining method
CN101849025B (en) Device and method for loading and unloading a heat treatment furnace
US20130119112A1 (en) Reflow soldering system
WO2013031739A1 (en) Conveyor
JP5911170B2 (en) Substrate transport and processing equipment
KR102198675B1 (en) Film forming device
US6722412B2 (en) Die bonder
JP2012059798A (en) Component mounting apparatus
CN103891422B (en) Handling device
TWI453847B (en) Method and device for supplying and discharging carriers with electronic components
JP5533650B2 (en) Automatic soldering equipment
JP2008156736A (en) Device for transporting object to be treated in surface treatment apparatus
KR102198676B1 (en) Film forming device
KR102189288B1 (en) Die bonding apparatus
JP6721466B2 (en) Heat treatment equipment
JP6476076B2 (en) Transport device
JP4754791B2 (en) Vacuum processing equipment
WO2015170427A1 (en) Multistage heating apparatus and method for taking workpiece in and out of mutistage furnace
KR101600394B1 (en) Transporting apparatus for magazine accommodating semiconductor component
KR101604387B1 (en) Method and apparatus of rapid casting system using progressive heating
JP5955596B2 (en) Mounting machine
JP6028909B2 (en) Sealing device
JP2003094259A (en) Substrate transfer line

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150428

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160223

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160301

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160328

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5911170

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250