JP5830650B2 - Component mounting method and component mounting apparatus - Google Patents

Component mounting method and component mounting apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP5830650B2
JP5830650B2 JP2012084557A JP2012084557A JP5830650B2 JP 5830650 B2 JP5830650 B2 JP 5830650B2 JP 2012084557 A JP2012084557 A JP 2012084557A JP 2012084557 A JP2012084557 A JP 2012084557A JP 5830650 B2 JP5830650 B2 JP 5830650B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
bump
imaging
paste
luminance level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012084557A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013214636A (en
Inventor
利彦 永冶
利彦 永冶
朋美 中島
朋美 中島
加藤 秀明
秀明 加藤
浩二 桜井
浩二 桜井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2012084557A priority Critical patent/JP5830650B2/en
Priority to PCT/JP2013/001123 priority patent/WO2013150709A1/en
Publication of JP2013214636A publication Critical patent/JP2013214636A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5830650B2 publication Critical patent/JP5830650B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3436Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0817Monitoring of soldering processes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/16Inspection; Monitoring; Aligning
    • H05K2203/163Monitoring a manufacturing process
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

本発明は、基板に部品を実装する部品実装方法及び部品実装装置に関するものである。   The present invention relates to a component mounting method and a component mounting apparatus for mounting a component on a substrate.

半導体素子等の電子部品を基板に実装する形態として、電子部品の下面に形成された半田バンプを基板上の電極に着地させた後、リフロー装置によって半田バンプを加熱・溶融させることによって電子部品と基板とを半田接合する部品実装方法が知られている。このような部品実装方法では、電極の表面が酸化した状態で半田接合を行うと溶融した半田が一様に濡れ広がりにくく接合不良が発生するおそれがあるため、これを防止すべくフラックスや半田ペースト等の半田接合補助剤(以下、「ペースト」と称する)を所定の膜厚に形成するペースト転写部を装置内に設け、このペースト転写部において形成されたペースト膜に半田バンプを上方から接触させてペーストを転写させたうえで、半田バンプを基板の電極に着地させて半田接合を行っている。   As a form of mounting an electronic component such as a semiconductor element on a substrate, the solder bump formed on the lower surface of the electronic component is landed on the electrode on the substrate, and then the solder bump is heated and melted by a reflow device to A component mounting method is known in which a substrate is soldered. In such a component mounting method, when solder bonding is performed with the surface of the electrode oxidized, the molten solder is difficult to spread evenly and may cause poor bonding. Therefore, flux or solder paste may be used to prevent this. A paste transfer part for forming a solder bonding auxiliary agent (hereinafter referred to as “paste”) such as a predetermined film thickness is provided in the apparatus, and a solder bump is brought into contact with the paste film formed in the paste transfer part from above. After the paste is transferred, solder bumps are landed on the electrodes of the substrate to perform solder bonding.

このように、半田バンプにペーストを転写させて部品を基板に実装する部品実装装置では、部品を基板に装着する前に半田バンプにペーストが確実に付着しているか否かの検査を行うようになっている。そしてその検査方法としては、半田バンプに照明光を下方から照射した状態でCCDカメラ等の撮像装置で半田バンプの下面(電極との接触箇所)を撮像し、これにより得られた半田バンプの下面の画像を基にペーストの付着状態を検査する方法が知られている(例えば特許文献1)。   In this way, in a component mounting apparatus that transfers a paste to a solder bump and mounts the component on the substrate, it is inspected whether or not the paste is securely attached to the solder bump before mounting the component on the substrate. It has become. As the inspection method, the lower surface of the solder bump (contact point with the electrode) is imaged by an imaging device such as a CCD camera in a state in which the illumination light is irradiated onto the solder bump from below, and the lower surface of the solder bump obtained thereby. A method for inspecting the adhesion state of the paste based on the image is known (for example, Patent Document 1).

特開2003−60398号公報JP 2003-60398 A

しかしながら前述の従来方法では、ペーストとして透明な色のものを用いた場合、次のような問題が生じていた。すなわち、透明のペーストは光の吸収率が低く且つ光を透過させるため、透明でないペーストでは吸収されていた光が吸収されずにその殆どが反射する。そのため、透明のペーストが付着した半田バンプの下面の撮像画像では、半田バンプとペーストが略同一の輝度レベルであらわされて両者を明瞭に判別することができず、ペーストが付着しているか否かの判断が困難になるという問題があった。   However, in the above-described conventional method, when a paste having a transparent color is used, the following problems occur. That is, since the transparent paste has a low light absorptivity and transmits light, most of the light that was absorbed by the non-transparent paste is reflected without being absorbed. Therefore, in the captured image of the lower surface of the solder bump to which the transparent paste is attached, the solder bump and the paste are represented by substantially the same luminance level, and the two cannot be clearly distinguished. There was a problem that it was difficult to judge.

そこで本発明は、部品のバンプに付着させるペーストとして透明な色のものを用いた場合でも、バンプに対してペーストが付着しているか否かを精度良く判断することができる部品実装方法及び部品実装装置を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention provides a component mounting method and a component mounting that can accurately determine whether or not the paste is attached to the bump even when a paste having a transparent color is used as the paste attached to the bump of the component. An object is to provide an apparatus.

本発明の請求項1に記載の部品実装方法は、バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置を用いた部品実装方法であって、バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得工程と、前記部品保持部材によって前記部品供給部から取り出した部品のバンプにペーストを付着させるペースト付着工程と、前記ペースト付着工程を経た部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ工程と、前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像する撮像工程と、前記撮像工程により撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断工程とを含む。   In the component mounting method according to the first aspect of the present invention, the component having the bump on the lower surface is taken out from the component supply unit by the component holding member and the paste is attached to the bump, and then the component is illuminated by the illumination means. A component mounting method using a component mounting apparatus that mounts a component on a board after imaging from below by an imaging means to determine the state of paste adhesion to the bump, and in which the paste is not adhered to the bump When the component is imaged from below by the imaging unit with the illumination unit illuminated, the height of the component at which the luminance level at the center of the lower surface of the bump is lower than the luminance level at the outer edge of the lower surface of the bump A reference height acquisition process for acquiring the reference height as a reference height, and a paste for attaching the paste to the bumps of the component taken out from the component supply unit by the component holding member. A strike attachment step, a reference height alignment step of aligning the component that has undergone the paste attachment step with the reference height in a state of being illuminated by the illumination means, and a component that is aligned with the reference height An imaging step of imaging from below, and a determination step of determining the paste adhesion state based on the luminance level of the central portion of the lower surface of the bump obtained by imaging by the imaging step.

本発明の請求項2に記載の部品実装方法は、請求項1に記載の部品実装方法であって、前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行う。   The component mounting method according to a second aspect of the present invention is the component mounting method according to the first aspect, wherein the determination in the determination step is a lower surface of a bump in an image obtained by imaging in the imaging step. The brightness level of the central portion is compared with the brightness level of the outer edge of the lower surface of the bump in the image obtained by imaging in the imaging step.

本発明の請求項3に記載の部品実装方法は、請求項1に記載の部品実装方法であって、前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得工程において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行う。   The component mounting method according to claim 3 of the present invention is the component mounting method according to claim 1, wherein the determination in the determination step is a lower surface of a bump in an image obtained by imaging in the imaging step. The brightness level of the center is compared with the brightness level of the center of the lower surface of the bump in the image obtained when the part positioned at the reference height in the reference height acquisition step is imaged from below by the imaging means. Do it.

本発明の請求項4に記載の部品実装装置は、バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置であって、バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得手段と、バンプにペーストを付着させるための処理を行った部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ手段と、前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断手段とを備えた。   In the component mounting apparatus according to claim 4 of the present invention, after the component having the bump on the lower surface is taken out from the component supply unit by the component holding member and the paste is attached to the bump, the component is illuminated by the illumination means. A component mounting apparatus that mounts a component on a substrate after the image is picked up from below by an image pickup means and judges the state of the paste attached to the bump, and the illumination means illuminates the component without the paste attached to the bump In this state, when the component is imaged from below by the imaging means, the height of the component whose luminance level at the center of the lower surface of the bump is lower than the luminance level of the outer edge of the lower surface of the bump is obtained as the reference height. And aligning the reference height with the reference height in a state where the illumination means illuminates a component that has been subjected to a process for attaching paste to the bump. Quasi-height positioning means, and judgment means for judging the adhesion state of the paste based on the luminance level at the center of the lower surface of the bump obtained by imaging the part aligned with the reference height from below by the imaging means And with.

