JP5748281B2 - 光干渉断層画像処理方法及びその装置 - Google Patents
光干渉断層画像処理方法及びその装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5748281B2 JP5748281B2 JP2011206250A JP2011206250A JP5748281B2 JP 5748281 B2 JP5748281 B2 JP 5748281B2 JP 2011206250 A JP2011206250 A JP 2011206250A JP 2011206250 A JP2011206250 A JP 2011206250A JP 5748281 B2 JP5748281 B2 JP 5748281B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- pixel
- noise
- tomographic image
- tomographic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 103
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 6
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 claims description 124
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 74
- 238000012014 optical coherence tomography Methods 0.000 claims description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 19
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 8
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 82
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 40
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 9
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 9
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 8
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 7
- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 5
- 201000011510 cancer Diseases 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000012952 Resampling Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 210000002249 digestive system Anatomy 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 235000015097 nutrients Nutrition 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Endoscopes (AREA)
Description
Claims (8)
- 生体内部の内壁部に対する光干渉断層計測により得られた複数枚の断層画像であって、前記内壁部の深さ方向の所定間隔置きの各位置における前記深さ方向に直交する断面の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記断層画像取得手段により取得された各断層画像において、前記生体内部に存在する所定の被検体を示す画像が存在する領域を被検体候補領域として抽出する被検体候補領域抽出手段と、
前記被検体候補領域抽出手段により抽出された被検体候補領域内の画素が、前記断層画像取得手段により取得された断層画像のうち、前記深さ方向に対して所定の閾値未満の枚数の断層画像のみに連続して出現する領域をノイズ領域と判別するノイズ領域判別手段と、
前記被検体候補領域抽出手段により抽出された被検体候補領域から前記ノイズ領域判別手段により判別されたノイズ領域を除去するノイズ領域除去手段と、
を備えたことを特徴とする光干渉断層画像処理装置。 - 前記ノイズ領域判別手段は、
前記各断層画像における前記被検体候補領域内の各画素を順に着目画素とし、該着目画素が属する断層画像に対して深さ方向に連続する所定枚数の断層画像上の全てにおいて、前記着目画素と同一座標の位置に前記被検体候補領域内の画素が出現する場合の前記所定枚数を、前記着目画素とした画素の特徴量として算出する特徴量算出手段と、
前記特徴量算出手段により算出された各画素の特徴量を前記閾値と比較し、該特徴量が前記閾値未満となる画素からなる領域を前記ノイズ領域と判別する判別手段と、
を備えたことを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層画像処理装置。 - 前記ノイズ領域除去手段によりノイズ領域が除去された被検体候補領域に基づいて前記被検体の画像を表示する表示手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の光干渉断層画像処理装置。
- 前記被検体は、血管であることを特徴とする請求項1、2、又は3に記載の光干渉断層画像処理装置。
- 生体内部の内壁部に対する光干渉断層計測により得られた複数枚の断層画像であって、前記内壁部の深さ方向の所定間隔置きの各位置における前記深さ方向に直交する断面の断層画像を取得する断層画像取得工程と、
前記断層画像取得工程により取得された各断層画像において、前記生体内部に存在する所定の被検体を示す画像が存在する領域を被検体候補領域として抽出する被検体候補領域抽出工程と、
前記被検体候補領域抽出工程により抽出された被検体候補領域内の画素が、前記断層画像取得工程により取得された断層画像のうち、前記深さ方向に対して所定の閾値未満の枚数の断層画像のみに連続して出現する領域をノイズ領域と判別するノイズ領域判別工程と、
前記被検体候補領域抽出工程により抽出された被検体候補領域から前記ノイズ領域判別工程により判別されたノイズ領域を除去するノイズ領域除去工程と、
を備えたことを特徴とする光干渉断層画像処理方法。 - 前記ノイズ領域判別工程は、
前記各断層画像における前記被検体候補領域内の各画素を順に着目画素とし、該着目画素が属する断層画像に対して深さ方向に連続する所定枚数の断層画像上の全てにおいて、前記着目画素と同一座標の位置に前記被検体候補領域内の画素が出現する場合の前記所定枚数を、前記着目画素とした画素の特徴量として算出する特徴量算出工程と、
前記特徴量算出工程により算出された各画素の特徴量を前記閾値と比較し、該特徴量が前記閾値未満となる画素からなる領域を前記ノイズ領域と判別する判別工程と、
を備えたことを特徴とする請求項5に記載の光干渉断層画像処理方法。 - 前記ノイズ領域除去工程によりノイズ領域が除去された被検体候補領域に基づいて前記被検体の画像を表示する表示工程を備えたことを特徴とする請求項5又は6に記載の光干渉断層画像処理方法。
- 前記被検体は、血管であることを特徴とする請求項5、6、又は7に記載の光干渉断層画像処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011206250A JP5748281B2 (ja) | 2011-09-21 | 2011-09-21 | 光干渉断層画像処理方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011206250A JP5748281B2 (ja) | 2011-09-21 | 2011-09-21 | 光干渉断層画像処理方法及びその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013068477A JP2013068477A (ja) | 2013-04-18 |
JP5748281B2 true JP5748281B2 (ja) | 2015-07-15 |
Family
ID=48474342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011206250A Active JP5748281B2 (ja) | 2011-09-21 | 2011-09-21 | 光干渉断層画像処理方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5748281B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3009064A4 (en) * | 2013-06-14 | 2017-02-22 | National University Corporation Nagoya University | Optical tomography device |
JP6325858B2 (ja) * | 2014-03-20 | 2018-05-16 | 株式会社Screenホールディングス | 薬効評価方法および画像処理装置 |
KR101781153B1 (ko) * | 2016-10-11 | 2017-09-22 | 울산과학기술원 | Oct/ocm 기술을 이용한 혈관 검사방법 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5002181B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2012-08-15 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置及び超音波診断装置制御方法 |
JP4855150B2 (ja) * | 2006-06-09 | 2012-01-18 | 株式会社トプコン | 眼底観察装置、眼科画像処理装置及び眼科画像処理プログラム |
JP2010068865A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-04-02 | Fujifilm Corp | 画像診断装置 |
JP5269663B2 (ja) * | 2009-03-19 | 2013-08-21 | 富士フイルム株式会社 | 光立体構造計測装置及びその構造情報処理方法 |
JP2011078447A (ja) * | 2009-10-02 | 2011-04-21 | Fujifilm Corp | 光構造観察装置、その構造情報処理方法及び光構造観察装置を備えた内視鏡装置 |
JP5208145B2 (ja) * | 2010-02-15 | 2013-06-12 | キヤノン株式会社 | 断層像撮影装置、断層像撮影方法法、プログラム、及びプログラム記憶媒体 |
-
2011
- 2011-09-21 JP JP2011206250A patent/JP5748281B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013068477A (ja) | 2013-04-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2163191A1 (en) | Diagnostic imaging apparatus | |
US20120101372A1 (en) | Diagnosis support apparatus, diagnosis support method, lesioned part detection apparatus, and lesioned part detection method | |
JP2010145297A (ja) | 光構造観察装置及びその構造情報処理方法 | |
JP2011078447A (ja) | 光構造観察装置、その構造情報処理方法及び光構造観察装置を備えた内視鏡装置 | |
EP3949836A2 (en) | Methods and systems for image synchronization | |
JP5653087B2 (ja) | 光断層画像化装置及びその作動方法 | |
JP5298352B2 (ja) | 光構造像観察装置及び内視鏡装置 | |
JP2010179042A (ja) | 光構造観察装置及びその構造情報処理方法、光構造観察装置を備えた内視鏡システム | |
JP2010043994A (ja) | 光プローブ及び3次元画像取得装置 | |
JP5748281B2 (ja) | 光干渉断層画像処理方法及びその装置 | |
JP2006026015A (ja) | 光断層画像取得システム | |
JP5779461B2 (ja) | 光干渉断層画像処理装置及びその作動方法 | |
WO2011158849A1 (ja) | 断層画像処理装置及び方法、並びに光干渉断層画像診断装置 | |
JP2012013432A (ja) | 断層画像処理装置及び方法、並びに光干渉断層画像診断装置 | |
JP5752538B2 (ja) | 光干渉断層画像処理方法及びその装置 | |
JP5405839B2 (ja) | 光立体構造像観察装置、その作動方法及び光立体構造像観察装置を備えた内視鏡システム | |
JP2012010776A (ja) | 断層画像処理装置及び方法、並びに光干渉断層画像診断装置 | |
WO2011158848A1 (ja) | 光断層画像化装置及び光断層画像化方法 | |
JP5373389B2 (ja) | 光構造情報取得装置及びその光干渉信号処理方法 | |
JP5657941B2 (ja) | 光断層画像化装置及びその作動方法 | |
JP5696178B2 (ja) | 光断層画像化装置及びその作動方法 | |
JP5812785B2 (ja) | 光断層画像処理装置及び光断層画像処理装置の作動方法 | |
JP2010179043A (ja) | 光構造観察装置及びその構造情報処理方法 | |
JP5400430B2 (ja) | 生体断層画像生成装置及びその作動方法 | |
JP5405842B2 (ja) | 光構造解析装置及びその作動方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20130509 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20130624 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140811 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150422 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150501 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150508 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5748281 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |