JP5844040B2 - 回路組み立てのためのコンポーネント選択 - Google Patents

Description

本発明は、広くは電気機器の製造、より具体的には電気回路組み立てに関する。

電気回路を含む多くのシステムでは、回路の応答が高精度でセットされる必要がある。所望の高精度での応答を得るための一般的な手法は、高確度電気コンポーネントを、使用することである。例えば、Ｂｉｏｓｅｎｓｅ Ｗｅｂｓｔｅｒ Ｉｎｃ．（Ｄｉａｍｏｎｄ Ｂａｒ，Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ）製のＣＡＲＴＯ磁気トラッキングシステムは、コイル及びコンデンサを含む共振回路である。これらの回路の共振周波数は、高確度（例えば、０．５％）でセットされる必要がある。高確度を達成するための一般的な手法は、高確度コイル及びコンデンサを使用することであろう。しかしながら、このような正確なコンポーネントは、低い入手可能性及び高費用により特徴付けられ得る。

本発明の実施形態に従って、電気回路を組み立てるための方法が提供され、この方法は、
在庫に保持されている所与のタイプのコンポーネントの実測値を測定し、測定された実測値をコンピュータ化された在庫記録に保存することと、
組み立て中に電気回路の実際の性能を定量することと、
回路の指定された応答及び定量された実際の性能に基づいて、回路に組み立てるために所与のタイプの１つ又は２つ以上のコンポーネントのセットのために所要値を計算することと、
計算された所要値に応答して在庫記録を検索することにより、在庫から１つ又は２つ以上のコンポーネントのセットを選択することと、
選択されたコンポーネントのセットを回路に組み立てることと、を含む。

典型的には、本方法は、在庫記録から選択されたコンポーネントの実測値を除去することを更に含む。

いくつかの実施形態では、コンポーネントはコンデンサを含み、実測値を測定することは、コンデンサの実測電気容量値を測定することを含む。

いくつかの実施形態では、実際の性能を定量することは、実測値を測定することを含む。

いくつかの場合には、回路の素子はコイルであり、実測値を測定することは、コイルの実測インダクタンス値を定量することを含む。

他の場合には、実測値を測定することは、回路の実測インダクタンスを測定することを含む。

いくつかの実施形態では、１つ又は２つ以上のコンポーネントのセットを選択することは、２つ又は３つ以上のコンポーネントが、回路に組み立てられると、一緒に所要値を与えるように、２つ又は３つ以上のコンポーネントを、選択することを含む。

他の実施形態では、指定された応答は共振周波数を含み、所要値を計算することは、指定された共振周波数に基づいて所要値を検出することを含む。

いくつかの実施形態では、在庫は１つ又は２つ以上の区画を含み、各区画は各タイプのコンポーネントを、保持するように指定され、各区画は複数の領域を含有し、各タイプの１つ又は２つ以上のコンポーネントは、これらの測定された実測値に従って各領域に保存される。

いくつかの場合には、在庫記録は表を含み、各表は対応する区画と関連付けられ、各表は入力欄を含み、各入力欄は対応する区画内の対応する領域と関連付けられ、在庫記録に測定された実測値を保存することは、所与の区画内の所与の領域に保持されているコンポーネントの実測値を、対応する表の関連する入力欄に保存することを含む。

本発明の実施形態に従って、電気回路を組み立てるためのシステムもまた提供され、このシステムは、
１つ又は２つ以上のタイプのコンポーネントの在庫を保持するように構成されている保存サブシステムと、
在庫に保持されている所与のタイプのコンポーネントの実測値を測定し、組み立て中に電気回路の実際の性能を定量するように構成されている測定サブシステムと、
測定された実測値を含む在庫記録を保存するように連結されているメモリーと、
回路の指定された応答及び定量された実際の性能に基づいて、回路に組み立てるために所与のタイプの１つ又は２つ以上のコンポーネントのセットについて所要値を計算するように、並びに、計算された所要値に対応して在庫記録を検索することにより回路への組み立てのために在庫から所与のタイプの１つ又は２つ以上のコンポーネントのセットを選択するように、構成されているプロセッサと、を含む。