本発明の請求項5に記載の部品実装装置は、請求項4に記載の部品実装装置であって、前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行う。   A component mounting apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the component mounting apparatus according to the fourth aspect, wherein the determination in the determination means is a lower surface of a bump in an image obtained by imaging by the imaging means. The brightness level of the central portion is compared with the brightness level of the outer edge of the lower surface of the bump in the image obtained by imaging by the imaging means.

本発明の請求項6に記載の部品実装装置は、請求項4に記載の部品実装装置であって、前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得手段において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行う。   A component mounting apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the component mounting apparatus according to the fourth aspect, wherein the determination by the determination means is a lower surface of a bump in an image obtained by imaging by the imaging means. The brightness level of the central part is compared with the brightness level of the central part of the lower surface of the bump in the image obtained when the part positioned at the reference height in the reference height acquisition means is imaged from below by the imaging means. Do it.

本発明では、バンプにペーストを付着させる前の当該バンプの下面中心部の輝度レベルがその下面外縁部の輝度レベルよりも低くても、その部分にペーストが付着すれば照明光が乱反射して輝度レベルが高くなることを利用しており、バンプにペーストが付着していない状態の部品の当該バンプの下面中心部の輝度レベルがその下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる基準高さを取得し、バンプにペーストを付着させるための処理がなされた部品を基準高さに位置合わせし、位置合わせした部品を下方から撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行うことにより、透明なペーストを用いた場合であってもペーストの付着状態の判断を精度良く行うことができる。   In the present invention, even if the luminance level at the center of the lower surface of the bump before the paste is attached to the bump is lower than the luminance level at the outer edge of the lower surface, if the paste adheres to that portion, the illumination light is irregularly reflected and the luminance is reduced. Using a higher level, obtain a reference height at which the brightness level at the center of the lower surface of the bump is lower than the brightness level at the outer edge of the bump when the paste is not attached to the bump. , Paste the paste on the bump, paste the component based on the brightness level at the center of the lower surface of the bump obtained by aligning the component with the reference height and imaging the aligned component from below Thus, even when a transparent paste is used, it is possible to accurately determine the state of paste adhesion.

本発明の一実施の形態における部品実装装置の平面図The top view of the component mounting apparatus in one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態における部品実装装置の部分側面図The partial side view of the component mounting apparatus in one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態における部品実装装置の部品認識ユニットの断面図Sectional drawing of the component recognition unit of the component mounting apparatus in one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態における部品実装装置の制御装置のブロック図The block diagram of the control apparatus of the component mounting apparatus in one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態における基準データの取得工程を示したフロー図The flowchart which showed the acquisition process of the reference data in one embodiment of this invention (a)(b)本発明の一実施の形態における基準データ取得動作を示す説明図(A) (b) Explanatory drawing which shows the reference | standard data acquisition operation | movement in one embodiment of this invention (a)(b)本発明の一実施の形態における基準データ取得動作を示す説明図(A) (b) Explanatory drawing which shows the reference | standard data acquisition operation | movement in one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態における部品実装工程を示したフロー図The flowchart which showed the component mounting process in one embodiment of this invention (a)(b)(c)(d)(e)本発明の一実施の形態におけるペースト付着動作を示す説明図(A) (b) (c) (d) (e) Explanatory drawing which shows the paste adhesion | attachment operation | movement in one embodiment of this invention. (a)(b)本発明の一実施の形態における検査工程を示す説明図(A) (b) Explanatory drawing which shows the inspection process in one embodiment of this invention (a)(b)本発明の一実施の形態における部品実装動作を示す説明図(A) (b) Explanatory drawing which shows the component mounting operation | movement in one embodiment of this invention

まず、図1を参照して部品実装装置の全体構造について説明する。部品実装装置1は、上面に電極2aが形成された基板2を水平面内の一の方向(X方向とする)に搬送して所定の実装作業位置に位置決めし、当該位置にて電極2a上に電子部品等の部品3の下面3bに複数形成された球状の半田バンプ3a(以下、単に「バンプ3a」と称する(図2))を接触させることによって基板2に部品3を装着する。この部品実装装置1は基台4、基台4上に設けられた基板搬送部5、部品供給部としての複数のテープフィーダ7、ペースト転写部8、実装ヘッド16、部品撮像ユニット24及び各部の作動制御を行う制御装置28(図4)等から構成されている。   First, the overall structure of the component mounting apparatus will be described with reference to FIG. The component mounting apparatus 1 conveys the substrate 2 having the electrode 2a formed on the upper surface in one direction (X direction) in a horizontal plane and positions the substrate 2 at a predetermined mounting work position, and on the electrode 2a at the position. The component 3 is mounted on the substrate 2 by contacting a plurality of spherical solder bumps 3a (hereinafter simply referred to as “bumps 3a” (FIG. 2)) formed on the lower surface 3b of the component 3 such as an electronic component. The component mounting apparatus 1 includes a base 4, a substrate transport unit 5 provided on the base 4, a plurality of tape feeders 7 as a component supply unit, a paste transfer unit 8, a mounting head 16, a component imaging unit 24, and each part It comprises a control device 28 (FIG. 4) that performs operation control.

図1において、基板搬送部5は基台4上でX方向と直交するY方向に対向してX方向に延びた一対の搬送コンベア支持部材6と、一対の搬送コンベア支持部材6にそれぞれ取り付けられた搬送コンベア6aから成る。上流側の装置での作業を終えた基板2は搬送コンベア6aに乗り移り、その両側を搬送コンベア6aによって下方から支持された状態でX方向に搬送され、所定の実装作業位置にて位置決めされる。   In FIG. 1, the board | substrate conveyance part 5 is each attached to a pair of conveyance conveyor support member 6 extended in the X direction facing the Y direction orthogonal to X direction on the base 4, and a pair of conveyance conveyor support member 6 respectively. It consists of a conveyor 6a. The substrate 2 that has finished the work in the upstream apparatus is transferred to the transport conveyor 6a, transported in the X direction while being supported from below by the transport conveyor 6a, and positioned at a predetermined mounting work position.

図1において、各テープフィーダ7は基台4のY方向に対向する両端部にX方向に整列して設けられており、搬送コンベア支持部材6側の上端部には上方が開口した部品供給口7aが形成されている。テープフィーダ7は部品供給口7aに部品3を連続的に供給する。   In FIG. 1, each tape feeder 7 is provided at both ends of the base 4 facing the Y direction so as to be aligned in the X direction, and a component supply port having an upper opening at the upper end on the side of the conveyor support member 6. 7a is formed. The tape feeder 7 continuously supplies the component 3 to the component supply port 7a.

図1、図2において、ペースト転写部8は基台4のY方向の一端側においてテープフィーダ7に隣接して配設され、ベース部9と、ベース部9上に配設され上面にフラックスや半田ペースト等の半田接合補助剤(以下、「ペーストP」と称する)が供給される転写テーブル10と、転写テーブル10の上方に配設されたスキージヘッド11から成る。転写テーブル10は上面が平滑になっており、内蔵された駆動機構(不図示)によってベース部9上をY方向に移動可能となっている。スキージヘッド11は、内蔵された昇降機構(不図示)によって個別に昇降可能な第1スキージ部材11A、第2スキージ部材11Bを備えている。なお、本実施の形態においては光の透過率が高い透明な色のペーストPが用いられる。   1 and 2, the paste transfer portion 8 is disposed adjacent to the tape feeder 7 on one end side of the base 4 in the Y direction, and is disposed on the base portion 9 and the base portion 9 with a flux or the like on the upper surface. The transfer table 10 is supplied with a solder bonding aid (hereinafter referred to as “paste P”) such as solder paste, and the squeegee head 11 is disposed above the transfer table 10. The transfer table 10 has a smooth upper surface and can be moved in the Y direction on the base portion 9 by a built-in drive mechanism (not shown). The squeegee head 11 includes a first squeegee member 11A and a second squeegee member 11B that can be raised and lowered individually by a built-in lifting mechanism (not shown). In the present embodiment, a transparent color paste P having a high light transmittance is used.

図1において、ヘッド移動機構12は基台4のX方向の一端部にY方向に延びて設けられたY軸テーブル13と、X方向に延び、Y軸テーブル13に一端が取り付けられてY軸テーブル13に沿って移動自在な2つのX軸テーブル14と、各X軸テーブル14をX方向に移動自在に設けられた移動プレート15から成り、実装ヘッド16は各移動プレート15に取り付けられている。また、各移動プレート15には下方に撮像面を有する基板認識カメラ17(図2も参照)が取り付けられている。   In FIG. 1, the head moving mechanism 12 includes a Y-axis table 13 that extends in the Y direction at one end of the base 4 in the X direction, and extends in the X direction. The X-axis table 14 is movable along the table 13, and the movable plate 15 is provided so that each X-axis table 14 is movable in the X direction. The mounting head 16 is attached to each movable plate 15. . In addition, a substrate recognition camera 17 (see also FIG. 2) having an imaging surface below is attached to each moving plate 15.

図2において、実装ヘッド16は複数の保持ヘッド18から成り、各保持ヘッド18の下方には部品保持部材としての吸着ノズル19が装着されている。実装ヘッド16には図示しないアクチュエータから成る吸着機構20、昇降機構21及びノズル回転機構22が内蔵されており、これらの各機構によって吸着ノズル19は部品3の吸着及びその解除、昇降(矢印a)、垂直方向(Z方向)を軸心とした水平方向への回転(矢印b)が可能となっている。   In FIG. 2, the mounting head 16 includes a plurality of holding heads 18, and suction nozzles 19 as component holding members are mounted below the holding heads 18. The mounting head 16 includes a suction mechanism 20, which includes an actuator (not shown), an elevating mechanism 21, and a nozzle rotating mechanism 22. By these mechanisms, the suction nozzle 19 sucks and releases the component 3, and lifts (arrow a). Rotation in the horizontal direction (arrow b) is possible with the vertical direction (Z direction) as the axis.

図1、図3において、部品撮像ユニット24は、基台4上であってテープフィーダ7と搬送コンベア支持部材6との間に配設され上方が開口した筐体23内に備えられており、上方に撮像面25Aを有する部品認識カメラ25と、筐体23内において部品認識カメラ25の上方に配設された照明手段としての光源26から成る。   1 and 3, the component imaging unit 24 is provided in a housing 23 that is disposed on the base 4 between the tape feeder 7 and the transport conveyor support member 6 and that opens upward. It consists of a component recognition camera 25 having an imaging surface 25A on the upper side, and a light source 26 as illumination means disposed above the component recognition camera 25 in the housing 23.

光源26は平面視して部品認識カメラ25を四方から取り囲むように筐体23の内壁に複数配設されており、筐体23の側方からその内部側(斜め上方)に向けて照明光rを照射する。図3、図6(b)は便宜上、光源26の図示を一部省略している。また、基台4上であって筐体23のX方向に隣接する位置には、バンプ3aの欠落等により認識の結果実装不可能と判断された部品3が回収される部品回収部27が設けられている。   A plurality of light sources 26 are arranged on the inner wall of the housing 23 so as to surround the component recognition camera 25 from four sides in plan view, and the illumination light r is directed from the side of the housing 23 toward the inside (slant upward). Irradiate. In FIG. 3 and FIG. 6B, the light source 26 is partially omitted for convenience. In addition, a component collection unit 27 that collects components 3 that are determined to be unmountable as a result of recognition due to missing bumps 3a or the like is provided on the base 4 and in a position adjacent to the X direction of the housing 23. It has been.

次に、図4を参照して制御系の構成を説明する。部品実装装置1に備えられた制御装置28は、機構制御部29、撮像制御部30、画像処理部31、照明制御部32、記憶部33、判断部34、報知部35及び表示処理部36を有しており、表示処理部36はモニタ等の表示部37と接続されている。機構制御部29は、搬送コンベア6aの作動制御を行って基板2の搬送、ヘッド移動機構12の作動制御を行って実装ヘッド16のX及びY方向への移動、テープフィーダ7の作動制御を行って部品供給口7aへの部品3の供給、実装ヘッド16に内蔵された吸着機構20、昇降機構21及びノズル回転機構22の作動制御を行って部品3の吸着、吸着の解除、吸着ノズル19の昇降及び水平方向への回転、ペースト転写部8の作動制御を行って転写テーブル10上でのペーストPの塗膜形成処理を実行する。   Next, the configuration of the control system will be described with reference to FIG. The control device 28 provided in the component mounting apparatus 1 includes a mechanism control unit 29, an imaging control unit 30, an image processing unit 31, an illumination control unit 32, a storage unit 33, a determination unit 34, a notification unit 35, and a display processing unit 36. The display processing unit 36 is connected to a display unit 37 such as a monitor. The mechanism control unit 29 controls the operation of the transport conveyor 6a to transport the substrate 2 and controls the operation of the head moving mechanism 12 to move the mounting head 16 in the X and Y directions and to control the operation of the tape feeder 7. The component 3 is supplied to the component supply port 7a, the operation of the suction mechanism 20, the lifting mechanism 21 and the nozzle rotating mechanism 22 built in the mounting head 16 is controlled to suck the component 3, release the suction, The coating film forming process of the paste P on the transfer table 10 is executed by performing the up-and-down and the horizontal rotation and the operation control of the paste transfer unit 8.

撮像制御部30は、基板認識カメラ17及び部品認識カメラ25の作動制御を行って、実装作業位置に位置決めされた基板2及び部品認識カメラ25の上方に位置した部品3の撮像処理を実行する。基板認識カメラ17及び部品認識カメラ25によって得られた画像データは画像処理部31に送られ画像認識処理がなされる。照明制御部32は光源26の作動制御を行って、部品認識カメラ25による部品3の撮像時に光源26から照明光rを照射する処理を実行する。   The imaging control unit 30 performs an operation control of the board recognition camera 17 and the part recognition camera 25, and executes an imaging process for the board 2 positioned at the mounting work position and the part 3 positioned above the part recognition camera 25. Image data obtained by the board recognition camera 17 and the component recognition camera 25 is sent to the image processing unit 31 for image recognition processing. The illumination control unit 32 controls the operation of the light source 26 and executes a process of irradiating the illumination light r from the light source 26 when the component 3 is imaged by the component recognition camera 25.

記憶部33は実装動作プログラム33a、基準データ取得プログラム33b及び検査プログラム33cを記憶する。実装動作プログラム33aは、基板2を対象とした部品3の実装動作を実行する際に用いられるプログラムである。基準データ取得プログラム33bは、バンプ3aに対するペーストPの付着状態の検査を行うにあたって、後述する基準データを取得する際に用いられるプログラムである。検査プログラム33cは、バンプ3aに対するペーストPの付着状態を判断する際に用いられるプログラムである。部品実装装置1を構成する各機構は、これらのプログラムに基づいて制御装置28を介して動作する。   The storage unit 33 stores a mounting operation program 33a, a reference data acquisition program 33b, and an inspection program 33c. The mounting operation program 33a is a program used when the mounting operation of the component 3 targeting the board 2 is executed. The reference data acquisition program 33b is a program used when acquiring reference data, which will be described later, when inspecting the adhesion state of the paste P on the bumps 3a. The inspection program 33c is a program used when determining the adhesion state of the paste P to the bump 3a. Each mechanism constituting the component mounting apparatus 1 operates via the control device 28 based on these programs.

