JP5829132B2 - 整合回路 - Google Patents

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本発明は、高周波スイッチの整合回路に関する。
携帯電話のマルチバンド化に対処するために、高周波スイッチの切り替えパスは年々多くなって来ている。各パスにはトランジスタが使われ、パスのオン及びオフが制御される。切り替えパスの増加に伴い、信号を通したいパスに、オフ状態のパスに接続されるトランジスタの寄生容量が無視できないレベルとなってきており、寄生容量による特性劣化を抑えるために、整合回路が用いられるようになっている。具体的には、安価だが特性の良くないCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)のスイッチを採用する場合に問題になる。
従来は、図1に示すような回路が用いられていた。図1の例では、アンテナ1001に、キャパシタC101の一端とインダクタL101の一端とが接続されている。キャパシタC101の他端は接地されており、インダクタL101の他端は、インダクタL102の一端及びキャパシタC102の一端に接続されている。インダクタL102の他端は接地されている。また、キャパシタC102の他端は、スイッチ1002の入力端子に接続されている。
さらに、このような整合回路の変形例として図2に示すような回路が用いられることもある。アンテナ側の端子に、キャパシタC111(例えば7pF)の一端が接続され、キャパシタC111の他端はキャパシタC112(例えば0.7pF)の一端及びインダクタL111(例えば3.2nH)の一端が接続されている。キャパシタC112の他端は接地されている。キャパシタL111の他端は、インダクタL112(例えば10nH)の一端及びスイッチ1002の入力端子に接続されている。インダクタL112の他端は接地されている。
図2のような回路において、スイッチ1002の出力端子における周波数特性を、図3に示す。図3では、横軸は周波数を表し、縦軸はゲインを表す。例えば、携帯電話システムにおいて求められている700MHzから2700MHzまでの帯域を見てみると、高域側では損失が増加しており、広帯域でのマッチングをとるのが難しくなっている。
また、図4に示すように、アンテナ1001にダイプレクサ(Diplexer)1005を導入して、ダイプレクサ1005が、高域用のスイッチ1003の入力端子には高域の信号を入力し、低域用のスイッチ1004の入力端子にには低域の信号を入力するといったような構成を採用する場合もある。しかし、ダイプレクサの回路は素子数が多く、モジュール全体の小型化の障害となる。
特開平2005−57642号公報 WO2008/088040 特開2006−129419号公報
従って、本発明の目的は、一側面においては、広帯域でマッチングをとることができる小型の整合回路を提供することである。
本発明の第1の態様に係る整合回路は、(A)アンテナに一端が接続され、他端が第1の帯域のための、スイッチの入力端子に接続されるキャパシタと、(B)一端がキャパシタの他端に接続され、他端が第1の帯域より高い第2の帯域のための、スイッチの入力端子に接続される第1のインダクタと、(C)一端が第1のインダクタの他端に接続され、他端が接地されている第2のインダクタとを有する。
このように必要な素子の数を減らすことができ小型化が可能となる。また、アンテナと第1の帯域(低域)のための、スイッチの入力端子との間にはキャパシタが接続されているだけなので低損失となる。第2の帯域(高域)についても、第1の帯域のためのスイッチに発生する寄生容量をも活用して、低損失且つ小型化を実現している。
また、本発明の第1の態様に係る整合回路において、上で述べた第2のインダクタが、直列に接続された第3のインダクタ及び第4のインダクタを有する場合もある。この場合、第3のインダクタの一端が第1のインダクタの他端及び第4のインダクタの一端に接続され、第3のインダクタの他端が、第2の帯域より高い第3の帯域のための、スイッチの入力端子に接続され、第4のインダクタの他端が接地されている場合もある。このように、帯域をさらに分けてスイッチの数が増加する場合にも対処可能である。
さらに、本発明の第2の態様に係る整合回路は、(A)アンテナに一端が接続され、他端が第1の帯域のための、スイッチの入力端子に接続されるキャパシタと、(B)一端がキャパシタの他端に接続され、他端が第1の帯域より高い第2の帯域のための、スイッチの入力端子に接続される第1のインダクタと、(C)一端が第1のインダクタの他端に接続され、他端が第2の帯域より高い第3の帯域のための、スイッチの入力端子に接続される第2のインダクタと、(D)一端が第2のインダクタの他端に接続され、他端が接地されている第3のインダクタとを有する。
なお、以下に述べる実施の形態の回路は回路例に過ぎず、様々な変形が可能である。
一側面によれば、広帯域でマッチングをとることができる小型の整合回路が得られる。
図1は、従来の整合回路の一例を示す図である。 図2は、従来の整合回路の他の例を示す図である。 図3は、従来の整合回路の他の例による周波数特性を示す図である。 図4は、従来のダイプレクサを用いる例を示す図である。 図5は、本実施の形態に係る整合回路を示す図である。 図6は、本実施の形態に係る整合回路の動作原理を説明するための図である。 図7は、高域側の周波数帯域を説明するための図である。 図8は、高域側の周波数帯域を示す図である。 図9は、高域側の周波数帯域と従来技術の周波数特性との比較をするための図である。 図10は、低域側の周波数帯域を説明するための図である。 図11は、低域側の周波数帯域を示す図である。 図12は、低域側の周波数帯域と従来技術の周波数特性との比較をするための図である。 図13は、他の実施の形態に係る整合回路を示す図である。
