JP5875697B2 - インターリーブされたadcにおけるタイミング、利得および帯域幅ミスマッチの較正 - Google Patents

インターリーブされたadcにおけるタイミング、利得および帯域幅ミスマッチの較正 Download PDF

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Description

本発明は、インターリーブされたADCにおけるタイミング、利得および帯域幅ミスマッチの較正に関する。
[関連出願の相互参照]
本出願は、35U.S.C.§119(e)に従い、参照することによりその内容が全体的に本明細書に組み込まれる、2011年11月14日出願の米国仮特許出願第61/559,335号の利益を主張する。
インターリーブされたアナログ−デジタル変換器(ADC)において、複数の変換段階が並列にアナログ入力信号に接続される。いつ段階が有効化されるかのタイミングは、各段階へのクロック入力により制御される。典型的には、段階は、異なるタイミングを有する少なくとも2つのクロック入力を使用して制御される。このようにして、段階は、同じ入力信号の異なるタイムスライスを処理することができる。次いで、各段階のデジタル出力が組み合わされて、ADCへの入力のデジタル近似を表す、ADCの全体的出力が形成される。図1は、従来のインターリーブされたADCのブロック図を示す。3つの段階100/110/120は、並列に入力Vinに接続される。各段階は、インターリーブされたチャネルを形成する。例示を目的として、最初の2つのチャネルおよび最後の(N番目の)チャネルのみが示されている。しかしながら、インターリーブされたADCは、任意の数のチャネルを有してもよい。第1の段階100は、ADC10(「フラッシュ」としても知られる)および乗算型デジタル−アナログ変換器(MDAC)50を含んでもよい。MDAC50は、デジタル−アナログ変換器(DAC)20および増幅器30を含む。Vinは、DAC20へのデジタル入力を生成するためにADC10に入力され、一方でDAC20は、ADC10のデジタル出力をアナログ信号に変換する。次いで、DAC20のアナログ出力は、Vinおよび増幅器30への結果入力から差し引かれて、アナログ出力電圧VO1が生成され、これは、チャネルがパイプラインチャネル(図示せず)である場合、次の段階への入力として使用され得る。しかしながら、パイプライン方式は随意であり、別の実施形態において、段階100は、他の段階が段階100に接続されないため、MDACを必要とすることなくデジタル出力を直接生成し得る。段階100/110/120は、同様の成分を含んでもよく、また段階100と同様に、段階110および120もまたパイプライン化され得る。各段階100/110/120は、それぞれのクロック入力(クロック1、クロック2およびクロック3)により制御され、ADCの他のチャネルと並列に操作されるインターリーブされたチャネルを形成する。
クロック入力のタイミング構成は変動し得る。例えば、クロック1およびクロック2は、位相オフセットしていてもよく、次いで、クロックの位相が連続的に交替するように、段階2(図示せず)の後の次の段階がクロック1と同相のクロックに接続されてもよい。別の実施形態において、クロックのそれぞれは、異なる位相で動作してもよい。他の構成もまた可能である。
インターリーブされたADCは、入力の異なる部分を並列して処理することにより、より速いクロック入力を適用する必要なくADCの効果的なサンプリング速度が増加するため、有利である。しかしながら、インターリーブされたADCは、異なる段階の間の相対的タイミングのミスマッチ(タイミングまたは位相ミスマッチとして知られる)等のタイミングの問題に敏感である。段階が正しい時間で動作しない場合、特に1つのチャネルの段階が別のチャネルの段階に対して時間的にミスマッチしている場合、得られるADC出力は不正確となる。
インターリーブされたADCの正確性に影響するミスマッチの他の種類は、利得ミスマッチおよび帯域幅ミスマッチを含むが、これらは、帯域幅ミスマッチが利得ミスマッチおよびタイミングミスマッチを生成するという点で関連している。帯域幅ミスマッチは、各段階が、抵抗成分Rが動作のサンプルおよびホールド位相の間で切り替わるように動作するスイッチの抵抗に対応し、容量成分Cが段階に適用される入力をサンプリングするために使用されるサンプリングコンデンサに対応するRC回路であるということに起因して生じる。したがって、各段階は、入力が段階により処理される際に経験する遅延に影響するRC時定数を有し、段階の出力は、この時定数に依存する。帯域幅ミスマッチは、インターリーブされた段階の時定数が、その段階における入力により経験される利得が他の段階の利得から逸脱するように、他のインターリーブされた段階の時定数から逸脱する場合に生じる。帯域幅は、サンプリングされた信号の振幅および位相の両方に影響するため、帯域幅ミスマッチは、利得および位相ミスマッチの両方をもたらす。その段階においていつ信号がサンプリングまたはホールドされるかのタイミングもまた、帯域幅ミスマッチの結果変化し得る。帯域幅ミスマッチの程度は、入力の頻度に依存し、一般に、低頻度よりも高頻度においてより悪化する。
本発明の例示的実施形態は、インターリーブされたADCにおけるタイミング、利得および帯域幅ミスマッチの低減を提供する。例示的実施形態において、ランダムまたは擬似ランダムのディザーが、インターリーブされたADCにおける選択されたチャネルに注入され、関連付けアルゴリズムが適用されて、全体的なADC出力に基づき、チャネルを通して伝播した際に注入されたディザーにより経験される利得が推定される。ディザーの注入および利得の推定は、複数のチャネルに対して繰り返され、利得推定値が比較されて、チャネルが互いに対してミスマッチしているかが決定される。チャネルがミスマッチしていると決定された場合、ミスマッチを低減するために、チャネルの少なくとも1つがアナログおよび/またはデジタル技術を使用して調節される。
従来のインターリーブされたADCのブロック図である。 本発明による、タイミング、利得および帯域幅ミスマッチを較正するための例示的システムを示す図である。 本発明の較正方法との使用に好適な、例示的ディザー注入回路を示す図である。 本発明の較正方法との使用に好適な、別の例示的ディザー注入回路を示す図である。 本発明による、タイミング、利得および帯域幅ミスマッチを較正するための例示的方法を示す図である。
図2は、本発明による例示的システム150を示す。システム150は、較正回路200に加えて、上述のように段階100/110/120で開始する複数のインターリーブされたチャネルを含んでもよい。較正回路200は、ディザー注入回路210、関連付け回路220、および補正回路230を含んでもよい。各チャネルは、差動入力Vin+およびVin−の対に接続されて示されている。本明細書に記載の例示的回路および方法は、これらの入力のいずれかに関連したハードウェアと併せて使用されてもよいことが理解される。
ディザー注入回路210は、ディザーを生成し各チャネルにおける少なくとも1つの段階のMDACまたはフラッシュに注入するための回路配置を含んでもよい。好ましくは、ディザーは、接続27を通して各チャネル(例えば、段階100/110/120)の少なくとも第1の段階に注入されるが、チャネルがパイプライン化されている場合、他の注入点もまた可能である。したがって、ディザーは、任意の特定のパイプラインにおける他の段階、例えば、入力に最も近い最初の2つまたは3つの段階に注入され得る。ディザーは、ランダムまたは擬似ランダム電圧として生成され、各段階における好適な注入点(例えば、フラッシュおよび/またはMDAC)に適用されてもよい。ディザーを提供するために、所定の電圧を生成および適用する任意の方法が使用されてもよい。例えば、ディザーが各段階におけるサンプリングコンデンサ(例えば、DAC20に位置するサンプリングコンデンサ)と並列に接続された1つ以上のコンデンサを介して注入される切り替えコンデンサネットワークを使用してディザー電圧を生成するために、擬似ランダムデジタル数が使用されてもよい。本発明との使用に好適なディザー注入回路の例は、後述の図3aおよび3bに示される。
較正回路200は、それぞれのインターリーブされたチャネルのデジタル出力を処理するための関連付け回路220を含んでもよい。図2において、チャネルはパイプライン化されておらず、したがって各チャネルのデジタル出力は、それぞれが別個のチャネルの出力に接続している接続29を通して、各チャネルの第1の段階から直接得られる。しかしながら、チャネルがパイプライン化されている場合、チャネル出力は、例えば、回路200の外に位置し得る、または、代替として、回路200内にサブコンポーネントとして位置し得るコンストラクター回路を使用して、所与のチャネルにおける各段階の出力を適切に組み合わせることにより得ることができることが理解される。コンストラクター回路はまた、チャネル出力を組み合わせて、全体的なADC出力を形成することができる。パイプライン化された実施形態において、較正回路200は、ディザーを注入し、パイプラインにおける複数の段階からデジタル出力を受信するための接続を含んでもよい。
関連付け回路220は、全体的なADC出力を受信し、ディザーを全体的なADC出力に関連付けることができる。関連付けは、任意の統計的関連付け技術を使用して行うことができる。一実施形態において、使用される関連付け技術は、最小二乗平均(LMS)である。LMSアルゴリズムを適用しながら、関連付け回路220は、ディザーおよび入力Vinをデジタル的に分離(無相関化)して、所与のチャネルを通して伝播した後にディザーが経験する利得の推定値を得ることができる。利得の推定値は、コンデンサに蓄積された残留電荷が入力信号の値に重ねられるように、段階におけるサンプリングコンデンサが入力に再接続される場合に生じる「キックバック」効果に基づいている。キックバック効果およびキックバックを低減するための関連付けに基づく方法は、2011年12月8日出願の米国特許出願第13/314,451号(「‘451出願」、その内容は参照することにより全体が本明細書に組み込まれる)に記載されている。
注入されたディザーは、DACコンデンサの様式と同様の様式で入力をキックバックするため、ディザーは、入力信号と同じ帯域幅、利得およびタイミングを経験する。したがって、ディザーの利得は、入力信号と同様の様式で入力帯域幅に依存する。ディザーの利得は、LMS係数(本明細書において利得係数GCと呼ばれる)として推定される。次いで、入力ネットワークのタイミング、利得および/または帯域幅の効果を表す利得推定値が、チャネルミスマッチの目安として使用される。この推定値を使用して、デジタル領域において補正を採用することができ、またはアナログドメインに誤差をフィードバックしてミスマッチを補正することができる。
以下のLMSアルゴリズムが典型的である。
Figure 0005875697
Gc(k,k−1)は、サンプルkに対しサンプルk−1(すなわちその前のサンプル)により寄与されるキックバックに対応する利得係数であり、Vdk−1は、その前のサンプルに注入されたディザーであり、Vinkは、ADCの現在のデジタル出力(すなわち、それぞれのインターリーブされたチャネルの個々のデジタル出力を適切に組み合わせることにより生成された、ADCへのアナログ入力のデジタル近似)である。Vdは、その前のサンプルに注入されたディザーである。キックバック効果は現在のサンプルではなく次のサンプルに現れるため、その前のサンプルに対応するVdが使用される。
本発明の例示的実施形態によるディザー注入は、MDAC、フラッシュまたはMDACおよびフラッシュの両方に同時に生じ得る。したがって、図3aおよび3bに示される回路を含む、任意の数の既知の注入回路が、本発明との使用に好適となり得る。
図3aにおいて、ディザーは、静電容量Cd(1つ以上のより小さいコンデンサを使用して形成されてもよい)を使用してMDACに注入される。静電容量Cdは、ディザー電圧Vdと接地との間に切り替え可能に接続される。Cdは、コンデンサを充電するVin信号と、段階におけるフラッシュ成分のデジタル出力であるデジタル基準信号DVRとの間に切り替え可能に接続される、DACコンデンサC1、C2...C8の組と並列である。
図3bは、‘451出願に記載の2つの注入方法の組み合わせである。図3bにおいて、ディザーは、電圧基準(Vref+Vdf)としてフラッシュ内の比較器に注入される。ディザーはまた、入力Vinと並列に注入される電圧Vdfとして示される。これらは、フラッシュへの注入のための代替的方法であるが、例示を目的として、図3bにおいて同じ回路内に一緒に示されている。前述したように、ディザー注入は、フラッシュおよびMDACにおいて同時に生じてもよい。したがって、図3aおよび3bの回路の両方が、較正回路の一実施形態において使用され得る。
関連付け回路230は、推定された利得に基づいてアナログおよび/またはデジタル補正を実行してもよい。デジタル補正は、チャネルの利得/タイミング/大域幅特性が別のチャネルの特性にマッチするように、1つのチャネルのデジタル出力を調節することにより実行され得る。チャネルは、補正後に残るミスマッチが、全体的なADC出力が合理的に正確であるのに十分小さい限り、厳密にマッチする必要はない。チャネル出力(すなわち、特定のチャネルにおける各段階からの組み合わされたデジタル出力)に乗算器係数が適用されてもよい。デジタル補正を得るために、ディザーが注入された段階に関連した乗算器は、ディザーが注入された2つ以上のチャネルのGC値の間の逸脱を相殺するように修正されてもよい。例えば、チャネル1のGCがチャネル2のGCよりも小さい場合、チャネル2の乗算器を同じに維持しながらチャネル1の乗算器を増加させることができる。代替として、チャネル1の乗算器を同じに維持する、またはチャネル1の乗算器を若干増加させながら、チャネル2の乗算器を減少させることができる。
アナログ補正は、両チャネル間のミスマッチが、補正回路230により十分低減されていると決定されるまで、調節されているチャネルにおける1つ以上の段階の回路パラメータを反復して変更することを含んでもよい。例えば、チャネル1へのクロック入力のタイミングは、チャネル1のGCがチャネル2のGCにマッチするまで左または右に位相シフトされてもよい。シフトの方向は、誤差の極性、例えば、チャネル1のGCとチャネル2のGCとの間の差の符号に依存する。例えば、負の符号は、チャネル1のGCがチャネル2のGCよりも小さいことを示すため、負の誤差に応じて、チャネル1のGCを増加させるために左シフトが使用されてもよい。補正は、新たなGC差が計算されるたびに実行されてもよく、補正は、GC差がある所定の閾値未満である場合に終了されてもよい。
代替として、タイミング調節は、サンプリングクロックまたはMDAC内に位置するサンプリングスイッチのDC電圧バイアスの電圧レベルを変更することにより行うことができる。サンプリングの瞬間は、サンプリングスイッチを形成するトランジスタデバイスのゲート−ソース間電圧(Vgs)が、デバイスの閾値未満に降下する時点として定義される。ゲート電圧(サンプリングクロックレベルである)またはソース電圧(サンプリングスイッチのDCバイアスにより設定される)が調節される場合、サンプリングの瞬間は変化する。
アナログ補正のために、調節されているチャネル内の1つ以上の段階におけるRC成分を含む、他の回路パラメータが使用されてもよい。例えば、選択された段階におけるスイッチの抵抗は、スイッチと直列の可変抵抗器を含めることにより、または、スイッチ自体の抵抗を調節可能とすることにより調節され得る。抵抗の調節の代替として、サンプリングコンデンサが調節可能であり、GC差が最小限化されるまで段階のRC時定数を改変するようにその静電容量値が調節されてもよい(チャネル1のGCがより大きい場合、これは、信号減衰がより少なく、したがってチャネル1がより大きいRC時定数を有し、次いでこの時定数が、例えば、チャネル1の1つ以上の選択された段階における抵抗または静電容量を低下させることにより低減され得ることを意味する)。
ここで、タイミング、利得および帯域幅ミスマッチを較正するための例示的方法を説明する。方法は、上述の例示的システムに対し実行され得る。上述のディザー注入を使用して、どの種類の誤差(固定利得誤差、帯域幅ミスマッチにより引き起こされる利得誤差、またはタイミング誤差)がGC差を引き起こしているかを決定することは困難となり得る。しかしながら、サンプリング速度が変化する場合、タイミング誤差は利得誤差よりも変化する傾向があり、したがって、GC差のどれ程がタイミング誤差に起因しているかを決定するための1つの方法は、サンプリング速度を変更し、変化するサンプリング速度のGC差の値に対する効果を監視することである。GC差のどれ程がタイミング誤差に起因しているかを決定するための別の可能な方法は、各種の調節(利得およびタイミング)を別個に実行し、次いで、現在のGC差と計算される次のGC差との間の変化の割合を観察することによるものである。ミスマッチがタイミング誤差により引き起こされる場合、タイミングの変更が、利得の変更よりもGC差に対しはるかに大きい影響を有し、またその逆も成り立つ。したがって、最も大きな影響を有するパラメータを特定し、そのパラメータの変更に集中することにより、利得誤差とタイミング誤差との間を識別することが可能となり得る。しかしながら、これらの方法は、実装するには複雑となり得、誤差の種類を常に信頼性をもって区別することができるとは限らない。したがって、一実施形態において、計算を目的として、誤差の種類の決定を避け、代わりに、決定されたミスマッチのそれぞれの瞬間に応じて、1種類の調節(利得調節またはタイミング調節のいずれか)を実行するだけで十分となり得る。好ましくは、利得の変更がGC差に対してもはやいかなる低減効果も有さないことが決定されるまで、利得が調節される。その時点で、タイミング調節が導入され得る。
また、例示的方法は、他の較正技術と組み合わせて使用されてもよい。例えば、利得ミスマッチを較正するために異なる技術を使用することが可能となり得、この場合、例示的方法は、タイミングミスマッチ較正のためだけに使用され得る。例示的方法を別の較正技術と組み合わせることは、誤差の種類を区別する試みが行われない場合、特に有益となり得る。
図4は、本発明による、インターリーブされたADCにおけるタイミング、利得および帯域幅ミスマッチを較正するための例示的方法400である。方法400は、ランダムまたは擬似ランダム電圧値であるディザーが生成されて選択されたチャネルに注入され、全体的ADC出力から、およびLMSアルゴリズムまたは任意の他の関連付けアルゴリズムを使用して、選択されたチャネルに対してGC値が計算される、ステップ410において開始してもよい。
412において、ステップ410からのディザー注入およびGC計算が、他のチャネルに対して繰り返される。ステップ410において第1のチャネルに注入された同じディザー信号は、他のチャネルに注入され得る。しかしながら、各チャネルのGC値は、チャネルに注入される任意の既知のディザーから計算され得るため、これは必要ではない。
414において、チャネルのGC値は、例えば、1つのチャネルのGC値と残りのチャネルのGC値との間の差を計算することにより比較される。
416において、チャネル内の1つ以上の段階において利得またはタイミング調節を実行するために、アナログおよび/またはデジタル技術を適用することにより、そのチャネルに対し計算された(すなわち、次のディザー注入に関連した全体的なADC出力から計算された)次のGC値が、他のチャネルの次のGC値にマッチするように、チャネルの少なくとも1つが調節される。前述のように、調節は、チャネルの少なくとも第1の段階において生じてもよいが、またチャネル内の複数の段階において生じてもよい。いくつかの場合において、GC値は、2つ以上のチャネルが調節される必要がある、すなわち、複数のチャネルが残りのチャネルに対してミスマッチしていることを示し得る。この状況において、較正回路は、全てのチャネルに対して標的GC値を決定し、次いで、ミスマッチしたチャネル(例えば、ある特定の閾値だけ標的GC値を超過するGC値を有するチャネル)のみを標的に向けて調節してもよい。一実施形態において、標的は、全てのチャネルに対するGC値の中央値または平均値であってもよい。
上記明細書において、本発明の特定の例示的実施形態を参照して本発明を説明してきた。しかしながら、以下の特許請求の範囲に記載される本発明のより広範な精神および範囲から逸脱せずに、様々な修正および変更を行うことができることが明らかである。本明細書に記載の実施形態は、様々な実施形態において、互いに組み合わせて示されてもよい。したがって、明細書および図面は、制限的ではなく例示的なものであると解釈されるべきである。
1 クロック
2 クロック
3 クロック
30 増幅器
150 システム
200 較正回路
210 ディザー注入回路
220 関連付け回路
230 補正回路

Claims (24)

  1. インターリーブされたアナログ−デジタル変換器(ADC)を較正するための方法であって、
    ランダムに決定された量のディザーを、前記ADC内の選択されたチャネルにおけるフラッシュ成分および乗算型デジタル−アナログ変換器(MDAC)の少なくとも1つに注入することと、
    関連付け手順を実行して、全体的なADC出力に基づき、前記チャネルを通して伝播した後に前記注入されたディザーにより経験される利得を推定することと、
    少なくとも1つの追加的チャネルに対し、前記注入および前記関連付け手順を繰り返し、それぞれの少なくとも1つの追加的チャネルに対する利得を推定することと、
    前記選択されたチャネルおよび前記少なくとも1つの追加的チャネルの前記推定された利得を比較して、前記選択されたチャネルとそれぞれの少なくとも1つの追加的チャネルとの間のミスマッチの程度を決定することと、
    前記決定されたミスマッチの程度の関数として、少なくとも1つのチャネルを較正することと
    を含み、
    前記全体的なADC出力は、前記ADC内の全てのチャネル出力を組み合わせることにより形成される、方法。
  2. 前記較正することは、前記少なくとも1つのチャネルに対するアナログおよびデジタル調節の少なくとも1つを含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記選択されたチャネルの利得推定値と、それぞれの少なくとも1つの追加的チャネルの利得推定値との間の差を計算することにより、ミスマッチの程度を決定することをさらに含む、請求項2に記載の方法。
  4. 前記少なくとも1つのチャネルのクロック入力を位相シフトさせることにより、前記デジタル調節を実行することをさらに含む、請求項2に記載の方法。