本発明は、以下のより詳細な実施形態と、その図面の記述により、より完全に理解され得る：

本発明の実施形態による、電気回路に組み立てられるコンポーネントを、選択するためのシステムを概略的に示すブロックダイアグラム。 本発明の実施形態による、電気回路に組み立てられるコンポーネントを、選択するためのシステムを制御するためのコンピュータプログラムを概略的に示すブロックダイアグラム。 本発明の実施形態による、検索ガイドブックを概略的に示すブロックダイアグラム。

システムの説明
図１は、本発明の実施形態による、電気回路２５に組み立てられるコンポーネントを、選択するためのシステム２０を概略的に示すブロックダイアグラムである。回路２５は以下プロダクト回路（product-circuit）を示し、選択されたコンポーネントは以下プロダクトコンポーネント（product-component）を示す。プロダクト回路の電気応答は高精度で指定され、これは回路の実測応答のその公称応答からの偏差がほんのわずかしか認可されないことを意味する。システム２０は、より低い精度を有するプロダクトコンポーネントを、使用しながらも、所望の高精度のプロダクト回路を達成するのを促進する。

例として、システム２０は、回路の共振周波数が高確度でセットされる必要がある上記ＣＡＲＴＯに磁界を生じさせるために使用される共振回路に組み立てられるコンデンサを選択するのに適合し得る。この適用は、本実施形態の特性を例示するために本明細書に記載されるが、この例の原理はまた他のタイプの回路を製造するのにも有用であり得る。

ＣＡＲＴＯシステムは、異なる周波数で磁界を作り出す複数の磁界発生装置を含む「位置パッド（location pad）」を使用する。各発生装置では、回路２５は共振回路であり、コイル２６と、平行に接続された複数のコンデンサ２８のセットとを含む。コイルの公称インダクタンス及びコンデンサの公称累積静電容量は、回路の公称共振周波数を生じるように指定されている。例えば、２，１３０Ｈｚの公称共振周波数は、１９ｍＨの公称インダクタンスを有するコイルと、２９３．８５０５ｎＦの累積公称静電容量を有するコンデンサを使用することにより得ることができる。

電気コンポーネントの実測値は、典型的には、これらの公称値から外れており、それゆえにプロダクト回路の実際の応答は、その所望される公称の応答から外れ得る。実際の応答の、公称の応答からの許容可能な偏差の量は、回路の性質及び機能に依存する。結果的に、回路は通常、それらの公称の応答によるだけでなく、それらの実際の応答の所要精度によっても指定される。例えば、ＣＡＲＴＯシステムの好適な操作は、高精度の共振周波数を必要とし、それゆえに共振回路は、それらの実測共振周波数の低許容誤差（例えば、公称周波数の０．５％の許容誤差）により指定される。

回路の精確な応答を達成するための一般的な手法は、精確なコンポーネントから回路を製造することであろう（例えば、認可された周波数許容誤差よりも低い許容誤差を有するコイル及びコンデンサからＣＡＲＴＯシステムの共振回路を構築する）。しかしながら、このような精確なコンポーネントは、高価であり、入手するのが困難であり得る。システム２０及び本明細書に記載されている方法は、精度の劣るプロダクトコンポーネントを、使用する精確なプロダクト回路の組み立てを可能にし、そのため、製造費用を削減し、出荷時間の改善を可能にする。

図１に戻ると、システム２０は、保存サブシステム３０と、測定サブシステム４０と、プロセッサ５０と、メモリー６０とを含む。プロセッサ５０及びメモリー６０は、例えば、パーソナルコンピュータ、コンピュータワークステーション、又は他の好適な計算デバイスに実装され得る。プロセッサは、典型的には、ソフトウェアでプログラムされて、下記の機能を実行する。このソフトウェアは、例えば、ネットワークを通じて電子形態でシステム２０にダウンロードされ得る。代替的又は追加的に、ソフトウェアは、光学、磁気又は電子メモリーメディアなどの有形のコンピュータ読み取り可能な保存メディアに保存され得る。更に、代替的又は追加的に、プロセッサ５０の少なくともいくつかの機能は、専用又はプログラム可能なハードウェア論理により実行され得る。

