JP5805552B2 - 粒子線照射システム制御装置および粒子線治療システム - Google Patents
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Description
本発明の粒子線治療システムおよび粒子線照射システム制御装置の第1の実施形態を、図1乃至図8を用いて説明する。
この粒子線治療システムは、荷電粒子ビーム発生装置1と、ビーム輸送系2と、粒子線照射システム制御系3等を備えている。
図2は、図1に示す本発明の粒子線治療システムの第1の実施形態を構成する粒子線照射システム制御装置の概略を示す図である。
図3は、本発明の粒子線治療システムの第1の実施形態を構成する下流ビーム位置モニタ11dと、下流ビーム位置モニタ監視制御装置8b2の概略を示す図である。
図4は、本発明の粒子線治療システムの第1の実施形態におけるスキャニング照射方式での制御処理ステップを示すフローチャート図である。
その後、ステップ(S31)にて、走査電磁石11bを励磁し、走査電磁石11bの設定を完了する。
また、ステップ(S32)にて、当該スポットの目標線量の設定を行うことでスポットの照射準備を完了させる。
その後、ステップ(S33)にて、ビーム照射(ビームON)し、目標線量に到達するまで照射を続ける。
線量満了(ステップ(S34))になると、ステップ(S35)にてビームをOFFし、上流ビーム位置モニタ11aで検出したデータを上流ビーム位置モニタ監視制御装置8b1で取り込み、下流ビーム位置モニタ11dで検出したデータを下流ビーム位置モニタ監視制御装置8b2で取り込む。そしてステップ(S36)にて、照射されたビームの位置およびビーム幅の演算処理を行う。
演算処理が終了し、ビーム位置およびビーム幅の異常がなければ、次のスポットに遷移し、走査電磁石11bを励磁する。
この制御フロー41(S31〜S37)をレイヤー内の全てのスポットの照射が終了するまで繰り返す。
当該レイヤーの照射が終了すると、次のレイヤーに相当するエネルギーがあるかどうかを判断し(ステップ(S38))、あるときは対応した加速器の設定・準備を行う(ステップ(S39))。
この制御フロー42(S30〜S39)を、全レイヤーが終了するまで繰り返す。
全スポットおよび全レイヤーの照射が終了すると、治療終了となる(ステップ(S40))。
従って、出力最大チャンネルの前後のチャンネルの計測データからビーム位置および幅の計算処理は可能となる。また、上記計測データの総和と予測した総和の健全性確認を行うことで、ビーム位置・ビーム幅の健全性確認を行うことが可能となる。
(1)照射するスポットの目標位置
(2)ガウスフィット計算するために必要な有効チャンネルとその数(ここでは5チャンネルとする)
(3)各スポットに照射する目標線量
(4)下流ビーム位置モニタ11dで計測される電荷量と線量の変換係数
下流ビーム位置モニタ監視制御装置8b2は、上記の設定値(1)から下流ビーム位置モニタ11dで計測されるデータが最大となるチャンネル(図6中の◎が計測データ最大となるチャンネルを示す)を算出する。また、設定値(2)から計測データを取り込むチャンネル(図6中の○が計算処理に必要となるチャネルの範囲A(図5参照)を示す)を特定する。
これと同時に、計算した荷電粒子ビームの電荷量からビームの通過位置およびビーム幅の演算処理を行って、ビーム位置およびビーム幅に異常があるかどうかの異常判定処理を行う。
この判定結果が異常時の場合には、荷電粒子ビームの制御に問題が生じている可能性があり、照射を継続すると問題が生じる可能性があることから、照射中断もしくは照射完了させて次のスポットの照射を行わないように、中央制御装置5へ照射中止もしくは照射完了させるための信号を出力し、照射中止・完了させる。
これに対し、正常時には、次の照射スポットに遷移することを承認するための信号を下流ビーム位置モニタ監視制御装置8b2へ出力する。
そして計測したチャンネルについて電荷量の総和を計算し、予想した電荷量の総和との差分から、照射線量に異常があるかどうかの異常判定を行う(ステップ(S103))。
この異常判定処理(ステップ(S113))において正常と判定された場合は、ステップ(S111)およびステップ(S112)の設定完了の条件成立を判断し(ステップ(S114))、共に成立した段階で次のスポットの照射を開始(ステップ(S115))させる。
検索終了後、図5における基準ライン52(ピークチャンネルの出力のN%(図はN=30%としている))以下のチャンネルのデータを除外し、ガウスフィット計算処理を行う。その後、照射したビーム位置およびビーム幅を算出する。この場合、全チャンネル(計160チャンネル分)の計測データを取り込むため、演算処理に時間を要することになる。しかし、出力最大値の30%以下のチャンネルのデータは基準ライン以下のデータ除外の際に除外されてしまうため、出力が小さい端部の計測データは使われない。これにも関わらず、全チャンネルのデータを収集することになり、無駄な処理を大量に行うことになる。
本発明の粒子線治療システムおよび粒子線照射システム制御装置の第2の実施形態を図9を用いて説明する。
図9は、本発明の粒子線治療システムの第2の実施形態を構成する下流ビーム位置モニタ11dと、下流ビーム位置モニタ監視制御装置8b2の概略を示す図である。
2…ビーム輸送系、
3…粒子線照射システム制御系、
3a…粒子線照射システム制御装置、
4…操作端末、
5…中央制御装置、
6…治療計画装置、
7…加速器制御システム、
