JP5833210B2 - 磁気記録媒体 - Google Patents
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Description
(1)2nm≦L1≦6nm
(2)0.0020μT・m≦Mr・t≦0.0150μT・m
非磁性層12は、非磁性粉末と結合剤と潤滑剤とを含む層である。
磁性層13は、磁性粉末と結合剤とを含む層である。
非磁性支持体11としては、従来から使用されている磁気記録媒体用の非磁性支持体を使用できる。具体的には、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル類、ポリオレフィン類、セルローストリアセテート、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスルフオン、アラミド等からなるプラスチックフィルム等が挙げられる。
非磁性支持体11の非磁性層12が形成されている主面とは反対側の主面(ここでは、下面)には、走行性の向上等を目的としてバックコート層14が設けられていることが好ましい。バックコート層14の厚さは、好ましくは0.2〜0.8μmであり、より好ましくは0.3〜0.8μmである。バックコート層14の厚さが薄すぎると、走行性向上効果が不十分となり、厚すぎると磁気テープの全厚が厚くなり、磁気テープ1巻当たりの記録容量が小さくなるためである。
図示はしていないが、図2の磁性層13の表面に前述の潤滑剤を更に塗布してトップコート層を形成することもできる。これにより、磁気テープの走行特性及び耐久性が更に向上する。
[非磁性塗料の調製]
表1に示す非磁性塗料成分(1)を回分式ニーダで混練することにより混練物を調製した。得られた混練物と、表2に示す非磁性塗料成分(2)とをディスパを用いて撹拌して、混合液を調製した。得られた混合液をジルコニアビーズ(比重:6、粒子径:0.1mm)を充填したサンドミル(滞留時間:60分)で分散して分散液を調製した後、得られた分散液と、表3に示す非磁性塗料成分(3)とをディスパを用いて撹拌し、これをフィルタでろ過して非磁性塗料を調製した。その後、この非磁性塗料を、衝突型分散機を用いて、オリフィス径0.2mm、加圧条件を150MPaとして、衝突チャンバーを2回通過させて、再分散処理を行い、非磁性塗料を調製した。
表4に示す磁性塗料成分(1)と表5に示す磁性塗料成分(2)とを加圧型の回分式ニーダで混練することにより混練物を調製した。得られた混練物に、表6に示す磁性塗料成分(3)を2段階に分けて加えて混練物を希釈して、スラリーを調製した。このスラリーをジルコニアビーズ(比重:6、粒子径:0.1mm)を充填したサンドミル(滞留時間:45分)で分散して分散液を調製した後、得られた分散液と、表7に示す磁性塗料成分(4)とをディスパを用いて撹拌し、これをフィルタでろ過して、磁性塗料を調製した。
表8に示すバックコート層用塗料成分を混合した混合液を、ジルコニアビーズ(比重:6、粒子径:0.1mm)を充填したサンドミルで分散処理(滞留時間:45分)した。得られた分散液にポリイソシアネート15部を加えて撹拌し、これをフィルタでろ過して、バックコート層用塗料を調製した。
非磁性支持体(ポリエチレンナフタレートフィルム、厚さ:5.0μm)の一方の主面(上面)上に、上記の非磁性塗料及び磁性塗料を、乾燥及びカレンダ処理後の厚さがそれぞれ1.0μm及び50nmとなるように、エクストルージョン型コータにて同時重層塗布し、非磁性層及び磁性層をこの順に形成した。なお、このとき、ソレノイド磁石を用いて配向磁界(400kA/m)を印加しながら、面内配向処理を行った。
乾燥及びカレンダ処理後の磁性層の厚さを60nmに変更し、非磁性塗料の調製時に衝突型分散機を使わず、カレンダ処理条件を、温度:100℃、線圧力:196kN/mに変更し、磁性層の研磨処理を行わなかった以外は、実施例1と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
カレンダ処理条件を、温度:100℃、線圧力:196kN/mに変更し、磁性層の研磨処理を行わなかった以外は、実施例1と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
エクストルージョン型コータにて、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが1.0μmになるように非磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:196kN/mの条件でカレンダ処理を行い、その上に、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが35nmになるように磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:196kN/mの条件でカレンダ処理を行い、非磁性塗料の調製時に衝突型分散機を使わず、磁性層の研磨処理を行わなかった以外は、実施例1と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
[トップコート層用塗料の調製]
表9に示すトップコート層用塗料成分を撹拌機にて混合し、トップコート層用塗料を調製した。
非磁性塗料を衝突型分散機を用いて、オリフィス径0.2mm、加圧条件を150MPaとして、衝突チャンバーを2回通過させて再分散処理を行い、磁性層の上にトップコート層を形成しなかった以外は、実施例5と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
エクストルージョン型コータにて、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが1.0μmになるように非磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:294kN/mの条件でカレンダ処理を行い、その上に、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが30nmになるように磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:294kN/mの条件でカレンダ処理を行い、磁性層の上にトップコート層を形成しなかった以外は、実施例5と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