保存サブシステム３０は、区別された位置に個別のプロダクトコンポーネント各々を保持し、測定サブシステム４０は、個別のプロダクトコンポーネントの実測値を測定する（典型的には、サブシステム３０におけるプロダクトコンポーネントの保存についての準備工程として）。プロセッサ５０の制御下で、個別のプロダクトコンポーネント各々の実測値及びその保存サブシステム３０内の位置は、在庫記録７０に保存され、メモリー６０に維持される。例えば、システム２０がＣＡＲＴＯシステムの共振回路の組み立てに適合する場合、プロダクトコンポーネントはコンデンサを含み、測定サブシステムは、典型的には、保存サブシステムに保持されている個々のコンデンサの静電容量を測定するＧｅｎＲａｄ ＲＬＣ Ｍｅｔｅｒ １６５７／９８０（ＩＥＴ Ｌａｂｓ，Ｉｎｃ．製（Ｗｅｓｔｂｕｒｙ，Ｎｅｗ Ｙｏｒｋ））などの測定デバイス８０を含む。

図２は、本発明の実施形態による、システム２０を制御するためのコンピュータプログラム１００を概略的に示すブロックダイアグラムである。プロセッサ５０により実行されるコンピュータプログラム１００は、典型的には、在庫保全モジュール１１０と、所要値計算モジュール１１５と、コンポーネント選択モジュール１２０と、ユーザーインターフェース１２５とを含む。在庫記録７０（図１）の保全に責任を有する在庫保全モジュール１１０は、典型的には、個々のプロダクトコンポーネントが保存サブシステム３０に追加されるときに起動されるコンポーネント追加モジュール１３０と、個々のプロダクトコンポーネントが組み立てのために選択され、その結果、保存サブシステムから除去されるときに起動されるコンポーネント除去モジュール１４０と、を含む。在庫保全モジュール１１０は、例えば、ＳＱＬサーバープログラムにより、又は他の適切なソフトウェアツールにより、実装され得る。

測定サブシステム４０（図１に示される）はまた、組み立て中にプロダクト回路の実際の特性を定量する。例えば、システム２０がＣＡＲＴＯシステムの共振回路の組み立てに使用される場合、測定サブシステム４０は、典型的には、共振回路に組み立てられた又は組み立てられるコイルの実測インダクタンス値を測定する上記ＧｅｎＲａｄ ＲＬＣ Ｍｅｔｅｒなどのインダクタンス測定デバイス１６０を含む。いくつかの場合、デバイス８０及び１６０は異なるデバイスを含んでもよく、他の場合、これらは同一のデバイスを含んでもよい。

図２に戻ると、所要値計算モジュール１１５は、プロダクト回路に組み立てられる１つ又は２つ以上のプロダクトコンポーネント（コンデンサなど）のセットについての所要値を計算する。所要値は、定量された実際の特性（インダクタンスなど）に基づいて計算され、その結果、製造された回路の得られた実際の応答は、その指定された公称の応答に対して所要許容誤差内で収まる。計算された所要値に従って、コンポーネント選択モジュール１２０は、在庫記録を検索し、その実測値が総じて計算された所要値に合致する１つ又は２つ以上の個々のコンポーネントのセットを選択する。選択、ユーザーの承認の保留、及び保存サブシステムからの選択されたコンポーネントの除去（妥当な場合）の後、コンポーネント除去モジュール１４０は、在庫記録から選択されたコンポーネントの対応する表示を除去し、それにより、保存サブシステムの最新内容で在庫記録を更新された状態に維持する。

例えば、システム２０がＣＡＲＴＯシステムの共振回路の組み立てに適合する場合、所要値計算モジュール１１５は所要静電容量値を計算し、コンポーネント選択モジュール１２０は、一致する実測計算静電容量を有するコンデンサのセットを選択する。結果として、システム２０及び本明細書に記載の方法は、確度の劣るコイルの偏差を埋め合わせるために確度の劣るコンデンサの偏差を利用することにより、確度の劣るコイル及びコンデンサを使用して、精確な共振回路の組み立てを可能にする。

在庫管理
図１に戻ると、保存サブシステム３０は、区別された位置に個別のプロダクトコンポーネント各々を保持し、それにより、これらの実測測定値に基づいて個々のプロダクトコンポーネントの選択を可能にする。これは、コンポーネントがそれらの公称値によってのみ差異化されている一般の保存システムとは対照的である。

保存サブシステム３０は、典型的には、区画１７０（例えば、引き出し）を含み、各区画は指定のタイプ（すなわち、指定公称値）のコンポーネントを、保持するように指定されている。各区画は典型的には、多数の領域（例えば、セル）を含み、各セルは、個々のコンポーネント又は同一の測定値を有する多数のコンポーネントを、保持するように構成されている。例えば、各区画（例えば、引き出し）は、セル１７５の行列を含んでもよく、行列の各行は文字（例えば、Ａ、Ｂ、Ｃ．．．）により標識され、各列は数字（例えば、１、２、３．．．）により標識される。追加的に又は代替的に、保存サブシステムの他の好適な構成が実装されてもよい。

保存サブシステム３０の内容は、メモリー６０内のプロセッサ５０により維持される在庫記録７０に反映される。保存サブシステム内の所与の個々のコンポーネントは、所与の個々のコンポーネントのタイプ、位置及び実測値を示す対応する個々のコンポーネント入力欄により在庫記録に表される。例えば、サブシステム３０内の引き出し１７０の内容は、入力欄１８５を含む対応する表１８０により表される。表１８０内の各入力欄１８５は、対応する区画１７０内の符合するセル１７５に相当し、セル内に存在する個々のコンポーネントの実測値（及び場合によりセル内のコンポーネント数も）を含有する。

実測コンポーネント値の測定及びそれらのデータの在庫記録への保存は、保存サブシステム３０にコンポーネントを、追加する間に行われ得る。あるいは、既に保存サブシステム３０に位置しているコンポーネントの実測値は、後で測定され、記録され得る。

典型的な場合では、測定サブシステム４０は手動で操作される。このような場合、コンポーネントデータは、典型的には、ユーザーインターフェース１２５を介してコンピュータプログラム１００に転送される（図２に示されている）。しかしながら、他の場合、測定は自動で行われてもよく、そのような場合、コンポーネントデータは、いくつかの好適な機械間インターフェースを介して自動で転送されてもよい（図示せず）。

コンポーネント選択
プロダクト回路２５を組み立てる典型的なプロセスは、以下に記載される。このプロセスは、先行する実施形態にあるように、図１及び２を参照しながら、システム２０が共振回路の組み立てに使用される例について記載される。

（ａ）測定サブシステム４０（例えば、測定デバイス１６０）は、組み立てられているプロダクト回路２５の実際の特性を定量する。定量される実際の特性は、回路内での組み立てのために既に選択されている回路の素子の実測値であり得る（例えば、共振回路内での組み立てのために取り上げられたコイルの実測インダクタンス）。いくつかの場合、回路素子の実測値は、前もって定量及び記録され、素子が組み立てに取り上げられるときにメモリーから再表示してもよい。追加的に又は代替的に、回路の定量された実際の特性は、部分的に組み立てられたプロダクト回路の実測値であり得る（例えば、コイルが回路内に既に組み立てられた共振回路の実測インダクタンス値）。

（ｂ）回路の指定された応答に従って、及び、定量された実際の特性に従って、所要値計算モジュール１１５は、１つ又は２つ以上のプロダクトコンポーネントのセットについて所要値を計算する（例えば、回路の得られた共振周波数がその指定された共振周波数と一致するように、取り上げられたコイルの実測インダクタンスに従って計算された所要計算静電容量値）。

（ｃ）計算された所要値に基づき、コンポーネント選択モジュール１２０が在庫記録をスキャンし、その実測値が総じて、計算された所要値に一致する１つ又は２つ以上のプロダクトコンポーネントのセットを選択する（例えば、所要静電容量値の指定された許容誤差内である実測累積静電容量を有する２、３又は４つのコンデンサのセット）。