8…照射制御システム、
8a…患者機器制御装置、
8a1…回転ガントリ制御装置、
8a2…治療台制御装置、
8a3…ノズル内機器制御装置、
8b…モニタ監視制御系、
8b0…モニタ監視制御装置、
8b1…上流ビーム位置モニタ監視制御装置、
8b2…下流ビーム位置モニタ監視制御装置、
8b3…線量監視制御装置、
8b4…監視手段、
8c…走査電磁石電源制御装置、
10…治療台、
11…ノズル機器、
11a…上流ビーム位置モニタ、
11b…走査電磁石、
11c…線量モニタ、
11d…下流ビーム位置モニタ、
11d1…X電極、
11d2…Y電極、
12…荷電粒子ビーム、
13…患者・患部、
14…回転ガントリ、
15…照射室、
20…アナログ信号処理装置、
21…ビーム分布、
22…デジタル信号処理装置、
22a…パルスカウンタ、
23…パルス発生器、
24…アナログ/デジタル変換処理装置、
25…CPU、
26…積算パルス取込装置、
41…スポット照射制御フロー部、
42…レイヤー・エネルギー変更制御フロー部、
51…計測データ最大出力値、
52…基準ライン。
Claims (8)
- 照射対象物に照射する荷電粒子ビームを走査する粒子線照射システム制御装置であって、
前記照射対象物に照射される荷電粒子ビームを走査する走査電磁石と、
この走査電磁石の上流側に配置され、入射する荷電粒子ビームの通過により電離したイオンペアの電荷量を検出する上流ビーム位置モニタと、
この上流ビーム位置モニタの検出結果から前記入射荷電粒子ビームの通過位置を計測するとともに、前記上流ビーム位置モニタによって検出された電荷量に基づいて通過した荷電粒子ビームの実測電荷量を計算する上流ビーム位置モニタ監視制御装置と、
前記走査電磁石の下流側に配置され、前記走査電磁石にて走査された荷電粒子ビームの通過により電離したイオンペアの電荷量を検出する下流ビーム位置モニタと、
この下流ビーム位置モニタの検知結果から前記走査荷電粒子ビームの通過位置を計測するとともに、前記下流ビーム位置モニタによって検出された電荷量に基づいて通過した荷電粒子ビームの実測電荷量を計算する下流ビーム位置モニタ監視制御装置と、
前記上流ビーム位置モニタ監視制御装置と前記下流ビーム位置モニタ監視制御装置の少なくとも一方から荷電粒子ビームの実測電荷量を取り込み、この実測電荷量の総和と目標線量値から算出した予測電荷量の総和とを比較し、その差が予め設定した閾値の範囲内であるかどうかを監視する手段を有するモニタ監視制御装置とを備えたことを特徴とする粒子線照射システム制御装置。 - 請求項1に記載の粒子線照射システム制御装置において、
更に、前記実測電荷量と前記予測電荷量の総和との差が閾値の範囲より大きいときに荷電粒子ビームの照射を中断・完了させる第1インターロック機能を有する中央制御装置を備えることを特徴とする粒子線照射システム制御装置。 - 請求項2に記載の粒子線照射システム制御装置において、
前記モニタ監視制御装置は、更に、
前記実測電荷量と前記予測電荷量の総和との差が閾値の範囲内であるときは、次の照射スポットに遷移するための処理と並行して、前記計算した荷電粒子ビームの電荷量から荷電粒子ビーム位置および荷電粒子ビーム幅の演算処理を行い、この演算結果から荷電粒子ビーム位置および荷電粒子ビーム幅が異常かどうかの判定処理を行うことを特徴とする粒子線照射システム制御装置。 - 請求項3に記載の粒子線照射システム制御装置において、
前記中央制御装置は、更に、
荷電粒子ビーム位置および荷電粒子ビーム幅の少なくともいずれか一方が異常と判定されたときに荷電粒子ビームの照射を中断・完了させる第2インターロック機能を有することを特徴とする粒子線照射システム制御装置。 - 請求項2ないし4のいずれか1項に記載の粒子線照射システム制御装置において、
前記中央制御装置は、更に、
前記上流ビーム位置モニタ監視制御装置および前記下流ビーム位置モニタ監視制御装置を通過する荷電粒子ビームの目標位置を照射スポットごとに算出し、この算出結果を前記上流ビーム位置モニタ監視制御装置および前記下流ビーム位置モニタ監視制御装置に出力することを特徴とする粒子線照射システム制御装置。 - 請求項5に記載の粒子線照射システム制御装置において、
前記中央制御装置は、更に、前記上流ビーム位置モニタ監視制御装置および前記下流ビーム位置モニタ監視制御装置を通過する荷電粒子ビームの目標位置をモニタするチャンネル数を設定することを特徴とする粒子線照射システム制御装置。 - 請求項1ないし6のいずれか1項に記載の粒子線照射システム制御装置において、
前記モニタ監視制御装置は、更に、前記上流ビーム位置モニタと前記下流ビーム位置モニタで検出した電荷量を計測するモニタ信号処理装置と、このモニタ信号処理装置にて計測された電荷量を荷電粒子ビーム位置および荷電粒子ビーム幅を計算するために収集処理する演算処理装置と、を備えることを特徴とする粒子線照射システム制御装置。 - 荷電粒子ビームを出射する荷電粒子ビーム発生装置と、
この荷電粒子ビーム発生装置から出射された荷電粒子ビームを照射室まで導くビーム輸送系と、
前記照射室で照射対象物の照射対象形状に合わせて荷電粒子ビームを照射する粒子線照射システム制御装置とを備える粒子線治療システムであって、
前記粒子線照射システム制御装置として、請求項1ないし7のいずれか1項に記載の粒子線照射システム制御装置を備えることを特徴とする粒子線治療システム。
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