エクストルージョン型コータにて、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが1.0μmになるように非磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:294kN/mの条件でカレンダ処理を2回行い、その上に、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが100nmになるように磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:196kN/mの条件でカレンダ処理を行い、磁性層の上にトップコート層を形成しなかった以外は、実施例5と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
非磁性塗料の調製時に衝突型分散機を使わず、カレンダ処理条件を、温度:100℃、線圧力:196kN/mに変更し、磁性層の研磨処理を行わなかった以外は、実施例1と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
カレンダ処理条件を、温度:100℃、線圧力:196kN/mに変更し、磁性層の研磨処理を行わず、表9に示したトップコート層用塗料成分のステアリン酸の含有量を2部に変更したトップコート層用塗料を磁性層の上に塗布した以外は、実施例1と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
研磨ホィールによる研磨処理の後に、更にラッピングテープ(日本ミクロコーティング社製#20000)によるクリーニングを行い、その後クリーニングティシュで表面の汚れを除去するクリーニング処理を行った以外は、実施例1と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
乾燥及びカレンダ処理後の磁性層の厚さを75nmに変更し、非磁性塗料の調製時に衝突型分散機を使わず、カレンダ処理条件を、温度:100℃、線圧力:196kN/mに変更し、磁性層の研磨処理を行わなかった以外は、実施例1と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
エクストルージョン型コータにて、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが1.0μmになるように非磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:294kN/mの条件でカレンダ処理を2回行い、その上に、乾燥及びカレンダ処理後の厚さが25nmになるように磁性層を形成して乾燥後、温度:100℃、線圧力:196kN/mの条件でカレンダ処理を行い、磁性層の上にトップコート層を形成しなかった以外は、実施例5と同様にして評価用の磁気テープを作製した。
LTOドライブを改造して作製したリニアテープ電磁変換特性測定装置を用いて、Writeトラック幅11μm、Writeギャップ長0.35μm、Readトラック幅6μm、Read Shield to Shieldギャップ長160nmのMRヘッドを用いて、テープ速度1.5m/secで、記録波長220nmの信号を磁気テープに記録し、再生した信号を市販のMRヘッド用Readアンプで増幅した後、アジレントテクノロジー社製のスペクトラムアナライザー“N9020A”を用いて信号の基本波成分出力(S)と積分ノイズ(N)とを測定してS/N比を算出した。その結果を表10及び表11に示す。表10及び表11では、各S/N比の値を、比較例1のS/N比を基準(0dB)として、相対値(dB)で示した。
上記リニアテープ電磁変換特性測定装置を用い、磁気テープの全長を10000パス(5000往復)走行させた後に出力を測定し、45℃、相対湿度10%の環境下で10000パス走行前の初期出力に対する出力低下(dB)の程度により走行耐久性を評価した。その結果を表10及び表11に示す。
前述の本願層厚さ測定方法により磁性層の平均厚さt、第1混合層の平均厚さL1及び第2混合層の平均厚さL2を測定した。その結果を表10及び表11に示す。
Mr・tは、試料振動型磁力計を使用して、25℃下、印加磁界796.3kA/mで測定した残留磁化の値を、測定試料の平面の面積で除して求めた。
11 非磁性支持体
12 非磁性層
13 磁性層
14 バックコート層
Claims (4)
- 非磁性支持体と、前記非磁性支持体の一方の主面に形成された非磁性層と、前記非磁性層の前記非磁性支持体側とは反対側の主面に形成された磁性層と、前記非磁性支持体の他方の主面に形成されたバックコート層とを含む磁気記録媒体であって、
前記磁性層に含まれる磁性粉末が、六方晶系フェライト磁性粉末であり、
前記磁気記録媒体の断面をYAG検出器を用いて観察して、前記断面の反射電子像を得て、前記反射電子像から前記断面の輝度値を求め、前記磁気記録媒体の断面の輝度値を平均化して作成した輝度曲線から求めた微分曲線の第1のピークと第2のピークとの間の距離を、前記磁性層の平均厚さtとし、
前記輝度曲線において、前記非磁性層の平均輝度値を0とし、前記磁性層の最高輝度値を100とした場合、前記磁性層の前記非磁性層側とは反対側の輝度値70から30までの領域の平均厚さを第1混合層の平均厚さL1とし、
前記磁性層の長手方向の残留磁束密度をMrとすると、下記関係(1)及び(2)が成立することを特徴とする磁気記録媒体。
(1)2nm≦L1≦6nm
(2)0.0020μT・m≦Mr・t≦0.0150μT・m - 前記磁性層の前記非磁性層側の輝度値70から30までの領域の平均厚さを第2混合層の平均厚さL2とすると、0.1≦L2/t≦0.45である請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記第1混合層の平均厚さL1が、2nm≦L1≦4nmであり、前記第2混合層の平均厚さL2が、0.1≦L2/t≦0.40である請求項2に記載の磁気記録媒体。
- 前記磁性層の平均厚さtが、30〜100nmである請求項1〜3のいずれか1項に記載の磁気記録媒体。
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