JP5795636B2 - スタンナン及び重水素化スタンナンの合成 - Google Patents
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Description
この方法は、低収率であり、及び/又は不純物の生成及び精製過程を必要とする。
第二スズハロゲン化を、冷却溶媒中に溶解して低温溶液を形成し;
還元剤及び溶媒の混合物を形成し;
前記還元剤溶媒混合物を、約0℃から前記溶媒の約融点まで冷却し;
前記第二スズハロゲン化溶液をゆっくりと添加し、真空下で前記還元剤に添加の間、前記スズハロゲン化溶液を冷却を続けて、反応混合物を形成し;及び
反応生成物を形成させ;
前記第二スズハロゲン化の添加の間に前記反応混合物から反応生成物を取り出し;
前記全ての第二スズハロゲン化溶液を添加し反応生成物が完了した後、前記反応生成物の取り出しを続け;及び
反応生成物を1以上のコールドトラップで集めるステップを含み;
前記還元剤が、水素化リチウムアルミニウム又は重水素化リチウムアルミニウムから選択され、及び前記1以上のコールドトラップが前記反応生成物の沸点よりも低い、方法である。
前記生成物の収集は、最後のコールドトラップの出口から真空引きすることで補助できる。
収集は又、反応生成物を反応容器から前記1以上のコールドトラップへ流すことでも可能である。
第二スズハロゲン化を、冷却溶媒中に溶解して低温溶液を形成し;
還元剤及び溶媒の混合物を形成し;
前記還元剤溶媒混合物を冷却し;
前記第二スズハロゲン化溶液をゆっくりと添加し、真空下で前記還元剤に添加の間、前記スズハロゲン化溶液及び前記還元剤混合物の冷却を続けて、反応混合物を形成し;
反応生成物を形成させ;
前記第二スズハロゲン化の添加の間に前記反応混合物から反応生成物を取り出し;
前記全ての第二スズハロゲン化溶液を添加し反応生成物が完了した後、前記反応生成物の取り出しを続け;及び
反応生成物を1以上のコールドトラップで集めるステップを含み;
前記還元剤が、水素化リチウムアルミニウム又は重水素化リチウムアルミニウムから選択され;及び
前記1以上のコールドトラップが前記反応生成物の沸点よりも低い、方法である。
第二スズハロゲン化を、冷却溶媒中に溶解して低温溶液を形成し;
還元剤及び溶媒の混合物を形成し;
前記還元剤溶媒混合物を約0℃から約前記溶媒の融点まで冷却し;
前記第二スズハロゲン化溶液をゆっくりと添加し、真空下で前記還元剤に添加し;
それによりスタンナン又は重水素化スタンナンの反応混合物を形成し;及び
前記第二スズハロゲン化溶液と前記還元剤混合物を、前記スズハロゲン化を前記還元剤溶液に添加する間冷却し;
前記第二スズハロゲン化溶液の添加の間に前記反応混合物から生成物を取り出し;
全ての第二スズハロゲン化溶液が添加され、反応混合物の形成が完了した後前記反応生成物の取り出しを続け;
前記反応生成物を1以上のコールドトラップに収集するステップを含み;及び
前記還元剤が、水素化リチウムアルミニウム又は重水素化リチウムアルミニウムから選択され、前記1以上のコールドトラップが前記反応生成物の沸点よりも低く冷却され、前記反応混合物が、前記第二スズハロゲン化を還元剤に添加する間、及び前記反応が完了するまで、撹拌される、方法。第二スズハロゲン化生成物の収集は、前記最後のコールドトラップを真空で吸引することで補助され得る。収集はまた、反応生成物を、反応容器から1以上のコールドトラップに流すことでも可能である。LiAlH4が還元剤の場合、生成物はスタンナンである。LiAlD4が還元剤の場合には、生成物は重水素化スタンナンである。
本方法はまた、高温度による生成物分解を防止し、及び爆熱や爆発を防止するように前記発熱反応を制御する。
