JP5830310B2 - 顕微鏡装置、及び、顕微鏡装置の合焦方法 - Google Patents
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Description
以上のような実情を踏まえ、本発明では、偽合焦を防止することができる合焦機能を備えた顕微鏡装置、及び、合焦方法を提供することを課題とする。
図1から図4を参照しながら、本実施例に係る顕微鏡装置の構成について説明する。
CCDカメラ13は、標本6からの光を電気信号に変換してPC3に出力することで、標本6を撮像する撮像手段である。
図5から図7を参照しながら、顕微鏡装置1によって実行される自動合焦処理について説明する。
ステップS7では、CPU17は、レボルバ9を高精度探索の探索方向と反対向きに1ピッチ分だけ移動させて、標本6に合焦する。
ステップS8では、CPU17は、標本6に合焦した旨をモニタ4に表示させて、自動合焦処理を終了する。
図8及び図9を参照しながら、本実施例に係る顕微鏡装置によって実行される自動合焦処理について説明する。
図8に例示される合焦処理のフローは、ステップS3aが追加されている点のみが、図5に例示される合焦処理のフローと異なっている。
図10及び図11を参照しながら、本実施例に係る顕微鏡装置によって実行される自動合焦処理について説明する。
2・・・顕微鏡本体
3・・・PC
3a・・・コントラスト算出部
4・・・モニタ
5・・・ステージ
6・・・標本
7・・・光源
8・・・ハーフミラー
9・・・レボルバ
10・・・対物レンズ
11・・・鏡筒
11a・・・ミラー
12・・・接眼レンズ
13・・・CCDカメラ
14・・・Z軸駆動部
14a・・・ステッピングモータ
14b・・・リミットセンサ
15・・・制御部
16・・・電源部
17・・・CPU
18・・・バス
19・・・ROM
20・・・RAM
21・・・探索範囲指示部
22・・・モータドライバ
23・・・照明部
Claims (8)
- 標本を撮像する撮像手段を含み、前記標本と前記撮像手段との間隔を所定の間隔で変化させる低精度探索と、前記間隔を前記低精度探索よりも狭い間隔で変化させる高精度探索とによって合焦位置を検出する顕微鏡装置であって、
前記標本と前記撮像手段との間隔を所定の探索範囲内で変化させる焦準部と、
前記撮像手段で撮像された前記標本の画像データから画像のコントラストを算出するコントラスト算出部と、
前記コントラスト算出部により前記探索範囲内で算出されたコントラストの最大値に対するコントラストの最小値の割合であって前記低精度探索で得られる割合が第1の所定値以下である場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定し、前記割合が前記第1の所定値より大きい場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定する合焦位置判定部と、
前記合焦位置判定部による判定結果に基づいて前記焦準部を制御する制御部と、を含み、
前記合焦位置判定部は、
前記判定において前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定した場合、更に、前記コントラスト算出部により前記探索範囲の一端の探索終了位置で算出されたコントラストである終了コントラストから前記コントラスト算出部により前記探索範囲の他端の探索開始位置で算出されたコントラストである開始コントラストを引いた値が第2の所定値より大きいか否かを判定し、
前記制御部は、
前記引いた値が前記第2の所定値より大きいと前記合焦位置判定部が判定した場合には、前記低精度探索の終了位置に前記焦準部を移動させ、
前記引いた値が前記第2の所定値以下であると前記合焦位置判定部が判定した場合には、前記低精度探索の開始位置に前記焦準部を移動させる
ことを特徴とする顕微鏡装置。 - 標本を撮像する撮像手段を含み、前記標本と前記撮像手段との間隔を所定の間隔で変化させる低精度探索と、前記間隔を前記低精度探索よりも狭い間隔で変化させる高精度探索とによって合焦位置を検出する顕微鏡装置であって、
前記標本と前記撮像手段との間隔を所定の探索範囲内で変化させる焦準部と、
前記撮像手段で撮像された前記標本の画像データから画像のコントラストを算出するコントラスト算出部と、
前記コントラスト算出部により前記探索範囲内で算出されたコントラストの最大値に対するコントラストの最小値の割合であって前記低精度探索で得られる割合が第1の所定値以下である場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定し、前記割合が前記第1の所定値より大きい場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定する合焦位置判定部と、
前記合焦位置判定部による判定結果に基づいて前記焦準部を制御する制御部と、を含み、
前記合焦位置判定部は、
前記判定において前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定した場合、更に、前記コントラストの最大値から前記コントラストの最小値を引いた値が前記第3の所定値より大きいか否かを判定し、
