JP5901895B2 - 電気測定用プローブ - Google Patents

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Description

本発明は、四端子測定法による抵抗測定装置に用いられるワニ口クリップからなる電気測定用プローブに関し、さらに詳しく言えば、一対のワニ口クリップを正しいかみ合わせのもとでゼロアジャストが行えるようにした電気測定用プローブに関するものである。
図10に示すように、四端子測定法による抵抗測定装置は、基本的な構成として、被測定抵抗体Rxに測定電流を供給する定電流源100と、その測定電流により被測定抵抗体Rxに生ずる電圧降下分を検出する電圧測定手段(電圧計)200とを備え、演算制御部300は、定電流源100から供給される測定電流をI,電圧測定手段200にて測定された電圧をVとして、被測定抵抗体Rxが有する抵抗値RをR=V/Iにより求める。
プローブには、電流供給用としての2つのソース(SOURCE)プローブ101,102と、電圧検出用としての2つのセンス(SENSE)プローブ201,202とが用いられ、原理的には、測定用リード線の配線抵抗や、被測定抵抗体Rxに対するプローブの接触抵抗の影響を受けないとされているため、特に低抵抗測定に多用されている。
各プローブには、それぞれ単独ピンとして構成されたプローブピンが用いられてもよいが、通常では、操作の便宜上、特許文献1に記載され、図11に示すように、第1および第2の2つのワニ口クリップ1,2が用いられる。特許文献1では、ワニ口クリップをクリップ型プローブと称している。
各ワニ口クリップ1,2は、ともに被測定抵抗体Rxの端子部Ra,Rbを挟持する一対の挟持片11a,12a;21a,22aを有し、これらの各挟持片11a,12a;21a,22aには、それぞれ、操作レバー11b,12b;21b,22bが連設されている。
なお、各挟持片11a,12a;21a,22aは、図示しないバネ手段により、互いに閉じる方向に付勢されている。また、各操作レバー11b,12b;21b,22bには、電気絶縁樹脂等による被覆が施されている。
この例において、第1ワニ口クリップ1が定電流源100および電圧測定手段200のHi(高電位)側に接続され、第2ワニ口クリップ2が定電流源100および電圧測定手段200のLo(低電位;グランド)側に接続されている。
したがって、第1ワニ口クリップ1の一方の挟持片11aが図10におけるソースHi側プローブ101に相当し、他方の挟持片12aが図10におけるセンスHi側プローブ201に相当する。
同様に、第2ワニ口クリップ2の一方の挟持片21aが図10におけるソースLo側プローブ102に相当し、他方の挟持片22aが図10におけるセンスLo側プローブ202に相当する。
このワニ口クリップによれば、被測定抵抗体Rxの一方の端子部Raを第1ワニ口クリップ1で挟み、他方の端子部Rbを第2ワニ口クリップ2で挟むことにより、四端子法による抵抗測定を行うことができるが、その測定に先立って、ゼロアジャストと呼ばれている電圧測定手段200のゼロ点を調節する必要がある。
ゼロアジャストとは、0Ωを測定した際に電圧測定手段(電圧計)200に表示されるオフセット分を差し引いてゼロ点を調節する機能であることから、センスHi側プローブ201(第2ワニ口クリップ2の挟持片12a)と、センスLo側プローブ202(第2ワニ口クリップ2の挟持片22a)との間に0Ωを接続した状態で行う必要がある。
しかしながら、抵抗値がまったくない抵抗値0Ωの試料を入手して接続することは困難であり、現実的ではない。
特開2008−185404号公報
そこで、便法として、図12(a),(b)に示すように、センスHi側プローブ201である第2ワニ口クリップ2の挟持片12aと、センスLo側プローブ202である第2ワニ口クリップ2の挟持片22aとが直接的に接触するように、第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2とを互い違いにかみ合わせる。
このワニ口クリップ1,2のかみ合わせによれば、図12(c)の等価回路に示すように、定電流源100による測定電流Iは、ソースHi側プローブ101からソースLo側プローブ102に流れ、センス側には流れないことから、センスHi側プローブ201とセンスLo側プローブ202との間は0Vとなり、正確なゼロアジャストを行うことができる。
しかしながら、第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2は、同一形状であることから、往々にして、図13(a),(b)に示すように、例えば第1ワニ口クリップ1に対して第2ワニ口クリップ2を逆さまにしてかみ合わせてしまうことがある。
すなわち、第1ワニ口クリップ1のセンスHi側プローブ201とソースHi側プローブ101との間に、第2ワニ口クリップ2のソースLo側プローブ102が挟まれ、第2ワニ口クリップ2のソースLo側プローブ102とセンスLo側プローブ202との間に、第1ワニ口クリップ1のソースHi側プローブ101が挟まれることがある。