判断部34は、後述するバンプ3aの下面の輝度レベルに基づいてバンプ3aにペーストPが付着しているか否かの判断を行う。報知部35は、バンプ3aにペーストPが付着していないと判断部34が判断した場合に当該判断部34からの信号を受けて、その旨を表示部37に表示するよう表示処理部36に信号を送信する。表示処理部36は報知部35からの信号を受けて、表示部37にその旨を表示するための処理を実行する。   The determination unit 34 determines whether or not the paste P is attached to the bump 3a based on the luminance level of the lower surface of the bump 3a described later. When the determination unit 34 determines that the paste P is not attached to the bump 3a, the notification unit 35 receives a signal from the determination unit 34 and displays a message to that effect on the display unit 37. Send a signal. The display processing unit 36 receives the signal from the notification unit 35 and executes a process for displaying the signal on the display unit 37.

以上の構成から成る部品実装装置1によれば、バンプ3aを下面3bに有する部品3を吸着ノズル19(部品保持部材)によってテープフィーダ7(部品供給部)から取り出してバンプ3aにペーストPを付着させた後、その部品3を光源26(照明手段)で照明した状態で部品認識カメラ25(撮像手段)により下方から撮像してバンプ3aに対するペーストPの付着状態の判断を行ってから基板2に部品3を装着する部品実装が実現される。以下、この具体的な動作について説明する。本実施の形態では、バンプ3aに対するペーストPの付着状態を判断するにあたり、その判断時に必要となる基準データを取得するための作業を部品実装動作前に行う。   According to the component mounting apparatus 1 having the above configuration, the component 3 having the bump 3a on the lower surface 3b is taken out from the tape feeder 7 (component supply unit) by the suction nozzle 19 (component holding member), and the paste P is attached to the bump 3a. After that, the component 3 is illuminated by the light source 26 (illuminating means) and imaged from below by the component recognition camera 25 (imaging means) to determine the adhesion state of the paste P on the bump 3a and then applied to the substrate 2. Component mounting for mounting the component 3 is realized. Hereinafter, this specific operation will be described. In this embodiment, when determining the state of adhesion of the paste P to the bump 3a, an operation for obtaining reference data necessary for the determination is performed before the component mounting operation.

基準データの取得作業について、図5〜図7を用いて説明する。まず、制御装置28は実装ヘッド16を部品供給口7aの上方に移動させ、その位置から吸着ノズル19を下降(矢印a1)させて部品供給口7aに供給された部品3を吸着し、吸着ノズル19を上昇(矢印a2)させて部品3を取り出す(ST1の部品取り出し工程)(図6(a))。次いで、制御装置28は平面視して吸着ノズル19が部品認識カメラ25の上方に位置するよう実装ヘッド16を移動させる(ST2の吸着ノズル位置合わせ工程)(図6(b))。   The reference data acquisition operation will be described with reference to FIGS. First, the control device 28 moves the mounting head 16 above the component supply port 7a, lowers the suction nozzle 19 from that position (arrow a1), and sucks the component 3 supplied to the component supply port 7a. 19 is raised (arrow a2) to take out the part 3 (ST1 part taking-out step) (FIG. 6A). Next, the control device 28 moves the mounting head 16 so that the suction nozzle 19 is positioned above the component recognition camera 25 in plan view (ST2 suction nozzle alignment step in ST2) (FIG. 6B).

次いで、制御装置28は光源26から照明光rを照射させた状態で、部品3(バンプ3aにペーストPを付着させる処理を行っていないので、以下、「未処理部品3A」と称する)を保持した吸着ノズル19を下降(矢印a1)させることにより、未処理部品3Aのバンプ3Aaに対して照明光rが側方から照射された状態となるようにする(ST3の照明工程)(図6(b))。   Next, the control device 28 holds the component 3 (hereinafter referred to as “unprocessed component 3A” because the process of attaching the paste P to the bump 3a is not performed) with the illumination light r emitted from the light source 26. The lowered suction nozzle 19 is lowered (arrow a1) so that the illumination light r is irradiated from the side to the bumps 3Aa of the untreated component 3A (illumination process of ST3) (FIG. 6 ( b)).

図7(a)において、バンプ3Aaの表面に入射する照明光rは、球状のバンプ3Aaの中心点Oと当該照明光rの入射点Qを結ぶ仮想線Lに対する角度(入射角Θ1)と等しい角度(反射角Θ2)で反射する。制御装置28は吸着ノズル19を昇降(矢印a)させて、バンプ3Aaの表面で反射した照明光rが撮像面25Aのうちバンプ3Aaの下面中心部E1の垂直下方に位置する領域25Aaよりも、バンプ3Aaの下面外縁部E2の垂直下方に位置する領域25Abに多く入射するように未処理部品3Aの高さを調整する(ST4の部品高さ調整工程)。   In FIG. 7A, the illumination light r incident on the surface of the bump 3Aa is equal to an angle (incident angle Θ1) with respect to a virtual line L connecting the center point O of the spherical bump 3Aa and the incident point Q of the illumination light r. Reflects at an angle (reflection angle Θ2). The control device 28 raises and lowers the suction nozzle 19 (arrow a), and the illumination light r reflected by the surface of the bump 3Aa is more than the region 25Aa that is located vertically below the lower surface center portion E1 of the bump 3Aa in the imaging surface 25A. The height of the unprocessed component 3A is adjusted so as to enter a large amount in the region 25Ab located vertically below the lower edge portion E2 of the lower surface of the bump 3Aa (component height adjustment step of ST4).

つまり、バンプ3aにペーストPが付着していない状態の部品3(未処理部品3A)を光源26で照明した状態で、部品認識カメラ25により下方から当該部品3を撮像したときに、バンプ3aの下面中心部の輝度レベルがそのバンプ3aの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなるように部品3の高さを調整し、調整後の部品3の高さ(撮像面25Aに対する未処理部品3Aの下面3Abの高さ)を基準高さHとして取得する(ST5の基準高さ取得工程)。なお、取得した基準高さHは基準データとして記憶部33に記憶される。   That is, when the component 3 (unprocessed component 3A) in which the paste P is not attached to the bump 3a is illuminated by the light source 26, when the component 3 is imaged from below by the component recognition camera 25, the bump 3a The height of the component 3 is adjusted so that the luminance level at the center of the lower surface is lower than the luminance level at the outer edge of the lower surface of the bump 3a, and the height of the adjusted component 3 (the unprocessed component 3A relative to the imaging surface 25A) is adjusted. The height of the lower surface 3Ab) is acquired as the reference height H (ST5 reference height acquisition step). The acquired reference height H is stored in the storage unit 33 as reference data.

図7(b)は、基準高さHに位置する未処理部品3Aを部品認識カメラ25により下方から撮像したときに得られる画像を示しており、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルは下面外縁部E2の輝度レベルよりも低く(つまり暗く)あらわされている。なお、一般にバンプは部品の下面に複数形成されるので、未処理部品3Aを撮像したときに全てのバンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルが下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるよう未処理部品3Aの高さを調整する。また、未処理部品3Aの高さの調整は、バンプ3Aaの下面3Abの画像を表示部37に表示させ、当該画像をオペレータが視認しながら吸着ノズル19を昇降させて行うようにしてもよい。   FIG. 7B shows an image obtained when the unprocessed component 3A located at the reference height H is imaged from below by the component recognition camera 25, and the luminance level of the lower surface central portion E1 of the bump 3Aa is lower surface. It is shown lower (that is, darker) than the luminance level of the outer edge E2. In general, since a plurality of bumps are formed on the lower surface of the component, the luminance level of the lower surface center portion E1 of all the bumps 3Aa is not lower than the luminance level of the lower surface outer edge portion E2 when the unprocessed component 3A is imaged. The height of the processing component 3A is adjusted. Further, the height of the unprocessed part 3A may be adjusted by displaying an image of the lower surface 3Ab of the bump 3Aa on the display unit 37 and moving the suction nozzle 19 up and down while visually confirming the image.

