JP5759382B2 - 誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する方法 - Google Patents

誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5759382B2
JP5759382B2 JP2011542082A JP2011542082A JP5759382B2 JP 5759382 B2 JP5759382 B2 JP 5759382B2 JP 2011542082 A JP2011542082 A JP 2011542082A JP 2011542082 A JP2011542082 A JP 2011542082A JP 5759382 B2 JP5759382 B2 JP 5759382B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heating device
ingot
airtight
movable bottom
polycrystalline silicon
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011542082A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012512126A5 (ja
JP2012512126A (ja
Inventor
ベリンゴフ、セルジイ
オニツェンコ、ボロディミア
シュクルコブ、アナトリイ
チェルパク、ユリイ
ポジガン、セルジイ
マルチェンコ、ステパン
シェブチュク、アンドリイ
Original Assignee
ソリン ディベロプメント ビー. ヴィー.
ソリン ディベロプメント ビー. ヴィー.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from UAA200814479A external-priority patent/UA92392C2/uk
Application filed by ソリン ディベロプメント ビー. ヴィー., ソリン ディベロプメント ビー. ヴィー. filed Critical ソリン ディベロプメント ビー. ヴィー.
Publication of JP2012512126A publication Critical patent/JP2012512126A/ja
Publication of JP2012512126A5 publication Critical patent/JP2012512126A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5759382B2 publication Critical patent/JP5759382B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B28/00Production of homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • C30B28/04Production of homogeneous polycrystalline material with defined structure from liquids
    • C30B28/06Production of homogeneous polycrystalline material with defined structure from liquids by normal freezing or freezing under temperature gradient
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22DCASTING OF METALS; CASTING OF OTHER SUBSTANCES BY THE SAME PROCESSES OR DEVICES
    • B22D27/00Treating the metal in the mould while it is molten or ductile ; Pressure or vacuum casting
    • B22D27/02Use of electric or magnetic effects
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22DCASTING OF METALS; CASTING OF OTHER SUBSTANCES BY THE SAME PROCESSES OR DEVICES
    • B22D27/00Treating the metal in the mould while it is molten or ductile ; Pressure or vacuum casting
    • B22D27/04Influencing the temperature of the metal, e.g. by heating or cooling the mould
    • B22D27/045Directionally solidified castings
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/02Silicon
    • C01B33/037Purification
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/003Heating or cooling of the melt or the crystallised material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/006Controlling or regulating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B30/00Production of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the action of electric or magnetic fields, wave energy or other specific physical conditions
    • C30B30/04Production of single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the action of electric or magnetic fields, wave energy or other specific physical conditions using magnetic fields
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • C30B35/005Transport systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Description