  5. 前記少なくとも1つのチャネルにおける段階のRC時定数を変更することにより、前記デジタル調節を実行することさらに含む、請求項2に記載の方法。
  6. 前記RC時定数は、前記少なくとも1つのチャネルにおける静電容量を調節することにより変更される、請求項5に記載の方法。
  7. 前記RC時定数は、前記少なくとも1つのチャネルにおける抵抗を調節することにより変更される、請求項5に記載の方法。
  8. 前記少なくとも1つのチャネルの出力に適用される乗算器の値を変更することにより、前記デジタル調節を実行することをさらに含む、請求項2に記載の方法。
  9. 前記ディザーは、前記フラッシュ成分および前記MDAC成分の両方に同時に注入される、請求項1に記載の方法。
  10. 前記ミスマッチの程度が指定された閾値未満であることが決定されるまで、前記注入、前記関連付けおよび前記較正を繰り返すことをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  11. ADCのサンプリング速度を変更し、前記ミスマッチの程度に対する前記サンプリング速度の変更の効果を監視することにより、前記ミスマッチが利得ミスマッチおよびタイミングミスマッチの1つであることを特定することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  12. タイミング調節と別個に利得調節を実行し、どちらの調節が前記ミスマッチの程度に対してより大きい影響を与えたかを決定することにより、前記ミスマッチが利得ミスマッチおよびタイミングミスマッチの1つであることを特定することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  13. インターリーブされたアナログ−デジタル変換器(ADC)を較正するためのデバイスであって、
    ランダムに決定された量のディザーを、前記ADC内の選択されたチャネルにおけるフラッシュ成分および乗算型デジタル−アナログ変換器(MDAC)の少なくとも1つに注入するように構成される、注入配置と、
    関連付け手順を実行して、全体的なADC出力に基づき、前記チャネルを通して伝播した後に前記注入されたディザーにより経験される利得を推定するように構成される、関連付け配置とを備え、
    前記注入配置および前記関連付け配置は、少なくとも1つの追加的チャネルに対し、前記注入および前記関連付け手順を繰り返し、それぞれの少なくとも1つの追加的チャネルに対する利得を推定し、
    補正配置であって、前記選択されたチャネルおよび前記少なくとも1つの追加的チャネルの前記推定された利得を比較して、前記選択されたチャネルとそれぞれの少なくとも1つの追加的チャネルとの間のミスマッチの程度を決定し、前記決定されたミスマッチの程度の関数として、少なくとも1つのチャネルを較正するように構成される、補正配置と
    を備え
    前記全体的なADC出力は、前記ADC内の全てのチャネル出力を組み合わせることにより形成される、デバイス。
  14. 前記較正することは、前記少なくとも1つのチャネルに対するアナログおよびデジタル調節の少なくとも1つを含む、請求項13に記載のデバイス。
  15. 前記補正配置は、前記選択されたチャネルの利得推定値と、それぞれの少なくとも1つの追加的チャネルの利得推定値との間の差を計算することにより、前記ミスマッチの程度を決定する、請求項14に記載のデバイス。
  16. 前記補正配置は、前記少なくとも1つのチャネルのクロック入力を位相シフトさせることにより、前記デジタル調節を実行する、請求項14に記載のデバイス。
  17. 前記関連付け配置は、前記少なくとも1つのチャネルにおける段階のRC時定数を変更することにより、前記デジタル調節を実行する、請求項14に記載のデバイス。
  18. 前記RC時定数は、前記少なくとも1つのチャネルにおける静電容量を調節することにより変更される、請求項17に記載のデバイス。
  19. 前記RC時定数は、前記少なくとも1つのチャネルにおける抵抗を調節することにより変更される、請求項17に記載のデバイス。
  20. 前記補正配置は、前記少なくとも1つのチャネルの出力に適用される乗算器の値を変更することにより、前記デジタル調節を実行する、請求項14に記載のデバイス。
  21. 前記ディザーは、前記フラッシュ成分および前記MDAC成分の両方に同時に注入される、請求項13に記載のデバイス。
  22. 前記ミスマッチの程度が指定された閾値未満であることが決定されるまで、前記注入、前記関連付けおよび前記較正を繰り返すように構成される、請求項13に記載のデバイス。
  23. ADCのサンプリング速度を変更し、前記ミスマッチの程度に対する前記サンプリング速度の変更の効果を監視することにより、前記ミスマッチが利得ミスマッチおよびタイミングミスマッチの1つであることを特定するように構成される、請求項13に記載のデバイス。
  24. タイミング調節と別個に利得調節を実行し、どちらの調節が前記ミスマッチの程度に対してより大きい影響を与えたかを決定することにより、前記ミスマッチが利得ミスマッチおよびタイミングミスマッチの1つであることを特定するように構成される、請求項13に記載のデバイス。
JP2014541048A 2011-11-14 2012-09-10 インターリーブされたadcにおけるタイミング、利得および帯域幅ミスマッチの較正 Active JP5875697B2 (ja)

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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8970409B2 (en) * 2012-03-22 2015-03-03 Hittite Microwave Corporation Dynamic dithering method and apparatus for analog-to-digital converters
US8872680B2 (en) * 2012-05-18 2014-10-28 Analog Devices, Inc. Calibrating timing, gain and bandwidth mismatch in interleaved ADCs using injection of random pulses
US8917125B1 (en) 2012-09-05 2014-12-23 IQ-Analog Corporation Interleaving analog-to-digital converter (ADC) with background calibration
US9030340B1 (en) 2012-09-05 2015-05-12 IQ-Analog Corporation N-path interleaving analog-to-digital converter (ADC) with background calibration
DE102014204518A1 (de) * 2014-03-12 2015-09-17 Siemens Aktiengesellschaft Schaltungsanordnung, Analog-Digital-Wandler, Gradientenverstärker und Verfahren zur Unterdrückung von Offset, Offsetdrift und 1/f-Rauschen einer der Analog-Digital-Konvertierung
CN104363019B (zh) * 2014-09-18 2017-11-21 电子科技大学 一种流水线模数转换器及其电容失配误差校准方法
WO2017113305A1 (zh) * 2015-12-31 2017-07-06 华为技术有限公司 一种校正装置和方法
US9998134B1 (en) 2017-07-24 2018-06-12 Apple Inc. Analog-to-digital converter circuit calibration system
US10635236B2 (en) * 2017-07-26 2020-04-28 Synaptics Incorporated Calibration of multiple analog front-ends
EP3579419B1 (en) 2018-06-08 2021-09-15 Nxp B.V. Apparatus for determining calibration values of an adc
WO2020258318A1 (zh) 2019-06-28 2020-12-30 华为技术有限公司 一种用于校正多个传输通道间偏差的装置及无线通信设备

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5187481A (en) * 1990-10-05 1993-02-16 Hewlett-Packard Company Combined and simplified multiplexing and dithered analog to digital converter
US5189418A (en) * 1992-04-16 1993-02-23 Hewlett-Packard Company Dither error correction
US5493298A (en) * 1993-03-01 1996-02-20 Hewlett-Packard Company Dithered analog-to-digital converter
EP0733196A1 (en) 1993-11-29 1996-09-25 Honeywell Inc. Modular laser gyro
US6172629B1 (en) * 1998-02-19 2001-01-09 Lucent Technologies Inc. Multistage analog-to-digital converter employing dither
US6424275B1 (en) 2001-01-18 2002-07-23 Scott R. Velazquez Linearity error compensator
US6894631B1 (en) * 2004-03-31 2005-05-17 Analog Devices, Inc. Pipeline ADC digital dithering for increased digital calibration resolution
US7015842B1 (en) * 2005-01-12 2006-03-21 Teranetics, Inc. High-speed sampling architectures
US7187310B2 (en) * 2005-03-04 2007-03-06 Kamal El-Sankary Circuit calibration using voltage injection
US7233274B1 (en) 2005-12-20 2007-06-19 Impinj, Inc. Capacitive level shifting for analog signal processing
CN101390291B (zh) * 2006-02-27 2011-09-07 意法半导体股份有限公司 多级模/数转换器和校准所述转换器的方法
CN100428631C (zh) * 2006-06-23 2008-10-22 清华大学 一种基于电容配对的降低模数转换器电容失配误差的方法
JP4639210B2 (ja) * 2007-03-28 2011-02-23 アンリツ株式会社 A/d変換装置
US8204107B2 (en) 2008-04-09 2012-06-19 National Semiconductor Corporation Bandwidth reduction mechanism for polar modulation
US7786910B2 (en) * 2008-08-12 2010-08-31 Analog Devices, Inc. Correlation-based background calibration of pipelined converters with reduced power penalty
US7924204B2 (en) * 2008-10-07 2011-04-12 Himax Media Solutions, Inc. Stage-resolution scalable opamp-sharing technique for pipelined/cyclic ADC
US20100220514A1 (en) 2009-03-02 2010-09-02 Lyric Semiconductor, Inc. Storage devices with soft processing
US8144040B2 (en) * 2009-07-01 2012-03-27 Intersil Americas, Inc. Randomization of sample window in calibration of time-interleaved analog to digital converter
US8068045B2 (en) 2010-03-01 2011-11-29 Analog Devices, Inc. Calibration methods and structures for pipelined converter systems

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