基準高さHとしては、バンプ3Aaの下面中心部E1に照明光rが入射しないことによってその下面中心部E1の輝度レベルが下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるような未処理部品3Aの高さを選定してもよい。また、バンプ3Aaの下面中心部E1に照明光rが入射しても、その反射光が下面中心部E1の垂直下方に位置する撮像面25Aの領域25Aaに入射しないことによって、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルが下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるような未処理部品3Aの高さを選定してもよい。要は、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルがその下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなるような未処理部品3Aの高さを基準高さHとすればよい。また、部品3の本体サイズ、バンプサイズ、照明角度等に基づいて設計的(幾何学的)に基準高さHを取得してもよい。   The reference height H of the untreated component 3A is such that the luminance level of the lower surface center portion E1 becomes lower than the luminance level of the lower surface outer edge portion E2 because the illumination light r does not enter the lower surface center portion E1 of the bump 3Aa. The height may be selected. Further, even if the illumination light r is incident on the lower surface center portion E1 of the bump 3Aa, the reflected light is not incident on the region 25Aa of the imaging surface 25A positioned vertically below the lower surface center portion E1, thereby the lower surface center of the bump 3Aa. The height of the unprocessed component 3A may be selected such that the luminance level of the portion E1 is lower than the luminance level of the lower surface outer edge portion E2. In short, the height of the unprocessed component 3A that makes the luminance level of the lower surface center portion E1 of the bump 3Aa lower than the luminance level of the lower surface outer edge portion E2 may be set as the reference height H. Further, the reference height H may be acquired in a design (geometrical) manner based on the main body size, bump size, illumination angle, and the like of the component 3.

基準高さHを取得したならば、次に、ペーストPの付着状態の検査を含む部品実装動作を行う。この部品実装動作について、図8〜図10を用いて説明する。まず、制御装置28は搬送コンベア6aによって基板2を実装作業位置に搬送して位置決めし(ST6の基板搬送工程)、位置決めした基板2の上方に実装ヘッド16を移動させ、基板認識カメラ17によって基板2を上方から撮像する(ST7の基板撮像工程)。   If the reference height H is acquired, then a component mounting operation including an inspection of the adhesion state of the paste P is performed. This component mounting operation will be described with reference to FIGS. First, the control device 28 transports and positions the substrate 2 to the mounting work position by the transport conveyor 6a (substrate transport process in ST6), moves the mounting head 16 over the positioned substrate 2, and the substrate recognition camera 17 causes the substrate to be moved. 2 is imaged from above (substrate imaging step of ST7).

基板2を撮像したならば、制御装置28は前述の(ST1)と同様に、実装対象となる部品3を供給するテープフィーダ7の部品供給口7aの上方まで実装ヘッド16を移動させ、吸着ノズル19で部品3を吸着して取り出す(ST8の部品取り出し工程)。次いで、制御装置28は吸着ノズル19によってテープフィーダ7から取り出した部品3のバンプ3aにペーストPを付着させる動作を実行する(ST9のペースト付着工程)。   If the board | substrate 2 is imaged, the control apparatus 28 will move the mounting head 16 above the component supply port 7a of the tape feeder 7 which supplies the component 3 used as mounting object similarly to the above-mentioned (ST1), and will carry out a suction nozzle. In step 19, the part 3 is sucked and taken out (ST8 part taking-out step). Next, the control device 28 performs an operation of attaching the paste P to the bumps 3a of the component 3 taken out from the tape feeder 7 by the suction nozzle 19 (ST9 paste attaching step).

図9を用いて、ペースト転写部8におけるペーストPの成膜動作及び付着動作について説明する。図9(a)は、成膜動作の開始前に第1スキージ部材11A、第2スキージ部材11Bが転写テーブル10上の端部(この例では右側)に位置し、両スキージ部材間にペーストPが掻き集められた状態を示している。成膜動作の開始に際しては、制御装置28は第1スキージ部材11Aの下端部と転写テーブル10の上面との間の隙間gを、バンプ3aに適正量のペーストPを付着させるのに適正な膜厚tになるよう第1スキージ部材11Aを昇降(矢印c)させるとともに、膜形成時のペーストPの流動を妨げないよう、第2スキージ部材11Bを昇降させる(矢印d)。   With reference to FIG. 9, the film forming operation and the attaching operation of the paste P in the paste transfer unit 8 will be described. FIG. 9A shows that the first squeegee member 11A and the second squeegee member 11B are positioned on the end portion (right side in this example) on the transfer table 10 before the film forming operation is started, and the paste P between the squeegee members. Indicates a state of being scraped. At the start of the film forming operation, the control device 28 uses a gap g between the lower end portion of the first squeegee member 11A and the upper surface of the transfer table 10 to form an appropriate film for attaching an appropriate amount of paste P to the bumps 3a. The first squeegee member 11A is moved up and down (arrow c) so as to have a thickness t, and the second squeegee member 11B is moved up and down so as not to hinder the flow of the paste P during film formation (arrow d).

次いで図9(b)に示すように、制御装置28は駆動機構を介して転写テーブル10を矢印e方向に移動させる。これにより、転写テーブル10上においてペーストPが第1スキージ部材11Aによって延展され、膜厚tのペースト塗膜Paが形成される。そして図9(c)に示すように、制御装置28は吸着ノズル19をペースト塗膜Pa上に移動させ、この位置で吸着ノズル19を下降(矢印a1)させることによってバンプ3aにペーストPを転写(付着)させる。ペースト転写後、制御装置28は吸着ノズル19を上昇(矢印a2)させることで(図9(d))、ペーストPの付着動作は完了する。なお、バンプ3Baに付着したペーストPの表面は凹凸状になっている(図10(a))。   Next, as shown in FIG. 9B, the control device 28 moves the transfer table 10 in the direction of arrow e through the drive mechanism. As a result, the paste P is spread on the transfer table 10 by the first squeegee member 11A, and a paste coating film Pa having a film thickness t is formed. Then, as shown in FIG. 9C, the control device 28 moves the suction nozzle 19 onto the paste coating film Pa, and lowers the suction nozzle 19 at this position (arrow a1) to transfer the paste P to the bump 3a. (Attach). After the paste transfer, the control device 28 raises the suction nozzle 19 (arrow a2) (FIG. 9D), and the paste P attaching operation is completed. Note that the surface of the paste P attached to the bump 3Ba is uneven (FIG. 10A).

ペーストPの付着動作を繰り返すにつれ、ペースト塗膜Paの表面は荒れた状態となる。かかる場合、図9(e)に示すように、制御装置28は第2スキージ部材11Bを下降(矢印d2)させてその下端部を転写テーブル10の上面に接地させ、その状態で転写テーブル10を矢印f方向に移動させることによって、ペーストPが一端に掻き集められた状態(図9(a))に戻る。その後、前述の動作を行うことで所望の膜厚のペースト塗膜Paが再度形成される。   As the adhesion operation of the paste P is repeated, the surface of the paste coating film Pa becomes rough. In such a case, as shown in FIG. 9 (e), the control device 28 lowers the second squeegee member 11B (arrow d2) and grounds the lower end of the second squeegee member 11B on the upper surface of the transfer table 10. By moving in the direction of the arrow f, the state returns to the state where the paste P has been collected at one end (FIG. 9A). Thereafter, the paste film Pa having a desired film thickness is formed again by performing the above-described operation.

前述したペーストPの付着動作においては、バンプ3aのサイズのばらつきやペースト塗膜Paの表面が荒れた状態で付着動作を行うこと等に起因して、バンプ3aに充分な量のペーストPが付着しない事態が起こり得る。そのため、本実施の形態ではペーストPの付着動作処理を終えた部品3(以下、「処理済部品3B」と称する)に対して、以下に説明するペーストPの付着状態の検査を行う。   In the adhesion operation of the paste P described above, a sufficient amount of paste P adheres to the bump 3a due to the variation in the size of the bump 3a or the adhesion operation performed in a state where the surface of the paste coating film Pa is rough. Things can happen. For this reason, in the present embodiment, the paste P adhesion state described below is inspected for the component 3 (hereinafter referred to as “processed component 3B”) that has undergone the paste P adhesion operation processing.

まず、制御装置28は(ST9)のペースト付着工程を経た処理済部品3Bを保持した吸着ノズル19を部品認識カメラ25の上方に移動させた後、吸着ノズル19を下降させて処理済部品3Bを光源26で照明した状態で基準高さHに位置合わせする(ST10の基準高さ位置合わせ工程)。そして、基準高さHに位置合わせした処理済部品3Bを部品認識カメラ25により下方から撮像する(ST11の撮像工程)。   First, the control device 28 moves the suction nozzle 19 holding the processed part 3B that has undergone the paste attaching process of (ST9) above the part recognition camera 25, and then lowers the suction nozzle 19 to move the processed part 3B. In the state illuminated with the light source 26, it aligns with the reference height H (reference height alignment process of ST10). Then, the processed component 3B aligned with the reference height H is imaged from below by the component recognition camera 25 (imaging process of ST11).