本発明は、ポリ結晶シリコンの製造、特に誘導法による多結晶シリコンの製造に関し、本発明は多結晶シリコンからの太陽電池製造に使用することができる。
結晶シリコンは、太陽エネルギーを電気エネルギーに変換する太陽電池を製造するため使用される。この目的には、通常、単結晶シリコンが使用される。
近年行われた研究によると、大きな結晶で形成されるポリ結晶シリコン、いわゆる多結晶シリコンでは、太陽エネルギーから電気エネルギーへの変換効率を単結晶シリコンの変換効率に近づけることが可能であることが実証された。多結晶シリコンの場合、製造設備の生産能力は単結晶シリコンの場合より数倍高く、技術的にも、単結晶シリコンを得る技術より容易である。多結晶シリコンを使うことにより太陽電池パネルのコストを削減し、その製造を産業レベルで開始することができる。
現行の多結晶シリコンインゴット製造工程には誘導法が採用されており、この誘導法は、連続的な供給を行う工程と、水冷るつぼの可動式床上のシリコン溶湯プール内でポリ結晶シリコン塊のバッチ材料を誘導溶解し、溶融シリコンを溶解空間の形状に鋳造したのち、多結晶シリコンインゴットを結晶化させる工程とを有する(米国特許第4572812号)。前記溶湯プールは、水で冷却された縦型の銅管部分から成る水冷るつぼを使って形成されたスカル(skull)内に含まれる。前記銅部分は、間隙により分離され、外周により包囲された溶解体積を形成する。前記部分の間の間隙により、インダクタの電磁場はるつぼの溶解体積内へ透過可能である。溶解体積は、円形、方形、または矩形に成形できる。溶解中、溶湯プールによりるつぼの横方向領域全体が充填されるため、溶解されたシリコンプールは、特定の横方向サイズおよび形状を有するインゴットとして鋳造される。前記シリコンバッチが溶解し、前記るつぼの可動底部が下方へ移動するに伴い、前記溶湯プール底部のプールは結晶化する。インゴットの移動速度は、前記溶湯プールの上方部で溶解する塊バッチの速度に対応する。この公知方法の結果、特定の断面を伴う長い多結晶シリコンインゴットが製造され、その後、太陽電池プレートの製造に使用される。
誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する上記工程の欠点は、インゴットに生じる熱応力により、当該インゴットを使って製造されるプレートの品質が下がることである。インゴット中、及びインゴットで作製したプレート中に熱応力が生じると、それらのプレートで形成した太陽電池のエネルギー変換効率は結果的に下がってしまう。また良好なプレートの出力因子も、熱応力に起因する破断のため低下してしまう。
前述の問題は、欧州特許第1254861号に記載された誘導法で多結晶シリコンインゴットを製造する工程により解決される。この既知の工程によれば、連続鋳造工程で得られたシリコンインゴットが、水冷るつぼ下のヒーターを使って追加加熱され、また当該水冷るつぼの上に設置されたプラズマトロンのプラズマ放電によりインゴットが追加加熱される。同時に、そのプラズマ放電がプール表面を走査する。この方法を使用することにより、得られたインゴットの冷却を所定の温度勾配内で正確に制御できる。プラズマトロンの電気回路は、インゴットが処理用チャンバーから放出される場所の下に配置された特殊な接触子を通じて、当該シリコンインゴットでループする。この方法では、シリコンインゴットの半径にわたる温度勾配が9〜7℃まで低減されるため、このインゴットから作製したプレートでは太陽エネルギー変換から電気エネルギーへの高効率(14.2〜14.5%)が達成される。
但し、溶湯プールに塊バッチを永続的に供給して連続的な溶解を行い、多結晶シリコンでできた長いインゴットを製造する場合、前記溶湯プール中の不純物濃度が、充填されたバッチの不純物濃度に合致するのは当該工程の開始時のみである。インゴット中の不純物濃度は、各不純物の偏析係数で定義される。原料物質における一般的な不純物の偏析係数は1より低いが、インゴット中の各不純物の濃度は、溶湯中の濃度より低い。インゴットが長く成長するに伴い、溶湯プール中の不純物濃度は蓄積して増大し、その結果、製造される多結晶インゴット中の各濃度も増大する。プール中の不純物濃度が特定の不純物ごとに定められた基準値を超えた場合の多結晶シリコンは、太陽電池製造には適さなくなってしまう。インゴット中、不純物の濃度が指定基準値より高い部分は、太陽電池の製造に使用できず不良品となり、変換効率の高い太陽電池の製造歩留まりが著しく低下する。
本発明に最も関連性の高い方法は、欧州特許第1754806号に記載された誘導法で多結晶シリコンインゴットを製造する方法である。この方法は、制御された雰囲気下で水冷るつぼの溶解空間内の可動底部上にシリコン塊充填材料を充填し始動加熱(start−up heating)を行う工程と、溶融シリコン槽を生成する工程し、次いで前記溶融シリコンを溶解して溶解空間の形状に鋳造する工程と、多結晶シリコンインゴットを結晶化させる工程と、加熱装置セットを使って前記シリコンインゴットを制御下で冷却する工程とを有する。前記多結晶シリコンインゴットは、冷却されるとともに処理用チャンバーへの大気侵入を防ぐガスシールを通過して当該チャンバーから移動され、カッターで一定長に切断される。この方法の効率を高めるため、プール中の不純物濃度がその許容基準値に達すると溶解工程が停止され、溶湯プールが結晶化され、前記水冷るつぼの溶解体積中で結晶化したインゴット内へ分離装置が降下されて溶解体積をブロックし、分離装置底面の不純物含有シリコンが分離装置の上面に侵入するのを防ぐ。同時に、初期のシリコン塊バッチが前記分離装置の上面から供給され、シリコン塊バッチの供給および加熱の開始から作業が繰り返される。
