JP5764639B2 - Mode converter - Google Patents

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Description

本発明は、モード変換器に係り、特にミリ波帯の通信用の導波路に用いられる技術に関する。   The present invention relates to a mode converter, and more particularly to a technique used for a waveguide for communication in the millimeter wave band.

近年、ミリ波帯を利用した数G[bps]の高速大容量通信が提案され、その一部が実現されつつある。特に、60GHz帯で動作する無線通信機器は、より重要性を増している。国内においては、59GHzから66GHzまでの広い周波数帯域を、無免許で利用可能であることから、民生分野への普及が期待されており、安価で小型のミリ波通信モジュールの実現が急務である。   In recent years, high-speed and large-capacity communication of several G [bps] using the millimeter wave band has been proposed, and a part thereof is being realized. In particular, wireless communication devices operating in the 60 GHz band are becoming more important. In Japan, since a wide frequency band from 59 GHz to 66 GHz can be used without a license, it is expected to spread to the consumer field, and the realization of an inexpensive and small millimeter-wave communication module is urgently needed.

小型で安価なミリ波通信モジュールを実現する形態として、非特許文献1、非特許文献2には、プリント基板による導波路(ポスト壁導波路アンテナ:PWA Post-Wall Waveguide Antenna)を利用したミリ波モジュールが開示されている。
特許文献1の図1〜図7に示すように、上記技術は、従来の導波路の側壁(金属壁)を、プリント基板のスルーホール群(ポスト群)で置き換えている。無線通信IC(CMOS−IC)がPWAの上に実装されており、ワイヤボンド、バンプ接続などの方法で無線通信IC(特許文献1の明細書中では半導体チップ4と表記。以下同)から出力されたミリ波信号は、一旦、平面回路による伝送線路(マイクロストリップ、コプレーナ、ストリップ等の線路24と表記)を伝わり、平面回路・導波路変換構造(中心導体23と表記)を経て、最終的には導波路構造部(導波路2と表記)へと導かれる。
Non-Patent Literature 1 and Non-Patent Literature 2 describe a millimeter wave using a printed circuit board (PWA Post-Wall Waveguide Antenna) as a form for realizing a small and inexpensive millimeter-wave communication module. A module is disclosed.
As shown in FIGS. 1 to 7 of Patent Document 1, in the above technique, the side wall (metal wall) of a conventional waveguide is replaced with a through hole group (post group) of a printed circuit board. A wireless communication IC (CMOS-IC) is mounted on the PWA, and is output from the wireless communication IC (referred to as a semiconductor chip 4 in the specification of Patent Document 1 below) by a method such as wire bonding or bump connection. The transmitted millimeter wave signal is once transmitted through a transmission line (denoted as a line 24 such as a microstrip, a coplanar, or a strip) by a planar circuit, and finally passes through a planar circuit / waveguide conversion structure (denoted as a central conductor 23). To the waveguide structure (denoted as waveguide 2).

上道雄介他、「60GHz帯におけるマイクロストリップ線路とLCP基板を用いたポスト壁導波路間の貫通スルーホール型モード変換器」、2013年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会講演論文集、電子情報通信学会、平成25年9月、C−2−70 p.95。Yusuke Kamido, et al., "Through-through-hole mode converter between post-wall waveguide using microstrip line and LCP substrate in 60 GHz band", 2013 IEICE Electronics Society Conference Proceedings, IEICE , September 2013, C-2-70 p. 95. R.Suga,et al. “Cost-FFfective 60-GHz Antenna-Package with End-Fire Radiation from Open-Ended Post-Wall Waveguid FF or Wireless File-Transfer System,”2011 IEEE MTT-S International Microwave Symposiμm, pp. 348-351R. Suga, et al. “Cost-FFfective 60-GHz Antenna-Package with End-Fire Radiation from Open-Ended Post-Wall Waveguid FF or Wireless File-Transfer System,” 2011 IEEE MTT-S International Microwave Symposiμm, pp. 348-351

非特許文献1に示されるモード変換器では、励振ビアが貫通孔であるため、基板の第二主面側に励振ビアの金属柱が露出した構造となる。
このため、実際の使用においては、励振ビアの金属柱が、筐体等の他の金属体の影響を受け、励振ビア端面から見た入力インピーダンスが変動し、反射損失の大きさが変動するという問題があった。
In the mode converter shown in Non-Patent Document 1, since the excitation via is a through hole, the metal column of the excitation via is exposed on the second main surface side of the substrate.
For this reason, in actual use, the metal pillar of the excitation via is affected by other metal bodies such as a casing, the input impedance viewed from the end face of the excitation via varies, and the magnitude of the reflection loss varies. There was a problem.

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって、金属体が近接することによる反射損失の変動を抑えることが可能なモード変換器を提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of the situation mentioned above, Comprising: It aims at providing the mode converter which can suppress the fluctuation | variation of the reflection loss by a metal body adjoining.

本発明者は、図22に示すように、従来のモード変換器底面に3種類の部材を接近させた場合における周波数(横軸)に対する反射損失(縦軸)を測定した。本実験では、モード変換器底面への金属近接の影響を避けるために石英を接触させて測定した反射損失(a)と、モード変換器底面に金属板を近接させて測定した反射損失(b)と、モード変換器の底面と金属板との間に厚み85μmの紙を挟んで測定した反射損失(c)とを測定した。
その結果、金属が近接していない状態(a)と、金属が近接している状態(b)とでは明らかに反射損失の大きさに差があることがわかった。
一方、紙を挟んだ場合(c)では、反射損失は金属の影響がない(a)にほぼ等しいことがわかった。本発明は、この知見に基づき、金属の影響を低減するべく、以下のように構成した。
As shown in FIG. 22, the present inventor measured the reflection loss (vertical axis) with respect to the frequency (horizontal axis) when three types of members were brought close to the bottom of the conventional mode converter. In this experiment, the reflection loss (a) measured by bringing quartz into contact with the bottom of the mode converter to avoid the influence of the proximity of the metal to the bottom of the mode converter, and the reflection loss (b) measured by bringing the metal plate close to the bottom of the mode converter. And a reflection loss (c) measured by sandwiching a paper having a thickness of 85 μm between the bottom surface of the mode converter and the metal plate.
As a result, it was found that there is a clear difference in the magnitude of reflection loss between the state where the metal is not close (a) and the state where the metal is close (b).
On the other hand, when paper was sandwiched (c), the reflection loss was found to be almost equal to (a) without the influence of metal. Based on this finding, the present invention is configured as follows to reduce the influence of metal.

本発明は、伝送路と導波路との間で信号を相互に変換するモード変換器であって、第一主面およびその反対面である第二主面を有する第一基板と、前記第一基板の第一主面側に積層された第二基板と、前記伝送路を含み、前記第二基板上に形成されて高周波信号を伝播する平面回路と、前記平面回路と接続され、前記第一基板および第二基板を貫通する導電性の励振ピンと、前記第一基板の両主面にそれぞれ形成された接地導体層およびこれらを互いに連結する導電性の壁部を有する前記導波路と、を備え、前記励振ピンは、前記第一基板および第二基板を貫通する導電性の貫通部と、前記第一主面側において前記貫通部から拡径方向に突出した導電性の第一部分と、前記第二主面側において前記貫通部から拡径方向に突出した導電性の第二部分と、を有し、前記第一主面側の接地導体層と前記励振ピンの第一部分との間、および、第二主面側の接地導体層と前記励振ピンの第二部分との間に、それぞれアンチパッドが形成され、前記第二主面側の接地導体層には、少なくとも前記励振ピンの端部およびアンチパッドを覆う絶縁樹脂層が設けられているモード変換器を提供する。
前記伝送路は、マイクロストリップラインを構成しており、一端側が前記励起ピンに接続され、他端側がパッドに接続され、前記パッドを挟んだ両側には、それぞれGNDパッドが前記パッドから離間して形成され、前記GNDパッドは、GND接続ビアを介して前記接地導体層と接続されていてもよい。
前記絶縁樹脂層は、熱硬化性樹脂からなる構成としてよい。
前記絶縁樹脂層は、液晶ポリマーからなる構成としてよい。
前記絶縁樹脂層は、液晶ポリマーからなる液晶ポリマー層と、前記液晶ポリマー層と前記第二主面の接地導体層との間に介在する熱硬化性樹脂層とを有する構成としてよい。
前記壁部は、前記第一基板の両主面間を貫通する複数の貫通孔の内部にそれぞれ形成された複数の導電性のポストからなるポスト壁であることが好ましい。
The present invention is a mode converter for mutually converting a signal between a transmission line and a waveguide, the first substrate having a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface, and the first substrate A second substrate laminated on the first main surface side of the substrate; a planar circuit including the transmission path; formed on the second substrate for propagating a high-frequency signal; and connected to the planar circuit; A conductive excitation pin penetrating through the substrate and the second substrate; a ground conductor layer formed on each of the main surfaces of the first substrate; and the waveguide having a conductive wall portion connecting them to each other. The excitation pin includes a conductive penetrating portion penetrating the first substrate and the second substrate, a conductive first portion projecting from the penetrating portion in the diameter increasing direction on the first main surface side, and the first pin Conductive second projecting in the diameter increasing direction from the penetrating portion on the two principal surface sides Minutes, has, between the first portion of the excitation pins and the ground conductor layer of the first main surface side, and, with the second portion of the excitation pin and the second main surface side of the ground conductor layer There is provided a mode converter in which antipads are respectively formed and an insulating resin layer covering at least the end portions of the excitation pins and the antipads is provided on the ground conductor layer on the second main surface side.
The transmission line constitutes a microstrip line, one end side is connected to the excitation pin, the other end side is connected to a pad, and a GND pad is separated from the pad on both sides of the pad. The formed GND pad may be connected to the ground conductor layer through a GND connection via.
The insulating resin layer may be composed of a thermosetting resin.
The insulating resin layer may be composed of a liquid crystal polymer.
The insulating resin layer may include a liquid crystal polymer layer made of a liquid crystal polymer, and a thermosetting resin layer interposed between the liquid crystal polymer layer and the ground conductor layer on the second main surface.
Preferably, the wall portion is a post wall formed of a plurality of conductive posts respectively formed in a plurality of through holes penetrating between both main surfaces of the first substrate.

本発明によれば、第一基板の第二主面に積層された接地導体層に、近接金属の影響を抑えるための絶縁樹脂層を設けるため、励振ピン端面から見た金属近接による入力インピーダンスの設計値からの変動を防止し、反射損失の変動を抑えることが可能となる。   According to the present invention, since the insulating resin layer for suppressing the influence of the adjacent metal is provided on the ground conductor layer laminated on the second main surface of the first substrate, the input impedance of the metal proximity viewed from the end surface of the excitation pin is It is possible to prevent fluctuations from the design value and suppress fluctuations in reflection loss.

(A)本発明の第一実施形態に係るモード変換器の構成を模式的に示す斜視図である。(B)(A)に示すモード変換器の側面を示す概略構成図である。(A) It is a perspective view which shows typically the structure of the mode converter which concerns on 1st embodiment of this invention. (B) It is a schematic block diagram which shows the side surface of the mode converter shown to (A). 図1のモード変換器の平面図である。It is a top view of the mode converter of FIG. 第一実施形態に係るモード変換器の概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the mode converter which concerns on 1st embodiment. モード変換器の製造工程における第一工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 1st process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第二工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 2nd process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第三工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 3rd process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第四工程の前工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pre-process of the 4th process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第四工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 4th process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第五工程の前工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pre-process of the 5th process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第五工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 5th process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第六工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 6th process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第七工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 7th process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第八工程の前工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pre-process of the 8th process in the manufacturing process of a mode converter. モード変換器の製造工程における第八工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 8th process in the manufacturing process of a mode converter. 第一実施形態に係るモード変換器の製造工程における第九工程の前工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pre-process of the 9th process in the manufacturing process of the mode converter which concerns on 1st embodiment. 第一実施形態に係るモード変換器の製造工程における第九工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 9th process in the manufacturing process of the mode converter which concerns on 1st embodiment. 第二実施形態に係るモード変換器の製造工程における第九工程の前工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pre-process of the 9th process in the manufacturing process of the mode converter which concerns on 2nd embodiment. 第二実施形態に係るモード変換器の製造工程における第九工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 9th process in the manufacturing process of the mode converter which concerns on 2nd embodiment. 第三実施形態に係るモード変換器の製造工程における第九工程の前工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pre-process of the 9th process in the manufacturing process of the mode converter which concerns on 3rd embodiment. 第三実施形態に係るモード変換器の製造工程における第九工程を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 9th process in the manufacturing process of the mode converter which concerns on 3rd embodiment. 本発明に係るモード変換器によって発生する、電界分布について説明する図である。It is a figure explaining electric field distribution generated by the mode converter concerning the present invention. モード変換器において、周波数(横軸)に対する反射係数(縦軸)の関係を示すグラフである。In a mode converter, it is a graph which shows the relationship of the reflection coefficient (vertical axis) with respect to a frequency (horizontal axis).

(第一実施形態)
本発明の第一実施形態について図1〜図16を参照して説明する。
なお、以下に示す実施形態は、発明の趣旨をより良く理解させるために、例を挙げて説明するものであり、特に指定のない限り、本発明を限定するものではない。また、以下の説明に用いる図面は、本発明の特徴をわかりやすくするために、便宜上、要部となる部分を拡大している場合があり、各構成要素の寸法比率などが実際と同じであるとは限らない。
(First embodiment)
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
The following embodiments are described by way of example in order to better understand the gist of the invention, and do not limit the present invention unless otherwise specified. In addition, in the drawings used for the following description, in order to make the features of the present invention easier to understand, the main part may be enlarged for the sake of convenience, and the dimensional ratios of the respective components are the same as the actual ones. Not necessarily.

本発明の一実施形態に係るモード変換器1の構成について、図1〜図3を用いて説明する。図1(A)および図1(B)は、モード変換器1の構成を模式的に示す図である。図2はモード変換器1の平面図である。図3はモード変換器1の断面図である。   The structure of the mode converter 1 which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated using FIGS. 1-3. FIG. 1A and FIG. 1B are diagrams schematically showing the configuration of the mode converter 1. FIG. 2 is a plan view of the mode converter 1. FIG. 3 is a sectional view of the mode converter 1.

図1〜図3に示すように、モード変換器1は、第一基板10と、第二基板42と、高周波信号伝播用の信号伝送路C1を含む平面回路Cと、基板10,42を貫通する励振ピン22と、導波路40(図3参照)と、を備えている。   As shown in FIGS. 1 to 3, the mode converter 1 penetrates the first substrate 10, the second substrate 42, the planar circuit C including the signal transmission path C <b> 1 for high-frequency signal propagation, and the substrates 10 and 42. And the waveguide 40 (see FIG. 3).

第一基板10は、基材2の両面に銅箔3a、3bが積層された構成とすることができる(図3参照)。
基材2は、例えば単一層のLCP(液晶ポリマー)からなる。LCPは熱可塑性の樹脂であるため、LCPの両面に所望の銅箔3a、3bを貼り合せ、熱プレスにより熱融着することによってCCLを作製することが可能である。また、LCPは、誘電率、比誘電率が低く、また、ほとんど吸水をしないために、高周波伝送に適した材料であり、ミリ波帯においても十分な特性を発揮することが可能である。
The 1st board | substrate 10 can be set as the structure by which copper foil 3a, 3b was laminated | stacked on both surfaces of the base material 2 (refer FIG. 3).
The substrate 2 is made of, for example, a single layer LCP (liquid crystal polymer). Since LCP is a thermoplastic resin, it is possible to fabricate CCL by bonding desired copper foils 3a and 3b on both sides of LCP and thermally fusing them by hot pressing. LCP is a material suitable for high-frequency transmission because it has a low dielectric constant and relative dielectric constant and hardly absorbs water, and can exhibit sufficient characteristics even in the millimeter wave band.

第一基板10は、図3に示すように、主面10a(第一主面)と、その反対面である主面10b(第二主面)とを有する。第一基板10には、主面10a、10b間を貫通する貫通孔11〜13(第一貫通孔11、第二貫通孔12および第三貫通孔13)が形成されている。   As shown in FIG. 3, the first substrate 10 has a main surface 10 a (first main surface) and a main surface 10 b (second main surface) which is the opposite surface. In the first substrate 10, through holes 11 to 13 (first through hole 11, second through hole 12, and third through hole 13) penetrating between the main surfaces 10 a and 10 b are formed.