そうすると、図13(c)の等価回路に示すように、ソースHi側プローブ101とソースLo側プローブ102との接触抵抗をRshortとして、センスHi側プローブ201とセンスLo側プローブ202との間に、I×Rshortなる電圧が発生し、センスHi側プローブ201とセンスLo側プローブ202との間が0Vにならないため、ゼロアジャストを正しく行うことができないばかりでなく、かえって誤差を足し込んでしまうことになる。
したがって、本発明の課題は、四端子測定法による抵抗測定装置に用いられるワニ口クリップからなる電気測定用プローブにおいて、一対のワニ口クリップを正しいかみ合わせのもとでゼロアジャストが行えるようにすることにある。
上記課題を解決するため、本発明は、定電流源および電圧測定手段を含む四端子法による抵抗測定装置に用いられる電気測定用プローブで、ともに被測定抵抗体の所定部位を挟む一対の挟持片を有する第1および第2の2つのワニ口クリップを備え、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片が電流供給用のソースプローブとして上記定電流源の高電位側と低電位側とに接続され、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片が電圧検出用のセンスプローブとして上記電圧測定手段の高電位側と低電位側とに接続される電気測定用プローブにおいて、
上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片のうち、上記定電流源の低電位側に接続されるソース低電位側挟持片の反挟持面側のみに電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられているとともに、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片のうち、上記電圧測定手段の高電位側に接続されるセンス高電位側挟持片の反挟持面側のみに電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられていることを特徴としている。
本発明の好ましい態様によれば、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片のうち、上記定電流源の高電位側に接続されるソース高電位側挟持片の反挟持面側と、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片のうち、上記電圧測定手段の低電位側に接続されるセンス低電位側挟持片の反挟持面側とにも、ゼロアシャスト時にかみ合わされる先端側部分を除いて電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられる。
また、本発明の好ましい態様によれば、上記抵抗測定装置は、上記定電流源および/または上記電圧測定手段の高電位側と低電位側の端子間の非導通状態を検出する断線検出機能を備えている。
本発明によれば、第1ワニ口クリップおよび第2ワニ口クリップの定電流源側に接続される各一方の挟持片のうち、定電流源の低電位側に接続されるソース低電位側挟持片の反挟持面側に電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられているとともに、第1ワニ口クリップおよび第2ワニ口クリップの電圧測定手段側に接続される各他方の挟持片のうち、電圧測定手段の高電位側に接続されるセンス高電位側挟持片の反挟持面側に電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられていることにより、第1および第2ワニ口クリップを互いにかみ合わせてゼロアジャストを行う際、先の図12(a),(b)に示した正しいかみ合わせでのみゼロアジャストを行うことができる。
本発明の実施形態に係る電気測定用プローブが備える一対のワニ口クリップによる被測定抵抗体の測定例を示す模式図。 断線検出機能を有する四端子法による抵抗測定装置の一例を示す回路構成図。 ゼロアジャスト時における上記各ワニ口クリップの正しいかみ合わせ状態を示す模式図。 上記断線検出機能により検出されるゼロアジャスト時における上記各ワニ口クリップの間違ったかみ合わせ状態の第1例を示す模式図。 上記断線検出機能により検出されるゼロアジャスト時における上記各ワニ口クリップの間違ったかみ合わせ状態の第2例を示す模式図。 上記断線検出機能により検出されるゼロアジャスト時における上記各ワニ口クリップの間違ったかみ合わせ状態の第3例を示す模式図。 上記断線検出機能により検出されるゼロアジャスト時における上記各ワニ口クリップの間違ったかみ合わせ状態の第4例を示す模式図。 上記断線検出機能では検出されないゼロアジャスト時における上記各ワニ口クリップの間違った接続例を示す模式図。 本発明の別の実施形態に係る電気測定用プローブが備える一対のワニ口クリップのゼロアジャスト時における正しいかみ合わせ状態を示す模式図。 四端子法による抵抗測定装置の構成を概略的に示す模式図。 上記抵抗測定装置のプローブとして用いられるワニ口クリップによる被測定抵抗体の測定例を示す模式図。 (a)ゼロアジャスト時におけるワニ口クリップの正しいかみ合わせ状態を示す斜視図、(b)その正しいかみ合わせを示す断面図、(c)その等価回路図。 (a)ゼロアジャスト時におけるワニ口クリップの間違った状態の一例を示す斜視図、(b)その間違ったかみ合わせを示す断面図、(c)その等価回路図。