この先行技術法には、次の欠点がある。
誘導溶解と鋳造が停止された場合、長いインゴット(例えば14m長)を得る工程においてプール中で不純物が各々の臨界含有量に達すると、加熱設備および処理チャンバーの内部(ガスシールより上方)に位置する前記インゴットの上方部分全体(約2.5m長)に、制御冷却工程を実施しなければならない。この目的のため、インゴット全体に使用される態様と同様の態様で前記制御冷却が行われるが、この工程には約30時間が必要とされる。また、炉の溶解体積に分離装置を挿入して溶解および鋳造工程を再開する各工程には、約7.2時間かかる。この時間中、前記プールの誘導溶解および鋳造は行われない。
前記分離装置の設置中には、小さな位置合わせ誤差でも前記水冷るつぼのつまりと損傷が生じて溶解および鋳造を強制終了しなければならない結果につながるおそれがあるため、溶解体積に分離装置を挿入する工程は、高い精度を必要とする。
さらに、異物(具体的には窒化ケイ素または黒鉛)で作製された分離装置を溶湯プールに挿入すると、インゴットの下方部分で不純物の混入が増大し、結果的にシリコンの品質と良好なシリコンの出力因子が損なわれてしまう。またすでに製造されたシリコンインゴットの上部で溶解を再開する必要があるため、加熱設備内へのインゴット移動を停止して水冷るつぼ内で長時間維持することが必要になる。その結果、インゴットのその部分の冷却が制御されず、その領域に熱応力と微小割れが生じて、インゴットの上方部分が不良品となってしまう。
欧州特許第1754806号では多結晶シリコンインゴットを製造するシステムについて説明しており、このシステムは、インゴットの冷却を制御するため可動底部を伴う水冷るつぼを内蔵したチャンバーと、加熱装置セットとを有する。前記水冷るつぼには、電気および熱を伝導する材料(一般に銅)で作製され、水流で冷却される隔離された部分が含まれる。この水冷るつぼは、インダクタで囲まれ、バッチ容器に連結されている。前記可動底部は、前記加熱装置セットに沿って上下移動するよう設計されている。さらに、前記システムには、前記水冷るつぼの溶解体積中で結晶化したインゴット上に設置できる分離装置(仕切り)が設けられている。それに続くシリコン塊バッチの加熱、溶解、および鋳造は、前記分離装置上面の上方で行うことができる。
現システムの欠点は、特にバッチの不純物含有量が高い場合に、生産能力が低いことである。
本発明に最も関連性の高いのは、欧州特許第0349904号に記載された誘導法で多結晶シリコンインゴットを製造する機器である。この機器は、バッチ容器がチャンバーに連結されており、そのチャンバー内にはインダクタで包囲された水冷るつぼと、シリコン塊バッチを始動加熱する装置と、移動設備に連結されたロッドを備える可動底部と、前記水冷るつぼ下に配置された加熱装置セットを具備した制御冷却区画の設備が設置されている。前記可動底部は、前記加熱装置セットに沿って上下移動するように構成されている。
加熱設備が利用できるため、製造されたインゴットが前記制御冷却区画内で連続的に移動するに従って当該インゴットの冷却スピードを制御でき、当該インゴットの長さ方向にわたる温度勾配を5〜10℃/cm以内に軽減することができる。
この先行技術機器の欠点は、例えば鉄(Fe)とアルミニウム(Al)の含有量の高いことを特徴とする冶金グレードのシリコンなど、不純物含有量の高いシリコン塊バッチを使う場合、インゴットの品質と製造出力が低下することである。太陽電池の動作性能は、Fe含有量が0.01ppmwを超え、Al含有量が0.1ppmwを超えると低下する。特定された不純物を隔離すると、製造された多結晶シリコンインゴットの2〜4m以下という限られた長さ内では、不純物の量に応じて満足のいくシリコン品質が保たれる。但し、特定の長さのインゴットを製造する際、水冷るつぼおよび制御冷却区画から前記インゴットを移動させるために必要な時間は、誘導溶解および鋳造にかかる時間と比べて長くなり、設備能力も低下する。
この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、以下のものがある(国際出願日以降国際段階で引用された文献及び他国に国内移行した際に引用された文献を含む)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【特許文献1】 欧州特許出願公開第1754806号明細書
【特許文献2】 米国特許出願公開第2008/179037号明細書
【特許文献3】 米国特許出願公開第2008/283211号明細書
本発明の目的は、誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する工程を改良することであり、制御冷却中、インゴットおよび加熱設備を可動底部とともに移動させる本発明の提案は、太陽電池の製造に適した多結晶シリコンの出力向上につながる。
本発明の別の目的は、多結晶シリコン製造機器を改善することであり、本発明が提案する設計により、太陽電池の製造に適した多結晶シリコンインゴットの生産能力が向上することになる。
誘導法を使って多結晶シリコンインゴットを得るための提案された方法は、制御された雰囲気下で水冷るつぼの溶解空間内の可動底部上にシリコン塊充填材料を充填して始動加熱(start−up heating)を行う工程と、溶融シリコン槽を生成し、次いで当該溶融シリコンを溶解して溶解空間の形状に鋳造する工程と、多結晶シリコンインゴットを結晶化させる工程と、加熱装置セットを使って前記シリコンインゴットを制御下で冷却する工程と、前記溶融シリコン中の不純物含有量が臨界値に到達したとき、前記溶解および鋳造する工程を停止する工程と、前記シリコン塊充填材料を充填および始動加熱する工程から前記工程を繰り返す工程とを有する。本発明によれば、前記溶解および鋳造する工程が停止された時点で、前記シリコンインゴット全体が制御下で冷却される間、当該シリコンインゴットの残りの部分を結晶化させる工程が完了されるものであり、前記結晶化させる工程が完了した時点で、前記シリコンインゴットは、前記可動底部および前記加熱装置セットとともに移動され、さらに、制御下で冷却されるものであり、前記シリコンインゴットの移動と同時に、別の可動底部を含む別の加熱装置セットが当該シリコンインゴットの移動により空いた空間に供給され、次に、前記別の可動底部が前記水冷るつぼ内に移動されるものであり、前記工程が繰り返されることにより次のインゴットが製造される。
本発明の工程の好適な実施形態によれば、前記加熱装置セットを伴う前記多結晶シリコンインゴットの移動と同時に、前記別の加熱装置セットおよび別の可動底部が供給される工程は、180度の回転により行われる。
本発明の別の態様によれば、誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する工程を実施する機器が提案される。この機器は、充填容器に連結され、インダクタに包囲された水冷るつぼを含むチャンバーと、シリコン塊充填材料を始動加熱する装置と、移動手段に連結されたロッドを備える可動底部と、前記水冷るつぼの下に配置され、加熱装置セットを含む制御冷却区画とを有し、前記可動底部は前記加熱装置セットに沿って上下移動する、。本発明の機器は、さらに、前記制御冷却区画内に設置され、軸を中心に回転自在であり、前記加熱装置セットが搭載されたプラットフォームと、前記プラットフォーム上に設置された少なくとも別の1つの加熱装置セットと、適切な移動手段に連結されたロッドを備え、当該別の加熱装置セット内に配置構成された別の可動底部とを有する。
本発明の好適な一実施形態の1つにおいて、前記機器は、前記プラットフォーム上で回転軸に対して対称に設置される2つの加熱装置セットを含んでもよい。同時に、前記加熱装置セットの各々は、垂直方向に温度を変更するアルゴリズムを有し、これにより製造された多結晶シリコンインゴットにおいて所定の温度勾配が確実に維持される。
これまでの実験によると、まず誘導溶解および鋳造を制御冷却と同時に行い、次に、前記誘導溶解の停止後、インゴットを鋳造して結晶化させることに加え、次のインゴットの製造を準備および開始する工程において前記インゴットの制御冷却を継続することにより、不純物含有量を制御したインゴットが製造されることが認められている。
さらに、本発明で提案する多結晶シリコンインゴット制御冷却の段階的実施により、冷却工程全体を中断することなく行うことができ、開始バッチ中の不純物量に応じて製造されるインゴットの長を柔軟に調節することが可能となる。
このように、本発明の工程は効果的であり、太陽電池の製造に適したインゴットの製造出力が高いことにより特徴付けられ、不純物含有量が高いバッチにも使用できる。
誘導溶解のダウンタイムが短縮され、制御冷却工程の一部が溶解および鋳造工程に依存しないことから、多結晶シリコン製造システム能力の向上が可能になる。
本発明は、添付の図面により示されるが、これに限定されるものではない。これらの図面は、誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する機器を例示したものであり、この機器は、多結晶シリコンを制御冷却する2つの加熱装置セットを有する。
図1は、始動加熱(start−up heating)工程における前記機器の一実施形態である。 図2は、多結晶シリコンインゴットの誘導溶解および鋳造工程における図1の機器である。 図3は、移動前の多結晶シリコンインゴットの位置を例示した図である。 図4は、移動後の多結晶シリコンインゴットの位置を例示した図である。 図5は、次の多結晶シリコンインゴットの誘導溶解および鋳造、ならびに前回の多結晶シリコンインゴットの取り出しの工程における図1の機器である。 図6は、表に示した出発物質について、断面が正方形(1辺の長さが337mm)の多結晶シリコンインゴットの長さ方向にわたる鉄濃度変化を示すグラフを例示した図である。