本発明の実施の形態に係る整合回路の一例を図5に示す。本実施の形態に係る整合回路は、キャパシタC1と、インダクタL1及びL2と、2入力多出力(例えば10出力)のスイッチ10とを含む。なお、スイッチ10の低域用の入力端子は、低域の信号を出力する5つの出力端子のいずれかと接続されるようになっている。また、スイッチ10の高域用の入力端子は、高域の信号を出力する5つの出力端子のいずれかと接続するようになっている。
アンテナ1には、キャパシタC1の一端が接続され、キャパシタC1の他端は、インダクタL1の一端と、スイッチ1の低域用の入力端子とが接続されている。インダクタL1の他端は、インダクタL2の一端とスイッチ10の高域用の入力端子とが接続されている。インダクタL2の他端は接地されている。
インダクタL2は、ESD(electro-static discharge)対策のインダクタである。インダクタL1も、ESD対策用ではあるが、高域用のスイッチに対する整合用でもある。そして、キャパシタC1は、インダクタL1及びL2による低域での不整合をキャンセルするためのキャパシタである。
アンテナ1とスイッチ10の低域用の入力端子との間には、キャパシタ1つのみが設けられているので、低損失となっている。また、アンテナ1とスイッチ10の高域用の入力端子との間には、キャパシタC1とインダクタL1とが設けられているが、素子数は少なくなっており、小型化に寄与している。
より具体的には、図6に模式的に示すように、スイッチ10の低域側には寄生容量C2が存在しており、スイッチ10の高域側には寄生容量C3も存在している。そのため、インダクタL1及びL2とキャパシタC1とで、寄生容量C2の効果をキャンセルさせる。また、インダクタL1と寄生容量C2とで、寄生容量C3の効果をキャンセルさせる。このような作用を奏するように、インダクタL1及びL2並びにキャパシタC1の素子値を決定する。
例えば、図7に示すように、キャパシタC1の素子値を7pFに設定し、インダクタL1の素子値を3nHに設定し、インダクタL2の素子値を10nHに設定する。そして、スイッチ10の低域側の寄生容量C2の容量を0.8pFと仮定する。この場合における高域側のスイッチ出力の周波数特性を図8に示す。図8では、横軸は周波数を表し、縦軸はゲインを表す。この図ではわかりにくいが、1.7GHz乃至2.7GHzの損失は、従来(図3)と比較して少なくなっている。
よりわかりやすくするため、図9に、図3で示した従来技術の周波数特性と本実施の形態における周波数特性とを重ねた図を示す。図9でも、横軸は周波数を表し、縦軸はゲインを表す。図9から分かるように、周波数が低い部分で損失が少々大きくなっているが、2.7GHzの損失を比較すると本実施の形態の方が少なくなっていることが分かる。
また、インダクタL1及びL2並びにキャパシタC1の素子値は図7と同じに設定し、高域側の寄生容量C3を図10に示すように0.2pFと仮定する。この場合における低域側のスイッチ出力の周波数特性を図11に示す。この図ではわかりにくいが、700MHz乃至1GHzの損失は、従来(図3)と比較して少なくなっている。
よりわかりやすくするため、図12に、図3で示した従来技術の周波数特性と本実施の形態における周波数特性とを重ねた図を示す。図12でも、横軸は周波数を表し、縦軸はゲインを表す。図12から分かるように、1GHz付近では若干損失が大きくなっているが、700MHzの損失を比較すると、本実施の形態の方が少なくなっている。
このように、700MHz乃至2.7GHzの両端については損失が少なくなっている。
なお、携帯電話機の場合、低域のスイッチ出力端子には、デュプレクサ、ローパスフィルタ、SAW(Surface Acoustic Wave)フィルタなどが接続される。また、高域のスイッチ出力端子にも、デュプレクサ、ローパスフィルタ、SAWフィルタなどが接続される。
また、上ではスイッチ出力を高域と低域とに分ける例を示したが、例えば高域、中域、低域といったように3つに分けるようにしても良い。例えば図13に示すように、アンテナ1には、キャパシタC11の一端を接続し、キャパシタC11の他端は、インダクタL11の一端とスイッチ11の低域用の入力端子とに接続されている。インダクタL11の他端は、インダクタL12の一端とスイッチ11の中域用の入力端子とに接続されている。インダクタL12の他端は、インダクタL13の一端とスイッチ11の高域用の入力端子とに接続されている。さらに、インダクタL13の他端は接地されている。この場合においても、寄生容量を考慮に入れて素子値を決定すれば、低損失な整合回路を構築できる。なお、4以上の帯域に分ける場合も同様である。
以上本発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。使用されるスイッチによっては、上で述べた素子値とは異なる素子値を採用する場合もある。
C キャパシタ
L インダクタ

Claims (2)

  1. アンテナに一端が接続され、他端がスイッチにおける第1の帯域のための力端子に接続されるキャパシタと、
    一端が前記キャパシタの前記他端に接続され、他端が前記スイッチにおける前記第1の帯域より高い第2の帯域のための力端子に接続される第1のインダクタと、
    一端が前記第1のインダクタの前記他端に接続され、他端が接地されている第2のインダクタと、
    を有する整合回路。
  2. アンテナに一端が接続され、他端がスイッチにおける第1の帯域のための力端子に接続されるキャパシタと、
    一端が前記キャパシタの前記他端に接続され、他端が前記スイッチにおける前記第1の帯域より高い第2の帯域のための力端子に接続される第1のインダクタと、
    一端が前記第1のインダクタの前記他端に接続され、他端が前記スイッチにおける前記第2の帯域より高い第3の帯域のための力端子に接続される第2のインダクタと、
    一端が前記第2のインダクタの前記他端に接続され、他端が接地されている第3のインダクタと、
    を有する整合回路。
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