開始反応温度は、好ましくは−70℃から−10℃であり、より好ましくは約−60℃から約−10℃である。全ての第二スズハロゲン化物が反応容器に添加された後、反応混合物の温度は一定に維持されるか、室温に徐々に上げられる。室温、約20℃までの温度上昇速度は、重要ではなく、加熱を制御することで、又は反応容器を冷却浴から取り出して室温まで温度を上げることで可能である。好ましくは、反応が完了し、スタンナン又は重水素化スタンナンがもはや生成されなくなるまで前記反応混合物を撹拌することが好ましい。
塩化第二スズ (8.20g、31.5mmol)を無水ジグライム30mLに0℃で溶解した。この溶液を、60mLの冷却ジャケット付きに滴下漏斗に加えた。500mLの口(24/40ジョイント)丸底フラスコに、3.60g(85.9mmol)の重水素化リチウムアルミニウム(LiAlD4)及びPTFE被覆磁気撹拌エッグ(egg)を入れた。前記LiAlD4粉末を、約100mLの無塩ジグライムでスラリーとし、そのフラスコに前記滴下漏斗を取り付けた。滴下漏斗を−30℃乃至−40℃に冷却し、添加の間この温度範囲を維持した。反応の間、フラスコの底部を−66℃乃至−72℃へ冷却した。それぞれの成分は、イソプロピルアルコール中でスラリー化したドライアイスを用いて冷却した。反応装置を、ホウケイ酸塩ガラスシュレンクマニホールド系につなぎ、真空で周囲窒素を除去し、最終圧力を約5トールにした。反応装置は、液体窒素中−196℃に冷却された2つの連続Uトラップに接続し、これらはその下流の真空ポンプに開かれていた。第二スズ塩化物を、約40分かけて滴下した。反応装置内部圧力は、常時監視し、揮発物はUトラップ内に定期的に濃縮させて圧力が30トールを超えないようにした。前記添加が完了して、底部冷却浴を取り外し、ガスを連続的に取り出しながら温度をゆっくりと約−10℃へ上げた。ほとんどの生成物は第1のトラップに収集され、−78℃及び−196℃に冷却した2つのトラップ内に分溜濃縮された。−78℃トラップは数滴のジグライムを含み、一方−196℃トラップは3.56gのSnD4(28.1mmol、89%収率(制限試薬として塩化第二スズに基づく))を含んでいた。−196℃トラップの「つま先部分」を集めて、SnD4に比べてより低い沸点により低沸点のHCl不純物をチェックした。前記サンプルの「つま先部分」のFTIRガス分析から、HCLもSnD4の予想スペクトルも観測できなかった。(前記「つま先」サンプルは、液体窒素を除去し、SnD4を解凍し前記第1の15トールのガスが収集された中に液化させることにより得られた)。
PTFE被覆した磁気撹拌子を入れた500mLの3口丸底フラスコに、1.93gの重水素化リチウムアルミニウム(34.5mmol;50mol%過剰)及び200mLの無水ジグライムを入れた。コールドフィンガー型コンデンサーと60mLの滴下漏斗(これは6.0gの塩化第二スズ(23.0mmol)を25mLの無水ジグライムに溶解させた溶液を収容した)を前記反応フラスコに取り付けた。前記フラスコと冷却キャップ付き滴下漏斗を、−60℃及び−45℃にそれぞれ冷却した。コールドフィンガー型コンデンサを−78℃におけるドライアイス/イソプロピルアルコールスラッシュ浴を用いて冷却し、反応フラスコ内の溶媒を保持した。ヘッドスペースの窒素を真空で除き、反応圧力を約1トールとした。塩化第二スズを連続的に、約150mgSnCl4/分の速度で、40分にわたって、重水素化リチウムアルミニウム/ジグライム混合物に滴下した。反応フラスコを液体窒素で冷却したガラストラップに開放し、SnCl4添加の間に形成される揮発性気体(重水素及び重水素化スタンナンガス)を連続的に取り出した。フラスコ内の圧力を反応中モニターし、常に5トールを超えないようにした。第二スズ塩化物の添加が完了した後、残留重水素化スタンナン及び無視できる量の重水素を連続的に取り出しながら前記フラスコの温度を室温まで上げた。合計2.51gのSnD4(19.8mmol;86%収率(SnCl4を基準))が生成された。重水素化スタンナンガスの部分が、ZnSeプレート付き10cmガスセルを用いて気相FTIRスペクトルで分析された。前記FTIRスペクトルは、もっぱらSnD4 の存在を明らかにした。
PTFE被覆した磁気撹拌子を入れた、1000mLの3口丸底フラスコに、12.90gの重水素化リチウムアルミニウム(288mmol;50mol%過剰)及び500mLの無水ジグライムを入れた。コールドフィンガー型コンデンサーと60mL滴下漏斗(50.0gの塩化第二スズ(192mmol)を収容した)を反応フラスコに取り付けた。前記フラスコを−55℃に冷却し、ヘッドスペースの窒素を真空で除去し、反応圧力を約1トールとした。その後塩化第二スズを、前記重水素化リチウムアルミニウム/ジグライム混合物に、75分間で添加する(添加速度は約700mg/分)とともに、形成された揮発性ガス(重水素及び重水素化スタンナンガス)を定期的に取り出した。コールドフィンガー型コンデンサーは−78℃におけるドライアイス/イソプロピルアルコールスラッシュ浴で冷却され、反応フラスコの溶媒を維持した。前記揮発生成物を、2つの連続した−196℃に冷却されたUトラップで収集した。重水素ガスの相当な量が塩化第二スズの添加の際に生成され、これは真空ポンプに送られ、フラスコ内の圧力は反応を通じて監視された。反応装置の内部圧力は、常時50トールを超えないように維持した。塩化第二スズは、約3分間隔の単位(インクリメント)で添加され、その後重水素化スタンナンを濃縮した。残りの塩化第二スズは、滴下漏斗への分離弁を閉じることで重水素化スタンナンの収集から分離した。フラスコは、塩化第二スズの添加を終了し、残る重水素化スタンナンと重水素ガスを連続的に除去しながら、室温に暖められた。合計3.52gのSnD4が生成した(27.8mmol;14%収率(SnCl 4 に基づく))。前記重水素化スタンナンガスの部分は、ZnSeプレート付き10cmガスセルを用いてFTIRスペクトルで分析した。FTIRスペクトルは、SnD4による吸収バンドと共に、塩化水素不純物の存在を示した。この方法を使用してバッチ合成を繰り返すと、生成物収率は、非常に変化し、めったに15%に接近しないことが分かった。4から10%収率が、この方法ではより普通である。ジグライムなどの多座溶媒中に塩化第二スズを最初に溶解させることなく、塩化第2スズを添加することは、収率を低下させることとなる。
PTFE被覆磁気撹拌子を収容する250mLの3つ口丸底フラスコに、3.8gのLiAlD4(90.6mmol)及び125mLの無水ジエチルエーテルを入れた。フラスコに、コールドフィンガー型コンデンサーと滴下漏斗(19.6gのSnCl4(75.2mmol)を収容した)を取り付けた。フラスコとコールドフィンガー型コンデンサーとを、粉末ドライアイス/イソプロピルアルコールスラッシュ浴を用いて−78℃に冷却し、ヘッドスペースの窒素を真空で除去し、最終的に圧力1トールとした。塩化第二スズを、40分かけて添加するとともに、直列して設けた液体窒素で冷却された3つのU冷却トラップに反応容器に触れさせることにより、生成した揮発性ガスを定期的に捕捉した。反応装置内部圧力は、SnD4収集及び非凝縮重水素化ガスの除去前に約100トールへ増加させた。この圧力は、SnCl4添加の再開に先立ちそれぞれの場合に約10トールに低減させた。一度SnCl4の添加を終了したら前記冷却浴を取り除き、フラスコを、生成した揮発性ガスを継続的に除去しつつ約−10℃まで温めた。凝集されたSnD4は、−100℃(ジエチルエーテル溶媒トラップ)及び−196℃で冷却された(SnD4トラップ)された2つのUトラップを用いて分溜凝縮すること(ポンピングせず)で少量の溶媒を除去して精製した。−100℃のトラップは少量のジエチルエーテル(1mL未満)を含み、かつ−196℃のトラップは、SnD4(1.43g;11.3mmol、15%収率)を含んでいた。SnD4の典型的バッチ合成は、約10から12%の低収率である。この実施例は、Normanらにより報告された低収率を実証する。
グローブボックス内で窒素下、PTFE被覆磁気撹拌子を収容する500mLの2口丸底フラスコに、2.36gのLiAlD4(56.3mmol)を入れた。窒素を真空でフラスコから除去して、液体窒素(−196℃)中で反応フラスコを冷却することにより凝縮を介して10.77gのSnCl 4 (41.3mmol)を添加した。液体窒素浴を除き、内容物をゆっくり周囲温度に暖めた。数分間は、反応が行われる兆候は見えなかった。他のガラスシュレンク管への凝縮を介して塩化第二スズを反応フラスコから除去した。(これは、グローブボックス内でフラスコにより多くのLiAlD4を添加するためである)。残りのLiAlD4固体は、残留SnCl4で湿っていた。前記フラスコを真空源に対して閉じ、さらに真空下での物質のさらなる乾燥を行なおうことを意図して、撹拌子に付着した固体を払い落とすよう振り動かした。前記湿っていた固体は、その後激しく爆燃した。
PTFE被覆磁気撹拌子を有する500mLの2口丸底フラスコに、3.5gのLiAlD4(83.5mmol)及び100mLの無水ジグライムを入れた。その後フラスコに、−78℃に冷却されたコールドフィンガー型コンデンサーを取り付けた。前記反応フラスコはその後、反応スラリーを凍結及び解凍することで脱ガスされた。塩化第二スズ(10.5g、40.3mmol)を液体窒素で冷却した前記反応フラスコ内に凝縮させ、ついで前記システムを、1000ppmO2 を含む窒素からなるヘッドスペースカバーガスで1気圧に加圧した。前記液体窒素浴を外し、前記フラスコを−78℃のドライアイス/イソプロピルアルコールスラッシュ浴に漬けた。その後フラスコをゆっくりと約−10℃まで温めると、フラスコの内部圧は急激に増加した。圧力増加の徴候は、約−60℃で生じ、揮発物を−196℃に冷却した直列の2つのUトラップ内に収集した。非凝集性のかなりの量のガスが前記Uトラップを通って全ガス混合物をゆっくりと通過して真空ポンプへ送られた。フラスコを温まったとき、反応の間の圧力の増加は、下流の真空ポンプに対して開かれた、凝縮の連続を有する隣接するUトラップの入り口弁を少し開ける(cracking)ことにより、約1気圧に維持した。前記フラスコ温度が−10℃に近づいたとき、揮発物が完全に除去された。この実験では、SnD4は回収されず、相当の量の元素状スズが反応容器内に残された。
Claims (25)
- スタンナン又は重水素化スタンナンの合成方法であり、前記方法は:
ハロゲン化第二スズを冷却溶媒中に0℃から前記溶媒の融点までの温度で溶解して低温度溶液を形成するステップ;
還元剤及び溶媒との混合物を形成するステップ;
前記還元剤溶媒混合物を0℃から前記溶媒の融点までの温度に冷却するステップ;
前記ハロゲン化第二スズ溶液をゆっくりと添加し、かつ前記溶媒中の還元剤へ添加している間にも前記スズハロゲン化物溶液及び前記還元剤混合物の冷却を続けながら、それにより反応混合物を形成するステップ;
反応生成物を形成するステップ;
前記ハロゲン化第二スズ溶液の添加の間に前記反応混合物から反応生成物を取り出すステップ;
すべてのハロゲン化第二スズ溶液が添加され、反応生成物の形成が完了した後に反応生成物を取り出すステップ;及び
前記反応生成物を1以上の冷却トラップに収集するステップ;
を含み、前記還元剤が、水素化リチウムアルミニウム又は重水素化リチウムアルミニウムから選択され、
前記溶媒がポリエーテルであり、かつ
前記少なくとも1つの1以上の冷却トラップの温度が、前記反応生成物の沸点よりも低い、方法。 - 前記還元剤が、水素化リチウムアルミニウムであり、反応生成物がスタンナンである、請求項1に記載の方法。
- 前記還元剤が重水素化リチウムアルミニウムであり、生成物が重水素化スタンナンである、請求項1に記載の方法。
- 前記ハロゲン化第二スズが、第二スズフッ化物、第二スズ塩化物、第二スズ臭化物、及び第二スズヨウ化物からなる群から選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記還元剤が、前記ハロゲン化第二スズを水素化するために必要な量の、化学量論量から50%過剰の量で存在する、請求項1に記載の方法。
- 前記ハロゲン化第二スズを前記還元剤混合物に添加して前記反応混合物を形成するステップが、真空下で実施される、請求項1に記載の方法。
- 前記ハロゲン化第二スズが、0℃から−64℃の温度で溶媒に溶解する、請求項1に記載の方法。
- 前記ハロゲン化第二スズ添加の際の前記反応混合物の温度が、0℃から−70℃である、請求項1に記載の方法。
- 前記反応混合物温度が、前記ハロゲン化第二スズの前記還元剤への添加が完了した後、20℃へ上げることができる、請求項1に記載の方法。
- 前記反応混合物が、連続的に撹拌される、請求項1に記載の方法。
- 前記ハロゲン化第二スズ溶液が、溶媒中の前記還元剤に、全てのハロゲン化第二スズ溶液が、30分から1時間で添加されるように一定の速度で添加される、請求項1に記載の方法。
- 前記ハロゲン化第二スズが、溶媒中の前記還元剤に、30分から1時間で徐々に添加される、請求項1に記載の方法。
- 前記ハロゲン化第二スズ溶液が、0.1分から5分の間隔で、30分から1時間のわたり、徐々に添加される、請求項1に記載の方法。
- 前記溶媒が多座溶媒である、請求項1に記載の方法。
- 前記溶媒は、モノグライム、ジグライム、トリグライム、テトラグライム、クラウンエーテル及びこれらの混合物からなる群から選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記溶媒はジグライムである、請求項1に記載の方法。
- 前記1以上の冷却トラップが、静的トラップである、請求項1に記載の方法。
- 前記1以上の冷却トラップが、フロースルートラップである、請求項1に記載の方法。
- 前記1以上の冷却トラップ少なくとも1つが、前記反応生成物の融点よりも低い温度である、請求項1に記載の方法。
- 前記1以上の冷却トラップ少なくとも1つが、−190℃の温度である、請求項1に記載の方法。
- 1以上の冷却トラップがあり、その最後のトラップの温度が、−190℃である、請求項1に記載の方法。
- 前記1以上の冷却トラップがあり、その第1の冷却トラップの温度が−60℃から−80℃である、請求項1に記載の方法。
- 前記反応生成物が、連続的に、又はある間隔で取り出される、請求項1に記載の方法。
- 前記反応生成物が、5分の間隔で取り出される、請求項1に記載の方法。
- 前記反応生成物が、前記最後の冷却トラップの出口から吸引される真空の補助により取り出される、請求項1に記載の方法。
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