図3に示すように、励振ピン22は、第二貫通孔12の内壁12aに設けられた金属層22a(導体層)を有する。金属層22aは、信号伝送路C1に達している。
導体柱21は、第一貫通孔11の内壁11aに設けられた金属層21a、21b(導体層)を有する。金属層21aは、第一基板10の主面10a、10bに形成された導体膜14および導体膜15に達している。
GND接続ビア23は、第三貫通孔13の内壁13aに設けられた金属層23a(導体層)を有する。金属層23aは、信号伝送路C1に達している。
以下、導体柱21、励振ピン22、GND接続ビア23をピン20と総称することがある。
As shown in FIG. 3, the excitation pin 22 has a metal layer 22 a (conductor layer) provided on the inner wall 12 a of the second through hole 12. The metal layer 22a reaches the signal transmission path C1.
The conductor column 21 has metal layers 21 a and 21 b (conductor layer) provided on the inner wall 11 a of the first through hole 11. The metal layer 21 a reaches the conductor film 14 and the conductor film 15 formed on the main surfaces 10 a and 10 b of the first substrate 10.
The GND connection via 23 has a metal layer 23 a (conductor layer) provided on the inner wall 13 a of the third through hole 13. The metal layer 23a reaches the signal transmission path C1.
Hereinafter, the conductor pillar 21, the excitation pin 22, and the GND connection via 23 may be collectively referred to as a pin 20.

平面回路Cは、第一基板10の主面10aの接地導体層30上において、接着層16を介して積層された誘電体層17と、誘電体層17上に銅箔18を介して積層された信号伝送路C1とからなる。
平面回路Cでは、信号伝送路C1の端部に高周波信号(ミリ波信号)を印加すると、信号伝送路C1と接地導体層30との間を、TEMモードの電磁波が伝搬する。
The planar circuit C is laminated on the ground conductor layer 30 on the main surface 10a of the first substrate 10 via the adhesive layer 16 and the dielectric layer 17 via the copper foil 18. Signal transmission path C1.
In the planar circuit C, when a high frequency signal (millimeter wave signal) is applied to the end of the signal transmission path C1, a TEM mode electromagnetic wave propagates between the signal transmission path C1 and the ground conductor layer 30.

平面回路Cを形成する誘電体層17と、誘電体層17上に積層された銅箔18とは、第二基板42を構成する。また、誘電体層17としては、LCP(液晶ポリマー)からなるフィルムが使用できる。   The dielectric layer 17 that forms the planar circuit C and the copper foil 18 laminated on the dielectric layer 17 constitute a second substrate 42. As the dielectric layer 17, a film made of LCP (liquid crystal polymer) can be used.

導体膜14は、第一基板10の主面10aに形成されるものであり、主面10a上にて銅箔3aとともに接地導体層30を構成する。また、導体膜15は、第一基板10の主面10bに形成されるものであり、銅箔3bとともに接地導体層31を構成する。
これら接地導体層30、31は、それぞれ銅等の導体によって構成され、電気的に接地された配線(GND)として機能する。
なお、銅箔3aは接地導体層30の一部として扱うことができるため、基材2の上面を主面10aとみなすこともできる。同様に、銅箔3bは接地導体層31の一部として扱うことができるため、基材2の下面を主面10bとみなすこともできる。
The conductor film 14 is formed on the main surface 10a of the first substrate 10, and constitutes the ground conductor layer 30 together with the copper foil 3a on the main surface 10a. The conductor film 15 is formed on the main surface 10b of the first substrate 10 and constitutes the ground conductor layer 31 together with the copper foil 3b.
Each of the ground conductor layers 30 and 31 is made of a conductor such as copper and functions as an electrically grounded wiring (GND).
In addition, since the copper foil 3a can be handled as a part of the ground conductor layer 30, the upper surface of the base material 2 can also be regarded as the main surface 10a. Similarly, since the copper foil 3b can be handled as a part of the ground conductor layer 31, the lower surface of the substrate 2 can be regarded as the main surface 10b.

導波路40は、第一基板10の一方の主面10aおよび他方の主面10bにそれぞれ配された接地導体層30、31と、ポスト壁21Aとから構成される。ポスト壁21Aは、接地導体層30、31の間に立設し、両者を連結する複数の導体柱(ポスト)21からなる。
ポスト壁21Aを構成する複数の導体柱21は、図1(A)に示すように、第一基板10の平面視において励振ピン22をU字形に囲むように配置されている。
The waveguide 40 includes ground conductor layers 30 and 31 disposed on one main surface 10a and the other main surface 10b of the first substrate 10 and a post wall 21A. The post wall 21 </ b> A is composed of a plurality of conductor columns (posts) 21 erected between the ground conductor layers 30 and 31 and connecting the two.
As shown in FIG. 1A, the plurality of conductor pillars 21 constituting the post wall 21A are arranged so as to surround the excitation pin 22 in a U shape in a plan view of the first substrate 10.

導体柱21の中心軸間距離は、導体柱21の直径の2倍と同じか、それよりも小さくなるように設定するのが好ましい。これによって、隣り合う導体柱21の間隔は導体柱21の直径以下となり、励振ピン22から励振される電磁波を反射して漏洩を防止する効果を高めることができる。   The distance between the central axes of the conductor columns 21 is preferably set to be the same as or smaller than twice the diameter of the conductor columns 21. As a result, the distance between the adjacent conductor columns 21 is equal to or less than the diameter of the conductor columns 21, and the effect of preventing leakage by reflecting electromagnetic waves excited from the excitation pins 22 can be enhanced.

なお、図示例では、複数の導体柱21からなるポスト壁21Aが採用されているが、これに代えて、励振ピンをU字形に囲むように延在する金属板などの導体板からなる連続的な壁部を採用してもよい。   In the illustrated example, a post wall 21A composed of a plurality of conductor pillars 21 is employed, but instead, a continuous wall composed of a conductor plate such as a metal plate extending so as to surround the excitation pin in a U shape. A simple wall may be employed.

第一基板10の主面10aには、励振ピン22の周囲に、アンチパッド32が形成されている。主面10bには、励振ピン22の端部22bの周囲に、アンチパッド33が形成されている。
アンチパッド32、33は、励振ピン22の周囲に環状に形成され、接地導体層30、31と励振ピン22とを絶縁する領域を確保することにより、平面回路Cおよび励振ピン22の入力インピーダンスとのインピーダンス整合を図るものである。
On the main surface 10 a of the first substrate 10, an antipad 32 is formed around the excitation pin 22. An antipad 33 is formed around the end 22b of the excitation pin 22 on the main surface 10b.
The antipads 32 and 33 are formed around the excitation pin 22 in an annular shape, and by securing a region for insulating the ground conductor layers 30 and 31 and the excitation pin 22, the input impedances of the planar circuit C and the excitation pin 22 are reduced. Impedance matching.

アンチパッド32、33は、第二貫通孔12の開口部から外側に広がる絶縁領域であり、例えば、励振ピン22の周囲の、接地導体層30、31が形成されていない環状領域としてよい。
アンチパッド32、33は、電気的な絶縁領域であればよく、励振ピン22と接地導体層30、31との間に確保された空隙により構成してもよいし、この空隙に充填された絶縁体(樹脂等)により構成してもよい。
図示例では、主面10b側のアンチパッド33には、絶縁樹脂層41を構成する樹脂が充填されている。
The antipads 32 and 33 are insulating regions extending outward from the opening of the second through hole 12, and may be, for example, annular regions around the excitation pin 22 where the ground conductor layers 30 and 31 are not formed.
The anti-pads 32 and 33 may be an electrically insulating region, and may be constituted by a gap secured between the excitation pin 22 and the ground conductor layers 30 and 31, or an insulation filled in the gap. You may comprise by a body (resin etc.).
In the illustrated example, the antipad 33 on the main surface 10b side is filled with a resin constituting the insulating resin layer 41.

信号伝送路C1は、一端側が励振ピン22の外部側端部に接続され、他端側がGSGパッド34に接続されており、マイクロストリップラインを構成している。
GSGパッド34の両外側には、図2に示すように、GSGパッド34から離間してGNDパッド35が形成される。GNDパッド35には、GND接続ビア23が接続される。GND接続ビア23は、接地導体膜31に達して形成される。
前述した導体柱21、励振ピン22、およびGND接続ビア23は、少なくとも表面がCu、Ag、Auなどの導体から形成されていればよく、内部については、表面と同様の導体、空洞、あるいは、絶縁樹脂などで占有された構造とすることができる。
図3に示すように、この例では、第一基板10の他方の主面10b側に設けた絶縁樹脂層41を構成する樹脂が導体柱21、励振ピン22、GND接続ビア23内に充填されている。
One end of the signal transmission path C1 is connected to the outer end of the excitation pin 22, and the other end is connected to the GSG pad 34, thereby forming a microstrip line.
As shown in FIG. 2, GND pads 35 are formed on both outer sides of the GSG pad 34 so as to be separated from the GSG pad 34. The GND connection via 23 is connected to the GND pad 35. The GND connection via 23 is formed to reach the ground conductor film 31.
The conductor pillar 21, the excitation pin 22, and the GND connection via 23 described above only have to be formed at least on the surface from a conductor such as Cu, Ag, Au, and the inside is the same conductor, cavity, or A structure occupied by an insulating resin or the like can be employed.
As shown in FIG. 3, in this example, the resin constituting the insulating resin layer 41 provided on the other main surface 10 b side of the first substrate 10 is filled in the conductor pillars 21, the excitation pins 22, and the GND connection vias 23. ing.

主面10b側の接地導体層31の下面側には、絶縁樹脂層41が形成されている。絶縁樹脂層41の具体的構成については、後述する第九工程(図15〜図20参照)にて詳細に説明する。
図示例の絶縁樹脂層41は、接地導体層31の下面側の全領域に形成されているが、絶縁樹脂層41は、接地導体層31の下面側の全領域に形成する必要はなく、少なくとも、励振ピン22の端部22b(第二主面10b側の端部)およびアンチパッド33を覆っていればよい。例えば、接地導体層31の下面側の領域のうち、励振ピン22の端部22bおよびアンチパッド33を含む一部領域のみに形成してもよい。
「少なくとも励振ピン22の端部22bおよびアンチパッド33を覆う」とは、平面視において、励振ピン22の端部22bおよびアンチパッド33と重なる領域を有することをいう。
An insulating resin layer 41 is formed on the lower surface side of the ground conductor layer 31 on the main surface 10b side. The specific configuration of the insulating resin layer 41 will be described in detail in a ninth step (see FIGS. 15 to 20) described later.
The insulating resin layer 41 in the illustrated example is formed in the entire region on the lower surface side of the ground conductor layer 31, but the insulating resin layer 41 is not necessarily formed in the entire region on the lower surface side of the ground conductor layer 31, and at least The end 22b of the excitation pin 22 (the end on the second main surface 10b side) and the antipad 33 may be covered. For example, in the region on the lower surface side of the ground conductor layer 31, it may be formed only in a partial region including the end 22 b of the excitation pin 22 and the antipad 33.
“Covering at least the end 22b of the excitation pin 22 and the antipad 33” means having a region overlapping the end 22b of the excitation pin 22 and the antipad 33 in plan view.

モード変換器1では、平面回路Cにおいて信号伝送路C1に高周波信号が入力された場合、信号伝送路C1と導波路上部広壁14間に電界が発生し、マイクロストリップモードとして電磁波が伝搬する。
電磁波は、励振ピン22を新たなTEモードの励振源として導波路基板10内にTEモードを誘起させ、TEモードとして導波路基板10内を伝搬する。
In the mode converter 1, when a high frequency signal is input to the signal transmission path C1 in the planar circuit C, an electric field is generated between the signal transmission path C1 and the waveguide upper wide wall 14, and an electromagnetic wave propagates as a microstrip mode.
The electromagnetic wave induces a TE mode in the waveguide substrate 10 using the excitation pin 22 as a new TE mode excitation source, and propagates in the waveguide substrate 10 as the TE mode.

図1〜図3に示したモード変換器1の製造方法の一例について、図4から図16を参照して段階的に説明する。
まず、第一工程として、図4に示すように、基材となるLCPフィルム102の両面に、銅箔103aおよび銅箔103bが張り合わされた、いわゆる銅張積層板(Copper Clad Laminate(CCL))からなる第一基板110を準備する。なお、この第一基板110は、図1〜図3の第一基板10に相当する。
An example of a method for manufacturing the mode converter 1 shown in FIGS. 1 to 3 will be described step by step with reference to FIGS.
First, as a first step, as shown in FIG. 4, a so-called copper clad laminate (CCL) in which a copper foil 103a and a copper foil 103b are bonded to both surfaces of an LCP film 102 as a base material. A first substrate 110 made of is prepared. The first substrate 110 corresponds to the first substrate 10 shown in FIGS.

LCP(液晶ポリマー)は熱可塑性の樹脂であるため、LCPの両面に所望の銅箔103a、103bを貼り合せ、熱プレスにより熱融着することによってCCLを作製することが可能である。両面に張り合わされる銅箔103a、103bの厚さは、LCPとの貼り合せ時のハンドリング性を考えると12μm以上の厚さが好ましいが、熱プレスでCCL作製後に、硫酸過水等の薬液を用いて一部の銅箔103a、103bを溶解、除去することにより、所望の薄さに調整することが可能である。
なお、銅箔103a、103bの厚さは、後の回路形成性に影響するため、電気信号を流す際に影響が無い範囲で、薄い方が好ましい。また、LCPフィルム102の厚さは、例えば100μm〜750μmである。銅箔103a、103bの厚さは、例えば2〜18μmである。
Since LCP (liquid crystal polymer) is a thermoplastic resin, it is possible to produce CCL by bonding desired copper foils 103a and 103b on both sides of the LCP and heat-sealing by hot pressing. The thickness of the copper foils 103a and 103b bonded to both sides is preferably 12 μm or more in consideration of the handling property at the time of bonding with the LCP. However, after CCL preparation by hot press, a chemical solution such as sulfuric acid / hydrogen peroxide is used. It is possible to adjust to a desired thickness by dissolving and removing some of the copper foils 103a and 103b.
In addition, since the thickness of copper foil 103a, 103b affects subsequent circuit formation property, the thinner one is preferable in the range which does not have influence when flowing an electric signal. Moreover, the thickness of the LCP film 102 is, for example, 100 μm to 750 μm. The thickness of the copper foils 103a and 103b is, for example, 2 to 18 μm.

次に、図5に示すように、第二工程として、ドリル加工により、第一基板110の一方の主面110aから他方の主面110bまで達する第一貫通孔111を形成する。
第一貫通孔111の孔径は、使用するドリル刃の径によって調整可能であり、製造する部品の用途に応じて、例えば75μm〜500μmの範囲で、適宜設定することができる。
なお、第一貫通孔111は、図1〜図3の第一貫通孔11に相当している。
Next, as shown in FIG. 5, as a second step, the first through hole 111 reaching from the one main surface 110 a of the first substrate 110 to the other main surface 110 b is formed by drilling.
The hole diameter of the first through hole 111 can be adjusted according to the diameter of the drill blade to be used, and can be appropriately set in the range of, for example, 75 μm to 500 μm according to the application of the component to be manufactured.
The first through hole 111 corresponds to the first through hole 11 in FIGS.

次に、第二工程の前工程である下地形成工程として、第一貫通孔111の壁面に導電性被膜を形成する。導電性被膜の形成は、例えばDPP(Direct Plating Process)処理といった、既知の手法を用いて実施する。
この導電性被膜は、パラジウムやカーボンなどによって構成することが可能であるが、後述する第三工程での電解銅めっき処理によって、銅めっきが可能であればよく、導電性被膜の構成材料には特に制限はない。
Next, a conductive film is formed on the wall surface of the first through-hole 111 as a base formation step that is a pre-step of the second step. The conductive film is formed using a known method such as DPP (Direct Plating Process).
This conductive film can be composed of palladium, carbon, or the like, but it is sufficient that copper plating is possible by electrolytic copper plating in the third step described later. There is no particular limitation.

次いで、第三工程として銅めっきを行い、図6に示すように、第一基板110の一方の主面110aと、他方の主面110bと、第一貫通孔111の内壁面に、銅めっき層を形成する。第一基板110の一方の主面110aに形成されためっき層をめっき層114とし、他方の主面110bに形成されためっき層をめっき層115とし、第一貫通孔110の内部に形成されためっき層を導体柱121とする。
また、銅箔103aおよびめっき層114からなる導体層を接地導体層130とし、銅箔103bおよびめっき層115からなる導体層を接地導体層131という。
めっき層の厚みは、ミリ波帯の信号による表皮深さよりも厚いことが望ましいという観点で考えた場合、60GHzの信号における表皮深さが270nmであることから、第一貫通孔壁面のめっき厚が2μm以上とすれば十分と考えられる。
なお、導体柱121、接地導体層130、接地導体層131は、図1〜図3の導体柱21、接地導体層30、接地導体層31にそれぞれ相当している。
Next, copper plating is performed as a third step. As shown in FIG. 6, a copper plating layer is formed on one main surface 110 a of the first substrate 110, the other main surface 110 b, and the inner wall surface of the first through hole 111. Form. The plating layer formed on one main surface 110 a of the first substrate 110 is a plating layer 114, and the plating layer formed on the other main surface 110 b is a plating layer 115, and is formed inside the first through hole 110. The plating layer is a conductor column 121.
A conductor layer made of the copper foil 103a and the plating layer 114 is called a ground conductor layer 130, and a conductor layer made of the copper foil 103b and the plating layer 115 is called a ground conductor layer 131.
Considering that the thickness of the plating layer is preferably thicker than the skin depth by the millimeter wave band signal, the skin depth at the signal of 60 GHz is 270 nm. 2 μm or more is considered sufficient.
The conductor pillar 121, the ground conductor layer 130, and the ground conductor layer 131 correspond to the conductor pillar 21, the ground conductor layer 30, and the ground conductor layer 31 in FIGS.

第四工程の前工程として、図7に示すように、第一基板110の接地導体層130上にアンチパッド形成用のエッチングレジスト150を形成し、さらに接地導体層131にエッチングレジスト151を形成する。
エッチングレジスト150、151を形成する方法としては既知の手法が可能であるが、例えば次の手法が可能である。まず、第一基板の接地導体層130および接地導体層131に、感光性ドライフィルムを、熱ロールによってラミネートする。次いで、フォトリソグラフィー法を用いて、ドライフィルムを所望の形状にパターニングし、エッチングレジストとする。
なお、本構造では、第四工程において接地導体層131には、アンチパッド等の回路形成は実施しないため、接地導体層131面にはエッチングレジスト151が全面に形成されることになる。すなわち、接地導体層131に形成されるエッチングレジスト151は、銅のエッチング液から接地導体層131を保護するためにのみ、使用される。
As a pre-process of the fourth process, as shown in FIG. 7, an anti-pad forming etching resist 150 is formed on the ground conductor layer 130 of the first substrate 110, and an etching resist 151 is formed on the ground conductor layer 131. .
As a method of forming the etching resists 150 and 151, a known method can be used. For example, the following method can be used. First, a photosensitive dry film is laminated on the ground conductor layer 130 and the ground conductor layer 131 of the first substrate by a hot roll. Next, the dry film is patterned into a desired shape by using a photolithography method to obtain an etching resist.
In this structure, since the circuit formation such as an antipad is not performed on the ground conductor layer 131 in the fourth step, the etching resist 151 is formed on the entire surface of the ground conductor layer 131. That is, the etching resist 151 formed on the ground conductor layer 131 is used only to protect the ground conductor layer 131 from the copper etchant.

第四工程として、図8に示すように、先ほど形成したエッチングレジストをマスクとして、既知の方法であるウェットエッチングによって、接地導体層130にアンチパッド132を形成する。エッチング液には、塩化第二鉄や、塩化第二銅などの薬液が使用可能である。ただし、これら使用するエッチング液はあくまで一例であり、これらに限定される訳ではない。
エッチング後、エッチングレジストを剥離する。剥離液は、水酸化ナトリウム水溶液や、水酸化カリウム水溶液を使用するのが一般的である。剥離液は、使用するエッチングレジストに応じて、推奨される薬液を用いるのが好ましい。
As a fourth step, as shown in FIG. 8, an antipad 132 is formed on the ground conductor layer 130 by wet etching, which is a known method, using the etching resist formed earlier as a mask. A chemical solution such as ferric chloride or cupric chloride can be used as the etching solution. However, these etchants are merely examples and are not limited to these.
After the etching, the etching resist is peeled off. As the stripping solution, a sodium hydroxide aqueous solution or a potassium hydroxide aqueous solution is generally used. The stripping solution is preferably a recommended chemical solution depending on the etching resist to be used.

次に、第五工程の前工程として、図9に示すように、LCPフィルム117の片面に銅箔118が張り合わされた、いわゆる銅張積層板からなる第二基板142を準備する。LCPフィルム117の厚さは例えば12〜100μmであり、その片面に張り合わされた銅箔118の厚さは例えば2〜18μmである。
なお、第二基板142は、図1〜図3の第二基板42に相当している。
Next, as a pre-process of the fifth process, as shown in FIG. 9, a second substrate 142 made of a so-called copper-clad laminate in which a copper foil 118 is bonded to one side of an LCP film 117 is prepared. The thickness of the LCP film 117 is, for example, 12 to 100 μm, and the thickness of the copper foil 118 bonded to one surface thereof is, for example, 2 to 18 μm.
The second substrate 142 corresponds to the second substrate 42 in FIGS.

第五工程として、図10に示すように、接地導体層130上に、接着剤シート116を介して、第二基板142を積層する。このとき、第二基板142のLCPフィルム117の一方の面と、接着剤シート116が向かい合うように積層を行う。この結果、第一基板110と第二基板142を、接着剤シート116を介して積層した構造を有する積層基板200を得る。   As a fifth step, as shown in FIG. 10, the second substrate 142 is laminated on the ground conductor layer 130 via the adhesive sheet 116. At this time, the lamination is performed such that one surface of the LCP film 117 of the second substrate 142 faces the adhesive sheet 116. As a result, the laminated substrate 200 having a structure in which the first substrate 110 and the second substrate 142 are laminated via the adhesive sheet 116 is obtained.

第五工程における積層方法の一例を挙げる。まず、接地導体層130上に、接着剤シート116を、50〜100℃で熱ラミネートし、次いで、接着剤シート116上に、第二基板142を50〜100℃で熱ラミネートする。その後、加圧熱プレス機を用いて、圧力を加えながら接着剤層を熱硬化し、積層させることが可能である。なお、圧力は25〜65kgf/cm2、温度は140〜200℃程度が一般的である。 An example of the lamination method in the fifth step is given. First, the adhesive sheet 116 is thermally laminated at 50 to 100 ° C. on the ground conductor layer 130, and then the second substrate 142 is thermally laminated at 50 to 100 ° C. on the adhesive sheet 116. Then, it is possible to heat-cure and laminate | stack an adhesive bond layer, applying a pressure using a pressurization hot press machine. The pressure is generally 25 to 65 kgf / cm 2 and the temperature is generally about 140 to 200 ° C.

第六工程として、図11に示すように、先ほど得られた積層基板200の所定の位置に、ドリル加工により、積層基板200の一方の主面200aから、他方の主面200bにまで達する、第二貫通孔112および第三貫通孔113を形成する。
第二貫通孔112は、接地導体層130に形成されたアンチパッド132の内側に形成される。
本実施形態において、第二貫通孔112および第三貫通孔113の孔径は、使用するドリル刃の径によって調整可能であり、製造する部品の用途に応じて、例えば75μm〜500μmの範囲で適宜設定することができる。
なお、第二貫通孔112および第三貫通孔113は、図1〜図3の第二貫通孔12および第三貫通孔13にそれぞれ相当している。
As a sixth step, as shown in FIG. 11, a predetermined position of the laminated substrate 200 obtained earlier is reached by drilling from one main surface 200a of the laminated substrate 200 to the other main surface 200b. Two through holes 112 and a third through hole 113 are formed.
The second through hole 112 is formed inside the antipad 132 formed in the ground conductor layer 130.
In this embodiment, the hole diameter of the 2nd through-hole 112 and the 3rd through-hole 113 can be adjusted with the diameter of the drill blade to be used, and it sets suitably in the range of 75 micrometers-500 micrometers, for example according to the use of the components to manufacture. can do.
The second through hole 112 and the third through hole 113 correspond to the second through hole 12 and the third through hole 13 in FIGS.

第六工程においては、ドリル加工をする際、所定の位置に孔(第二貫通孔112および第三貫通孔113)が形成されるように、積層基板200とドリル装置の位置合わせを実施する必要がある。位置合せの方法としては、既知の手法を用いることが可能である。
一例を挙げると、接地導体層130へのアンチパッド132の形成と同時に、接地導体層130に位置合せ用のガイドマークを形成する。第五工程での積層後、X線画像処理装置によって、接地導体層130に形成されたガイドマークを認識することで、そのガイドマークに目がけて、ピンを挿入するためのピン孔を開ける。さらに、このピン孔に対して、積層基板200の厚さよりも長いピンを挿入する。さらに、挿入したピンを、ドリル装置の加工ステージ上にある基準孔に差し込むことで、基板とドリル装置との位置合せ行う、と言った手法が採用可能である。
In the sixth step, it is necessary to align the laminated substrate 200 and the drilling device so that holes (second through hole 112 and third through hole 113) are formed at predetermined positions when drilling. There is. A known method can be used as the alignment method.
As an example, alignment marks are formed on the ground conductor layer 130 simultaneously with the formation of the antipad 132 on the ground conductor layer 130. After the lamination in the fifth step, the X-ray image processing apparatus recognizes the guide mark formed on the ground conductor layer 130, and opens the pin hole for inserting the pin toward the guide mark. Further, a pin longer than the thickness of the laminated substrate 200 is inserted into the pin hole. Furthermore, it is possible to adopt a method of aligning the substrate and the drilling device by inserting the inserted pin into a reference hole on the processing stage of the drilling device.

次に、第七工程の前工程である下地形成工程として、第二貫通孔112および第三貫通孔113の壁面に導電性被膜を形成する。詳細は、第三工程で説明した手法と同じ手法を用いることが可能である。   Next, a conductive film is formed on the wall surfaces of the second through-hole 112 and the third through-hole 113 as a base formation step that is a pre-step of the seventh step. For details, it is possible to use the same technique as that described in the third step.

次いで、第七工程として、銅めっきを行い、図12に示すように、積層板200の一方の主面200aと、他方の主面200bと、第二貫通孔112の内壁面と、第三貫通孔113の内壁面に、銅めっき層を成長させる。
ここで、主面200a側のめっき層をめっき層201aとし、主面200b側のめっき層をめっき層201bとし、第二貫通孔112の内部に形成されためっき層を励振ピン122とし、第三貫通孔113の内部に形成されためっき層をGND接続ビア123としてそれぞれ表記する。
また、積層基板200の一方の主面200a側の、銅箔およびめっき層をまとめて接地導体層202と表記し、他方の主面200b側の銅箔およびめっき層をまとめて接地導体層203と表記する。
また、励振ピン122、GND接続ビア123は、図1〜図3の励振ピン22、GND接続ビア23に相当している。
Next, as a seventh step, copper plating is performed, and as shown in FIG. 12, one main surface 200a, the other main surface 200b, the inner wall surface of the second through-hole 112, and the third through-hole of the laminated plate 200 A copper plating layer is grown on the inner wall surface of the hole 113.
Here, the plating layer on the main surface 200a side is the plating layer 201a, the plating layer on the main surface 200b side is the plating layer 201b, the plating layer formed inside the second through hole 112 is the excitation pin 122, and the third The plating layers formed inside the through holes 113 are denoted as GND connection vias 123, respectively.
Further, the copper foil and the plating layer on one main surface 200a side of the multilayer substrate 200 are collectively referred to as a ground conductor layer 202, and the copper foil and the plating layer on the other main surface 200b side are collectively referred to as a ground conductor layer 203. write.
The excitation pin 122 and the GND connection via 123 correspond to the excitation pin 22 and the GND connection via 23 of FIGS.

第八工程の前工程として、図13に示すように、積層基板200の接地導体層202上に、アンチパット、マイクロストリップライン、およびGNDパッド形成用のエッチングレジスト152を形成し、接地導体層203にアンチパッド形成用のエッチングレジスト153を形成する。
エッチングレジストを形成する方法としては、第四工程で挙げた、既知の方法が利用可能である。
As a pre-process of the eighth process, as shown in FIG. 13, an etching resist 152 for forming an anti-pad, microstrip line, and GND pad is formed on the ground conductor layer 202 of the multilayer substrate 200, and the ground conductor layer 203 is formed. Then, an etching resist 153 for forming an antipad is formed.
As a method for forming the etching resist, the known methods mentioned in the fourth step can be used.

次いで、第八工程として、図14に示すように、前工程で形成したエッチングレジスト152をマスクとして、エッチング法により、接地導体層202上に、励振ピン122とつながる、マイクロストリップライン128(図1〜図3の信号伝送路C1に相当)、およびGNDパッド135を形成することにより、平面回路Cを形成する。また、接地導体層203に、アンチパッド133を形成する。
エッチング方法としては、第四工程で挙げたような、既知の方法であるウェットエッチングを用いることが可能である。
Next, as an eighth step, as shown in FIG. 14, a microstrip line 128 (FIG. 1) connected to the excitation pin 122 on the ground conductor layer 202 by an etching method using the etching resist 152 formed in the previous step as a mask. (Corresponding to the signal transmission path C1 in FIG. 3) and the GND pad 135 are formed to form the planar circuit C. Further, an antipad 133 is formed on the ground conductor layer 203.
As an etching method, it is possible to use wet etching which is a known method as mentioned in the fourth step.

次いで、第九工程の前工程として、図15に示すように、接地導体層203にラミネートする熱硬化性樹脂層141A(絶縁樹脂層141)を準備する。
図16に、第九工程の本工程として、第一基板110の接地導体層203に、熱硬化性樹脂層141Aをラミネートし、熱プレスにより単層の絶縁樹脂層141を形成する。
これにより、図1〜図3に示すモード変換器1を得る。
Next, as a pre-process of the ninth step, as shown in FIG. 15, a thermosetting resin layer 141A (insulating resin layer 141) to be laminated on the ground conductor layer 203 is prepared.
In FIG. 16, as the ninth step, a thermosetting resin layer 141A is laminated on the ground conductor layer 203 of the first substrate 110, and a single insulating resin layer 141 is formed by hot pressing.
Thereby, the mode converter 1 shown in FIGS. 1-3 is obtained.

熱硬化性樹脂層141Aには、低誘電率および、低誘電正接のものが求められる。熱硬化性樹脂としては、市販の汎用品を用いることが可能である。前記熱硬化性樹脂には、エポキシ系樹脂や、ポリフェニレンエーテル(PPE)系樹脂を用いることが可能である。なお、エポキシ系樹脂の体積抵抗率は1012〜1017Ω・cmである。PPEの体積抵抗率は1017Ω・cm程度である。 The thermosetting resin layer 141A is required to have a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. A commercially available general-purpose product can be used as the thermosetting resin. As the thermosetting resin, it is possible to use an epoxy resin or a polyphenylene ether (PPE) resin. The volume resistivity of the epoxy resin is 10 12 to 10 17 Ω · cm. The volume resistivity of PPE is about 10 17 Ω · cm.

なお、熱硬化性樹脂層141Aの厚さは、例えば50μm〜200μm(好ましくは50μm〜100μm)である。熱プレスの条件は、接着剤層の特性次第であるが、およそ、温度160℃、圧力45kfg/cm、時間60分程度、の処理が一般的である。この工法は、第三実施形態(後述する)で述べるLCPフィルムを直接熱融着させる場合と比べ、処理温度が低く、生産性が高いといったメリットがある。
熱プレスの際に、励振ピン122内部やGND接続ビア内部に樹脂が埋め込まれるが、いずれの場合も、モード変換器への特性には影響を及ぼさず、問題とはならない。
なお、絶縁樹脂層141は、図1〜図3の絶縁樹脂層41に相当している。
The thickness of the thermosetting resin layer 141A is, for example, 50 μm to 200 μm (preferably 50 μm to 100 μm). The conditions of the hot press depend on the characteristics of the adhesive layer, but a treatment at a temperature of 160 ° C., a pressure of 45 kfg / cm 2 , and a time of about 60 minutes is common. This construction method has an advantage that the processing temperature is low and the productivity is high as compared with the case where the LCP film described in the third embodiment (described later) is directly heat-sealed.
At the time of hot pressing, resin is embedded in the excitation pin 122 or in the GND connection via, but in either case, the characteristics to the mode converter are not affected, and there is no problem.
The insulating resin layer 141 corresponds to the insulating resin layer 41 in FIGS.

モード変換器1では、第一基板10(110)の第二主面10a(110a)に形成された接地導体層31(131)に、熱硬化性樹脂からなる絶縁樹脂層41(141)を設けた。
絶縁樹脂層41(141)により、励振ピン21(121)端面から見た入力インピーダンスの変動を防止し、反射損失への変動を抑えることが可能となる。
In the mode converter 1, an insulating resin layer 41 (141) made of a thermosetting resin is provided on the ground conductor layer 31 (131) formed on the second main surface 10a (110a) of the first substrate 10 (110). It was.
By the insulating resin layer 41 (141), it is possible to prevent fluctuations in the input impedance viewed from the end face of the excitation pin 21 (121) and to suppress fluctuations in the reflection loss.

図示例の絶縁樹脂層141は、接地導体層203の下面側の全領域に形成されているが、絶縁樹脂層141は、接地導体層203の下面側の全領域に形成する必要はなく、少なくとも、励振ピン122の端部122b(第二主面10b側の端部)およびアンチパッド133を覆っていればよい。例えば、接地導体層203の下面側の領域のうち、励振ピン122の端部122bおよびアンチパッド133を含む一部領域のみに形成してもよい。
「少なくとも励振ピン122の端部122bおよびアンチパッド133を覆う」とは、平面視において、励振ピン122の端部122bおよびアンチパッド133と重なる領域を有することをいう。
The insulating resin layer 141 in the illustrated example is formed in the entire region on the lower surface side of the ground conductor layer 203, but the insulating resin layer 141 is not necessarily formed in the entire region on the lower surface side of the ground conductor layer 203, and at least The end 122b (end on the second main surface 10b side) of the excitation pin 122 and the antipad 133 may be covered. For example, in the region on the lower surface side of the ground conductor layer 203, it may be formed only in a partial region including the end 122 b of the excitation pin 122 and the antipad 133.
“Covering at least the end portion 122b of the excitation pin 122 and the antipad 133” means having a region overlapping the end portion 122b of the excitation pin 122 and the antipad 133 in plan view.

(第二実施形態)
本発明の第二実施形態について図17及び図18を参照して説明する。
第二実施形態のモード変換器1Aが、第一実施形態と異なるのは、第九工程(図15及び図16参照)に示される絶縁樹脂層141の具体的構成である。
(Second embodiment)
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 17 and 18.
The mode converter 1A of the second embodiment is different from the first embodiment in the specific configuration of the insulating resin layer 141 shown in the ninth step (see FIGS. 15 and 16).

第二実施形態における第九工程の前工程では、図17に示すように、絶縁樹脂層141として、接着剤層となる熱硬化性樹脂層141Bと、LCP(液晶ポリマー)からなるLCPフィルム141Cとを準備する。
図18に示すように、第九工程の本工程として、接地導体層203に熱硬化性樹脂層141Bを熱ラミネートし、さらにこの熱硬化性樹脂層141Bに、絶縁樹脂層であるLCPフィルム141Cを熱ラミネートする。その後、熱プレスを実施し、熱硬化性樹脂層141BとLCPフィルム141C(液晶ポリマー層)とを一体化した絶縁樹脂層141を形成する。
熱硬化性樹脂層141Bは、LCPフィルム141Cと接地導体層203との間に介在する。
In the previous step of the ninth step in the second embodiment, as shown in FIG. 17, as the insulating resin layer 141, a thermosetting resin layer 141B that becomes an adhesive layer, and an LCP film 141C that consists of LCP (liquid crystal polymer) Prepare.
As shown in FIG. 18, as the main step of the ninth step, a thermosetting resin layer 141B is thermally laminated on the ground conductor layer 203, and an LCP film 141C, which is an insulating resin layer, is further formed on the thermosetting resin layer 141B. Heat laminate. Thereafter, hot pressing is performed to form an insulating resin layer 141 in which the thermosetting resin layer 141B and the LCP film 141C (liquid crystal polymer layer) are integrated.
The thermosetting resin layer 141B is interposed between the LCP film 141C and the ground conductor layer 203.

熱硬化性樹脂層141Bには、低誘電率および、低誘電正接のものが求められるが、市販の汎用品を用いることが可能である。
また、熱硬化性樹脂層141B上の層としては、LCPフィルム141Cの他、ポリイミド、テフロン(登録商標)、ガラスエポキシ板等も使用可能である。
なお、熱硬化性樹脂層141Bは、厚さ12μm〜50μmとすることができ、LCPフィルム141Cは、厚さ25〜500μmのものが使用可能である。
The thermosetting resin layer 141B is required to have a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent, but a commercially available general-purpose product can be used.
Moreover, as a layer on the thermosetting resin layer 141B, polyimide, Teflon (registered trademark), a glass epoxy plate, or the like can be used in addition to the LCP film 141C.
The thermosetting resin layer 141B can have a thickness of 12 to 50 μm, and the LCP film 141C can have a thickness of 25 to 500 μm.

熱プレスの条件は、熱硬化性樹脂の特性次第であるが、およそ温度160℃、圧力45kfg/cm、時間60分程度、の処理が一般的である。この工法は、第三実施形態で述べるLCPフィルムを直接、熱融着させる場合と比べ、処理温度が低く、生産性が高いといったメリットがある。 The conditions of the hot press depend on the characteristics of the thermosetting resin, but a treatment at a temperature of about 160 ° C., a pressure of 45 kfg / cm 2 , and a time of about 60 minutes is common. This construction method has an advantage that the processing temperature is low and the productivity is high as compared with the case where the LCP film described in the third embodiment is directly heat-sealed.

第二実施形態のモード変換器1Aによれば、第一基板10(110)の第二主面10a(110a)に積層された接地導体層31(131)に、接着剤層となる熱硬化性樹脂層141BとLCPフィルム141Cとの積層体からなる絶縁樹脂層41(141)を設けた。
絶縁樹脂層41(141)により、励振ピン21(121)端面から見た入力インピーダンスの変動を防止し、反射損失の変動を抑えることが可能となる。
According to the mode converter 1A of the second embodiment, the thermosetting property that becomes an adhesive layer on the ground conductor layer 31 (131) laminated on the second main surface 10a (110a) of the first substrate 10 (110). An insulating resin layer 41 (141) made of a laminate of the resin layer 141B and the LCP film 141C was provided.
The insulating resin layer 41 (141) can prevent fluctuations in the input impedance viewed from the end face of the excitation pin 21 (121) and suppress fluctuations in reflection loss.

第二実施形態のモード変換器1Aは、第一実施形態と比較した場合、熱硬化性樹脂層141Bに貼り合せる絶縁樹脂層(141C)の厚みを変えることによって、絶縁層の厚さを任意に設定できるメリットがある。すなわち、熱硬化性樹脂層141Bについては、熱で硬化させる必要があるため、あまり厚くはできないが、第二層目となるLCPフィルム141Cの厚さ選定により、絶縁樹脂層141全体の厚さを任意に設定できる。   When compared with the first embodiment, the mode converter 1A of the second embodiment can arbitrarily change the thickness of the insulating layer by changing the thickness of the insulating resin layer (141C) to be bonded to the thermosetting resin layer 141B. There is a merit that can be set. That is, the thermosetting resin layer 141B needs to be cured by heat and cannot be made too thick. However, the thickness of the insulating resin layer 141 can be reduced by selecting the thickness of the second LCP film 141C. Can be set arbitrarily.

(第三実施形態)
本発明の第三実施形態について図19及び図20を参照して説明する。
第三実施形態に示されるモード変換器1Bが、第一、第二実施形態と異なるのは、第九工程(図15〜図18参照)に示される絶縁樹脂層141の具体的構成である。
(Third embodiment)
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 19 and 20.
The mode converter 1B shown in the third embodiment is different from the first and second embodiments in the specific configuration of the insulating resin layer 141 shown in the ninth step (see FIGS. 15 to 18).

第三実施形態における第九工程の前工程では、図19に示すように、絶縁樹脂層141として、LCP(液晶ポリマー)からなるLCPフィルム141D(液晶ポリマー層)を単体で用いている。
図20に示すように、第九工程の本工程として、接地導体層203にLCPフィルム141Dをラミネートし、熱プレスにより単層の絶縁樹脂層141を形成する。
In the previous step of the ninth step in the third embodiment, as shown in FIG. 19, an LCP film 141D (liquid crystal polymer layer) made of LCP (liquid crystal polymer) is used alone as the insulating resin layer 141.
As shown in FIG. 20, as the ninth step, an LCP film 141D is laminated on the ground conductor layer 203, and a single insulating resin layer 141 is formed by hot pressing.

LCPフィルム141Dを構成するLCPは熱可塑性の樹脂であるため、図20に示すように、LCPフィルムを融点付近の温度で熱プレスすることにより、基板に直接、積層させることが可能である。
具体的には、接地導体層203にLCPフィルム141Dを重ねた後、熱プレスを用いて、温度300℃、圧力45kfg/cm、時間10分程度、処理することにより、熱融着させて絶縁樹脂層141を形成する。なお、LCPフィルムの厚さは、例えば25μm〜500μmである。
そして、第三実施形態では、第一、第二実施形態とは異なり、絶縁樹脂層141がLCP単層となるので、より、低誘電率、低誘電正接な絶縁層を形成することが可能となり、反射損失を抑えられる効果が期待できる。
Since the LCP constituting the LCP film 141D is a thermoplastic resin, as shown in FIG. 20, the LCP film can be directly laminated on the substrate by hot pressing at a temperature near the melting point.
Specifically, after the LCP film 141D is overlaid on the ground conductor layer 203, heat treatment is used to heat and insulate by processing at a temperature of 300 ° C., a pressure of 45 kfg / cm 2 , and a time of about 10 minutes. A resin layer 141 is formed. The thickness of the LCP film is, for example, 25 μm to 500 μm.
In the third embodiment, unlike the first and second embodiments, since the insulating resin layer 141 is an LCP single layer, it is possible to form an insulating layer having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent. The effect of suppressing reflection loss can be expected.

次に、上述したモード変換器を用いた実験例について説明する。
本実施形態によるモード変換器を用いた場合において、マイクロストリップ線路の端部をポートとし、反射損失に関するシミュレーションを行った。シミュレーションには3次元電磁界解析ソフトHFSSを用いた。結果を図21に示す。
なお、本実施形態のモード変換器では、励振ピンが200μm径であり、励振ピンのランド部の径が350μmであり、励振ピンの周囲に位置するアンチパッド(32、33)のスペース幅(励振ピンの径方向に沿う幅)を、85μm、100μm、125μm、135μm、150μmとした。また、グラフの横軸は周波数を示し、縦軸は反射損失の大きさを示している。
この図より、反射損失の大きさは、アンチパッドのサイズによって変化することがわかった。したがって、この結果から、アンチパッドのサイズを調整することによって、ピン入力端における入力インピーダンスの制御が可能であることがわかった。
また、アンチパッドのサイズには100μm〜150μm、最適値として125μmを選択することが好ましく、当該最適値の選択によって、反射損失を著しく低減させ得ることもわかった。
Next, an experimental example using the above-described mode converter will be described.
In the case of using the mode converter according to the present embodiment, the end of the microstrip line is used as a port, and a simulation about reflection loss is performed. Three-dimensional electromagnetic field analysis software HFSS was used for the simulation. The results are shown in FIG.
In the mode converter of the present embodiment, the excitation pin has a diameter of 200 μm, the diameter of the land portion of the excitation pin is 350 μm, and the space width (excitation of the antipad (32, 33) positioned around the excitation pin) The width along the radial direction of the pins was set to 85 μm, 100 μm, 125 μm, 135 μm, and 150 μm. Further, the horizontal axis of the graph indicates the frequency, and the vertical axis indicates the magnitude of the reflection loss.
From this figure, it was found that the magnitude of the reflection loss varies depending on the size of the antipad. Therefore, from this result, it was found that the input impedance at the pin input end can be controlled by adjusting the size of the antipad.
Further, it is preferable to select an antipad size of 100 μm to 150 μm and an optimum value of 125 μm, and it has been found that the reflection loss can be significantly reduced by selecting the optimum value.

以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、アンチパッドは第一基板の第一主面と第二主面のうちいずれか一方にのみ形成してもよい。   As mentioned above, although embodiment of this invention was explained in full detail with reference to drawings, the concrete structure is not restricted to this embodiment, The design change etc. of the range which does not deviate from the summary of this invention are included. For example, the antipad may be formed only on one of the first main surface and the second main surface of the first substrate.

本発明は、モード変換器に係り、特にミリ波帯の通信用の導波路に用いられる技術に関する。   The present invention relates to a mode converter, and more particularly to a technique used for a waveguide for communication in the millimeter wave band.

10、100・・・第一基板、10a、100a・・・主面(第一主面)、10b、100b・・・主面(第二主面)、11、111・・・第一貫通孔、12、112・・・第二貫通孔、13、113・・・第三貫通孔、17、117・・・誘電体層、22、122・・・励振ピン、22b、122b・・・励振ピンの端部、23、123・・・GND接続ビア、30、130・・・接地導体層、31、131・・・接地導体層、40・・・導波路、32、132、33、133・・・アンチパッド、41、141・・・絶縁樹脂層、42、142・・・第二基板、141A・・・熱硬化性樹脂層、141B・・・熱硬化性樹脂層、141C・・・LCPフィルム(液晶ポリマー層)、141D・・・LCPフィルム(液晶ポリマー層)、C・・・平面回路、C1・・・信号伝送路。   10, 100 ... first substrate, 10a, 100a ... main surface (first main surface), 10b, 100b ... main surface (second main surface), 11, 111 ... first through hole , 12, 112 ... second through hole, 13, 113 ... third through hole, 17, 117 ... dielectric layer, 22, 122 ... excitation pin, 22b, 122b ... excitation pin , GND connection vias, 30, 130... Ground conductor layer, 31, 131... Ground conductor layer, 40... Waveguide, 32, 132, 33, 133. Antipad, 41, 141 ... insulating resin layer, 42, 142 ... second substrate, 141A ... thermosetting resin layer, 141B ... thermosetting resin layer, 141C ... LCP film (Liquid crystal polymer layer), 141D ... LCP film (liquid crystal polymer layer), C · Planar circuit, C1 · · · signal transmission path.

Claims (6)

伝送路と導波路との間で信号を相互に変換するモード変換器であって、
第一主面およびその反対面である第二主面を有する第一基板と、
前記第一基板の第一主面側に積層された第二基板と、
前記伝送路を含み、前記第二基板上に形成されて高周波信号を伝播する平面回路と、
前記平面回路と接続され、前記第一基板および第二基板を貫通する導電性の励振ピンと、
前記第一基板の両主面にそれぞれ形成された接地導体層およびこれらを互いに連結する導電性の壁部を有する前記導波路と、を備え、
前記励振ピンは、前記第一基板および第二基板を貫通する導電性の貫通部と、前記第一主面側において前記貫通部から拡径方向に突出した導電性の第一部分と、前記第二主面側において前記貫通部から拡径方向に突出した導電性の第二部分と、を有し、
前記第一主面側の接地導体層と前記励振ピンの第一部分との間、および、第二主面側の接地導体層と前記励振ピンの第二部分との間に、それぞれアンチパッドが形成され、
前記第二主面側の接地導体層には、少なくとも前記励振ピンの端部およびアンチパッドを覆う絶縁樹脂層が設けられているモード変換器。
A mode converter for mutually converting signals between a transmission line and a waveguide,
A first substrate having a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface;
A second substrate laminated on the first main surface side of the first substrate;
A planar circuit that includes the transmission path and is formed on the second substrate to propagate a high-frequency signal;
A conductive excitation pin connected to the planar circuit and penetrating the first substrate and the second substrate;
A ground conductor layer formed on each main surface of the first substrate and the waveguide having a conductive wall portion connecting them to each other;
The excitation pin includes a conductive penetrating portion penetrating the first substrate and the second substrate, a conductive first portion protruding from the penetrating portion in the diameter increasing direction on the first main surface side, and the second A conductive second portion protruding in the diameter increasing direction from the penetrating portion on the main surface side,
Antipads are provided between the ground conductor layer on the first main surface side and the first portion of the excitation pin, and between the ground conductor layer on the second main surface side and the second portion of the excitation pin, respectively. Formed,
The mode converter, wherein the grounding conductor layer on the second main surface side is provided with an insulating resin layer covering at least the end portion of the excitation pin and the antipad.
前記伝送路は、マイクロストリップラインを構成しており、一端側が前記励起ピンに接続され、他端側が前記第二基板上に形成されたパッドに接続され、
前記パッドを挟んだ両側には、それぞれGNDパッドが前記パッドから離間して形成され、
前記GNDパッドは、GND接続ビアを介して前記接地導体層と接続されている請求項1に記載のモード変換器。
The transmission path constitutes a microstrip line, one end side is connected to the excitation pin, and the other end side is connected to a pad formed on the second substrate,
On both sides of the pad, GND pads are formed separately from the pad,
The mode converter according to claim 1, wherein the GND pad is connected to the ground conductor layer through a GND connection via.
前記絶縁樹脂層は、熱硬化性樹脂からなる請求項1または2に記載のモード変換器。   The mode converter according to claim 1, wherein the insulating resin layer is made of a thermosetting resin. 前記絶縁樹脂層は、液晶ポリマーからなる請求項1または2に記載のモード変換器。   The mode converter according to claim 1, wherein the insulating resin layer is made of a liquid crystal polymer. 前記絶縁樹脂層は、液晶ポリマーからなる液晶ポリマー層と、前記液晶ポリマー層と前記第二主面の接地導体層との間に介在する熱硬化性樹脂層とからなる請求項1または2に記載のモード変換器。   The said insulating resin layer consists of a liquid crystal polymer layer which consists of a liquid crystal polymer, and a thermosetting resin layer interposed between the said liquid crystal polymer layer and the grounding conductor layer of said 2nd main surface. Mode converter. 前記壁部は、前記第一基板の両主面間を貫通する複数の貫通孔の内部にそれぞれ形成された複数の導電性のポストからなるポスト壁である請求項1〜5のうちいずれか1項に記載のモード変換器。   The said wall part is a post wall which consists of a some electroconductive post each formed in the inside of the some through-hole penetrated between both the main surfaces of said 1st board | substrate, The any one of Claims 1-5 The mode converter described in the paragraph.
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