次に、図1ないし図9により、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。なお、図1等には、作図の都合上。各ワニ口クリップが備える一対の挟持片のみが示されているが、各ワニ口クリップの全体的な構成については、先に説明した図11,図12(a)等を参照されたい。
図1に示すように、この実施形態に係る電気測定用プローブにおいて、第1ワニ口クリップ1には、図11における一方の挟持片11aとしての定電流源100の高電位(Hi)側に接続される電流供給用のソースHi側プローブ101と、他方の挟持片12aとしての電圧測定手段200の高電位(Hi)側に接続される電圧検出用のセンスHi側プローブ201とが含まれている。
また、第2ワニ口クリップ2には、図11における一方の挟持片21aとしての定電流源100の低電位(Lo)側に接続される電流供給用のソースLo側プローブ102と、他方の挟持片22aとしての電圧測定手段200の低電位(Lo)側に接続される電圧検出用のセンスLo側プローブ202とが含まれている。
上記第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2とを、図1に示すように、被測定抵抗体Rxに咬ますことにより、四端子法による抵抗測定が行われるが、本発明では、第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2の正しいかみ合わせ状態のもとで、ゼロアジャストが行えるようにするため、センスHi側プローブ201の背面と、ソースLo側プローブ102の背面とに、それぞれ電気絶縁材からなる絶縁被覆201A,102Aを設ける構成としている。
なお、プローブの背面とは、被測定抵抗体Rxに対する挟持面とは反対の反挟持面側を言う。また、ゼロアジャストとは、センスHi側プローブ201とセンスLo側プローブ202とを直接接触させて、その間を実質的に0Ωにしたときに電圧測定手段200に現れるオフセット分を検出し、実際の測定において被測定抵抗体Rxの抵抗値から、そのオフセット分を差し引く機能で、第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2とを正しいかみ合わせ状態とするのは、上記オフセット分を正確に検出するためである。
次に、図2により、この実施形態に係る電気測定用プローブ(第1および第2ワニ口クリップ1,2)が好ましく適用される四端子法による抵抗測定装置について説明する。なお、この抵抗測定装置は、本出願人の提案に係る特願2003−298004(特開2005−69786号公報)によるものである。
この四端子抵抗測定装置は、その基本的な構成として、被測定抵抗体Rxに電流供給端子であるソースHi側プローブ101とソースLo側プローブ102を介して直流の測定電流Idcを供給する定電流源100と、その測定電流Idcによって発生する被測定抵抗体Rxの電圧降下を電圧検出端子としてのセンスHi側プローブ201とセンスLo側プローブ202を介して検出する電圧測定手段200とを備えている。
図2において、RC1,RC2は、ソースHi側プローブ101とセンスHi側プローブ201の接触抵抗、RC3,RC4は、ソースLo側プローブ102とセンスLo側プローブ202の接触抵抗を示している。ソースLo側プローブ102は、定電流源100側のグランドGND1に接続され、センスLo側プローブ202は、電圧測定手段200側のグランドGND2に接続されている。この例において、グランドGND1とグランドGND2は絶縁されている。
電圧測定手段200は、測定系と断線検出系とを有し、その測定系には、増幅器210,ローパスフィルタ211,A/Dコンバータ212および判定機能を有する例えばCPUからなる制御手段213が含まれている。この例において、制御手段213にはディスプレイ(表示手段)214と外部機器接続用のインターフェイス215が接続されている。
断線検出系には、第1ないし第3の3つの断線検出手段が含まれている。第1断線検出手段は、定電流源100の振幅(直流振幅;(RC1+Rx+RC3)×Idc)と所定の基準電圧Vref1とを比較し、(RC1+Rx+RC3)×Idc>(もしくは≧)Vref1のとき、制御手段213に断線検出信号を送出する第1コンパレータ220が用いられている。
第2断線検出手段は、ソースHi側プローブ101とセンスHi側プローブ201とを含むHi側電流路に、断線検出用の交流電流Iac1を供給する第1交流電流源230と、その交流電流Iac1によってHi側電流路に発生する交流電圧(RC1+RC2)×Iac1を検出して所定に増幅する差動増幅器231と、その交流出力電圧を交流電流源230からの同期信号を受けて同期検波する第1ロックインアンプ232と、第1ロックインアンプ232にて同期検波された出力電圧VRC1と所定の基準値Vref2とを比較し、VRC1>(もしくは≧)Vref2のとき、制御手段213に断線検出信号を送出する第2コンパレータ233とを備えている。
第3断線検出手段は、ソースLo側プローブ102とセンスLo側プローブ202とを含むLo側電流路に断線検出用の交流電流Iac2を供給する第2交流電流源240と、その交流電流Iac2によってグランドGND2に対してグランドGND1側に発生する交流電圧を第2交流電流源240からの同期信号で検波する第2ロックインアンプ241と、第2ロックインアンプ241にて同期検波された出力電圧VRC2と所定の基準値Vref3とを比較し、VRC2>(もしくは≧)Vref3のとき、制御手段213に断線検出信号を送出する第3コンパレータ242とを備えている。
測定動作については、定電流源100よりソースHi側プローブ101とソースLo側プローブ102とを介して被測定抵抗体Rxに測定電流Idcを流して、そのとき被測定抵抗体Rxに生ずる電圧降下をセンスHi側プローブ201とセンスLo側プローブ202とにより検出し増幅器210で所定に増幅する。
この検出電圧には、上記断線検出用の交流電流Iac1に起因する交流成分が含まれているため、その交流成分をローパスフィルタ211で除去してA/Dコンバータ212に入力し、デジタル信号に変換して制御手段213に与える。制御手段213は検出電圧と測定電流とから被測定抵抗体Rxの抵抗値を算出し、例えばディスプレイ214に表示する。
次に、断線検出について説明する。ソースHi側プローブ101,ソースLo側プローブ102のいずれか一方もしくは両方が断線すると、定電流源100の振幅が無限大となるため、この現象が定電流源100の振幅を監視する第1コンパレータ220によって検出される。制御手段213は、第1コンパレータ220からの断線検出信号を受けて例えばディスプレイに「ソース端子(電流供給端子)断線」などと表示する。
センスHi側プローブ201の断線検出について説明すると、ソースLo側プローブ102およびセンスLo側プローブ202の各接触抵抗RC3,RC4が十分に小さい場合、差動増幅器231には、(RC1+RC2)×Iac1なる交流電圧が入力されるが、高抵抗測定時やHi側の接触抵抗RC1,RC2が著しく大きい場合、この交流電圧に電源ノイズ(50Hz,60Hz)が重畳される。この電源ノイズによる影響を除去するため、交流電流Iac1に同期した第1ロックインアンプ232を通して交流電流Iac1による電圧成分のみを取り出す。
また、これとは別に差動増幅器231のCMRR(同相信号除去比)が不十分であると、Lo側の接触抵抗RC3,RC4が大きい場合には、Lo側の交流電流Iac2の信号が重畳されることがある。この影響を排除するには、交流電流Iac1の周波数と交流電流Iac2の周波数とを異ならせればよい。制御手段213は、第2コンパレータ233のみから断線検出信号を受けた場合には、例えばディスプレイに「センスHi端子(Hi側電圧検出端子)断線」などと表示する。
次に、センスLo側プローブ202の断線検出について説明すると、定電流源100側のグランドGND1は測定部200側のグランドGND2に対して、(RC3+RC4)×Iac2なる電圧をもつ。このLo側の接触抵抗RC3,RC4が著しく大きい場合、上記と同様にその交流電圧に電源ノイズ(50Hz,60Hz)が重畳される。
この電源ノイズによる影響を除去するため、交流電流Iac2に同期した第2ロックインアンプ241を通して交流電流Iac2による電圧成分のみを取り出す。なお、外来ノイズの影響が少ない場合には、第2ロックインアンプ241に代えて整流回路を用いることもできる。制御手段213は、第3コンパレータ242のみから断線検出信号を受けた場合には、例えばディスプレイに「センスLo端子(Lo側電圧検出端子)断線」などと表示する。
次に、ゼロアジャスト時における第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2のかみ合わせ態様について説明する。なお、上記抵抗測定装置の制御手段213は、上記に説明した断線検出機能により、定電流源100および/または電圧測定手段200のHi側とLo側とが絶縁されているとき、それぞれ「断線あり(結線異常)」として測定値を表示しない。
図3は、先の図12(a),(b)で説明したように、ゼロアジャスト時における第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2の正しいかみ合わせ状態を示しており、図3において上から順に、センスHi側プローブ201→センスLo側プローブ202→ソースHi側プローブ101→ソースLo側プローブ102と交互に噛み合わされ、センスHi側プローブ201とセンスLo側プローブ202とが直接的に接続され、かつ、ソース側プローブ101,102により定電流源100のHi側とLo側とが導通され、また、センス側プローブ201,202により電圧測定手段200のHi側とLo側とが導通されているため、抵抗測定装置の制御手段213は、「断線なし(結線正常)」と判断して、実質的に0Ωで短絡状態にあるセンス側プローブ201,202間の電圧をオフセット分として表示するとともに、メモリ等に記憶する。
図4〜図7は、ゼロアジャスト時における第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2の間違ったかみ合わせ状態を示している。
まず、図4は、先の図13(a),(b)で説明したのと同じく、第1ワニ口クリップ1に対して、第2ワニ口クリップ2を逆さまにしてかみ合わせた状態を示している。
この場合、図4において上から順に、センスHi側プローブ201→ソースLo側プローブ102→ソースHi側プローブ101→センスLo側プローブ202とかみ合わされるが、ソースLo側プローブ102の背面に設けられている絶縁被覆102Aにより、センスHi側プローブ201とソースLo側プローブ102とが電気的に絶縁され、電圧測定手段200のHi側とLo側とが断線状態となるため、抵抗測定装置の制御手段213は、「断線あり(結線異常)」と判断して測定値を表示しない。このため、抵抗測定装置は、電圧測定手段(電圧計)200のオフセットを取得することができず、間違ったかみ合わせでのゼロアジャストを防止することができる。
次に、図5は、図4とは逆に第2ワニ口クリップ2に対して、第1ワニ口クリップ1を逆さまにしてかみ合わせた状態を示している。
この場合、図5において上から順に、ソースHi側プローブ101→センスLo側プローブ202→センスHi側プローブ201→ソースLo側プローブ102とかみ合わされるが、センスHi側プローブ201の背面に設けられている絶縁被覆201Aにより、センスHi側プローブ201とソースLo側プローブ102とが電気的に絶縁され、定電流源100のHi側とLo側とが断線状態となることから、抵抗測定装置の制御手段213は、「断線あり(結線異常)」と判断して測定値を表示せず、図4の場合と同様に、抵抗測定装置は、電圧測定手段(電圧計)200のオフセットを取得することができず、間違ったかみ合わせでのゼロアジャストを防止することができる。
図6は、第1ワニ口クリップ1のセンスHi側プローブ201とソースHi側プローブ101との間に、第2ワニ口クリップ2のソースLo側プローブ102とセンスLo側プローブ202とを逆さまとし、かつ、閉じた状態で挟み込んだ態様を示している。
この場合、図6において上から順に、センスHi側プローブ201→ソースLo側プローブ102→センスLo側プローブ202→ソースHi側プローブ101とかみ合わされるが、ソースLo側プローブ102の背面に設けられている絶縁被覆102Aにより、センスHi側プローブ201とソースLo側プローブ102とが電気的に絶縁され、電圧測定手段200のHi側とLo側とが断線状態となることから、抵抗測定装置の制御手段213は、「断線あり(結線異常)」と判断して測定値を表示せず、図4の場合と同様に、抵抗測定装置は、電圧測定手段(電圧計)200のオフセットを取得することができず、間違ったかみ合わせでのゼロアジャストを防止することができる。
図7は、図6とは逆に、第2ワニ口クリップ2のソースLo側プローブ102とセンスLo側プローブ202との間に、第1ワニ口クリップ1のセンスHi側プローブ201とソースHi側プローブ101とを逆さまとし、かつ、閉じた状態で挟み込んだ態様を示している。
この場合、図7において上から順に、センスLo側プローブ202→ソースHi側プローブ101→センスHi側プローブ201→ソースLo側プローブ102とかみ合わされるが、センスHi側プローブ201の背面に設けられている絶縁被覆201Aにより、センスHi側プローブ201とソースLo側プローブ102とが電気的に絶縁され、定電流源100のHi側とLo側とが断線状態となることから、抵抗測定装置の制御手段213は、「断線あり(結線異常)」と判断して測定値を表示せず、図4の場合と同様に、抵抗測定装置は、電圧測定手段(電圧計)200のオフセットを取得することができず、間違ったかみ合わせでのゼロアジャストを防止することができる。
次に、希ではあるがゼロアジャスト時に、図8に示すように、第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2とを、ともに閉じた状態で接触させることがあり得る。
この場合には、図8において上から順に、センスHi側プローブ201→ソースHi側プローブ101→センスLo側プローブ202→ソースLo側プローブ102と順次重ねられ、センスHi側プローブ201の背面に設けられている絶縁被覆201AおよびソースLo側プローブ102の背面に設けられている絶縁被覆102Aが最外側に配置されることになる。
この図8の態様によれば、定電流源100のHi側とLo側とが、また、電圧測定手段200のHi側とLo側とが、それぞれ導通状態となることから、抵抗測定装置の制御手段213は、「断線なし(結線正常)」と判断することになる。
しかしながら、実際のところ、図8の状態を維持するには、操作者の両手が第1ワニ口クリップ1と第2ワニ口クリップ2とにより塞がれ、抵抗測定装置に設けられているゼロアジャストを実行するためのボタン等を操作できないので、問題にならない。
なお、図9に示す別の実施形態として、第1ワニ口クリップ1のソースHi側プローブ101の背面に電気絶縁材からなる絶縁被覆101Aを設けるとともに、2ワニ口クリップ2のセンスLo側プローブ202の背面にも電気絶縁材からなる絶縁被覆202Aを設けてもよい。
なお、上記した各絶縁被覆101A,102A,201A,202Aは、例えばアクリル樹脂板,電気絶縁塗料,電気絶縁樹脂膜もしくは電気絶縁布等から形成されてよい。
1 第1ワニ口クリップ
11a,12a 挟持片
101 ソースHi側プローブ
102 ソースLo側プローブ
102A 絶縁被覆
2 第2ワニ口クリップ
21a,22a 挟持片
201 センスHi側プローブ
201A 絶縁被覆
202 センスLo側プローブ
100 定電流源
200 電圧測定手段(電圧計)
Rx 被測定抵抗体

Claims (3)

  1. 定電流源および電圧測定手段を含む四端子法による抵抗測定装置に用いられる電気測定用プローブで、
    ともに被測定抵抗体の所定部位を挟む一対の挟持片を有する第1および第2の2つのワニ口クリップを備え、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片が電流供給用のソースプローブとして上記定電流源の高電位側と低電位側とに接続され、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片が電圧検出用のセンスプローブとして上記電圧測定手段の高電位側と低電位側とに接続される電気測定用プローブにおいて、
    上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片のうち、上記定電流源の低電位側に接続されるソース低電位側挟持片の反挟持面側のみに電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられているとともに、
    上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片のうち、上記電圧測定手段の高電位側に接続されるセンス高電位側挟持片の反挟持面側のみに電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられていることを特徴とする電気測定用プローブ。
  2. 定電流源および電圧測定手段を含む四端子法による抵抗測定装置に用いられる電気測定用プローブで、
    ともに被測定抵抗体の所定部位を挟む一対の挟持片を有する第1および第2の2つのワニ口クリップを備え、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片が電流供給用のソースプローブとして上記定電流源の高電位側と低電位側とに接続され、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片が電圧検出用のセンスプローブとして上記電圧測定手段の高電位側と低電位側とに接続される電気測定用プローブにおいて、
    上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片のうち、上記定電流源の低電位側に接続されるソース低電位側挟持片の反挟持面側に電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられているとともに、
    上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片のうち、上記電圧測定手段の高電位側に接続されるセンス高電位側挟持片の反挟持面側に電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられており、
    さらには、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各一方の挟持片のうち、上記定電流源の高電位側に接続されるソース高電位側挟持片の反挟持面側と、上記第1ワニ口クリップおよび上記第2ワニ口クリップの各他方の挟持片のうち、上記電圧測定手段の低電位側に接続されるセンス低電位側挟持片の反挟持面側とにも、ゼロアジャスト時にかみ合わされる先端側部分を除いて電気絶縁材からなる絶縁被覆が設けられていることを特徴とする電気測定用プローブ。
  3. 上記抵抗測定装置は、上記定電流源および/または上記電圧測定手段の高電位側と低電位側の端子間の非導通状態を検出する断線検出機能を備えていることを特徴とする請求項1または2に記載の電気測定用プローブ。
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