いくつかの場合、検索の方針は迅速な応答に適合し、検索は、「十分に良好な」セット（例えば、所要値から指定許容誤差内の実測値を有するセット）に最初に遭遇したときに終了する。他の場合には、検索の方針は最適の結果に適合してもよく、コンポーネント選択モジュール１２０は、最良のセット（例えば、所要値から最小距離にある実測値を有するセット）を検索する。検索方針は、事前定義されていてもよく、又はオペレータにより設定されてもよい。

いくつかの場合には、コンポーネントの選択されたセットは、オペレータによる更なる承認を必要としてもよい。選択されたセットが承認されない場合、コンポーネント選択モジュール１２０は、コンポーネントの代替的なセットを探すために再起動され得る。他の場合には、コンポーネント選択モジュール１２０は、複数の代替的セットをオペレータに提供してもよく、これによりオペレータはそれらの間から選択することができる。

典型的には、選択されたセットを評価するためにコンピュータ及び／又は人間のオペレータにより採用される主要な基準は、実測値の、所要値からの隔たりである。しかしながら、追加的な基準も採用され得る。いくつかの場合には、最も安価な組み合わせの選択が、プロダクト回路の費用を劇的に低減し得る。他の場合には、より少ないコンポーネント数又はより小さな集合サイズを有する組み合わせを選考することが、プロダクト回路の複雑さ及びサイズを低減し得る。在庫レベルもまた、コンピュータ及び／又はオペレータにより考慮され得、それにより、特定のコンポーネントタイプ又はコンポーネント値の在庫不足又は超過に遭遇する可能性を低減する。この場合、コンポーネント選択モジュール１２０は、在庫保全モジュール１１０により提供される情報に基づいて特定のコンポーネントの組み合わせを優先してもよい。追加的に又は代替的に、特定のコンポーネントタイプの市場入手可能性などの他の好適な基準も考慮され得る。これらの基準は、検索優先としてコンポーネント選択モジュール１２０に導入されてもよく、区画が検索される順番に影響を与える。例えば、区画に、「可能な場合、第一選択肢」、「通常使用」又は「最後の選択肢」といった優先レベルを割り当て得る。

ガイドされた選択
コンポーネント選択モジュール１２０が、複数の構成要素のセットを出力するように構成されている実施形態では、検索プロセスは、多数の可能なセットのために、時間がかかる恐れがある。このような場合、コンポーネント選択モジュール１２０は、調査されるセットの数を低減するために、予め計算された選択ガイドブックを使用してもよい。

図３は、本発明の実施形態による、選択ガイドブック２００を概略的に示すブロックダイアグラムである。選択ガイドブック２００は、典型的には、代表的所要値２１０のセットを含み、これは一定範囲の可能な所要値の量子化された表示を包含する。各表示所要値２１０は区画組み合わせ２２０のリスト２１５に関連付けられ、各区画組み合わせ２２０は区画指標２３０のセットを含む。

予め計算された検索ガイドブック２００は、以下のように使用される。所要値計算モジュール１１５により計算された集合的所要値ｖに基づいて、コンポーネント選択モジュール１２０は、代表的所要値ｗを発見し、これはｖに近く、ｗに関連する区画組み合わせに従って選択されたプロダクトコンポーネントのセットにその検索を制限する。より具体的には、｛Ａ_ｍ；ｍ＝１，２，．．．，Ｍ｝を代表的所要値ｗに関連付けられた区画組み合わせのリストにし、各区画組み合わせＡ_ｍを区画指標｛Ｂ_ｍ，ｎ；ｎ＝１，２，．．．，Ｍ_ｎ｝からなるようにさせる_。これらの表記法に従い、コンポーネント選択モジュール１２０は、各セットが、ｗに関連付けられたいくつかの組み合わせＡ_ｍの各コンポーネントＢ_ｍ，ｎから選択される個々のプロダクトコンポーネントからなるプロダクトコンポーネントのセットに検索を制限する。

上記のように使用されるために、検索ガイドブック２００は、コンポーネントセットが代表的所要値ｗに関連付けられた区画組み合わせＡ_ｍに従って選択される場合、選択されたコンポーネントセットの集合的実測値がｗに近い条件を満足するように構成される。

例えば、コンポーネント選択モジュール１２０がＣＡＲＴＯシステムの共振回路のためのコンデンサのセットを選択するように構成される場合、検索ガイドブック２００は、典型的には以下のように構成される。

（ａ）可能な所要静電容量値の範囲は、指定された共振周波数に従って、並びに、特定のタイプのコイルの実測値の範囲と、共振周波数の指定された許容誤差とに従って、評価される。

（ｂ）可能な所要静電容量値の範囲は、共振周波数の指定許容誤差に依存して１ｎＦの典型的量子化工程を用いて、量子化され、それにより、代表的所要値２１０のリストを作る。

（ｃ）認可された区画組み合わせのセットが定量される。認可された区画組み合わせの数は、区画の数と共振回路内のコンデンサの認可された数とに依存し、更に、合計コンポーネントサイズなどの追加的な制限に依存し得る。例えば、区画の数が９である場合、３つ又は４つの区画の任意の組み合わせが許容可能であり、認可された組み合わせの数は３３０である。

認可された組み合わせに更なる限定がある場合には、認可された組み合わせのセットは、それに従って減少する。

（ｄ）認可された組み合わせからの区画組み合わせは、代表的所要値に関連付けられる。いくつかの場合、関連は、指定コンポーネントタイプの公称値に基づく（すなわち、公称値の和は、代表的所要値から指定の距離内にある必要がある）。他の場合には、関連は、特定のタイプのコンポーネントの実測値の予想された範囲にも基づき得る（例えば、指定距離閾値は、指定タイプのコンポーネントの予想された範囲に依存し得る）。

ＣＡＲＴＯシステムの例では、代表的所要値２１０は、典型的には、各コイル共振周波数について最大７０通りのコンポーネント組み合わせ２２０のリスト２１５に関連付けられる。それゆえに、ガイドブック２００は、コンポーネント選択モジュールの応答時間の大きな削減をもたらす。

上述された実施形態は例示のために引用され、また本発明は、以上に特に示され記述されたものに限定されるものではないことが、したがって理解されるであろう。むしろ本発明の範囲には、上記に述べた様々な特徴の組み合わせ及びそれらの一部の組み合わせ、並びに上記の説明文を読むことで当業者には想到されるであろう、従来技術には開示されていない上記の特徴の変形例及び改変例が含まれるものである。

〔実施の態様〕
（１） 電気回路を組み立てるための方法であって、
在庫に保持されている所与のタイプのコンポーネントの実測値を測定し、前記測定された実測値をコンピュータ化された在庫記録に保存することと、
組み立て中に電気回路の実際の性能を定量することと、
前記回路の指定された応答及び前記定量された実際の性能に基づいて、前記回路に組み立てるために前記所与のタイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットのために所要値を計算することと、
前記計算された所要値に応答して前記在庫記録を検索することにより、前記在庫から１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットを選択することと、
前記選択されたコンポーネントのセットを前記回路に組み立てることと、を含む、方法。
（２） 前記在庫記録から前記選択されたコンポーネントの前記実測値を除去することを含む、実施態様１に記載の方法。
（３） 前記コンポーネントがコンデンサを含み、前記実測値を測定することが、前記コンデンサの実測電気容量値を測定することを含む、実施態様１に記載の方法。
（４） 前記実際の性能を定量することが、実測値を測定することを含む、実施態様１に記載の方法。
（５） 前記回路の素子がコイルを含み、前記実測値を測定することが、前記コイルの実測インダクタンス値を定量することを含む、実施態様４に記載の方法。
（６） 前記実測値を測定することが、前記回路の実測インダクタンスを測定することを含む、実施態様４に記載の方法。
（７） 前記１つ又は２つ以上のコンポーネントの前記セットを選択することが、２つ又は３つ以上の前記コンポーネントが、前記回路に組み立てられると、一緒に前記所要値を与えるように、前記２つ又は３つ以上のコンポーネントを選択することを含む、実施態様１に記載の方法。
（８） 前記指定された応答が共振周波数を含み、前記所要値を計算することが、前記指定された共振周波数に基づいて前記所要値を検出することを含む、実施態様１に記載の方法。
（９） 前記在庫が１つ又は２つ以上の区画を含み、各区画は各タイプのコンポーネントを保持するように指定され、各区画が複数の領域を含有し、前記方法は、前記各タイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントを、前記測定された実測値に従って各領域に保存することを含む、実施態様１に記載の方法。
（１０） 前記在庫記録が表を含み、各表は対応する区画と関連付けられ、各表は入力欄を含み、各入力欄は前記対応する区画内の対応する領域と関連付けられ、前記在庫記録に前記測定された実測値を保存することは、所与の区画内の所与の領域に保持されているコンポーネントの実測値を、前記対応する表の前記関連する入力欄に保存することを含む、実施態様９に記載の方法。

（１１） 電気回路を組み立てるためのシステムであって、
１つ又は２つ以上のタイプのコンポーネントの在庫を保持するように構成されている保存サブシステムと、
前記在庫に保持されている所与のタイプの前記コンポーネントの実測値を測定し、組み立て中に電気回路の実際の性能を定量するように構成されている測定サブシステムと、
前記測定された実測値を含む在庫記録を保存するように連結されているメモリーと、
前記回路の指定された応答及び前記定量された実際の性能に基づいて、前記回路に組み立てるために前記所与のタイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットについて所要値を計算するように、並びに、前記計算された所要値に対応して前記在庫記録を検索することにより前記回路への組み立てのために前記在庫から前記所与のタイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットを選択するように、構成されているプロセッサと、を含む、システム。
（１２） 前記コンピュータが、前記在庫記録から前記選択されたコンポーネントの前記実測値を除去するように更に構成されている、実施態様１１に記載のシステム。
（１３） 前記在庫に保持される前記コンポーネントがコンデンサを含み、前記測定サブシステムが、前記コンデンサの実測電気容量値を測定するように構成されている、実施態様１１に記載のシステム。
（１４） 前記測定サブシステムが、前記回路の素子の実測値を測定するように構成されている、実施態様１１に記載のシステム。
（１５） 前記回路の前記素子がコイルを含み、前記測定サブシステムが、前記コイルの実測インダクタンスを測定するように構成されている、実施態様１４に記載のシステム。
（１６） 前記測定サブシステムが、前記回路の実測インダクタンスを測定するように構成されている、実施態様１４に記載のシステム。
（１７） ２つ又は３つ以上の前記コンポーネントが、前記回路に組み立てられると、一緒に前記所要値を与えるように、前記プロセッサが、前記２つ又は３つ以上のコンポーネントを選択するように構成されている、実施態様１１に記載のシステム。
（１８） 前記指定された応答が共振周波数を含み、前記プロセッサが、前記指定された共振周波数に基づいて前記所要値を計算するように構成されている、実施態様１１に記載のシステム。
（１９） 前記保存サブシステムが区画を含み、各区画は各タイプのコンポーネントを保持するように指定され、各区画が複数の領域を含み、各区画領域は、前記各タイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントを、前記測定された実測値に従って保持するように適合される、実施態様１１に記載のシステム。
（２０） 前記在庫記録が表を含み、各表は対応する区画に符合し、各表は入力欄を含み、各入力欄は前記対応する区画内の対応する領域内に保持されている個別のコンポーネントの実測値を含む、実施態様１１に記載のシステム。

Claims (20)

1. 電気回路を組み立てるための方法であって、
   在庫に保持されている所与のタイプのコンポーネントの実測値を測定し、前記測定された実測値をコンピュータ化された在庫記録に保存することと、
   組み立て中の電気回路の実際の性能を定量することと、
   前記電気回路の指定された応答及び前記定量された実際の性能に基づいて、前記電気回路に組み立てるための前記所与のタイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットに必要な所要値を計算することと、
   前記計算された所要値に応答して前記在庫記録を検索することにより、前記実測値に基づいて、前記在庫から１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットを選択することと、
   前記選択されたコンポーネントのセットを前記電気回路に組み立てることと、を含む、方法。
2. 前記在庫記録から前記選択されたコンポーネントの前記実測値を除去することを含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記コンポーネントがコンデンサを含み、前記実測値を測定することが、前記コンデンサの実測電気容量値を測定することを含む、請求項１に記載の方法。
4. 前記実際の性能を定量することが、実測値を測定することを含む、請求項１に記載の方法。
5. 前記電気回路の素子がコイルを含み、前記実測値を測定することが、前記コイルの実測インダクタンス値を定量することを含む、請求項４に記載の方法。
6. 前記実測値を測定することが、前記電気回路の実測インダクタンスを測定することを含む、請求項４に記載の方法。
7. 前記１つ又は２つ以上のコンポーネントの前記セットを選択することが、２つ又は３つ以上の前記コンポーネントが、前記電気回路に組み立てられると、一緒に前記所要値を与えるように、前記２つ又は３つ以上のコンポーネントを選択することを含む、請求項１に記載の方法。
8. 前記指定された応答が共振周波数を含み、前記所要値を計算することが、前記指定された共振周波数に基づいて前記所要値を検出することを含む、請求項１に記載の方法。
9. 前記在庫が１つ又は２つ以上の区画を含み、各区画は各タイプのコンポーネントを保持するように指定され、各区画が複数の領域を含有し、前記方法は、前記各タイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントを、前記測定された実測値に従って各領域に保存することを含む、請求項１に記載の方法。
10. 前記在庫記録が表を含み、各表は対応する区画と関連付けられ、各表は入力欄を含み、各入力欄は前記対応する区画内の対応する領域と関連付けられ、前記在庫記録に前記測定された実測値を保存することは、所与の区画内の所与の領域に保持されているコンポーネントの実測値を、前記所与の領域と関連付けられた前記入力欄に保存することを含む、請求項９に記載の方法。
11. 電気回路を組み立てるためのシステムであって、
    １つ又は２つ以上のタイプのコンポーネントの在庫を保持するように構成されている保存サブシステムと、
    前記在庫に保持されている所与のタイプの前記コンポーネントの実測値を測定し、組み立て中の電気回路の実際の性能を定量するように構成されている測定サブシステムと、
    前記測定された実測値を含む在庫記録を保存するように連結されているメモリーと、
    前記電気回路の指定された応答及び前記定量された実際の性能に基づいて、前記電気回路に組み立てるための前記所与のタイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットに必要な所要値を計算するように、並びに、前記計算された所要値に応答して前記在庫記録を検索することにより、前記実測値に基づいて、前記電気回路への組み立てのために前記在庫から前記所与のタイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントのセットを選択するように、構成されているプロセッサと、を含む、システム。
12. 前記プロセッサが、前記在庫記録から前記選択されたコンポーネントの前記実測値を除去するように更に構成されている、請求項１１に記載のシステム。
13. 前記在庫に保持される前記コンポーネントがコンデンサを含み、前記測定サブシステムが、前記コンデンサの実測電気容量値を測定するように構成されている、請求項１１に記載のシステム。
14. 前記測定サブシステムが、前記電気回路の素子の実測値を測定するように構成されている、請求項１１に記載のシステム。
15. 前記電気回路の前記素子がコイルを含み、前記測定サブシステムが、前記コイルの実測インダクタンスを測定するように構成されている、請求項１４に記載のシステム。
16. 前記測定サブシステムが、前記電気回路の実測インダクタンスを測定するように構成されている、請求項１４に記載のシステム。
17. ２つ又は３つ以上の前記コンポーネントが、前記電気回路に組み立てられると、一緒に前記所要値を与えるように、前記プロセッサが、前記２つ又は３つ以上のコンポーネントを選択するように構成されている、請求項１１に記載のシステム。
18. 前記指定された応答が共振周波数を含み、前記プロセッサが、前記指定された共振周波数に基づいて前記所要値を計算するように構成されている、請求項１１に記載のシステム。
19. 前記保存サブシステムが区画を含み、各区画は各タイプのコンポーネントを保持するように指定され、各区画が複数の領域を含み、各区画領域は、前記各タイプの１つ又は２つ以上の前記コンポーネントを、前記測定された実測値に従って保持するように適合される、請求項１１に記載のシステム。
20. 前記在庫記録が表を含み、各表は対応する区画に符合し、各表は入力欄を含み、各入力欄は前記対応する区画内の対応する領域内に保持されている個別のコンポーネントの実測値を含む、請求項１１に記載のシステム。

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