ここで、照明光rが入射する位置にペーストPが存在する場合、図10(a)に示すように、ペーストPの表面に入射した照明光rはその凹凸状の表面で乱反射する他、ペーストP内を通過してバンプ3Baに到達し、当該バンプ3Baの表面で反射してペーストPの表面から外界に出射する。このとき、ペーストP内への入射時及びペーストPからの出射時におけるペーストPの屈折率の影響を受け、ペーストPが付着していない場合とは異なる方向へ照明光rが反射して部品認識カメラ25の撮像面25Aに入射する。図中、破線であらわす照明光rは、バンプ3BaにペーストPが付着していないと仮定した場合の光路を示している。   Here, when the paste P exists at the position where the illumination light r is incident, the illumination light r incident on the surface of the paste P is irregularly reflected on the uneven surface as shown in FIG. It passes through the inside of P, reaches the bump 3Ba, reflects off the surface of the bump 3Ba, and exits from the surface of the paste P to the outside. At this time, due to the influence of the refractive index of the paste P when entering the paste P and when exiting the paste P, the illumination light r is reflected in a direction different from the case where the paste P is not attached, thereby recognizing the part. The light enters the imaging surface 25 </ b> A of the camera 25. In the drawing, illumination light r represented by a broken line indicates an optical path when it is assumed that the paste P is not attached to the bump 3Ba.

このような状況下で基準高さHに位置する処理済部品3Bを下方から撮像すると、図10(b)に示すように、バンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルと下面外縁部F2の輝度レベルは、撮像面25Aに対して無作為に入射する照明光r(乱反射光)の影響を受けて略同一になる。なお、バンプ3aにペーストPが付着していない状態の部品3(未処理部品3A)を基準高さHに位置させた状態で下方から撮像したとき、バンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベルはその下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くあらわされる(図7(b))。   When the processed part 3B positioned at the reference height H under such a situation is imaged from below, as shown in FIG. 10B, the luminance level of the lower surface center portion F1 of the bump 3Ba and the luminance of the lower surface outer edge portion F2 are obtained. The levels are substantially the same under the influence of illumination light r (random reflection light) that randomly enters the imaging surface 25A. When the component 3 (unprocessed component 3A) in which the paste P is not attached to the bump 3a is imaged from below with the component 3 positioned at the reference height H, the luminance level of the lower surface center portion E1 of the bump 3Aa is It is expressed lower than the luminance level of the lower surface outer edge E2 (FIG. 7B).

すなわち、本実施の形態ではバンプ3aにペーストPが付着している場合とそうでない場合とで、基準高さHに位置する部品3のバンプ3aに向かう照明光rの反射方向(反射する角度)が異なることに起因して、部品3のバンプ3aの下面中心部の輝度レベルに差異が生じることを利用してペーストPの付着状態を判断するようにしている。つまり、下面中心部F1の輝度レベルが下面外縁部F2の輝度レベルと略同一である場合、判断部34はバンプ3BaにペーストPが付着していると判断する。その一方、下面中心部F1の輝度レベルが下面外縁部F2の輝度レベルよりも低い場合、判断部34はバンプ3BaにペーストPが付着していないと判断する。   That is, in this embodiment, the reflection direction (reflection angle) of the illumination light r toward the bump 3a of the component 3 located at the reference height H depending on whether or not the paste P is attached to the bump 3a. Due to the difference, the difference in brightness level at the center of the lower surface of the bump 3a of the component 3 is utilized to determine the state of adhesion of the paste P. That is, when the luminance level of the lower surface center portion F1 is substantially the same as the luminance level of the lower surface outer edge portion F2, the determination unit 34 determines that the paste P is attached to the bump 3Ba. On the other hand, when the luminance level of the lower surface center portion F1 is lower than the luminance level of the lower surface outer edge portion F2, the determination unit 34 determines that the paste P is not attached to the bump 3Ba.

このように、本実施の形態においては、部品認識カメラ25により撮像して得られるバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルに基づいてペーストPの付着状態の判断を行うようにしている(ST12の判断工程)。そして、判断部34における具体的な判断は、部品認識カメラ25により撮像して得られる画像中のバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルを、同じく部品認識カメラ25により撮像して得られる画像中のバンプ3Baの下面外縁部F2の輝度レベルと比較して行う。   As described above, in this embodiment, the adhesion state of the paste P is determined based on the luminance level of the lower surface center portion F1 of the bump 3Ba obtained by imaging with the component recognition camera 25 (in ST12). Judgment process). The specific determination by the determination unit 34 is as follows. In the image obtained by imaging the luminance level of the lower surface central portion F1 of the bump 3Ba in the image obtained by imaging with the component recognition camera 25 by the component recognition camera 25. This is performed in comparison with the luminance level of the lower surface outer edge F2 of the bump 3Ba.

また、バンプ3aの下面中心部の輝度レベルに基づいたペーストPの付着状態の判断として、次のような方法を用いることもできる。まず、(ST5)の基準高さ取得工程において基準高さHに位置する未処理部品3Aを部品認識カメラ25により下方から撮像し、図7(b)に示す未処理部品3Aの下面3Abの画像を取得する。そして、取得した画像を基にバンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベル(以下、「基準輝度レベル」と称する)を取得し、基準輝度レベルを基準データとして記憶部33に記憶する。   Further, the following method can be used as the determination of the adhesion state of the paste P based on the luminance level at the center of the lower surface of the bump 3a. First, in the reference height acquisition step of (ST5), the unprocessed part 3A located at the reference height H is imaged from below by the part recognition camera 25, and an image of the lower surface 3Ab of the unprocessed part 3A shown in FIG. To get. Then, based on the acquired image, the luminance level (hereinafter referred to as “reference luminance level”) of the lower surface center portion E1 of the bump 3Aa is acquired, and the reference luminance level is stored as reference data in the storage unit 33.

次に、部品実装動作として(ST6)〜(ST11)の動作を実行後、制御装置28は部品認識カメラ25により撮像して得られる画像中の処理済部品3Bのバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルを、記憶部33に記憶された基準輝度レベルと比較する。ここで、前述のとおりペーストPが付着した状態で撮像された基準高さHに位置する処理済部品3Bのバンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルは、撮像面25Aに対して無作為に入射する照明光rの影響を受け、基準高さHに位置する未処理部品3Aを撮像して得られるバンプ3Aaの下面中心部E1の輝度レベル(基準輝度レベル)よりも高くなることから、バンプ3Baの下面中心部F1の輝度レベルが基準輝度レベルよりも高い場合、判断部34はバンプ3BaにペーストPが付着していると判断する一方、下面中心部F1の輝度レベルが基準輝度レベルと略同一である場合、バンプ3BaにペーストPが付着していないと判断する。   Next, after performing the operations (ST6) to (ST11) as the component mounting operation, the control device 28 sets the lower surface center portion F1 of the bump 3Ba of the processed component 3B in the image obtained by imaging with the component recognition camera 25. The brightness level is compared with the reference brightness level stored in the storage unit 33. Here, as described above, the luminance level of the lower surface center portion F1 of the bump 3Ba of the processed component 3B located at the reference height H imaged with the paste P attached is randomly incident on the imaging surface 25A. The bump 3Ba is higher than the luminance level (reference luminance level) of the lower surface center portion E1 of the bump 3Aa obtained by imaging the unprocessed component 3A located at the reference height H under the influence of the illumination light r. When the luminance level of the lower surface center portion F1 is higher than the reference luminance level, the determination unit 34 determines that the paste P is attached to the bump 3Ba, while the luminance level of the lower surface center portion F1 is substantially the same as the reference luminance level. If it is, it is determined that the paste P is not attached to the bump 3Ba.

判断部34がバンプ3BaにペーストPが付着していると判断したならば、制御装置28は実装ヘッド16を基板2の上方に移動させ、吸着ノズル19を下降(矢印a1)させて実装作業位置に位置決めされた基板2の電極2a上に処理済部品3Bのバンプ3Baを、ペーストPを介して接触させる(ST13の部品装着工程)(図11(a))。   If the determination unit 34 determines that the paste P is attached to the bump 3Ba, the control device 28 moves the mounting head 16 above the substrate 2 and lowers the suction nozzle 19 (arrow a1) to mount the mounting work position. The bumps 3Ba of the processed component 3B are brought into contact with the electrode 2a of the substrate 2 positioned at (3) by the paste P (component mounting step of ST13) (FIG. 11 (a)).

この部品装着の際には、(ST7)において基板認識カメラ17で撮像した基板2の画像を基に演算した実装作業位置における基板2の位置ずれ補正量と、(ST11)において部品認識カメラ25で撮像した処理済部品3Bの画像を基に演算した吸着ノズル19に対する処理済部品3Bの位置ずれ補正量とを加味したうえで処理済部品3Bの装着が行われる。そして、部品装着後の基板2は下流に設けられたリフロー装置(不図示)に搬入され、当該装置でバンプ3aを加熱・溶融させて基板2と部品3を半田接合させることにより(ST14の半田接合工程)、部品実装動作は完了する。   At the time of component mounting, the positional deviation correction amount of the board 2 at the mounting work position calculated based on the image of the board 2 captured by the board recognition camera 17 in (ST7), and the part recognition camera 25 in (ST11). The processed component 3B is mounted after taking into account the positional deviation correction amount of the processed component 3B with respect to the suction nozzle 19 calculated based on the captured image of the processed component 3B. Then, the substrate 2 after mounting the components is carried into a reflow device (not shown) provided downstream, and the bumps 3a are heated and melted by the device to solder the substrate 2 and the components 3 (solder of ST14). Joining process), the component mounting operation is completed.

一方、(ST12)においてペーストPが付着していないと判断した場合、判断部34は報知部35に信号を送信し、報知部35はバンプ3BaにペーストPが付着していない旨を表示部37に表示するよう表示処理部36に信号を送信する。表示処理部36は報知部35からの信号を受けて表示部37にその旨の表示を行うための処理を実行し、表示部37を介してオペレータにその旨の報知を行う(ST15の報知工程)。   On the other hand, when it is determined in (ST12) that the paste P is not attached, the determination unit 34 transmits a signal to the notification unit 35, and the notification unit 35 displays that the paste P is not attached to the bump 3Ba. A signal is transmitted to the display processing unit 36 so as to be displayed. The display processing unit 36 receives the signal from the notification unit 35 and executes a process for displaying that effect on the display unit 37, and notifies the operator via the display unit 37 (notification process of ST15). ).

これとともに、制御装置28は実装ヘッド16を部品回収部27の上方まで移動させ、当該位置で吸着ノズル19による処理済部品3Bの吸着を解除して当該処理済部品3Bを部品回収部27に投入(矢印h)する(ST16の部品投入工程)(図11(b))。報知を受けたオペレータは部品実装装置1の稼動を一時停止させ、回収された処理済部品3Bのバンプ3Baや転写テーブル10上のペーストPの塗膜状態を確認する。そして、ペースト付着ミスの原因が分かった場合はその解消作業を行った後、(ST8)からの動作を実行させる。なお、処理済部品3Bを部品回収部27に投入せずに転写テーブル10の上方に移動させ、(ST9)のペースト付着工程を繰り返し行ってもよい。   At the same time, the control device 28 moves the mounting head 16 to above the component collecting unit 27, releases the suction of the processed component 3 </ b> B by the suction nozzle 19 at that position, and inputs the processed component 3 </ b> B into the component collecting unit 27. (Arrow h) (STEP component loading step ST16) (FIG. 11B). Upon receiving the notification, the operator temporarily stops the operation of the component mounting apparatus 1 and confirms the state of the coating film of the paste 3 on the collected bump 3Ba and the transfer table 10 of the processed component 3B. And when the cause of the paste adhesion mistake is found, the operation from (ST8) is executed after performing the elimination work. Alternatively, the processed component 3B may be moved above the transfer table 10 without being put into the component collection unit 27, and the paste adhering step (ST9) may be repeated.

上記構成において、制御装置28は、バンプ3aにペーストPが付着していない状態の部品3(未処理部品3A)を光源26(照明手段)で照明した状態で、部品認識カメラ25(撮像手段)により下方から当該部品3を撮像したときに、バンプ3a(3Aa)の下面中心部E1の輝度レベルがそのバンプ3aの下面外縁部E2の輝度レベルよりも低くなる部品3の高さを基準高さHとして取得する基準高さ取得手段となっているとともに、バンプ3aにペーストPを付着させるための処理を行った部品3(処理済部品3B)を光源26で照明した状態で基準高さHに位置合わせする基準高さ位置合わせ手段になっている。また、制御装置28(判断部34)は、基準高さHに位置合わせした部品3を部品認識カメラ25により下方から撮像して得られるバンプ3a(3Ba)の下面中心部F1の輝度レベルに基づいてペーストPの付着状態の判断を行う判断手段となっている。   In the above configuration, the control device 28 illuminates the component 3 (unprocessed component 3A) in which the paste P is not attached to the bump 3a with the light source 26 (illuminating unit), and then recognizes the component recognition camera 25 (imaging unit). When the component 3 is imaged from below, the height of the component 3 at which the luminance level of the lower surface center portion E1 of the bump 3a (3Aa) is lower than the luminance level of the lower surface outer edge portion E2 of the bump 3a is the reference height. This is a reference height acquisition means for acquiring as H, and the reference height H is set in a state where the component 3 (processed component 3B) subjected to the process for attaching the paste P to the bump 3a is illuminated by the light source 26. Reference height alignment means for alignment is provided. Further, the control device 28 (determination unit 34) is based on the luminance level of the lower surface center portion F1 of the bump 3a (3Ba) obtained by imaging the component 3 aligned with the reference height H from below with the component recognition camera 25. Thus, it is a judging means for judging the adhesion state of the paste P.

以上のように、本発明は基準高さに位置する部品のバンプに入射する照明光がペーストの影響を受けて乱反射するか否かによって、撮像手段によって撮像して得られるペーストが付着している状態のバンプの下面の輝度レベルと、ペーストが付着していない状態のバンプの下面の輝度レベルに差異が生じることを利用してペーストの付着状態の判断を行うようにしている。これにより、透明なペーストを用いた場合であっても、バンプに対するペーストの付着状態を精度良く判断することができる。   As described above, according to the present invention, the paste obtained by imaging by the imaging means is attached depending on whether or not the illumination light incident on the bump of the component located at the reference height is diffusely reflected by the influence of the paste. The paste adhesion state is determined by utilizing the difference between the luminance level of the lower surface of the bump in the state and the luminance level of the lower surface of the bump in the state where the paste is not adhered. Thereby, even if it is a case where a transparent paste is used, the adhesion state of the paste with respect to a bump can be judged with sufficient accuracy.

本発明の部品実装方法及び部品実装方法によれば、部品のバンプにペーストを付着させて基板の電極に実装する部品実装分野において有用である。   The component mounting method and the component mounting method of the present invention are useful in the field of component mounting in which paste is attached to the bumps of a component and mounted on an electrode of a substrate.

1 部品実装装置
2 基板
3 部品
3a バンプ
7 テープフィーダ(部品供給部)
19 吸着ノズル(部品保持部材)
25 部品認識カメラ(撮像手段)
26 光源(照明手段)
28 制御装置(基準高さ取得手段、基準高さ位置合わせ手段)
34 判断部(判断手段)
E1,F1 バンプの下面中心部
E2,F2 バンプの下面外縁部
P ペースト
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Component mounting apparatus 2 Board | substrate 3 Component 3a Bump 7 Tape feeder (component supply part)
19 Suction nozzle (component holding member)
25 Component recognition camera (imaging means)
26 Light source (illumination means)
28 Control device (reference height acquisition means, reference height alignment means)
34 Judgment part (judgment means)
E1, F1 Bump bottom center E2, F2 Bump bottom edge P Paste

Claims (6)

バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置を用いた部品実装方法であって、
バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得工程と、
前記部品保持部材によって前記部品供給部から取り出した部品のバンプにペーストを付着させるペースト付着工程と、
前記ペースト付着工程を経た部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ工程と、
前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像する撮像工程と、
前記撮像工程により撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断工程とを含むことを特徴とする部品実装方法。
After the component having the bump on the lower surface is taken out from the component supply section by the component holding member and the paste is attached to the bump, the paste is attached to the bump by imaging from below with the imaging means while the component is illuminated by the illumination means A component mounting method using a component mounting apparatus that mounts a component on a board after making the determination,
When the component having no paste attached to the bump is illuminated by the illumination unit, and the component is imaged from below by the imaging unit, the luminance level at the center of the lower surface of the bump is the outer edge of the lower surface of the bump. A reference height acquisition step of acquiring the height of a component lower than the luminance level of the reference level as a reference height;
A paste attaching step of attaching a paste to the bumps of the component taken out from the component supply unit by the component holding member;
A reference height alignment step of aligning the reference height with the part that has undergone the paste attaching step in a state of being illuminated by the illumination means;
An imaging step of imaging the component aligned with the reference height from below by the imaging means;
A component mounting method comprising: a determination step of determining an adhesion state of the paste based on a luminance level at a central portion of the lower surface of the bump obtained by imaging in the imaging step.
前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。   The determination in the determination step is the luminance level of the lower surface central portion of the bump in the image obtained by imaging in the imaging step, and the luminance level of the lower outer edge portion of the bump in the image obtained by imaging in the imaging step. The component mounting method according to claim 1, wherein the component mounting method is performed in comparison with. 前記判断工程における前記判断は、前記撮像工程により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得工程において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項1に記載の部品実装方法。   The determination in the determination step includes the step of imaging the component in which the luminance level of the lower surface center portion of the bump in the image obtained by the imaging step is positioned at the reference height in the reference height acquisition step. 2. The component mounting method according to claim 1, wherein the component mounting method is performed in comparison with a luminance level of a lower surface center portion of a bump in an image obtained when imaging is performed from below. バンプを下面に有する部品を部品保持部材によって部品供給部から取り出してバンプにペーストを付着させた後、その部品を照明手段で照明した状態で撮像手段により下方から撮像してバンプに対するペーストの付着状態の判断を行ってから基板に部品を装着する部品実装装置であって、
バンプにペーストが付着していない状態の部品を前記照明手段で照明した状態で、前記撮像手段により下方から当該部品を撮像したときに、バンプの下面中心部の輝度レベルがそのバンプの下面外縁部の輝度レベルよりも低くなる部品の高さを基準高さとして取得する基準高さ取得手段と、
バンプにペーストを付着させるための処理を行った部品を前記照明手段で照明した状態で前記基準高さに位置合わせする基準高さ位置合わせ手段と、
前記基準高さに位置合わせした部品を前記撮像手段により下方から撮像して得られるバンプの下面中心部の輝度レベルに基づいてペーストの付着状態の判断を行う判断手段とを備えたことを特徴とする部品実装装置。
After the component having the bump on the lower surface is taken out from the component supply section by the component holding member and the paste is attached to the bump, the paste is attached to the bump by imaging from below with the imaging means while the component is illuminated by the illumination means A component mounting apparatus that mounts a component on the board after making the determination
When the component having no paste attached to the bump is illuminated by the illumination unit, and the component is imaged from below by the imaging unit, the luminance level at the center of the lower surface of the bump is the outer edge of the lower surface of the bump. A reference height acquisition means for acquiring, as a reference height, the height of a component that is lower than the luminance level of
A reference height alignment means for aligning the reference height with a component that has been subjected to a process for attaching a paste to a bump while being illuminated by the illumination means;
Judgment means for judging the adhesion state of the paste on the basis of the luminance level at the center of the lower surface of the bump obtained by imaging the component aligned with the reference height from below by the imaging means. Component mounting device.
前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面外縁部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項4に記載の部品実装装置。   The determination by the determination means is performed by determining the luminance level of the lower surface central portion of the bump in the image obtained by imaging by the imaging means, and the luminance level of the lower edge of the lower surface of the bump in the image obtained by imaging by the imaging means. The component mounting apparatus according to claim 4, wherein the component mounting apparatus is performed in comparison with the component mounting apparatus. 前記判断手段における前記判断は、前記撮像手段により撮像して得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルを、前記基準高さ取得手段において前記基準高さに位置させた部品を前記撮像手段により下方から撮像した場合に得られる画像中のバンプの下面中心部の輝度レベルと比較して行うことを特徴とする請求項4に記載の部品実装装置。   The determination in the determination means is performed by detecting a component in which the luminance level at the center of the lower surface of the bump in the image obtained by imaging by the imaging means is positioned at the reference height in the reference height acquisition means. 5. The component mounting apparatus according to claim 4, wherein the component mounting apparatus is compared with a luminance level at a central portion of a lower surface of a bump in an image obtained when imaging is performed from below.
JP2012084557A 2012-04-03 2012-04-03 Component mounting method and component mounting apparatus Active JP5830650B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012084557A JP5830650B2 (en) 2012-04-03 2012-04-03 Component mounting method and component mounting apparatus
PCT/JP2013/001123 WO2013150709A1 (en) 2012-04-03 2013-02-26 Component mounting method and component mounting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012084557A JP5830650B2 (en) 2012-04-03 2012-04-03 Component mounting method and component mounting apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013214636A JP2013214636A (en) 2013-10-17
JP5830650B2 true JP5830650B2 (en) 2015-12-09

Family

ID=49300218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012084557A Active JP5830650B2 (en) 2012-04-03 2012-04-03 Component mounting method and component mounting apparatus

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5830650B2 (en)
WO (1) WO2013150709A1 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6138061B2 (en) * 2014-01-14 2017-05-31 ヤマハ発動機株式会社 Electronic component mounting equipment
US10512201B2 (en) * 2017-03-23 2019-12-17 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Member preparation method and member preparation apparatus
EP3606302B1 (en) * 2017-03-31 2024-04-24 Fuji Corporation Electronic component mounting machine and mounting method

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002081924A (en) * 2000-07-05 2002-03-22 Ckd Corp Three-dimensional measuring device
JP4983267B2 (en) * 2007-01-16 2012-07-25 パナソニック株式会社 Electronic component mounting method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013214636A (en) 2013-10-17
WO2013150709A1 (en) 2013-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2016092651A1 (en) Component-mounting device
WO2013080408A1 (en) Component mounting method and component mounting system
JP2017220544A (en) Component mounting machine
JP5830650B2 (en) Component mounting method and component mounting apparatus
JP6785407B2 (en) Bump electronic component mounting device and bump electronic component mounting method
JP2017092342A (en) System for loading conductive ball
JP6762527B2 (en) Component mounting machine and component mounting head
WO2012117466A1 (en) Component mounting device, component mounting method, imaging device, and imaging method
JP6035517B2 (en) Electronic component mounting method
JP6475165B2 (en) Mounting device
JP6259987B2 (en) Component mounting equipment
JP5071218B2 (en) Paste transfer apparatus and paste transfer method
WO2016143059A1 (en) Mounting device, image processing method and imaging unit
JP5476607B2 (en) Imaging apparatus and imaging method
JP3397127B2 (en) Electronic component mounting apparatus and mounting method
JP6928786B2 (en) Manufacturing method of component mounting device and mounting board
JP7212467B2 (en) Component mounter
WO2024062635A1 (en) Testing device and testing method
JP5099098B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JP2018107219A (en) Ball loading device
JP3807154B2 (en) Electronic component mounting method and position recognition target
JP2007294776A (en) Flux transfer device
JP2015153861A (en) Component recognition device, component transferring device, and component mounting device
JP2000286452A (en) Method for detecting light emitting center in light emitting element
JP2019068099A (en) Component mounting machine

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140806

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20140912

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20141007

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150512

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150525

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5830650

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151