前記引いた値が前記第3の所定値より大きい場合には、前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定し、
前記引いた値が前記第3の所定値以下である場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定する
ことを特徴とする顕微鏡装置。 - 請求項1または請求項2に記載の顕微鏡装置において、
前記制御部は、前記合焦位置判定部により前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定された場合、前記焦準部を制御して前記高精度探索を開始する
ことを特徴とする顕微鏡装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の顕微鏡装置において、さらに、
合焦位置判定部による判定結果を外部に通知する通知部を含み、
前記通知部は、前記合焦位置判定部が前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定した場合に、合焦の失敗を通知する
ことを特徴とする顕微鏡装置。 - 標本と撮像手段との間隔を所定の間隔で変化させる低精度探索と、前記間隔を前記低精度探索よりも狭い間隔で変化させる高精度探索とによって合焦位置を検出する顕微鏡装置の合焦方法であって、
前記低精度探索の工程であって、前記標本と前記撮像手段との間隔を所定の探索範囲内で変化させながら、前記撮像手段で撮像された前記標本の画像データから画像のコントラストを算出するコントラスト算出工程と、
前記低精度探索の工程であって、
前記コントラスト算出工程で前記探索範囲内で算出されたコントラストの最大値に対するコントラストの最小値の割合であって前記低精度探索で得られる割合が第1の所定値以下である場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定し、
前記割合が前記第1の所定値より大きい場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定して、更に、前記コントラスト算出工程で前記探索範囲の一端の探索終了位置で算出されたコントラストである終了コントラストから前記コントラスト算出工程で前記探索範囲の他端の探索開始位置で算出されたコントラストである開始コントラストを引いた値が第2の所定値より大きいか否かを判定する合焦位置判定工程と、
前記引いた値が前記第2の所定値より大きいと前記合焦位置判定工程で判定された場合には、前記低精度探索の終了位置に焦準部を移動させ、前記引いた値が前記第2の所定値以下であると前記合焦位置判定工程で判定された場合には、前記低精度探索の開始位置に前記焦準部を移動させる移動工程と、を含む
ことを特徴とする顕微鏡装置の合焦方法。 - 標本と撮像手段との間隔を所定の間隔で変化させる低精度探索と、前記間隔を前記低精度探索よりも狭い間隔で変化させる高精度探索とによって合焦位置を検出する顕微鏡装置の合焦方法であって、
前記低精度探索の工程であって、前記標本と前記撮像手段との間隔を所定の探索範囲内で変化させながら、前記撮像手段で撮像された前記標本の画像データから画像のコントラストを算出するコントラスト算出工程と、
前記低精度探索の工程であって、
前記コントラスト算出工程で前記探索範囲内で算出されたコントラストの最大値に対するコントラストの最小値の割合であって前記低精度探索で得られる割合が第1の所定値以下である場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定し、
前記割合が前記第1の所定値より大きい場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定して、更に、前記コントラストの最大値から前記コントラストの最小値を引いた値が前記第3の所定値より大きいか否かを判定し、
前記引いた値が前記第3の所定値より大きい場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定し、
前記引いた値が前記第3の所定値以下である場合に、前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定する合焦位置判定工程と、を含む
ことを特徴とする顕微鏡装置の合焦方法。 - 請求項5または請求項6に記載の顕微鏡装置の合焦方法において、さらに、
前記合焦位置判定工程で前記探索範囲内に合焦位置が存在すると判定された場合に、前記高精度探索を開始する
ことを特徴とする顕微鏡装置の合焦方法。 - 請求項5乃至請求項7のいずれか1項に記載の顕微鏡装置の合焦方法において、さらに、
前記合焦位置判定工程で前記探索範囲内に合焦位置が存在しないと判定された場合に、合焦の失敗を通知する通知工程を含む
ことを特徴とする顕微鏡装置の合焦方法。
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