誘導法を使って多結晶シリコンインゴットを製造する機器は図1に示されており、充填容器2に連結されたチャンバー1と、インダクタ4に囲まれた水冷るつぼ3とを有する。移動装置に連結されたロッド6を伴う可動底部5のほか、シリコン塊充填材料8の始動加熱(start−up heating)装置7も、前記チャンバー1内に設置されている。前記始動加熱装置7は、黒鉛などの伝導性材料で作製される。前記水冷るつぼ3は、水で冷却される銅部分から作製される。前記チャンバー1内では、前記水冷るつぼの下に、加熱装置セット10およびそれと同様な加熱装置セット11を含む制御冷却区画9が設置されている。前記可動底部5は、前記加熱装置セット10に沿って垂直方向に移動するように構成されている。前記加熱装置セット11は、ロッド13を伴う可動底部12を有し、前記ロッド13は、それに対応した移動装置に連結されている。前記可動底部12は、前記加熱装置セット11に沿って垂直方向に移動可能である。前記加熱装置セット10および11は、プラットフォーム14上に設置されている。このプラットフォーム14は、前記制御冷却区画9内に配置され、軸15を中心に回転自在である。前記チャンバー1は、ガスシール17を通じて排出装置16に連結されている。
当該機器は、次のように作用する。
前記チャンバー1内において、制御された雰囲気下で、前記可動底部5が前記水冷るつぼ3に向かって移動され、インダクタ4により高周波電磁場が生成される。前記水冷るつぼ3および前記可動底部5により形成された溶解空間18へ、前記シリコン塊充填材料8が充填容器2から降下される。次いで、前記インダクタ4により発生した高周波電磁場内の前記溶解空間18に、前記始動加熱装置7が挿入される。この始動加熱装置7が加熱されると、前記シリコン塊充填材料8は、前記始動加熱装置7の放射熱および前記インダクタ4の電磁場の影響で温度が上昇し、溶解し始める(図1)。
前記始動加熱装置7が前記インダクタ4によって発生した電磁場から移動され、一方、前記溶解空間18の側部には溶湯プール19が生じる。前記溶湯プールの外周に沿って熱が放出される結果、当該プールが結晶化してスカルが形成され、これにより、当該プールが前記溶解空間18から流出することを防ぐ。前記溶湯プール19の形成後、その表面上へ、前記充填容器2からシリコン塊充填材料8が永続的に供給される。前記シリコン塊充填材料8が溶解すると同時に、前記可動底部5が、スカルを伴った前記溶湯プール19とともに徐々に下降する。この動きは、前記インダクタ4および前記水冷るつぼ3に対する前記溶湯プール19の相対レベルを不変に保てるスピードで行われるため、多結晶シリコンインゴット20の結晶化が前記溶湯プールの下方部分で絶えず起こる。これにより形成される多結晶シリコンインゴット20は、前記加熱装置セット10を伴う前記制御冷却区画9内へと徐々に下降し、そこで制御された冷却が行われて熱応力が除去される(図2)。
前記プール内の不純物含有量が臨界値に達すると前記シリコン塊充填材料8の供給が停止され、前記インダクタ4の電磁場が除去されて、誘導溶解とプール鋳造が停止される。製造された前記多結晶シリコンインゴット20が前記水冷るつぼ3から取り出されて前記加熱装置セット10内に配置され、結晶化が終了する(図3)。次に、前記多結晶シリコンインゴット20が、前記プラットフォーム14の回転により前記可動底部5および前記加熱装置セット10とともに移動され(図4)、前記インゴットの制御冷却が続行される。このような移動は、例えば前記プラットフォーム14を前記軸15を中心に180度回転させて行う。
同時に、前記多結晶シリコンインゴット20を前記可動底部5および前記加熱装置セット10とともに移動させることにより、前記加熱装置セット11とその可動底部12が前記空いた空間へ移動される(図4)。前記加熱装置セット10および11は、電気的に切り替えられ、温度調節のアルゴリズムが適宜変更される。
前記可動底部12は前記水冷るつぼ3へ移されて新たな溶解空間21を画成し、次のインゴット22を得るため、シリコン塊充填材料の供給と始動加熱から工程が繰り返される(図5)。前記加熱装置セット10内の冷却された前記多結晶シリコンインゴット20は、前記可動底部5に載置された状態で前記排出装置16内へと上方に移動される。
以下、本発明の工程に基づいて上述の機器を使用し誘導法で多結晶シリコンインゴットを取得する例を説明する。
断面が1辺340mmの正方形の溶解空間を伴う機器を使って、多結晶シリコンインゴットが得られた。この機器では、断面が1辺337mmの正方形の多結晶シリコンインゴットを製造することができる。
多結晶シリコンインゴット製造用の出発物質としては、冶金グレードのバルクシリコンを使用し、これにホウ素(B)、リン(P)、鉄(Fe)、およびアルミニウム(Al)といった通常使われる以下の混加物を使った。出発物質の不純物含有量については、次の表に示している。また、合金を使って、0.8〜1.2オーム×cmの範囲内で特定の抵抗を保った。
Figure 0005759382
出発物質の組成に依存するプール臨界不純物含有量は、実験的算定により決定した。このデータに基づき、鉄混加物の濃度(多結晶シリコンの品質を決定する不純物)と、断面が1辺337mmの正方形である多結晶シリコンインゴットの長さとの間の依存性が、選択された出発物質において見られた(図6)。
前記表に記載された不純物含有量を伴う出発物質と、断面が1辺337mmの正方形である多結晶シリコンインゴットとの場合、インゴットが2.0〜2.5mの長さになると臨界不純物含有量に達するため、インゴットの最適な長さは2.0〜2.5mである。
気密チャンバー内には水冷るつぼおよび可動底部とが設置されており、前記水冷るつぼは、巻き数3回、高さ140mm、動作周波数10kHzの電源に接続されたインダクタに囲まれ、前記可動底部は、厚さ40mmで1辺338mmの正方形シリコンプレートの形態に作製され、耐熱鋼製プラットフォーム上の断熱ディスクを使って配置され、プラグタイプの連結で前記ロッドに取り付けられている。前記プラットフォーム上、前記水冷るつぼ下の前記制御冷却区画には、断面が1辺380mmの正方形の加熱空間を有する第1の加熱装置セットが設置されている。これと対称に、断面が1辺380mmの正方形の加熱空間を有した第2の加熱装置セットが前記プラットフォーム上に設置されている。これら各加熱装置セットの加熱空間は、高さ2.4mである。各加熱装置セットは、電流コントローラ経由で工業用周波数変換器に接続された黒鉛ヒーター素子を備えているため、垂直方向の温度場変更制御が確実に行える。前記第2の加熱装置セットには別の可動底部があり、この可動底部は、耐熱鋼製プラットフォーム上の断熱ディスクを使って設置され、プラグタイプの連結で前記ロッドに取り付けられている。
前記チャンバーを真空化し、アルゴンで充填した。前記水冷るつぼの溶解空間で、前記インダクタを使って高周波電磁場を生成した。シリコン塊充填材料を充填容器から前記溶解空間内に充填し、黒鉛ディスク形態の始動加熱装置を挿入した。この始動加熱装置が加熱されると、放熱と電磁場の影響で、シリコン塊出発物質が800〜1100℃の温度に加熱されて溶解し始めた。前記始動加熱装置を、前記インダクタの電磁場から取り出した。前記溶解空間内に溶湯プールが形成されて拡張し、前記冷却るつぼの壁に達した。すなわち、このプールは、前記水冷るつぼの形態に鋳造された。同時に、スカルが形成されて溢れを防ぎ、前記溶湯プールを収容した。次いで、シリコン塊出発物質を前記充填容器から前記プール面上に連続的に供給した。前記シリコン塊出発物質が溶解するとともに、前記可動底部を徐々に下降させて、多結晶シリコンインゴットを形成した。
多結晶シリコンインゴットを溶解し、鋳造し、形成するに伴い、当該インゴットを前記第1の加熱装置セットの加熱空間内に下降させ、そこで前記多結晶シリコンインゴット―すでに結晶化し冷却された―を主に当該インゴットの角部分で加温することにより、制御冷却および熱応力除去を行った。温度を12000℃まで上げたのち、当該インゴットの長さにわたり70℃を超えない勾配で冷却した。
前記インゴットが長さ約2.2mになって前記プール中の不純物含有量が臨界値に到達した時点で(図6)、シリコン塊出発物質の供給を停止し、前記インダクタをシャットダウンし、誘導溶解とプール鋳造を停止した。その結果、前記溶湯プールが結晶化した。得られた長さ2.2mの多結晶シリコンインゴットを、前記水冷るつぼから取り出し、前記第1の加熱装置セットの加熱空間に完全に挿入した。次に、前記第1の加熱装置セットを前記電流コントローラから切り離し、前記プラットフォームの軸を中心とした180度回転により、前記多結晶シリコンインゴットを前記可動底部および前記第1の加熱装置セットとともにシフトさせた。
前記プラットフォームの回転が完了した時点で、前記加熱装置セットを交換した―前記第2の加熱装置セットと前記他方の可動底部がをともに前記水冷るつぼの下に配置し、前記第1の加熱装置セットを、その加熱空間内に前記多結晶シリコンインゴットが収容された状態で、前記第2の加熱装置セットの元の位置に配置した。次いで、双方の加熱装置セットを前記電流コントローラに接続した―前記水冷るつぼ下の前記第2の加熱装置セットについては、前記溶解アルゴリズムを使って接続し、前記水冷るつぼから切り離された前記第1の加熱装置セットについては、前記多結晶インゴットを制御冷却するアルゴリズムを使って接続した。前記多結晶インゴットを2500℃まで冷却した後、前記可動底部に載せたまま、前記排出装置内へ上昇させた。
前記第2の加熱装置セットの加熱空間内の前記可動底部については、前記プラットフォームの回転が完了した後、前記水冷るつぼまで移し、前記塊充填材料の供給および始動加熱から次のインゴットを得るまで、前記工程を繰り返した。
本発明に係る前記予備的機器の試験の結果、断面337×337mmのインゴット形態をした多結晶シリコンの平均出力は18kg/時間となった。同時に、製造されたインゴットは、その上方部分にも下方部分にも微小割れまたは付加的な不純物はなく、残留溶湯プールが各インゴットの上方部分を約160mmの長さにわたり覆っているという例外を除き、太陽電池プレートの製造に適していることが確認された。良好な製品の出力は、得られたインゴットの93%であった。
黒鉛の分離装置を使った欧州特許第1754806号記載の方法に基づく実験的な溶解作業では、同様な出発物質および同様なサイズのインゴットについて、前記分離装置を挿入する3回の作業で、16.2kg/時の設備容量を実現することができた。同時に、前記残留溶湯プールに加え、約50〜70mmのインゴットが微小割れのため不合格となった。各インゴットの下方部分には、黒鉛不純物が見られた。そのような領域は最高50mm長で、不合格となった。結果的に、良好な製品の出力は、得られたインゴットの88%となった。
本明細書で提案する発明は、太陽電池の製造に適した多結晶シリコンの出力を確実に高めるものである。

Claims (1)

  1. 誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造するための方法であって、
    気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)に内蔵された水冷るつぼ(3)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内に設置され、且つ前記水冷るつぼ(3)を取り囲むインダクタ(4)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)に内蔵された第一の可動底部(5)を設け、
    前記水冷るつぼ(3)および前記第一の可動底部(5)により形成された第一の溶解空間(18)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)に伸びる出口部を有し、シリコン塊充填材料(8)を前記第一の溶解空間(18)に降下させるように前記第一の溶解空間(18)に設置されてなる充填容器(2)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内に設置され、前記インダクタ(4)によって生成された放射熱および前記インダクタ(4)の電磁場の影響で前記シリコン塊充填材料(8)を溶解するための前記第一の溶解空間(18)に挿入されるように形成された可動の始動加熱装置(7)を設け、
    前記可動の始動加熱装置(7)は伝導性材料で作製されてなり、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内へと伸びる第一の可動ロッド(6)を設け、
    前記第一の可動ロッド(6)は、前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内に前記第一の可動底部(5)を垂直方向に移動させるために前記第一の可動底部(5)に連結し、
    前記水冷るつぼ(3)の下の前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内に設置された制御冷却区画(9)を設け、
    前記制御冷却区画(9)内に設置された第一の加熱装置セット(10)を設け、
    前記第一の可動底部(5)は前記第一の加熱装置セット(10)に沿って垂直方向に移動するように形成し、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)に内蔵された第二の可動底部(12)を設け、
    前記水冷るつぼ(3)および前記第二の可動底部(12)により形成された第二の溶解空間(21)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)に伸びる出口部を有し、シリコン塊充填材料(8)を前記第二の溶解空間(21)に降下させるように前記第二の溶解空間(21)に設置されてなる充填容器(2)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内に設置され、前記インダクタ(4)によって生成された放射熱および前記インダクタ4の電磁場の影響で前記シリコン塊充填材料(8)を溶解するための前記第二の溶解空間(21)に挿入されるように形成された前記可動の始動加熱装置(7)を設け、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内へと伸びる第二の可動ロッド(13)を設け、
    前記第二の可動ロッド(13)は、前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内に前記第二の可動底部(12)を垂直方向に移動させるために前記第二の可動底部(12)に連結されてなり、
    前記制御冷却区画(9)内に設置された第二の加熱装置セット(11)を設け、
    前記第一及び第二の加熱装置セット(10,11)は、前記水冷るつぼ(3)の下の前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内に設置された前記制御冷却区画(9)内のプラットフォーム(14)に搭載されてなり、
    前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)内にある前記第一の加熱装置セット(10)及び第二の加熱装置セット(11)の間に設置された回転可能な軸(15)を設け、
    前記プラットフォーム(14)は前記軸(15)を中心として180度回転するように形成され、
    ガスシール(17)を通じて前記気密且つ一体的に形成された単一の不可欠なチャンバー(1)に連結された排出装置(16)を設け、
    (A)制御された雰囲気下で前記水冷るつぼ(3)の前記第一の溶解空間(18)内の第一の可動底部(5)上にシリコン塊充填材料(8)を充填して始動加熱を行う工程と、
    (B)溶融シリコンの槽を生成する工程と、
    (C)当該溶融シリコンを溶解して第一の溶解空間(18)の形状に鋳造する工程と、
    (D)製造される多結晶インゴットの特定の不純物ごとに定められた基準値に前記溶融シリコン中の不純物濃度が到達すると、前記溶融シリコン中の不純物含有量が臨界不純物量に到達したとみなして前記溶解および鋳造する工程を停止する工程と、
    (E)多結晶シリコンインゴットを結晶化させる工程と、
    (F)前記多結晶シリコンインゴットを制御下で冷却する工程と、
    (G)前記多結晶シリコンインゴットを、第一の加熱装置セット(10)に向かって前記制御冷却区画(9)内を徐々に下降せしめ、そこで制御冷却が行われ、熱応力が除去されてなる、工程と、
    (H)前記結晶化させる工程が完了した時点で、前記多結晶シリコンインゴットは、前記第一の可動底部(5)および前記第一の加熱装置セット(10)とともに移動され、さらに、制御下で冷却される工程と、
    (I)前記シリコンインゴットの移動と同時に、前記第二の加熱装置セット(11)および前記第二の可動底部(12)が当該シリコンインゴットの移動により空いた空間内の前記プラットフォーム(14)上に回転せしめられる工程と、
    (J)前記第二の可動底部(12)を前記水冷るつぼ(3)内に移動する工程と、
    (K)次のシリコンインゴットを製造するために前記(A)〜(J)工程を繰り返す工程と、
    を有することを特徴とする方法。
JP2011542082A 2008-12-15 2009-12-14 誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する方法 Expired - Fee Related JP5759382B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
UAA200814479A UA92392C2 (uk) 2008-12-15 2008-12-15 Спосіб одержання зливків полікристалічного кремнію індукційним методом та пристрій для його здійснення
UAA200814479 2008-12-15
PCT/UA2009/000067 WO2010071614A1 (en) 2008-12-15 2009-12-14 Process for producing multicrystalline silicon ingots by the induction method and apparatus for carrying out the same

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012512126A JP2012512126A (ja) 2012-05-31
JP2012512126A5 JP2012512126A5 (ja) 2013-02-07
JP5759382B2 true JP5759382B2 (ja) 2015-08-05

Family

ID=56555903

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011542082A Expired - Fee Related JP5759382B2 (ja) 2008-12-15 2009-12-14 誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US20110247364A1 (ja)
EP (1) EP2376244B1 (ja)
JP (1) JP5759382B2 (ja)
KR (1) KR101335147B1 (ja)
CN (1) CN102438773B (ja)
WO (1) WO2010071614A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102120579B (zh) * 2011-01-29 2012-10-03 大连隆田科技有限公司 一种电子束高效、连续熔炼提纯多晶硅的方法及设备
CN104805506B (zh) * 2015-03-24 2017-06-16 中国科学院工程热物理研究所 一种基于液态金属强化换热控制坩埚热应力的方法
CN106735078B (zh) * 2016-11-18 2019-07-05 中国科学院金属研究所 一种非晶合金或其复合材料的连续精密成形设备和工艺
CN111230077A (zh) * 2020-03-09 2020-06-05 西北工业大学 高温合金宽调速定向凝固装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4572812A (en) * 1984-08-13 1986-02-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Energy Method and apparatus for casting conductive and semiconductive materials
EP0349904B1 (en) 1988-07-05 1994-02-23 Sumitomo Sitix Co., Ltd. Apparatus for casting silicon
JPH07138012A (ja) * 1993-11-16 1995-05-30 Sumitomo Sitix Corp シリコン鋳造装置
DE19607098C2 (de) * 1996-02-24 1999-06-17 Ald Vacuum Techn Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum gerichteten Erstarren einer Schmelze aus Silizium zu einem Block in einem bodenlosen metallischen Kaltwandtiegel
DE60037944T2 (de) 2000-12-28 2009-01-22 Sumco Corp. Kontinuierliches giessverfahren für silizium
CN2715885Y (zh) * 2004-07-08 2005-08-10 上海大学 梯度强磁场单向凝固结晶装置
CN1275724C (zh) * 2004-08-11 2006-09-20 哈尔滨工业大学 多功能冷坩埚电磁精确成形与定向凝固装置
US7368368B2 (en) * 2004-08-18 2008-05-06 Cree, Inc. Multi-chamber MOCVD growth apparatus for high performance/high throughput
JP2007051026A (ja) * 2005-08-18 2007-03-01 Sumco Solar Corp シリコン多結晶の鋳造方法
WO2007063751A1 (ja) * 2005-11-29 2007-06-07 Seiko Instruments Inc. 表示装置の製造方法、及び貼り合わせ方法
CN1873062A (zh) * 2006-05-06 2006-12-06 大连理工大学 一种太阳能电池用高纯多晶硅的制备方法和装置
JP2008156166A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Sumco Solar Corp シリコンインゴットの鋳造方法および切断方法
CN101307487B (zh) * 2007-05-16 2010-05-19 佳科太阳能硅(厦门)有限公司 一种连续生产多晶硅锭的定向凝固方法及其装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010071614A1 (en) 2010-06-24
CN102438773A (zh) 2012-05-02
US9410266B2 (en) 2016-08-09
EP2376244B1 (en) 2017-02-22
KR20110117083A (ko) 2011-10-26
EP2376244A1 (en) 2011-10-19
US20150107304A1 (en) 2015-04-23
KR101335147B1 (ko) 2013-12-05
CN102438773B (zh) 2015-04-01
US20110247364A1 (en) 2011-10-13
JP2012512126A (ja) 2012-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7682472B2 (en) Method for casting polycrystalline silicon
EP0349904B1 (en) Apparatus for casting silicon
EP1922437B1 (en) Method and apparatus for refining a molten material
EP1254861A1 (en) Silicon continuous casting method
EP2743359A1 (en) Method for purifying high-purity aluminium by directional solidification and smelting furnace therefor
WO1993012272A1 (en) Method of and apparatus for casting crystalline silicon ingot by electron beam melting
JP5759382B2 (ja) 誘導法により多結晶シリコンインゴットを製造する方法
CN103343387A (zh) 一种多晶硅铸锭炉及其铸锭方法
EP2172424A1 (en) Method of solidifying metallic silicon
JP4664967B2 (ja) シリコン鋳造装置およびシリコン基板の製造方法
JP2657240B2 (ja) シリコン鋳造装置
JPH01264920A (ja) シリコン鋳造装置
EP2470693B1 (en) Process for production of multicrystalline silicon ingots by induction method
JP2005162507A (ja) 多結晶半導体インゴット製造装置、多結晶半導体インゴットの製造方法および多結晶半導体インゴット
CN111270302B (zh) 一种高品质半导体硅材料耗材生长方法
EP2748355B1 (en) Purification of a metalloid by consumable electrode vacuum arc remelt process
CN113668047A (zh) 一种双频感应炉直拉单晶硅的装置
ES2619523T3 (es) Procedimiento de producción de lingotes de silicio multicristalino por el método de inducción y aparato para realizarlo
JP2012136387A (ja) シリコンインゴットの電磁鋳造方法
WO2013035498A1 (ja) 多結晶シリコンインゴットの製造方法
JPH09301709A (ja) シリコン鋳造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121213

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121213

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20131028

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20131028

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140124

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140204

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20140415

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20140415

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20140430

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20140415

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20140513

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20140530

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20140606

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20140703

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20140710

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20140723

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140731

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141209

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150218

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150518

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150605

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5759382

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees